JP2007173707A - 自動光量制御装置および画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 フォトダイオードが検出したサンプリング電流に応じた電流をサンプルホールド用コンデンサに充放電させて自動光量制御を行う場合に、サンプリング電位の光量応答性が良く、且つホールド時の光量低下も解決できるようにする。
【解決手段】 レーザーダイオード1の近傍に設けたフォトダイオード11がレーザーダイオード1の発するレーザー光の光量に応じた大きさの電流を出力し、その電流の大きさに応じて、コントロール回路13はサンプリング期間中、コンデンサCに対して充電または放電を行い、充電電位保持回路16はコンデンサCに充電された充放電終了時の電位をデジタル化してラッチし、ラッチしたデジタル電位をアナログ化して誤差増幅器17に与え、その誤差増幅器17は入力されたそのアナログ電位と画像データに応じた量を出力し、その出力に応じてレーザーダイオード1の電流が増減する。
【選択図】 図4
【解決手段】 レーザーダイオード1の近傍に設けたフォトダイオード11がレーザーダイオード1の発するレーザー光の光量に応じた大きさの電流を出力し、その電流の大きさに応じて、コントロール回路13はサンプリング期間中、コンデンサCに対して充電または放電を行い、充電電位保持回路16はコンデンサCに充電された充放電終了時の電位をデジタル化してラッチし、ラッチしたデジタル電位をアナログ化して誤差増幅器17に与え、その誤差増幅器17は入力されたそのアナログ電位と画像データに応じた量を出力し、その出力に応じてレーザーダイオード1の電流が増減する。
【選択図】 図4
Description
本発明は、レーザー光をポリゴンスキャナで走査して感光体を露光・帯電させることにより静電潜像を形成する手段を備えた複写機やプリンタなど画像形成装置に係り、特に、レーザー光の光量を一定に保つためのAPC技術に関する。
電子写真方式の画像形成装置では、印刷データで変調されたレーザー光をポリゴンスキャナで走査して感光体を露光・帯電させることにより印刷データに基づいた静電潜像を形成する。画像形成装置の場合、このレーザー光は一般に半導体レーザーを用いて得ているが、半導体レーザーの一般的な電流−光出力特性は周囲温度の変化に敏感であるので、一定電流で駆動していても環境温度の変化や自己発熱などにより光出力は大きく変動してしまう。
光出力のこのような温度依存性に対応するために、半導体レーザーのパッケージ中には、一般にフォトダイオードなど光電変換素子が組み込まれており、このフォトダイオードの検出した電流を監視することにより半導体レーザーの光出力を監視して駆動電流を制御し、光出力を一定に保つようにしている。なお、このようなフィードバック機構を持つ半導体レーザーの駆動回路はAPC回路(自動光量制御回路)と呼ばれている。
特許文献1に示された従来技術は、このようなAPC回路を持つ代表例であり、半導体レーザーを定格光出力に近いパワーで使う際にもレーザーに負担をかけないように回路構成を工夫している。また、フォトダイオードが検出したサンプリング電流をコンデンサにより保持する。
特開平8−88429号公報
光出力のこのような温度依存性に対応するために、半導体レーザーのパッケージ中には、一般にフォトダイオードなど光電変換素子が組み込まれており、このフォトダイオードの検出した電流を監視することにより半導体レーザーの光出力を監視して駆動電流を制御し、光出力を一定に保つようにしている。なお、このようなフィードバック機構を持つ半導体レーザーの駆動回路はAPC回路(自動光量制御回路)と呼ばれている。
特許文献1に示された従来技術は、このようなAPC回路を持つ代表例であり、半導体レーザーを定格光出力に近いパワーで使う際にもレーザーに負担をかけないように回路構成を工夫している。また、フォトダイオードが検出したサンプリング電流をコンデンサにより保持する。
しかしながら、半導体レーザーの光出力値の代替値として、フォトダイオードなど光電変換素子が検出したサンプリング電流をサンプルホールド用コンデンサに充放電し、それによりAPCを行う方式では、サンプルホールド用コンデンサの容量値が小さい場合には、サンプリング時のAPCの応答性は良いが、ホールド時の光量低下が大きく、容量値が大きい場合には、ホールド時の光量低下は小さいが、サンプリング時のAPCの応答性が悪いという問題がある。
