JP2009259917A - Mounting device and method of electronic component - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mounting device capable of reducing a cycle time required for mounting a semiconductor chip. <P>SOLUTION: This mounting device is provided with: a pair of mounting tools 8 arranged, drivably in the horizontal and vertical directions, above a transport rail 1 transporting a board to be positioned at a mounting position; a pair of movable mounters 12 reciprocatively driven between a supply position for supplying and mounting a semiconductor chip and a transfer position for transferring the semiconductor chip mounted at the supply position to the mounting tools; a pair of imaging cameras 27 imaging the semiconductor chip mounted on the movable mounters when the movable mounters are positioned at the transfer position; and a control device 14 positioning the pair of mounting tools above the semiconductor chip based on the imaging of the imaging cameras and thereafter causing the mounting tools to extract the semiconductor chip from the movable mounters by driving them in the descending direction to be mounted on the board at the mounting position. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

この発明は搬送位置決めされた基板に対して電子部品を実装するための実装装置及び実装方向に関する。   The present invention relates to a mounting apparatus and mounting direction for mounting electronic components on a substrate that has been transported and positioned.

キヤリアテープやリードフレームなどの基板に電子部品としての半導体チップを実装する実装装置は、半導体チップの供給部となるウエハステージを備えている。このウエハステージには粘着シートに貼られた半導体ウエハが保持されている。この半導体ウエハはさいの目状の多数の半導体チップに切断されている。   A mounting apparatus for mounting a semiconductor chip as an electronic component on a substrate such as a carrier tape or a lead frame includes a wafer stage serving as a semiconductor chip supply unit. A semiconductor wafer affixed to the adhesive sheet is held on the wafer stage. This semiconductor wafer is cut into a large number of dice-shaped semiconductor chips.

上記ウエハステージからは半導体チップが1つずつ吸着されて取り出される。ウエハステージから取り出された半導体チップは上記基板に実装される。半導体チップを基板に実装するにあたっては、半導体チップを上下逆方向に180度反転させて実装する方式や半導体チップの上下の向きを変えずに実装する方式が知られている。   Semiconductor chips are picked up and taken out one by one from the wafer stage. The semiconductor chip taken out from the wafer stage is mounted on the substrate. In mounting a semiconductor chip on a substrate, a method of mounting the semiconductor chip by inverting 180 degrees in the upside down direction and a method of mounting without changing the vertical direction of the semiconductor chip are known.

いずれの方式であっても、生産性の向上を図るためにタクトタイムを短縮することが要求されている。タクトタイムを短縮するためには、上記供給部からの半導体チップの取り出しや取り出した後、実装ツールによる半導体チップの基板への実装を高速化するなどのことが必要となる。   In any system, it is required to shorten the tact time in order to improve productivity. In order to shorten the tact time, it is necessary to speed up the mounting of the semiconductor chip on the substrate by the mounting tool after the semiconductor chip is taken out from the supply unit and taken out.

しかしながら、半導体チップの取り出し速度や実装速度の高速化には限界があるため、上記基板に対して半導体チップを能率よく実装して生産性の向上を図ることにはおのずと限界が生じていた。   However, since there is a limit to the speed of taking out and mounting the semiconductor chip, there has been a limit in improving the productivity by efficiently mounting the semiconductor chip on the substrate.

そこで、特許文献1ではウエハステージから半導体チップを取り出すピックアップツールと、ピックアップツールによって取り出された半導体チップを基板に実装する実装ツールをそれぞれ2つずつ設け、基板に対する半導体チップの実装速度を向上させるようにしている。
WO2007/072714 A1
Therefore, in Patent Document 1, two pick-up tools for picking up semiconductor chips from the wafer stage and two mounting tools for mounting the semiconductor chips picked up by the pick-up tool on the substrate are provided to improve the mounting speed of the semiconductor chips on the substrate. I have to.
WO2007 / 072714 A1

特許文献1に示されるように、ピックアップツールと実装ツールをそれぞれ2つずつ設ければ、1つの場合に比べて実装速度を短縮し、生産性を向上させることが可能となる。   As shown in Patent Document 1, if two pickup tools and two mounting tools are provided, the mounting speed can be shortened and productivity can be improved as compared with the case of one.

ところで、特許文献1ではピックアップツールによってウエハステージから半導体チップを取り出したならば、その半導体チップを実装ツールに受け渡すようにしている。
このような構成によると、実装ツールが半導体チップを基板に実装しているときにはピックアップツールから半導体チップを受け取ることができず、ピックアップツールがウエハステージから半導体チップを取り出しているときには実装ツールがピックアップツールから半導体チップを受け取ることができないということになる。
By the way, in Patent Document 1, when a semiconductor chip is taken out from the wafer stage by a pickup tool, the semiconductor chip is transferred to a mounting tool.
According to such a configuration, when the mounting tool mounts the semiconductor chip on the substrate, it cannot receive the semiconductor chip from the pickup tool, and when the pickup tool takes out the semiconductor chip from the wafer stage, the mounting tool picks up the pick-up tool. It is impossible to receive a semiconductor chip from.

そのため、実装ツールは半導体チップの実装が終了してから、半導体チップをピックアップツールから受け取ることができる供給位置まで移動して受け取り、ついで半導体チップを基板に実装する実装位置に移動して実装しなければならないから、これら一連の動作を直列的に行なわなければならず、並列的に行なうことができなかった。   Therefore, the mounting tool must move to the supply position where the semiconductor chip can be received from the pick-up tool after the mounting of the semiconductor chip is completed, and then move to the mounting position where the semiconductor chip is mounted on the substrate and mount it. Therefore, a series of these operations must be performed in series, and cannot be performed in parallel.

つまり、実装ツールがピックアップツールから半導体チップを受け取るために供給位置に移動する時間と、半導体チップを受け取ってから実装位置に移動する時間が基板に半導体チップを実装するために要するタクトタイムに含まれることになるから、そのタクトタイムに占める上記実装ツールの移動時間が比較的長くなり、タクトタイムの短縮に限界が生じるということがある。   That is, the time for the mounting tool to move to the supply position to receive the semiconductor chip from the pickup tool and the time to move to the mounting position after receiving the semiconductor chip are included in the tact time required to mount the semiconductor chip on the substrate. As a result, the travel time of the mounting tool in the tact time becomes relatively long, and there is a limit in shortening the tact time.

この発明は、実装ツールが電子部品を受け取ったり、受け取った電子部品を基板に実装する際に、実装ツールの移動時間を短縮することで、生産性の向上を図るようにした電子部品の実装装置及び実装方法を提供することにある。   The present invention provides an electronic component mounting apparatus that improves productivity by shortening the movement time of the mounting tool when the mounting tool receives the electronic component or mounts the received electronic component on the substrate. And providing a mounting method.

この発明は、基板に電子部品を実装する実装装置であって、
基板を搬送して実装位置に位置決めする搬送手段と、
この搬送手段の上方に水平方向及び上下方向に駆動可能に設けられた一対の実装ツールと、
上記搬送手段の一側に上記基板の搬送方向に沿って駆動可能に設けられ上記電子部品が供給載置される供給位置とこの供給位置で載置された電子部品を上記実装ツールに受け渡す受け渡し位置との間で往復駆動される一対の可動載置体と、
この可動載置体が上記受け渡し位置に位置決めされたときに、この可動載置体に載置された電子部品をそれぞれ撮像する一対の撮像手段と、
この撮像手段の撮像に基いて一対の上記実装ツールを一対の上記可動載置体に載置された電子部品の上方に位置決めしてから、下降方向に駆動して一対の上記可動載置体から電子部品を取り出させ、上記実装位置に位置決めされた上記基板に対してそれぞれ実装させる制御手段と
を具備したことを特徴とする電子部品の実装装置にある。
The present invention is a mounting apparatus for mounting electronic components on a substrate,
Conveying means for conveying a substrate and positioning it at a mounting position;
A pair of mounting tools provided so as to be able to be driven in the horizontal and vertical directions above the conveying means;
A supply position provided on one side of the transfer means so as to be drivable along the transfer direction of the substrate, and the electronic component mounted and supplied to the mounting tool. A pair of movable platforms that are driven back and forth between positions;
A pair of imaging means for imaging each of the electronic components placed on the movable placement body when the movable placement body is positioned at the delivery position;
Based on the imaging of the imaging means, the pair of mounting tools are positioned above the electronic components mounted on the pair of movable mounting bodies, and then driven in the downward direction from the pair of movable mounting bodies. There is provided an electronic component mounting apparatus comprising: a control unit that takes out an electronic component and mounts the electronic component on the board positioned at the mounting position.

上記電子部品の供給部と、この供給部から電子部品を取り出して上記供給位置に位置決めされた一対の上記可動載置体に上記電子部品を供給載置する一対の移載手段を備えていることが好ましい。   The electronic component supply unit, and a pair of transfer means for supplying and mounting the electronic component on the pair of movable mounting bodies that are taken out from the supply unit and positioned at the supply position. Is preferred.

一対の上記可動載置体は、上記電子部品が供給載置される供給位置では所定の間隔で離間して位置決めされ、この供給位置から互いに離反する方向に駆動されて上記電子部品を上記実装ツールに受け渡す受け渡し位置に位置決めされることが好ましい。   The pair of movable mounting bodies are positioned at a predetermined interval at a supply position where the electronic component is supplied and mounted, and are driven away from the supply position to place the electronic component on the mounting tool. It is preferable to be positioned at a delivery position for delivery.

この発明は、基板に電子部品を実装する実装方法であって、
基板を搬送して上記電子部品が実装される実装位置に位置決めする工程と、
上記電子部品が供給される供給位置とこの供給位置よりも大きな間隔で離間する受け渡し位置との間で駆動される一対の可動載置体を有し、上記供給位置に位置決めされた一対の上記可動載置体に電子部品を供給する工程と、
電子部品が供給された一対の可動載置体を上記受け渡し位置に位置決めする工程と、
上記受け渡し位置で可動載置体に載置された電子部品を撮像してその位置認識を行う工程と、
上記電子部品の位置認識に基いて一対の実装ツールによって一対の上記可動載置体から電子部品を受け取って上記基板に実装する工程と
を具備したことを特徴とする電子部品の実装方法にある。
This invention is a mounting method for mounting an electronic component on a substrate,
A step of conveying the substrate and positioning the mounting position where the electronic component is mounted;
A pair of movable mounting bodies that are driven between a supply position to which the electronic component is supplied and a delivery position that is spaced apart from the supply position by a larger distance, and that are positioned at the supply position. Supplying electronic components to the mounting body;
Positioning a pair of movable mounting bodies supplied with electronic components at the delivery position;
Imaging the electronic component placed on the movable placing body at the delivery position and recognizing its position;
And a step of receiving the electronic component from the pair of movable mounting bodies by the pair of mounting tools based on the position recognition of the electronic component and mounting the electronic component on the substrate.

一対の実装ヘッドによって上記電子部品をそれぞれ別の基板に対して同時に実装することが好ましい。   It is preferable that the electronic components are simultaneously mounted on different substrates by a pair of mounting heads.

この発明によれば、電子部品を基板の搬送方向に沿って駆動される可動載置体に供給し、この可動載置体から電子部品を実装ツールによって取り出して基板に実装するようにした。   According to the present invention, the electronic component is supplied to the movable mounting body that is driven along the conveyance direction of the substrate, and the electronic component is taken out from the movable mounting body by the mounting tool and mounted on the substrate.

そのため、実装ツールが電子部品を基板に実装している間に、つぎに実装される電子部品を可動載置体に供給し、この可動載置体によって実装位置の近くに搬送待機させることができるから、実装が終了したならば、つぎの実装を実装ツールの移動にほとんど時間をかけることなく行なうことが可能となる。   Therefore, while the mounting tool is mounting the electronic component on the board, the electronic component to be mounted next can be supplied to the movable mounting body, and can be transported and waited near the mounting position by the movable mounting body. Therefore, when the mounting is completed, the next mounting can be performed with little time for moving the mounting tool.

以下、この発明の一実施の形態を図面を参照しながら説明する。
図1は実装装置の平面図であり、図2は同じく正面図であって、この実装装置は搬送手段としての所定間隔で平行に離間対向して配置された一対の搬送レール1を備えている。この搬送レール1には複数の基板Wが供給部(図示せず)から供給され、搬送手段としてのチャック2によってX方向に搬送されるようになっている。なお、X方向及びこのX方向に直交するY方向は図1に矢印で示す。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a plan view of the mounting device, and FIG. 2 is a front view of the mounting device. The mounting device includes a pair of transport rails 1 arranged in parallel and spaced apart from each other at a predetermined interval as transport means. . A plurality of substrates W are supplied to the transport rail 1 from a supply unit (not shown) and transported in the X direction by a chuck 2 as transport means. The X direction and the Y direction orthogonal to the X direction are indicated by arrows in FIG.

搬送レール1に沿って搬送される複数の基板Wのうち、図1にBで示す、基板Wに電子部品としての半導体チップtを実装する実装位置において、搬送方向先端側に位置する2枚の基板WはピッチPの間隔で位置決めされる。   Among a plurality of substrates W transported along the transport rail 1, two sheets positioned on the front end side in the transport direction at a mounting position where a semiconductor chip t as an electronic component is mounted on the substrate W, shown by B in FIG. 1. The substrates W are positioned at intervals of the pitch P.

