JP2007235729A - パッケージ内異物検出装置および検出方法 - Google Patents
パッケージ内異物検出装置および検出方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007235729A JP2007235729A JP2006056552A JP2006056552A JP2007235729A JP 2007235729 A JP2007235729 A JP 2007235729A JP 2006056552 A JP2006056552 A JP 2006056552A JP 2006056552 A JP2006056552 A JP 2006056552A JP 2007235729 A JP2007235729 A JP 2007235729A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- crystal unit
- foreign matter
- crystal
- foreign
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
【解決手段】水晶振動子や発振器のパッケージ内の異物検出を、水晶振動子の場合はインピーダンス変化量、発振器の場合は発振出力信号の周波数シフト量の、素子の情報がモニタできる状態の測定治具が、X、Y軸を中心にランダムに回転されるように構成され、且つ、前記測定治具が温度/衝撃試験槽、振動/衝撃試験機やそれに類するものの中に、或いはそれらを複数組み合わせた装置の中に配置され、モニタ信号は振動子の電気的特性として抽出することが出来るように構成する。
【選択図】図1
Description
2 セラミックケース
3 リッド
4 接着剤
5 電極
6 パッケージ
7 異物
8 測定治具
9 測定機
Claims (5)
- 水晶振動子を内部に封止したパッケージを担持しつつ、X、Y軸を中心としてランダムに回転させる測定治具と、
前記水晶振動子からのモニタ信号の電気的特性を計測する計測手段と、
を有し、
前記測定治具の回転により前記パッケージ内部の、水晶振動子以外の場所に付着している異物が、各種衝撃により振るい落とされて水晶振動子本体上に付着した付着時の、水晶振動子の電気的特性の変化を前記計測手段により抽出することで、前記パッケージ内の異物を検出することを特徴とするパッケージ内異物検出装置。 - 前記測定治具は、パッケージ内に封止込められた異物を、回転、振動または衝撃の、少なくともいずれか1つ以上を与えることにより前記水晶振動子面に乗せるものであることを特徴とする請求項1に記載のパッケージ内異物検出装置。
- 前記測定治具は温度試験槽、熱衝撃試験槽、振動試験機、衝撃試験機、またはそれに類するものの中に、或いはそれらを複数組み合わせた装置の中に配置されるように構成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項2に記載のパッケージ内異物検出装置。
- 前記水晶振動子には、発振回路と共に前記パッケージ内部に封止されたものを含み、前記計測手段は、水晶振動子の場合はインピーダンス変化量、発振回路の場合は発振出力信号の周波数シフト量を、素子の情報としてモニターできる測定機であることを特徴とする請求項1乃至請求項3に記載のパッケージ内異物検出装置。
- 水晶振動子を内部に封止したパッケージを担持しつつ、X、Y軸を中心としてランダムに回転させる測定治具の回転により、前記パッケージ内部の、水晶振動子以外の場所に付着している異物を、各種衝撃により振るい落として水晶振動子本体上に付着させ、
前記水晶振動子からのモニタ信号の電気的特性を計測しつつ、前記異物が水晶振動子本体上に付着した付着時の、水晶振動子の電気的特性の変化を抽出することで、
前記パッケージ内の異物を検出することを特徴とするパッケージ内異物検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006056552A JP4752544B2 (ja) | 2006-03-02 | 2006-03-02 | パッケージ内異物検出装置および検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006056552A JP4752544B2 (ja) | 2006-03-02 | 2006-03-02 | パッケージ内異物検出装置および検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007235729A true JP2007235729A (ja) | 2007-09-13 |
JP4752544B2 JP4752544B2 (ja) | 2011-08-17 |
Family
ID=38555830
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006056552A Expired - Fee Related JP4752544B2 (ja) | 2006-03-02 | 2006-03-02 | パッケージ内異物検出装置および検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4752544B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016144048A (ja) * | 2015-02-02 | 2016-08-08 | 富士通株式会社 | 水晶振動子の検査方法 |
CN113937036A (zh) * | 2021-10-15 | 2022-01-14 | 安徽耐科装备科技股份有限公司 | 一种上料检测装置以及自动封装系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6131976A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の試験装置 |
JPH0468551A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Nec Corp | 半導体装置用パッケージ |
JP2005229338A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | Miyota Kk | 水晶振動子の封止製造方法 |
-
2006
- 2006-03-02 JP JP2006056552A patent/JP4752544B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6131976A (ja) * | 1984-07-24 | 1986-02-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置の試験装置 |
JPH0468551A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Nec Corp | 半導体装置用パッケージ |
JP2005229338A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | Miyota Kk | 水晶振動子の封止製造方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016144048A (ja) * | 2015-02-02 | 2016-08-08 | 富士通株式会社 | 水晶振動子の検査方法 |
CN113937036A (zh) * | 2021-10-15 | 2022-01-14 | 安徽耐科装备科技股份有限公司 | 一种上料检测装置以及自动封装系统 |
CN113937036B (zh) * | 2021-10-15 | 2022-05-31 | 安徽耐科装备科技股份有限公司 | 一种上料检测装置以及自动封装系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4752544B2 (ja) | 2011-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20240328850A1 (en) | Vibronic multisensor | |
US9933699B2 (en) | Pellicle aging estimation and particle removal from pellicle via acoustic waves | |
JP6524679B2 (ja) | 水晶振動子の検査方法 | |
JP2010232974A (ja) | 圧電発振器 | |
JP2007198744A (ja) | 圧電型加速度センサ | |
JP4752544B2 (ja) | パッケージ内異物検出装置および検出方法 | |
JP5742932B2 (ja) | 大気環境測定装置、大気環境測定方法及び大気環境測定システム | |
JP2009236596A (ja) | 振動センサ及び振動センサの状態判別方法 | |
CN101287977A (zh) | 振动梁传感器中的或者涉及振动梁传感器的改进 | |
US3928063A (en) | Method for cleaning a crystal microbalance | |
JP6528523B2 (ja) | 物理量センサー用回路、物理量センサー、及び物理量センサーの製造方法 | |
JPH10206273A (ja) | 角速度センサの気密性確認方法及び装置 | |
JP2016194467A (ja) | 物理量センサーの検査方法及び物理量センサーの製造方法 | |
JPH11287681A (ja) | 超音波流量計 | |
JP3549452B2 (ja) | 超音波洗浄装置 | |
JP3944644B2 (ja) | 質量測定チップの製造方法 | |
JP6267447B2 (ja) | 感知装置及び圧電センサ | |
JP3003550B2 (ja) | ウエーハ収納部材の清浄度測定・評価方法及びその装置 | |
KR100866932B1 (ko) | 초음파장치 모니터링 방법 | |
JP2791257B2 (ja) | 超音波洗浄の評価方法およびその装置 | |
JP6451367B2 (ja) | 水晶振動子 | |
JP4741311B2 (ja) | 微少質量測定用センサの表面処理方法 | |
WO2008019396A2 (en) | Apparatus and method of measuring acoustical energy applied to a substrate | |
JP2006266947A (ja) | 溶液中の異物の検出方法及び溶液の濃度の測定方法 | |
JP4816915B2 (ja) | 弾性表面波素子の表面洗浄方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080704 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110208 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110408 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110426 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110509 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140603 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4752544 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |