JP2007141325A - 接触型薄膜磁気ヘッド - Google Patents

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Abstract

【課題】回転している磁気ディスクとスライダとの間に過度な摩擦力を生じさせることなく、ロードまたはアンロード動作可能な接触型薄膜磁気ヘッドを得る。
【解決手段】磁気ディスク外の退避位置から磁気ディスク面上に移動するスライダのディスク対向面に、該磁気ディスクと接触した状態で記録再生動作するヘッド素子を設けた接触型薄膜磁気ヘッドにおいて、スライダのディスク対向面には、ヘッド素子とは平面位置を異ならせて配置した発熱体とこの発熱体及びヘッド素子を覆う表面保護層とが形成され、この発熱体をロード及びアンロードの少なくとも一方の動作時に所定時間通電することにより、発熱体部分の表面保護層をヘッド素子よりも磁気ディスク側へ突出させる。
【選択図】図4

Description

本発明は、磁気ディスクに接触した状態で記録再生動作する接触型薄膜磁気ヘッドに関する。
ハードディスク装置等に搭載される薄膜磁気ヘッドは、磁気抵抗効果素子やインダクティブ素子等を組み込んだスライダを備え、このスライダが磁気ディスク面に生じた空気流により浮上し、この浮上姿勢を保って記録再生動作している。記録再生動作中のヘッド浮上量(スライダと磁気ディスクの距離)は、面記録密度を向上させるため、極力小さいことが望ましい。このような浮上型薄膜磁気ヘッドに対し、近年では更なる記録密度向上を目的として、スライダが磁気ディスクに接触した状態(浮上量ゼロ状態)で記録再生動作する接触型薄膜磁気ヘッドの開発が進められている。
接触型薄膜磁気ヘッドでは、記録再生動作時以外は磁気ディスク外の退避位置で保持され、記録再生動作を開始するときに回転中の磁気ディスク面に載せられ、記録再生動作が終了したら磁気ディスクから退避位置まで戻されるロード/アンロード方式が一般にとられるが、ロードまたはアンロード時にスライダの姿勢が安定しないという問題がある。スライダが異常姿勢で磁気ディスクにロードまたは磁気ディスクからアンロードされると、想定しえない摩擦力がスライダと磁気ディスクとの間に生じ、回転中の磁気ディスクが停止してしまう虞がある。また、磁気ヘッドや磁気ディスク自体を壊してしまう虞もある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、回転している磁気ディスクとスライダとの間に過度な摩擦力を生じさせることなく、ロードまたはアンロード動作可能な接触型薄膜磁気ヘッドを得ることを目的としている。
本発明は、ロードまたはアンロード時にスライダと磁気ディスクの接触面積が小さければ、該スライダと磁気ディスクの間に生じる摩擦力を軽減できることに着目してなされたものである。
すなわち、本発明は、磁気ディスク外の退避位置から磁気ディスク面上に移動するスライダのディスク対向面に、該磁気ディスクと接触した状態で記録再生動作するヘッド素子を設けた接触型薄膜磁気ヘッドにおいて、スライダのディスク対向面には、ヘッド素子とは平面位置を異ならせて配置した発熱体と、この発熱体及びヘッド素子を覆う表面保護層とが形成され、発熱体をロード及びアンロードの少なくとも一方の動作時に所定時間通電することにより、発熱体部分の表面保護層をヘッド素子よりも磁気ディスク側へ突出させることを特徴としている。
上記構成によれば、ロード及びアンロードの少なくとも一方の動作時にスライダと磁気ディスクは表面保護層の突出部で接するので、該スライダと磁気ディスクの接触面積を最小限に抑えることができる。これにより、スライダが異常姿勢で磁気ディスクにロードまたは磁気ディスクからアンロードされても、スライダと磁気ディスクの間に生じる摩擦力は軽減され、この摩擦力によるスライダ及び磁気ディスクの破損を防止できる。
発熱体は、ヘッド素子のトラック幅方向の両側領域に一対で配置されていることが好ましい。あるいは、ヘッド素子のトラック幅方向の両側領域のうち、ロード時に磁気ディスクに先に接触する側の領域に配置されていることが好ましい。
具体的に、ヘッド素子が磁気ギャップ層を介して積層した下部コア層と上部コア層を有する記録素子を備えている場合には、発熱体は、この磁気ギャップ層上であって上部コア層のトラック幅方向の両側領域に配置されていることが好ましい。
図1〜図4は、本発明による接触型薄膜磁気ヘッドの一実施形態を示している。各図において、X方向はトラック幅方向、Y方向はハイト方向、Z方向は磁気ディスク(記録媒体)の移動方向をそれぞれ示す。
接触型薄膜磁気ヘッド(以下、単に「薄膜磁気ヘッド」という)1は、可撓性の金属薄板(一般にはステンレス製)からなるフレキシャ2の自由端部に接着固定されたスライダ3を備えている。スライダ3は例えばアルミナチタンカーバイドなどのセラミック材料からなり、その一端面3aにヘッド素子4が形成されている。ヘッド素子4は、再生素子Rと記録素子Wが積層形成された複合型ヘッド素子である。この薄膜磁気ヘッド1は、記録再生動作時以外は磁気ディスクD外の退避位置で保持され、記録再生動作を開始するときに磁気ディスクD上に載せられ、図1に示すようにヘッド素子4が磁気ディスクDに接触した状態で記録再生動作する。記録再生動作終了後は、磁気ディスクDから再び磁気ディスクD外の退避位置へ戻される。
図2は薄膜磁気ヘッド1の積層構造をヘッド素子4の素子中央で切断して示す断面図であり、図3は薄膜磁気ヘッド1の積層構造をスライダ3のディスク対向面3b側から見て示す断面図である。
図2に示されるようにスライダ3の一端面3a上には、積層方向に沿って順にアルミナアンダーコート膜11、下部シールド層12、下部ギャップ層13及び磁気抵抗効果を発揮する多層膜Mが形成されている。下部ギャップ層13上には、さらに、多層膜Mのトラック幅方向の両側領域にハードバイアス層14と電極層15が積層形成され、多層膜Mのハイト方向奥側に絶縁層16が形成されている。下部シールド層12はパーマロイなどの軟磁性材料からなり、下部ギャップ層13はアルミナなどの非磁性絶縁材料からなる。
多層膜Mは、磁気ディスクDとの対向面(ディスク対向面)に露出し、該多層膜Mのトラック幅方向の両側に接続された電極層15を介して電流が与えられた状態では磁気ディスクDからの漏れ磁界に応じて抵抗値が変化する。薄膜磁気ヘッド1は、多層膜Mの抵抗値変化に基づき、磁気ディスクDに記録された磁気情報を読み出す。多層膜Mには、TMR(Tunneling Magnetoresistance)膜、GMR(Giant Magnetoresistance)膜やAMR(Anisotropic Magnetoresistance)膜を用いる。
電極層15は、トラック幅方向の両側で多層膜Mに接した後、ディスク対向面からデプス方向に向かって長く延びていて、スライダ3の一端面3a上に形成される積層膜の最上層位置で電極パッド層E3、E4に接続されている(図4参照)。電極層15及び電極パッド層E3、E4は、電気抵抗の小さいCuやAu等の導電材料により形成されている。
多層膜M及び電極層15上には、上部ギャップ層17を介して、上部シールド層18が形成されている。上部ギャップ層17は例えばアルミナなどの非磁性材料からなり、上部シールド層18は例えばパーマロイなどの軟磁性材料からなる。不図示であるが、上部シールド層18の周囲には絶縁層が形成されている。
上記下部シールド層12から上部シールド層18までの構造が再生素子Rである。本実施形態では、再生素子Rの上部シールド層18が記録素子Wの下部コア層を兼ねている(マージド型)が、上部シールド層と下部コア層とが別々に備えられたピギーバック型であってもよい。
