JP2007183142A - 高耐熱・高速放射光モニター - Google Patents
高耐熱・高速放射光モニター Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007183142A JP2007183142A JP2006001050A JP2006001050A JP2007183142A JP 2007183142 A JP2007183142 A JP 2007183142A JP 2006001050 A JP2006001050 A JP 2006001050A JP 2006001050 A JP2006001050 A JP 2006001050A JP 2007183142 A JP2007183142 A JP 2007183142A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- synchrotron radiation
- transmission line
- speed
- monitor
- dielectric plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明の高耐熱・高速放射光モニターは、冷却用の無酸素銅製の台座上に誘電体プレートを接合させ、さらにその上に特性インピーダンスを信号ケーブルのそれに整合させた伝送線路を接合させることでマイクロストリップライン構造を構成し、その伝送線路を放射光ビームの受光面とすることで、光電子の放出による伝送線路上の電位の上昇をパルス信号として計測するものである。
【選択図】図3
Description
このように従来のブレード型素子を用いた放射光モニターは、比較的簡素な構造で冷却のための熱伝達性を十分確保しており、かつ位置モニターとして構成した場合に高い位置分解能をもつものである。
本発明の高耐熱・高速放射光モニターにおいて、好ましくは、前記マイクロストリップライン構造を、グランド付きコプレーナ線路構造等のその他の伝送線路の構造に置き換えることを特徴とする。
本発明の高耐熱・高速放射光モニターにおいて、好ましくは、前記無酸素銅製の台座を、銅タングステン、銅モリブデン又はその他の熱膨張率の低い金属に置き換えることを特徴とする。
以上の結果、これまで不可能であった高いパワー密度をもつ放射光ビームをパルスの状態で計測が可能となり、ビームの位置、強度、タイミングの情報を提供することができる。構造が簡素であるため、様々は放射光施設の放射光ビームラインに適応させるための構造の変更を容易に行うことができる。また、放射光施設以外の光パルス計測にも適用することができる。
図示しないが、伝送線路11の片側をインピーダンス整合の取れた抵抗器で終端することにより、反射によるパルスの二重計測を防ぐことができる。また、片側を開放端とすることにより、従来どおりの直流電流としての信号も計測することができる。
本発明による放射光モニターで用いられる信号の発生と伝送の手法は、光電子放出によって発生するパルス信号を、直接マイクロストリップライン構造の伝送線路上を伝送させて読み出すというものである。従来のゲート素子、高速スイッチング制御、高速変調素子等の装置のマイクロストリップライン構造は、伝送線路上に制御信号を伝送させ、高速の電子回路を構成することが主な目的であったため、本発明のマイクロストリップライン構造はこれとは根本的に異なるものである。
マスク101には、それが一部の放射光ビームの照射に曝されて温度が上昇するので、それを冷却するための水冷管103が設けられている。本発明の放射光モニター100は、高真空に維持された長い放射光通路の必要箇所に挿入された真空容器104の中央部に設けられる。又、この真空容器には、その両端にベローズ107が設けられているので、真空容器に結合して設けられた位置調整用可動台105を上下左右に動かすことにより放射光モニター100の水平方向及び鉛直方向の位置を調整することができる。放射光モニター100には、それに隣接して光電子収集用電極102が配置されており、この電極に光電子を収集するための電圧が電圧導入端子106から印加される。
Claims (7)
- 冷却用の無酸素銅製の台座上に誘電体プレートを接合させ、さらに該誘電体プレート上に伝送線路を設け、その伝送線路の特性インピーダンスを信号ケーブルのインピーダンスに整合させることでマイクロストリップライン構造を構成し、前記伝送線路を放射光パルスビームの受光面とすることを特徴とする高耐熱・高速放射光モニター。
- 前記伝送線路が光電子の変換効率の高い金属又は半導体から成ることを特徴とする請求項1に記載の高耐熱・高速放射光モニター。
- 前記マイクロストリップライン構造を、グランド付きコプレーナ線路構造等のその他の伝送線路の構造に置き換えることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の高耐熱・高速放射光モニター。
- 前記誘電体プレートが酸化アルミニウムセラミックス、窒化アルミニウムセラミックス若しくはその他のセラミックス、又は熱伝導率の高い誘電体から成ることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の高耐熱・高速放射光モニター。
- 前記誘電体プレートが炭化ケイ素又はその他の半導電体から成ることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の高耐熱・高速放射光モニター。
- 前記無酸素銅製の台座を、銅タングステン、銅モリブデン又はその他の熱膨張率の低い金属に置き換えることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の高耐熱・高速放射光モニター。
- 前記無酸素銅製台座と前記誘電体プレートの少なくとも一つに、溝又は無接合部を設けてロウ付け接合したことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の高耐熱・高速放射光モニター。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006001050A JP4822261B2 (ja) | 2006-01-06 | 2006-01-06 | 放射光モニター装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006001050A JP4822261B2 (ja) | 2006-01-06 | 2006-01-06 | 放射光モニター装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007183142A true JP2007183142A (ja) | 2007-07-19 |
JP4822261B2 JP4822261B2 (ja) | 2011-11-24 |
Family
ID=38339373
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006001050A Expired - Fee Related JP4822261B2 (ja) | 2006-01-06 | 2006-01-06 | 放射光モニター装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4822261B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3719542B1 (en) * | 2019-04-04 | 2022-12-28 | Paul Scherrer Institut | Device for non-fully intercepting sensor monitors for ionizing beams |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07318657A (ja) * | 1994-05-27 | 1995-12-08 | Agency Of Ind Science & Technol | 透過型x線ビームモニター方法およびモニター装置 |
JPH08279624A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-10-22 | Rikagaku Kenkyusho | 放射光位置モニター |
