JP2007123676A - 検査基板構造および配線基板の検査方法 - Google Patents
検査基板構造および配線基板の検査方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】複数の硬質基板15〜18をフレキシブル基板19によって連結してなり、フレキシブル基板19を湾曲させて複数の硬質基板15〜18が相互に重なるように折り畳んだ状態に組み立てられる配線基板2を検査するための検査基板3構造であって、配線基板2が、複数の硬質基板15〜18を略同一平面上に配するように展開され、配線基板2の周囲に間隔をあけて、配線基板2と略同一平面上に配置されるフレーム20を備え、フレーム20と各硬質基板15〜18とが、硬質基板15〜18と同一平面方向に延びる少なくとも1つの支持部材21により切り離し可能に連結されている検査基板3構造を提供する。
【選択図】 図4
Description
本発明は、複数の硬質基板をフレキシブル基板によって連結してなり、フレキシブル基板を湾曲させて複数の硬質基板が相互に重なるように折り畳んだ状態に組み立てられる配線基板を検査するための検査基板構造であって、前記配線基板が、前記複数の硬質基板を略同一平面上に配するように展開され、該配線基板の周囲に間隔をあけて、該配線基板と略同一平面上に配置されるフレームを備え、該フレームと前記各硬質基板とが、該硬質基板と同一平面方向に延びる少なくとも1つの支持部材により切り離し可能に連結されている検査基板構造を提供する。
このようにすることで、硬質基板と同材質からなるフレームと配線基板の硬質基板とがフレキシブル基板と同材質の支持部材によって連結された構造となり、極めて簡易に製造することができる。また、配線基板からフレームを切り離す際には、フレキシブル基板と同材質の支持部材を切断することにより容易に切り離すことができる。
このようにすることで、電源供給用ランドを介して外部から配線基板に電源を供給することができ、内部電源の消耗を防止することができる。配線基板の各硬質基板はフレームの位置決めによって位置決め状態に配されているので、電源供給用ランドへの電源端子の接触も容易に行うことができる。
このようにすることで、位置決め手段を用いてフレームを簡易に位置決めすることができ、検査準備に要する手間をさらに省くことができるという利点がある。
このようにすることで、電源供給用ランドに電源供給用プローブを接触させて、外部から配線基板に電源を供給することができ、内部電源の消耗を防止することができる。配線基板の各硬質基板はフレームの位置決めによって位置決め状態に配されているので、電源供給用ランドへの電源端子の接触も容易に行うことができる。
本実施形態に係る検査基板構造は、図1に示されるカプセル型内視鏡1の配線基板2を検査する際に用いられる検査基板3の構造である。
このカプセル型内視鏡1は、小型のカプセル4内に配線基板2を折り畳んだ形態で収容し、樹脂充填材5によって固定した構造のものであり、カプセル4先端の透明キャップ6側に配置したLEDのような照明装置7、検査対象からの戻り光を集める対物光学系8、集めた戻り光を検出する撮像装置9、撮像装置9による撮像タイミング等を制御する撮像制御装置10、動作に必要な種々のデータ等を記憶する記憶装置11、カプセル型内視鏡1の起動を行うためのスイッチ12、各装置に電力を供給するバッテリ13および、取得した画像情報等のデータの送受信を行う無線送受信装置14等を備えている。
平面状に展開されると、硬質基板15〜18に固定された照明装置7、対物光学系8、撮像装置9等の各装置はそれぞれ予め定められた方向に向かうようになっている。
また、フレーム部20には、図4に示されるように、位置決め用の位置決め孔22が設けられている。
また、硬質基板15〜18の内のいずれか、例えば、撮像制御装置10および記憶装置11が備えられている硬質基板16には、信号の入出力を行うための信号用テストランド23が設けられている。また、カプセル4内に組み込まれた際にバッテリ13と接触することとなる硬質基板17には、電源供給用ランド24が設けられている。
本実施形態に係る配線基板2の検査方法は、複数の硬質基板15〜18が略同一平面上に配されるように展開された配線基板2の周囲に配置したフレーム部20と各硬質基板15〜18とを支持部材21によって連結して略平面状に維持した状態で機能を検査する方法である。
全体制御PC34は、基板制御機構35を制御して、電源供給用ランド24に電源用プローブピン32を接触させ検査基板3の配線基板2に電源装置36から電力供給するとともに、信号用テストランド23に信号用プローブピン31を接触させて、記憶装置11に初期値データを書き込み、検査を開始する。
検査は、例えば、消費電流検査、照明点灯検査、撮像動作検査、メモリコンペア検査等である。
照明点灯検査は、全体制御PC34から基板制御機構35を介して信号用プローブピン31から配線基板2の信号用テストランド23に照明の制御信号を送り、外部カメラ30によって照明装置7の点灯状態を撮影し、画像処理等によって全ての照明装置7が点灯しているか等の判定を行う。例えば、照明装置7が全て点灯したときに外部カメラ30で点灯状態を撮影すると、部分的に高輝度のスポットを有する画像が撮影されるので、その画像情報を全体制御PC34に送り、予め用意しておいたテンプレート画像と正規化相関のパターンマッチング等を行うことにより判定する。なお、パターンマッチングに代えて、輝度平均値の算出により点灯状態を判定してもよい。
また、メモリコンペア検査は、記憶装置11に書き込んだデータの一部を読みだして、書き込んだデータと読み出したデータとが一致しているか否かの判定を行う。
3 検査基板
15〜18 硬質基板
19 フレキシブル基板
20 フレーム部(フレーム)
21 支持部材
22 位置決め孔(位置決め手段)
24 電源供給用ランド
32 電源供給用プローブピン(電源供給用プローブ)
Claims (7)
- 複数の硬質基板をフレキシブル基板によって連結してなり、フレキシブル基板を湾曲させて複数の硬質基板が相互に重なるように折り畳んだ状態に組み立てられる配線基板を検査するための検査基板構造であって、
前記配線基板が、前記複数の硬質基板を略同一平面上に配するように展開され、
該配線基板の周囲に間隔をあけて、該配線基板と略同一平面上に配置されるフレームを備え、
該フレームと前記各硬質基板とが、該硬質基板と同一平面方向に延びる少なくとも1つの支持部材により切り離し可能に連結されている検査基板構造。 - 前記フレームが、前記硬質基板と同材質により構成され、
前記支持部材が、前記フレキシブル基板と同材質により構成されている請求項1に記載の検査基板構造。 - 前記硬質基板のいずれかに、電源供給用ランドが備えられている請求項1または請求項2に記載の検査基板構造。
- 前記フレームに、位置決め手段が設けられている請求項1から請求項3のいずれかに記載の検査基板構造。
- 複数の硬質基板がフレキシブル基板によって連結されてなり、フレキシブル基板を湾曲させて複数の硬質基板が相互に重なるように折り畳んだ状態に組み立てられる配線基板の検査方法であって、
前記複数の硬質基板が略同一平面上に配されるように展開された配線基板の周囲に配置したフレームと各硬質基板とを切り離し可能に連結して略平面状に維持した状態で、配線基板の機能を検査する配線基板の検査方法。 - 前記フレームに設けた位置決め手段により位置決めした状態で検査する請求項5に記載の配線基板の検査方法。
- 前記硬質基板のいずれかに設けた電源供給用ランドに、外部から電源供給用プローブを接触させて、電源供給を行う請求項5または請求項6に記載の配線基板の検査方法。
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