JP2007139776A - 光学式エッジ急変部ゲージ - Google Patents
光学式エッジ急変部ゲージ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007139776A JP2007139776A JP2006308932A JP2006308932A JP2007139776A JP 2007139776 A JP2007139776 A JP 2007139776A JP 2006308932 A JP2006308932 A JP 2006308932A JP 2006308932 A JP2006308932 A JP 2006308932A JP 2007139776 A JP2007139776 A JP 2007139776A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- projector
- edge
- sudden change
- optical
- light path
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2513—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】プロジェクタ20が、第1の光軸44に沿って構造光パターン46を表面80上に投射する。プロジェクタ20に付属したビュアー50が、第2の光軸54に沿って表面80から構造光パターン46の反射を受け、また二次元スナップショットをデジタル化する。ビュアー50にインタフェース接続されたコンピュータ61が、デジタル化スナップショットを受けかつ該デジタル化スナップショットを解析して表示及び検査のために表面を数学的にモデル化する。プロジェクタ及び付属ビュアーは、ハンドグリップ66とスナップショットを開始するトリガボタン68とを備えた手持ち式ユニットとして設計される。手持ち式ユニット上に配置されたガイド先端部が、2つの光軸44、54のそばで共通視野まで延長して該ユニットを位置決めする。
【選択図】図1
Description
*視野=約3.5mm平方
*被写界深度=50%のコントラスロス以下で2mm又はそれ以上
*空間分解能=2%の歪以下で0.005mm又はそれ以下
*深さ分解能=0.005mm
プロジェクタ及びビュアー光学装置のいずれか又は両方が、光又は画像フィールドの一様性を向上させかつ/又はエッジ表面への光学的なアクセスを向上させるように構成されたテレセントリックレンズ系又は他の光学系を含むことができることは、当業者には分かるであろう。当業者には分かるように、テレセントリックレンズ系は、表面に対する全てのビューを実質的に平行にする。ビュアーのケースでは、これは、エッジ急変部の2つの側面からの光のより一様な収集をもたらすことになる。光の一様性を向上させるように構成された光学系の実施例には、エッジの2つの側面に対して照明をより一様に配向するように配置されたミラーシステムを含むことができる。
22 光源
24 電源
26 発散光線
28 集光レンズ
30 集光アパーチャ
32 集収光線
34 回折格子
36 正弦波成分
38 高調波成分
40 イメージングアパーチャ
42 イメージングレンズ
44、54 光軸
46 光パターン
48 輪郭
49 曲率半径
50 ビュアー
52 光学装置
54 光軸
56 ビューイング光パス
57 デジタルカメラ要素
58 画像センサ
59 アナログ・デジタル変換器
60 インタフェース回路
61 外部コンピュータ
62 コンピュータディスプレイ
64 ブラケット
66 ハンドグリップ
68 トリガボタン
70 ガイド先端部
80 表面
Claims (10)
- 3D表面輪郭測定用の光学式エッジ急変部ゲージであって、
光源(22)と前記光源からの光を投射光パスに沿って導く投射光学装置とを備えたプロジェクタ(20)と、
輪郭付けされる表面上に構造光パターンを投射するように前記投射光パスを修正する該投射光パス内の光学回折格子装置(34)と、
前記プロジェクタに付属し、前記投射光パスに平行でないビューイング光パスと、前記表面からの前記構造光パターンの拡散反射の画像を検知する前記ビューイング光パス内の光検知アレイ(58)と、前記光検知アレイに接続されて前記画像をデジタル化するデジタイザ(59)とを有するビューイング光学装置を備えたビュアー(50)と、
前記デジタイザと通信するデータ入力部と、前記デジタル化反射画像によって与えられた表面輪郭情報に基づいて前記輪郭付けされる表面をモデル化するプロセッサとを備えたコンピュータ(61)と、
を含むエッジ急変部ゲージ。 - 前記ビューイング光学装置が、テレセントリックレンズ系を含む、請求項1記載のエッジ急変部ゲージ。
- 前記投射光学装置が、テレセントリックレンズ系を含む、請求項1記載のエッジ急変部ゲージ。
- 前記プロジェクタと前記付属ビュアーとの組合せが、
手持ち式ユニットを構成し、前記組合せが、
前記手持ち式ユニットに取付けられて該ユニットを手動的に位置決めするハンドグリップ(66)と、
前記光検知アレイ及びデジタイザ回路に電気的に接続されてデジタル画像スナップショットを収集するデジタルカメラ回路(57)と、
前記デジタルカメラ回路に電気的に接続されて前記画像スナップショットを開始するトリガボタン(68)と、
前記デジタルカメラ回路に接続されて前記デジタル画像スナップショットを前記コンピュータに伝送するコンピュータインタフェース回路(60)と、をさらに含む、
請求項1記載のエッジ急変部ゲージ。 - 前記投射光パスと前記ビューイング光パスとが、ほぼ前記プロジェクタ及びビュアーの共通視野内で互いに交差し、
該エッジ急変部ゲージが、前記手持ち式ユニットに取付けられたガイド先端部をさらに含み、
前記ガイド先端部が、前記投射光パスのそばでかつ前記ビューイング光パスのそばで前記共通視野内のエンドポイントまで延びてスナップショット時間の間に前記輪郭付けされる表面に対して該エッジ急変部ゲージを位置決めしかつ安定させる、
請求項4記載のエッジ急変部ゲージ。 - 前記光学回折格子装置が、前記投射光パスに対して傾斜して前記プロジェクタ内に取付けられて前記投射光パスと前記ビューイング光パスとのほぼ交差位置におけるかつ前記エッジの頂点とほぼ同一平面になった投射画像焦点面を形成する、請求項5記載のエッジ急変部ゲージ。
- 第1の光軸に沿って構造光パターンを表面上に投射するプロジェクタ(20)と、
前記プロジェクタに付属し、前記第1の光軸と平行でなくかつ該プロジェクタとそれとの共通視野内で該第1の光軸と交差した第2の光軸に沿って前記表面から前記構造光パターンの反射を受け、またトリガ信号が与えられると前記反射の二次元スナップショットをデジタル化するビュアー(50)と、
前記ビュアーとインタフェース接続されて前記デジタル化スナップショットを受けるコンピュータ(61)と、
前記デジタル化スナップショットを解析しかつ前記表面を数学的にモデル化する前記コンピュータ内のプロセッサと、を含み、
前記プロジェクタと前記付属ビュアーとが、自由に移動可能な手持ち式組立体を構成し、
前記トリガ信号を与えるためのトリガボタン(68)を備えたハンドグリップ(66)が、前記手持ち式組立体上に配置され、
前記2つの光軸の隣り合い又は近傍で前記共通視野まで延びて前記表面に対して前記手持ち式組立体を位置決めするガイド先端部(70)が、該手持ち式組立体上に配置される、
