JP2007257293A - 集積回路の階層設計方法および装置 - Google Patents

集積回路の階層設計方法および装置 Download PDF

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Abstract

【課題】使用メモリが少なく、かつ、設計期間を短縮できる、という階層設計の利点を損なうことなく、問題分割により結果の全体最適性が失われてしまうという階層設計の問題点を解決する階層設計方法および装置を提供する。
【解決手段】チップのゲートレベル配置または配線終了後、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化し、前記切り出したブロック毎に再設計を行い、前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行う。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体集積回路の設計方法および装置に関し、特に、階層的な設計を行う方法およ装置に関する。
従来、この種の階層設計では、設計対象の回路を複数の部分回路(以後、ブロックとも呼ぶ)に分割し、各ブロックを設計した後、全てのブロックをひとつに統合することにより全体の設計を完成させる方法が採用されている。階層設計手法には、このような分割統治設計を行うことにより、一括処理、一括最適化が困難な大規模集積回路の設計を、小メモリ、短時間で効率よく行なうことができる、という効果がある。
上記のような従来の階層設計装置の例が、特許文献1および特許文献2(特開2004−192227号公報および特開2004−302819号公報)に記載されている。
階層設計では、問題を分割して解くための処理について図7を参照して説明する
図7に示す例では、ゲート104、フリップフロップ105などを備えるブロック1(101)およびブロック2(102)についての階層設計を行う場合の処理について示すものであり、下記2点の処理が必要となる。
1.各ブロックの境界端子103の生成と位置決定。
2.各ブロックの境界端子に接続する論理回路のタイミング制約の決定。これはブロック1(101)におけるタイミング制約106とブロック2(102)におけるタイミング制約107および各ブロック間の遅延108で定義されるタイミング制約110が本来のタイミング制約109を満たすものとする処理である。
従来の階層設計装置においては、回路の分割は主として論理設計階層を基にして行われ、回路分割後の階層処理は、ボトムアップあるいはトップダウンのいずれかの方法で行われている。
ボトムアップ階層設計方法について図8を参照して説明する。
ボトムアップ階層設計方法では、第1段階203として、まず、ブロック201毎に内部のレイアウト設計を行う。この内部のレイアウト設計には、ブロック境界端子202位置の決定、ブロック境界論理のタイミング制約決定、ブロック内の配置配線決定が含まれ、内部のレイアウト設計が完了したブロックを設計済みブロックとする。
次に、第2段階204として、設計済みブロックをチップ上に配置し(位置や回転方向の決定を含む)、その間のブロック間配線205を行い、チップ設計を完了する。この時、各ブロック201の入出力境界端子位置はブロック201内部の配置配線設計が最適化されるように決定される。また、入出力境界端子に接続する論理回路に対する遅延制約は、経験的あるいは不正確な予測の基に、例えば本来の遅延制約値を2分割するという方法で、与えられる。
次に、トップダウン階層設計方法について図9を参照して説明する。
トップダウン階層設計手法では、まず、第1段階303として、ブロック間設計を行う。これは、チップ上のブロック301の位置を決めた後、ブロック301間の配線が最適となるように各ブロックの入出力境界端子302の位置を決定し、ブロック間の配線設計を行う。このとき、ブロック境界論理のタイミング制約決定も行われる。
次に、第2段階304としてブロック毎の設計を行う。これはブロック入出力境界端子固定の条件の下、各ブロック内のレイアウト設計を行う。この時、入出力境界端子に接続する論理に対する遅延制約値は、ブロック間配線遅延結果を考慮して、例えば、本来の遅延制約からブロック間遅延分を減じ、その結果を2分割する等の方法により、算出される。
特開2004−192227号公報 特開2004−302819号公報
従来のボトムアップ階層設計手法には、ブロックの境界端子位置を、各ブロックが1チップ上に集積された時の位置関係を考慮して決めることが不可能なため、例えば、図8を参照した説明における第1段階203でのブロック間配線長が増大し、配線が困難になってしまう、あるいは、配線遅延が大きくなってしまうという問題がある。
また、タイミング制約分割時に、図7を参照した説明における本来のタイミング制約108でのブロック間配線の遅延、ブロック1のタイミング制約106,ブロック2のタイミング制約107の各ブロック境界端子に接続するブロック内の論理回路遅延が不明なため、不正確な遅延予測に基づき、タイミング制約の分割を行なわなければならない、という問題がある。
各ブロックの境界論理に対するタイミング制約が適切に設定されていない場合、タイミング制約を満たす論理回路のレイアウトを行なうことができない可能性がある、あるいは、ブロックを1チップ上に統合した時にブロック間遅延が予想以上に大きくなり、チップ全体のタイミング制約を満たすことができない可能性がある、という問題点がある。
従来のトップダウン階層設計手法は、ブロック端子位置が、ブロック内部の論理構造を考慮して決められていないため、ブロック内のレイアウト設計時に、ブロック端子位置が不適切となり、配線不可能になってしまう、あるいは、タイミング制約を満たすレイアウトを得ることができない可能性がある、という問題点がある。
タイミング制約分割については、ブロック間配線の遅延を考慮することはできるが、各ブロック境界端子に接続するブロック内の論理回路遅延が不明であるという点はボトムアップ設計と同様であり、タイミング制約を適切に分割することが困難である、という問題点は解決できない。
以上に述べたように、従来の階層設計方法には、本来一括して最適化すべき問題が分割されることにより、結果の全体的な最適性が失われてしまうという問題が存在する。また、各ブロックの設計を統合し、全体の設計を終了した時点で、タイミング制約違反、配線性違反、またはシグナルインテグリティ違反が生じている場合、違反箇所の局所的かつインクリメンタルな再設計を行う必要があるが、その違反が複数のブロックにまたがっている場合、従来の論理階層を基本とした階層設計手法では、チップ全体を設計対象として、再設計処理を行なう必要があり、使用メモリと処理時間が大きくなってしまうという問題が存在する。なぜなら、論理階層を基本とした回路分割手法では、違反箇所を含む最適化に適切な規模のブロックを切り出すことが必ずしも可能ではないためである。
本発明は上述したような従来の技術が有する問題点に鑑みてなされたものであって、使用メモリが少なく、かつ、設計期間を短縮できるという階層設計の利点を損なうことなく、問題分割により結果の全体最適性が失われてしまうという階層設計の問題点を解決する階層設計方法および装置を提供することを目的とする。
本発明の半導体集積回路の階層設計方法は、
チップのゲートレベル配置または配線終了後、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化し、前記切り出したブロック毎に再設計を行い、前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うことを特徴とする。
この場合、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化した後に、ブロックの入出力境界端子を特別に生成することなく、ブロック内に配置されているゲートを複数選択し、選択したゲートの集合をブロック入出力境界端子として代用することとしてもよい。
さらに、ブロック入出力境界端子として代用するゲートとして、ブロック境界から設計者が指定した所定の段数番目にあるゲート、または、ブロック境界から内部の論理回路をたどり最初に現れるフリップフロップ、を選択することとしてもよい。
また、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化するに際し、チップレベルのタイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析結果を基に、タイミング違反、配線違反、シグナルインテグリティ違反を起こしている箇所を包含するように、ブロックとして切り出すことこととしてもよい。
上記のいずれにおいても、切り出したブロック毎に再設計を行うに際し、ブロック境界と入出力境界端子として選択したゲートの間に存在する論理回路のレイアウトを固定し、前記入出力境界端子として選択したゲートの内側の論理回路に対する遅延制約値として、本来の遅延制約値から前記レイアウトを固定した論理回路の実遅延値を減じた値を使用することとしてもよい。
本発明の半導体集積回路の設計装置は、
チップのゲートレベル配置または配線を示すチップレイアウト情報の入力手段と、
前記チップレイアウト情報に示されるチップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化するブロック化手段と、
前記切り出したブロック毎に再設計を行う再設計手段と、
前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うレイアウト設計変更手段と、を有することを特徴とする。
この場合、前記ブロック化手段によるブロックの境界を決定する境界選択手段を有し、該境界選択手段は、ブロックの入出力境界端子を特別に生成せず、ブロック内に配置されているゲートを複数選択し、選択したゲートの集合をブロック入出力境界端子として代用することとしてもよい。
さらに、前記境界選択手段は、ブロック入出力境界端子として代用するゲートとして、ブロック境界から設計者が指定した所定の段数番目にあるゲート、または、ブロック境界から内部の論理回路をたどり最初に現れるフリップフロップ、を選択することとしてもよい。
また、前記ブロック化手段によるブロック境界と、前記境界選択手段により選択された入出力境界端子として選択されたたゲートとの間に存在する論理回路のレイアウトを固定とするレイアウト固定手段と、
前記入出力境界端子としたゲートの内側の論理回路に対する遅延制約値として、本来の遅延制約値から前記レイアウトを固定した論理回路の実遅延値を減じた値を定めるタイミング制約生成手段と、を有し、
前記再設計手段は前記タイミング制約生成手段により定められた値により再設計を行うこととしてもよい。
上記のいずれにおいても、前記ブロック化手段は、チップレベルのタイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析結果を基に、タイミング違反、配線違反、またはシグナルインテグリティ違反を起こしている箇所を包含するように、ブロックとして切り出すこととしてもよい。
また、GUI上で切り出すレイアウト領域を指定する指定手段を備え,