JPH09162324A (ja) * | 1995-12-11 | 1997-06-20 | Kyocera Corp | 半導体素子収納用パッケージ |
JPH10509509A (ja) * | 1994-08-02 | 1998-09-14 | インペリアル カレッジ オブ サイエンス,テクノロジー アンド メディシン | 電離放射線検出器 |
JP2001272495A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-05 | Toshiba Corp | 原子炉出力監視装置 |
JP2003114280A (ja) * | 2001-10-03 | 2003-04-18 | Japan Atom Energy Res Inst | ビーム位置検出装置 |
JP2005159060A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Kyocera Corp | 同軸型半導体レーザモジュール |
JP2005229077A (ja) * | 2004-02-16 | 2005-08-25 | Kobe Steel Ltd | ビーム位置モニタ及びビーム位置測定方法 |
-
2006
- 2006-01-06 JP JP2006001050A patent/JP4822261B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07318657A (ja) * | 1994-05-27 | 1995-12-08 | Agency Of Ind Science & Technol | 透過型x線ビームモニター方法およびモニター装置 |
JPH10509509A (ja) * | 1994-08-02 | 1998-09-14 | インペリアル カレッジ オブ サイエンス,テクノロジー アンド メディシン | 電離放射線検出器 |
JPH08279624A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-10-22 | Rikagaku Kenkyusho | 放射光位置モニター |
JPH09162324A (ja) * | 1995-12-11 | 1997-06-20 | Kyocera Corp | 半導体素子収納用パッケージ |
JP2001272495A (ja) * | 2000-03-27 | 2001-10-05 | Toshiba Corp | 原子炉出力監視装置 |
JP2003114280A (ja) * | 2001-10-03 | 2003-04-18 | Japan Atom Energy Res Inst | ビーム位置検出装置 |
JP2005159060A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Kyocera Corp | 同軸型半導体レーザモジュール |
JP2005229077A (ja) * | 2004-02-16 | 2005-08-25 | Kobe Steel Ltd | ビーム位置モニタ及びビーム位置測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4822261B2 (ja) | 2011-11-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6861745B2 (ja) | 試験システム | |
JP3005288B2 (ja) | インピーダンス・マッチング・カプラ | |
US20050212503A1 (en) | Fast faraday cup with high bandwidth | |
Wang et al. | On-wafer microstrip meander-line slow-wave structure at Ka-band | |
Grabas et al. | RF strip-line anodes for Psec large-area MCP-based photodetectors | |
JP4822261B2 (ja) | 放射光モニター装置 | |
US6353290B1 (en) | Microwave field emitter array limiter | |
EP0044758B1 (fr) | Dispositif de terminaison d'une ligne de transmission, en hyperfréquence, à taux d'ondes stationnaires minimal | |
US3278763A (en) | Two diode balanced signal sampling apparatus | |
US6670760B2 (en) | Collector structure of traveling wave tube having a lossy ceramic member | |
CN104538479A (zh) | 多通道砷化镓光电导开关 | |
US12066582B2 (en) | Signal detection device, measurement device, and mass spectrometer | |
Thomas et al. | Fast optical gating using planar-lead MCPIIS and linear microstrip impedance transformers | |
US3902095A (en) | Electron beam semiconductor amplifier with shielded diode junctions | |
CN108896596A (zh) | 一种用于介质材料二次电子发射系数测量的样品测试载台 | |
Kancleris et al. | High power millimetre wave pulse sensor for W-band | |
Aoyagi et al. | Pulse-mode x-ray beam position monitor prototype for a synchrotron radiation beam line | |
TW201800762A (zh) | 傳輸線 | |
RU2295137C1 (ru) | Преобразователь свч-мощности и преобразующий элемент для него | |
Aoyagi et al. | Mechanical Design of Pulse-by-pulse X-ray Beam Position Monitor using Diamond Heat Sink | |
CN101276723B (zh) | 磁控管 | |
CN101478645B (zh) | 一种基于半导体层的电荷感应成像方法 | |
Fehr et al. | A 100-femtosecond electron beam blanking system | |
TWI556454B (zh) | 在基於光二極體之電子偵測器中用於降低暗電流漂移之系統及方法 | |
CN114778921B (zh) | 一种基于边缘电场的功率模块开关电压测量方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081225 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110128 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110328 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110802 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110831 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140916 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140916 Year of fee payment: 3 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140916 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |