JP2007141960A - 不良分析箇所特定装置、不良分析箇所特定方法、不良分析箇所特定用プログラム、および不良分析箇所特定用プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 不良分析箇所特定装置においては、ユーザから、まず不良分析を行う調査対象ロットの指定を受付け(S11)、調査対象ロットが指定されると、その調査対象ロットの検査結果データを外部の検査情報蓄積装置から受信して、不良の内容を特定する不良モードごとのパレート図を作成し(S12)、最も度数の多い不良モードを選択する(S13)。その不良モード内で同じ異常現象が起きている回数をカウントし(S14)、同じ工程で3回以上同じ異常現象が起きているか否かを判断し(S15)、起きていれば(S15でYES)、同じ現象が起きているうちの任意の不良箇所を選択して抽出する(S16)。S15で、同じ工程で3回以上同じ異常現象が起きていなければ(S15でNO)、この処理をパレート図の上位70%までの不良モードまで確認する(S17、S18)
【選択図】図3
Description
Claims (13)
- 複数の工程を経て基板の上に部品を実装する電子部品実装装置において生産された基板の検査結果から不良分析箇所を特定する不良分析箇所特定装置であって、
調査対象となる複数の基板を所定の単位で受付ける受付け手段と、
前記受付け手段で受付けた単位ごとに、前記複数の工程の最終工程における基板の不良モードとその発生頻度とから所定の度数以上の不良モードを特定する不良モード特定手段と、
前記不良モード特定手段によって特定された不良モードにおいて、前記複数の工程の中の前記最終工程以外の工程で、前記不良モードの原因となる異常現象が同じである組合せを抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された組合せを出力する出力手段とを含む、不良分析箇所特定装置。 - 前記不良モード特定手段は、前記受付け手段で受付けた単位ごとに、前記複数の工程の最終工程における基板の不良モードとその発生頻度を表わすパレート図を作成するパレート図作成手段と、前記パレート図作成手段によって作成されたパレート図から所定の度数以上の不良モードを特定する、請求項1に記載の不良分析箇所特定装置。
- 前記不良モード特定手段が特定する所定以上の不良モードは、最も高い度数の不良モードである、請求項1に記載の不良分析箇所特定装置。
- 前記不良モード特定手段が特定する所定以上の不良モードは、前記パレート図において、その発生度数が上位の一定比率以上に含まれる不良モードである、請求項1に記載の不良分析箇所特定装置。
- 前記抽出手段は、前記基板上の位置を考慮して、同じ異常現象が起きている組合せを抽出する、請求項1に記載の不良分析箇所特定装置。
- 前記抽出手段は、前記不良モードごとに、前記異常現象およびその発生位置を特定するデータリストを作成するデータリスト作成手段を含み、前記データリスト作成手段に基づいて、前記組合せを抽出する、請求項1に記載の不良分析箇所特定装置。
- 前記抽出手段は、前記データリストの作成を自動的に行なう、請求項6に記載の不良分析箇所特定装置。
- 前記複数の工程における、前記基板ごとの画像を格納する格納手段をさらに含み、
前記抽出手段は、前記格納手段に格納された前記画像を表示する表示手段と、前記表示手段に表示された前記画像に関する不良情報の入力を受付ける不良情報受付け手段とを含み、
前記データリスト作成手段は、前記不良情報受付け手段で受付けた不良情報に基づいて、データリストの作成を行なう、請求項6に記載の不良分析箇所特定装置。 - 複数の工程を経て基板の上に部品を実装する電子部品実装装置において生産された基板の検査結果から不良分析箇所を特定する不良分析箇所特定方法であって、
調査対象となる複数の基板を所定の単位で受付けるステップと、
受付けられた単位ごとに、複数の工程の最終工程における基板の不良モードとその発生頻度から所定の度数以上の不良モードを特定するステップと、
特定された不良モードにおいて、複数の工程の中の同じ工程で、不良モードの原因となる異常現象が同じである組合せを抽出するステップと、
抽出された組合せを出力するステップとを含む、不良分析箇所特定方法。 - 前記所定の度数以上の不良モードを特定するステップは、前記受付けた単位ごとに、複数の工程の最終工程における基板の不良モードとその発生頻度を表わすパレート図を作成するステップと、作成されたパレート図から所定の度数以上の不良モードを特定するステップとを含む、請求項9に記載の不良分析箇所特定方法
- コンピュータに、複数の工程を経て基板の上に部品を実装する電子部品実装装置において生産された基板の検査結果から不良分析箇所を特定する不良分析箇所特定装置として作動させる不良分析箇所特定用プログラムであって、
コンピュータに、
調査対象となる複数の基板を所定の単位で受付けるステップと、
受付けた単位ごとに、前記複数の工程の最終工程における基板の不良モードとその発生頻度から所定の度数以上の不良モードを特定するステップと、
特定された不良モードにおいて、複数の工程の中の同じ工程で、不良モードの原因となる異常現象が同じである組合せを抽出するステップと、
抽出された組合せを出力するステップとを実行させる、不良分析箇所特定用プログラム。 - 前記所定の度数以上の不良モードを特定するステップは、受付けた単位ごとに、複数の工程の最終工程における基板の不良モードとその発生頻度を表すパレート図を作成するステップと、作成されたパレート図から所定の度数以上の不良モードを特定するステップとを含む、請求項11に記載の不良分析箇所特定用プログラム。
- 請求項11に記載の不良分析箇所特定用プログラムを格納した、コンピュータ読取り可能記録媒体。
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