JP2007240260A - 光量検出回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、受光素子に入射した光量の検出を高精度で行なう光量検出回路を提供することにある。
【解決手段】受光素子1のカソードをオペアンプ6の非反転入力端子に接続し、アノードを反転入力端子に接続すると共に、抵抗素子4を介して接地する。オペアンプ6の出力端子はPNPトランジスタ2、3の夫々のベースに接続し、PNPトランジスタ2のコレクタはオペアンプ6の非反転入力端子に接続し、PNPトランジスタ2のエミッタのN倍の面積のエミッタを有するPNPトランジスタ3のコレクタはオペアンプ6の反転入力端子に接続すると共に、ボルテージフォロワ構成のオペアンプ5の非反転入力端子に接続する。そのため、オペアンプ6はPNPトランジスタ2による正帰還ループとPNPトランジスタ3による負帰還ループの両帰還ループを有する回路構成となっている。
【選択図】図1

Description

本発明は、光量検出回路に関するものであり、詳しくは、受光素子に入射した光を電流に変換し、該電流を増幅して前記受光素子に入射した光量を検出する光量検出回路に関する。
従来、この種の光量検出回路には以下に述べるようなものが提案されており、例えば、図7に示すような検出回路もその一つである(オペアンプは理想オペアンプを想定する)。図7より、受光素子50に光が入射すると入射光量に応じた電流I1が受光素子50を介して抵抗素子51に流れる。
第一ステージに示すような負帰還回路を構成するオペアンプ52の反転入力端子と非反転入力端子は同電位であることから、非反転入力電位が0Vであるために反転入力電位も0Vとなる。このとき、抵抗素子51には電流I1が流れており、抵抗素子51の抵抗値をR51とするとオペアンプ52の出力端子OUT1の電位はI1×R51となる。
そこで、抵抗素子51の抵抗値R51を大きくすることによってオペアンプ52の増幅度を上げることが可能であるが、プリント基板に実装した場合は基板の配線パターンの引き回しあるいは回路部品の配置によっては、電位差を有する配線パターン間にプリント基板、回路部品の絶縁材料や、その表面を介して漏洩電流が流れる可能性がある。
このような問題を回避するためには、プリント基板に実装する抵抗素子の抵抗値を極力1MΩ以下に設定することが必要であり、抵抗素子51の抵抗値R51も同様に1MΩ程度を上限とすることが望まれる。
従って、抵抗素子51の抵抗値R51を1MΩとしたときのオペアンプ52の増幅度よりも高い増幅度が求められる場合は、次段の第二ステージに示すような増幅度A2のオペアンプ53を設けることによってオペアンプ53の出力端子OUT2にはI1×R51×A2の電圧が出力されることになる。(例えば、特許文献1参照。)。
また、上記のような高抵抗値の抵抗素子を使用することなく高い増幅度を得る方法として、図8に示すような検出回路もある。図8はバイポーラトランジスタによるカレントミラー回路によって電流増幅を行なうものである。受光素子50に光が入射すると入射光量に応じた電流I2が受光素子50を介してトランジスタ60のコレクタに流れる。
このとき、トランジスタ61のエミッタがトランジスタ60のエミッタのN倍の面積であるとすると、トランジスタ61のコレクタおよび抵抗素子62にはI2×Nの電流が流れる。そこで、抵抗素子62の抵抗値をR62とすると、次段のボルテージフォロワ構成のオペアンプ63の出力端子OUT3にはI2×N×R62の電圧が出力されることになる(例えば、特許文献2参照。)。
特開昭61−81677号公報 特許第3444093号
ところで、図7の光量検出回路は、第一ステージのオペアンプ52の入力換算オフセット電圧をV1、第二ステージのオペアンプ53の入力換算オフセット電圧をV2、第二ステージのオペアンプ53の増幅度A2とすると、第二ステージのオペアンプ53の出力端子OUT2にはA2(V1+V2)のオフセット電圧が生じる。