図2に示すように、上記実装位置Bの上方には一対の実装ヘッド3が上記基板Wの搬送方向に沿って所定間隔で離間して配設されている。上記実装ヘッド3はX・Y駆動源4によってX、Y方向、つまり水平方向に駆動されるヘッド本体5を備えている。このヘッド本体5の一側にはZ可動体6が矢印で示す上下方向である、Z方向にリニアモータなどの第1のZ駆動源7(図2と図3に示す)によって駆動可能に設けられている。このZ可動体6には実装ツール8が設けられ、この実装ツール8はθ駆動源9によって水平面と直交する軸線を中心と回転方向に駆動されるようになっている。つまり、実装ツール8はX、Y、Z及びθ方向に位置決め可能となっている。   As shown in FIG. 2, a pair of mounting heads 3 are disposed above the mounting position B at a predetermined interval along the transport direction of the substrate W. The mounting head 3 includes a head body 5 that is driven by an X / Y drive source 4 in the X and Y directions, that is, in the horizontal direction. A Z movable body 6 is provided on one side of the head body 5 so as to be driven by a first Z drive source 7 (shown in FIGS. 2 and 3) such as a linear motor in the Z direction, which is the vertical direction indicated by an arrow. It has been. The Z movable body 6 is provided with a mounting tool 8, and the mounting tool 8 is driven by a θ drive source 9 in the rotation direction around an axis perpendicular to the horizontal plane. That is, the mounting tool 8 can be positioned in the X, Y, Z, and θ directions.

図1に示すように、上記搬送レール1の側方、つまり搬送レール1よりも−X方向側の上記実装位置Bに対応する部位にはリニアガイド体11が基板Wの搬送方向であるX方向に沿って水平に配置されている。このリニアガイド体11には一対の可動載置体12が基板Wの搬送方向に沿って駆動可能に設けられている。   As shown in FIG. 1, the linear guide body 11 is in the X direction, which is the direction in which the substrate W is conveyed, at the side of the conveyance rail 1, that is, at the portion corresponding to the mounting position B on the −X direction side of the conveyance rail 1 Are arranged horizontally along. The linear guide body 11 is provided with a pair of movable mounting bodies 12 so as to be driven along the transport direction of the substrate W.

一対の上記可動載置体12は、図3に示す制御装置14によって駆動が制御される一対のリニアモータ15a,15bによって上記リニアガイド体11に沿って後述するよう別々に駆動されるようになっている。   The pair of movable mounting bodies 12 are separately driven along the linear guide body 11 as described later by a pair of linear motors 15a and 15b whose driving is controlled by the control device 14 shown in FIG. ing.

なお、リニアモータ15a,15bは、詳細は図示しないが、上記リニアガイド体11と可動載置体12のどちらか一方に設けられる永久磁石、他方に設けられる電磁石とから構成され、電磁石への通電を制御することで、上記可動載置体12を上記リニアガイド体11に沿って駆動できるようになっている。   Although not shown in detail, the linear motors 15a and 15b are composed of a permanent magnet provided on one of the linear guide body 11 and the movable mounting body 12 and an electromagnet provided on the other, and the electromagnet is energized. By controlling the above, the movable mounting body 12 can be driven along the linear guide body 11.

一対の上記可動載置体12には、移載手段としての一対の移載機構17によって供給部18から取り出された電子部品としての半導体チップtが供給されるようになっている。上記供給部18は図示しないXYテーブルに載置されてX、Y方向に駆動されるウエハリング18aを有する。   The pair of movable mounting bodies 12 is supplied with a semiconductor chip t as an electronic component taken out from the supply unit 18 by a pair of transfer mechanisms 17 as transfer means. The supply unit 18 has a wafer ring 18a mounted on an XY table (not shown) and driven in the X and Y directions.

上記ウエハリング18aは図2に示すように上記搬送レール1と上記リニアガイド体11の下方でX、Y方向に駆動可能となっていて、その上面には多数の半導体チップtに分割された半導体ウエハTが貼着された樹脂製のシート19が張設されている。   As shown in FIG. 2, the wafer ring 18a can be driven in the X and Y directions below the transport rail 1 and the linear guide body 11, and the upper surface thereof is a semiconductor divided into a number of semiconductor chips t. A resin sheet 19 to which the wafer T is adhered is stretched.

ウエハリング18aの上方には第1の撮像カメラ20が設けられている。この第1の撮像カメラ20は上記半導体ウエハTを撮像する。第1の撮像カメラ20の撮像信号は図3に示す画像処理部28でデジタル信号に変換されて上記制御装置14に出力され、ここで画像処理される。それによって、ウエハリング18aに保持された半導体チップtのX、Yの座標が認識され、その認識に基いて後述するようにピックアップされる半導体チップtがピックアップ位置に位置決めされるようになっている。   A first imaging camera 20 is provided above the wafer ring 18a. The first imaging camera 20 images the semiconductor wafer T. The imaging signal of the first imaging camera 20 is converted into a digital signal by the image processing unit 28 shown in FIG. 3 and output to the control device 14, where it is image-processed. As a result, the X and Y coordinates of the semiconductor chip t held on the wafer ring 18a are recognized, and the semiconductor chip t to be picked up is positioned at the pickup position as will be described later based on the recognition. .

なお、ウエハリング18aは図示しないストッカに上下方向に所定間隔で積層収納されていて、そのストッカから順次上記XYテーブルに供給されるようになっている。   The wafer ring 18a is stacked and stored at a predetermined interval in a vertical direction in a stocker (not shown), and is sequentially supplied from the stocker to the XY table.

一対の上記移載機構17は可動体21を有する。この可動体21はZガイド体22のガイド面に沿うZ方向に移動可能に設けられ、このZガイド体22に設けられた第2のZ駆動源21aによってZ方向に駆動されるようになっている。   The pair of transfer mechanisms 17 includes a movable body 21. The movable body 21 is provided so as to be movable in the Z direction along the guide surface of the Z guide body 22, and is driven in the Z direction by a second Z drive source 21 a provided on the Z guide body 22. Yes.

一対の上記可動体21にはX・X・Y駆動源によって上記X方向及びX方向と直交するY方向に沿って駆動される一対のアーム体24が互いの先端が接近するようX方向に沿って延出されている。アーム体24は、上記ウエハリング18aよりも上方に位置していて、先端にはそれぞれ吸着ノズル25a,25bが軸線を垂直にして設けられている。したがって、吸着ノズル25a,25bはアーム体24によってY方向とZ方向に駆動されるようになっている。   A pair of arm bodies 24 driven along the X direction and the Y direction perpendicular to the X direction by the X, X, and Y driving sources are placed along the X direction so that the distal ends of the pair of movable bodies 21 approach each other. It is extended. The arm body 24 is positioned above the wafer ring 18a, and suction nozzles 25a and 25b are provided at the tips with their axes perpendicular to each other. Therefore, the suction nozzles 25a and 25b are driven by the arm body 24 in the Y direction and the Z direction.

