JP2007205902A - 光検知回路、電気光学装置および電子機器 - Google Patents

光検知回路、電気光学装置および電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】環境光が弱い場合や、回路が高温になった場合でも、環境光を検知できる光検知回路を提供すること。
【解決手段】光検知回路60は、受光して電力を発生させる光電変換回路70と、光電変換回路からの出力が所定の閾値を超えると、光を検知したと判定する判定回路80と、を備える。判定回路80は、光電変換回路70からの出力の初期値と閾値との差分を調整するシフト電圧生成回路85を備える。光検知回路60によれば、環境光が弱かったり、回路が高温になったりして、光電変換回路70の出力が小さくなっても、シフト電圧生成回路85により、光電変換回路70からの出力の初期値と閾値との差分を小さく設定することで、環境光を確実に検知できる。
【選択図】図2

Description

本発明は、光検知回路、この光検知回路を備えた電気光学装置、および電子機器に関する。
従来より、液晶表示装置等の電気光学装置が知られている。この電気光学装置は、例えば、第1の基板と、この第1の基板に対向して設けられた第2の基板と、第1の基板と第2の基板との間に設けられた液晶と、第1の基板の第2の基板とは反対側に設けられたバックライトと、を備える。
第1の基板は、複数の走査線、複数のデータ線、ならびに、走査線およびデータ線の交差に対応して設けられた複数の画素回路を有する。また、第2の基板の第1の基板側には、共通電極が設けられている。これら走査線、データ線、画素回路、および共通電極は、制御回路に接続されている。
ところで、近年、携帯電話などの電気光学装置では、例えば待受時間を長くするため、さらなる低消費電力化が要請されている。
そこで、例えば、太陽光を含む環境光の強度を光センサで検出し、この検出した環境光の強度に応じてバックライトの出力を制御する電気光学装置が知られている(特許文献1参照)。
このような電気光学装置の光センサは、例えば、以下のような構成である。
図8は、従来例に係る光センサ160の回路図である。
光センサ160は、受光して電力を発生させる光電変換回路170と、この光電変換回路170からの出力が所定期間の間に所定の閾値を超えると、光を検知したと判定する判定回路180と、を備える。
光電変換回路170は、環境光やバックライト光が照射される第1のフォトダイオード171、および、環境光のみが遮断された第2のフォトダイオード172を備え、第1のフォトダイオード171に流れる電流と第2のフォトダイオード172に流れる電流との差分を出力する。
第1のフォトダイオード171に流れる電流は、環境光のほか、バックライト光やフォトダイオード自体の温度によっても変化する。一方、第2のフォトダイオード172に流れる電流は、環境光が遮断されているため、バックライト光やフォトダイオード自体の温度などの環境光以外の要因によって変化する。
したがって、光電変換回路170は、バックライト光やフォトダイオード自体の温度特性などの影響を相殺して、電気光学装置に入射する環境光にのみ基づいて電流を出力する。
判定回路180は、コンデンサ181、ナンド回路182、および、バッファとしてのインバータ183を備える。
具体的には、ナンド回路182の入力端は、光電変換回路170の出力端に接続される。インバータ183の入力端は、ナンド回路182の出力端に接続される。コンデンサ181の一方の電極は接地され、他方の電極は、ナンド回路182の入力端に接続される。
コンデンサ181は、光電変換回路170から出力される電流の積分値に比例する電圧を出力することで、光電変換回路170から出力される電流を電圧に変換する(以降、IV変換と呼ぶ)。これにより、検出信号SNSOを生成する。
ナンド回路182には、光電変換回路から出力されてIV変換された検出信号SNSOのほか、基準信号REFが入力される。ナンド回路182は、基準信号REFがHレベルである限り、検出信号SNSOを反転して出力する。一方、基準信号REFがLレベルになると、検出信号SNSOのレベルにかかわらず、Hレベルの信号を出力する。また、基準信号REFとして、クロック信号のように基準となる交流信号を入力する場合もある。
インバータ183は、ナンド回路182から出力された信号を反転して、光検知信号PSOとして出力する。
また、判定回路180には、リセット信号RESTが入力される。判定回路180は、リセット信号RESTがHレベルになると、回路状態を初期化する。
図9は、光センサ160のタイミングチャートである。図9において、実線は、環境光が弱い場合であり、2点鎖線は、環境光が強い場合である。
まず、環境光が弱い場合について説明する。なお、このタイミングチャートにおいて、基準信号REFは常にHレベルであるとする。
リセット信号をHレベルにして、判定回路180の回路状態を初期化する。すると、時刻t1より光電変換が開始され、検出信号SNSOの電圧が徐々に上昇する。なお、時刻t1の状態では、検出信号SNSOは閾値より低いため、光検知信号PSOは、Lレベルとなる。
時刻t3において、検出信号SNSOの電圧が閾値を越えると、光検知信号は、Hレベルとなる。
時刻t4において、リセット信号が再びHレベルになると、回路状態は初期化され、検出信号SNSOの電圧は急速に低下して、閾値よりも低くなる。そのため、光検知信号PSOも再びLレベルとなる。
次に、環境光が強い場合について説明する。なお、このタイミングチャートにおいて、基準信号REFは常にHレベルであるとする。
リセット信号RESTをHレベルにして、判定回路180の回路状態を初期化する。すると、時刻t1より光電変換が開始され、検出信号SNSOの電圧が徐々に上昇する。なお、時刻t1では、検出信号SNSOは閾値より低いため、光検知信号PSOは、Lレベルとなる。
時刻t2において、検出信号SNSOの電圧が閾値を越えると、光検知信号PSOは、Hレベルとなる。