下部コア層18上には、ディスク対向面に露出する磁気ギャップ層19が備えられ、この磁気ギャップ層19のハイト方向の寸法により、薄膜磁気ヘッド1のギャップデプスGpが規定される。磁気ギャップ層19は非磁性材料からなる。また下部コア層18上には、磁気ギャップ層19よりもハイト方向奥側に位置させて、下部コア層18と上部コア層26を磁気的に接続する磁気接続部20と、この磁気接続部20を囲んで螺旋状に巻かれた第1コイル層21と、第1コイル層21及びそのピッチ間を覆う第1非磁性絶縁層22とが形成されている。磁気接続部20及び第1非磁性絶縁層22の上面は磁気ギャップ層19の上面と同一面を構成している。
第1非磁性絶縁層22の上には、第1コイル層21の巻き方向とは逆向きで螺旋状に巻かれた第2コイル層23と、この第2コイル層23及びそのピッチ間を覆う第2非磁性絶縁層24とが形成されている。第1コイル層21と第2コイル層23は、第1非磁性絶縁層22を貫通するコンタクト部25を介して導通接続され、さらに、図4に示すように第1コイルリード層21a及び第2コイルリード層23aを介して電極パッド層E1、E2にそれぞれ接続されている。第1コイルリード層21a及び第2コイルリード層23aは、第1コイル層21と同じ形成面に、第1コイル層21のメッキ形成工程時に同時にメッキにより形成されている。第2コイルリード層23aは、第1非磁性絶縁層22を貫通する不図示のコンタクト部を介して第2コイル層23に接続されている。この第1コイル層21及び第2コイル層23の形状は限定されるものではなく、例えばソレノイド形状であってもよい。磁気接続部20は例えばパーマロイ等の軟磁性材料からなり、第1非磁性絶縁層22および第2非磁性絶縁層24は例えばアルミナからなる。第1コイル層21、第2コイル層23、コンタクト部25、第1コイルリード層21a、第2コイルリード層23a及び電極パッド層E1、E2は、電気抵抗の小さいCuなどの導電材料により形成されている。
第2非磁性絶縁層24の上には、ディスク対向面に露出する先端部26aで磁気ギャップ層19に接し、ディスク対向面よりもハイト方向奥側の基端部26bで磁気接続部20に接続する上部コア層26が形成されている。上部コア層26の先端部26aは、図3に示すように、磁気ディスクDのトラック幅に合わせて幅狭になっている。上部コア層26は、例えばパーマロイ等の軟磁性材料からなる。
上記下部コア層18から上部コア層26までの構造が記録素子Wである。上部コア層26の周囲と第2非磁性絶縁層24及び下部コア層18の上面は、表面保護層27によって覆われている。
上記構成の薄膜磁気ヘッド1は、さらに、ヘッド素子4とは平面位置を異ならせて、発熱体30(図3〜図5)を備えている。図4は、薄膜磁気ヘッド1をスライダ3の一端面3a側から見た部分透視図である。発熱体30は、磁気ギャップ層19上であって上部コア層26のトラック幅方向の両側領域にそれぞれ形成され、上部コア層26と共に表面保護層27で覆われている。具体的に一対の発熱体30は、上部コア層26と同じ平面高さ、または、該上部コア層26よりも上層に位置していることが好ましい。この一対の発熱体30は、図4に示される電極パッド層E5〜E8及び発熱体用リード層31を介して通電制御部32から通電されたときに発熱する。本実施形態の発熱体30は、NiFe、CuNi、CuMnのいずれかによりフレームメッキ法を用いて上部コア層26と一緒に形成し、1μm〜10μm程度の厚い膜厚にして発熱体30から得られる熱量を増大させている。発熱体30の平面形状は、例えば図5に示されるようなミアンダーパターン形状とすることができる。
一対の発熱体30から発生された熱は、その大部分が該発熱体30からディスク対向面側に向かって伝わり、発熱体付近の表面保護層27を集中的に温める。すると、発熱体付近の表面保護層27は熱膨張し、ヘッド素子4よりも磁気ディスクD側に突出して、ヘッド素子4のトラック幅方向の両側に角状の突出部αを形成する(図6参照)。このように表面保護層27の一部が磁気ディスクD側に突出すると、スライダ3と磁気ディスクDの接触面積を小さくすることができる。通電制御部32は、薄膜磁気ヘッド1のロード及びアンロードの少なくとも一方の動作時に、一対の発熱体30を通電する。