一対の吸着ノズル25a,25bは、以下のように上記ウエハリング18aに保持された半導体チップtをピックアップして一対の可動載置体12に供給載置する。すなわち、一対の吸着ノズル25a,25bはそれぞれ半導体チップtを受け取るピックアップ位置にX、Y方向に対して位置決めされる。つまり、一対の吸着ノズル25a,25bのピックアップ位置はY方向は同じ位置で、X方向に対して図4(a)に示す間隔Dで離間して位置決めされる。
なお、半導体チップtのピックアップは、一対の吸着ノズル25a,25bの間隔DのX方向におけるX方向の中間の位置で行われる。
The pair of suction nozzles 25a and 25b picks up the semiconductor chip t held on the wafer ring 18a and supplies and places it on the pair of movable mounting bodies 12 as follows. That is, the pair of suction nozzles 25a and 25b are respectively positioned in the X and Y directions at the pickup positions for receiving the semiconductor chip t. That is, the pick-up positions of the pair of suction nozzles 25a and 25b are the same position in the Y direction and are spaced apart from each other by the interval D shown in FIG.
The semiconductor chip t is picked up at an intermediate position in the X direction in the X direction of the distance D between the pair of suction nozzles 25a and 25b.

一方、一対の可動載置体12は一対の吸着ノズル25a,25bと同じ間隔Dで、しかも図1に示すように一対の吸着ノズル25a,25bとY方向の同じ位置に位置決めされて待機している。一対の可動載置体12のこの位置を供給位置Sとする。   On the other hand, the pair of movable mounting bodies 12 are positioned at the same distance D as the pair of suction nozzles 25a and 25b, and are positioned at the same position in the Y direction as the pair of suction nozzles 25a and 25b as shown in FIG. Yes. This position of the pair of movable mounting bodies 12 is defined as a supply position S.

上記ウエハリング18aにシート19によって保持された多数の半導体チップtのうち、ピックアップされる半導体チップtが一対の吸着ノズル25a,25bのX方向の中心位置である、ピックアップ位置に位置決めされると、その半導体チップtは図示せぬ突き上げピンによって突き上げられる。突き上げられた半導体チップtは−X方向にD/2の距離で移動してピックアップ位置に位置決めされた一方の吸着ノズル25aに吸着保持される。   Of the multiple semiconductor chips t held by the sheet 19 on the wafer ring 18a, the semiconductor chip t to be picked up is positioned at the pickup position, which is the center position in the X direction of the pair of suction nozzles 25a and 25b. The semiconductor chip t is pushed up by a push-up pin (not shown). The pushed-up semiconductor chip t moves by a distance of D / 2 in the −X direction and is sucked and held by one suction nozzle 25a positioned at the pickup position.

半導体チップtを吸着保持した一方の吸着ノズル25a、つまり一方のアーム体24は、+X方向及び+Y方向に駆動されて供給位置Sに位置決めされた一方の可動載置体12の上方に移動する。ついで、一方の吸着ノズル25aは図4(a)に示すように下降方向に駆動され、その先端に吸着保持された半導体チップtが上記可動載置体12の上面に供給載置される。   One suction nozzle 25a that sucks and holds the semiconductor chip t, that is, one arm body 24 is driven above the one movable mounting body 12 that is driven in the + X direction and the + Y direction and is positioned at the supply position S. Next, one suction nozzle 25a is driven in the downward direction as shown in FIG. 4A, and the semiconductor chip t sucked and held at the tip thereof is supplied and placed on the upper surface of the movable placement body 12.

一方の吸着ノズル25aに半導体チップtを受け渡すと、ウエハリング18aがX、Y方向に駆動され、つぎにピックアップされる半導体チップtが上記ピックアップ位置に位置決めされる。位置決めされた半導体チップtは図示せぬ突き上げピンによって突き上げられ、その位置に移動してきた他方の吸着ノズル25bに吸着保持される。   When the semiconductor chip t is delivered to one suction nozzle 25a, the wafer ring 18a is driven in the X and Y directions, and the semiconductor chip t to be picked up next is positioned at the pickup position. The positioned semiconductor chip t is pushed up by a push-up pin (not shown) and sucked and held by the other suction nozzle 25b that has moved to that position.

半導体チップtを吸着保持した他方の吸着ノズル25bが設けられたアーム体24は+X及び+Y方向に駆動され、図4(a)に示すように供給位置Sに位置決めされた他方の可動載置体12の上方に移動する。ついで、吸着ノズル25bは下降方向に駆動され、先端に吸着保持された半導体チップtが可動載置体12の上面に供給載置される。   The arm body 24 provided with the other suction nozzle 25b that sucks and holds the semiconductor chip t is driven in the + X and + Y directions and is positioned at the supply position S as shown in FIG. 12 moves up. Next, the suction nozzle 25 b is driven in the downward direction, and the semiconductor chip t sucked and held at the tip is supplied and mounted on the upper surface of the movable mounting body 12.

上面に半導体チップtが供給載置された一対の可動載置体12は、間隔Dの状態からX方向の互いに離反する方向、つまり反対方向に駆動され、図4(b)に示すように搬送レール1の実装位置Bに位置決めされた2枚の基板WのピッチPと同じ間隔で、しかもY方向において各基板Wの実装の開始端となる先端部に対応する位置に位置決めされる。一対の可動載置体12のこの位置を受け渡し位置Hとする。図1では受け渡し位置Hに位置決めされた一対の可動載置体12を鎖線で示す。   The pair of movable mounting bodies 12 on which the semiconductor chip t is supplied and mounted on the upper surface are driven in the X direction away from each other, that is, in the opposite direction from the distance D, and are transported as shown in FIG. At the same interval as the pitch P of the two substrates W positioned at the mounting position B of the rail 1, and at a position corresponding to the front end portion that is the starting end of the mounting of each substrate W in the Y direction. This position of the pair of movable mounting bodies 12 is referred to as a delivery position H. In FIG. 1, a pair of movable mounting bodies 12 positioned at the delivery position H are indicated by chain lines.

なお、一対の可動載置体12は上記受け渡し位置Hで一対の上記実装ヘッド3とY方向においてほぼ同じ位置に位置決めされる。   The pair of movable mounting bodies 12 are positioned at the delivery position H at substantially the same position as the pair of mounting heads 3 in the Y direction.

受け渡し位置Hに位置決めされた一対の可動載置体12の上面に載置された半導体チップtは、上記受け渡し位置Hの上方に配置された撮像手段としての一対の第2の撮像カメラ27によって撮像される。   The semiconductor chip t placed on the upper surface of the pair of movable placement bodies 12 positioned at the delivery position H is imaged by a pair of second imaging cameras 27 as imaging means arranged above the delivery position H. Is done.