光学式エッジ急変部ゲージ。 - 前記構造光パターンが、前記第1の光軸に対して傾斜して前記プロジェクタ内に取付けられて前記エッジの頂点とほぼ同一平面に位置した投射画像面を形成する光学回折格子(34)によって形成される、請求項7記載のエッジ急変部ゲージ。
- 前記ビュアーが、テレセントリックレンズ系を含む、請求項7記載のエッジ急変部ゲージ。
- 前記プロジェクタが、テレセントリックレンズ系を含む、請求項7記載のエッジ急変部ゲージ。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/274,578 US7489408B2 (en) | 2005-11-15 | 2005-11-15 | Optical edge break gage |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007139776A true JP2007139776A (ja) | 2007-06-07 |
JP2007139776A5 JP2007139776A5 (ja) | 2013-06-06 |
Family
ID=37680699
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006308932A Pending JP2007139776A (ja) | 2005-11-15 | 2006-11-15 | 光学式エッジ急変部ゲージ |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7489408B2 (ja) |
EP (1) | EP1785693B1 (ja) |
JP (1) | JP2007139776A (ja) |
CN (1) | CN101029819B (ja) |
DE (1) | DE602006005028D1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010271312A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | General Electric Co <Ge> | マルチイメージフェーズシフト解析を用いた検査システム及び方法 |
JP2012521005A (ja) * | 2009-03-19 | 2012-09-10 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光学式ゲージ及び3次元表面プロファイル測定方法 |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7925075B2 (en) * | 2007-05-07 | 2011-04-12 | General Electric Company | Inspection system and methods with autocompensation for edge break gauging orientation |
GB0714974D0 (en) * | 2007-07-31 | 2007-09-12 | Third Dimension Software Ltd | Measurement apparatus |
CA2606267A1 (fr) * | 2007-10-11 | 2009-04-11 | Hydro-Quebec | Systeme et methode de cartographie tridimensionnelle d'une surface structurelle |
US7821649B2 (en) | 2008-03-05 | 2010-10-26 | Ge Inspection Technologies, Lp | Fringe projection system and method for a probe suitable for phase-shift analysis |
US8422030B2 (en) * | 2008-03-05 | 2013-04-16 | General Electric Company | Fringe projection system with intensity modulating by columns of a plurality of grating elements |
US7812968B2 (en) * | 2008-03-05 | 2010-10-12 | Ge Inspection Technologies, Lp | Fringe projection system and method for a probe using a coherent fiber bundle |
US8107083B2 (en) * | 2008-03-05 | 2012-01-31 | General Electric Company | System aspects for a probe system that utilizes structured-light |
US8917320B2 (en) | 2009-03-04 | 2014-12-23 | VISIONx INC. | Digital optical comparator |
US20100309290A1 (en) * | 2009-06-08 | 2010-12-09 | Stephen Brooks Myers | System for capture and display of stereoscopic content |
US8269970B2 (en) | 2009-07-02 | 2012-09-18 | Quality Vision International, Inc. | Optical comparator with digital gage |
US9001029B2 (en) * | 2011-02-15 | 2015-04-07 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
WO2014097181A1 (en) | 2012-12-19 | 2014-06-26 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
JP2014182028A (ja) * | 2013-03-19 | 2014-09-29 | Omron Corp | 限定領域反射型光電センサ |
JP6440696B2 (ja) | 2013-06-13 | 2018-12-19 | ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se | 少なくとも1つの物体の方位を光学的に検出する検出器 |
EP3008485A1 (en) | 2013-06-13 | 2016-04-20 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
JP6403776B2 (ja) | 2013-08-19 | 2018-10-10 | ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se | 光学検出器 |
KR20160044009A (ko) | 2013-08-19 | 2016-04-22 | 바스프 에스이 | 하나 이상의 물체의 위치를 결정하기 위한 검출기 |