このオフセット電圧は温度や時間等と共に不規則に変動するために、受光素子に入射した光が入射光量に応じて変換された微小電流を検出する際に、電流検出精度を低下させる可能性がある。
また、図8の光量検出回路は、受光素子50に印加される逆バイアス電圧V3が電源64の電源電圧に依存するため、電源電圧が高くなるに伴って逆バイアス電圧V3も高くなり、受光素子50の逆方向漏れ電流が増加する可能性がある。
更に、受光素子50に流れる電流I2が変化するとトランジスタ61のコレクタ電圧も変化する。すると、トランジスタ61のアーリー電圧が有限値であることから、トランジスタ61のコレクタ電圧が変化することによってコレクタ電流も変化する可能性がある。このこともまた、電流検出精度を低下させる要因となる。
そこで、本発明は上記問題に鑑みて創案なされたもので、その目的とするところは、受光素子に入射した光が入射光量に応じて変換された光電流を検出する際に、特に少ない入射光量に応じて変換された微小電流を検出する場合においては受光素子の暗電流(逆方向漏れ電流)の影響を回避し、且つ広範囲の入射光量に応じて変換された広範囲の電流を検出する場合においては広範囲の電流に亘って高精度の検出が可能となる光量検出回路を実現することにある。
また、微小電流の検出精度を高くすることによって、受光素子の受光面積を小さくすることが可能となり、受光素子の小型化およびコスト低減を図ることができるものである。
上記課題を解決するために、本発明の請求項1に記載された発明は、受光素子に入射した光を電流に変換し、該電流を増幅して前記受光素子に入射した光量を検出する光量検出回路であって、
反転入力端子と非反転入力端子の夫々に前記受光素子の電極の夫々を接続し、出力で駆動される第1のトランジスタおよび第2のトランジスタのいずれか一方を介して正帰還ループを構成し、他方を介して負帰還ループを構成してなるオペアンプと、
前記受光素子に直列に接続されて該受光素子への入射光量に応じて変換された光電流を電圧に変換する抵抗素子を備えたことを特徴とするものである。
また、本発明の請求項2に記載された発明は、請求項1において、前記第1のトランジスタおよび第2のトランジスタはいずれもバイポーラトランジスタであり、前記バイポーラトランジスタのエミッタ・コレクタ間電位が夫々前記抵抗素子に生じた電圧の変化に伴って変化することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項3に記載された発明は、請求項2において、前記バイポーラトランジスタのうちの一方のエミッタが他方のエミッタよりも面積が大きく、前記エミッタ面積が大きい方のバイポーラトランジスタから出力を取り出すよう構成されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項4に記載された発明は、請求項3において、前記バイポーラトランジスタの出力は少なくとも次段の増幅器の入力に接続されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項5に記載された発明は、請求項3または4のいずれか1項において、前記バイポーラトランジスタのベースに夫々のベースが接続された1個以上のバイポーラトランジスタが設けられ、該バイポーラトランジスタの夫々から出力を取り出すよう構成されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項6に記載された発明は、請求項1において、前記第1のトランジスタおよび第2のトランジスタはいずれもMOSトランジスタであり、前記MOSトランジスタのドレイン・ソース間電位が夫々前記抵抗素子に生じた電圧の変化に伴って変化することを特徴とするものである。
また、本発明の請求項7に記載された発明は、請求項6において、前記MOSトランジスタのうちの一方のソースが他方のソースよりも面積が大きく、前記ソース面積が大きい方のMOSトランジスタから出力を取り出すよう構成されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項8に記載された発明は、請求項7において、前記MOSトランジスタの出力は少なくとも次段の増幅器の入力に接続されていることを特徴とするものである。
