JP2007132932A - 位置測定装置及び位置測定装置を作動させる方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 61
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 31
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 37
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 14
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000003570 air Substances 0.000 description 1
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 1
- 239000012080 ambient air Substances 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
- G01D5/34707—Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
【解決手段】この少なくとも1つの測定方向に互いに移動するように配置され2つの物体の位置を検出する位置測定装置は、スケール本体,光源を有する走査手段及び移相に依存する位置信号を生成する1つ又は多数の光学構成要素及び/又は光電式構成要素を有する。大きいコヒーレント長を有する半導体レーザーが、光源として設けられている。この半導体レーザーは、シングルモード動作でパルス動作する。
【選択図】 図1
Description
20 走査ユニット
21 光源
22 出力レンズ
23 偏向ミラー
24 走査板
25.1 走査格子
25.2 走査格子
26.1 逆反射要素
26.2 逆反射要素
27.1 検出要素
27.2 検出要素
27.3 検出要素
28 光ファイバ
200 走査ユニット
201 光源
202 分割光学系
207.A 検出要素
207.B 検出要素
208 光ファイバ
210 ブロック
51 DFB半導体レーザー
51.1 屈折率格子
61 DBR半導体レーザー
61.1 ブラッグ格子
71 光源
72 ミラー
73 吸収要素
74 レーザー媒体
410 スケール本体
420 走査ユニット
421 光源
428 光ファイバ
429 光ファイバ
430 波長測定装置
435 ファイバカプラ
450 評価ユニット
510 スケール本体
520 走査ユニット
521 光源
528 光ファイバ
529 光ファイバ
530 位置測定装置
531 スケール本体
532 走査ユニット
535 ファイバカプラ
550 評価ユニット
610 スケール本体
621 光源
622 温度センサ
650 評価ユニット
Claims (18)
- 少なくとも1つの測定方向に互いに可動に配置されている2つの物体の位置を測定する位置測定装置にあって、この場合、この位置測定装置は、スケール本体,光源を有する走査手段及び移相に依存する位置信号を生成する1つ又は多数の光学構成要素及び/又は光電式構成要素を有する位置測定装置において、
光源(21;201;51;61;71;421;521;621)は、大きいコヒーレント長を有する半導体レーザーとして構成されていて、この半導体レーザーは、シングルモード動作でパルス動作することを特徴とする位置測定装置。 - 半導体レーザーは、200 μm より大きいコヒーレント長を有することを特徴とする請求項1に記載の位置測定装置。
- 半導体レーザーは、5ns 〜50nsの範囲内のパルス期間を有する光パルスを提供することを特徴とする請求項1に記載の位置測定装置。
- 光源(21;201;51;421;521;621)は、DFB半導体レーザーとして構成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の位置測定装置。
- 光源は、DBR半導体レーザー(21;201;61;421;521;621)として構成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の位置測定装置。
- 光源(21;201;51;421;521;621)は、モード結合半導体レーザー又はモード結合固体レーザーとして構成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の位置測定装置。
- 異なる光路長を有する非対称な部分走査ビーム束が、走査手段を配置することによって形成されていて、これらの部分ビーム束が、重なり合って干渉する前に、これらの部分ビーム束が、これらの光路長を通過することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の位置測定装置。
- 走査手段は、スケール本体(10;100;410;510;610)に対して相対移動する走査ユニット(20;200;420;520)内に配置されていて、光源(21;201;51;61;71;421;521;621)は、走査ユニット(20;200;420;520)から離れて配置されていて、この場合、光源(21;201;51;61;71;421;521;621)は、光ファイバ(28;208;428;528)によって走査ユニット(20;200;420;520)に接続されていることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の位置測定装置。
- 光学位置測定に利用されるビームの波長を測定する手段が、位置測定装置に敷設されていることを特徴とする請求項1に記載の位置測定装置。
- 波長を測定する手段が、波長測定装置(430)として構成されていて、この波長測定装置(430)の測定値が、評価ユニット(450)に供給され、この評価ユニット(450)は、位置測定装置の測定学モデルに関連して波長による位置の誤差が補正されることを特徴とする請求項9に記載の位置測定装置。
- 波長を測定する手段は、追加の位置測定装置(530)として構成されていて、この位置測定装置(530)は、空間的に一定に敷設されている走査ユニット(532)及びスケール本体(531)を有し、それらの測定値が、評価ユニット(550)に供給され、さらにこの評価ユニット(550)は、波長による位置の誤差を補正することを特徴とする請求項9に記載の位置測定装置。
- 波長を測定する手段は、温度検出手段(622)を有し、光源(621)の温度が、温度検出手段(622)によって測定され、この検出された温度が、評価ユニット(650)に供給され、さらにこの評価ユニットは、波長と温度との既知の依存性のもとで波長による位置の誤差を補正することを特徴とする請求項9に記載の位置測定装置。