時刻t4において、リセット信号RESTが再びHレベルになると、回路状態は初期化され、検出信号SNSOの電圧は急速に低下して、閾値よりも低くなる。そのため、光検知信号PSOも再びLレベルとなる。
つまり、光センサ160は、時刻t1から時刻t3までの所定時間Tの間に、検出信号SNSOが閾値を超えた場合に、光を検知したと判断して、光検知信号PSOをHレベルとする。
特開2005−121997号公報
しかしながら、フォトダイオードの温度が上昇したり、環境光が弱くなったりすると、第1のフォトダイオードの電流値と、第2のフォトダイオードの電流値との差分が小さくなる。したがって、光電変換回路170から出力される電流値が小さくなり、検出信号SNSOの増加率が低くなる。その結果、検出信号SNSOが所定時間Tの間に閾値を越えることができず、光検知信号はLレベルのままとなる。
図10は、光センサ160におけるディレイタイムの温度依存性を示す図である。
ディレイタイムとは、リセット信号RESTを判定回路180に入力して初期化してから、光検知信号PSOがHレベルになるまでの時間である。
図10には、環境光の照度が50lx、100lx、250lx、500lxである場合について示されている。
例えば、環境光が弱い場合(例えば、照度が50lx)には、検出信号SNSOの増加率が小さいためディレイタイムが長くなり、フォトダイオードの温度が僅かに上昇するだけで、環境光を検知できなくなる。また、環境光が強い場合(例えば、照度が500lx)でも、フォトダイオードが高温になると、環境光を検知できなくなる。
本発明は、環境光が弱い場合や、回路が高温になった場合でも、環境光を検知できる光検知回路、電気光学装置および電子機器を提供することを目的とする。
本発明の光検知回路は、光を検知する光検知回路であって、受光して電力を発生させる光電変換回路と、当該光電変換回路からの出力が所定の閾値を超えると、光を検知したと判定する判定回路と、を備え、前記判定回路は、前記光電変換回路からの出力の初期値と前記閾値との差分を調整するオフセット回路を備えることを特徴とする。
この発明によれば、光電変換回路からの出力の初期値と閾値との差分を調整するオフセット回路を判定回路に設けた。よって、環境光が弱かったり、回路が高温になったりして、光電変換回路の出力が小さくなっても、オフセット回路により、光電変換回路からの出力の初期値と閾値との差分を小さく設定することで、環境光を確実に検知できる。
上述の光検知回路では、前記オフセット回路は、高電位電源および低電位電源に接続された一対のスイッチング素子を備え、当該各スイッチング素子を導通状態または非導通状態とすることで、前記高電位電源および低電位電源に基づいてシフト電圧を生成し、前記光電変換回路の出力の初期値を前記シフト電圧分だけ前記閾値側にシフトさせることが好ましい。
この発明によれば、オフセット回路に一対のスイッチング素子を設け、この一対のスイッチング素子を用いてシフト電圧を生成し、光電変換回路からの出力の初期値をシフト電圧分だけ閾値側にシフトさせた。よって、一対のスイッチング素子を用いるだけで、容易にシフト電圧を生成できるから、製造コストを低減できる。
上述の光検知回路では、前記オフセット回路は、所定の範囲内で電圧を生成する電源回路であり、前記判定回路の負電源として前記閾値を変動させることが好ましい。
この発明によれば、オフセット回路を所定の範囲内で電圧を生成する電源回路とし、判定回路の負電源として前記閾値を変動させた。よって、生成する電圧を所定の範囲内で調整することで、判定回路の閾値を自在に調整できる。
上述の光検知回路では、前記判定回路は、光を検知したと判定した場合に、当該判定結果を保持するラッチ回路を備えることが好ましい。
この発明によれば、判定回路にラッチ回路を設けた。よって、光電変換回路の出力が閾値近傍でチャタリングしても、一旦、光を検知したと判定すれば、この判定結果を保持するから、光検知回路の動作が不安定になるのを防止できる。
上述の光検知回路では、前記光電変換回路は、環境光を含む光が照射される第1の光電変換素子と、環境光のみが遮断された第2の光電変換素子と、を有し、前記第1の光電変換素子で発生した電力と前記第2の光電変換素子で発生した電力との差分を出力することが好ましい。
この発明によれば、光電変換回路を第1の光電変換素子および第2の光電変換素子で構成し、第1の光電変換素子で発生した電力と第2の光電変換素子で発生した電力との差分を出力したので、環境光以外の光や光電変換素子の温度特性などの影響を相殺して、光検知回路に入射する環境光のみを検知できる。
本発明の電気光学装置は、電気光学パネルと、当該電気光学パネルに光を供給する光源と、を備える電気光学装置であって、前記電気光学パネルは、上述の光検知回路と、当該光検知回路の出力信号に基づいて前記光源の光量を制御する制御回路と、を備えることを特徴とする。
本発明の電子機器は、上述の電気光学装置を備えることを特徴とする。
<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係る電気光学装置1の構成を示すブロック図である。
電気光学装置1は、液晶パネルAAと、この液晶パネルAAを駆動する外部駆動回路90と、光源としてのバックライト31と、を備える。
液晶パネルAAは、複数の画素50を有する表示領域Aと、この表示領域Aの周辺に設けられて画素50を駆動する走査線駆動回路11およびデータ線駆動回路21と、を備える。また、データ線駆動回路21の近傍には、液晶パネルAAと外部駆動回路90とのインターフェイスである実装部品32、および、光を検知する光検知回路としての光センサ60が設けられている。
バックライト31は、液晶パネルAAの裏面に設けられ、例えば、冷陰極蛍光管(CCFL)やLED(発光ダイオード)で構成されて、液晶パネルAAの画素50に光を照射する。
外部駆動回路90は、液晶パネルAAに電源を供給する電源回路91と、液晶パネルAAに画像信号を供給する画像処理回路92と、この画像処理回路92や液晶パネルAAにクロック信号やスタート信号を出力するタイミング発生回路93と、バックライト31を制御するバックライト制御回路94と、を備える。