CN104036545A (zh) * | 2014-06-27 | 2014-09-10 | 嘉善天慧光电科技有限公司 | 一种便携式自适应图像三维重建仪的光源结构 |
US11041718B2 (en) | 2014-07-08 | 2021-06-22 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
WO2016051323A1 (en) | 2014-09-29 | 2016-04-07 | Basf Se | Detector for optically determining a position of at least one object |
JP6637980B2 (ja) | 2014-12-09 | 2020-01-29 | ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se | 光学検出器 |
EP3251152B1 (en) | 2015-01-30 | 2023-08-16 | Trinamix GmbH | Detector for an optical detection of at least one object |
JP6877418B2 (ja) | 2015-07-17 | 2021-05-26 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 少なくとも1個の対象物を光学的に検出するための検出器 |
US10412283B2 (en) | 2015-09-14 | 2019-09-10 | Trinamix Gmbh | Dual aperture 3D camera and method using differing aperture areas |
US11211513B2 (en) | 2016-07-29 | 2021-12-28 | Trinamix Gmbh | Optical sensor and detector for an optical detection |
JP2019532517A (ja) | 2016-10-25 | 2019-11-07 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 光学的に検出するための光検出器 |
EP3532864A1 (en) | 2016-10-25 | 2019-09-04 | trinamiX GmbH | Detector for an optical detection of at least one object |
JP2020500310A (ja) | 2016-11-17 | 2020-01-09 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 少なくとも1つの物体を光学的に検出するための検出器 |
US11860292B2 (en) | 2016-11-17 | 2024-01-02 | Trinamix Gmbh | Detector and methods for authenticating at least one object |
US11060922B2 (en) | 2017-04-20 | 2021-07-13 | Trinamix Gmbh | Optical detector |
CN110998223B (zh) | 2017-06-26 | 2021-10-29 | 特里纳米克斯股份有限公司 | 用于确定至少一个对像的位置的检测器 |
DE102017223287A1 (de) | 2017-12-19 | 2019-06-19 | Lufthansa Technik Ag | Verfahren zum Überprüfen des technischen Zustands eines Gegenstands |
WO2019243046A1 (en) | 2018-06-18 | 2019-12-26 | Lumileds Holding B.V. | Lighting device comprising led and grating |
JP7297891B2 (ja) | 2018-07-19 | 2023-06-26 | アクティブ サージカル, インコーポレイテッド | 自動化された外科手術ロボットのためのビジョンシステム内の深度のマルチモード感知のためのシステムおよび方法 |
EP3952720A4 (en) | 2019-04-08 | 2023-04-05 | Activ Surgical, Inc. | SYSTEMS AND METHODS FOR MEDICAL IMAGING |
CN114599263A (zh) | 2019-08-21 | 2022-06-07 | 艾科缇弗外科公司 | 用于医疗成像的系统和方法 |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02500217A (ja) * | 1986-10-15 | 1990-01-25 | イーストマン・コダック・カンパニー | 拡張範囲モアレ等高線作成法 |
JPH04110706A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Kiyadeitsukusu:Kk | 三次元形状データ取込み装置 |
JPH07311030A (ja) * | 1994-05-19 | 1995-11-28 | Nissan Motor Co Ltd | 塗装面性状測定装置 |
JPH10510352A (ja) * | 1994-08-24 | 1998-10-06 | トリコーダー テクノロジー ピーエルシー | 走査装置および走査方法 |
JPH1119039A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-26 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
JP2000009444A (ja) * | 1998-06-23 | 2000-01-14 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | 表面形状計測装置 |
JP2000097672A (ja) * | 1998-09-18 | 2000-04-07 | Sanyo Electric Co Ltd | 3次元計測機における制御情報生成方法及び制御情報生成支援システム |
JP2000292131A (ja) * | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Minolta Co Ltd | 3次元情報入力カメラ |
JP2001012930A (ja) * | 1999-06-28 | 2001-01-19 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2002056348A (ja) * | 2000-08-07 | 2002-02-20 | Tohken Co Ltd | オートフォーカス機能を有する手持ち式読取装置及びオートフォーカス方法、並び距離計測方法 |
JP2003527590A (ja) * | 2000-03-10 | 2003-09-16 | パーセプトロン インコーポレイテッド | 非接触測定装置 |
JP2004354382A (ja) * | 2003-05-28 | 2004-12-16 | General Electric Co <Ge> | 流れ開口面積を測定するための方法及び装置 |
JP2005121644A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-05-12 | Brother Ind Ltd | 3次元形状検出システム、3次元形状検出装置、及び3次元形状検出プログラム |
Family Cites Families (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4641972A (en) | 1984-09-14 | 1987-02-10 | New York Institute Of Technology | Method and apparatus for surface profilometry |
US4983043A (en) | 1987-04-17 | 1991-01-08 | Industrial Technology Institute | High accuracy structured light profiler |
US4727390A (en) * | 1987-06-22 | 1988-02-23 | Brown Melvin W | Camera mounting bracket |
US4952772A (en) | 1988-11-16 | 1990-08-28 | Westinghouse Electric Corp. | Automatic seam tracker and real time error cumulative control system for an industrial robot |
US4984893A (en) | 1989-12-01 | 1991-01-15 | Wyko Corporation | Phase shifting device and method |
US5069548A (en) | 1990-08-08 | 1991-12-03 | Industrial Technology Institute | Field shift moire system |
US5189493A (en) | 1990-11-02 | 1993-02-23 | Industrial Technology Institute | Moire contouring camera |
US5636025A (en) | 1992-04-23 | 1997-06-03 | Medar, Inc. | System for optically measuring the surface contour of a part using more fringe techniques |
US5307152A (en) | 1992-09-29 | 1994-04-26 | Industrial Technology Institute | Moire inspection system |
US5500737A (en) | 1993-07-21 | 1996-03-19 | General Electric Company | Method for measuring the contour of a surface |
US5825495A (en) | 1995-02-27 | 1998-10-20 | Lockheed Martin Corporation | Bright field illumination system |
JP3481631B2 (ja) | 1995-06-07 | 2003-12-22 | ザ トラスティース オブ コロンビア ユニヴァーシティー イン ザ シティー オブ ニューヨーク | 能動型照明及びデフォーカスに起因する画像中の相対的なぼけを用いる物体の3次元形状を決定する装置及び方法 |
WO1997004285A1 (en) | 1995-07-18 | 1997-02-06 | The Budd Company | Moire interferometry system and method with extended imaging depth |
US6009189A (en) | 1996-08-16 | 1999-12-28 | Schaack; David F. | Apparatus and method for making accurate three-dimensional size measurements of inaccessible objects |
US6438272B1 (en) | 1997-12-31 | 2002-08-20 | The Research Foundation Of State University Of Ny | Method and apparatus for three dimensional surface contouring using a digital video projection system |
US6636255B1 (en) | 1998-01-29 | 2003-10-21 | Fuji Photo Optical Co., Ltd. | Three-dimensional image scanner and heat-insulating device for optical apparatus |
US6252623B1 (en) | 1998-05-15 | 2001-06-26 | 3Dmetrics, Incorporated | Three dimensional imaging system |
US6040910A (en) | 1998-05-20 | 2000-03-21 | The Penn State Research Foundation | Optical phase-shift triangulation technique (PST) for non-contact surface profiling |
US6603103B1 (en) | 1998-07-08 | 2003-08-05 | Ppt Vision, Inc. | Circuit for machine-vision system |
US6084712A (en) | 1998-11-03 | 2000-07-04 | Dynamic Measurement And Inspection,Llc | Three dimensional imaging using a refractive optic design |
WO2000077471A1 (de) | 1999-06-10 | 2000-12-21 | MPT Präzisionsteile GmbH Mittweida | Vorrichtung zur berührungslosen dreidimensionalen vermessung von körpern und verfahren zur bestimmung eines koordinatensystems für messpunktkoordinaten |
US6788210B1 (en) | 1999-09-16 | 2004-09-07 | The Research Foundation Of State University Of New York | Method and apparatus for three dimensional surface contouring and ranging using a digital video projection system |