次に、図6及び図7を参照し、薄膜磁気ヘッド1のロード及びアンロード動作を説明する。本実施形態の通電制御部32は、薄膜磁気ヘッド1のロード及びアンロードの両動作時に、一対の発熱体30を通電する。
起動前(記録再生動作実行前)の状態では、薄膜磁気ヘッド1は磁気ディスクD外の退避位置で保持され、磁気ディスクDの回転は停止している。
そして起動される(記録再生動作の実行指令が出される)と、磁気ディスクDの回転が開始され(S1)、通電制御部32が一対の発熱体30への通電を開始して所定時間待機する(S2、S3;N)。発熱体30が通電されると、発熱体部分の表面保護層27は即座に温められ、磁気ディスクD側へ突出する。S3で所定時間待機するのは、図6(A)に示すようにスライダ3のディスク対向面3bにおいて、ヘッド素子4の両側に一対の突出部αを確実に生じさせるためである。
所定時間待機したら(S3;Y)、薄膜磁気ヘッド1を退避位置から磁気ディスクD上へ移動させる(S4)。薄膜磁気ヘッド1はスライダ3が磁気ディスクD上に載った時点から磁気ディスクDに接触し、磁気ディスクDと接触した状態のままで所定の動作開始地点まで移動する。このとき、図6(A)に示すように、磁気ディスクDと接するのはディスク対向面3bでヘッド素子4の両側から突出させた突出部(表面保護層27)αのみであり、磁気ディスクDと薄膜磁気ヘッド1の接触面積は小さい。よって、図6(B)に示すようにスライダ3が磁気ディスクDに載るときに安定姿勢をとれず、異常姿勢のままロードされても、薄膜磁気ヘッド1と磁気ディスクDの間に生じる摩擦力は大きくならず、回転中の磁気ディスクDを停止させることもない。また、薄膜磁気ヘッド1や磁気ディスクD自体の破損を防止できる。
薄膜磁気ヘッド1をロードしたら、スライダ3の姿勢が安定するまで所定時間待機し(S5;N)、待機後は通電制御部32が一対の発熱体30への通電を停止し(S5;Y、S6)、記録再生動作を開始する(S7)。発熱体30への通電を停止すると、表面保護層27は外気によって冷やされ、ディスク対向面3bの突出部αが消える。すなわち、スライダ3のディスク対向面3bは平坦面となり、ディスク対向面3bが全面的に磁気ディスクDに接している状態でヘッド素子4の記録再生動作が行なわれる。ヘッド素子4から磁気ディスクDまでが近いので、従来の浮上型薄膜磁気ヘッドに比べて読書性能が向上する。
そして、記録再生動作を終了する場合は(S8;Y)、通電制御部32が一対の発熱体30への通電を開始し(S9)、スライダ3のディスク対向面3bに一対の突出部αが形成されるまで所定時間待機する(S10;N)。上述したように一対の発熱体30への通電が開始されると、発熱体部分の表面保護層27が温められて磁気ディスクD側へ突出し、ヘッド素子4のトラック幅方向の両側へ一対の突出部αを形成する。
所定時間待機したら(S10;Y)、薄膜磁気ヘッド1を磁気ディスクD上から磁気ディスクD外の退避位置まで移動させる(S11)。このとき、図6(A)に示すように、磁気ディスクDと接するのはディスク対向面3bでヘッド素子4の両側から突出させた突出部(表面保護層27)αのみであり、磁気ディスクDと薄膜磁気ヘッド1の接触面積は小さい。よって、図6(B)に示すようにスライダ3が磁気ディスクDから離れるときに安定姿勢をとれず、異常姿勢のままアンロードされても、薄膜磁気ヘッド1と磁気ディスクDの間に生じる摩擦力は大きくならず、回転中の磁気ディスクDを停止させることもない。また、薄膜磁気ヘッド1や磁気ディスクD自体の破損を防止できる。
薄膜磁気ヘッド1を退避位置へ戻したら、通電制御部32により一対の発熱体30への通電が停止される(S12)。一対の発熱体30への通電が停止されると、表面保護層27は外気によって冷やされ、ディスク対向面3bの突出部αは消える。続いて、磁気ディスクDの回転も停止され(S13)、起動前(記録再生動作実行前)の状態に戻る。