第2の撮像カメラ27の撮像信号は図3に示す画像処理部28でデジタル信号に変換されて上記制御装置14に出力され、ここで画像処理される。それによって、可動載置体12の上面に載置された上記半導体チップtのX、Y及びθの位置が認識される。   The image pickup signal of the second image pickup camera 27 is converted into a digital signal by the image processing unit 28 shown in FIG. 3 and output to the control device 14, where it is image-processed. Thereby, the positions of X, Y and θ of the semiconductor chip t placed on the upper surface of the movable placing body 12 are recognized.

一対の実装ヘッド3は上記制御装置14による一対の半導体チップtの位置認識に基いてX、Y方向の駆動が制御され、各実装ヘッド3の実装ツール8は一対の可動載置体12に載置された半導体チップtの上方に位置決めされる。ついで、実装ツール8は下降方向に駆動されて上記可動載置体12の上面に載置された半導体チップtを吸着してから上昇する。   The pair of mounting heads 3 are controlled in driving in the X and Y directions based on the position recognition of the pair of semiconductor chips t by the control device 14, and the mounting tool 8 of each mounting head 3 is mounted on the pair of movable mounting bodies 12. Positioned above the placed semiconductor chip t. Next, the mounting tool 8 is driven in the downward direction to ascend after adsorbing the semiconductor chip t mounted on the upper surface of the movable mounting body 12.

上昇した実装ツール8は+Y方向に駆動されて搬送レール1上で実装位置Bに位置決めされた基板Wの上方に位置決めされる。ついで、実装ツール8は下降方向に駆動される。それによって、実装ツール8に吸着保持された半導体チップtは上記基板Wに、たとえば粘着テープによって実装される。   The raised mounting tool 8 is driven in the + Y direction and positioned above the substrate W positioned at the mounting position B on the transport rail 1. Next, the mounting tool 8 is driven in the downward direction. Thereby, the semiconductor chip t sucked and held by the mounting tool 8 is mounted on the substrate W by, for example, an adhesive tape.

上記基板Wには、一例として図5に示すように複数の半導体チップtが行列状に実装される。つまり、基板Wには複数の半導体チップtがY方向に対してp1の間隔でm1〜m4の4行に、X方向に対してはp2の間隔で12列に実装される。   As an example, a plurality of semiconductor chips t are mounted on the substrate W in a matrix as shown in FIG. That is, a plurality of semiconductor chips t are mounted on the substrate W in four rows m1 to m4 at intervals of p1 in the Y direction and in 12 columns at intervals of p2 in the X direction.

一対の実装ツール8によって2枚の基板Wに対して半導体チップtを同時に実装する場合、一対の実装ツール8のうち、+X方向に位置する一方の実装ツール8は一方の基板Wに対して最初にm2の行のa1で示す列の位置に半導体チップtを実装し、他方の実装ツール8は他方の基板Wのm1の行のb1で示す列の位置に半導体チップtを実装する。   When the semiconductor chip t is simultaneously mounted on the two substrates W by the pair of mounting tools 8, one mounting tool 8 positioned in the + X direction among the pair of mounting tools 8 is the first on the one substrate W. The semiconductor chip t is mounted at the column position indicated by a1 in the m2 row, and the other mounting tool 8 mounts the semiconductor chip t at the column position indicated by b1 in the m1 row of the other substrate W.

m2,m1の行のa1、b1の列の位置に半導体チップtを実装し終わると、一対の基板Wは+X方向に列方向の間隔p2に対応する距離で搬送される。つまり、つぎに半導体チップtが実装される基板Wのa2、b2の列が受け渡し位置Hに位置決めされた一対の可動載置体12とY方向において対応する位置になるよう位置決めされる。   When the semiconductor chip t is completely mounted at the positions of the columns a1 and b1 in the rows m2 and m1, the pair of substrates W is transported in the + X direction at a distance corresponding to the column direction interval p2. That is, the a2 and b2 rows of the substrate W on which the semiconductor chip t is mounted next are positioned so as to correspond to the pair of movable mounting bodies 12 positioned at the transfer position H in the Y direction.

一方、一対の実装ツール8が受け渡し位置Hに位置決めされた可動載置体12から半導体チップtを取り出すと、一対の可動載置体12は供給位置Sに戻る。供給位置Sに戻った一対の可動載置体12には、移載機構17の吸着ノズル25a,25bによってウエハリング18aからピックアップされた新たな半導体チップtが供給される。そして、新たな半導体チップtが供給された一対の可動載置体12は上記受け渡し位置Hに戻って待機している。   On the other hand, when the semiconductor chip t is taken out from the movable mounting body 12 in which the pair of mounting tools 8 is positioned at the delivery position H, the pair of movable mounting bodies 12 returns to the supply position S. A new semiconductor chip t picked up from the wafer ring 18 a by the suction nozzles 25 a and 25 b of the transfer mechanism 17 is supplied to the pair of movable mounting bodies 12 returned to the supply position S. Then, the pair of movable mounting bodies 12 to which the new semiconductor chip t is supplied return to the delivery position H and stand by.

したがって、2枚の基板Wの各行の各列に半導体チップtを実装した一対の実装ツール8が実装位置Bから受け渡し位置Hに戻ると、そこには上面に新たな半導体チップtが載置された可動載置体12が待機しているから、実装ツール8はその半導体チップtを受け取って基板Wのm2の行のつぎの列と、m1の行のつぎの列に半導体チップtを実装することができる。   Therefore, when the pair of mounting tools 8 having the semiconductor chips t mounted on the columns of the two rows of the two substrates W return from the mounting position B to the delivery position H, a new semiconductor chip t is placed on the upper surface. Since the movable mounting body 12 is waiting, the mounting tool 8 receives the semiconductor chip t and mounts the semiconductor chip t in the next column of the m2 row and the next column of the m1 row of the substrate W. be able to.

このようにして、2枚の基板Wのm2の行のa1〜a12の列、及びm1の行のb1〜12の列に半導体チップtを順次実装したならば、一対の基板Wは−X方向に駆動されてX方向の元の位置(初期位置)に戻される。ついで、X方向の先端側に位置する一方の基板Wに対してはm4の行に対して半導体チップtを実装し、後方側の他方の基板Wに対してはm3の行に対して半導体チップtを実装する。   In this way, if the semiconductor chips t are sequentially mounted on the columns a1 to a12 of the m2 row and the columns b1 to 12 of the m1 row of the two substrates W, the pair of substrates W is in the −X direction. To return to the original position (initial position) in the X direction. Next, the semiconductor chip t is mounted on the m4 row for one substrate W located on the tip side in the X direction, and the semiconductor chip is mounted on the m3 row for the other substrate W on the rear side. Implement t.

