JP2007243161A - Method for determining pickup order of component - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for determining a component pickup order with the favorable production efficiency of a substrate. <P>SOLUTION: The method for determining a component pickup order is used by a component mounting device which has a plurality of mounting heads, and makes the mounting heads alternately pick up components from a component supplying unit and mount the components to boards. The component supplying unit includes a restricted area where one of the mounting heads cannot pick up components. The method includes pickup order determining steps (S2 and S4) each determining an order according to which the plurality of mounting heads pick up components from the component supplying unit, so that some of the components corresponding to two or more tasks do not remain in one of restricted areas, when a task is made into at least one of components which is mounted in one action of repeatedly executed operation sequences each of which includes the suctioning, moving and mounting of the components executed by the mounting heads. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、部品取り出し順序決定方法に関し、特に、ダイシングが施されたウェハより半導体チップである部品を取り出し、基板上に装着する際の部品取り出し順序決定方法に関する。   The present invention relates to a component take-out order determination method, and more particularly, to a component take-out order determination method for taking out a component that is a semiconductor chip from a diced wafer and mounting it on a substrate.

従来、高効率生産を行なうために、2つの実装ステージが設けられ、実装ステージ毎に実装ヘッドが備えられた部品実装装置が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。   Conventionally, in order to perform high-efficiency production, a component mounting apparatus has been proposed in which two mounting stages are provided and a mounting head is provided for each mounting stage (see, for example, Patent Document 1).

この部品実装装置では、2つの実装ヘッドが1枚のダイシングが施されたウェハより半導体チップである部品を交互に取り出しながら、部品を基板上に実装していく。このように、特許文献1に開示されている部品実装装置は、2つの実装ヘッドが協調動作を行ないながら、1枚のウェハより部品を取り出しながら、1枚の基板上に部品を実装していく。これにより、部品実装装置を小型化することができ、面積生産性を向上させることができる。それとともに、ウェハを補充する際の作業性も向上させることができる。
特開2005−72444号公報
In this component mounting apparatus, components are mounted on a substrate while two mounting heads alternately extract components that are semiconductor chips from a dicing wafer. As described above, the component mounting apparatus disclosed in Patent Document 1 mounts components on a single substrate while taking out components from a single wafer while two mounting heads perform coordinated operations. . Thereby, a component mounting apparatus can be reduced in size and area productivity can be improved. At the same time, workability when replenishing the wafer can be improved.
JP 2005-72444 A

しかしながら、近年、ウェハの直径が8インチから12インチへというように大きくなりつつある。一方、実装ヘッドの稼動範囲には制限がある。このため、ウェハの直径が大きくなってきた場合には、ウェハ上で、実装ヘッドにより部品を吸着することができない領域(以下、「吸着不可領域」という。)が生じてくる。このため、部品の吸着順序によっては、一方の実装ヘッドによっては部品を吸着できるが他方の実装ヘッドによっては部品を吸着することができないような吸着不可領域が最後に残る場合がある。このような場合には、最後に、一方の実装ヘッドは休止させた状態で他方の実装ヘッドのみを使用して、基板への部品実装が行なわれることとなる。このため、協調動作を行ないながら部品を実装することができず、部品が実装された基板の生産効率が悪いという問題がある。   However, in recent years, the diameter of wafers is increasing from 8 inches to 12 inches. On the other hand, the operating range of the mounting head is limited. For this reason, when the diameter of the wafer becomes larger, an area on the wafer where components cannot be adsorbed by the mounting head (hereinafter referred to as “non-adsorption area”) occurs. For this reason, depending on the order of component suction, there may be a case where a non-suckable area remains at the end where the component can be sucked by one mounting head but the component cannot be sucked by the other mounting head. In such a case, finally, component mounting on the board is performed using only the other mounting head in a state where one mounting head is at rest. For this reason, there is a problem that the components cannot be mounted while performing the cooperative operation, and the production efficiency of the board on which the components are mounted is poor.

本発明は、上述の課題を解決するためになされたものであり、複数の実装ヘッドが設けられ、部品供給部より部品を取り出しながら基板に部品を実装していく部品実装装置において、基板の生産効率が良い部品取出し順序決定方法を提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems. In a component mounting apparatus in which a plurality of mounting heads are provided and components are mounted on a substrate while taking out components from the component supply unit, the production of the substrate is performed. It is an object of the present invention to provide a method for determining the order of taking out parts with high efficiency.

上記目的を達成するために、本発明に係る部品取出し順序決定方法は、1つの部品供給部をスライドさせながら複数の実装ヘッドを用いて部品を取り出し、当該部品を基板に実装する部品実装装置における前記部品供給部からの部品取り出し順序を決定する部品取り出し順序決定方法であって、前記部品供給部には、いずれか1つの実装ヘッドによってしか部品を取り出すことができない領域である不可領域が少なくとも1つ含まれ、実装ヘッドによる部品の吸着、移動および装着という一連の動作の繰り返しにおける1回分の一連動作によって実装される少なくとも1つの部品をタスクとした場合に、前記少なくとも1つの不可領域のうちいずれか1つのみの不可領域において、2タスク以上の部品が残存する状態が発生しないように、前記複数の実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する取り出し順序決定ステップを含む。   In order to achieve the above object, a component take-out order determination method according to the present invention is a component mounting apparatus that takes out a component using a plurality of mounting heads while sliding one component supply unit and mounts the component on a substrate. A method for determining a part removal order for determining a part removal order from the part supply unit, wherein the component supply part has at least one unusable region that is a region in which a component can be removed only by any one mounting head. One of the at least one unusable areas when the task is at least one component that is mounted by a series of operations in a series of operations including adsorption, movement, and mounting of components by the mounting head. In order to prevent a situation in which parts with two or more tasks remain in only one impossible area, Including extraction order determining step of determining the retrieval sequence of the components from the component supply portion by a plurality of mounting heads.

この方法によると、いずれか1つのみの不可領域において2タスク以上の部品が残存しないことから、同一の実装ヘッドが2回以上の連続して部品を取り出すことがなくなる。このため、一方の実装ヘッドは休止させた状態で他方の実装ヘッドのみを使用したような基板への部品実装は行なわれなくなる。よって、常に、協調動作を行ないながら部品を実装することができ、基板の生産効率が良い部品取出し順序決定方法を提供することができる。   According to this method, since no component of two tasks or more remains in any one of the impossible areas, the same mounting head does not take out the components continuously twice or more. For this reason, component mounting on the board using only the other mounting head while one mounting head is at rest is not performed. Therefore, components can always be mounted while performing a cooperative operation, and a component take-out order determination method with high board production efficiency can be provided.

本発明における実装ヘッドは、後述する実施の形態における第1ヘッド部および第2ヘッド部に相当し、部品供給部は、部品供給装置に相当する。   The mounting head in the present invention corresponds to a first head unit and a second head unit in embodiments described later, and the component supply unit corresponds to a component supply device.

なお、本発明は、このような特徴的なステップを備える部品取出し順序決定方法として実現することができるだけでなく、部品取出し順序決定方法に含まれる特徴的なステップを手段とする部品取出し順序決定装置として実現したり、部品取出し順序決定方法に含まれる特徴的なステップをコンピュータに実行させるプログラムとして実現したりすることもできる。そして、そのようなプログラムは、CD−ROM(Compact Disc-Read Only Memory)等の記録媒体やインターネット等の通信ネットワークを介して流通させることが
できるのは言うまでもない。
The present invention can be realized not only as a part take-out order determination method having such characteristic steps, but also as a part take-out order determination apparatus using the characteristic steps included in the part take-out order determination method. Or as a program that causes a computer to execute the characteristic steps included in the component take-out order determination method. Needless to say, such a program can be distributed via a recording medium such as a CD-ROM (Compact Disc-Read Only Memory) or a communication network such as the Internet.

本発明によると、複数の実装ヘッドが設けられ、部品供給部(具体的には、ダイシングが施されたウェハ、部品が並べられたトレイ、部品を収納した部品カセット等)より部品を取り出しながら基板に部品を実装していく部品実装装置において、基板の生産効率が良い部品取出し順序決定方法を提供することができる。   According to the present invention, a plurality of mounting heads are provided, and a substrate is taken out from a component supply unit (specifically, a wafer subjected to dicing, a tray on which components are arranged, a component cassette storing components, etc.). In a component mounting apparatus that mounts components on a substrate, it is possible to provide a component take-out order determination method with good substrate production efficiency.

以下に、本発明に係る実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。   Embodiments according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

(実施の形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る部品実装装置101の模式的な構成を示す図である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a component mounting apparatus 101 according to the first embodiment of the present invention.

図1に示すように、部品実装装置101は、ダイシングが施されたウェハより供給される部品の一例である半導体チップを基板の一例である回路基板に実装する装置である。また、部品実装装置101は、供給される回路基板8の搬送を行ない、かつ、当該搬送方向における所定の位置である基板保持位置にて、供給される回路基板8の保持を解除可能に行なう基板搬送装置を備えている。図1に示すように、この基板搬送装置は、部品実装装置101の図示左側から供給される回路基板8をその両端部で支持しながら、図示右向きに搬送する一対の搬送レールを互いに隣接させて2組、すなわち、搬送レール5および搬送レール6を備えている。なお、図1においては、図示左右方向がX軸方向、このX軸方向に直交する方向がY軸方向となっており、それぞれの搬送レール5および6は、X軸方向に沿って配置されている。また、上記2組の搬送レール5および6には、それぞれ2箇所の上記基板保持位置を有しており、搬送レール5における図示左側を第1基板保持位置A、図示右側を第2基板保持位置Bとし、搬送レール6における図示左側を第3基板保持位置C、図示右側を第4基板保持位置Dとしている。このように上記基板保持装置が構成されることで、部品実装装置101において、合計4枚の回路基板8を同時的に保持して部品実装を行なうことが可能となっている。なお、本実施形態においては、搬送レール5および6が、基板保持装置の一例となっている。   As shown in FIG. 1, a component mounting apparatus 101 is an apparatus that mounts a semiconductor chip, which is an example of a component supplied from a diced wafer, on a circuit board, which is an example of a substrate. In addition, the component mounting apparatus 101 transports the supplied circuit board 8 and removably holds the supplied circuit board 8 at a substrate holding position that is a predetermined position in the transport direction. A transport device is provided. As shown in FIG. 1, this board transfer apparatus is configured by adjoining a pair of transfer rails that transfer rightward in the figure while supporting the circuit board 8 supplied from the left side of the component mounting apparatus 101 at both ends thereof. Two sets, that is, a transport rail 5 and a transport rail 6 are provided. In FIG. 1, the horizontal direction shown in the figure is the X-axis direction, and the direction orthogonal to the X-axis direction is the Y-axis direction. The respective transport rails 5 and 6 are arranged along the X-axis direction. Yes. The two sets of transfer rails 5 and 6 each have two substrate holding positions. The left side of the transfer rail 5 in the drawing is the first substrate holding position A, and the right side of the drawing is the second substrate holding position. B is the third substrate holding position C on the left side of the transport rail 6 and the fourth substrate holding position D is on the right side of the drawing. By configuring the board holding device in this way, the component mounting apparatus 101 can simultaneously hold a total of four circuit boards 8 and perform component mounting. In the present embodiment, the transport rails 5 and 6 are an example of a substrate holding device.

また、図1に示すように、部品実装装置101は、第1基板保持位置Aおよび第3基板保持位置Cに保持された回路基板8に対して部品実装を施す第1の実装ヘッドの一例である第1ヘッド部4と、第2基板保持位置Bおよび第4基板保持位置Dに保持された回路基板8に対して部品実装を施す第2の実装ヘッドの一例である第2ヘッド部34とを備えている。また、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34のそれぞれは、半導体チップを解除可能に吸着保持する部品保持部材の一例である吸着ノズル3および33を、例えば、それぞれ3本ずつ装備している。   As shown in FIG. 1, the component mounting apparatus 101 is an example of a first mounting head that performs component mounting on the circuit board 8 held at the first board holding position A and the third board holding position C. A first head unit 4 and a second head unit 34 as an example of a second mounting head for mounting components on the circuit board 8 held at the second board holding position B and the fourth board holding position D. It has. Each of the first head portion 4 and the second head portion 34 is equipped with, for example, three suction nozzles 3 and 33, which are examples of component holding members for sucking and holding the semiconductor chip, respectively. .

また、部品実装装置101における図示下方側には、それぞれの半導体チップを供給可能にウェハ1を保持するウェハ保持テーブルの一例である保持テーブル12を備える部品供給装置11が備えられている。部品供給装置11は、部品実装装置101の基台における図示左隅部近傍に位置される第1部品供給位置Eと、図示右隅部近傍に位置される第2部品供給位置Fとの間で、保持テーブル12を図示X軸方向に沿って往復移動させることが可能となっている。また、第1部品供給位置Eと第2部品供給位置Fとの間には、部品認識位置の一例であるウェハ認識位置Gが位置されており、このウェハ認識位置Gに位置された状態のウェハ1におけるそれぞれの半導体チップの画像を撮像することにより、ウェハ1におけるそれぞれの半導体チップの位置を認識可能な部品認識装置の一例であるウェハカメラ14が、ウェハ認識位置Gの上方に備えられている。なお、ウェハカメラ14は、図示Y軸方向に沿って進退移動することが可能となっている。また、ここではウェハ1の直径は、例えば8インチであるとする。   Further, a component supply device 11 including a holding table 12 that is an example of a wafer holding table that holds the wafer 1 so that each semiconductor chip can be supplied is provided on the lower side of the component mounting apparatus 101 in the figure. The component supply device 11 is between a first component supply position E located in the vicinity of the illustrated left corner of the base of the component mounting apparatus 101 and a second component supply position F positioned in the vicinity of the illustrated right corner. It is possible to reciprocate the holding table 12 along the X-axis direction in the figure. Further, a wafer recognition position G, which is an example of a component recognition position, is located between the first component supply position E and the second component supply position F, and the wafer in a state positioned at the wafer recognition position G. A wafer camera 14 which is an example of a component recognition device capable of recognizing the position of each semiconductor chip on the wafer 1 by capturing an image of each semiconductor chip in 1 is provided above the wafer recognition position G. . The wafer camera 14 can move back and forth along the Y-axis direction shown in the figure. Here, it is assumed that the diameter of the wafer 1 is, for example, 8 inches.

さらに、図1に示すように、部品実装装置101における基台の図示手前側には、複数のウェハ1を部品供給装置11に供給可能に収容するウェハマガジン10が備えられている。ウェハマガジン10は、収容しているウェハ1を、ウェハ認識位置Gに位置された状態の保持テーブル12に対して供給することが可能となっている。   Further, as shown in FIG. 1, a wafer magazine 10 that accommodates a plurality of wafers 1 so as to be supplied to a component supply device 11 is provided on the front side of the base in the component mounting apparatus 101. The wafer magazine 10 can supply the accommodated wafer 1 to the holding table 12 in a state of being positioned at the wafer recognition position G.