本発明の目的は、このような従来技術の問題を解決しようとするものであり、具体的には、フォトダイオードが検出したサンプリング電流に応じた電流をサンプルホールド用コンデンサに充放電させ、それにより自動光量制御を行う場合に、サンプリング電位の光量応答性が良く、且つホールド時の光量低下も解決できる自動光量制御技術を提供することにある。
本発明の目的は、このような従来技術の問題を解決しようとするものであり、具体的には、フォトダイオードが検出したサンプリング電流に応じた電流をサンプルホールド用コンデンサに充放電させ、それにより自動光量制御を行う場合に、サンプリング電位の光量応答性が良く、且つホールド時の光量低下も解決できる自動光量制御技術を提供することにある。
前記課題を解決するために、請求項1記載の自動光量制御装置は、半導体レーザーの発するレーザー光の光量に応じた電流値を出力する光量検知手段を前記半導体レーザーの近傍に設けて、前記電流値に基づいてコンデンサに充放電を行った際に該コンデンサの充電電位により自動光量制御を行う自動光量制御装置において、前記コンデンサに充電された充放電終了時の電位をデジタル化して保持する充電電位保持手段を備えたことを特徴とする。
また、請求項2記載の画像形成装置は、半導体レーザーの発するレーザー光を走査して感光体上に静電潜像を形成する画像書き込み手段を備えるとともに、入力レーザー光の光量に応じた電流値を出力する光量検知手段を前記半導体レーザーの近傍に設けて、前記電流値に基づいてコンデンサに対して充放電を行った際に該コンデンサの充電電位により自動光量制御を行う自動光量制御手段を備えた画像形成装置において、前記コンデンサに充電された充放電終了時の電位をデジタル化して保持する充電電位保持手段を前記自動光量制御手段内に備えたことを特徴とする。
また、請求項3記載の画像形成装置は、請求項2記載の画像形成装置において、前記充電電位保持手段に保持されたデジタル値をアナログ値に変換するD/A変換手段を前記自動光量制御手段内に備える。
また、請求項4記載の画像形成装置は、請求項2記載の画像形成装置において、前記自動光量制御手段が、前記コンデンサに充電された電位を当該自動光量制御手段の上位に位置するCPUへ通知するためにデジタル化するA/D変換手段を用いて前記充電終了時の電位をデジタル化する構成にする。
また、請求項5記載の画像形成装置は、請求項2記載の画像形成装置において、前記自動光量制御手段が、前記自動光量制御により所定量に制御される前記光量の値を画素密度に応じて切り替える構成にする。
また、請求項2記載の画像形成装置は、半導体レーザーの発するレーザー光を走査して感光体上に静電潜像を形成する画像書き込み手段を備えるとともに、入力レーザー光の光量に応じた電流値を出力する光量検知手段を前記半導体レーザーの近傍に設けて、前記電流値に基づいてコンデンサに対して充放電を行った際に該コンデンサの充電電位により自動光量制御を行う自動光量制御手段を備えた画像形成装置において、前記コンデンサに充電された充放電終了時の電位をデジタル化して保持する充電電位保持手段を前記自動光量制御手段内に備えたことを特徴とする。
また、請求項3記載の画像形成装置は、請求項2記載の画像形成装置において、前記充電電位保持手段に保持されたデジタル値をアナログ値に変換するD/A変換手段を前記自動光量制御手段内に備える。
また、請求項4記載の画像形成装置は、請求項2記載の画像形成装置において、前記自動光量制御手段が、前記コンデンサに充電された電位を当該自動光量制御手段の上位に位置するCPUへ通知するためにデジタル化するA/D変換手段を用いて前記充電終了時の電位をデジタル化する構成にする。
また、請求項5記載の画像形成装置は、請求項2記載の画像形成装置において、前記自動光量制御手段が、前記自動光量制御により所定量に制御される前記光量の値を画素密度に応じて切り替える構成にする。
本発明によれば、フォトダイオードが検出したサンプリング電流をサンプルホールド用コンデンサに充放電し、それにより自動光量制御を行う場合に、コンデンサに充電された充電終了時の電位をデジタル化して保持することができるので、コンデンサの容量を小さくでき、したがって、サンプリング電位の光量応答性が良く、且つホールド時の光量低下も解決できる。
以下、図面を用いて本発明の実施形態を詳細に説明する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対位置などは特定的な記載がない限りこの説明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく、単なる説明例に過ぎない。
図1は、本発明の一実施形態として、電子写真方式の画像形成装置などに用いられているレーザー光走査光学系の構成を説明する図である。図示したような構成で、この画像形成装置の画像書き込み手段では、LD1(レーザーダイオード、請求項記載の半導体レーザーに相当する)から発射されたLD光9が、コリメートレンズ2で平行光になり、ポリゴンスキャナ3で走査され、fθレンズ4を通って感光体5を感光させることにより静電潜像を形成する。なお、LD1はLD制御板6に取り付けられている。
図1に示したように、このレーザー光走査光学系は感光体5上の走査線の始端側に同期検知用のフォトダイオード7を備えている。このフォトダイオード7はfθレンズ4を介してLD光を受け、同期検知信号を発生する。図2に、同期検知信号発生部の回路構成を示す。図2に示した構成で、フォトダイオード7がLD光を受光することにより抵抗R1に電流Iが流れ、コンパレータ8の一方の入力端子に電圧V1を入力する。そして、電圧V1がVrefより大きくなると、コンパレータ8の出力にパルス出力(同期検知信号XDETP)が発生する。
図3は、同期検知信号(XDETP)のタイミングチャートである。同図は、1ラインの周期T2に同期して、幅T1の同期検知信号が1回出ることを示している。
以下、本発明の実施例を説明する。
図1は、本発明の一実施形態として、電子写真方式の画像形成装置などに用いられているレーザー光走査光学系の構成を説明する図である。図示したような構成で、この画像形成装置の画像書き込み手段では、LD1(レーザーダイオード、請求項記載の半導体レーザーに相当する)から発射されたLD光9が、コリメートレンズ2で平行光になり、ポリゴンスキャナ3で走査され、fθレンズ4を通って感光体5を感光させることにより静電潜像を形成する。なお、LD1はLD制御板6に取り付けられている。
図1に示したように、このレーザー光走査光学系は感光体5上の走査線の始端側に同期検知用のフォトダイオード7を備えている。このフォトダイオード7はfθレンズ4を介してLD光を受け、同期検知信号を発生する。図2に、同期検知信号発生部の回路構成を示す。図2に示した構成で、フォトダイオード7がLD光を受光することにより抵抗R1に電流Iが流れ、コンパレータ8の一方の入力端子に電圧V1を入力する。そして、電圧V1がVrefより大きくなると、コンパレータ8の出力にパルス出力(同期検知信号XDETP)が発生する。
図3は、同期検知信号(XDETP)のタイミングチャートである。同図は、1ラインの周期T2に同期して、幅T1の同期検知信号が1回出ることを示している。
以下、本発明の実施例を説明する。
図4は一実施例として画像形成装置における自動光量制御回路(請求項記載の自動光量制御手段に相当する)の構成を示すブロック図である。
図示した構成で、LDユニット内に設けたフォトダイオード11(請求項記載の光量検知手段に相当する)の出力する監視電流Imは、信号IN1によりスイッチSW1の接続状態がSW1a側とSW1b側との間で切り替えられて、LD光量設定用の可変抵抗VR1へのラインまたは可変抵抗VR2へのラインへ流れる。可変抵抗VR1に切り替えられると、コンパレータ12のV2端子の電位V2は、V2=Im×VR1 となり、可変抵抗VR2に切り替えられると、電位V2は、V2=Im×VR2 となり、LD光量が切り替わる。
一方、コンパレータ12の基準電位V1としては、信号IN2によりスイッチSW2を切り替えることにより、Vref1またはVref2が供給される。これにより、この切り替えによっても、LD光量を切り替えることができる。
電位V2が基準電位V1より小さい場合、コンパレータ12の出力電位V3がHIGHになり、これに応じたコントロール回路13の出力値によりスイッチSW4がオン、SW5がオフになる。こうして、充電用定電流源14からの電流がコンデンサCに供給され、電位V4が上昇する。それに対して、電位V2が基準電位V1より大きい場合には、コンパレータ12の出力電位V3がLOWになり、スイッチSW4がオフ、SW5がオンになり、コンデンサCの電荷が放電用定電流源15へ放電され、電位V4が下降する。
前記において、コントロール回路13は、S/H信号によりサンプリングとホールドが切り替えられる。S/H信号がLOWのときには、前述したようにコンパレータ12の出力電位V3のHIGH/LOWに応じてスイッチSW4とスイッチSW5のどちらかが閉じるが、S/H信号がHIGHのときは、スイッチSW4、SW5ともに離れた状態になり電位V4はほぼ一定値にホールドされる(厳密には時間とともに電位V4は減衰する)。つまり、S/H信号がLOWでサンプリングモード、HIGHでホールドモードである。
図示した構成で、LDユニット内に設けたフォトダイオード11(請求項記載の光量検知手段に相当する)の出力する監視電流Imは、信号IN1によりスイッチSW1の接続状態がSW1a側とSW1b側との間で切り替えられて、LD光量設定用の可変抵抗VR1へのラインまたは可変抵抗VR2へのラインへ流れる。可変抵抗VR1に切り替えられると、コンパレータ12のV2端子の電位V2は、V2=Im×VR1 となり、可変抵抗VR2に切り替えられると、電位V2は、V2=Im×VR2 となり、LD光量が切り替わる。
一方、コンパレータ12の基準電位V1としては、信号IN2によりスイッチSW2を切り替えることにより、Vref1またはVref2が供給される。これにより、この切り替えによっても、LD光量を切り替えることができる。
電位V2が基準電位V1より小さい場合、コンパレータ12の出力電位V3がHIGHになり、これに応じたコントロール回路13の出力値によりスイッチSW4がオン、SW5がオフになる。こうして、充電用定電流源14からの電流がコンデンサCに供給され、電位V4が上昇する。それに対して、電位V2が基準電位V1より大きい場合には、コンパレータ12の出力電位V3がLOWになり、スイッチSW4がオフ、SW5がオンになり、コンデンサCの電荷が放電用定電流源15へ放電され、電位V4が下降する。
前記において、コントロール回路13は、S/H信号によりサンプリングとホールドが切り替えられる。S/H信号がLOWのときには、前述したようにコンパレータ12の出力電位V3のHIGH/LOWに応じてスイッチSW4とスイッチSW5のどちらかが閉じるが、S/H信号がHIGHのときは、スイッチSW4、SW5ともに離れた状態になり電位V4はほぼ一定値にホールドされる(厳密には時間とともに電位V4は減衰する)。つまり、S/H信号がLOWでサンプリングモード、HIGHでホールドモードである。
充電電位保持回路16は後述する回路構成で、ホールドモード開始時の電位V4をラッチし、それをアナログ化した電位V5を誤差増幅器17に与える。
誤差増幅器17は電位V5と基準電位Vref3との誤差電圧を増幅する。これにより、Tr1のコレクタ電流が増減し、LD電流が増減して、LD1の光量が設定値に保たれる。つまり、LD1の光量が設定光量より少ないときはLD電流が増加し、LD1の光量が設定光量より多いときはLD電流が減少するのである。
LD1には、バイアス電流源18によりバイアス電流が流れる。バイアス電流の値は固定抵抗R2の値を変えることにより変更することができる。バイアス電流を流すことにより、トランジスタTr1がXDATAに従ってLD1の光量を変調する速度を高速化できる。XDATAはビデオデータ(ビデオ信号化された印刷データ)であり、XDATAがLOWのときLD1にはISW(トランジスタTr1のコレクタ電流)+IB(バイアス電流)が流れる。XDATAがHIGHのときはLD1の電流はIBのみとなり、オフセット発光するのみである(画像は形成されない)。なお、APCを行う場合もLD1の電流はトランジスタTr1のコレクタ電流とバイアス電流の和である。