US6639685B1 (en) | 2000-02-25 | 2003-10-28 | General Motors Corporation | Image processing method using phase-shifted fringe patterns and curve fitting |
US6593587B2 (en) * | 2000-03-10 | 2003-07-15 | Perceptron, Inc. | Non-contact measurement device for quickly and accurately obtaining dimensional measurement data |
US7002589B2 (en) | 2000-03-17 | 2006-02-21 | Sun Microsystems, Inc. | Blending the edges of multiple overlapping screen images |
KR100389017B1 (ko) | 2000-11-22 | 2003-06-25 | (주) 인텍플러스 | 모아레무늬 발생기를 적용한 위상천이 영사식 모아레방법및 장치 |
US6841780B2 (en) | 2001-01-19 | 2005-01-11 | Honeywell International Inc. | Method and apparatus for detecting objects |
DE10142166A1 (de) | 2001-08-29 | 2003-03-20 | Bosch Gmbh Robert | Handgerät zur berührungslosen Abstandsmessung |
US6910278B2 (en) | 2003-01-30 | 2005-06-28 | Lockheed Martin Corporation | Apparatus and method for inspecting and marking repair areas on a blade |
US7324677B2 (en) | 2003-10-14 | 2008-01-29 | Agilent Technologies, Inc. | Feature quantitation methods and system |
US6945124B1 (en) | 2004-10-22 | 2005-09-20 | Pratt & Whitney Canada Corp. | Measurement system |
-
2005
- 2005-11-15 US US11/274,578 patent/US7489408B2/en active Active - Reinstated
-
2006
- 2006-11-13 DE DE602006005028T patent/DE602006005028D1/de active Active
- 2006-11-13 EP EP06255799A patent/EP1785693B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-15 CN CN2006100642028A patent/CN101029819B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-15 JP JP2006308932A patent/JP2007139776A/ja active Pending
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02500217A (ja) * | 1986-10-15 | 1990-01-25 | イーストマン・コダック・カンパニー | 拡張範囲モアレ等高線作成法 |
JPH04110706A (ja) * | 1990-08-31 | 1992-04-13 | Kiyadeitsukusu:Kk | 三次元形状データ取込み装置 |
JPH07311030A (ja) * | 1994-05-19 | 1995-11-28 | Nissan Motor Co Ltd | 塗装面性状測定装置 |
JPH10510352A (ja) * | 1994-08-24 | 1998-10-06 | トリコーダー テクノロジー ピーエルシー | 走査装置および走査方法 |
JPH1119039A (ja) * | 1997-06-30 | 1999-01-26 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
JP2000009444A (ja) * | 1998-06-23 | 2000-01-14 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | 表面形状計測装置 |
JP2000097672A (ja) * | 1998-09-18 | 2000-04-07 | Sanyo Electric Co Ltd | 3次元計測機における制御情報生成方法及び制御情報生成支援システム |
JP2000292131A (ja) * | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Minolta Co Ltd | 3次元情報入力カメラ |
JP2001012930A (ja) * | 1999-06-28 | 2001-01-19 | Nissan Motor Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2003527590A (ja) * | 2000-03-10 | 2003-09-16 | パーセプトロン インコーポレイテッド | 非接触測定装置 |
JP2002056348A (ja) * | 2000-08-07 | 2002-02-20 | Tohken Co Ltd | オートフォーカス機能を有する手持ち式読取装置及びオートフォーカス方法、並び距離計測方法 |
JP2004354382A (ja) * | 2003-05-28 | 2004-12-16 | General Electric Co <Ge> | 流れ開口面積を測定するための方法及び装置 |
JP2005121644A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-05-12 | Brother Ind Ltd | 3次元形状検出システム、3次元形状検出装置、及び3次元形状検出プログラム |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012521005A (ja) * | 2009-03-19 | 2012-09-10 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 光学式ゲージ及び3次元表面プロファイル測定方法 |
JP2010271312A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | General Electric Co <Ge> | マルチイメージフェーズシフト解析を用いた検査システム及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1785693A1 (en) | 2007-05-16 |