前記ブロック化手段は、指定手段により指定された領域をブロックとして切り出すこととしてもよい。
上記のように構成される本発明は、以下に記載する効果を奏する。
タイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析に基づき、任意のレイアウト領域ブロック化し、再設計を行なうことにより、論理階層をまたがる回路の一括最適化が可能となる効果がある。
この時、ブロック境界端子を特別に生成せず、配置済みのゲートをブロック境界端子として代用することにより、ブロック境界端子生成に関連する課題を解決することができる。また、最適化対象回路の周囲のレイアウトを固定し、固定した部分の遅延を実レイアウト結果から求め、その結果を最適化対象回路のタイミング制約生成に反映することができるため、従来のタイミング制約分割に関連する課題も解決することができる効果がある。
また、任意のレイアウト領域のブロック化とその最適化を繰り返すことにより、チップ全体を処理対象とすることなく、回路の全体的な最適化を行なうことが可能となる効果がある。
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明する。
図1は本発明による設計装置の一実施例の構成をその動作とともに示す図である。
本実施例は図1に示されるように、チップレイアウト情報入力手段401と、タイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析手段402と、タイミング制約充足性、配線性、シグナルインテグリティ判定手段403と、任意レイアウト領域ブロック化手段404と、境界端子用ゲート選択手段405と、ブロック境界論理回路レイアウト固定手段406と、ブロック内回路情報出力手段407と、ブロックタイミング制約を生成手段408と、再設計手段409と、チップレイアウト変更手段410から構成されている。なお、本実施例は、制御装置、記憶装置、入力装置および表示装置からなる一般的なコンピュータにより構成されるものである。これらの各部については図示しない。上記の各手段は、記憶装置に格納されたプログラムにより動作する制御装置により、ROM、RAMなどの記憶装置上に構築されて制御される。
上記の各手段はそれぞれ、概略、以下のように動作する。
チップレイアウト情報入力手段401は、設計対象となるチップの配置後または配線後の情報を記憶装置に入力する。
タイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析手段402は、チップレイアウト情報入力手段401により入力された回路に対して、チップ全体のタイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析を行なう。入力された回路の状態が配置後の場合は、ゲート配置位置を基に、スタイナ木、最小木を生成して配線経路を見積もり、配線遅延、配線性、シグナルインテグリティの解析を行なう。入力された回路の状態が配線後の場合は、入力された実配線結果を基に配線遅延、配線性、シグナルインテグリティの解析を行なう。
タイミング制約充足性、配線性、シグナルインテグリティ判定手段403は、タイミング解析、配線製解析結果を基に、結果が要求仕様を満たしているかどうかを調べ、要求仕様を満たしていれば処理を終了、満たしていなければ処理を継続、という判断を下す。
任意レイアウト領域ブロック化手段404は、タイミングエラー、配線エラー、またはシグナルインテグリティエラーを生じている箇所を包含する矩形領域を切り出し、ブロック化する。この時のブロック領域の選択方法としては、任意レイアウト領域ブロック化手段404が自動で選択する方法と、GUI上で設計者が指定することにより選択する方法がある。ブロック化する領域は1つのみとは限らず、チップ上の複数箇所で、タイミングエラー、配線エラー、シグナルインテグリティエラーを起こしている場合は、各エラーを起こしている領域を包含する複数の領域を同時にブロック化する。ただし、複数の領域を同時にブロック化する場合は、領域間に重なりがないような領域の集合を選択する。
境界端子用ゲート選択手段405は、任意レイアウト領域ブロック化手段404が切り出した各ブロックについて、ブロック境界端子として使用するゲートを選択する。ブロック境界端子として使用するゲートとしては、ブロック境界から設計者が指定した段数番目にあるゲート、または、ブロック境界から内部の論理回路をたどり最初に現れるフリップフロップ、を選択する。
ブロック境界論理回路レイアウト固定手段406は、ブロック境界と境界端子用ゲート選択手段405で境界端子として選択されたゲートの間に存在する論理回路のレイアウトを固定する。チップレイアウト情報入力手段401で入力されたチップの状態が配置後の場合は、ゲートの配置位置を固定し、チップレイアウト情報入力手段401で入力されたチップの状態が配線後の場合は、ゲートの配置位置とゲート間の配線を固定する。
ブロック内回路情報出力手段407は、任意レイアウト領域ブロック化手段404で生成したブロック内部の論理回路情報に、境界端子用ゲート選択手段405で固定した配置配線情報を付加して、レイアウトツール用標準インタフェイスファイルの形式で出力する。
ブロックタイミング制約生成手段408は、本来のタイミング制約から境界端子用ゲート選択手段405で配置配線を固定した部分の遅延を減じた値を、ブロック境界端子として選択したゲートの内側の論理回路に対するタイミング制約として、レイアウト用標準インタフェイス形式で出力する。