また、図1に示すように、第1ヘッド部4は、第1基板保持位置Aおよび第3基板保持位置Cと、第1部品供給位置Eとの間で往復移動することが可能であるとともに、回路基板8の大略表面沿いの方向である図示X軸方向およびY軸方向に移動可能とされており、当該移動を担う図示しない第1のヘッド移動装置(例えば、第1XYロボット)が備えられている。また、同様に、第2ヘッド部34は、第2基板保持位置Bおよび第4基板保持位置Dと、第2部品供給位置Fとの間で往復移動することが可能であるとともに、回路基板8の大略表面沿いの方向である図示X軸方向およびY軸方向に移動可能とされており、当該移動を担う図示しない第2のヘッド移動装置(例えば、第2XYロボット)が備えられている。   As shown in FIG. 1, the first head unit 4 can reciprocate between the first substrate holding position A and the third substrate holding position C and the first component supply position E. The circuit board 8 is movable in the illustrated X-axis direction and the Y-axis direction, which are substantially along the surface, and is provided with a first head moving device (for example, a first XY robot) (not shown) responsible for the movement. ing. Similarly, the second head portion 34 can reciprocate between the second substrate holding position B and the fourth substrate holding position D and the second component supply position F, and the circuit board 8. And a second head moving device (for example, a second XY robot) (not shown) that is capable of moving in the illustrated X axis direction and the Y axis direction, which are substantially along the surface.

また、図1に示すように、第1ヘッド部4に装備されるいずれかの吸着ノズル3が、第1部品供給位置Eに位置された状態のウェハ1における任意の位置の上方に位置することが可能であって、第1基板保持位置Aおよび第3基板保持位置Cにて保持された回路基板8の任意の位置の上方に位置することが可能となるように、上記第1XYロボットによる第1ヘッド部4の移動範囲が決定されている。同様に、第2ヘッド部34に装備されるいずれかの吸着ノズル33が、第2部品供給位置Fに位置された状態のウェハ1における任意の位置の上方に位置することが可能であって、第2基板保持位置Bおよび第4基板保持位置Dにて保持された回路基板8の任意の位置の上方に位置することが可能となるように、上記第2XYロボットによる第2ヘッド部34の移動範囲が決定されている。   Further, as shown in FIG. 1, any one of the suction nozzles 3 provided in the first head unit 4 is positioned above an arbitrary position on the wafer 1 in a state of being positioned at the first component supply position E. So that the first XY robot can be positioned above any position of the circuit board 8 held at the first substrate holding position A and the third substrate holding position C. The moving range of one head unit 4 is determined. Similarly, any of the suction nozzles 33 provided in the second head unit 34 can be positioned above an arbitrary position in the wafer 1 in a state of being positioned at the second component supply position F, Movement of the second head unit 34 by the second XY robot so that the circuit board 8 can be positioned above any position held at the second substrate holding position B and the fourth substrate holding position D. The range has been determined.

さらに、第1部品供給位置Eと第3基板保持位置Cとの間における基台上には、第1ヘッド部4のそれぞれの吸着ノズル3により吸着保持された状態の半導体チップの画像を撮像することにより、当該半導体チップの吸着保持姿勢を認識することが可能な第1部品認識カメラ7が備えられている。同様に、第2部品供給位置Fと第4基板保持位置Dとの間における基台上には、第2ヘッド部34のそれぞれの吸着ノズル33により吸着保持された状態の半導体チップの画像を撮像することにより、当該半導体チップの吸着保持姿勢を認識することが可能な第2部品認識カメラ37が備えられている。   Further, on the base between the first component supply position E and the third substrate holding position C, an image of the semiconductor chip that is sucked and held by each suction nozzle 3 of the first head unit 4 is taken. Thus, the first component recognition camera 7 capable of recognizing the suction holding posture of the semiconductor chip is provided. Similarly, on the base between the second component supply position F and the fourth substrate holding position D, an image of the semiconductor chip that is sucked and held by the respective suction nozzles 33 of the second head portion 34 is taken. Thus, a second component recognition camera 37 capable of recognizing the suction holding posture of the semiconductor chip is provided.

図2は、部品実装装置101内部に備えられる実装ステージ109、110の主要な構成を示す斜視図である。実装ステージ109は、第1ヘッド部4により回路基板8に半導体チップが実装される基板の搬送ラインにおける実装ステージであり、実装ステージ110は、第2ヘッド部34により回路基板8に半導体チップが実装される基板の搬送ラインにおける実装ステージである。   FIG. 2 is a perspective view showing a main configuration of the mounting stages 109 and 110 provided in the component mounting apparatus 101. The mounting stage 109 is a mounting stage in the substrate transfer line on which the semiconductor chip is mounted on the circuit board 8 by the first head unit 4, and the mounting stage 110 is mounted on the circuit board 8 by the second head unit 34. It is the mounting stage in the board | substrate conveyance line.

下記にて実装ステージ109の各構成要素について詳述するが、以下の説明は実装ステージ110についても共通である。   Hereinafter, each component of the mounting stage 109 will be described in detail, but the following description is also common to the mounting stage 110.

ビーム軌道117は、部品実装装置101の奥から手前にわたって部品実装装置101に固定されるビームの軌道となる剛性の高い部材である。このビーム軌道117の内部にはACサーボモータMで駆動されるボールねじ(図示せず)が設けられており、当該ボールねじをACサーボモータMで回転させることによってビーム軌道117に取り付けられたビーム115を駆動している。   The beam trajectory 117 is a highly rigid member serving as a beam trajectory fixed to the component mounting apparatus 101 from the back to the front of the component mounting apparatus 101. A ball screw (not shown) driven by an AC servo motor M is provided inside the beam trajectory 117, and the beam attached to the beam trajectory 117 by rotating the ball screw by the AC servo motor M. 115 is driven.

前記ビーム軌道117に取り付けられるビーム115は、回路基板8の搬送方向(X方向)に延びており、ビーム軌道117に沿って(Y方向)平行に移動可能な部材である。また、このビーム115の内部にはリニアモータが設けられており(図示せず)、ビーム115に垂下状に取り付けられる第1ヘッド部4をビーム115に沿ってX方向に駆動することができる。   The beam 115 attached to the beam trajectory 117 extends in the conveyance direction (X direction) of the circuit board 8 and is a member that can move in parallel along the beam trajectory 117 (Y direction). In addition, a linear motor (not shown) is provided inside the beam 115, and the first head unit 4 attached to the beam 115 in a suspended manner can be driven in the X direction along the beam 115.

ビーム115に取り付けられる第1ヘッド部4は、半導体チップを保持し基板に装着することができるユニットであり、ビーム115に沿って(X方向)移動可能となっている。従って第1ヘッド部4がビーム115に沿って移動できる範囲によって半導体チップの基板への装着可能領域が規定される。   The first head unit 4 attached to the beam 115 is a unit that can hold a semiconductor chip and can be mounted on a substrate, and is movable along the beam 115 (X direction). Therefore, a region where the semiconductor chip can be mounted on the substrate is defined by a range in which the first head unit 4 can move along the beam 115.

また、第1ヘッド部4は、半導体チップを真空吸着により保持し、回路基板8上に保持する半導体チップを装着するための吸着ノズル3を複数備えており(マルチ装着ヘッド)、複数の半導体チップを吸着保持し搬送して回路基板8に装着することができるものとなされている。   The first head unit 4 includes a plurality of suction nozzles 3 (multiple mounting heads) for holding semiconductor chips by vacuum suction and for mounting semiconductor chips held on the circuit board 8 (multiple mounting heads). Can be sucked, held, transported, and mounted on the circuit board 8.

半導体チップ吸着時には、第1ヘッド部4は、吸着ノズル3を降下させて、ウェハ1より供給される半導体チップを吸着保持し、吸着ノズル3を上昇させる。当該第1ヘッド部4は複数の吸着ノズル3を備えているため、吸着ノズル3にそれぞれ半導体チップを吸着保持させる。   At the time of semiconductor chip suction, the first head unit 4 lowers the suction nozzle 3 to suck and hold the semiconductor chip supplied from the wafer 1 and raise the suction nozzle 3. Since the first head unit 4 includes a plurality of suction nozzles 3, the suction nozzles 3 hold the semiconductor chips by suction.

次に、ビーム115と第1ヘッド部4を移動させて、半導体チップを回路基板8の実装点まで搬送する。この実装点とは、対応する半導体チップを装着すべき回路基板8上の位置であって、回路基板8上のいずれかの部分を基準点とし、この基準点との位置関係によって規定されている。最後に、第1ヘッド部4は、吸着ノズル3を降下させて半導体チップを回路基板8に装着する。   Next, the beam 115 and the first head unit 4 are moved to transport the semiconductor chip to the mounting point of the circuit board 8. This mounting point is a position on the circuit board 8 where a corresponding semiconductor chip is to be mounted, and is defined by a positional relationship with this reference point with any part on the circuit board 8 as a reference point. . Finally, the first head unit 4 lowers the suction nozzle 3 to mount the semiconductor chip on the circuit board 8.

このような構成を有する部品実装装置101における部品供給装置11の構成を中心として示す斜視図(部分的に内部透過図となっている)を図3に示し、この図3に基づいて、部品供給装置11の構成について以下に詳細に説明する。   FIG. 3 shows a perspective view (partially an internal transparent view) showing the configuration of the component supply device 11 in the component mounting apparatus 101 having such a configuration, and the component supply based on FIG. The configuration of the device 11 will be described in detail below.

図3に示すように、部品供給装置11は、保持テーブル12を図示X軸方向に移動可能に支持するテーブル支持フレーム18と、この支持された保持テーブル12の上記X軸方向の進退移動(すなわち、第1部品供給位置Eと第2部品供給位置Fとの間での往復移動)を駆動するテーブル移動装置16とを備えている。さらに、部品供給装置11は、保持テーブル12にて保持された状態のウェハ1が備えるそれぞれの半導体チップ2のうちの所望の半導体チップ2をその下面より突き上げる突上げ装置40と、この突上げ装置40を図示X軸方向またはY軸方向に移動させて、上記所望の半導体チップ2の突き上げのための位置合わせを可能とする突上げピン相対移動装置の一例である突上げ装置移動装置20とを備えている。   As shown in FIG. 3, the component supply device 11 includes a table support frame 18 that supports the holding table 12 so as to be movable in the X-axis direction shown in the figure, and the X-axis direction advance / retreat movement of the supported holding table 12 (that is, And a table moving device 16 for driving the reciprocating movement between the first component supply position E and the second component supply position F. Further, the component supply device 11 includes a push-up device 40 that pushes a desired semiconductor chip 2 out of the respective semiconductor chips 2 included in the wafer 1 held by the holding table 12, and the push-up device. A push-up device moving device 20, which is an example of a push-up pin relative moving device that enables positioning for the push-up of the desired semiconductor chip 2 by moving 40 in the X-axis direction or the Y-axis direction shown in the figure. I have.

ここで、部品供給装置11が備える保持テーブル12の構成を示す模式断面図を図4(A)および図4(B)に示す。図4(A)に示すように、円盤状のウェハ1は、ダイシングが施された状態で、伸縮性を有するシートであるウェハシート50の上面に剥離可能に貼着されている。また、このウェハシート50は、環状に形成されたウェハリング51の内側に貼着されており、このウェハリング51が保持テーブル12のリング保持部53に保持されることにより、ウェハ1の保持が行われている。なお、保持テーブル12は、ウェハリング51の内径と略同じ大きさの内孔を有しており、当該内孔12aよりウェハシート50に貼着された状態のウェハ1が常に露出された状態とされている。   Here, a schematic cross-sectional view showing the configuration of the holding table 12 included in the component supply device 11 is shown in FIGS. 4 (A) and 4 (B). As shown in FIG. 4A, the disc-shaped wafer 1 is detachably attached to the upper surface of a wafer sheet 50 that is a stretchable sheet in a dicing state. The wafer sheet 50 is attached to the inside of an annularly formed wafer ring 51, and the wafer 1 is held by the ring holding portion 53 of the holding table 12, thereby holding the wafer 1. Has been done. The holding table 12 has an inner hole that is substantially the same size as the inner diameter of the wafer ring 51, and the wafer 1 that is stuck to the wafer sheet 50 through the inner hole 12a is always exposed. Has been.

また、図4(A)に示すように、ウェハシート50の下方には、ウェハ1の外径よりも大きくかつウェハリング51の内径よりも小さな径を有する円環状のエキスパンド部材52が備えられている。このエキスパンド部材52は、図4(B)に示すように、その上端である当接部52aにウェハシート50を当接させながら、当該当接部52aを支点としてウェハシート50放射状に延伸させることで、ダイシングが施されたウェハ1のエキスパンドを行なうための部材である。   As shown in FIG. 4A, an annular expanding member 52 having a diameter larger than the outer diameter of the wafer 1 and smaller than the inner diameter of the wafer ring 51 is provided below the wafer sheet 50. Yes. As shown in FIG. 4 (B), the expanding member 52 extends the wafer sheet 50 radially with the contact portion 52a as a fulcrum while the wafer sheet 50 is in contact with the contact portion 52a which is the upper end thereof. Thus, it is a member for expanding the wafer 1 that has been diced.

また、保持テーブル12は、保持テーブル12を昇降させる昇降装置の一例であるエキスパンド装置22を介して、フレーム54に支持されている。エキスパンド装置22は、保持テーブル12の四隅それぞれの下面に固定されたナット部22fと、それぞれのナット部22fと螺合されるとともに、フレーム54にその下端が回転可能に固定されたボールネジ軸部22eと、それぞれのボールネジ軸部22eに固定されたローラ22dと、その駆動軸にローラ22bを備える駆動モータ22aと、ローラ22bの回転駆動を、それぞれのローラ22dに伝達する駆動ベルト22cとを備えている。なお、駆動モータ22aは正逆いずれの方向にも回転駆動することが可能となっている。   The holding table 12 is supported by the frame 54 via an expanding device 22 that is an example of a lifting device that lifts and lowers the holding table 12. The expanding device 22 includes a nut portion 22f fixed to the lower surface of each of the four corners of the holding table 12, and a ball screw shaft portion 22e that is screwed to the nut portion 22f and whose lower end is rotatably fixed to the frame 54. A roller 22d fixed to each ball screw shaft portion 22e, a drive motor 22a having a roller 22b on its drive shaft, and a drive belt 22c for transmitting the rotational drive of the roller 22b to each roller 22d. Yes. The drive motor 22a can be driven to rotate in both forward and reverse directions.

このように保持テーブル12およびエキスパンド装置22が構成されていることで、図4(B)に示すように、駆動モータ22aを正逆いずれかの方向に回転駆動させることで、それぞれのボールネジ軸部22eに螺合されているナット部22fを下降させて、保持テーブル12を下降させることができる。これにより、エキスパンド部材52の上方に配置されているウェハシート50を下降させて、当接部52aに当接させ、さらに下降させて、当該当接部52aを支点として、ウェハシート50を放射状に延伸させることができる。これにより、ウェハ1のエキスパンドを行ない、ウェハ1を構成しているそれぞれの半導体チップ2の配置間隔を広げた状態(すなわち、互いに隣接する半導体チップ2間に隙間を形成した状態)とすることができる。このようなエキスパンドは、それぞれの半導体チップ2の突上げによる取り出しの際に、当該取り出しが行なわれる半導体チップ2が隣接する半導体チップ2に干渉すること等を防止して、円滑な取り出しを実現可能とするために行なわれる。   By configuring the holding table 12 and the expanding device 22 in this way, as shown in FIG. 4 (B), each of the ball screw shafts can be driven by rotating the drive motor 22a in either the forward or reverse direction. The holding table 12 can be lowered by lowering the nut portion 22f that is screwed into 22e. As a result, the wafer sheet 50 disposed above the expanding member 52 is lowered, brought into contact with the contact portion 52a, and further lowered, and the wafer sheet 50 is radially formed using the contact portion 52a as a fulcrum. It can be stretched. Thereby, the wafer 1 is expanded, and the arrangement interval of the semiconductor chips 2 constituting the wafer 1 is increased (that is, a gap is formed between the adjacent semiconductor chips 2). it can. Such an expand prevents a semiconductor chip 2 to be taken out from interfering with an adjacent semiconductor chip 2 when taking out each semiconductor chip 2 by pushing up, thereby realizing a smooth takeout. To be done.

突上げ装置40は、ウェハシート50に貼着された状態の半導体チップ2をその下面より突き上げるための突上げピンを内蔵して保持する突上げピン保持部41と、この突上げピンの昇降動作を行なう突上げピン昇降装置(図示せず)とを備えている。   The push-up device 40 includes a push-up pin holding portion 41 that holds and holds a push-up pin for pushing up the semiconductor chip 2 attached to the wafer sheet 50 from the lower surface thereof, and a lifting operation of the push-up pin. And a push-up pin lifting / lowering device (not shown).

突上げピン保持部41は、その先端部にウェハシート50と当接されるとともに、ウェハシート50を吸着保持するシート当接部の一例であるシート当接面42を備えている。ここで、この突上げピン保持部41のシート当接面42の模式拡大断面図を図5に示す。図5に示すように、シート当接面42には、複数の吸着孔43が形成されており、当接された状態のウェハシート50を吸着することで、シート当接面42にウェハシート50を密着させて確実に保持することが可能となっている。また、シート当接面42には、多数の凹部42aが形成されており、上記密着させることで、シート当接面42の上方に位置されている半導体チップ2のウェハシート50からの剥離性を良好なものとすることを補っている。また、シート当接面42の略中央部分には、ピン格納孔46が形成されており、このピン格納孔46から突出可能に突上げピン45が突上げピン保持部41内に格納されている。   The push-up pin holding part 41 is provided with a sheet contact surface 42 which is an example of a sheet contact part for adsorbing and holding the wafer sheet 50 while being brought into contact with the wafer sheet 50 at the tip thereof. Here, a schematic enlarged sectional view of the sheet contact surface 42 of the push-up pin holding portion 41 is shown in FIG. As shown in FIG. 5, a plurality of suction holes 43 are formed in the sheet contact surface 42, and the wafer sheet 50 is attached to the sheet contact surface 42 by sucking the wafer sheet 50 in the contact state. Can be securely held in close contact with each other. In addition, a large number of recesses 42 a are formed in the sheet contact surface 42, and the close contact makes it possible to remove the semiconductor chip 2 located above the sheet contact surface 42 from the wafer sheet 50. It makes up for being good. In addition, a pin storage hole 46 is formed in a substantially central portion of the sheet contact surface 42, and a push-up pin 45 is stored in the push-up pin holding portion 41 so as to protrude from the pin storage hole 46. .

また、突上げピン昇降装置は、駆動モータによる回転運動を、カムおよびカムフォロアにより上下運動に変換して、突上げピン45の昇降を行なう方式が採用されている。   Further, the push-up pin lifting / lowering device employs a system in which the push-up pin 45 is lifted / lowered by converting the rotational motion by the drive motor into the vertical motion by the cam and the cam follower.

このような構成の突上げピン昇降装置により、図6に示すように、突上げピン45の上方の先端部である突上げ先端がピン格納孔46から突出しない位置である格納位置Jと、突上げピン45の上記突上げ先端をシート当接面42よりも上方の位置であって、半導体チップ2を突上げる位置である突上げ位置Kとの間で、突上げピン45の昇降動作を行なうことが可能となっている。また、突上げピン45を上昇させて、ウェハシート50を貫通させ、半導体チップ2の下面を突上げて、ウェハシート50より剥離させる際には、ウェハシート50は、シート当接面42に吸着保持されているため、当該剥離を容易かつ確実に行なうことができる。   As shown in FIG. 6, the push-up pin lifting and lowering device configured as described above has a storage position J that is a position where the push-up tip, which is the tip portion above the push-up pin 45, does not protrude from the pin storage hole 46. The raising and lowering operation of the raising pin 45 is performed between the upper end of the raising pin 45 above the sheet contact surface 42 and the raising position K that is a position to push up the semiconductor chip 2. It is possible. Further, when the push-up pin 45 is raised to penetrate the wafer sheet 50 and the lower surface of the semiconductor chip 2 is pushed up and peeled off from the wafer sheet 50, the wafer sheet 50 is attracted to the sheet contact surface 42. Since it is held, the peeling can be performed easily and reliably.

また、図3に示すように、突上げ装置40は、突上げ装置40を支持し、かつ、図示X軸方向に移動させる駆動部(図示しない)を備えるX軸移動部20eと、このX軸移動部20eに固定されたナット部(図示しない)に螺合されたボールネジ軸部20a、このボールネジ軸部20aの回転駆動を行なう駆動モータ20d、当該回転駆動をボールネジ軸部20aに伝達するローラ20bと駆動ベルト20cとにより構成されるY軸移動部とを備える突上げ装置移動装置20により、図示X軸方向またはY軸方向に移動することが可能となっている。このように突上げ装置40が図示X軸方向またはY軸方向に移動可能とされていることにより、突上げピン45と、ウェハ1における所望の半導体チップ2との突上げのための位置合わせを行なうことが可能となっている。   As shown in FIG. 3, the thrusting device 40 includes an X-axis moving unit 20e that supports the thrusting device 40 and includes a drive unit (not shown) that moves in the illustrated X-axis direction, and the X-axis. A ball screw shaft portion 20a screwed into a nut portion (not shown) fixed to the moving portion 20e, a drive motor 20d that rotates the ball screw shaft portion 20a, and a roller 20b that transmits the rotation drive to the ball screw shaft portion 20a. It is possible to move in the X-axis direction or the Y-axis direction shown in the figure by means of a push-up device moving device 20 including a Y-axis moving unit constituted by a driving belt 20c. As described above, the push-up device 40 is movable in the X-axis direction or the Y-axis direction shown in the drawing, so that the push-up pin 45 can be aligned with the desired semiconductor chip 2 on the wafer 1 for the push-up. It can be done.

また、このような位置合わせは、例えば、図5に示すように、突上げピン45が格納位置J(図6参照)に位置された状態の突上げピン保持部41において、シート当接面42がウェハシートの下面に当接された状態で、かつ、それぞれの吸着孔43によりウェハシート50が吸着されていない状態にて行なわれる。言い換えれば、図4(A)および図4(B)に示すように、突上げピン保持部41におけるシート当接面42は、エキスパンド部材52の当接部52aと略同じ高さに位置されるように配置されており、エキスパンドが施された状態のウェハシート50の下面とシート当接面42が常時当接された状態とされている。   Further, for example, as shown in FIG. 5, such alignment is performed by the sheet contact surface 42 in the push-up pin holding portion 41 in a state where the push-up pin 45 is positioned at the storage position J (see FIG. 6). Is performed in a state in which the wafer sheet 50 is in contact with the lower surface of the wafer sheet and the wafer sheet 50 is not adsorbed by the respective adsorption holes 43. In other words, as shown in FIGS. 4A and 4B, the sheet contact surface 42 in the push-up pin holding portion 41 is positioned at substantially the same height as the contact portion 52 a of the expanding member 52. The lower surface of the wafer sheet 50 in an expanded state and the sheet contact surface 42 are always in contact with each other.

また、図3に示すように、テーブル移動装置16は、保持テーブル12を支持するフレーム54に固定されたナット部16aと、このナット部16aに螺合されるとともに図示X軸方向に配設されたボールネジ軸部16bと、このボールネジ軸部16bを回転駆動する駆動モータ16eと、この駆動モータ16eによる回転駆動をボールネジ軸部16bに伝達するローラ16cと駆動ベルト16dとを備えている。これにより駆動モータ16eを正逆いずれかの方向に回転駆動させることで、ボールネジ軸部16bおよびナット部16aを介して、保持テーブル12を図示X軸方向に沿って、進退移動させることが可能となっている。   Further, as shown in FIG. 3, the table moving device 16 includes a nut portion 16a fixed to a frame 54 that supports the holding table 12, and is screwed into the nut portion 16a and is disposed in the X-axis direction in the drawing. The ball screw shaft portion 16b, a drive motor 16e that rotationally drives the ball screw shaft portion 16b, a roller 16c that transmits the rotational drive by the drive motor 16e to the ball screw shaft portion 16b, and a drive belt 16d are provided. As a result, by rotating the drive motor 16e in either the forward or reverse direction, the holding table 12 can be moved back and forth along the X-axis direction in the drawing via the ball screw shaft portion 16b and the nut portion 16a. It has become.

上述のような構成を有する部品実装装置101において、ウェハ1より半導体チップ2が取り出されて回路基板8に実装するまでの実装動作の手順について、図7から図11に示す部品実装装置101の模式平面図を用いた動作説明図に基づいて、以下に説明する。なお、以下に説明するそれぞれの動作は、部品実装装置101が備える実装制御装置(図示せず)により、それぞれの動作が互いに関連付けられながら統括的に行われている。   In the component mounting apparatus 101 having the above-described configuration, the procedure of the mounting operation until the semiconductor chip 2 is taken out from the wafer 1 and mounted on the circuit board 8 is schematically shown in the component mounting apparatus 101 shown in FIGS. This will be described below based on an operation explanatory diagram using a plan view. Note that each operation described below is performed collectively by a mounting control device (not shown) included in the component mounting apparatus 101 while the respective operations are associated with each other.

まず、図7に示すように、部品実装装置101において、4枚の回路基板8が、搬送レール5または6により支持されながら、X軸方向図示右向きに搬送されて、第1基板保持位置A、第2基板保持位置B、第3基板保持位置C、および第4基板保持位置Dに位置されるとともに、当該搬送が停止されて、上記それぞれの位置にて解除可能に保持される。   First, as shown in FIG. 7, in the component mounting apparatus 101, the four circuit boards 8 are conveyed rightward in the X-axis direction while being supported by the conveyance rails 5 or 6, and the first board holding position A, While being positioned at the second substrate holding position B, the third substrate holding position C, and the fourth substrate holding position D, the conveyance is stopped and releasably held at the respective positions.

それとともに、複数のウェハ1が収容されているウェハマガジン10より1枚のウェハ1が選択されて取り出され、ウェハ認識位置Gに位置された状態の部品供給装置11の保持テーブル12に供給されて解除可能に保持される。その後、エキスパンド装置22によりウェハシート50の延伸動作が行なわれ、ウェハ1のエキスパンドが行なわれる。このエキスパンド動作が行なわれることで、ウェハシート50の下面には、突上げピン保持部41のシート当接面42が常時当接された状態とされる。なお、この状態においてはウェハシート50はそれぞれの吸着孔43にまだ吸着保持されていない状態である。   At the same time, one wafer 1 is selected and taken out from the wafer magazine 10 in which a plurality of wafers 1 are accommodated, and is supplied to the holding table 12 of the component supply apparatus 11 that is located at the wafer recognition position G. Hold releasably. Thereafter, the expanding device 22 performs the stretching operation of the wafer sheet 50, and the wafer 1 is expanded. By performing this expanding operation, the sheet contact surface 42 of the push-up pin holding portion 41 is always in contact with the lower surface of the wafer sheet 50. In this state, the wafer sheet 50 is not yet sucked and held in each suction hole 43.

その後、エキスパンドされた状態にあるウェハ1を構成するそれぞれの半導体チップ2の中より、例えば、第1基板保持位置Aに保持されている回路基板8に実装されるべき半導体チップ2が選択されて、この選択された半導体チップ2とウェハカメラ14との位置合わせが行なわれる。なお、この位置合わせは、ウェハカメラ14がY軸方向に沿って移動され、保持テーブル12がテーブル移動装置16によりX軸方向に沿って移動されることにより行なわれる。当該位置合わせの後、ウェハカメラ14による上記選択された半導体チップ2の画像が撮像される。当該撮像された画像は、実装制御装置にて認識されて、ウェハ1に対して当該半導体チップ2が本来位置されるべき位置と、実際に位置されている位置との位置ズレ量が算出される。この位置ズレ量のデータは、実装制御装置にて一時的にメモリ部等に記憶される。   After that, for example, the semiconductor chip 2 to be mounted on the circuit board 8 held at the first substrate holding position A is selected from among the respective semiconductor chips 2 constituting the expanded wafer 1. The selected semiconductor chip 2 and the wafer camera 14 are aligned. This alignment is performed by moving the wafer camera 14 along the Y-axis direction and moving the holding table 12 along the X-axis direction by the table moving device 16. After the alignment, an image of the selected semiconductor chip 2 is taken by the wafer camera 14. The captured image is recognized by the mounting control device, and the amount of positional deviation between the position where the semiconductor chip 2 should be originally positioned with respect to the wafer 1 and the position where the semiconductor chip 2 is actually positioned is calculated. . The positional deviation amount data is temporarily stored in the memory unit or the like by the mounting control device.

ウェハカメラ14によるそれぞれの半導体チップ2の画像の撮像が行なわれると、図8に示すように、テーブル移動装置16により保持テーブル12が図示X軸方向左向きに移動されて、第1部品供給位置Eに位置される。このとき、突上げピン保持部41のシート当接面42がウェハシート50に当接された状態で、突上げ装置40全体が突上げ装置移動装置20により、保持テーブル12と一体的に第1部品供給位置Eに移動される。その後、突上げ装置移動装置20により突上げ装置40の突上げピン45が、上記最初に選択された半導体チップ2の下方に位置するように移動されて、上記半導体チップ2と突上げピン45との位置合わせが行なわれる。なお、この位置合わせが行なわれるタイミングは、このような場合に代えて、図7に示すように、保持テーブル12がウェハ認識位置Gに位置されているとき、あるいは、保持テーブル12のウェハ認識位置Gから第1部品供給位置Eへの移動中に行なわれるような場合であってもよい。また、この保持テーブル12の移動は、シート当接面42がウェハシート50の下面に常時当接された状態で行なわれるため、当該移動により生じるウェハシート50の揺れや振動を低減させることができ、それぞれの半導体チップ2の配置ズレ等の発生を未然に防止することができる。   When the images of the respective semiconductor chips 2 are taken by the wafer camera 14, as shown in FIG. 8, the holding table 12 is moved leftward in the X-axis direction by the table moving device 16, and the first component supply position E is obtained. Located in. At this time, in a state where the sheet contact surface 42 of the push-up pin holding portion 41 is in contact with the wafer sheet 50, the entire push-up device 40 is integrated with the holding table 12 by the push-up device moving device 20. It is moved to the component supply position E. Thereafter, the push-up device moving device 20 moves the push-up pin 45 of the push-up device 40 so as to be positioned below the semiconductor chip 2 selected first, and the semiconductor chip 2 and the push-up pin 45 Are aligned. In addition, instead of such a case, the timing at which this alignment is performed is as shown in FIG. 7 when the holding table 12 is positioned at the wafer recognition position G or at the wafer recognition position of the holding table 12. It may be the case where it is performed during the movement from G to the first component supply position E. Further, since the movement of the holding table 12 is performed in a state where the sheet contact surface 42 is always in contact with the lower surface of the wafer sheet 50, the shaking and vibration of the wafer sheet 50 caused by the movement can be reduced. The occurrence of misalignment of the respective semiconductor chips 2 can be prevented in advance.