CN101029819A (zh) | 2007-09-05 |
EP1785693B1 (en) | 2009-01-28 |
DE602006005028D1 (de) | 2009-03-19 |
US20070109558A1 (en) | 2007-05-17 |
CN101029819B (zh) | 2010-09-29 |
US7489408B2 (en) | 2009-02-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2007139776A (ja) | 光学式エッジ急変部ゲージ | |
US20130057650A1 (en) | Optical gage and three-dimensional surface profile measurement method | |
JP2007139776A5 (ja) | ||
Haleem et al. | 3D scanning of a carburetor body using COMET 3D scanner supported by COLIN 3D software: Issues and solutions | |
Feng et al. | Analysis of digitizing errors of a laser scanning system | |
JP5816773B2 (ja) | 取り外し可能なアクセサリーを備える座標測定マシン | |
US8054471B2 (en) | System and method for analyzing displacements and contouring of surfaces | |
US10089415B2 (en) | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation | |
US20170160077A1 (en) | Method of inspecting an object with a vision probe | |
Lee et al. | Multi-beam laser probe for measuring position and orientation of freeform surface | |
Jecić et al. | The assessment of structured light and laser scanning methods in 3D shape measurements | |
EP3322959B1 (en) | Method for measuring an artefact | |
Beraldin et al. | Characterization of triangulation-based 3D imaging systems using certified artifacts | |
Allard et al. | Differentiation of 3D scanners and their positioning method when applied to pipeline integrity | |
Li et al. | Integrated tactile and optical measuring systems in three dimensional metrology | |
JP6309938B2 (ja) | 3次元位置計測システム、3次元位置計測用プローブ、及びキャリブレータ | |
US20240062382A1 (en) | Measuring a feature near the edge of an object | |
US11644303B2 (en) | Three-dimensional coordinate measuring instrument coupled to a camera having a diffractive optical element | |
Ramesh | Measuring the accuracy of digitization of contactless scanners | |
RU167050U1 (ru) | Сборный 3d-сканер для учебных целей | |
Barone et al. | Optical tactile probe for the inspection of mechanical components | |
Jia | Spatial data analysis for laser scanning based shape error inspection | |
Drouin et al. | 3D Imaging Systems for Optical Metrology | |
RU2315949C2 (ru) | Способ триангуляционного измерения поверхностей объектов и устройство для его осуществления | |
Keast | Selecting a Reverse Engineering System |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091105 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091105 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091204 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110524 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110819 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110824 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121023 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130121 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130124 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under section 19 (pct) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20130419 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130604 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130903 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130906 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140225 |