各基板Wに対し、一対の実装ツール8によってそれぞれ2行ずつ半導体チップtを実装したならば、+X側に位置する先端側の基板Wを実装位置Bから送り出し、後方の基板Wを実装位置Bの送り出された先端側の基板Wの位置に位置決めする。さらに、実装位置Bに新たな基板Wを供給し、先端側の基板Wに対して所定の間隔で位置決めする。   If two rows of semiconductor chips t are mounted on each substrate W by the pair of mounting tools 8, the front-side substrate W positioned on the + X side is sent out from the mounting position B, and the rear substrate W is mounted on the mounting position B. Is positioned at the position of the substrate W on the leading end side. Further, a new substrate W is supplied to the mounting position B, and is positioned at a predetermined interval with respect to the tip side substrate W.

そして、先端側の基板Wに対しては上述したように一方の実装ツール8によってm2とm4の行に対して半導体チップtを実装し、後端側の基板Wに対してはm1とm3の行に対して半導体チップtを実装する。それによって、先端側の基板Wにはm1〜m4の4行に半導体チップtが実装されることになる。   Then, as described above, the semiconductor chip t is mounted on the m2 and m4 rows with respect to the substrate W on the front end side, and m1 and m3 are mounted on the substrate W on the rear end side. The semiconductor chip t is mounted on the row. As a result, the semiconductor chips t are mounted on the front-side substrate W in four rows m1 to m4.

基板Wに対して半導体チップtの実装を開始するときには、m1とm3の行に予め半導体チップtが実装された基板Wが先端側になるよう実装位置Bに供給しておく。それによって、最初に実装位置Bから送り出される先端側の基板Wにも半導体チップtがm1〜m4の4行に実装されることになる。   When mounting of the semiconductor chip t on the substrate W is started, the semiconductor chip t is supplied to the mounting position B so that the substrate W on which the semiconductor chip t is mounted in advance in the rows m1 and m3 is on the front end side. As a result, the semiconductor chips t are mounted on the four rows m1 to m4 on the front-side substrate W that is first sent out from the mounting position B.

なお、上記制御装置14は、リニアモータ15a,15bの他に、図3に示すようにX・Y駆動源4、第1のZ駆動源7、θ駆動源9、第2のZ駆動源21a、X・Y駆動源の駆動を制御するようになっている。   In addition to the linear motors 15a and 15b, the control device 14 includes an X / Y drive source 4, a first Z drive source 7, a θ drive source 9, and a second Z drive source 21a as shown in FIG. The driving of the X / Y driving source is controlled.

このような構成の実装装置によれば、搬送レール1の一側である、搬送レール1よりも−Y側にリニアガイド体11をX方向に沿って設け、このリニアガイド体11に、一対の移載機構17から半導体チップtが供給される供給位置Sと、半導体チップtを一対の実装ヘッド3の実装ツール8に受け渡す受け渡し位置Hとの間でX方向に沿って駆動される一対の可動載置体12を設けるようにした。   According to the mounting apparatus having such a configuration, the linear guide body 11 is provided along the X direction on the −Y side of the transport rail 1, which is one side of the transport rail 1. A pair of drives driven along the X direction between a supply position S where the semiconductor chip t is supplied from the transfer mechanism 17 and a delivery position H where the semiconductor chip t is delivered to the mounting tool 8 of the pair of mounting heads 3. The movable mounting body 12 was provided.

そのため、実装ツール8が受け渡し位置Hに位置決めされた一対の可動載置体12から半導体チップtを受け取り、その半導体チップtを基板Wに実装している間に、上記可動載置体12は供給位置Sに戻り、移載機構17から半導体チップtの供給を受けて受け渡し位置Hに移動し、実装ツール8が半導体チップtを基板Wに実装して供給位置Sに戻るのを待機することができる。   Therefore, while the mounting tool 8 receives the semiconductor chip t from the pair of movable mounting bodies 12 positioned at the transfer position H and the semiconductor chip t is mounted on the substrate W, the movable mounting body 12 is supplied. Returning to the position S, receiving the supply of the semiconductor chip t from the transfer mechanism 17 and moving to the transfer position H, waiting for the mounting tool 8 to mount the semiconductor chip t on the substrate W and return to the supply position S. it can.

とくに、粘着テープを加熱硬化させて半導体チップtを基板Wに実装する場合、そのテープが硬化するまでに所定の時間が必要となる。したがって、実装ツール8が一対の可動載置体12から半導体チップtを受け取ってから基板Wに実装し終わるまでに、一対の可動載置体12は供給位置Sに戻って新たな半導体チップtを受けて受け渡し位置Hに戻って待機することができる時間を有する。   In particular, when the adhesive tape is heated and cured to mount the semiconductor chip t on the substrate W, a predetermined time is required until the tape is cured. Accordingly, after the mounting tool 8 receives the semiconductor chip t from the pair of movable mounting bodies 12 and finishes mounting on the substrate W, the pair of movable mounting bodies 12 returns to the supply position S and receives a new semiconductor chip t. It has a time during which it can receive and return to the delivery position H and wait.

このように、ウエハリング18aから移載機構17によってピックアップされた半導体チップtを実装ツール8に直接受け渡さず、一対の可動載置体12に供給してから実装ツール8に受け渡すようにした。   As described above, the semiconductor chip t picked up by the transfer mechanism 17 from the wafer ring 18 a is not directly delivered to the mounting tool 8, but is supplied to the pair of movable mounting bodies 12 and then delivered to the mounting tool 8. .

そのため、実装ツール8による半導体チップtの基板Wへの実装と、移載機構17による半導体チップtのウエハリング18aから取り出し、及び取り出した後の受け渡し位置Hへの搬送を並列的に行なうことができる。その結果、これらの作業を直列的に行う場合に比べて半導体チップtを基板Wに実装するために要するタクトタイムを短縮することが可能となる。   Therefore, the mounting of the semiconductor chip t on the substrate W by the mounting tool 8, the removal of the semiconductor chip t from the wafer ring 18 a by the transfer mechanism 17, and the transport to the delivery position H after the removal are performed in parallel. it can. As a result, the tact time required for mounting the semiconductor chip t on the substrate W can be reduced as compared with the case where these operations are performed in series.

しかも、一対の可動載置体12は、移載機構17によって取り出された半導体チップtが供給される、一対の移載機構17の一対の吸着ノズル25a,25bと対応する間隔(図4(a)にDで示す)の供給位置Sと、供給位置Sで供給載置された半導体チップtを一対の実装ツール8に受け渡す、一対の実装ツール8と対応する間隔(図4(b)にPで示す)の受け渡し位置Hとの間で駆動されるようになっている。   In addition, the pair of movable mounting bodies 12 are provided at intervals corresponding to the pair of suction nozzles 25a and 25b of the pair of transfer mechanisms 17 to which the semiconductor chip t taken out by the transfer mechanism 17 is supplied (FIG. 4A). ) And the semiconductor chip t supplied and placed at the supply position S to the pair of mounting tools 8 (see FIG. 4B). And a delivery position H (denoted by P).