この移動とともに、第1ヘッド部4が、図示しない第1XYロボットにより、第1部品供給位置Eに位置された保持テーブル12の上方に移動される。その後、上記第1XYロボットにより、第1ヘッド部4が備える1本の吸着ノズル3と、上記最初に選択された半導体チップ2との位置合わせが行なわれる。また、この位置合わせの際には、実装制御装置の上記メモリ部等に記憶されている上記位置ズレ量データが読み出されて、当該データを考慮して上記位置ズレ量を補正した位置合わせが行なわれる。   Along with this movement, the first head unit 4 is moved above the holding table 12 positioned at the first component supply position E by a first XY robot (not shown). Thereafter, the first XY robot aligns the single suction nozzle 3 provided in the first head unit 4 with the first selected semiconductor chip 2. Further, at the time of this alignment, the positional deviation amount data stored in the memory unit or the like of the mounting control device is read and the positional deviation amount corrected by taking the data into account. Done.

その後、図6に示すように、それぞれの吸着孔43によりウェハシート50の吸着が行なわれて、ウェハシート50がシート当接面42に吸着保持される。当該吸着保持が行われた状態で、突上げピン昇降装置44により突上げピン45が、格納位置Jから突上げ位置Kにまで上昇されて、上記半導体チップ2の突上げが行なわれる。これにより、半導体チップ2がウェハシート50の上面から剥離されることとなる。   Thereafter, as shown in FIG. 6, the wafer sheet 50 is sucked by the respective suction holes 43, and the wafer sheet 50 is sucked and held on the sheet contact surface 42. In the state where the suction holding is performed, the push-up pin 45 is raised from the storage position J to the push-up position K by the push-up pin lifting device 44, and the semiconductor chip 2 is pushed up. As a result, the semiconductor chip 2 is peeled off from the upper surface of the wafer sheet 50.

この剥離動作と同期して、第1ヘッド部4の上記位置合わせが行われた吸着ノズル3の下降が開始され、上記剥離された状態の半導体チップ2の上面に吸着ノズル3の下端が当接される。当該当接とともに半導体チップ2が吸着ノズル3により吸着保持され、その後、吸着ノズル3が上昇されることにより、半導体チップ2がウェハ1より取り出される。   In synchronization with this peeling operation, the suction nozzle 3 that has been aligned with the first head portion 4 starts to descend, and the lower end of the suction nozzle 3 comes into contact with the upper surface of the semiconductor chip 2 that has been peeled off. Is done. The semiconductor chip 2 is sucked and held by the suction nozzle 3 together with the contact, and then the suction nozzle 3 is lifted, whereby the semiconductor chip 2 is taken out from the wafer 1.

上記最初の半導体チップ2の取り出しが行なわれると、次に、2番面の半導体チップ2と突上げピン45との位置合わせ、および別の吸着ノズル3との位置合わせが上記同様な手順にて行なわれる。さらに続けて、3番目の半導体チップ2とそれぞれとの位置合わせが上記同様な手順にて行なわれる。これにより、第1ヘッド部4が備える3本の吸着ノズル3のそれぞれにおいて半導体チップ2が吸着保持された状態とされる。   When the first semiconductor chip 2 is taken out, the alignment of the second semiconductor chip 2 and the push-up pin 45 and the alignment of another suction nozzle 3 are performed in the same procedure as described above. Done. Subsequently, the alignment of the third semiconductor chip 2 and each is performed in the same procedure as described above. As a result, the semiconductor chip 2 is sucked and held in each of the three suction nozzles 3 included in the first head unit 4.

その後、図9に示すように、それぞれの半導体チップ2を吸着保持した状態の第1ヘッド部4の第1基板保持位置Aに向けての移動が開始され、当該移動の過程において、それぞれの吸着ノズル3が第1部品認識カメラ7の上方を通過される。当該通過の際に、第1部品認識カメラ7によりそれぞれの半導体チップ2の吸着保持姿勢の画像の撮像が行なわれる。当該撮像された画像データは、実装制御装置に入力されてそれぞれの保持姿勢の画像の認識処理が行なわれる。   Thereafter, as shown in FIG. 9, the movement of the first head portion 4 in a state where the respective semiconductor chips 2 are sucked and held is started toward the first substrate holding position A. The nozzle 3 is passed over the first part recognition camera 7. During the passage, the first component recognition camera 7 takes an image of the suction holding posture of each semiconductor chip 2. The captured image data is input to the mounting control apparatus, and recognition processing of the images in the respective holding postures is performed.

一方、それぞれの半導体チップ2の取り出しが行われた保持テーブル12は、図9に示すように、テーブル移動装置16により図示X軸方向右向きに移動されてウェハ認識位置Gに位置される。なお、この移動の際には、突上げピン45が格納位置Jに位置された状態の突上げピン保持部41におけるシート当接面42がウェハシート50の下面に常時当接された状態で、突上げ装置40が突上げ装置移動装置20により、保持テーブル12と一体的に移動される。   On the other hand, the holding table 12 from which each semiconductor chip 2 has been taken out is moved rightward in the X-axis direction in the figure by the table moving device 16 and positioned at the wafer recognition position G, as shown in FIG. In this movement, the sheet abutting surface 42 of the thrust pin holding portion 41 in a state where the thrust pin 45 is located at the storage position J is always in contact with the lower surface of the wafer sheet 50. The push-up device 40 is moved integrally with the holding table 12 by the push-up device moving device 20.

当該移動の後、ウェハ1の中より、例えば、第2基板保持位置Bに保持されている回路基板8に実装されるべき半導体チップ2が選択されて、この選択された半導体チップ2とウェハカメラ14との位置合わせが行なわれる。その後、ウェハカメラ14により当該半導体チップ2の画像が撮像されて、実装制御装置にて、撮像された画像に基づいて上記位置ズレ量の算出が行なわれる。上記画像の撮像の後、さらに別のそれぞれの半導体チップ2が順次選択されて、上記同様な動作が繰り返し行われて、それぞれの半導体チップ2の位置ズレ量の算出が行なわれる。   After the movement, for example, the semiconductor chip 2 to be mounted on the circuit board 8 held at the second substrate holding position B is selected from the wafer 1, and the selected semiconductor chip 2 and wafer camera are selected. 14 is aligned. Thereafter, an image of the semiconductor chip 2 is picked up by the wafer camera 14, and the position shift amount is calculated based on the picked-up image by the mounting control device. After the image is picked up, each of the other semiconductor chips 2 is sequentially selected, and the same operation is repeated to calculate the amount of misalignment of each semiconductor chip 2.

その後、図10に示すように、第1基板保持位置Aにて保持されている回路基板8の上方に第1ヘッド部4が移動されて、それぞれの吸着ノズル3により吸着保持されているそれぞれの半導体チップ2の回路基板8への実装動作が順次開始される。なお、この実装動作は、実装制御装置にて行われた上記吸着保持姿勢の認識処理の結果が考慮されて行なわれる。   Thereafter, as shown in FIG. 10, the first head unit 4 is moved above the circuit board 8 held at the first board holding position A, and each of the suction heads 3 held by suction. The mounting operation of the semiconductor chip 2 on the circuit board 8 is sequentially started. This mounting operation is performed in consideration of the result of the recognition process of the suction holding posture performed by the mounting control device.

一方、ウェハカメラ14によるそれぞれの半導体チップ2の画像の撮像が行なわれると、図10に示すように、テーブル移動装置16により保持テーブル12が図示X軸方向右向きに移動されて、第2部品供給位置Fに位置される。なお、このとき、突上げピン保持部41のシート当接面42がウェハシート50に当接された状態で、突上げ装置40全体が突上げ装置移動装置20により、保持テーブル12と一体的に第2部品供給位置Fに移動される。その後、突上げ装置移動装置20により突上げ装置40の突上げピン45が、上記最初に選択された半導体チップ2の下方に位置するように移動されて、上記半導体チップ2と突上げピン45との位置合わせが行なわれる。   On the other hand, when an image of each semiconductor chip 2 is picked up by the wafer camera 14, the holding table 12 is moved rightward in the X-axis direction in the figure by the table moving device 16 as shown in FIG. Positioned at position F. At this time, the entire push-up device 40 is integrated with the holding table 12 by the push-up device moving device 20 in a state where the sheet contact surface 42 of the push-up pin holding portion 41 is in contact with the wafer sheet 50. It is moved to the second component supply position F. Thereafter, the push-up device moving device 20 moves the push-up pin 45 of the push-up device 40 so as to be positioned below the semiconductor chip 2 selected first, and the semiconductor chip 2 and the push-up pin 45 Are aligned.

この移動とともに、第2ヘッド部34が、図示しない第2XYロボットにより、第2部品供給位置Fに位置された保持テーブル12の上方に移動される。その後、上記第2XYロボットにより、第2ヘッド部34が備える1本の吸着ノズル33と、上記最初に選択された半導体チップ2との位置合わせが行なわれる。また、この位置合わせの際には、実装制御装置の上記メモリ部等に記憶されている上記位置ズレ量データが読み出されて、当該データを考慮して上記位置ズレ量を補正した位置合わせが行なわれる。   Along with this movement, the second head portion 34 is moved above the holding table 12 positioned at the second component supply position F by a second XY robot (not shown). Thereafter, the second XY robot aligns the single suction nozzle 33 provided in the second head unit 34 with the first selected semiconductor chip 2. Further, at the time of this alignment, the positional deviation amount data stored in the memory unit or the like of the mounting control device is read and the positional deviation amount corrected by taking the data into account. Done.

その後、図6に示すように、それぞれの吸着孔43によりウェハシート50の吸着が行なわれて、ウェハシート50がシート当接面42に吸着保持される。当該吸着保持が行われた状態で、突上げピン昇降装置44により突上げピン45が、格納位置Jから突上げ位置Kにまで上昇されて、上記半導体チップ2の突上げが行なわれる。これにより、半導体チップ2がウェハシート50の上面から剥離されることとなる。   Thereafter, as shown in FIG. 6, the wafer sheet 50 is sucked by the respective suction holes 43, and the wafer sheet 50 is sucked and held on the sheet contact surface 42. In the state where the suction holding is performed, the push-up pin 45 is raised from the storage position J to the push-up position K by the push-up pin lifting device 44, and the semiconductor chip 2 is pushed up. As a result, the semiconductor chip 2 is peeled off from the upper surface of the wafer sheet 50.

この剥離動作と同期して、第2ヘッド部34の上記位置合わせが行われた吸着ノズル33の下降が開始され、上記剥離された状態の半導体チップ2の上面に吸着ノズル33の下端が当接される。当該当接とともに半導体チップ2が吸着ノズル33により吸着保持され、その後、吸着ノズル33が上昇されることにより、半導体チップ2がウェハ1より取り出される。同様にして、2番目、3番目の半導体チップ2の吸着取り出しが、上記同様な手順にて順次行なわれる。これにより、第2ヘッド部34が備える3本の吸着ノズル33のそれぞれにおいて半導体チップ2が吸着保持された状態とされる。   In synchronism with this peeling operation, the suction nozzle 33 that has been aligned with the second head portion 34 starts to descend, and the lower end of the suction nozzle 33 comes into contact with the upper surface of the semiconductor chip 2 in the peeled state. Is done. The semiconductor chip 2 is sucked and held by the suction nozzle 33 along with the contact, and then the suction nozzle 33 is lifted, whereby the semiconductor chip 2 is taken out from the wafer 1. Similarly, the second and third semiconductor chips 2 are sequentially picked up and taken out in the same procedure as described above. As a result, the semiconductor chip 2 is sucked and held in each of the three suction nozzles 33 provided in the second head portion 34.

その後、図11に示すように、それぞれの半導体チップ2を吸着保持した状態の第2ヘッド部34の第2基板保持位置Bに向けての移動が開始され、当該移動の過程において、それぞれの吸着ノズル33が第2部品認識カメラ37の上方を通過される。当該通過の際に、第2部品認識カメラ37によりそれぞれの半導体チップ2の吸着保持姿勢の画像の撮像が行なわれる。当該撮像された画像データは、実装制御装置に入力されてそれぞれの保持姿勢の画像の認識処理が行なわれる。   Thereafter, as shown in FIG. 11, the movement of the second head portion 34 in a state of holding and holding each semiconductor chip 2 toward the second substrate holding position B is started. The nozzle 33 is passed over the second component recognition camera 37. During the passage, the second component recognition camera 37 takes an image of the suction holding posture of each semiconductor chip 2. The captured image data is input to the mounting control apparatus, and recognition processing of the images in the respective holding postures is performed.

その後、第2ヘッド部34が第2基板保持位置Bにて保持された回路基板8の上方に移動されて、それぞれの半導体チップ2の回路基板8への実装動作が行なわれる。   Thereafter, the second head portion 34 is moved above the circuit board 8 held at the second board holding position B, and the mounting operation of each semiconductor chip 2 on the circuit board 8 is performed.

なお、第2部品供給位置Fにて上記それぞれの半導体チップ2の吸着取出しが行われた後、保持テーブル12が再びウェハ認識位置Gを経由して第1基板供給位置Eに移動されて、上記実装動作を完了した第1ヘッド部4による新たな半導体チップ2の吸着取り出しを繰り返して行なうことができる。この場合、上記実装動作を完了した第1ヘッド部4が移動して第1部品供給位置Eに再び位置されるまでに、保持テーブル12が第1基板供給位置Eに位置されるように移動されることが好ましい。このような移動を行なうことで、第1ヘッド部4および保持テーブル12のそれぞれの動作ロスを無くして、効率的な部品供給を行なうことができるからである。   After the respective semiconductor chips 2 are sucked and taken out at the second component supply position F, the holding table 12 is moved again to the first substrate supply position E via the wafer recognition position G, and The new semiconductor chip 2 can be repeatedly picked up and taken out by the first head unit 4 which has completed the mounting operation. In this case, the holding table 12 is moved so as to be positioned at the first substrate supply position E until the first head unit 4 that has completed the mounting operation is moved and positioned again at the first component supply position E. It is preferable. This is because by performing such movement, the operation loss of each of the first head unit 4 and the holding table 12 can be eliminated and efficient component supply can be performed.

また、上記実装動作の説明においては、それぞれの半導体チップ2が、第1基板保持位置Aまたは第2基板保持位置Bにて保持された回路基板8に実装される場合について説明したが、第3基板保持位置Cおよび第4基板保持位置Dにて保持されたそれぞれの回路基板8にそれぞれの半導体チップ2を同様な手順にて実装することもできる。   In the description of the mounting operation, the case where each semiconductor chip 2 is mounted on the circuit board 8 held at the first substrate holding position A or the second substrate holding position B has been described. The respective semiconductor chips 2 can be mounted in the same procedure on the respective circuit boards 8 held at the substrate holding position C and the fourth substrate holding position D.