また、本発明の請求項9に記載された発明は、請求項7または8のいずれか1項において、前記MOSトランジスタのゲートに夫々のゲートが接続された1個以上のMOSトランジスタが設けられ、該MOSトランジスタの夫々から出力を取り出すよう構成されていることを特徴とするものである。
本発明の光量検出回路は、反転入力端子と非反転入力端子の夫々に受光素子の電極の夫々を接続し、第1のトランジスタおよび第2のトランジスタのいずれか一方を介して正帰還ループを構成し、他方を介して負帰還ループを構成してなるオペアンプと、前記受光素子に直列に接続されて該受光素子への入射光量に応じて変換された光電流を電圧に変換する抵抗素子を備え、前記トランジスタのエミッタ・コレクタ間電位あるいはドレイン・ソース間電位が夫々前記抵抗素子に生じた電圧の変化に伴って変化するような構成となっている。
その結果、受光素子に入射した光が入射光量に応じて変換された光電流を検出する際に、特に少ない入射光量に応じて変換された微小電流を検出する場合においては受光素子の暗電流(逆方向漏れ電流)の影響を回避し、且つ広範囲の入射光量に応じて変換された広範囲の光電流を検出する場合においては広範囲の光電流に亘って高精度の検出が可能となった。
また、微小電流の検出精度を高くすることによって、受光素子の受光面積を小さくすることが可能となり、受光素子の小型化およびコスト低減を図ることができた。
受光光量の検出精度が高く、小型化およびコスト低減を図った光量検出回路提供するという目的を、反転入力端子と非反転入力端子の夫々に受光素子の電極の夫々を接続し、第1のトランジスタおよび第2のトランジスタのいずれか一方を介して正帰還ループを構成し、他方を介して負帰還ループを構成してなるオペアンプと、前記受光素子に直列に接続されて該受光素子への入射光量に応じて変換された光電流を電圧に変換する抵抗素子を備え、前記トランジスタのエミッタ・コレクタ間電位あるいはドレイン・ソース間電位が夫々前記抵抗素子に生じた電圧の変化に伴って変化するような構成とすることで実現した。
以下、この発明の好適な実施例を図1〜6を参照しながら、詳細に説明する(同一部分については同じ符号を付す)。尚、以下に述べる実施例は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの実施例に限られるものではない。
図1は本発明の光量検出回路に係わる実施例1の回路図である。本実施例の説明の前提として、オペアンプは理想オペアンプを想定し、トランジスタのベース電流は無視し得るものとする。
回路構成は図1より、受光素子1のカソードがオペアンプ6の非反転入力端子に接続され、受光素子1のアノードがオペアンプ6の反転入力端子に接続されると共に、抵抗素子4を介して接地されている。
オペアンプ6の出力端子は、夫々のエミッタを電源15の+側に接続されたPNPトランジスタ2およびPNPトランジスタ3のベースに接続されている。PNPトランジスタ2のコレクタはオペアンプ6の非反転入力端子に接続され、PNPトランジスタ2のエミッタのN倍の面積のエミッタを有するPNPトランジスタ3のコレクタはオペアンプ6の反転入力端子に接続されると共に、ボルテージフォロワ構成の増幅器となるオペアンプ5の非反転入力端子に接続されている。
そのため、オペアンプ6はPNPトランジスタ2による正帰還ループとPNPトランジスタ3による負帰還ループの両帰還ループを有する回路構成となっている。
次に、上記光量検出回路の動作、機能および効果等について説明する。受光素子1に入射した光の入射光量に応じて該受光素子1に流れる電流(光電流)I1はPNPトランジスタ2に流れる。このとき、PNPトランジスタ3のエミッタがPNPトランジスタ2のエミッタのN倍の面積であるとすると、PNPトランジスタ3のコレクタにはI2=I1×Nの電流が流れる。
すると、抵抗素子4にはI1+I2=(1+N)×I1の電流が流れる。そこで、抵抗素子4の抵抗値をR4とすると、次段のボルテージフォロワ構成のオペアンプ5の出力端子OUT5には(1+N)×I1×R4の電圧が出力される。