再設計手段409は、任意レイアウト領域ブロック化手段404で切り出されたブロックの再設計を、ブロック内回路情報出力手段手段407で生成した論理回路情報とブロックタイミング制約生成手段手段408で生成したタイミング制約を用いて外部の配置配線ツールを用いて行なう。任意レイアウト領域ブロック化手段404で複数のブロックが切り出されている場合、これらのブロックは外部の配置配線ツールを用いて並列に再設計を行なうことが可能である。
チップレイアウト変更手段410は、再設計手段409で再設計された各ブロックの結果を、対応する元のチップ上のレイアウト領域に置換入力することによりチップレイアウトを変更する。
以上の動作の概要を図2に示す。
まず、タイミング違反等、設計上の問題がある部分501を特定し、その部分501を包含する矩形領域をブロック化する領域502として指定する。次に、指定された領域502を切り出してブロック化してブロック503とする。切り出されたブロック503に対して、ブロック境界周囲のレイアウトを固定してブロック境界論理回路504を作成し、内部回路の再設計を行なって再設計結果505を得る。最後に、再設計結果をチップに置換入力することにより変更されたチップレイアウト変更結果506を得る。
次に、図1、図3、図4、図5、及び図6を参照して本実施例の全体の動作について詳細に説明する。
まず、チップレイアウト情報入力手段401により、図3に示すチップレイアウト601の情報が入力される。
次に、タイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析手段402により、チップレイアウト601中のパス603がタイミング制約を違反し、部分論理回路が配置されている領域605において配線性違反を起こしていると判断した場合、タイミング制約充足性、配線性、シグナルインテグリティ判定手段403は、処理を継続すべきと判断し、任意レイアウト領域ブロック化手段404は、タイミング制約違反部分を包含する矩形領域604と、配線性違反部分を包含する矩形領域606を選択し、それぞれ、図4におけるブロック1(701)、ブロック2(702)のように再設計用のブロックとして切り出す。
次に、境界端子用ゲート選択手段405は、ブロック境界から2段目のゲートを固定すると指定された場合、図5(a)に示すゲート801をブロック境界端子として選択し、ブロック境界論理回路レイアウト固定手段406は、ゲート801とブロックの境界にいたる経路をレイアウト固定部分802とし、この中の回路のレイアウトを固定する。
図5(b)に示すように、ブロック境界からブロック内部の論理をたどって最初に到達するフリップフロップ806を境界端子として選択するように指定された場合は、フリップフロップ806を境界端子として選択し、フリップフロップ806とブロックの境界にいたる経路をレイアウト固定部分とし、この中の回路のレイアウトを固定する。
図5におけるブロック内論理回路情報は、境界周辺回路の固定レイアウト情報と共に、ブロック内回路情報出力手段407によってレイアウトツール用標準インタフェイスファイルの形式で出力される。
ブロックタイミング制約生成手段408は、境界端子として固定したゲートの内側の論理回路に対する制約を、本来のタイミング制約803から境界端子用ゲート選択手段405で配置配線を固定した部分の実際の遅延時間である実遅延804を減じた値を、ブロック境界端子として選択したゲートの内側の論理回路のタイミング制約805として、レイアウト用標準インタフェイス形式で出力する。
以上のようにして、任意レイアウト領域ブロック化手段404で切り出されたブロック1(701)、ブロック2(702)は、論理回路情報、部分的配置配線情報、およびタイミング制約情報を含むファイルに変換され、このファイルを入力として、外部の配置配線ツールにより各ブロック内の再設計が再設計手段409にて行なわれる。この再設計処理自体は従来から提案されている配置配線手法を用いて行なうことが可能である。
任意レイアウト領域ブロック化手段404で複数のブロックが切り出されている場合、これらのブロックは外部の配置配線ツールを用いて並列に再設計を行なうことが可能である。チップレイアウト変更手段410は、外部レイアウトツールで再設計した各ブロックの結果を、対応する元のチップ上のレイアウト領域に置換入力することによりチップレイアウトを変更する。
次に、レイアウト変更されたチップのタイミング充足性、配線性、シグナルインテグリティ解析がタイミング解析、配線性、シグナルインテグリティ解析手段402により、再度実行され、違反が生じている場合は、図6の矩形領域901のように、図3における矩形領域604、606とは異なる領域がブロックとして切り出され、上述と同様のブロック再設計、チップ上への置換入力が行なわれる。この処理が、手段403で、タイミング制約違反なし、配線性違反なし、シグナルインテグリティ違反なし、と判断されるまで繰り返される。
本発明の実施形態の構成を示すブロック図である 本発明の動作概要を示す図である。 チップレイアウトとブロック化領域選択を示す図である。 再設計用ブロックを示す図である。 境界端子用ゲート選択と境界論理回路のレイアウト固定を示す図である。 2度目の再設計領域選択を示す図である。 ブロック境界端子の生成と位置決定、タイミング制約の分割を示す図である。 従来手法のひとつであるボトムアップ階層設計手法を示す図である。 従来手法のひとつであるトップダウン階層設計手法を示す図である。
符号の説明
401 チップレイアウト情報入力手段
402 タイミング解析、配線性、シグナルインテグリティ解析手段
403 タイミング制約充足性、配線性シグナルインテグリティ判定手段
404 任意レイアウト領域ブロック化手段
405 境界端子用ゲート選択手段
406 ブロック境界論理回路レイアウト固定手段
407 ブロック内回路情報出力手段
408 ブロックタイミング制約生成手段
409 再設計手段
410 チップレイアウト変更手段
501 部分
502 領域
503 ブロック
504 ブロック境界論理回路
505 再設計結果
506 チップレイアウト変更結果
601 チップレイアウト
602 論理階層ブロック
603 パス
604,901 矩形領域
605 領域
606 矩形領域
801 ゲート
802 レイアウト固定部分
803 本来のタイミング制約
804 実遅延
805 内部論理のタイミング制約
806 フリップフロップ

Claims (11)

  1. 半導体集積回路の設計方法であって、
    チップのゲートレベル配置または配線終了後、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化し、前記切り出したブロック毎に再設計を行い、前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うことを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。
  2. 請求項1記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
    チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化した後に、ブロックの入出力境界端子を特別に生成することなく、ブロック内に配置されているゲートを複数選択し、選択したゲートの集合をブロック入出力境界端子として代用することを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。
  3. 請求項2記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
    ブロック入出力境界端子として代用するゲートとして、ブロック境界から設計者が指定した所定の段数番目にあるゲート、または、ブロック境界から内部の論理回路をたどり最初に現れるフリップフロップ、を選択することを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
    チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化するに際し、チップレベルのタイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析結果を基に、タイミング違反、配線違反、シグナルインテグリティ違反を起こしている箇所を包含するように、ブロックとして切り出すことを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。
  5. 請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
    切り出したブロック毎に再設計を行うに際し、ブロック境界と入出力境界端子として選択したゲートの間に存在する論理回路のレイアウトを固定し、前記入出力境界端子として選択したゲートの内側の論理回路に対する遅延制約値として、本来の遅延制約値から前記レイアウトを固定した論理回路の実遅延値を減じた値を使用することを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。
  6. 半導体集積回路の設計装置であって、
    チップのゲートレベル配置または配線を示すチップレイアウト情報の入力手段と、
    前記チップレイアウト情報に示されるチップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化するブロック化手段と、
    前記切り出したブロック毎に再設計を行う再設計手段と、
    前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うレイアウト設計変更手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。
  7. 請求項6記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
    前記ブロック化手段によるブロックの境界を決定する境界選択手段を有し、該境界選択手段は、ブロックの入出力境界端子を特別に生成せず、ブロック内に配置されているゲートを複数選択し、選択したゲートの集合をブロック入出力境界端子として代用することを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。
  8. 請求項7記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
    前記境界選択手段は、ブロック入出力境界端子として代用するゲートとして、ブロック境界から設計者が指定した所定の段数番目にあるゲート、または、ブロック境界から内部の論理回路をたどり最初に現れるフリップフロップ、を選択することを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。
  9. 請求項7または請求項8に記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
    前記ブロック化手段によるブロック境界と、前記境界選択手段により選択された入出力境界端子として選択されたたゲートとの間に存在する論理回路のレイアウトを固定とするレイアウト固定手段と、