上述した部品実装装置101では、直径が8インチのウェハ1を想定して説明を行なったが、図12に示すように、部品実装装置101は、直径が8インチよりも大きいウェハ1、例えば、12インチのウェハ1から半導体チップ2を取り出しながら回路基板8に部品を実装することも可能である。ただし、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34のX軸方向への移動可能範囲には制限がある。すなわち、同図に示すウェハ1が、同図左側の実装ステージ109に移動した際には、第2ヘッド部34がウェハ1より半導体チップ2を吸着することができないのは当然であるが、第1ヘッド部4であっても半導体チップ2を吸着することができない領域が存在する。これは、第1ヘッド部4の移動可能範囲の制限によるものであり、そのような吸着不可領域91はウェハ1の右端にできてしまう。したがって、吸着不可領域91に存在する半導体チップ2を吸着するためには、ウェハ1を必ず同図右側の実装ステージ110に移動させ、第2ヘッド部34により吸着しなければならないことになる。   In the component mounting apparatus 101 described above, the description has been made assuming that the wafer 1 has a diameter of 8 inches. However, as shown in FIG. 12, the component mounting apparatus 101 has a wafer 1 having a diameter larger than 8 inches, for example, It is also possible to mount components on the circuit board 8 while taking out the semiconductor chip 2 from the 12-inch wafer 1. However, the movable range of the first head unit 4 and the second head unit 34 in the X-axis direction is limited. That is, when the wafer 1 shown in the figure moves to the mounting stage 109 on the left side of the figure, it is natural that the second head portion 34 cannot adsorb the semiconductor chip 2 from the wafer 1. Even in the case of one head portion 4, there is a region where the semiconductor chip 2 cannot be adsorbed. This is due to the limitation of the movable range of the first head unit 4, and such a non-adsorption area 91 is formed at the right end of the wafer 1. Therefore, in order to suck the semiconductor chip 2 existing in the non-suckable area 91, the wafer 1 must be moved to the mounting stage 110 on the right side of the drawing and sucked by the second head unit 34.

同様に、ウェハ1の左端には、ウェハ1が同図右側の実装ステージ110に移動した場合には、第1ヘッド部4はもちろんのこと第2ヘッド部34であっても半導体チップ2の吸着を行なうことができない領域である吸着不可領域92ができてしまう。したがって、吸着不可領域92に存在する半導体チップ2を吸着するためには、ウェハ1を必ず同図左側の実装ステージ109に移動させ、第1ヘッド部4により吸着しなければならないことになる。   Similarly, at the left end of the wafer 1, when the wafer 1 moves to the mounting stage 110 on the right side of the drawing, the semiconductor chip 2 is attracted not only for the first head portion 4 but also for the second head portion 34. Thus, a non-adsorption area 92, which is an area where the operation cannot be performed, is created. Therefore, in order to suck the semiconductor chip 2 present in the non-suckable area 92, the wafer 1 must be moved to the mounting stage 109 on the left side of the drawing and sucked by the first head unit 4.

このように、ウェハ1の大型化に伴い、一方のヘッド部によってしか半導体チップ2を取り出すことができない吸着不可領域が生じる。このため、半導体チップ2の吸着順序を適切に決定しなければ、回路基板8の生産効率の減少に繋がる。例えば、ウェハ1の吸着不可領域91に存在する半導体チップ2のみが最後に残った場合には、ウェハ1を右側の実装ステージ110に移動させ、第1ヘッド部4を休止させた状態で、第2ヘッド部34のみが半導体チップ2の実装動作を連続して行なうこととなる。このため、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34による協調動作が崩れてしまう。   Thus, with the increase in size of the wafer 1, a non-adsorptive region where the semiconductor chip 2 can be taken out only by one head portion is generated. For this reason, unless the adsorption sequence of the semiconductor chips 2 is appropriately determined, the production efficiency of the circuit board 8 is reduced. For example, when only the semiconductor chip 2 existing in the non-adsorptive region 91 of the wafer 1 remains at the end, the wafer 1 is moved to the right mounting stage 110 and the first head unit 4 is in a paused state. Only the two head portions 34 continuously perform the mounting operation of the semiconductor chip 2. For this reason, the cooperative operation by the first head unit 4 and the second head unit 34 is disrupted.

そこで、以下では、上述した部品実装装置101によるウェハ1からの半導体チップ2の吸着順序を決定する処理について説明する。   Therefore, in the following, a process for determining the adsorption order of the semiconductor chips 2 from the wafer 1 by the component mounting apparatus 101 will be described.

図13は、吸着順序決定装置の機能的構成を示すブロック図である。
吸着順序決定装置200は、部品実装装置101によるウェハ1からの半導体チップ2の吸着順序を決定する装置であり、吸着順序決定部201と、ウェハ情報記憶部202とを備えている。
FIG. 13 is a block diagram illustrating a functional configuration of the adsorption order determination device.
The suction order determination device 200 is a device that determines the suction order of the semiconductor chips 2 from the wafer 1 by the component mounting apparatus 101, and includes a suction order determination unit 201 and a wafer information storage unit 202.

ウェハ情報記憶部202は、ウェハ1内の半導体チップ2の配置や、ウェハ1の吸着不可領域91および92の位置に関する情報を記憶している記憶部である。   The wafer information storage unit 202 is a storage unit that stores information related to the arrangement of the semiconductor chips 2 in the wafer 1 and the positions of the non-adsorptive areas 91 and 92 of the wafer 1.

吸着順序決定部201は、ウェハ情報記憶部202に記憶されている情報に基づいて、ウェハ1に含まれる半導体チップ2の第1ヘッド部4および第2ヘッド部34による吸着順序を決定する処理部である。   The adsorption order determination unit 201 is a processing unit that determines the adsorption order of the first head unit 4 and the second head unit 34 of the semiconductor chip 2 included in the wafer 1 based on the information stored in the wafer information storage unit 202. It is.

吸着順序決定装置200の吸着順序決定部201は、コンピュータ(図示せず)上で実行されるプログラムとして実現され、ウェハ情報記憶部202は、コンピュータのメインメモリまたはハードディスクとして実現される。なお、吸着順序決定装置200の機能が上述した部品実装装置101に備わっていても良い。   The suction order determination unit 201 of the suction order determination device 200 is realized as a program executed on a computer (not shown), and the wafer information storage unit 202 is realized as a main memory or a hard disk of the computer. Note that the component mounting apparatus 101 described above may have the function of the suction order determination apparatus 200.

図14は、吸着順序決定部201の実行する処理のフローチャートである。
吸着順序決定部201は、左側の実装ステージ109に設けられた第1ヘッド部4による半導体チップ2の吸着順序を決定する(S2)。図15は、ウェハ1内の半導体チップ2の吸着順序を説明するための図である。すなわち、吸着順序決定部201は、第1ヘッド部4がウェハ1の左端から中央に向かって半導体チップ2を吸着するように、第1ヘッド部4による半導体チップ2の吸着順序を決定する。矢印92aは、第1ヘッド部4による吸着順序を示している。
FIG. 14 is a flowchart of processing executed by the adsorption order determination unit 201.
The suction order determination unit 201 determines the suction order of the semiconductor chips 2 by the first head unit 4 provided on the left mounting stage 109 (S2). FIG. 15 is a diagram for explaining an adsorption order of the semiconductor chips 2 in the wafer 1. That is, the suction order determination unit 201 determines the suction order of the semiconductor chips 2 by the first head part 4 so that the first head part 4 sucks the semiconductor chips 2 from the left end of the wafer 1 toward the center. An arrow 92 a indicates the suction order by the first head unit 4.

次に、吸着順序決定部201は、右側の実装ステージ110に設けられた第2ヘッド部34による半導体チップ2の吸着順序を決定する(S4)。すなわち、図15に示すように、吸着順序決定部201は、第2ヘッド部34が半導体チップ2の右端から中央に向かって半導体チップ2を吸着するように、第2ヘッド部34による半導体チップ2の吸着順序を決定する。矢印91aは、第2ヘッド部34による吸着順序を示している。   Next, the suction order determination unit 201 determines the suction order of the semiconductor chips 2 by the second head unit 34 provided on the right mounting stage 110 (S4). That is, as shown in FIG. 15, the suction order determining unit 201 is configured to use the semiconductor chip 2 by the second head unit 34 so that the second head unit 34 sucks the semiconductor chip 2 from the right end toward the center of the semiconductor chip 2. The order of adsorption is determined. An arrow 91a indicates the order of adsorption by the second head unit 34.

このように、第1ヘッド部4は、第2ヘッド部34の吸着不可領域92に存在する半導体チップ2を先に吸着し、第2ヘッド部34は、第1ヘッド部4の吸着不可領域91に存在する半導体チップ2を先に吸着するように、吸着順序を決定する。   As described above, the first head unit 4 first sucks the semiconductor chip 2 existing in the non-suckable area 92 of the second head part 34, and the second head part 34 holds the non-suckable area 91 of the first head part 4. The adsorption order is determined so that the semiconductor chip 2 existing in the first is adsorbed first.

なお、吸着順序決定処理(S2およびS4)の実行順序は、S2の処理の実行後にS4の処理を実行するようにしているが、S4の処理の実行後にS2の処理を実行するようにしてもよい。または、S2の処理とS4の処理とを並行して実行するようにしてもよい。すなわち、第1ヘッド部4による吸着順序と第2ヘッド部34により吸着順序とをそれぞれ決定することができれば、処理の実行順序には制限はない。   The execution order of the adsorption order determination process (S2 and S4) is such that the process of S4 is executed after the process of S2, but the process of S2 is executed after the execution of the process of S4. Good. Or you may make it perform the process of S2 and the process of S4 in parallel. That is, if the suction order by the first head unit 4 and the suction order by the second head unit 34 can be respectively determined, the execution order of the processing is not limited.

図16は、決定された吸着順序に従い、ウェハ1上の半導体チップ2を吸着する過程を示す図である。同図中斜線部分は半導体チップ2が残存している領域を示しており、白色部分は半導体チップ2が存在しない領域を示している。図16(a)に示す初期状態から上述の吸着順序に従い順次半導体チップ2を吸着していくと、図16(b)に示すように、ウェハ1の左端および右端、すなわち吸着不可領域92および吸着不可領域91から順に半導体チップ2が吸着されていく。その後、半導体チップ2の吸着を進めていくにつれ、図16(c)に示すように、ウェハ1の中央部付近にのみ半導体チップ2が残存する。最終的には、図16(d)に示すように、ウェハ1上のすべての半導体チップ2が吸着されることになる。   FIG. 16 is a diagram illustrating a process of sucking the semiconductor chips 2 on the wafer 1 in accordance with the determined suction order. In the figure, the hatched portion indicates a region where the semiconductor chip 2 remains, and the white portion indicates a region where the semiconductor chip 2 does not exist. When the semiconductor chips 2 are sequentially sucked from the initial state shown in FIG. 16A according to the above-mentioned suction order, as shown in FIG. 16B, the left end and the right end of the wafer 1, that is, the non-suckable area 92 and the suction. The semiconductor chips 2 are adsorbed in order from the impossible area 91. Thereafter, as the semiconductor chip 2 is attracted, the semiconductor chip 2 remains only near the center of the wafer 1 as shown in FIG. Eventually, as shown in FIG. 16D, all the semiconductor chips 2 on the wafer 1 are attracted.

第1ヘッド部4および第2ヘッド部34は、各々3本の吸着ノズル33を有している。このため、各ヘッド部の1回の吸着動作で半導体チップ2が3個ずつ減っていくこととなる。すなわち、図16(b)および図16(c)に示した半導体チップ2の吸着済みの領域はほぼ左右対称となる。   Each of the first head unit 4 and the second head unit 34 has three suction nozzles 33. For this reason, three semiconductor chips 2 are reduced by one suction operation of each head part. That is, the adsorbed region of the semiconductor chip 2 shown in FIGS. 16B and 16C is almost symmetrical.

この吸着方法によると、半導体チップ2の吸着動作の早い段階で、吸着不可領域92および吸着不可領域91に存在する半導体チップ2を吸着してしまうため、吸着動作の終盤では、いずれのヘッド部を用いても部品を吸着できる領域のみが残る(図16(c))。このため、1枚のウェハ1分の半導体チップ2に対して最初から最後まで、第1ヘッド部4による吸着動作と第2ヘッド部34による吸着動作とを交互に行なうことができ、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34を協調動作させることができる。このため、一方のヘッド部を休止させた状態で他方のヘッド部のみを使用して、回路基板8への半導体チップ2の実装が行なわれることがなくなり、2つのヘッド部が協調動作を行ないながら半導体チップ2を実装することができる。このため、回路基板8の生産効率を向上させることができる。   According to this suction method, the semiconductor chip 2 existing in the non-adsorption area 92 and the non-adsorption area 91 is adsorbed at an early stage of the adsorption operation of the semiconductor chip 2. Even if it is used, only the region where the component can be picked up remains (FIG. 16C). Therefore, the suction operation by the first head unit 4 and the suction operation by the second head unit 34 can be alternately performed from the beginning to the end with respect to the semiconductor chip 2 for one wafer. The unit 4 and the second head unit 34 can be operated cooperatively. For this reason, the semiconductor chip 2 is not mounted on the circuit board 8 using only the other head portion in a state where one head portion is stopped, and the two head portions perform a cooperative operation. The semiconductor chip 2 can be mounted. For this reason, the production efficiency of the circuit board 8 can be improved.

実施の形態1によると、図16に示すように、すべての半導体チップが残存している新規のウェハ1から、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34が半導体チップを吸着し始めることを前提としている。   According to the first embodiment, as shown in FIG. 16, it is assumed that the first head unit 4 and the second head unit 34 start to adsorb semiconductor chips from a new wafer 1 in which all semiconductor chips remain. It is said.

しかし、実際には、必ず新規のウェハ1から第1ヘッド部4および第2ヘッド部34が半導体チップを吸着し始めるとは限らない。例えば、図17に示すように、一部の領域1Aの半導体チップが既に使用されて残存していない状態のウェハ1から、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34が半導体チップを吸着し始める場合がある。このような場合には、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34は、半導体チップが残存している領域1Bから半導体チップを取り出すことになる。このような仕掛かり状態のウェハ1から半導体チップの吸着を開始する場合であっても、実施の形態1に示した吸着順序に従って半導体チップの吸着を行なうことにより、半導体チップの吸着動作の早い段階で、吸着不可領域91および92に存在する半導体チップ2を吸着することができる。すなわち、第1ヘッド部4は、ウェハ1の左端から中央に向かって矢印92aの方向に半導体チップ2を順次吸着していき、第2ヘッド部34は、ウェハ1の右端から中央に向かって矢印91aの方向に半導体チップを順次吸着していく。   However, in practice, the first head unit 4 and the second head unit 34 do not always begin to suck the semiconductor chips from the new wafer 1. For example, as shown in FIG. 17, the first head portion 4 and the second head portion 34 start to suck the semiconductor chips from the wafer 1 in a state where the semiconductor chips in some regions 1 </ b> A have already been used and do not remain. There is a case. In such a case, the first head unit 4 and the second head unit 34 take out the semiconductor chip from the region 1B where the semiconductor chip remains. Even when the semiconductor chip suction is started from the wafer 1 in such an in-process state, by performing the semiconductor chip suction according to the suction order shown in the first embodiment, an early stage of the semiconductor chip suction operation is performed. Thus, the semiconductor chip 2 existing in the non-adsorptive regions 91 and 92 can be adsorbed. That is, the first head unit 4 sequentially sucks the semiconductor chips 2 in the direction of the arrow 92a from the left end of the wafer 1 toward the center, and the second head unit 34 has the arrow from the right end of the wafer 1 toward the center. The semiconductor chips are sequentially sucked in the direction of 91a.