ところで、出力端子をPNPトランジスタ2およびPNPトランジスタ3に接続されたオペアンプ6は、正帰還ループおよび負帰還ループの両帰還ループを備えているが、受光素子1のインピーダンスが高いために正帰還の帰還量に比べて負帰還の帰還量の方が常に大きくなり、負帰還回路として働く。
すると、オペアンプ6の反転入力端子と非反転入力端子は同電位となることから、受光素子1の逆バイアス電圧も0Vとなり、受光素子1の暗電流の発生を回避することができる。
また、オペアンプ6の反転入力端子および非反転入力端子は夫々PNPトランジスタ3のコレクタおよびPNPトランジスタ2のコレクタに接続されており、よって両PNPトランジスタ3、2のコレクタも同電位となる。
従って、両PNPトランジスタ3、2のエミッタ・コレクタ間電圧が同電圧であるためにPNPトランジスタ3のコレクタ電流とPNPトランジスタ2のコレクタ電流の比はアーリー電圧の影響を受けることがなく、高精度な電流検出が可能となる。
また、オフセット電圧については、オペアンプ5の入力換算オフセット電圧をV5、第オペアンプ6の入力換算オフセット電圧をV6とすると、オペアンプ5の出力端子OUT5に出力されるオフセット電圧は(V5+V6)となり、図7に示す従来の光量検出回路よりも、オフセット電圧に関しても優れた特性を有するものである。
図2は本発明の光量検出回路に係わる実施例2の回路図である。本実施例は上記実施例1の光量検出回路のPNPトランジスタ2およびPNPトランジスタ3を夫々PMOSトランジスタ7およびPMOSトランジスタ8に置き換えたものであり、その他は実施例1と同様である。従って、回路に関する動作、機能および効果なども実施例1と基本的には同様である。但し、このとき、PMOSトランジスタ8のソースはPMOSトランジスタ7のソースのN倍の面積である。
図3は本発明の光量検出回路に係わる実施例3の回路図である。本実施例は上記実施例1の光量検出回路のPNPトランジスタ2およびPNPトランジスタ3を夫々NPNトランジスタ9およびNPNトランジスタ10に置き換えてエミッタ接地回路を構成したものであり、その他は実施例1と同様である。従って、回路に関する機能および効果なども実施例1と基本的には同様である。
図4は本発明の光量検出回路に係わる実施例4の回路図である。本実施例は上記実施例3の光量検出回路のNPNトランジスタ9およびNPNランジスタ10を夫々NMOSトランジスタ11およびNMOSトランジスタ12に置き換えたものであり、その他は実施例3と同様である。従って、回路に関する動作、機能および効果なども実施例1と基本的には同様である。但し、このとき、NPMOSトランジスタ12のソースはNMOSトランジスタ11のソースのN倍の面積である。
図5は本発明の光量検出回路に係わる実施例5の回路図である。本実施例は上記実施例1の光量検出回路のPNPトランジスタ2およびPNPトランジスタ3のベースに対して夫々のベースを接続した1個以上のPNPトランジスタからなるPNPトランジスタ群13を設けたものである。
この場合、PNPトランジスタ群13を構成する夫々のPNPトランジスタのコレクタを出力端子として他の機能回路に接続することによって、受光素子に入射した光量に対応する電流を他の機能回路で使用することが可能となる。この手法は上記実施例1〜実施例4の光量検出回路についても適用することができる。但し、トランジスタがMOSトランジスタの場合はゲートがベースに相当する。
図6は本発明の光量検出回路に係わる実施例6の回路図である。本実施例は上記実施例1の光量検出回路のボルテージフォロワ構成のオペアンプ5をオペアンプ14による増幅器に置き換えたものである。
この回路構成の光量検出回路と図7の従来の光量検出回路とを比較する。前提として、本実施例の光量検出回路(以下、本回路と略称する)の受光素子1と従来の光量検出回路(以下、従来回路と略称する)の受光素子50には夫々同等の光量が入射するものとし、本回路の出力端子OUT6と従来回路の出力端子OUT2には夫々同等の電圧が出力されるものとする。