そのため、実装ツール8は上記受け渡し位置Hと、この受け渡し位置HとY方向において対応する実装位置Bとの間をY方向に移動するだけで、実装位置Bに位置決めされた基板Wに半導体チップtを実装することができる。   Therefore, the mounting tool 8 only moves in the Y direction between the transfer position H and the corresponding mounting position B in the Y direction, and the semiconductor chip t is placed on the substrate W positioned at the mounting position B. Can be implemented.

すなわち、実装ツール8は、X方向に移動せずにY方向にわずかに移動するだけで半導体チップtを基板Wに実装できるので、実装ヘッド8の移動に伴う複雑な振動が発生することがない。それによって、実装ヘッド8の移動に伴う振動が減衰するまで半導体チップtの供給位置Sからの取り出しや基板Wへの実装を待つ必要がないから、そのことによってもタクトタイムの短縮や実装精度の向上を図ることができる。   That is, the mounting tool 8 can mount the semiconductor chip t on the substrate W only by moving slightly in the Y direction without moving in the X direction, so that no complicated vibration is generated due to the movement of the mounting head 8. . Accordingly, there is no need to wait for the semiconductor chip t to be taken out from the supply position S or mounted on the substrate W until the vibration associated with the movement of the mounting head 8 is attenuated. Improvements can be made.

しかも、一対の可動載置体12は搬送レール1の側方に配置されたリニアガイド体11に設けられているから、上記実装ツール8は受け渡し位置Hと実装位置Bとの間でY方向に対してほとんど移動せずにすむ。
したがって、実装ツール8のX方向とY方向の移動距離が少ないことによっても、実装時のタクトタイムを短縮することが可能となる。
Moreover, since the pair of movable mounting bodies 12 are provided on the linear guide body 11 disposed on the side of the transport rail 1, the mounting tool 8 is moved between the delivery position H and the mounting position B in the Y direction. In contrast, there is almost no movement.
Therefore, the tact time at the time of mounting can be shortened even when the moving distance of the mounting tool 8 in the X direction and the Y direction is small.

基板Wに対する半導体チップtの実装は、一対の実装ツール8によって同時に行うようにしている。そのため、1枚の基板Wに対して1つの実装ツール8によって半導体チップtを1つずつ実装する場合に比べて約2倍の速度で実装することが可能となる。   The mounting of the semiconductor chip t on the substrate W is performed simultaneously by the pair of mounting tools 8. Therefore, it is possible to mount the semiconductor chip t on a single substrate W at a speed approximately twice that in the case where the semiconductor chips t are mounted one by one with the single mounting tool 8.

しかも、半導体チップtを一対の実装ツール8によって2枚の基板Wに対して別々に実装するため、一対の実装ツール8の間隔を、2枚の基板WのX方向に沿うピッチPに応じて大きくすることができる。   In addition, since the semiconductor chip t is separately mounted on the two substrates W by the pair of mounting tools 8, the distance between the pair of mounting tools 8 depends on the pitch P along the X direction of the two substrates W. Can be bigger.

そのため、一対の実装ツール8によって半導体チップtを同時に実装するようにしても、実装ツール8が設けられた一対の実装ヘッド3が互いに干渉し合うのを防止することができる。   Therefore, even if the semiconductor chip t is simultaneously mounted by the pair of mounting tools 8, the pair of mounting heads 3 provided with the mounting tool 8 can be prevented from interfering with each other.

また、基板Wの長さ寸法が短くなって2枚の基板WのピッチPが小さくなった場合には、一対の可動載置体12の受け渡し位置HもピッチPに応じて設定される。その場合、受け渡し位置Hに位置決めされる、一対の可動載置体12の間隔も小さくなるから、供給位置Sで可動載置体12に供給された半導体チップtを実装ツール8に供給するまでの時間も短縮される。この場合、一対の第2の撮像カメラ27の間隔も一対の基板Wの間隔と同じに設定位置決めされる。   When the length dimension of the substrate W is shortened and the pitch P between the two substrates W is decreased, the delivery position H of the pair of movable mounting bodies 12 is also set according to the pitch P. In that case, since the distance between the pair of movable mounting bodies 12 positioned at the delivery position H is also reduced, the semiconductor chip t supplied to the movable mounting body 12 at the supply position S is supplied to the mounting tool 8. Time is also shortened. In this case, the distance between the pair of second imaging cameras 27 is set and positioned to be the same as the distance between the pair of substrates W.

なお、この上記実施の形態では基板に半導体チップを実装するときに搬送方向先端側に位置する基板に対してm2行を実装した後、基板を−X方向に戻してm4行に半導体チップを実装するようにした。   In this embodiment, when the semiconductor chip is mounted on the substrate, m2 rows are mounted on the substrate located on the front side in the transport direction, and then the substrate is returned to the −X direction to mount the semiconductor chips on the m4 row. I tried to do it.

それに代わって、m2行のa1、m4行のa1で半導体チップを実装したならば、m2行のa2、m4行のa2の順に半導体チップを実装するようにしてもよい。この場合、先頭の基板よりも−X側に2枚目の基板に対しても、同様にして半導体チップを実装するようにする。   Instead, if the semiconductor chips are mounted at a1 of m2 rows and a1 of m4 rows, the semiconductor chips may be mounted in the order of a2 of m2 rows and a2 of m4 rows. In this case, the semiconductor chip is similarly mounted on the second substrate on the −X side from the top substrate.

この発明の一実施の形態の実装装置の概略的構成を示す平面図。The top view which shows schematic structure of the mounting apparatus of one embodiment of this invention. 図1に示す実装装置の概略的構成を示す正面図。The front view which shows schematic structure of the mounting apparatus shown in FIG. 制御系とのブロック図。The block diagram with a control system. (a)は一対の可動載置体がリニアガイド体の供給位置に位置決めされたときの説明図、(b)は一対の可動載置体がリニアガイド体の受け渡し位置に位置決めされたときの説明図。(A) is explanatory drawing when a pair of movable mounting body is positioned in the supply position of a linear guide body, (b) is description when a pair of movable mounting body is positioned in the delivery position of a linear guide body. Figure. 2枚の基板に対して一対の実装ツールによって半導体チップを実装するときの説明図。Explanatory drawing when mounting a semiconductor chip with a pair of mounting tool with respect to two board | substrates.

符号の説明Explanation of symbols

1…搬送レール(搬送手段)、2…チャック(搬送手段)、3…実装ヘッド、8…実装ツール、11…リニアガイド体、12…可動載置体、17…移載機構(移載手段)、18…供給部、18a…ウエハリング、20…第1の撮像カメラ、25a,25b…吸着ノズル、27…第2の撮像カメラ(撮像手段)、B…実装位置、S…供給位置、H…受け渡し位置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Conveyance rail (conveyance means), 2 ... Chuck (conveyance means), 3 ... Mounting head, 8 ... Mounting tool, 11 ... Linear guide body, 12 ... Movable mounting body, 17 ... Transfer mechanism (transfer means) , 18 ... supply section, 18a ... wafer ring, 20 ... first imaging camera, 25a, 25b ... suction nozzle, 27 ... second imaging camera (imaging means), B ... mounting position, S ... supply position, H ... Delivery position.