以上のように本実施形態では、記録再生中はスライダ3のディスク対向面が全面的に磁気ディスクDに接することにより記録再生性能を向上させ、スライダ3の姿勢が安定しづらいロード及びアンロードの少なくとも一方の動作時にはディスク対向面3bに突出部αを生じさせ、この突出部αで磁気ディスクDに接触して接触面積を減少させている。これにより、ロードまたはアンロード時にスライダ3が異常姿勢となっても薄膜磁気ヘッド1と磁気ディスクDとの間に生じる摩擦力は大きくならず、回転中の磁気ディスクDが停止することも薄膜磁気ヘッド1及び磁気ディスクDが破損することもない。
本実施形態では、ヘッド素子4のトラック幅方向の両側領域に発熱体30を一対で設けたが、両側領域のいずれか一方のみに発熱体30を設ける構成としてもよい。その場合には、薄膜磁気ヘッド1のロード時に、先に磁気ディスクDに接触する側に設けることが好ましい。
また本実施形態では、磁気ギャップ層19と表面保護層27の間に発熱体30を介在させているが、発熱体30は、表面保護層27内に埋設して備えてもよい。
以上では、再生素子の上に記録素子を積層してなる録再素子をヘッド素子として備えた実施形態について説明したが、再生素子のみ、記録素子のみを備える接触型薄膜磁気ヘッドに対しても本発明は適用可能である。
接触型薄膜磁気ヘッドを説明する模式図である。 本発明の一実施形態による接触型薄膜磁気ヘッドの積層構造を、ヘッド素子の素子中央で切断して示す断面図である。 図2の接触型薄膜磁気ヘッドの積層構造を、ディスク対向面から見て示す断面図である。 図2の接触型薄膜磁気ヘッドをスライダの一端面から見た部分透視図である。 発熱体形状の一例を示す斜視図である。 図2の接触型薄膜磁気ヘッドのロードまたはアンロード動作を説明する模式断面図であって、(A)スライダが安定な姿勢でロードまたはアンロードされた場合、(B)スライダが異常姿勢でロードまたはアンロードされた場合を示している。 図2の接触型薄膜磁気ヘッドの記録再生動作に関するフローチャートである。
符号の説明
1 薄膜磁気ヘッド(接触型薄膜磁気ヘッド)
3 スライダ
3a 一端面
3b ディスク対向面
4 ヘッド素子
26 上部コア層
27 表面保護層
30 発熱体
32 通電制御部
D 磁気ディスク
M 多層膜
R 再生素子
W 記録素子
α 突出部

Claims (4)

  1. 磁気ディスク外の退避位置から磁気ディスク面上に移動するスライダのディスク対向面に、該磁気ディスクと接触した状態で記録再生動作するヘッド素子を設けた接触型薄膜磁気ヘッドにおいて、
    前記スライダのディスク対向面には、前記ヘッド素子とは平面位置を異ならせて配置した発熱体と、この発熱体及び前記ヘッド素子を覆う表面保護層とが形成され、
    前記発熱体をロード及びアンロードの少なくとも一方の動作時に所定時間通電することにより、発熱体部分の表面保護層を前記ヘッド素子よりも前記磁気ディスク側へ突出させることを特徴とする接触型薄膜磁気ヘッド。
  2. 請求項1記載の接触型薄膜磁気ヘッドにおいて、前記発熱体は、前記ヘッド素子のトラック幅方向の両側領域に一対で配置されている接触型薄膜磁気ヘッド。
  3. 請求項1記載の接触型薄膜磁気ヘッドにおいて、前記発熱体は、前記ヘッド素子のトラック幅方向の両側領域のうち、ロード時に前記磁気ディスクに先に接触する側の領域に配置されている接触型薄膜磁気ヘッド。
  4. 請求項2または3記載の接触型薄膜磁気ヘッドにおいて、前記ヘッド素子は、磁気ギャップ層を介して積層した下部コア層と上部コア層を有する記録素子を備え、この磁気ギャップ層上であって前記上部コア層のトラック幅方向の両側領域に前記発熱体が配置されている接触型薄膜磁気ヘッド。
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