すると、従来回路の第二ステージに入力される電圧の(1+N)倍が本回路の増幅器に入力されるため、本回路で従来回路と同等の出力電圧を確保するためには、本回路の増幅器の増幅度を従来回路の第二ステージの増幅度の1/(1+N)倍にすればよい。
そのため、本回路の出力オフセット電圧も従来回路の出力オフセット電圧の1/(1+N)倍となり、この点でも電流検出精度の高い回路構成ということができる。
本発明の光量検出回路に係わる実施例1の回路図である。 同じく、本発明の光量検出回路に係わる実施例2の回路図である。 同じく、本発明の光量検出回路に係わる実施例3の回路図である。 同じく、本発明の光量検出回路に係わる実施例4の回路図である。 同じく、本発明の光量検出回路に係わる実施例5の回路図である。 同じく、本発明の光量検出回路に係わる実施例6の回路図である。 従来の光量検出回路の回路図である。 同じく、従来の他の光量検出回路の回路図である。
符号の説明
1 受光素子
2 PNPトランジスタ
3 PNPトランジスタ
4 抵抗素子
5 オペアンプ
6 オペアンプ
7 PMOSトランジスタ
8 PMOSトランジスタ
9 NPNトランジスタ
10 NPNトランジスタ
11 NMOSトランジスタ
12 NMOSトランジスタ
13 PNPトランジスタ群
14 オペアンプ
15 電源

Claims (9)

  1. 受光素子に入射した光を電流に変換し、該電流を増幅して前記受光素子に入射した光量を検出する光量検出回路であって、
    反転入力端子と非反転入力端子の夫々に前記受光素子の電極の夫々を接続し、出力で駆動される第1のトランジスタおよび第2のトランジスタのいずれか一方を介して正帰還ループを構成し、他方を介して負帰還ループを構成してなるオペアンプと、
    前記受光素子に直列に接続されて該受光素子への入射光量に応じて変換された光電流を電圧に変換する抵抗素子を備えたことを特徴とする光量検出回路。
  2. 前記第1のトランジスタおよび第2のトランジスタはいずれもバイポーラトランジスタであり、前記バイポーラトランジスタのエミッタ・コレクタ間電位が夫々前記抵抗素子に生じた電圧の変化に伴って変化することを特徴とする請求項1に記載の光量検出回路。
  3. 前記バイポーラトランジスタのうちの一方のエミッタが他方のエミッタよりも面積が大きく、前記エミッタ面積が大きい方のバイポーラトランジスタから出力を取り出すよう構成されていることを特徴とする請求項2に記載の光量検出回路。
  4. 前記バイポーラトランジスタの出力は少なくとも次段の増幅器の入力に接続されていることを特徴とする請求項3に記載の光量検出回路。
  5. 前記バイポーラトランジスタのベースに夫々のベースが接続された1個以上のバイポーラトランジスタが設けられ、該バイポーラトランジスタの夫々から出力を取り出すよう構成されていることを特徴とする請求項3または4のいずれか1項に記載の光量検出回路。
  6. 前記第1のトランジスタおよび第2のトランジスタはいずれもMOSトランジスタであり、前記MOSトランジスタのドレイン・ソース間電位が夫々前記抵抗素子に生じた電圧の変化に伴って変化することを特徴とする請求項1に記載の光量検出回路。
  7. 前記MOSトランジスタのうちの一方のソースが他方のソースよりも面積が大きく、前記ソース面積が大きい方のMOSトランジスタから出力を取り出すよう構成されていることを特徴とする請求項6に記載の光量検出回路。
  8. 前記MOSトランジスタの出力は少なくとも次段の増幅器の入力に接続されていることを特徴とする請求項7に記載の光量検出回路。
  9. 前記MOSトランジスタのゲートに夫々のゲートが接続された1個以上のMOSトランジスタが設けられ、該MOSトランジスタの夫々から出力を取り出すよう構成されていることを特徴とする請求項7または8のいずれか1項に記載の光量検出回路。
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