このような構成の制御系で、この実施例では、前述したコントロール回路13におけるS/H信号としてXDETP信号(図2、図3参照)を用いてAPCのサンプリングとホールドを行う。XDETP信号がLOWのときがサンプルモードで、HIGHのときがホールドモードである。サンプルモード時のコンデンサ容量はできるだけ小さい方がAPCの応答特性が良くなる。しかし、従来技術では、ホールドモード時は、ホールド用のコンデンサ容量は許容できる範囲内でできるだけ大きい方がホールド時の電位V4の減衰量が少なくなり好ましい、とされてきた。また、従来技術では充電電位保持回路16を備えておらず、電位V4が直接に誤差増幅器17に入力されていたので、APCのサンプリング時の応答性を良くするために小さい容量を使用すると、ホールド時の電位V4の減衰が大きく、LD光量の低下が大きくなるという問題があったのである。
それに対して、この実施例では、前述したような充電電位保持回路16を備えることにより、コンデンサCの容量を小さくしてAPCの応答特性を良くするとともに、ホールド時に電位V4が減衰しても問題ないようにしている。
誤差増幅器17は電位V5と基準電位Vref3との誤差電圧を増幅する。これにより、Tr1のコレクタ電流が増減し、LD電流が増減して、LD1の光量が設定値に保たれる。つまり、LD1の光量が設定光量より少ないときはLD電流が増加し、LD1の光量が設定光量より多いときはLD電流が減少するのである。
LD1には、バイアス電流源18によりバイアス電流が流れる。バイアス電流の値は固定抵抗R2の値を変えることにより変更することができる。バイアス電流を流すことにより、トランジスタTr1がXDATAに従ってLD1の光量を変調する速度を高速化できる。XDATAはビデオデータ(ビデオ信号化された印刷データ)であり、XDATAがLOWのときLD1にはISW(トランジスタTr1のコレクタ電流)+IB(バイアス電流)が流れる。XDATAがHIGHのときはLD1の電流はIBのみとなり、オフセット発光するのみである(画像は形成されない)。なお、APCを行う場合もLD1の電流はトランジスタTr1のコレクタ電流とバイアス電流の和である。
このような構成の制御系で、この実施例では、前述したコントロール回路13におけるS/H信号としてXDETP信号(図2、図3参照)を用いてAPCのサンプリングとホールドを行う。XDETP信号がLOWのときがサンプルモードで、HIGHのときがホールドモードである。サンプルモード時のコンデンサ容量はできるだけ小さい方がAPCの応答特性が良くなる。しかし、従来技術では、ホールドモード時は、ホールド用のコンデンサ容量は許容できる範囲内でできるだけ大きい方がホールド時の電位V4の減衰量が少なくなり好ましい、とされてきた。また、従来技術では充電電位保持回路16を備えておらず、電位V4が直接に誤差増幅器17に入力されていたので、APCのサンプリング時の応答性を良くするために小さい容量を使用すると、ホールド時の電位V4の減衰が大きく、LD光量の低下が大きくなるという問題があったのである。
それに対して、この実施例では、前述したような充電電位保持回路16を備えることにより、コンデンサCの容量を小さくしてAPCの応答特性を良くするとともに、ホールド時に電位V4が減衰しても問題ないようにしている。
図5は、このような役割を持った充電電位保持回路16の構成を示す図である。図示するように、充電電位保持回路16は、アナログ値をデジタル値に変換するA/Dコンバータ21(請求項記載のA/D変換手段に相当する)、変換されたデジタル値をラッチするラッチ回路22、ラッチされたデジタル値をアナログ値に変換するD/Aコンバータ23(請求項記載のD/A変換手段に相当する)を備えている。なお、A/Dコンバータ21およびラッチ回路22は請求項記載の充電電位保持手段を構成している。
このような構成で、この充電電位保持回路16では、コンデンサCに充電された電位V4がA/Dコンバータ21に入力され、電位V4のアナログ値がリアルタイムでデジタル値に変換され、デジタル化された電位V4がラッチ回路22に入力される。図示したように、このラッチ回路22ではラッチ信号として前記XDETP信号を用いており、この信号の後縁でデジタル化された電位V4をラッチする。つまり、サンプルモード時が終わった直後の電位V4をラッチするのである。したがって、減衰が始まる前に最高位に上昇した(または最低位に下降した)電位V4を電位V5としてラッチでき、電位V4がその後、速い速度で減衰してもラッチ回路22から出力される電位V5は減衰前の値を保つ。このような電位V5がD/Aコンバータ23によりアナログ値に戻され、誤差増幅器17に入力されるのである。
このように、充電電位保持回路16の後段に誤差増幅器17を持つような構成であっても、D/Aコンバータ23を備えることにより対応可能になる。
このような構成で、この充電電位保持回路16では、コンデンサCに充電された電位V4がA/Dコンバータ21に入力され、電位V4のアナログ値がリアルタイムでデジタル値に変換され、デジタル化された電位V4がラッチ回路22に入力される。図示したように、このラッチ回路22ではラッチ信号として前記XDETP信号を用いており、この信号の後縁でデジタル化された電位V4をラッチする。つまり、サンプルモード時が終わった直後の電位V4をラッチするのである。したがって、減衰が始まる前に最高位に上昇した(または最低位に下降した)電位V4を電位V5としてラッチでき、電位V4がその後、速い速度で減衰してもラッチ回路22から出力される電位V5は減衰前の値を保つ。このような電位V5がD/Aコンバータ23によりアナログ値に戻され、誤差増幅器17に入力されるのである。
このように、充電電位保持回路16の後段に誤差増幅器17を持つような構成であっても、D/Aコンバータ23を備えることにより対応可能になる。
こうして、この実施例によれば、APCのサンプリング時には、APCの応答性を良くすることができ、ホールドモード時には、電位V4の減衰に関係なく減衰前の値を用いてLD1の光量を制御でき、したがって、高性能なAPCを実現できる。
なお、A/Dコンバータ21は従来技術においても、当該画像形成装置の全体を制御するCPUなど、このAPC回路の上位に位置するCPUに光量検出値を渡すために用いられているので、この実施例では、新たにラッチ回路22とD/Aコンバータ23だけを追加すればよい。CPUへの通知は光量検出値が異常な値の場合に異常処理を行うためである。また、CPUに対しては、図5に示したようにラッチ回路22によりラッチされた値を渡すことができるので、CPU側の取り込みタイミングも取りやすくなる。
また、この実施例では、線速を落とし(例えば半分にし)、その分だけLD1の光量も落として(例えば半分にして)画素密度を高密度にする(例えば2倍にする)場合、画素密度に応じて、信号IN1によりSW1を切り替えて、光量設定用の可変抵抗VR1とVR2とを切り替える。例えば画素密度1200dpi時のLD光量を画素密度600dpi時の半分にする場合、可変抵抗VR1の値をVR2の値の2倍にしておき、1200dpi時にはIN1信号をHIGHにして可変抵抗VR2を選択すればLD光量が半分になる。
また、信号IN2を切り替えてVref1とVref2とを切り替えることによってもLD光量を切り替えることができる。Vref1をVref2の半分にしてVref1を選択すれば、LD光量はVref2を選択した場合の半分の光量になるからである。
なお、A/Dコンバータ21は従来技術においても、当該画像形成装置の全体を制御するCPUなど、このAPC回路の上位に位置するCPUに光量検出値を渡すために用いられているので、この実施例では、新たにラッチ回路22とD/Aコンバータ23だけを追加すればよい。CPUへの通知は光量検出値が異常な値の場合に異常処理を行うためである。また、CPUに対しては、図5に示したようにラッチ回路22によりラッチされた値を渡すことができるので、CPU側の取り込みタイミングも取りやすくなる。
また、この実施例では、線速を落とし(例えば半分にし)、その分だけLD1の光量も落として(例えば半分にして)画素密度を高密度にする(例えば2倍にする)場合、画素密度に応じて、信号IN1によりSW1を切り替えて、光量設定用の可変抵抗VR1とVR2とを切り替える。例えば画素密度1200dpi時のLD光量を画素密度600dpi時の半分にする場合、可変抵抗VR1の値をVR2の値の2倍にしておき、1200dpi時にはIN1信号をHIGHにして可変抵抗VR2を選択すればLD光量が半分になる。
また、信号IN2を切り替えてVref1とVref2とを切り替えることによってもLD光量を切り替えることができる。Vref1をVref2の半分にしてVref1を選択すれば、LD光量はVref2を選択した場合の半分の光量になるからである。
1 レーザーダイオード、7、11 フォトダイオード、8 コンパレータ、12 コンパレータ、13 コントロール回路、14 充電用定電流源、15 放電用定電流源、16 充電電位保持回路、17 誤差増幅器、21 A/Dコンバータ、22 ラッチ回路、23 D/Aコンバータ
Claims (5)
- 半導体レーザーの発するレーザー光の光量に応じた電流値を出力する光量検知手段を前記半導体レーザーの近傍に設けて、前記電流値に基づいてコンデンサに充放電を行った際に該コンデンサの充電電位により自動光量制御を行う自動光量制御装置において、前記コンデンサに充電された充放電終了時の電位をデジタル化して保持する充電電位保持手段を備えたことを特徴とする自動光量制御装置。
- 半導体レーザーの発するレーザー光を走査して感光体上に静電潜像を形成する画像書き込み手段を備えるとともに、入力レーザー光の光量に応じた電流値を出力する光量検知手段を前記半導体レーザーの近傍に設けて、前記電流値に基づいてコンデンサに対して充放電を行った際に該コンデンサの充電電位により自動光量制御を行う自動光量制御手段を備えた画像形成装置において、前記コンデンサに充電された充放電終了時の電位をデジタル化して保持する充電電位保持手段を前記自動光量制御手段内に備えたことを特徴とする画像形成装置。
- 請求項2記載の画像形成装置において、前記充電電位保持手段に保持されたデジタル値をアナログ値に変換するD/A変換手段を前記自動光量制御手段内に備えたことを特徴とする画像形成装置。
- 請求項2記載の画像形成装置において、前記自動光量制御手段は、前記コンデンサに充電された電位を当該自動光量制御手段の上位に位置するCPUへ通知するためにデジタル化するA/D変換手段を用いて前記充電終了時の電位をデジタル化することを特徴とする画像形成装置。
- 請求項2記載の画像形成装置において、前記自動光量制御手段は、前記自動光量制御により所定量に制御される前記光量の値を画素密度に応じて切り替えることを特徴とする画像形成装置。
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005372321A Pending JP2007173707A (ja) | 2005-12-26 | 2005-12-26 | 自動光量制御装置および画像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2007173707A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010199218A (ja) * | 2009-02-24 | 2010-09-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | レーザー出力自動制御回路 |
JP2013184419A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Ricoh Co Ltd | 光出力制御回路、光走査装置及び画像形成装置 |
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2005
- 2005-12-26 JP JP2005372321A patent/JP2007173707A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010199218A (ja) * | 2009-02-24 | 2010-09-09 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | レーザー出力自動制御回路 |
JP2013184419A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Ricoh Co Ltd | 光出力制御回路、光走査装置及び画像形成装置 |
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