JP2007257293A - 集積回路の階層設計方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】チップのゲートレベル配置または配線終了後、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化し、前記切り出したブロック毎に再設計を行い、前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行う。
【選択図】図1
Description
図7に示す例では、ゲート104、フリップフロップ105などを備えるブロック1(101)およびブロック2(102)についての階層設計を行う場合の処理について示すものであり、下記2点の処理が必要となる。
チップのゲートレベル配置または配線終了後、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化し、前記切り出したブロック毎に再設計を行い、前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うことを特徴とする。
チップのゲートレベル配置または配線を示すチップレイアウト情報の入力手段と、
前記チップレイアウト情報に示されるチップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化するブロック化手段と、
前記切り出したブロック毎に再設計を行う再設計手段と、
前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うレイアウト設計変更手段と、を有することを特徴とする。
前記入出力境界端子としたゲートの内側の論理回路に対する遅延制約値として、本来の遅延制約値から前記レイアウトを固定した論理回路の実遅延値を減じた値を定めるタイミング制約生成手段と、を有し、
前記再設計手段は前記タイミング制約生成手段により定められた値により再設計を行うこととしてもよい。
前記ブロック化手段は、指定手段により指定された領域をブロックとして切り出すこととしてもよい。
402 タイミング解析、配線性、シグナルインテグリティ解析手段
403 タイミング制約充足性、配線性シグナルインテグリティ判定手段
404 任意レイアウト領域ブロック化手段
405 境界端子用ゲート選択手段
406 ブロック境界論理回路レイアウト固定手段
407 ブロック内回路情報出力手段
408 ブロックタイミング制約生成手段
409 再設計手段
410 チップレイアウト変更手段
501 部分
502 領域
503 ブロック
504 ブロック境界論理回路
505 再設計結果
506 チップレイアウト変更結果
601 チップレイアウト
602 論理階層ブロック
603 パス
604,901 矩形領域
605 領域
606 矩形領域
801 ゲート
802 レイアウト固定部分
803 本来のタイミング制約
804 実遅延
805 内部論理のタイミング制約
806 フリップフロップ
Claims (11)
- 半導体集積回路の設計方法であって、
チップのゲートレベル配置または配線終了後、チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化し、前記切り出したブロック毎に再設計を行い、前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うことを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。 - 請求項1記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化した後に、ブロックの入出力境界端子を特別に生成することなく、ブロック内に配置されているゲートを複数選択し、選択したゲートの集合をブロック入出力境界端子として代用することを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。 - 請求項2記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
ブロック入出力境界端子として代用するゲートとして、ブロック境界から設計者が指定した所定の段数番目にあるゲート、または、ブロック境界から内部の論理回路をたどり最初に現れるフリップフロップ、を選択することを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。 - 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
チップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化するに際し、チップレベルのタイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析結果を基に、タイミング違反、配線違反、シグナルインテグリティ違反を起こしている箇所を包含するように、ブロックとして切り出すことを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。 - 請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計方法において、
切り出したブロック毎に再設計を行うに際し、ブロック境界と入出力境界端子として選択したゲートの間に存在する論理回路のレイアウトを固定し、前記入出力境界端子として選択したゲートの内側の論理回路に対する遅延制約値として、本来の遅延制約値から前記レイアウトを固定した論理回路の実遅延値を減じた値を使用することを特徴とする半導体集積回路の階層設計方法。 - 半導体集積回路の設計装置であって、
チップのゲートレベル配置または配線を示すチップレイアウト情報の入力手段と、
前記チップレイアウト情報に示されるチップ上の任意のレイアウト領域を1つまたは複数切り出してそれぞれをブロック化するブロック化手段と、
前記切り出したブロック毎に再設計を行う再設計手段と、
前記ブロック化した領域の設計を、前記再設計による結果と置換して、チップのレイアウト設計変更を行うレイアウト設計変更手段と、を有することを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。 - 請求項6記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
前記ブロック化手段によるブロックの境界を決定する境界選択手段を有し、該境界選択手段は、ブロックの入出力境界端子を特別に生成せず、ブロック内に配置されているゲートを複数選択し、選択したゲートの集合をブロック入出力境界端子として代用することを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。 - 請求項7記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
前記境界選択手段は、ブロック入出力境界端子として代用するゲートとして、ブロック境界から設計者が指定した所定の段数番目にあるゲート、または、ブロック境界から内部の論理回路をたどり最初に現れるフリップフロップ、を選択することを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。 - 請求項7または請求項8に記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
前記ブロック化手段によるブロック境界と、前記境界選択手段により選択された入出力境界端子として選択されたたゲートとの間に存在する論理回路のレイアウトを固定とするレイアウト固定手段と、
前記入出力境界端子としたゲートの内側の論理回路に対する遅延制約値として、本来の遅延制約値から前記レイアウトを固定した論理回路の実遅延値を減じた値を定めるタイミング制約生成手段と、を有し、
前記再設計手段は前記タイミング制約生成手段により定められた値により再設計を行うことを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。 - 請求項6ないし請求項9のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
前記ブロック化手段は、チップレベルのタイミング解析、配線性解析、シグナルインテグリティ解析結果を基に、タイミング違反、配線違反、またはシグナルインテグリティ違反を起こしている箇所を包含するように、ブロックとして切り出すことを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。 - 請求項6ないし請求項9のいずれかに記載の半導体集積回路の階層設計装置において、
GUI上で切り出すレイアウト領域を指定する指定手段を備え,
前記ブロック化手段は、指定手段により指定された領域をブロックとして切り出すことを特徴とする半導体集積回路の階層設計装置。
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