Claims (5)

基板に電子部品を実装する実装装置であって、
基板を搬送して実装位置に位置決めする搬送手段と、
この搬送手段の上方に水平方向及び上下方向に駆動可能に設けられた一対の実装ツールと、
上記搬送手段の一側に上記基板の搬送方向に沿って駆動可能に設けられ上記電子部品が供給載置される供給位置とこの供給位置で載置された電子部品を上記実装ツールに受け渡す受け渡し位置との間で往復駆動される一対の可動載置体と、
この可動載置体が上記受け渡し位置に位置決めされたときに、この可動載置体に載置された電子部品をそれぞれ撮像する一対の撮像手段と、
この撮像手段の撮像に基いて一対の上記実装ツールを一対の上記可動載置体に載置された電子部品の上方に位置決めしてから、下降方向に駆動して一対の上記可動載置体から電子部品を取り出させ、上記実装位置に位置決めされた上記基板に対してそれぞれ実装させる制御手段と
を具備したことを特徴とする電子部品の実装装置。
A mounting device for mounting electronic components on a substrate,
Conveying means for conveying a substrate and positioning it at a mounting position;
A pair of mounting tools provided so as to be able to be driven in the horizontal and vertical directions above the conveying means;
A supply position provided on one side of the transfer means so as to be drivable along the transfer direction of the substrate, and the electronic component mounted and supplied to the mounting tool. A pair of movable platforms that are driven back and forth between positions;
A pair of imaging means for imaging each of the electronic components placed on the movable placement body when the movable placement body is positioned at the delivery position;
Based on the imaging of the imaging means, the pair of mounting tools are positioned above the electronic components mounted on the pair of movable mounting bodies, and then driven in the downward direction from the pair of movable mounting bodies. An electronic component mounting apparatus comprising: control means for taking out the electronic component and mounting the electronic component on the substrate positioned at the mounting position.
上記電子部品の供給部と、この供給部から電子部品を取り出して上記供給位置に位置決めされた一対の上記可動載置体に上記電子部品を供給載置する一対の移載手段を備えていることを特徴とする請求項1記載の電子部品の実装装置。   The electronic component supply unit, and a pair of transfer means for supplying and mounting the electronic component on the pair of movable mounting bodies that are taken out from the supply unit and positioned at the supply position. The electronic component mounting apparatus according to claim 1. 一対の上記可動載置体は、上記電子部品が供給載置される供給位置では所定の間隔で離間して位置決めされ、この供給位置から互いに離反する方向に駆動されて上記電子部品を上記実装ツールに受け渡す受け渡し位置に位置決めされることを特徴とする請求項1記載の電子部品の実装装置。   The pair of movable mounting bodies are positioned at a predetermined interval at a supply position where the electronic component is supplied and mounted, and are driven away from the supply position to place the electronic component on the mounting tool. 2. The electronic component mounting apparatus according to claim 1, wherein the electronic component mounting apparatus is positioned at a delivery position. 基板に電子部品を実装する実装方法であって、
基板を搬送して上記電子部品が実装される実装位置に位置決めする工程と、
上記電子部品が供給される供給位置とこの供給位置よりも大きな間隔で離間する受け渡し位置との間で駆動される一対の可動載置体を有し、上記供給位置に位置決めされた一対の上記可動載置体に電子部品を供給する工程と、
電子部品が供給された一対の可動載置体を上記受け渡し位置に位置決めする工程と、
上記受け渡し位置で可動載置体に載置された電子部品を撮像してその位置認識を行う工程と、
上記電子部品の位置認識に基いて一対の実装ツールによって一対の上記可動載置体から電子部品を受け取って上記基板に実装する工程と
を具備したことを特徴とする電子部品の実装方法。
A mounting method for mounting electronic components on a substrate,
A step of conveying the substrate and positioning the mounting position where the electronic component is mounted;
A pair of movable mounting bodies that are driven between a supply position to which the electronic component is supplied and a delivery position that is spaced apart from the supply position by a larger distance, and that are positioned at the supply position. Supplying electronic components to the mounting body;
Positioning a pair of movable mounting bodies supplied with electronic components at the delivery position;
Imaging the electronic component placed on the movable placing body at the delivery position and recognizing its position;
A step of receiving an electronic component from a pair of movable mounting bodies by a pair of mounting tools based on the position recognition of the electronic component and mounting the electronic component on the substrate.
一対の実装ヘッドによって上記電子部品をそれぞれ別の基板に対して同時に実装することを特徴とする請求項4記載の電子部品の実装方法。   5. The electronic component mounting method according to claim 4, wherein the electronic components are simultaneously mounted on different substrates by a pair of mounting heads.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US9721819B2 (en) 2015-08-31 2017-08-01 Besi Switzerland Ag Method for mounting semiconductors provided with bumps on substrate locations of a substrate
KR20180081772A (en) 2016-02-01 2018-07-17 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 Mounting device and mounting method of electronic parts, and manufacturing method of package parts
KR20190013670A (en) 2017-08-01 2019-02-11 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 Electronic component mounting device and mounting method, and method for manufacturing package component

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001060795A (en) * 1999-08-20 2001-03-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic parts mounting device
JP2004179523A (en) * 2002-11-28 2004-06-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic-component mounting apparatus
WO2007072714A1 (en) * 2005-12-22 2007-06-28 Shibaura Mechatronics Corporation Apparatus and method for mounting electronic component

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001060795A (en) * 1999-08-20 2001-03-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic parts mounting device
JP2004179523A (en) * 2002-11-28 2004-06-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic-component mounting apparatus
WO2007072714A1 (en) * 2005-12-22 2007-06-28 Shibaura Mechatronics Corporation Apparatus and method for mounting electronic component

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH711536A1 (en) * 2015-08-31 2017-03-15 Besi Switzerland Ag <TITLE> Method for the assembly of bumped semiconductor chips on substrate locations of a substrate.
US9721819B2 (en) 2015-08-31 2017-08-01 Besi Switzerland Ag Method for mounting semiconductors provided with bumps on substrate locations of a substrate
KR20180081772A (en) 2016-02-01 2018-07-17 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 Mounting device and mounting method of electronic parts, and manufacturing method of package parts
KR20190099355A (en) 2016-02-01 2019-08-26 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 Electronic component mounting device and mounting method, and method for manufacturing package component
KR20190013670A (en) 2017-08-01 2019-02-11 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 Electronic component mounting device and mounting method, and method for manufacturing package component

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