    前記入出力境界端子としたゲートの内側の論理回路に対する遅延制約値として、本来の遅延制約値から前記レイアウトを固定した論理回路の実遅延値を減じた値を定めるタイミング制約生成手段と、を有し、
    前記再設計手段は前記タイミング制約生成手段により定められた値により再設計を行うことを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。
  10. 請求項6ないし請求項9のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
    前記ブロック化手段は、チップレベルのタイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析結果を基に、タイミング違反、配線違反、またはシグナルインテグリティ違反を起こしている箇所を包含するように、ブロックとして切り出すことを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。
  11. 請求項6ないし請求項9のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
    GUI上で切り出すレイアウト領域を指定する指定手段を備え,
    前記ブロック化手段は、指定手段により指定された領域をブロックとして切り出すことを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010102486A (ja) * 2008-10-23 2010-05-06 Fujitsu Ltd プリント板配線処理装置、プリント板配線処理プログラム、プリント板配線処理方法
JP2010170418A (ja) * 2009-01-23 2010-08-05 Nec Corp 半導体集積回路の設計装置、その設計方法、プログラム及び記録媒体
US8171440B2 (en) 2008-08-20 2012-05-01 Nec Corporation Timing analyzing apparatus, timing analyzing method and program thereof
US8788255B2 (en) 2009-08-21 2014-07-22 Nec Corporation Delay analysis processing of semiconductor integrated circuit

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000029919A (ja) * 1998-07-13 2000-01-28 Nec Corp 論理回路改善方法および論理回路改善方式
JP2000068381A (ja) * 1998-08-18 2000-03-03 Nec Corp Lsiの自動レイアウト方法、及びlsiの自動レイアウトプログラムを記録した記録媒体
JP2003296386A (ja) * 2002-04-04 2003-10-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路の設計方法及び半導体集積回路
JP2004192227A (ja) * 2002-12-10 2004-07-08 Fujitsu Ltd 半導体集積回路のレイアウト方法および半導体集積回路のレイアウトシステム

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000029919A (ja) * 1998-07-13 2000-01-28 Nec Corp 論理回路改善方法および論理回路改善方式
JP2000068381A (ja) * 1998-08-18 2000-03-03 Nec Corp Lsiの自動レイアウト方法、及びlsiの自動レイアウトプログラムを記録した記録媒体
JP2003296386A (ja) * 2002-04-04 2003-10-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体集積回路の設計方法及び半導体集積回路
JP2004192227A (ja) * 2002-12-10 2004-07-08 Fujitsu Ltd 半導体集積回路のレイアウト方法および半導体集積回路のレイアウトシステム

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8171440B2 (en) 2008-08-20 2012-05-01 Nec Corporation Timing analyzing apparatus, timing analyzing method and program thereof
JP2010102486A (ja) * 2008-10-23 2010-05-06 Fujitsu Ltd プリント板配線処理装置、プリント板配線処理プログラム、プリント板配線処理方法
JP2010170418A (ja) * 2009-01-23 2010-08-05 Nec Corp 半導体集積回路の設計装置、その設計方法、プログラム及び記録媒体
US8788255B2 (en) 2009-08-21 2014-07-22 Nec Corporation Delay analysis processing of semiconductor integrated circuit

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