図18は、決定された吸着順序に従い、ウェハ1上の半導体チップ2を吸着する過程を示す図である。同図中斜線部分は半導体チップ2が残存している領域1Bを示しており、白色部分は半導体チップ2が存在しない領域1Aを示している。ここでは、領域1Aがウェハ1の左側に存在するものとする。図18(a)に示す初期状態から上述の吸着順序に従い順次半導体チップ2を吸着していくと、図18(b)に示すように、領域1Bの左端および右端から順に半導体チップ2が吸着されていく。その後、半導体チップ2の吸着を進めていくにつれ、図18(c)に示すように、領域1Bの中央部付近にのみ半導体チップ2が残存する。最終的には、図18(d)に示すように、ウェハ1上のすべての半導体チップ2が吸着されることになる。   FIG. 18 is a diagram illustrating a process of sucking the semiconductor chips 2 on the wafer 1 in accordance with the determined suction order. In the figure, the hatched portion indicates the region 1B where the semiconductor chip 2 remains, and the white portion indicates the region 1A where the semiconductor chip 2 does not exist. Here, it is assumed that the region 1A exists on the left side of the wafer 1. When the semiconductor chips 2 are sequentially sucked from the initial state shown in FIG. 18A according to the above-mentioned suction order, the semiconductor chips 2 are sucked in order from the left end and the right end of the region 1B as shown in FIG. 18B. To go. Thereafter, as the semiconductor chip 2 is attracted, the semiconductor chip 2 remains only near the center of the region 1B, as shown in FIG. Eventually, all the semiconductor chips 2 on the wafer 1 are attracted as shown in FIG.

(実施の形態2)
以下、本発明の実施の形態2について説明する。実施の形態2に係る部品実装装置101および吸着順序決定装置200の構成は、実施の形態1に示したものと同様である。実施の形態2では、吸着順序決定装置200の吸着順序決定部201の処理が異なる。以下、異なる点を中心に説明を行なう。
(Embodiment 2)
The second embodiment of the present invention will be described below. The configurations of the component mounting apparatus 101 and the suction order determining apparatus 200 according to the second embodiment are the same as those shown in the first embodiment. In the second embodiment, the processing of the suction order determination unit 201 of the suction order determination device 200 is different. Hereinafter, the description will focus on the different points.

図19に示すように、Y軸と平行なウェハ1の中心線93を境界として、吸着順序決定部201は、第1ヘッド部4が中心線93から左端に向かって半導体チップ2を吸着するように第1ヘッド部4による半導体チップ2の吸着順序を決定する(図14のS2)。矢印92bは、第1ヘッド部4による吸着順序を示している。   As illustrated in FIG. 19, with the center line 93 of the wafer 1 parallel to the Y axis as a boundary, the suction order determination unit 201 causes the first head unit 4 to suck the semiconductor chip 2 toward the left end from the center line 93. Next, the adsorption order of the semiconductor chips 2 by the first head unit 4 is determined (S2 in FIG. 14). An arrow 92 b indicates the suction order by the first head unit 4.

また、吸着順序決定部201は、第2ヘッド部34が中心線93から右側に向かって半導体チップ2を吸着するように第2ヘッド部34による半導体チップ2の吸着順序を決定する(図14のS4)。矢印91bは、第2ヘッド部34による吸着順序を示している。   Further, the adsorption order determination unit 201 determines the adsorption order of the semiconductor chips 2 by the second head unit 34 so that the second head unit 34 adsorbs the semiconductor chips 2 from the center line 93 toward the right side (FIG. 14). S4). An arrow 91b indicates the order of suction by the second head unit 34.

図20は、決定された吸着順序に従い、ウェハ1上の半導体チップ2を吸着する過程を示す図である。同図中斜線部分は半導体チップ2が残存している領域を示しており、白色部分は半導体チップ2が存在しない領域を示している。図20(a)に示す初期状態から上述の吸着順序に従い順次半導体チップ2を吸着していくと、図20(b)および図20(c)に示すように、ウェハ1の中心線93からほぼ左右均等に半導体チップ2が吸着されていき、最終的に図20(d)に示すように、第1ヘッド部4による吸着動作と第2ヘッド部34による吸着動作とが、ほぼ同時タイミングで終わる。すなわち、ヘッド部による半導体チップ2の吸着、移動および装着という一連の動作の繰り返しにおける1回分の一連動作によって実装される少なくとも1つの部品をタスクとした場合に、タスク数が第1ヘッド部4と第2ヘッド部34とで等しくなり、第1ヘッド部4または第2ヘッド部34が2回連続して半導体チップ2を吸着することがなくなる。   FIG. 20 is a diagram illustrating a process of sucking the semiconductor chips 2 on the wafer 1 in accordance with the determined suction order. In the figure, the hatched portion indicates a region where the semiconductor chip 2 remains, and the white portion indicates a region where the semiconductor chip 2 does not exist. When the semiconductor chips 2 are sequentially suctioned from the initial state shown in FIG. 20A according to the suction order described above, as shown in FIG. 20B and FIG. The semiconductor chips 2 are sucked evenly on the left and right, and finally, the sucking operation by the first head unit 4 and the sucking operation by the second head unit 34 end at almost the same timing as shown in FIG. . That is, when the task is at least one component that is mounted by a series of operations in a series of operations of adsorption, movement, and mounting of the semiconductor chip 2 by the head unit, the number of tasks is the same as that of the first head unit 4. It becomes equal to the 2nd head part 34, and the 1st head part 4 or the 2nd head part 34 does not adsorb | suck the semiconductor chip 2 twice continuously.

したがって、一方のヘッド部を休止させた状態で他方のヘッド部のみを使用して、回路基板8への半導体チップ2の実装が行なわれることがなくなる。このため、回路基板8の生産効率を向上させることができる。   Therefore, the semiconductor chip 2 is not mounted on the circuit board 8 by using only the other head portion in a state where one head portion is stopped. For this reason, the production efficiency of the circuit board 8 can be improved.

なお、この吸着順は、実装ステージ119および120の双方に回路基板8が存在するという前提の下に成り立つ。例えば、生産開始時に、1枚目の回路基板8が搬送されてきて、当該回路基板8が実装ステージ109のみに位置決めされ、実装ステージ110には回路基板8が存在しないような場合には、この吸着順を適用することができない。なぜならば、このような場合には、実装ステージ110の第2ヘッド部34は休止した状態にあり、左右均等に部品を吸着することができず、部品が左右均等に残存しない。このため、最後に吸着不可領域91の半導体チップ2が残ることとなるからである。   This suction order is established on the assumption that the circuit board 8 exists on both the mounting stages 119 and 120. For example, when the first circuit board 8 is conveyed at the start of production, the circuit board 8 is positioned only on the mounting stage 109, and the circuit board 8 does not exist on the mounting stage 110, The adsorption order cannot be applied. This is because in such a case, the second head portion 34 of the mounting stage 110 is in a resting state, and the components cannot be sucked evenly on the left and right, and the components do not remain evenly on the left and right. For this reason, the semiconductor chip 2 in the non-adsorptive region 91 will remain at the end.

さらに、この吸着順は、新品のウェハ1または半導体チップ2の残数状態が左右対称であるウェハ1に対して、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34が半導体チップ2を吸着し始めるという前提も必要とされる。例えば、図17に示したような左側の領域1Aの半導体チップが既に使用されて残存していない状態のウェハ1の場合には、ウェハ1の左半分よりも右半分に多くの半導体チップ2が残存している。このため、実施の形態2に示した吸着順を適用した場合には、最後に吸着不可領域91の半導体チップ2が残ることになる。よって、最後の方では、第1ヘッド部4が停止し、第2ヘッド部34でしか半導体チップ2を吸着することができない状態となるからである。   Further, this suction order is such that the first head portion 4 and the second head portion 34 start sucking the semiconductor chips 2 to the wafer 1 in which the remaining number of new wafers 1 or semiconductor chips 2 is symmetrical. Premises are also needed. For example, in the case of the wafer 1 in which the semiconductor chip in the left region 1A as shown in FIG. 17 has already been used and does not remain, there are more semiconductor chips 2 in the right half than the left half of the wafer 1. Remains. For this reason, when the suction order shown in the second embodiment is applied, the semiconductor chip 2 in the non-suckable area 91 remains at the end. Therefore, in the last direction, the first head unit 4 is stopped and the semiconductor chip 2 can be adsorbed only by the second head unit 34.

(実施の形態3)
以下、本発明の実施の形態3について説明する。実施の形態3では、残りの半導体チップの数がウェハの左右で均等になっているか否かを監視しながら、半導体チップの吸着順を決定する点が、上述の実施の形態と異なる。実施の形態3に係る部品実装装置101の構成は、実施の形態1に示したものと同様である。実施の形態3では、吸着順序決定装置200の構成が、実施の形態1および2とは異なる。以下、異なる点を中心に説明を行なう。
(Embodiment 3)
The third embodiment of the present invention will be described below. The third embodiment is different from the above-described embodiment in that the semiconductor chip suction order is determined while monitoring whether the number of remaining semiconductor chips is equal on the left and right sides of the wafer. The configuration of the component mounting apparatus 101 according to the third embodiment is the same as that shown in the first embodiment. In the third embodiment, the configuration of the adsorption order determining apparatus 200 is different from those in the first and second embodiments. Hereinafter, the description will focus on the different points.

図21は、吸着順序決定装置の機能的構成を示すブロック図である。
吸着順序決定装置300は、部品実装装置101によるウェハ1からの半導体チップ2の吸着順序を決定する装置であり、吸着順序決定部301と、ウェハ情報記憶部302と、残部品判断部303とを備えている。
FIG. 21 is a block diagram illustrating a functional configuration of the adsorption order determination device.
The suction order determination device 300 is a device that determines the suction order of the semiconductor chips 2 from the wafer 1 by the component mounting device 101. The suction order determination unit 301, the wafer information storage unit 302, and the remaining component determination unit 303 I have.

ウェハ情報記憶部302は、ウェハ1内の残りの半導体チップ2の配置や、ウェハ1の吸着不可領域91および92の位置に関する情報を記憶している記憶部である。   The wafer information storage unit 302 is a storage unit that stores information regarding the arrangement of the remaining semiconductor chips 2 in the wafer 1 and the positions of the non-adsorptive areas 91 and 92 of the wafer 1.

残部品判断部303は、ウェハ情報記憶部302に記憶されている情報に基づいて、残りの半導体チップ2の状態を判断する処理部である。   The remaining part determination unit 303 is a processing unit that determines the state of the remaining semiconductor chips 2 based on information stored in the wafer information storage unit 302.

吸着順序決定部301は、ウェハ情報記憶部302に記憶されている情報および残部品判断部303での判断結果に基づいて、半導体チップ2の吸着順序を決定する処理部である。   The suction order determination unit 301 is a processing unit that determines the suction order of the semiconductor chips 2 based on the information stored in the wafer information storage unit 302 and the determination result in the remaining part determination unit 303.

図22は、部品順序決定装置300の実行する処理のフローチャートである。
残部品判断部303は、ウェハ情報記憶部302から、ウェハ1上に残っている半導体チップ2の配置情報を取得する(S12)。
FIG. 22 is a flowchart of processing executed by the component order determination device 300.
The remaining part determination unit 303 acquires the arrangement information of the semiconductor chips 2 remaining on the wafer 1 from the wafer information storage unit 302 (S12).

残部品判断部303は、取得した配置情報に基づいて、ウェハ1上に残っている半導体チップ2の個数がウェハ1の左側と右側とで均等であるか否かを判断する(S14)。すなわち、図23に示すように、未使用のウェハ1を考えた場合に、左側に存在する半導体チップ2の個数と右側に存在する半導体チップ2の個数とが等しくなるような中心線93を考える。残部品判断部303は、中心線93よりも左側の領域1Lに残っている半導体チップ2の個数と、中心線93よりも右側の領域1Rに残っている半導体チップ2の個数とを比較し、両者の差が3つ以内である場合には、半導体チップ2の個数がウェハ1の左側と右側とで均等であると判断する。残部品判断部303は、両者の差が4つ以上ある場合には、半導体チップ2の個数がウェハ1の左側と右側とで均等ではないと判断する。第1ヘッド部4または第2ヘッド部34が同時に吸着可能な半導体チップ2の個数は3個である。このため、両者の差が4つ以上ある場合には、最後に、いずれか一方のヘッド部が2回以上連続して半導体チップ2を吸着することになるため、均等ではないと判断する。   The remaining part determination unit 303 determines whether the number of semiconductor chips 2 remaining on the wafer 1 is equal between the left side and the right side of the wafer 1 based on the acquired arrangement information (S14). That is, as shown in FIG. 23, when an unused wafer 1 is considered, a center line 93 is considered such that the number of semiconductor chips 2 present on the left side is equal to the number of semiconductor chips 2 present on the right side. . The remaining part determination unit 303 compares the number of semiconductor chips 2 remaining in the region 1L on the left side of the center line 93 with the number of semiconductor chips 2 remaining in the region 1R on the right side of the center line 93, When the difference between the two is within three, it is determined that the number of the semiconductor chips 2 is equal between the left side and the right side of the wafer 1. The remaining part determination unit 303 determines that the number of the semiconductor chips 2 is not equal between the left side and the right side of the wafer 1 when the difference between the two is four or more. The number of semiconductor chips 2 that can be simultaneously attracted by the first head portion 4 or the second head portion 34 is three. For this reason, when there are four or more differences between the two, finally, one of the head portions continuously adsorbs the semiconductor chip 2 two or more times, so that it is determined that they are not equal.

半導体チップ2の個数がウェハ1の左側と右側とで均等な場合には(S14でYES)、吸着順序決定部301は、実施の形態2で説明したのと同じ吸着順に従って、第1ヘッド部4または第2ヘッド部34が次に吸着する部品を決定する(S16)。すなわち、ウェハ1の中心線93から左端または右端に向かって部品を吸着していくことになる。第1ヘッド部4または第2ヘッド部34は、吸着順序決定部301が決定した部品を吸着する。   When the number of the semiconductor chips 2 is equal between the left side and the right side of the wafer 1 (YES in S14), the suction order determining unit 301 follows the same suction order as described in the second embodiment, and the first head unit 4 or the second head part 34 determines the next component to be attracted (S16). That is, the components are sucked from the center line 93 of the wafer 1 toward the left end or the right end. The first head unit 4 or the second head unit 34 sucks the components determined by the suction order determination unit 301.

半導体チップ2の個数がウェハ1の左側と右側とで均等でない場合には(S14でNO)、残部品判断部303は、吸着不可領域以外に残りの部品があるか否かを判断する(S20)。吸着不可領域91または92に残りの部品がある場合には(S20でYES)、吸着順序決定部301は、図23に示す中心線93の左側の領域1Lと右側の領域1Rとで、半導体チップ2の個数の差が3個以内に納まるように、次に吸着する部品を決定する(S22)。例えば、図23に示すように、左側の領域1Lの残りの半導体チップ2の個数が右側の領域1Rの半導体チップ2の残りの個数よりも4個多く、次に部品を吸着するのが第2ヘッド部34であるものとする。この場合には、半導体チップ2の個数がウェハ1の左側と右側とで均等にするために、吸着順序決定部301は、第2ヘッド部34が次に吸着する部品を左側の領域1Lから選択し、決定する。第2ヘッド部34は、この決定に従って、左側の領域1Lから部品を吸着する。   If the number of the semiconductor chips 2 is not equal between the left side and the right side of the wafer 1 (NO in S14), the remaining part determination unit 303 determines whether there are remaining parts other than the non-suckable area (S20). ). If there is a remaining part in the non-suckable area 91 or 92 (YES in S20), the suction order determining unit 301 uses the semiconductor chip in the left area 1L and the right area 1R of the center line 93 shown in FIG. Next, the component to be picked up is determined so that the difference in the number of 2 is within 3 (S22). For example, as shown in FIG. 23, the number of remaining semiconductor chips 2 in the left region 1L is four more than the remaining number of semiconductor chips 2 in the right region 1R. It is assumed that the head portion 34 is used. In this case, in order to make the number of the semiconductor chips 2 uniform between the left side and the right side of the wafer 1, the suction order determining unit 301 selects the component to be next sucked by the second head unit 34 from the left region 1L. And decide. In accordance with this determination, the second head unit 34 sucks components from the left region 1L.