電源回路91は、駆動信号を液晶パネルAAに供給し、走査線駆動回路11やデータ線駆動回路21などを駆動する。
画像処理回路92は、入力画像データに液晶パネルAAの光透過特性を考慮したγ補正を施した後、各色の画像データをD/A変換して画像信号を生成し、この画像信号を液晶パネルAAに供給する。
タイミング発生回路93は、画像処理回路92に入力される入力画像データに同期して、クロック信号やスタート信号を生成し、液晶パネルAA上の走査線駆動回路11やデータ線駆動回路21に供給する。さらに、タイミング発生回路93は、各種のタイミング信号を生成して、画像処理回路92に出力する。
バックライト制御回路94は、光センサ60からの光検知信号に基づいて、輝度を制御する信号をバックライト31に出力することで、バックライト31の光量を制御する。具体的には、バックライト制御回路94は、リセット信号を光センサ60に入力して初期化してから光検知信号がHレベルになるまでの時間、つまりディレイタイムを計測し、このディレイタイムが短い場合には、環境光が強いと判断して、バックライト31の光量を多くする。一方、ディレイタイムが長い場合には、環境光が弱いと判断して、バックライト31の光量を少なくする。
以下、液晶パネルAAの構成について詳述する。
液晶パネルAAは、複数の走査線10およびコモン線30と、これら走査線10およびコモン線30に交差し所定間隔おきに設けられた複数のデータ線20と、を備え、画素50は、各走査線10および各コモン線30と各データ線20との交差部に設けられる。
画素50は、画素トランジスタ51、画素電極55、この画素電極55に対向する共通電極56、および、一端が画素電極55に電気的に接続され他端がコモン線30に電気的に接続された蓄積容量53で構成される。
画素トランジスタ51のゲート電極には、走査線10が接続され、画素トランジスタ51のソース電極には、データ線20が接続され、画素トランジスタ51のドレイン電極には、画素電極55および蓄積容量53が接続されている。画素電極55と共通電極56との間には、液晶が挟持される。したがって、この画素トランジスタ51は、走査線10から選択電圧が印加されると、データ線20と画素電極55および蓄積容量53とを導通状態とする。
走査線駆動回路11は、画素トランジスタ51を導通状態にする選択電圧を各走査線10に線順次で供給する。例えば、ある走査線10に選択電圧が供給されると、この走査線10に接続された画素トランジスタ51が全て導通状態になり、この走査線10に係る画素50が全て選択される。
データ線駆動回路21は、画像信号を各データ線20に供給し、オン状態の画素トランジスタ51を介して、画素50の画素電極55に画像データを順次書き込む。
以上の電気光学装置1は、以下のように動作する。
すなわち、走査線駆動回路11から選択電圧を線順次で供給することで、ある走査線10に係る画素50を全て選択する。そして、これら画素50の選択に同期して、データ線駆動回路21からデータ線20に画像信号を供給する。これにより、走査線駆動回路11およびデータ線駆動回路21で選択した全ての画素50に、データ線20から画素トランジスタ51を介して画像信号が供給されて、画像データが画素電極55に書き込まれる。
画素50の画素電極55に画像データが書き込まれると、この画素電極55と共通電極56との電位差により、液晶に駆動電圧が印加される。したがって、画像信号の電圧を変化させることで、液晶の配向や秩序を変化させて、各画素50の光変調による階調表示を行う。
なお、液晶に印加される駆動電圧は、蓄積容量53により、画像データが書き込まれる期間よりも3桁も長い期間に亘って保持される。
図2は、光センサ60の構成を示す回路図である。
光センサ60は、受光して電力を発生させる光電変換回路70と、この光電変換回路70からの出力が所定期間の間に所定の閾値を超えると、光を検知したと判定する判定回路80と、を備える。
光電変換回路70は、電気光学装置1の入射光である環境光や、バックライト光が照射される光電変換素子としての第1のフォトダイオード71、および、環境光のみが遮断された光電変換素子としての第2のフォトダイオード72を備え、第1のフォトダイオード71で発生した電流と第2のフォトダイオード72で発生した電流との差分を出力する。
具体的には、第1のフォトダイオード71の出力端は、高電位電源VHHに接続され、入力端は、第2のフォトダイオード72の出力端に接続される。第2のフォトダイオード72の入力端は、低電位電源VLLに接続される。これにより、第1のフォトダイオード71および第2のフォトダイオード72には、逆バイアス電圧が印加されている。
第1のフォトダイオード71で発生する電流は、環境光のほか、バックライト光やフォトダイオード自体の温度によっても変化する。一方、第2のフォトダイオード72で発生する電流は、環境光が遮断されているため、バックライト光やフォトダイオード自体の温度などの環境光以外の要因によって変化する。
したがって、光電変換回路70は、第1のフォトダイオード71で発生する電流と第2のフォトダイオード72で発生する電流との差分をとることで、バックライト光やフォトダイオードの温度などの影響を相殺して、電気光学装置1に入射する環境光にのみ基づいて電流を出力する。
判定回路80は、コンデンサ81、クロックドインバータ82、接点P1、P2を有するラッチ回路83、バッファとしてのインバータ84、および、接点P3を有するオフセット回路としてのシフト電圧生成回路85を備え、さらに、リセット回路86を備える。
コンデンサ81の一方の電極は、クロックドインバータ82の入力端に接続され、他方の電極は、シフト電圧生成回路85の接点P3に接続される。
クロックドインバータ82の入力端は、光電変換回路70の出力端に接続され、出力端は、ラッチ回路83の接点P1に接続される。また、クロックドインバータ82の一方の制御端子は、クロックドインバータ82の出力端に接続され、他方の制御端子は、ラッチ回路83の接点P2に接続される。
ラッチ回路83は、第1のインバータ831および第2のインバータ832で構成される。第1のインバータ831の出力端および第2のインバータ832の入力端は、接点P1に接続される。第1のインバータ831の入力端および第2のインバータ832の出力端は、接点P2に接続される。
インバータ84の入力端は、ラッチ回路83の接点P1に接続される。
シフト電圧生成回路85は、スイッチング素子としてのpMOS851およびnMOS852が直列に接続されたCMOS形である。具体的には、pMOS851およびnMOS852のゲートは接点P3に接続され、pMOS851およびnMOS852のドレインも接点P3に接続されている。また、pMOS851のソースは、高電位電源VHHに接続され、nMOS852のソースは、低電位電源VSSに接続される。
リセット回路86は、2つのnMOS861とnMOS862とを備える。nMOS861およびnMOS862のゲートには、リセット信号RESTが入力される。nMOS861のゲートは、低電位電源VSSに接続され、ソースは、クロックドインバータの他方の制御端子に接続される。nMOS862のゲートは、シフト電圧生成回路85の接点P3に接続され、ソースは、クロックドインバータ82の入力端に接続される。
次に、判定回路80の動作について説明する。
コンデンサ81は、光電変換回路70から出力される電流の積分値に比例する電圧を出力することで、光電変換回路70から出力される電流を電圧に変換して、検出信号SNSOを出力する。
このとき、シフト電圧生成回路85は、検出信号SNSOの初期状態における電圧と、後述のクロックドインバータ82で決定される閾値Vthとの差分を調整する。
具体的には、シフト電圧生成回路85は、pMOS851が導通状態でありnMOS852が高インピーダンス状態である場合には、接点P3に高電位電源VHHが導入される。すると、pMOS851が高インピーダンス状態となりnMOS852が導通状態となり、接点P3に低電位電源VSSが導入される。よって、再び、pMOS851が導通状態となりnMOS852が高インピーダンス状態となる。
これにより、シフト電圧生成回路85は、pMOS851の特性およびnMOS852の特性に応じて、高電位電源VHHと低電位電源VSSとの中央値をシフト電圧VSとして出力し、検出信号SNSOの電圧をこのシフト電圧VS分だけ閾値Vth側すなわち高位側にシフトさせる。
クロックドインバータ82には、光電変換回路70から出力されてIV変換された検出信号SNSOが入力される。クロックドインバータ82は、導通状態では、検出信号SNSOを反転して出力する。一方、非導通状態では、高インピーダンス状態となる。
このクロックドインバータ82は、複数のMOSトランジスタを含んで構成され、入力される検出信号SNSOが、これらトランジスタの特性により決定される閾値Vthより高い場合に、Lレベルの信号を出力する。一方、入力される検出信号SNSOが閾値Vthより低い場合に、Hレベルの信号を出力する。
クロックドインバータ82から出力される信号がLレベルである場合、ラッチ回路83はこの信号をラッチして記憶する。つまり、ラッチ回路83は、クロックドインバータ82が光を検知したと判定した場合に、この判定結果を保持する。
すなわち、クロックドインバータ82からLレベルの信号が出力されると、このLレベルの信号はクロックドインバータ82の一方の制御端子に入力される。また、ラッチ回路83の接点P1がLレベルになるので、接点P2はHレベルとなり、クロックドインバータ82の他方の制御端子には、Hレベルの信号が入力される。よって、クロックドインバータ82は高インピーダンス状態となり、ラッチ回路83は、リセット信号RESTがHレベルになるまで、クロックドインバータ82から出力される信号を記憶する。
一方、クロックドインバータ82から出力される信号がHレベルである場合には、ラッチ回路83は、この信号をラッチしない。すなわち、クロックドインバータ82からHレベルの信号が出力されると、クロックドインバータ82の一方の制御端子には、Hレベルの信号が入力され、他方の制御端子には、Lレベルの信号が入力されるから、クロックドインバータ82は導通状態である。
インバータ84は、ラッチ回路83から出力された信号を反転して、光検知信号PSOとして出力する。
リセット回路86は、リセット信号RESTがHレベルになると、回路状態を初期化する。
すなわち、リセット信号RESTがHレベルである場合、nMOS861が導通状態になって、クロックドインバータ82の他方の制御端子には、低電位電源VSSが導入されて、クロックドインバータ82が導通状態となる。また、この場合、接点P2にも、低電位電源VSSが導入されて、ラッチ回路83に記憶された信号がリセットされる。
また、リセット信号RESTがHレベルである場合、nMOS862も導通状態となり、コンデンサ81の電極同士が短絡される。これにより、コンデンサ81に蓄えられた電荷が放出されて、検出信号SNSOが初期化される。
一方、リセット信号RESTがLレベルである場合には、nMOS861、862が高インピーダンス状態となり、コンデンサ81には、光電変換回路70から出力された電流がチャージされる。
図3は、光センサ60のタイミングチャートである。図3において実線は、環境光が弱い場合であり、2点鎖線は、環境光が強い場合である。
まず、環境光が弱い場合の光センサ60のタイミングチャートについて説明する。
リセット信号RESTをHレベルにして、判定回路80の回路状態を初期化する。すると、時刻t1より光電変換が開始され、検出信号SNSOの電圧が徐々に上昇する。ここで、検出信号SNSOの電圧はシフト電圧VS分だけ閾値Vth側すなわち高位側にシフトされている。時刻t1では、検出信号SNSOは閾値Vthより低いため、光検知信号PSOは、Lレベルとなる。時刻t3において、検出信号SNSOの電圧が閾値Vthを越えると、光検知信号PSOは、Hレベルとなる。