- 少なくとも1つの測定方向に互いに可動に配置されている2つの物体の位置を測定する位置測定装置を作動させる方法にあって、この場合、この位置測定装置は、スケール本体,光源を有する走査手段及び移相に依存する位置信号を生成する1つ又は多数の光学構成要素及び/又は光電式構成要素を有する方法において、
光源(21;201;51;61;71;421;521;621)は、大きいコヒーレント長を有する半導体レーザーとして構成されていて、この半導体レーザーは、シングルモード動作でパルス動作することを特徴とする方法。 - 半導体レーザーが、5ns 〜50nsの範囲内のパルス期間を有する光パルスを提供するように、半導体レーザーがパルス動作することを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 光学位置測定に利用されるビームの波長が、さらに測定されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 波長測定装置(430)が、波長を測定するために使用され、この波長測定装置(430)の測定値が、評価ユニット(450)に供給され、波長による位置の誤差が、位置測定装置の計測学モデルに関連して評価ユニット( 450) によって補正されることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 追加の位置測定装置(530)が、波長を測定するために使用され、この位置測定装置(530)は、空間的に一定に敷設されている走査ユニット(532)及びスケール本体(531)を有し、それらの測定値が、評価ユニット(550)に供給され、波長による位置の誤差が、この評価ユニット(550)によって補正されることを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 温度検出手段(622)が、波長を測定するために使用され、光源の温度が、この温度検出手段(622)によって測定され、この検出された温度が、評価ユニット(650)に供給され、波長による位置の誤差が、評価ユニット(650)によって波長と温度との既知の依存性のもとで補正されることを特徴とする請求項15に記載の方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005053789.8 | 2005-11-09 | ||
DE102005053789 | 2005-11-09 | ||
DE102006041357A DE102006041357A1 (de) | 2005-11-09 | 2006-09-01 | Positionsmesseinrichtung und Verfahren zum Betrieb einer Positionsmesseinrichtung |
DE102006041357.1 | 2006-09-01 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007132932A true JP2007132932A (ja) | 2007-05-31 |
JP2007132932A5 JP2007132932A5 (ja) | 2009-11-12 |
JP5128108B2 JP5128108B2 (ja) | 2013-01-23 |
Family
ID=37745911
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006293620A Active JP5128108B2 (ja) | 2005-11-09 | 2006-10-30 | 位置測定装置及び位置測定装置を作動させる方法 |
JP2008539306A Active JP4999856B2 (ja) | 2005-11-09 | 2006-11-02 | 位置測定システム |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008539306A Active JP4999856B2 (ja) | 2005-11-09 | 2006-11-02 | 位置測定システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (2) | EP1949039B1 (ja) |
JP (2) | JP5128108B2 (ja) |
DE (1) | DE102006041357A1 (ja) |
WO (1) | WO2007054234A1 (ja) |
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-
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- 2006-09-01 DE DE102006041357A patent/DE102006041357A1/de not_active Withdrawn
- 2006-10-30 JP JP2006293620A patent/JP5128108B2/ja active Active
- 2006-11-02 JP JP2008539306A patent/JP4999856B2/ja active Active
- 2006-11-02 EP EP06828910A patent/EP1949039B1/de active Active
- 2006-11-02 EP EP06022850.9A patent/EP1785698B1/de active Active
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JP4999856B2 (ja) | 2012-08-15 |
EP1785698A3 (de) | 2010-07-14 |
EP1949039A1 (de) | 2008-07-30 |
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JP5128108B2 (ja) | 2013-01-23 |
EP1949039B1 (de) | 2012-09-12 |
EP1785698B1 (de) | 2015-06-17 |
JP2009515177A (ja) | 2009-04-09 |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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