吸着不可領域にしか残りの部品がない場合には(S20でNO)、当該部品を吸着可能なヘッド部は決定されている。このため、吸着順序決定部301は、S16の処理を実行し、第1ヘッド部4または第2ヘッド部34は、S16の処理で決定された部品を吸着不可領域より吸着する。   When there are remaining parts only in the non-suckable area (NO in S20), the head part that can suck the parts is determined. For this reason, the suction order determination unit 301 executes the process of S16, and the first head unit 4 or the second head unit 34 sucks the component determined in the process of S16 from the non-suckable area.

第1ヘッド部4または第2ヘッド部34による吸着動作が終わった後に、吸着順序決定部301は、現在仕掛かり中のウェハ1から、すべての部品を吸着し終えたか否かを判断する(S18)。   After the suction operation by the first head unit 4 or the second head unit 34 is finished, the suction order determination unit 301 determines whether or not all the parts have been sucked from the wafer 1 currently in progress (S18). ).

すべての部品を吸着し終えた場合には(S18でYES)、当該ウェハ1に対する処理を終了する。   When all the components have been sucked (YES in S18), the processing for the wafer 1 is finished.

すべての部品を吸着し終えていない場合には(S18でNO)、吸着順序決定部301および残部品判断部303は、すべての部品を吸着し終えるまでS12以降の処理を繰り返す。   If all the parts have not been picked up (NO in S18), the picking order determination unit 301 and the remaining part determination unit 303 repeat the processing from S12 onward until all the parts have been picked up.

なお、図17に示したような仕掛かり状態のウェハ1から半導体チップ2を吸着していく場合を考える。図24は、決定された部品吸着順序に従い、ウェハ1上の半導体チップ2を吸着する過程を示す図である。同図中斜線部分は半導体チップ2が残存している領域1Bを示しており、白色部分は半導体チップ2が存在しない領域1Aを示している。ここでは、領域1Aがウェハ1の左側に存在するものとする。   A case will be considered in which the semiconductor chip 2 is sucked from the in-process wafer 1 as shown in FIG. FIG. 24 is a diagram illustrating a process of sucking the semiconductor chip 2 on the wafer 1 in accordance with the determined part suction order. In the figure, the hatched portion indicates the region 1B where the semiconductor chip 2 remains, and the white portion indicates the region 1A where the semiconductor chip 2 does not exist. Here, it is assumed that the region 1A exists on the left side of the wafer 1.

図24(a)に示すように、初期状態では中心線93に対して、右側の領域の方が半導体チップ2の数が多い。このため、吸着順序決定部301は、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34共に、右側の領域より部品を吸着していくような部品吸着順を決定する。図24(b)は、そのような吸着順により部品の吸着を行ない、中心線93の左右の領域で半導体チップ2の数が均等になった状態を示している。すなわち、中心線93の左側は初期状態のままであるが、中心線93の右側では、中心線93付近の領域1Dの半導体チップ2が吸着済みの状態になっている。その後、図24(c)に示すように、左右の半導体チップ2が均等となる状態を保ったまま、半導体チップ2の残数が減って行き、最終的には、図24(d)に示すように、ウェハ1上のすべての半導体チップ2が吸着されることになる。   As shown in FIG. 24A, in the initial state, the number of semiconductor chips 2 is larger in the region on the right side of the center line 93. Therefore, the suction order determination unit 301 determines the part suction order in which the first head part 4 and the second head part 34 suck parts from the right region. FIG. 24B shows a state in which parts are sucked in such a picking order, and the number of semiconductor chips 2 is equalized in the left and right regions of the center line 93. That is, the left side of the center line 93 remains in the initial state, but on the right side of the center line 93, the semiconductor chip 2 in the region 1D near the center line 93 is already sucked. Thereafter, as shown in FIG. 24C, the remaining number of the semiconductor chips 2 decreases while maintaining the state where the left and right semiconductor chips 2 are uniform, and finally, as shown in FIG. Thus, all the semiconductor chips 2 on the wafer 1 are attracted.

以上説明したように、実施の形態3によれば、残りの半導体チップの数がウェハの左右で均等になっているか否かを監視しながら、半導体チップの吸着順が決定され、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34による部品の吸着が行なわれる。このため、1枚のウェハ1分の半導体チップ2に対して最初から最後まで、第1ヘッド部4による吸着動作と第2ヘッド部34による吸着動作とを交互に行なうことができ、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34を協調動作させることができる。このため、一方のヘッド部を休止させた状態で他方のヘッド部のみを使用して、回路基板8への半導体チップ2の実装が行なわれることがなくなり、2つのヘッド部が協調動作を行ないながら半導体チップ2を実装することができる。このため、回路基板8の生産効率を向上させることができる。   As described above, according to the third embodiment, the suction order of the semiconductor chips is determined while monitoring whether the number of remaining semiconductor chips is equal on the left and right of the wafer, and the first head unit The parts are sucked by the fourth and second head portions 34. Therefore, the suction operation by the first head unit 4 and the suction operation by the second head unit 34 can be alternately performed from the beginning to the end with respect to the semiconductor chip 2 for one wafer. The unit 4 and the second head unit 34 can be operated cooperatively. For this reason, the semiconductor chip 2 is not mounted on the circuit board 8 using only the other head portion in a state where one head portion is stopped, and the two head portions perform a cooperative operation. The semiconductor chip 2 can be mounted. For this reason, the production efficiency of the circuit board 8 can be improved.

(実施の形態4)
以下、本実施の形態4について説明する。実施の形態1〜3では、部品実装装置は、ウェハ1から半導体チップ2を吸着するものを想定して説明を行なったが、実施の形態4では、部品実装装置は、トレイに収納された部品を吸着し、基板の一例である回路基板に実装する装置である。
(Embodiment 4)
Hereinafter, the fourth embodiment will be described. In the first to third embodiments, the component mounting apparatus has been described on the assumption that the semiconductor chip 2 is attracted from the wafer 1. In the fourth embodiment, the component mounting apparatus is a component housed in a tray. Is a device for adsorbing and mounting on a circuit board which is an example of a board.

部品実装装置の模式的な構成およびその動作は実施の形態1で説明したものと同様である。このため、その詳細な説明はここでは繰り返さない。実施の形態4に係る部品実装装置は、ウェハ1の代わりにトレイから部品を吸着し、回路基板に実装を行なう。   The schematic configuration and operation of the component mounting apparatus are the same as those described in the first embodiment. Therefore, detailed description thereof will not be repeated here. The component mounting apparatus according to the fourth embodiment sucks components from the tray instead of the wafer 1 and mounts them on the circuit board.

図25は、トレイの一例を示す図である。同図に示すように、トレイは格子状に区切られており、各区切りに部品が納められている。トレイにおいても、ウェハ1の場合と同様に、トレイが、左側の実装ステージ109に移動した際には、第2ヘッド部34がトレイより部品を吸着することができないのは当然であるが、第1ヘッド部4であっても部品を吸着することができない吸着不可領域151ができる場合がある。同様に、トレイの左端には、トレイが同図右側の実装ステージ110に移動した場合には、第1ヘッド部4はもちろんのこと第2ヘッド部34であっても部品の吸着を行なうことができない領域である吸着不可領域152ができてしまう。   FIG. 25 is a diagram illustrating an example of a tray. As shown in the figure, the tray is partitioned into a grid, and parts are stored in each partition. Also in the tray, as in the case of the wafer 1, when the tray moves to the left mounting stage 109, it is natural that the second head unit 34 cannot adsorb components from the tray. Even in the case of one head portion 4, there may be a case where a non-suckable area 151 where a part cannot be suctioned is formed. Similarly, at the left end of the tray, when the tray moves to the mounting stage 110 on the right side of the drawing, the first head portion 4 as well as the second head portion 34 can adsorb components. An unsuckable region 152 that is a region that cannot be formed is formed.

このため、このような場合にもウェハ1の場合と同様の吸着順序に従って、2つの実装ヘッドが部品を吸着するように、実施の形態1〜3のいずれかに示した吸着順序決定装置が吸着順序を決定する。   For this reason, in such a case, the suction sequence determination device shown in any of the first to third embodiments suctions the components so that the two mounting heads suck the components according to the same suction order as in the case of the wafer 1. Determine the order.

なお、部品実装装置は、部品を収納した部品カセットがX軸方向に複数並べられた部品供給部より部品を吸着するものであっても良い。このような部品供給部であっても、部品供給部のX軸方向の長さが長いような場合には、その左右にウェハ1と同様の吸着不可領域が生じる。すなわち、一方のヘッド部のみでしか部品を吸着することのできない部品カセットが生じる。このような場合にもウェハ1の場合と同様の吸着順序に従って、2つの実装ヘッドが部品を吸着するように、吸着順序決定装置が吸着順序を決定すればよい。   Note that the component mounting apparatus may be configured to suck components from a component supply unit in which a plurality of component cassettes that store components are arranged in the X-axis direction. Even in such a component supply unit, when the length of the component supply unit in the X-axis direction is long, a non-suckable area similar to that of the wafer 1 is generated on the left and right sides thereof. That is, a component cassette is produced in which components can be adsorbed only by one head portion. In such a case, the suction order determining device may determine the suction order so that the two mounting heads pick up the components according to the same suction order as in the case of the wafer 1.

実施の形態4によると、吸着不可領域を有するトレイや複数並べられた部品カセットから部品を取り出す場合であっても、実施の形態1〜3と同様の吸着順序で部品が吸着される。このため、基板に部品を実装する間、第1ヘッド部4による吸着動作と第2ヘッド部34による吸着動作とを交互に行なうことができ、第1ヘッド部4および第2ヘッド部34を協調動作させることができる。このため、一方のヘッド部を休止させた状態で他方のヘッド部のみを使用して、回路基板8への部品の実装が行なわれることがなくなり、2つのヘッド部が協調動作を行ないながら部品を実装することができる。このため、回路基板8の生産効率を向上させることができる。   According to the fourth embodiment, even when a component is taken out from a tray having a non-suckable area or a plurality of component cassettes, the components are sucked in the same suction order as in the first to third embodiments. Therefore, the suction operation by the first head unit 4 and the suction operation by the second head unit 34 can be performed alternately while the components are mounted on the board, and the first head unit 4 and the second head unit 34 are coordinated. It can be operated. For this reason, the component is not mounted on the circuit board 8 by using only the other head portion in a state where one head portion is stopped, and the two head portions perform the cooperative operation while removing the components. Can be implemented. For this reason, the production efficiency of the circuit board 8 can be improved.

本発明は、回路基板上に部品を実装する部品実装装置における部品の吸着順序決定装置に適用でき、特に、複数の実装ヘッドを有する部品実装装置における部品緒吸着順序決定装置等に適用できる。   The present invention can be applied to a component adsorption order determination device in a component mounting apparatus that mounts components on a circuit board, and in particular, to a component adsorption sequence determination device in a component mounting apparatus having a plurality of mounting heads.

本発明の実施の形態1に係る部品実装装置の模式平面図である。It is a schematic plan view of the component mounting apparatus which concerns on Embodiment 1 of this invention. 部品実装装置内部に備えられる実装ステージの主要な構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the main structures of the mounting stage with which a component mounting apparatus is equipped. 部品実装装置が備える部品供給装置の斜視図である。It is a perspective view of the component supply apparatus with which a component mounting apparatus is provided. 部品供給装置が備える保持テーブル及びエキスパンド装置の構成を示す模式断面図であり、(A)はウェハがエキスパンドされていない状態を示し、(B)はウェハがエキスパンドされた状態を示す。It is a schematic cross section which shows the structure of the holding | maintenance table and expansion apparatus with which a component supply apparatus is provided, (A) shows the state where the wafer is not expanded, (B) shows the state where the wafer was expanded. 部品供給装置が備える突上げ装置の外観斜視図である。It is an external appearance perspective view of the pushing-up apparatus with which a component supply apparatus is provided. 突上げ装置における突上げピン保持部の拡大模式断面図であって、突上げピンが突上げ位置に位置されている状態を示す。FIG. 6 is an enlarged schematic cross-sectional view of a push-up pin holding portion in the push-up device, showing a state where the push-up pin is located at a push-up position. 部品実装装置における部品実装動作の手順を説明する模式平面図であり、ウェハマガジンより取り出されたウェハが保持テーブルに保持された状態を示す。It is a schematic plan view explaining the procedure of the component mounting operation | movement in a component mounting apparatus, and shows the state by which the wafer taken out from the wafer magazine was hold | maintained at the holding table. 部品実装装置における部品実装動作の手順を説明する模式平面図であり、第1部品供給位置に保持テーブルが位置されている状態を示す。It is a schematic plan view explaining the procedure of the component mounting operation | movement in a component mounting apparatus, and shows the state in which the holding table is located in the 1st component supply position. 部品実装装置における部品実装動作の手順を説明する模式平面図であり、ウェハ認識位置に保持テーブルが位置されている状態を示す。It is a schematic plan view explaining the procedure of the component mounting operation | movement in a component mounting apparatus, and shows the state in which the holding table is located in the wafer recognition position. 部品実装装置における部品実装動作の手順を説明する模式平面図であり、第2部品供給位置に保持テーブルが位置されている状態を示す。It is a schematic plan view explaining the procedure of the component mounting operation | movement in a component mounting apparatus, and shows the state in which the holding table is located in the 2nd component supply position. 部品実装装置における部品実装動作の手順を説明する模式平面図であり、第2部品認識カメラにより第2ヘッド部により保持された半導体チップの認識が行われている状態を示す。It is a schematic plan view explaining the procedure of the component mounting operation | movement in a component mounting apparatus, and the state in which the semiconductor chip hold | maintained with the 2nd head part is recognized with the 2nd component recognition camera is shown. 本発明の実施の形態1に係る部品実装装置の模式平面図である。It is a schematic plan view of the component mounting apparatus which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1に係る吸着順序決定装置の機能的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the functional structure of the adsorption | suction order determination apparatus which concerns on Embodiment 1 of this invention. 吸着順序決定装置が実行する処理のフローチャートである。It is a flowchart of the process which an adsorption | suction order determination apparatus performs. ウェハ内の半導体チップの吸着順序を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the adsorption | suction order of the semiconductor chip in a wafer. 決定された吸着順序に従い、ウェハ上の半導体チップを吸着する過程を示す図である。It is a figure which shows the process in which the semiconductor chip on a wafer is adsorb | sucked according to the determined adsorption | suction order. ウェハ内の半導体チップの吸着順序を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the adsorption | suction order of the semiconductor chip in a wafer. 決定された吸着順序に従い、ウェハ上の半導体チップを吸着する過程を示す図である。It is a figure which shows the process in which the semiconductor chip on a wafer is adsorb | sucked according to the determined adsorption | suction order. ウェハ内の半導体チップの吸着順序を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the adsorption | suction order of the semiconductor chip in a wafer. 決定された吸着順序に従い、ウェハ上の半導体チップを吸着する過程を示す図である。It is a figure which shows the process in which the semiconductor chip on a wafer is adsorb | sucked according to the determined adsorption | suction order. 本発明の実施の形態3に係る吸着順序決定装置の機能的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the functional structure of the adsorption | suction order determination apparatus which concerns on Embodiment 3 of this invention. 吸着順序決定装置が実行する処理のフローチャートである。It is a flowchart of the process which an adsorption | suction order determination apparatus performs. 半導体チップの個数が左右均等ではないウェハの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the wafer whose number of semiconductor chips is not equal in right and left. 決定された吸着順序に従い、ウェハ上の半導体チップを吸着する過程を示す図である。It is a figure which shows the process in which the semiconductor chip on a wafer is adsorb | sucked according to the determined adsorption | suction order. トレイの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a tray.

符号の説明Explanation of symbols

1 ウェハ
2 半導体チップ
3 吸着ノズル
4 ヘッド部
5、6 搬送レール
7 第1部品認識カメラ
8 回路基板
10 ウェハマガジン
11 部品供給装置
12 保持テーブル
14 ウェハカメラ
16 テーブル移動装置
18 テーブル支持フレーム
20 突上げ装置移動装置
22 エキスパンド装置
33 吸着ノズル
34 第2ヘッド部
37 第2部品認識カメラ
40 突上げ装置
41 突上げピン保持部
42 シート当接面
43 吸着孔
44 突上げピン昇降装置
45 突上げピン
46 ピン格納孔
50 ウェハシート
51 ウェハリング
52 エキスパンド部材
53 リング保持部
54 フレーム
91 吸着不可領域
92 吸着不可領域
101 部品実装装置
109、110 実装ステージ
115 ビーム
117 ビーム軌道
200 吸着順序決定装置
201 吸着順序決定部
202 ウェハ情報記憶部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wafer 2 Semiconductor chip 3 Adsorption nozzle 4 Head part 5, 6 Conveying rail 7 1st component recognition camera 8 Circuit board 10 Wafer magazine 11 Component supply apparatus 12 Holding table 14 Wafer camera 16 Table moving apparatus 18 Table support frame 20 Push-up apparatus Moving device 22 Expanding device 33 Suction nozzle 34 Second head portion 37 Second component recognition camera 40 Pushing device 41 Pushing pin holding portion 42 Sheet contact surface 43 Suction hole 44 Pushing pin lifting device 45 Pushing pin 46 Pin storage Hole 50 Wafer sheet 51 Wafer ring 52 Expanding member 53 Ring holding part 54 Frame 91 Non-sucking area 92 Non-sucking area 101 Component mounting device 109, 110 Mounting stage 115 Beam 117 Beam trajectory 200 Suction order determining device 201 Suction order determining unit 202 Information storage unit

Claims (10)

1つの部品供給部をスライドさせながら複数の実装ヘッドを用いて部品を取り出し、当該部品を基板に実装する部品実装装置における前記部品供給部からの部品取り出し順序を決定する部品取り出し順序決定方法であって、
前記部品供給部には、いずれか1つの実装ヘッドによってしか部品を取り出すことができない領域である不可領域が少なくとも1つ含まれ、
実装ヘッドによる部品の吸着、移動および装着という一連の動作の繰り返しにおける1回分の一連動作によって実装される少なくとも1つの部品をタスクとした場合に、前記少なくとも1つの不可領域のうちいずれか1つのみの不可領域において、2タスク以上の部品が残存する状態が発生しないように、前記複数の実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する取り出し順序決定ステップを含む
ことを特徴とする部品取り出し順序決定方法。
A component take-out order determination method for taking out a component using a plurality of mounting heads while sliding one component supply unit and determining a component take-out order from the component supply unit in a component mounting apparatus for mounting the component on a substrate. And
The component supply unit includes at least one unusable region that is a region in which the component can be taken out only by any one mounting head,
When at least one component mounted by a series of operations in a series of operations of picking, moving, and mounting a component by the mounting head is used as a task, only one of the at least one unusable area is used. A take-out order determining step for determining a take-out order of the components from the component supply unit by the plurality of mounting heads so that a state in which components of two or more tasks remain does not occur in the unusable region. Method for determining the order of parts removal.
前記取り出し順序決定ステップでは、前記不可領域に含まれる部品を先に取り出し、前記不可領域に含まれる部品が取り出された後に、前記不可領域以外の領域に含まれる部品を取り出すように、前記複数の実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する
ことを特徴とする請求項1に記載の部品取り出し順序決定方法。
In the take-out order determination step, the parts included in the unusable area are first taken out, and after the parts included in the unusable area are taken out, the plurality of parts are taken out so as to take out parts contained in an area other than the unusable area. The component pick-up order determination method according to claim 1, wherein a pick-up order of components from the component supply unit by a mounting head is determined.
前記複数の実装ヘッドは第1実装ヘッドおよび第2実装ヘッドを備え、
前記部品供給部には、前記第2実装ヘッドによれば部品を取り出すことができるが前記第1実装ヘッドによると部品を取り出すことができない第1不可領域と、前記第1実装ヘッドによれば部品を取り出すことができるが前記第2実装ヘッドによると部品を取り出すことができない第2不可領域とが含まれ、
前記取り出し順序決定ステップは、
前記第2不可領域に含まれる部品を先に取り出し、前記第2不可領域に含まれる部品が取り出された後に前記第2不可領域以外の領域に含まれる部品を取り出すように、前記第1実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する第1部品取り出し順序決定ステップと、
前記第1不可領域に含まれる部品を先に取り出し、前記第1不可領域に含まれる部品が取り出された後に前記第1不可領域以外の領域に含まれる部品を取り出すように、前記第2実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する第2部品取り出し順序決定ステップとを含む
ことを特徴とする請求項2に記載の部品取り出し順序決定方法。
The plurality of mounting heads include a first mounting head and a second mounting head,
According to the second mounting head, the component supply unit can take out a component, but the first mounting head cannot take out a component, and the first mounting head has a component. And a second unusable area in which the component cannot be removed according to the second mounting head.
The extraction order determining step includes:
The first mounting head is configured to first take out the parts included in the second unusable area, and take out the parts contained in an area other than the second unusable area after the parts included in the second unusable area are taken out. A first component removal order determination step for determining a component removal order from the component supply unit according to
The second mounting head is configured such that a part included in the first unusable area is first removed, and a part included in an area other than the first unusable area is removed after the part included in the first unusable area is removed. The method according to claim 2, further comprising: a second component extraction order determination step for determining a component extraction order from the component supply unit according to claim 3.
前記第1不可領域および前記第2不可領域の各々は、前記部品供給部の端部を含む領域であり、
前記第1部品取り出し順序決定ステップでは、前記第2不可領域から前記部品供給部の中心に向かって部品を順次取り出すように、前記第1実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定し、
前記第2部品取り出し順序決定ステップでは、前記第1不可領域から前記部品供給部の中心に向かって部品を順次取り出すように、前記第2実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する
ことを特徴とする請求項3に記載の部品取り出し順序決定方法。
Each of the first impossible area and the second impossible area is an area including an end portion of the component supply unit,
In the first component take-out order determination step, the order in which components are taken out from the component supply unit by the first mounting head is determined so as to sequentially take out components from the second impossible area toward the center of the component supply unit. And
In the second component take-out order determination step, the take-out order of components from the component supply unit by the second mounting head is determined so as to sequentially take out components from the first impossible area toward the center of the component supply unit. The method according to claim 3, further comprising:
前記複数の実装ヘッドは第1実装ヘッドおよび第2実装ヘッドを備え、
前記部品供給部には、前記第2実装ヘッドによれば部品を取り出すことができるが前記第1実装ヘッドによると部品を取り出すことができない第1不可領域と、前記第1実装ヘッドによれば部品を取り出すことができるが前記第2実装ヘッドによると部品を取り出すことができない第2不可領域とが含まれ、
前記取り出し順序決定ステップでは、
前記第1実装ヘッドが部品の取り出しを担当する領域における残りの部品数と前記第2実装ヘッドが部品の取り出しを担当する領域における残りの部品数とが略均等となる状態を維持するように、前記第1実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序および前記第2実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する
ことを特徴とする請求項1に記載の部品取り出し順序決定方法。
The plurality of mounting heads include a first mounting head and a second mounting head,
According to the second mounting head, the component supply unit can take out a component, but the first mounting head cannot take out a component, and the first mounting head has a component. And a second unusable area in which the component cannot be removed according to the second mounting head.
In the extraction order determination step,
The number of remaining parts in the area where the first mounting head is in charge of taking out the parts and the number of remaining parts in the area where the second mounting head is in charge of taking out the parts are maintained in a substantially equal state. The order of picking up components from the component supply unit by the first mounting head and the order of picking up components from the component supply unit by the second mounting head are determined. Decision method.
前記取り出し順序決定ステップは、
前記第1実装ヘッドが部品の取り出しを担当する領域における残り部品数と前記第2実装ヘッドが部品の取り出しを担当する領域における残りの部品数とが均等か否かを判断する判断ステップと、
前記判断ステップにおいて均等でないと判断された場合には、残り部品数の多い領域に含まれる部品から優先的に部品の取り出しを行なう部品の取り出し順序を決定するステップとを含む
ことを特徴とする請求項5に記載の部品取り出し順序決定方法。
The extraction order determining step includes:
A determination step of determining whether or not the number of remaining components in an area where the first mounting head is responsible for taking out a component and the number of remaining parts in an area where the second mounting head is responsible for taking out a component;
A step of preferentially picking up components from components included in an area having a large number of remaining components when the judgment step determines that they are not equal. Item 6. The method of determining the order of taking out parts according to Item 5.
1つの部品供給部をスライドさせながら複数の実装ヘッドを用いて部品を取り出し、当該部品を基板に実装する部品実装装置における前記部品供給部からの部品取り出し順序を決定する部品取り出し順序決定装置であって、
前記部品供給部には、いずれか1つの実装ヘッドによってしか部品を取り出すことができない領域である不可領域が少なくとも1つ含まれ、
実装ヘッドによる部品の吸着、移動および装着という一連の動作の繰り返しにおける1回分の一連動作によって実装される少なくとも1つの部品をタスクとした場合に、前記少なくとも1つの不可領域のうちいずれか1つのみの不可領域において、2タスク以上の部品が残存する状態が発生しないように、前記複数の実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する取り出し順序決定手段を備える
ことを特徴とする部品取り出し順序決定装置。
A component take-out order determining device that takes out a component using a plurality of mounting heads while sliding one component supply unit and determines a component take-out order from the component supply unit in a component mounting apparatus that mounts the component on a substrate. And
The component supply unit includes at least one unusable region that is a region in which the component can be taken out only by any one mounting head,
When at least one component mounted by a series of operations in a series of operations of picking, moving, and mounting a component by the mounting head is used as a task, only one of the at least one unusable area is used. In the non-permitted area, there is provided a take-out order determining means for determining a take-out order of parts from the part supply unit by the plurality of mounting heads so that a state in which parts of two or more tasks remain does not occur. Component take-out order determination device.
1つの部品供給部をスライドさせながら複数の実装ヘッドを用いて部品を取り出し、当該部品を基板に実装する部品実装方法であって、
前記部品供給部には、いずれか1つの実装ヘッドによってしか部品を取り出すことができない領域である不可領域が少なくとも1つ含まれ、
実装ヘッドによる部品の吸着、移動および装着という一連の動作の繰り返しにおける1回分の一連動作によって実装される少なくとも1つの部品をタスクとした場合に、前記少なくとも1つの不可領域のうちいずれか1つのみの不可領域において、2タスク以上の部品が残存する状態が発生しないように、前記複数の実装ヘッドが前記部品供給部から部品を取り出す取り出しステップを含む
ことを特徴とする部品実装方法。
A component mounting method of taking out a component using a plurality of mounting heads while sliding one component supply unit, and mounting the component on a substrate,
The component supply unit includes at least one unusable region that is a region in which the component can be taken out only by any one mounting head,
When at least one component mounted by a series of operations in a series of operations of picking, moving, and mounting a component by the mounting head is used as a task, only one of the at least one unusable area is used. The component mounting method includes a step of taking out the components from the component supply unit by the plurality of mounting heads so that a state in which components of two or more tasks remain does not occur in the unusable region.
1つの部品供給部をスライドさせながら複数の実装ヘッドを用いて部品を取り出し、当該部品を基板に実装する部品実装装置であって、
前記部品供給部には、いずれか1つの実装ヘッドによってしか部品を取り出すことができない領域である不可領域が少なくとも1つ含まれ、
実装ヘッドによる部品の吸着、移動および装着という一連の動作の繰り返しにおける1回分の一連動作によって実装される少なくとも1つの部品をタスクとした場合に、前記少なくとも1つの不可領域のうちいずれか1つのみの不可領域において、2タスク以上の部品が残存する状態が発生しないように、前記複数の実装ヘッドが前記部品供給部から部品を取り出す取り出し手段を備える
ことを特徴とする部品実装装置。
A component mounting apparatus that takes out a component using a plurality of mounting heads while sliding one component supply unit, and mounts the component on a substrate,
The component supply unit includes at least one unusable region that is a region in which the component can be taken out only by any one mounting head,
When at least one component mounted by a series of operations in a series of operations of picking, moving, and mounting a component by the mounting head is used as a task, only one of the at least one unusable area is used. A component mounting apparatus comprising: a plurality of mounting heads for taking out components from the component supply unit so that a state in which components of two or more tasks remain does not occur in the unusable region.
1つの部品供給部をスライドさせながら複数の実装ヘッドを用いて部品を取り出し、当該部品を基板に実装する部品実装装置における前記部品供給部からの部品取り出し順序を決定するプログラムであって、
前記部品供給部には、いずれか1つの実装ヘッドによってしか部品を取り出すことができない領域である不可領域が少なくとも1つ含まれ、
実装ヘッドによる部品の吸着、移動および装着という一連の動作の繰り返しにおける1回分の一連動作によって実装される少なくとも1つの部品をタスクとした場合に、前記少なくとも1つの不可領域のうちいずれか1つのみの不可領域において、2タスク以上の部品が残存する状態が発生しないように、前記複数の実装ヘッドによる前記部品供給部からの部品の取り出し順序を決定する取り出し順序決定ステップをコンピュータに実行させる
ことを特徴とするプログラム。
A program for taking out a component using a plurality of mounting heads while sliding one component supply unit, and determining a component extraction order from the component supply unit in a component mounting apparatus for mounting the component on a board,
The component supply unit includes at least one unusable region that is a region in which the component can be taken out only by any one mounting head,
When at least one component mounted by a series of operations in a series of operations of picking, moving, and mounting a component by the mounting head is used as a task, only one of the at least one unusable area is used. And causing the computer to execute a take-out order determination step for determining a take-out order of parts from the part supply unit by the plurality of mounting heads so that a state in which parts of two or more tasks remain in the non-permitted area of A featured program.
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