時刻t4において、リセット信号RESTが再びHレベルになると、回路状態は初期化され、検出信号SNSOの電圧は急速に低下して、閾値Vthよりも低くなる。そのため、光検知信号PSOも再びLレベルとなる。
次に、環境光が強い場合の光センサ60のタイミングチャートについて説明する。
リセット信号RESTをHレベルにして、判定回路80の回路状態を初期化する。すると、時刻t1より光電変換が開始され、検出信号SNSOの電圧が徐々に上昇する。なお、時刻t1では、検出信号SNSOの電圧はシフト電圧VS分だけ高位側にシフトされているが、このようにしても、検出信号SNSOは、閾値Vthより低いため、光検知信号PSOは、Lレベルとなる。
時刻t2において、検出信号SNSOの電圧が閾値Vthを越えると、光検知信号PSOは、Hレベルとなる。
時刻t4において、リセット信号RESTが再びHレベルになると、回路状態は初期化され、検出信号SNSOの電圧は急速に低下して、閾値Vthよりも低くなる。そのため、光検知信号PSOも再びLレベルとなる。
以上より、光センサ60は、時刻t1から時刻t3までの所定時間Tの間に、検出信号SNSOが閾値Vthを超えた場合にのみ光を検知したと判断して、光検知信号PSOをHレベルとする。
なお、判定回路80にラッチ回路83を設けた理由は、以下の通りである。
すなわち、ラッチ回路83を設けない場合、例えば、室温条件下では、光電変換回路70からの出力が十分に大きく、検出信号SNSOの増加率が大きいため、光検知信号PSOを安定して出力できる。
しかしながら、高温条件下や環境光が弱い場合には、光電変換回路70からの出力が小さく、検出信号SNSOの増加率が小さくなるため、クロックドインバータ82がオン/オフを繰り返し、光検知信号PSOの出力が不安定になるおそれがあるからである。
図4は、ラッチ回路83を設けない場合の光センサのタイミングチャートである。図4において実線は、環境光が弱い場合であり、2点鎖線は、環境光が強い場合である。
環境光が弱い場合、時刻t1より光電変換を開始すると、検出信号SNSOの電圧が徐々に上昇する。時刻t1では、検出信号SNSOは閾値Vthより低いため、光検知信号PSOは、Lレベルとなる。時刻t3において、検出信号SNSOの電圧が閾値Vthを越えると、光検知信号PSOは、Hレベルとなる。
しかしながら、環境光が弱い場合には、検出信号SNSOの増加率が低いため、回路状態によりクロックドインバータ82の閾値Vthが僅かに変動しても、検出信号SNSOが閾値Vthを超えたり超えなかったりしてしまう。その結果、時刻t3〜t4にかけて、光検知信号PSOがHレベルとLレベルとの間で変動し、チャタリングが生じるのである。
本実施形態によれば、以下のような効果がある。
(1)光電変換回路70から出力される検出信号SNSOの初期状態の電圧と、クロックドインバータ82で決定される閾値Vthとの差分を調整するシフト電圧生成回路85を判定回路80に設けた。よって、環境光が弱かったり、回路が高温になったりして、光電変換回路70の出力が小さくなっても、シフト電圧生成回路85により、検出信号SNSOの初期状態の電圧と閾値Vthとの差分を小さく設定することで、環境光を確実に検知できる。
(2)シフト電圧生成回路85に一対のMOSトランジスタ851、852を設け、これら一対のMOSトランジスタ851、852を用いてシフト電圧VSを生成し、光電変換回路70から出力される検出信号SNSOの初期値をシフト電圧VS分だけ閾値Vth側にシフトさせた。よって、一対のMOSトランジスタ851、852を用いるだけで、容易にシフト電圧VSを生成できるから、製造コストを低減できる。
(3)判定回路80にラッチ回路83を設けた。よって、光電変換回路70から出力される検出信号SNSOが閾値Vth近傍でチャタリングしても、一旦、光を検知したと判定すれば、この判定結果を保持するから、光センサ60の動作が不安定になるのを防止できる。
(4)光電変換回路70を第1のフォトダイオード71および第2のフォトダイオード72で構成し、第1のフォトダイオード71で発生した電流と第2のフォトダイオード72で発生した電流との差分を出力したので、環境光以外の光やフォトダイオードの温度特性などの影響を相殺して、光センサ60に入射する環境光のみを検知できる。
(5)シフト電圧生成回路85に、高電位電源VHHに接続されたpMOS851と、低電位電源VSSに接続されたnMOS852を設けたので、pMOS851とnMOS852との特性のバランスを調整することで、シフト電圧VSを任意に上下させることができる。
(6)クロックドインバータ82を、MOSトランジスタを含んで構成するとともに、シフト電圧生成回路85を、MOSトランジスタ851、852を含んで構成した。よって、MOSトランジスタの特性にばらつきが生じて、クロックドインバータ82の閾値Vthが変動しても、この閾値Vthに追従して、シフト電圧生成回路85で生成されるシフト電圧VSも変動するので、MOSトランジスタの特性のばらつきを相殺できる。
<第2実施形態>
図5は、本発明の第2実施形態に係る光センサ60Aの構成を示すブロック図である。
光センサ60Aは、コンデンサ81Aおよびリセット回路86Aの構成、シフト電圧生成回路85の代わりにオフセット回路としての補助電源回路87が設けられている点、および、ラッチ回路83とインバータ84との間にレベルシフタ回路88が設けられている点が第1実施形態と異なる。他の構成は、第1実施形態と同様である。
すなわち、コンデンサ81Aの他方の電極は、接地されている。
電源回路87は、任意の電圧を生成するものであり、クロックドインバータ82で決定される閾値Vthを調整する。具体的には、電源回路87は、所定の範囲内で電圧Vrefを生成し、この電圧Vrefを判定回路80Aの負電源とすることで、クロックドインバータ82の閾値Vthを変動させている。
レベルシフタ回路88の入力端は、接点P1に接続され、出力端は、インバータ84の入力端に接続される。このレベルシフタ回路88は、ラッチ回路83から出力されたVHH−Vref振幅の信号を、VHH−VLLの振幅に変換する。
リセット回路86AのnMOS861のゲートは、電源回路87に接続され、nMOS862のゲートは低電位電源Vssに接続される。リセット回路86Aは、リセット回路86と同様に、リセット信号RESTがHレベルになると、回路状態を初期化する。
リセット信号RESTがHレベルである場合、nMOS861が導通状態になって、クロックドインバータ82の他方の制御端子には、電圧Vrefが導入されて、クロックドインバータ82が導通状態となる。また、この場合、接点P2にも、電圧Vrefが導入されて、ラッチ回路83に記憶された信号がリセットされる。
また、リセット信号RESTがHレベルである場合、nMOS862も導通状態となり、検出信号SNSOの初期電圧がVssとなる。
一方、リセット信号RESTがLレベルである場合には、nMOS861、862が高インピーダンス状態となる。
図6は、光センサ60Aのタイミングチャートである。図6において実線は、環境光が弱い場合であり、2点鎖線は、環境光が強い場合である。
まず、環境光が弱い場合の光センサ60Aのタイミングチャートについて説明する。
リセット信号RESTをHレベルにして、判定回路80Aの回路状態を初期化する。すると、検出信号SNSOの初期電圧がVssとなる。時刻t1より光電変換が開始され、検出信号SNSOの電圧が初期電圧Vssから徐々に上昇する。時刻t1では、検出信号SNSOは閾値Vthより低いため、光検知信号PSOは、Lレベルとなる。時刻t3において、検出信号SNSOの電圧が閾値Vthを越えると、光検知信号PSOは、Hレベルとなる。
時刻t4において、リセット信号RESTが再びHレベルになると、回路状態は初期化され、検出信号SNSOの電圧は急速に低下して、閾値Vthよりも低くなる。そのため、光検知信号PSOも再びLレベルとなる。
次に、環境光が強い場合の光センサ60のタイミングチャートについて説明する。
リセット信号RESTをHレベルにして、判定回路80Aの回路状態を初期化する。すると、時刻t1より光電変換が開始され、検出信号SNSOの電圧が初期電圧Vssから徐々に上昇する。なお、時刻t1では、検出信号SNSOは閾値Vthより低いため、光検知信号PSOは、Lレベルとなる。
時刻t2において、検出信号SNSOの電圧が閾値Vthを越えると、光検知信号PSOは、Hレベルとなる。
時刻t4において、リセット信号RESTが再びHレベルになると、回路状態は初期化され、検出信号SNSOの電圧は急速に低下して、閾値Vthよりも低くなる。そのため、光検知信号PSOも再びLレベルとなる。
以上より、光センサ60Aは、時刻t1から時刻t3までの所定時間Tの間に、検出信号SNSOが閾値Vthを超えた場合にのみ光を検知したと判断して、光検知信号PSOをHレベルとする。
本実施形態によれば、上述の(1)、(3)、(4)、(6)の効果に加え、以下のような効果がある。
(7)所定の範囲内で電圧Vrefを生成する補助電源回路87を設け、この生成した電圧Vrefを判定回路80Aの負電源とした。よって、生成する電圧Vrefを所定の範囲内で調整することで、判定回路80Aの閾値Vthを自在に調整できる。
<変形例>
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、上述した第1実施形態では、光電変換回路70から出力される検出信号SNSOの初期値をシフト電圧VS分だけ閾値Vth側にシフトさせるシフト電圧生成回路85を設け、上述した第2実施形態では、生成した電圧Vrefを光電変換回路70から出力される検出信号SNSOの初期値とする補助電源回路87を設けたが、これに限らず、光センサにシフト電圧生成回路と補助電源回路とを両方設けてもよい。
また、例えば、上述した各実施形態では、電気光学装置1、1Aを全反射型の表示を行う構成としたが、これに限らず、透過型の表示を行う構成としてもよいし、透過および反射兼用の半透過反射型の表示を行う構成としてもよい。
また、上述した各実施形態では、画素トランジスタ51として、ポリシリコンTFTを用いたが、これに限らず、アモルファスシリコンTFTを用いてもよい。
また、上述した各実施形態では、本発明を電気光学物質として液晶を用いた電気光学装置1、1Aに適用したが、これに限らず、液晶以外の電気光学物質を用いた電気光学装置にも適用できる。例えば、有機LED素子を用いた有機ELディスプレイ(OLED)パネル、着色された液体とこの液体に分散された白色の粒子とを含むマイクロカプセルを電気光学物質として用いた電気泳動表示パネル、極性が相違する領域毎に異なる色に塗り分けられたツイストボールを電気光学物質として用いたツイストボールディスプレイパネル、黒色トナーを電気光学物質として用いたトナーディスプレイパネル、あるいは、ヘリウムやネオン等の高圧ガスを電気光学物資として用いたプラズマディスプレイパネルなど各種の電気光学装置に対しても、同様に本発明が適用され得る。
また、本実施形態における液晶としては、TN(Twisted Nematic)液晶や負の誘電率を用いた液晶を用いてもよい。また、液晶の表示モードとしては、IPS(In-Plane Switching)やFFS(Fringe-Field Switching)などでもよい。
<応用例>
次に、上述した実施形態に係る電気光学装置1、1Aを適用した電子機器について説明する。
図7は、電気光学装置1を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。携帯電話機3000は、複数の操作ボタン3001およびスクロールボタン3002、ならびに電気光学装置1を備える。スクロールボタン3002を操作することによって、電気光学装置1に表示される画面がスクロールされる。
なお、電気光学装置1が適用される電子機器としては、図7に示すものの他、パーソナルコンピュータ、情報携帯端末、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネルを備えた機器などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、前述した電気光学装置が適用可能である。
本発明の第1実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 前記電気光学装置を構成する光検知回路の構成を示す回路図である。 前記光検知回路のタイミングチャートである。 ラッチ回路を設けない場合の光検知回路のタイミングチャートである。 本発明の第2実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 前記光検知回路のタイミングチャートである。 上述した電気光学装置を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。 本発明の従来例に係る光検知回路の回路図である。 前記光検知回路のタイミングチャートである。 前記光検知回路におけるディレイタイムの温度依存性を示す図である。
符号の説明
1…電気光学装置、31…バックライト(光源)、60、60A…光センサ(光検知回路)、70…光電変換回路、71…第1のフォトダイオード(第1の光電変換素子)、72…第2のフォトダイオード(第2の光電変換素子)、80…判定回路、83…ラッチ回路、85…シフト電圧生成回路(オフセット回路)、87…補助電源回路(オフセット回路)、94…バックライト制御回路(制御回路)、851…pMOS(スイッチング素子)、852…nMOS(スイッチング素子)、3000…携帯電話機(電子機器)、AA… 液晶パネル(電気光学パネル)、Vth…閾値、VHH…高電位電源、VLL…低電位電源、VS…シフト電圧。



Claims (7)

  1. 光を検知する光検知回路であって、
    受光して電力を発生させる光電変換回路と、
    当該光電変換回路からの出力が所定の閾値を超えると、光を検知したと判定する判定回路と、を備え、
    前記判定回路は、前記光電変換回路からの出力の初期値と前記閾値との差分を調整するオフセット回路を備えることを特徴とする光検知回路。
  2. 前記オフセット回路は、高電位電源および低電位電源に接続された一対のスイッチング素子を備え、当該各スイッチング素子を導通状態または非導通状態とすることで、前記高電位電源および低電位電源に基づいてシフト電圧を生成し、前記光電変換回路の出力の初期値を前記シフト電圧分だけ前記閾値側にシフトさせることを特徴とする請求項1に記載の光検知回路。
  3. 前記オフセット回路は、所定の範囲内で電圧を生成する電源回路であり、前記判定回路の負電源として前記閾値を変動させることを特徴とする請求項1に記載の光検知回路。
  4. 前記判定回路は、光を検知したと判定した場合に、当該判定結果を保持するラッチ回路を備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の光検知回路。
  5. 前記光電変換回路は、環境光を含む光が照射される第1の光電変換素子と、環境光のみが遮断された第2の光電変換素子と、を有し、前記第1の光電変換素子で発生した電力と前記第2の光電変換素子で発生した電力との差分を出力する請求項1から4のいずれかに記載の光検知回路。
  6. 電気光学パネルと、当該電気光学パネルに光を供給する光源と、を備える電気光学装置であって、
    前記電気光学パネルは、請求項1から5のいずれかに記載の光検知回路と、当該光検知回路の出力信号に基づいて前記光源の光量を制御する制御回路と、を備えることを特徴とする電気光学装置。
  7. 請求項6に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009074855A (ja) * 2007-09-19 2009-04-09 Oki Semiconductor Co Ltd 光検出装置
JP2009128686A (ja) * 2007-11-26 2009-06-11 Sony Corp 表示装置および電子機器
JP2010085854A (ja) * 2008-10-01 2010-04-15 Seiko Epson Corp 電気光学装置、光検出装置及び電子機器
JP2011081390A (ja) * 2010-10-25 2011-04-21 Sony Corp 表示装置および電子機器
KR101031167B1 (ko) 2008-03-31 2011-04-27 소니 주식회사 광검출 장치, 전기 광학 장치 및 전자 기기와 광열화 보정 방법
JP2012517618A (ja) * 2009-02-06 2012-08-02 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー ディスプレイデバイスにおける光検知
CN102739304A (zh) * 2011-04-06 2012-10-17 北京同方微电子有限公司 一种用于芯片安全防护的光检测电路
US8299415B2 (en) 2008-06-27 2012-10-30 Sony Corporation Photodetector, electro-optical device, and electronic apparatus
CN106153083A (zh) * 2016-06-27 2016-11-23 北京交通大学 基于电子设备制作便携式精密测试仪器的方法及装置
CN107577077A (zh) * 2017-09-13 2018-01-12 京东方科技集团股份有限公司 环境光和温度检测电路、显示面板及显示装置
CN111412985A (zh) * 2020-04-13 2020-07-14 昆山龙腾光电股份有限公司 一种光感检测装置及显示终端

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6120828A (ja) * 1984-07-09 1986-01-29 Canon Inc 光積分回路
JPS63133128A (ja) * 1986-11-26 1988-06-04 Canon Inc 光差分センサ
JPS63163119A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Fuji Electric Co Ltd フオトセンサの受光強度測定装置
JPH0317714A (ja) * 1989-06-14 1991-01-25 Seiko Epson Corp 基準電圧回路
JPH04252923A (ja) * 1991-01-29 1992-09-08 Toshiba Corp 光検波回路
JPH0936815A (ja) * 1995-07-25 1997-02-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光受信器
JP2002176192A (ja) * 2000-09-12 2002-06-21 Rohm Co Ltd 照度センサチップ、照度センサ、照度測定装置、および照度測定方法
JP2005345286A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Seiko Epson Corp 光センサ、光センサ出力処理方法、表示装置および電子機器
JP2007085840A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Mitsumi Electric Co Ltd 赤外線検出装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6120828A (ja) * 1984-07-09 1986-01-29 Canon Inc 光積分回路
JPS63133128A (ja) * 1986-11-26 1988-06-04 Canon Inc 光差分センサ
JPS63163119A (ja) * 1986-12-25 1988-07-06 Fuji Electric Co Ltd フオトセンサの受光強度測定装置
JPH0317714A (ja) * 1989-06-14 1991-01-25 Seiko Epson Corp 基準電圧回路
JPH04252923A (ja) * 1991-01-29 1992-09-08 Toshiba Corp 光検波回路
JPH0936815A (ja) * 1995-07-25 1997-02-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光受信器
JP2002176192A (ja) * 2000-09-12 2002-06-21 Rohm Co Ltd 照度センサチップ、照度センサ、照度測定装置、および照度測定方法
JP2005345286A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Seiko Epson Corp 光センサ、光センサ出力処理方法、表示装置および電子機器
JP2007085840A (ja) * 2005-09-21 2007-04-05 Mitsumi Electric Co Ltd 赤外線検出装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009074855A (ja) * 2007-09-19 2009-04-09 Oki Semiconductor Co Ltd 光検出装置
US8564580B2 (en) 2007-11-26 2013-10-22 Japan Display West Inc. Display device and electronic apparatus
JP2009128686A (ja) * 2007-11-26 2009-06-11 Sony Corp 表示装置および電子機器
KR101031167B1 (ko) 2008-03-31 2011-04-27 소니 주식회사 광검출 장치, 전기 광학 장치 및 전자 기기와 광열화 보정 방법
US8299415B2 (en) 2008-06-27 2012-10-30 Sony Corporation Photodetector, electro-optical device, and electronic apparatus
JP2010085854A (ja) * 2008-10-01 2010-04-15 Seiko Epson Corp 電気光学装置、光検出装置及び電子機器
JP2012517618A (ja) * 2009-02-06 2012-08-02 グローバル・オーエルイーディー・テクノロジー・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー ディスプレイデバイスにおける光検知
JP2011081390A (ja) * 2010-10-25 2011-04-21 Sony Corp 表示装置および電子機器
CN102739304A (zh) * 2011-04-06 2012-10-17 北京同方微电子有限公司 一种用于芯片安全防护的光检测电路
CN106153083A (zh) * 2016-06-27 2016-11-23 北京交通大学 基于电子设备制作便携式精密测试仪器的方法及装置
CN107577077A (zh) * 2017-09-13 2018-01-12 京东方科技集团股份有限公司 环境光和温度检测电路、显示面板及显示装置
CN107577077B (zh) * 2017-09-13 2020-05-19 京东方科技集团股份有限公司 环境光和温度检测电路、显示面板及显示装置
CN111412985A (zh) * 2020-04-13 2020-07-14 昆山龙腾光电股份有限公司 一种光感检测装置及显示终端

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