JP2007139516A - Lighting inspection device - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 125
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 30
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 85
- 239000013078 crystal Substances 0.000 abstract 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 18
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 3
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
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- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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Abstract
Description
本発明は、外部から搬送されてくる検査対象板を装置内に搬入して点灯検査を行う点灯検査装置に関するものである。 The present invention relates to a lighting inspection apparatus that carries out a lighting inspection by carrying an inspection object plate conveyed from the outside into the apparatus.
液晶基板等のパネル(検査対象板)を、その端子にプローブ針を接触させて、点灯検査を行う点灯検査装置は一般に知られている。このような点灯検査装置は主に、上記パネルを支持して点灯検査を行う検査部と、当該検査部に上記パネルを搬送する搬送部と、上記パネルを位置決めする位置決め装置とを備えている。この例は特許文献1及び特許文献2に示されている。 2. Description of the Related Art A lighting inspection apparatus that performs a lighting inspection by bringing a probe needle into contact with a terminal of a panel (inspection target plate) such as a liquid crystal substrate is generally known. Such a lighting inspection apparatus mainly includes an inspection unit that supports the panel and performs a lighting inspection, a conveyance unit that conveys the panel to the inspection unit, and a positioning device that positions the panel. This example is shown in Patent Document 1 and Patent Document 2.
上記位置決め装置は、互いに近接離間する一対のローラと、当該一対のローラを互いに近接離間させる移動機構とを備えて構成されている。上記一対のローラは、XY軸方向に二組設けられる。そして、この一対のローラが上記移動機構によって上記パネルの周縁部に当接することで、上記パネルの位置決めがなされると共に、この一対のローラによって上記パネルが支持される。このとき、上記一対のローラが上記パネルの周縁に当接して支持する際に、上記パネルがずれないように上記各ローラが当該パネルに一定の押圧力で押し付けられる。 The positioning device includes a pair of rollers that are close to and away from each other and a moving mechanism that moves the pair of rollers close to and away from each other. Two pairs of the pair of rollers are provided in the XY axis direction. The pair of rollers are brought into contact with the peripheral edge of the panel by the moving mechanism, whereby the panel is positioned and the panel is supported by the pair of rollers. At this time, when the pair of rollers abuts and supports the peripheral edge of the panel, the rollers are pressed against the panel with a constant pressing force so that the panel is not displaced.
この位置決め装置で位置決めして支持されたパネルは、搬送部に渡され、検査部に搬送されて検査が行われる。
ところで、上述した従来の点灯検査装置では、上記各ローラが上記パネルの周縁に当接して当該パネルを支持する際に、パネルがずれないように上記各ローラが当該パネルに一定の押圧力で押し付けられるが、この押圧力の調整が容易でない。弾性を有する上記ローラの移動量を調整することで上記押圧力の調整を行うが、この移動量が設定値よりも僅かにずれて、押圧力が強くなりすぎると上記パネルが破損するおそれがあり、押圧力が弱くなりすぎると上記パネルがずれるおそれがある。 By the way, in the above-described conventional lighting inspection apparatus, when the rollers contact the peripheral edge of the panel and support the panel, the rollers are pressed against the panel with a certain pressing force so that the panel does not shift. However, adjustment of this pressing force is not easy. The pressing force is adjusted by adjusting the moving amount of the elastic roller. However, if the moving amount is slightly deviated from the set value and the pressing force becomes too strong, the panel may be damaged. If the pressing force becomes too weak, the panel may be displaced.
特に、上記パネルが大型で重い場合は、それに対応した強さの押圧力で支持する必要があるため、上記現象が顕著になる。上記パネルが大型の場合は、上記押圧力が基準値よりも僅かに強すぎる程度でも上記パネルが容易に撓んでしまったり、破損したりするおそれがある。上記パネルが重い場合は、上記押圧力が僅かに弱すぎる程度でも上記パネルが容易にずれてしまうおそれがある。このため、上記パネルを安全に位置決めするのが難しいという問題点がある。 In particular, when the panel is large and heavy, it is necessary to support the panel with a pressing force having a corresponding strength, so the above phenomenon becomes remarkable. When the panel is large, the panel may be easily bent or damaged even if the pressing force is slightly higher than the reference value. When the panel is heavy, the panel may be easily displaced even if the pressing force is slightly weak. For this reason, there is a problem that it is difficult to safely position the panel.
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたもので、検査対象板を安全に位置決めして支持することができる点灯検査装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a lighting inspection apparatus that can safely position and support an inspection object plate.
本発明に係る点灯検査装置は、
外部から搬送されてくる検査対象板を点灯検査する点灯検査装置であって、上記検査対象板を斜め、水平又は垂直に支持して点灯検査する検査部と、当該検査部に上記検査対象板を搬送する搬送部と、外部から搬入された検査対象板を受け取って位置決めして支持して上記搬送部に受け渡す位置決め機構とを備え、上記位置決め機構が、外部から搬入された検査対象板を受け取るパネル受けと、当該パネル受けで受け取った検査対象板の周縁部に対して近接離間されると共に上記周縁部に当接して上記検査対象板を位置決めした上で支持する1対又は複数対のパネルクランプと、当該対をなす各パネルクランプのうちの一方を支持して当該一方のパネルクランプが上記検査対象板の周縁部に当接された状態で当該一方のパネルクランプを上記周縁部に押圧する方向に付勢すると共に、上記対をなす各パネルクランプを離間させるに先だって上記付勢を解除するバッファ機構とを備えたことを特徴とする。
The lighting inspection apparatus according to the present invention is:
A lighting inspection apparatus for inspecting and inspecting an inspection target plate conveyed from the outside, wherein the inspection target plate is supported obliquely, horizontally or vertically, and inspected for lighting, and the inspection target plate is mounted on the inspection unit. A transport unit for transporting and a positioning mechanism for receiving, positioning, supporting and delivering the inspection target plate carried from the outside to the transport unit, wherein the positioning mechanism receives the inspection target plate carried from the outside. One or more pairs of panel clamps that are supported by the panel receiver and the inspection object plate that is positioned near the peripheral edge of the inspection object plate received by the panel receiver and abutting against the peripheral edge to position the inspection object plate And supporting one of the paired panel clamps with the one panel clamp in contact with the peripheral edge of the inspection target plate. Urges in a direction to press the edge, characterized in that a buffer mechanism for releasing the urging prior to separating the respective panels clamp to be paired.
上記構成により、上記位置決め機構が検査対象板を受け取って位置決め支持する際に、上記バッファ機構が、上記検査対象板の周縁部に当接した上記パネルクランプを付勢して設定値以上の押圧力にならないようにして支持する。各パネルクランプを上記検査対象板から離間させる場合は、それに先だって上記バッファ機構が上記パネルクランプへの付勢を解除する。 With the above configuration, when the positioning mechanism receives and supports the inspection target plate, the buffer mechanism urges the panel clamp that is in contact with the peripheral edge of the inspection target plate, and a pressing force equal to or greater than a set value. Support so as not to become. When each panel clamp is separated from the inspection object plate, the buffer mechanism releases the bias to the panel clamp prior to that.
上記バッファ機構は、上記対をなす各パネルクランプが互いに近接する方向に上記一方のパネルクランプを常時付勢する常時付勢手段と、当該常時付勢手段で付勢された上記一方のパネルクランプをその付勢方向と逆方向に押圧して上記常時付勢手段による付勢力を規制する規制手段とを備えることが望ましい。 The buffer mechanism includes: a constantly urging unit that constantly urges the one panel clamp in a direction in which the paired panel clamps are close to each other; and the one panel clamp that is urged by the constantly urging unit. It is desirable to provide a restricting means for restricting the urging force by the constantly urging means by pressing in the direction opposite to the urging direction.
上記構成により、上記検査対象板を上記パネルクランプで支持するときは、常時付勢手段が上記パネルクランプを常時付勢して、上記検査対象板を設定値以上の押圧力にならないようにして支持する。また、上記各パネルクランプを上記検査対象板から離間させるときは、それに先だって上記規制手段で上記常時付勢手段による付勢力を規制して、上記パネルクランプへの付勢を解除する。その後、上記各パネルクランプを上記検査対象板から離間させて、上記搬送部に受け渡す。 With the above configuration, when the inspection object plate is supported by the panel clamp, the constantly urging means always urges the panel clamp to support the inspection object plate so that the pressing force does not exceed a set value. To do. Further, when the panel clamps are separated from the inspection object plate, the urging force by the constantly urging means is restricted by the restricting means prior to that, and the urging to the panel clamp is released. Then, each said panel clamp is spaced apart from the said test object board, and it delivers to the said conveyance part.
以上のように、本発明によれば、次のような効果を奏することができる。 As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.
上記バッファ機構が、上記検査対象板の周縁部に当接した上記パネルクランプを付勢して設定値以上の押圧力にならないようにして支持するため、上記検査対象板を確実に支持することができると共に、上記検査対象板が撓んだり破損したりするのを防止することができる。 Since the buffer mechanism urges the panel clamp that is in contact with the peripheral edge of the inspection target plate so that the pressing force does not exceed a set value, the inspection target plate can be reliably supported. In addition, the inspection object plate can be prevented from being bent or damaged.
各パネルクランプが上記検査対象板から離間される場合は、それに先だって上記バッファ機構が上記パネルクランプへの付勢を解除するため、当該パネルクランプが上記検査対象板を付勢し続けて上記検査対象板がずれるのを防止することができる。 When each panel clamp is separated from the inspection target plate, the buffer mechanism releases the bias to the panel clamp prior to that, so that the panel clamp continues to bias the inspection target plate and the inspection target. It is possible to prevent the plate from shifting.
上記検査対象板を上記パネルクランプで支持するときは、常時付勢手段が上記パネルクランプを常時付勢して、上記検査対象板を設定値以上の押圧力にならないようにして支持するため、上記検査対象板が撓んだり破損したりすることなく、上記検査対象板を上記パネルクランプで安全にかつ確実に支持することができる。 When the inspection object plate is supported by the panel clamp, the constantly urging means always urges the panel clamp to support the inspection object plate so as not to have a pressing force exceeding a set value. The board to be inspected can be safely and reliably supported by the panel clamp without the board to be inspected being bent or damaged.
また、上記各パネルクランプを上記検査対象板から離間させるときは、それに先だって上記規制手段で上記常時付勢手段による付勢力を規制して、上記パネルクランプへの付勢を解除するため、その後、上記各パネルクランプを上記検査対象板から離間させて上記搬送部に受け渡す際に、上記常時付勢手段による付勢力で上記検査対象板がずれるのを防止することができる。 In addition, when separating each panel clamp from the inspection object plate, the urging force by the constantly urging means is regulated by the regulating means prior to that to release the urging to the panel clamp, When the panel clamps are separated from the inspection target plate and delivered to the transport unit, it is possible to prevent the inspection target plate from being displaced by the urging force of the constantly urging means.
以下、本発明の実施形態に係る点灯検査装置について、添付図面を参照しながら説明する。図1は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構を示す斜視図、図2は本発明の実施形態に係る点灯検査装置を示す正面図、図3は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の搬送部を示す正面図、図4は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の検査部を示す側面断面図、図5は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の検査部を示す概略正面図、図6は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の検査部を示す概略側面断面図、図7は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構を示す側面図、図8は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構を示す斜視図、図9は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構を示す平面図、図10は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構を示す正面図、図11は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構を示す側面図、図12は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構のクランプ時の動作を示す側面図、図13は本発明の実施形態に係る点灯検査装置の位置決め機構の開放時の動作を示す側面図である。 Hereinafter, a lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. 1 is a perspective view showing a positioning mechanism of a lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front view showing a lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a lighting according to the embodiment of the present invention. FIG. 4 is a side sectional view showing the inspection unit of the lighting inspection device according to the embodiment of the present invention, and FIG. 5 shows the inspection unit of the lighting inspection device according to the embodiment of the present invention. FIG. 6 is a schematic side sectional view showing an inspection unit of the lighting inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. 7 is a side view showing a positioning mechanism of the lighting inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. Is a perspective view showing a positioning mechanism of a lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 9 is a plan view showing a positioning mechanism of a lighting inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 10 is according to an embodiment of the present invention. FIG. 11 is a front view showing the positioning mechanism of the lighting inspection device. The side view which shows the positioning mechanism of the lighting inspection apparatus which concerns on embodiment of this invention, FIG. 12 is a side view which shows the operation | movement at the time of clamping of the positioning mechanism of the lighting inspection apparatus which concerns on embodiment of this invention, FIG. It is a side view which shows the operation | movement at the time of open | release of the positioning mechanism of the lighting inspection apparatus which concerns on embodiment.
本実施形態に係る点灯検査装置11は図1〜4に示すように主に、搬送部12と、検査部13と、位置決め機構14から構成されている。
As shown in FIGS. 1 to 4, the
搬送部12は外部から搬入された液晶パネルPを位置決め機構14から受け取って検査部13へ搬送すると共に検査終了後の液晶パネルPを位置決め機構14に渡すための装置である。搬送部12は図2,3に示すように主に、搬送アーム15と、駆動機構16とから構成されている。
The
搬送アーム15は、液晶パネルPを支持する部分である。この搬送アーム15は、アーム部20と、クランプアーム部21と、レール部22と、パネルクランプ23とから構成されている。
The
アーム部20は、支持される液晶パネルPの上下位置に配設されて、液晶パネルPを支持する部材である。アーム部20は駆動機構16によって上下に移動可能に支持されて、液晶パネルPの上下の端部に対して近接離間するようになっている。クランプアーム部21は、液晶パネルPを支持するための部材である。クランプアーム部21は、上下クランプアーム部21Aと、左右クランプアーム部21Bとからなり、液晶パネルPを上下左右から支持するようになっている。上下クランプアーム部21Aは、アーム部20の上下動によって液晶パネルPを上下から把持する。下側の上下クランプアーム部21Aはアーム部20に固定されている。
The
左右クランプアーム部21Bは、アーム部20に設けられた後述するレール部22の機能によって左右に移動して液晶パネルPを左右から把持する。レール部22は、クランプアーム部21の左右クランプアーム部21Bを左右に移動可能に支持するための部材である。左右クランプアーム部21Bには、ガイド21Cが設けられ、このガイド21Cがレール部22にスライド可能に支持されている。
The left and right
パネルクランプ23は、液晶パネルPの端部に直接的に当接するための部材である。このパネルクランプ23は、弾力性のある合成樹脂等で構成され、液晶パネルPの周縁を弾性的に支持する。
The
駆動機構16は、搬送アーム15で液晶パネルPを支持させると共に液晶パネルPを搬送部12と検査部13との間で往復動させるための装置である。駆動機構16は主に、X方向移動機構部25と、Y方向移動機構部26とから構成されている。
The
X方向移動機構部25は、搬送アーム15を搬送部12と検査部13との間で往復動させるための機構である。X方向移動機構部25は主に、レール部28と、X軸駆動モータ29と、ボールネジ30と、ナット(図示せず)とから構成されている。
The X-direction moving
レール部28は、搬送部12と検査部13との間での搬送アーム15の往復動を支持する部材である。レール部28に後述するスライド板33が往復動可能に支持されている。X軸駆動モータ29は、ボールネジ30に連結されてこのボールネジ30を回転駆動するためのモータである。ボールネジ30は、スライド板33を直接的に往復動させるための部材である。ボールネジ30は、軸受け(図示せず)に支持されて、搬送アーム15の往復動方向である横方向に配設されている。ナットは、ボールネジ30の回転によって往復動するための部材である。ナットは、ボールネジ30にねじ込まれ、このボールネジ30がX軸駆動モータ29で回転駆動されることで、往復動する。ナットは、スライド板33に固定されており、ボールネジ30の回転によってスライド板33を往復動させる。
The
Y方向移動機構部26は、搬送アーム15のアーム部20を上下に移動可能に支持するための機構である。このY方向移動機構部26は主に、スライド板33と、レール部34と、Y軸駆動モータ35と、ボールネジ36と、ナット(図示せず)とから構成されている。
The Y-direction moving
スライド板33は、搬送アーム15を支持して往復動させるための部材である。スライド板33の裏面には、その上下にガイド(図示せず)がそれぞれ設けられ、このガイドがX方向移動機構部25のレール部28に取り付けられている。これにより、スライド板33がレール部28によってX軸方向に往復動可能に支持されている。
The
レール部34は、搬送アーム15のアーム部20の上下の移動を案内するためのレールである。レール部34はスライド板33の表面に取り付けられている。このレール部34にガイド40が取り付けられている。このガイド40は、レール部34に二つ設けられ、搬送アーム15の上下のアーム部20をそれぞれ支持している。
The
Y軸駆動モータ35はボールネジ36を回転駆動させるためのモータである。Y軸駆動モータ35は、搬送アーム15の上下のアーム部20を互いに近接させたり、離間させたりする際に、ボールネジ36を回転させる。ボールネジ36は、直接的にはナット(図示せず)を上下に近接離間させるための部材である。ボールネジ36は、上半分と下半分とでそのネジ溝の螺旋方向が逆になっており、カップリング41で1本に接続されている。ボールネジ36の上端部は軸受け42で回転可能に支持されている。そして、ボールネジ36の上下に上記ナットがそれぞれ設けられ、ボールネジ36を一方へ回転させると、各ナット37が互いに近接し、逆方向に回転させると、各ナットが互いに離間するようになっている。このナットは、ガイド40と一体的に設けられ、このガイド40を介してアーム部20に一体的に設けられている。上記ナットがボールネジ36で近接離間されると、直接的にガイド40を近接離間させる。そして、間接的に搬送アーム15の上下のアーム部20を近接離間させる。そして、ボールネジ36の回転により、ガイド40が上下に移動してアーム部20が上下に移動されるようになっている。
The Y-
検査部13は、液晶パネルPを支持して点灯試験を行うための装置である。検査部13は図2,4〜6に示すように主に、XYZθステージ43と、バックライト44と、ワークテーブル45と、プローバ46とを備えて構成されている。
The
XYZθステージ43は、その前面でバックライト44とワークテーブル45とを支持してこのワークテーブル45に取り付けられた液晶パネルPの位置合わせを行うアライメントステージである。このXYZθステージ43は、液晶パネルPを支持するワークテーブル45のXYZ軸方向の調整とθ回転方向の調整とを行うと共に、液晶パネルPの受け渡しのときにワークテーブル45をZ軸方向に移動させるための装置である。XYZθステージ43内には、ワークテーブル45をXY軸方向に移動させる駆動モータ(図示せず)と、ワークテーブル45をθ回転方向に回転させる駆動モータ(図示せず)と、ワークテーブル45をZ軸方向に移動させる駆動モータ(図示せず)とがそれぞれ設けられている。各駆動モータは制御手段(図示せず)にそれぞれ接続され、制御手段によって上記液晶パネルPが正確に位置決めされるようになっている。
The
バックライト44は、ワークテーブル45に支持された液晶パネルPを裏側から照明するための部材である。バックライト44は、筐体56と、この筐体56内に収納されたランプ57とから構成されている。
The
ワークテーブル45は、検査対象板である液晶パネルPを支持するための部材である。このワークテーブル45の開口部45Aには、拡散板60が取り付けられている。
The work table 45 is a member for supporting the liquid crystal panel P that is an inspection target plate. A
プローバ46は、液晶パネルPの端子に接触して液晶パネルPの検査を行うための装置である。プローバ46は、プローブベース67と、プローブブロック68と、カメラ69と、プローブステージ70から構成されている。
The
プローブベース67は、プローブブロック68及びカメラ69を支持するための部材である。プローブベース67は、ワークテーブル45に載置された液晶パネルPに望ませた状態でプローブステージ70を介してフレーム(図示せず)に固定されている。プローブブロック68は、その先端のプローブ針71が液晶パネルPに望ませた状態で、プローブベース67に固定されている。カメラ69は、液晶パネルPに設けたれたマークを見ながら液晶パネルPの位置合わせをするためのカメラである。プローブステージ70は、フレームに固定された状態で、プローブベース67を支持している。
The
位置決め機構14は、外部から水平状態で搬入された液晶パネルPを受け取って位置決めして支持した後、回転、傾斜させて上記搬送部12に受け渡すための機構である。
The
この位置決め機構14は、図1、7〜11に示すように、パネル受け機構部81と、位置決め支持機構部82と、回転機構部83と、傾斜機構部84と、昇降機構部85とから構成されている。
As shown in FIGS. 1 and 7 to 11, the
パネル受け機構部81は、外部から水平状態で搬入された液晶パネルPを受け取るための機構部である。このパネル受け機構部81は、その基端部を後述する回転機構部83の上側ベース板115に固定されて水平方向に且つ放射状に配設された4本の支持棒88と、各支持棒88にそれぞれ垂直方向に向けて設けられたパネル受け89とから構成されている。パネル受け89は、液晶パネルPの下側面に直接に当接して液晶パネルPを支持する部材であるため、液晶パネルPを傷つけないように合成樹脂等の柔軟性のある部材で構成されている。
The panel
位置決め支持機構部82は、パネル受け機構部81に支持された液晶パネルPを位置決めした上で支持するための機構部である。この位置決め支持機構部82は、パネルクランプ91と、移動装置92と、バッファ機構93とから構成されている。
The positioning
パネルクランプ91は、液晶パネルPの周縁部に当接して当該液晶パネルPを位置決めした上で支持するための部材である。このパネルクランプ91は、対をなして、互いに直交する方向(水平状態でのXY軸方向)に2組設けられている。各パネルクランプ91は、円柱状又は円筒状の合成樹脂を垂直方向に配設して構成されている。対をなす各パネルクランプ91は、そのうち一方に2つ、他方に1つ設けられている。対をなすパネルクランプ91は、上記移動装置92によって、液晶パネルPの周縁部に対して近接離間されるようになっている。
The
移動装置92は、パネルクランプ91を支持して近接離間されるための装置である。この移動装置92は、図中のX軸方向とY軸方向とにそれぞれ設けられている。X軸方向の移動装置92もY軸方向の移動装置92も同じ構成を有している。この移動装置92は具体的には、レール96と、ガイド97と、ガイド板98と、連結部材99と、ラック100と、ピニオン101と、駆動モータ102とから構成されている。
The moving
レール96は、基端部が上側ベース板115に固定されてXY軸方向の両側にそれぞれ配設された支持板104にそれぞれ設けられている。ガイド97は、各レール96にスライド可能に取り付けられている。ガイド板98は、上記ガイド97に一体的に設けられている。連結部材99は、その上端部がガイド板98に一体的に設けられた状態で、下方に延ばして設けられている。ラック100は、上記レール96に平行に設けられている。ピニオンギア101は、両側から延びた各ラック100とその上側及び下側で噛み合って、各ラック100を同時に且つ互いに逆方向に移動させるようになっている。駆動モータ102は、その回転軸が上記ピニオンギア101に嵌合して、ピニオンギア101を回転駆動させるようになっている。そして、駆動モータ102を一方へ回転させると、各ラック100を介して上記各パネルクランプ91を互いに近接させ、駆動モータ102を逆方向に回転させると、上記各パネルクランプ91を互いに離間させるようになっている。
The
バッファ機構93は、上記対をなすパネルクランプ91の一方を他方のパネルクランプ91側へ一定の付勢力で付勢すると共にその付勢力を解除するための装置である。即ち、対をなす各パネルクランプ91のうちの一方を支持して当該一方のパネルクランプ91が上記液晶パネルPの周縁部に当接された状態で当該一方のパネルクランプ91を他方のパネルクランプ91側へ一定の付勢力で付勢すると共に、上記液晶パネルPを上記搬送部12に受け渡すために対をなす各パネルクランプ91を離間させるに先だって、上記付勢を解除するための装置である。このバッファ機構93は、スライド機構105と、常時付勢手段106と、規制手段107とから構成されている。
The
バッファ機構93は、上記対をなすパネルクランプ91の一方を他方のパネルクランプ91側へ一定の付勢力で付勢すると共にその付勢力を解除するための装置である。即ち、対をなす各パネルクランプ91のうちの一方を支持して当該一方のパネルクランプ91が上記液晶パネルPの周縁部に当接された状態で当該一方のパネルクランプ91を他方のパネルクランプ91側へ一定の付勢力で付勢すると共に、上記液晶パネルPを上記搬送部12に受け渡すために対をなす各パネルクランプ91を離間させるに先だって、上記付勢を解除するための装置である。このバッファ機構93は、スライド機構105と、常時付勢手段106と、規制手段107とから構成されている。
The
スライド機構105は、バッファレール110と、バッファガイド111と、バッファガイド板112とから構成されている。バッファレール110は、移動装置92のガイド板98に、移動装置92のレール96と同じ方向に向けて取り付けられている。バッファガイド111は、バッファレール110にスライド可能に取り付けられている。バッファガイド板112は、バッファガイド111に一体的に設けられている。そして、このバッファガイド板112に上記パネルクランプ91が取り付けられている。
The
常時付勢手段106は、対をなす各パネルクランプ91が互いに近接する方向に上記一方のパネルクランプ91を常時付勢するための手段である。この常時付勢手段106は具体的にはバネで構成されている。この常時付勢手段106の一方がバッファガイド板112側に、他方が移動装置92のガイド板98側にそれぞれ取り付けられて、上記一方のパネルクランプ91を他方のパネルクランプ91側に付勢している。この常時付勢手段106の特性(付勢力)は、載置される上記液晶パネルPの寸法等に合わせた最適な値に設定される。
The constant biasing means 106 is a means for constantly biasing the one
規制手段107は、上記常時付勢手段106で付勢された上記一方のパネルクランプ91をその付勢方向と逆方向に押圧して常時付勢手段106による付勢力を規制するための手段である。この規制手段107は具体的にはエアシリンダーで構成され、このエアシリンダーのピストン軸108が上記スライド機構105のバッファガイド板112に当接して当該バッファガイド板112を押圧するようになっている。規制手段107は、上記バッファガイド板112の内側(他方のパネルクランプ91側)に設けられ、そのピストン軸108が上記バッファガイド板112を押すことで、上記常時付勢手段106による付勢力を規制するようになっている。
The restricting means 107 is a means for restricting the urging force by the constantly urging means 106 by pressing the one
回転機構部83は、上記パネル受け機構部81及び位置決め支持機構部82を支持して回転させるための機構である。この回転機構部83は、上側ベース板115と、下側ベース板116と、上記上側ベース板115及び下側ベース板116を一体的に回転させる駆動モータ117とから構成されている。上側ベース板115は、上記パネル受け機構部81及び位置決め支持機構部82を支持している。この上側ベース板115は、4本の支柱118を介して下側ベース板116に取り付けられている。下側ベース板116は、駆動モータ117の回転軸に一体的に固定されている。これにより、駆動モータ117を設定角度だけ回転させることで、上記上側ベース板115及び下側ベース板116を介して、上記パネル受け機構部81及び位置決め支持機構部82で支持された上記液晶パネルPを設定角度だけ回転させるようになっている。この回転機構部83は、昇降機構部85に一体的に取り付けられている。
The
傾斜機構部84は、直交した状態で一体的に設けられた上記回転機構部83及び昇降機構部85を支持して傾斜させるための機構である。この傾斜機構部84は、基板120と、支柱121と、回動支持軸122と、駆動モータ123と、減速ギア124とから構成されている。
The
基板120は、装置全体を支持するための板材である。支柱121は、一体的に設けられた上記回転機構部83及び昇降機構部85を支持するための部材である。この支柱121は、上記基板120に設定間隔を空けて2本設けられている。回動支持軸122は、2本の支柱121に掛け渡して設けられている。この回動支持軸122に、上記回転機構部83及び昇降機構部85が回転可能に取り付けられている。
The
上記駆動モータ123は上記減速ギア124に連結されている。減速ギア124の出力軸は上記回動支持軸122に連結されている。減速ギア124は、駆動モータ123の回転を減速させて、直接的に上記回転機構部83を、間接的に上記パネル受け機構部81及び位置決め支持機構部82で支持された上記液晶パネルPを設定角度に回動させるようになっている。これにより、駆動モータ123の回転が減速ギア124で減速されて、上記回動支持軸122を設定角度だけ回転させるようになっている。
The
昇降機構部85は、上記液晶パネルPを昇降させるための装置である。即ち、昇降機構部85は、上記回転機構部83を介して、上記パネル受け機構部81及び位置決め支持機構部82で支持された上記液晶パネルPを、この液晶パネルPの面と垂直な方向に昇降させるようになっている。昇降機構部85は、固定板130と、スライド板131と、ボールネジ132と、ナット133と、駆動モータ134とから構成されている。固定板130は、上記回動支持軸122に一体的に固定されて、この回動支持軸122と共に回動するようになっている。スライド板131は、上記固定板130にスライド可能に支持されている。このスライド板131には、上記回転機構部83が直交する角度で一体的に設けられている。これにより、上記スライド板131が上記固定板130に支持された状態でスライドすると、このスライド板131に支持された上記回転機構部83が一体的にスライドするようになっている。
The elevating
ボールネジ132は、上記スライド板131を上記固定板130に対してスライドさせるための部材である。このボールネジ132は、上記スライド板131のスライド方向に向けて上記固定板130に回転可能に支持されている。上記ナット133は、上記スライド板131に固定されて、上記ボールネジ132にねじ込まれている。これにより、ボールネジ132の回転によって、上記ナット133がボールネジ132の軸方向に移動して、上記スライド板131が上記ボールネジ132の軸方向にスライドするようになっている。駆動モータ134は、上記ボールネジ132に連結されて、このボールネジ132を回転させる。
The
[動作]
以上のように構成された点灯検査装置11は、次のように動作する。
[Operation]
The
点灯検査装置11の動作は次のようになる。
The operation of the
液晶パネルPを複数枚収納したカセット(図示せず)が点灯検査装置11に近傍に設置され、ロボットハンド(図示せず)が上記カセットから液晶パネルPを水平状態で取り出して、点灯検査装置11内に搬入する。
A cassette (not shown) containing a plurality of liquid crystal panels P is installed in the vicinity of the
点灯検査装置11内では、まず位置決め機構14がロボットハンドから液晶パネルPを受け取る。このとき、液晶パネルPは位置決め機構14のパネル受け機構部81に載置される。具体的には、4つのパネル受け89に載置される。このとき、位置決め支持機構部82のパネルクランプ91は移動装置92によって互いに離間されている。これにより、ロボットハンドは、液晶パネルPを、パネルクランプ91に接触することなく4つのパネル受け89に載置する。
In the
次いで、位置決め支持機構部82で液晶パネルPの位置決め及び支持がなされる。具体的には、移動装置92の駆動モータ102を駆動させてピニオン101を設定方向に設定角度だけ回転させ、ラック100を設定量だけ設定方向に移動させる。位置決めの場合は、ラック100を設定量だけ互いに近接する方向に移動させる。このとき、バッファ機構93では、バッファガイド板112が常時付勢手段106で付勢されて規制手段107のピストン軸108に当接した状態になっている。この状態で、上記ラック100が互いに近接する方向に移動されると、まず図12(A)のように、液晶パネルPの周縁部にパネルクランプ91が当接する。さらに、上記ラック100を設定量だけ互いに近接する方向に移動されると、図12(B)のように、バッファレール110及び規制手段107がさらに押し込まれて、バッファガイド板112が規制手段107のピストン軸108から離れて、常時付勢手段106がパネルクランプ91を液晶パネルPの周縁部に押し付ける。このとき、上記ラック100の移動量を正確に調整することで、常時付勢手段106の身長量を調整して、パネルクランプ91の液晶パネルPの周縁部への押圧力を調整する。
Next, the
また、バッファ機構93が設けられていない他方のパネルクランプ91は、常時付勢手段106でずれることがないため、この他方のパネルクランプ91が位置決めの基準位置に移動するように調整する。
Further, since the other panel clamp 91 not provided with the
これにより、液晶パネルPは、他方のパネルクランプ91に当接することで、その位置決めがなされ、一方のパネルクランプ91が当接して常時付勢手段106によって設定押圧力で付勢されることで、液晶パネルPがずれないように支持する。
Thereby, the liquid crystal panel P is positioned by abutting against the
この状態で、回転機構部83によって、上記パネル受け機構部81及び位置決め支持機構部82と共に液晶パネルPが90度回転される。
In this state, the rotating
次いで、傾斜機構部84で、上記パネル受け機構部81、位置決め支持機構部82及び回転機構部83と共に液晶パネルPが設定角度(図4の検査部13での液晶パネルPの傾斜角)まで回動させる。
Next, the
さらに、昇降機構部85で、上記パネル受け機構部81、位置決め支持機構部82、回転機構部83及び傾斜機構部84と共に液晶パネルPが、その表面に垂直な方向の上方へ移動されて、搬送部12に受け渡される。
Further, in the elevating
このとき、バッファ機構93では、規制手段107のピストン軸108が延出されて、図13(A)の状態から図13(B)のように、バッファガイド板112を押して、パネルクランプ91を液晶パネルPの周縁部から離す。これにより、常時付勢手段106による液晶パネルPの付勢が解除されて、液晶パネルPがずれるのを防止する。このとき、他方のパネルクランプ91は設定位置から移動していないため、液晶パネルPはこの他方のパネルクランプ91に当接した状態で設定位置に維持される。
At this time, in the
この状態で、搬送部12の搬送アーム15が液晶パネルPを受け取って支持する。次いで、駆動機構16で搬送アーム15を検査部13側へ移動させて、液晶パネルPをワークテーブル45に載置させる。
In this state, the
検査部13では、XYZθステージ43で、ワークテーブル45に支持された液晶パネルPの位置決めがなされる。具体的には、液晶パネルPの端子とプローバ46のプローブ針71とが整合されて互いに接触され、さらにバックライト44が点灯されて、導通試験が行われる。
In the
検査終了後は、搬送部12がワークテーブル45から液晶パネルPを受け取り、位置決め機構14に戻す。
After the inspection is completed, the
位置決め機構14では、上記同様にして液晶パネルPを位置決めして支持し、水平に戻して90度回転させ、外部のロボットハンドに受け渡す。
The
[効果]
以上のように、位置決め機構14が液晶パネルPを受け取って位置決め支持する際に、上記バッファ機構93の常時付勢手段106が、上記液晶パネルPの周縁部に当接した上記パネルクランプ91を付勢して設定値以上の押圧力にならないようにして支持すると共に、各パネルクランプ91を上記液晶パネルPから離間させる場合に、それに先だって上記バッファ機構93の規制手段107が上記パネルクランプ91への付勢を解除するため、上記液晶パネルPを確実に支持することができ、搬送途中で液晶パネルPがずれるのを防止することができる。さらに、上記液晶パネルPが撓んだり破損したりするのを防止することができる。
[effect]
As described above, when the
[変形例]
上記実施形態では、上記バッファ機構93の規制手段107をエアシリンダーで構成したが、規制手段107は、バッファガイド板112を押すことができればよいため、油圧シリンダ等の他の構成でも良い。
[Modification]
In the above embodiment, the restricting means 107 of the
また、上記実施形態では、常時付勢手段106をバネで構成されたが、パネルクランプ91を液晶パネルPの周縁部に設定押圧力で押圧できる構成であればよいため、エアスプリングやゴム等の他の付勢手段で構成してもよい。
In the above embodiment, the urging means 106 is always configured by a spring. However, any configuration that can press the
さらに、上記実施形態では、液晶パネルPを傾斜させて検査する点灯検査装置11を基に説明したが、水平状態、垂直状態等で検査する他の検査装置でも良いことはいうまでもない。位置決め機構14を備えた全ての装置に適用することができる。
Furthermore, although the above embodiment has been described based on the
11:点灯検査装置、12:搬送部、13:検査部、14:位置決め機構、15:搬送アーム、16:駆動機構、20:アーム部、21:クランプアーム部、21A:上下クランプアーム部、21B:左右クランプアーム部、21C:ガイド、22:レール部、23:パネルクランプ、25:X方向移動機構部、26:Y方向移動機構部、28:レール部、29:X軸駆動モータ、30:ボールネジ、31:ナット、33:スライド板、34:レール部、35:Y軸駆動モータ、36:ボールネジ、37:ナット、39:ガイド、40:ガイド、41:カップリング、42:軸受け、43:XYZθステージ、44:バックライト、45:ワークテーブル、46:プローバ、56:筐体、57:ランプ、60:拡散板、67:プローブベース、68:プローブブロック、69:カメラ、70:プローブステージ、71:プローブ針、81:パネル受け機構部、82:位置決め支持機構部、83:回転機構部、84:傾斜機構部、85:昇降機構部、88:支持棒、89:パネル受け、91:パネルクランプ、92:移動装置、93:バッファ機構、96:レール、97:ガイド、98:ガイド板、99:連結部材、100:ラック、101:ピニオン、102:駆動モータ、105:スライド機構、106:常時付勢手段、107:規制手段、110:バッファレール、111:バッファガイド、112:バッファガイド板、115:上記上側ベース板、116:下側ベース板、117:駆動モータ、118:支柱、120:基板、121:支柱、122:回動支持軸、123:駆動モータ、124:減速ギア、130:固定板、131:スライド板、132:ボールネジ、133:ナット、134:駆動モータ、P:液晶パネル。
11: lighting inspection device, 12: transport section, 13: inspection section, 14: positioning mechanism, 15: transport arm, 16: drive mechanism, 20: arm section, 21: clamp arm section, 21A: upper and lower clamp arm section, 21B : Left and right clamp arm part, 21C: Guide, 22: Rail part, 23: Panel clamp, 25: X direction moving mechanism part, 26: Y direction moving mechanism part, 28: Rail part, 29: X axis drive motor, 30: Ball screw, 31: nut, 33: slide plate, 34: rail portion, 35: Y-axis drive motor, 36: ball screw, 37: nut, 39: guide, 40: guide, 41: coupling, 42: bearing, 43: XYZθ stage, 44: backlight, 45: work table, 46: prober, 56: housing, 57: lamp, 60: diffusion plate, 67: probe base 68: Probe block, 69: Camera, 70: Probe stage, 71: Probe needle, 81: Panel receiving mechanism section, 82: Positioning support mechanism section, 83: Rotating mechanism section, 84: Tilt mechanism section, 85: Elevating mechanism section , 88: support bar, 89: panel receiver, 91: panel clamp, 92: moving device, 93: buffer mechanism, 96: rail, 97: guide, 98: guide plate, 99: connecting member, 100: rack, 101: Pinion, 102: drive motor, 105: sliding mechanism, 106: constant biasing means, 107: restricting means, 110: buffer rail, 111: buffer guide, 112: buffer guide plate, 115: upper base plate, 116: lower Side base plate, 117: drive motor, 118: support column, 120: substrate, 121: support column, 122: rotation support shaft, 123: drive Motor: 124: reduction gear, 130: fixed plate, 131: slide plate, 132: ball screw, 133: nut, 134: drive motor, P: liquid crystal panel.
Claims (4)
上記検査対象板を斜め、水平又は垂直に支持して点灯検査する検査部と、
当該検査部に上記検査対象板を搬送する搬送部と、
外部から搬入された検査対象板を受け取って位置決めして支持して上記搬送部に受け渡す位置決め機構とを備え、
上記位置決め機構が、
外部から搬入された検査対象板を受け取るパネル受けと、
当該パネル受けで受け取った検査対象板の周縁部に対して近接離間されると共に上記周縁部に当接して上記検査対象板を位置決めした上で支持する1対又は複数対のパネルクランプと、
当該対をなす各パネルクランプのうちの一方を支持して当該一方のパネルクランプが上記検査対象板の周縁部に当接された状態で当該一方のパネルクランプを上記周縁部に押圧する方向に付勢すると共に、上記対をなす各パネルクランプを離間させるに先だって上記付勢を解除するバッファ機構と
を備えたことを特徴とする点灯検査装置。 A lighting inspection device that performs a lighting inspection on an inspection object plate conveyed from the outside,
An inspection section for inspecting lighting by supporting the inspection object plate diagonally, horizontally or vertically;
A transport unit that transports the inspection target plate to the inspection unit;
A positioning mechanism that receives, positions, supports, and delivers the inspection target plate carried in from the outside, and delivers it to the transport unit;
The positioning mechanism is
A panel receiver for receiving the inspection object plate carried in from the outside;
A pair or a plurality of pairs of panel clamps, which are moved close to and away from the peripheral edge of the inspection target plate received by the panel receiver, and which support the positioning target object after positioning the inspection target plate;
Supporting one of the paired panel clamps and attaching the one panel clamp to the peripheral edge in a state where the one panel clamp is in contact with the peripheral edge of the inspection object plate. And a buffer mechanism for releasing the bias before separating the pair of panel clamps from each other.
上記バッファ機構が、
上記対をなす各パネルクランプが互いに近接する方向に上記一方のパネルクランプを常時付勢する常時付勢手段と、
当該常時付勢手段で付勢された上記一方のパネルクランプをその付勢方向と逆方向に押圧して上記常時付勢手段による付勢力を規制する規制手段とを備えたことを特徴とする点灯検査装置。 The lighting inspection apparatus according to claim 1,
The buffer mechanism is
A constantly biasing means for constantly biasing the one panel clamp in a direction in which the paired panel clamps are close to each other;
A lighting device comprising: a regulating means for regulating the urging force by the constantly urging means by pressing the one panel clamp urged by the always urging means in a direction opposite to the urging direction thereof. Inspection device.
上記バッファ機構の常時付勢手段がバネであることを特徴とする点灯検査装置。 In the lighting inspection apparatus according to claim 2,
The lighting inspection device, wherein the constant biasing means of the buffer mechanism is a spring.
上記バッファ機構の規制手段が、エアシリンダーであることを特徴とする点灯検査装置。
In the lighting inspection device according to claim 2 or 3,
The lighting inspection apparatus, wherein the buffer mechanism regulating means is an air cylinder.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005331958A JP4674151B2 (en) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | Lighting inspection device |
TW095132237A TWI307134B (en) | 2005-11-16 | 2006-08-31 | Lighting inspection apparatus |
KR1020060084040A KR100750052B1 (en) | 2005-11-16 | 2006-09-01 | Lighting Inspection Apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005331958A JP4674151B2 (en) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | Lighting inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007139516A true JP2007139516A (en) | 2007-06-07 |
JP4674151B2 JP4674151B2 (en) | 2011-04-20 |
Family
ID=38202582
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005331958A Active JP4674151B2 (en) | 2005-11-16 | 2005-11-16 | Lighting inspection device |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4674151B2 (en) |
KR (1) | KR100750052B1 (en) |
TW (1) | TWI307134B (en) |
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JP4674151B2 (en) | 2011-04-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101109 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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