JP2007122998A - 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法 - Google Patents

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007122998A
JP2007122998A JP2005312364A JP2005312364A JP2007122998A JP 2007122998 A JP2007122998 A JP 2007122998A JP 2005312364 A JP2005312364 A JP 2005312364A JP 2005312364 A JP2005312364 A JP 2005312364A JP 2007122998 A JP2007122998 A JP 2007122998A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
charged particle
particle beam
image
hole
aperture
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005312364A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuhide Matsushita
下 光 英 松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2005312364A priority Critical patent/JP2007122998A/ja
Publication of JP2007122998A publication Critical patent/JP2007122998A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】 絞り部材の絞り孔の位置合せを効率良く行うことのできる荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置における絞り調整方法を提供する。
【解決手段】 荷電粒子ビーム源1と、荷電粒子ビーム源1から放出された荷電粒子ビーム11の一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビーム11を試料12に照射させる照射系19と、荷電粒子ビーム11が照射された試料12の画像データを形成する画像データ形成手段13と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段17と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段18とを備える荷電粒子ビーム装置において、当該表示画像内での当該孔の像の指定移動方向に合うように移動機構によって当該孔の移動が行われる。
【選択図】図1

Description

本発明は、透過形電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置及び当該荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法に関する。
透過形電子顕微鏡等の電子顕微鏡では、観察対象となる試料に電子ビーム(荷電粒子ビーム)を照射し、これにより試料の画像(試料像)の取得を行う。
このような電子顕微鏡においては、試料に照射される電子ビームに絞りを加えることにより、電子ビームの試料への照射量を必要に応じて制限することが行われる。また、試料に照射された後に試料を透過した電子ビームに絞りを加えることも必要に応じて行われている。
電子ビームに絞りを加える際には、絞り用の孔(絞り孔)が形成された絞り部材を装置に設け、絞り部材の移動操作を行う。そして、絞り孔の中心を電子ビームの光軸上に移動した場合には、絞り部材における絞り孔の周縁部に到達した電子ビームは当該周縁部により遮断されるとともに、電子ビームの一部が絞り孔を通過することとなる。この結果、電子ビームの一部のみが抽出されることとなり、電子ビームを絞ることができる。
なお、一つの絞り部材には、通常、穴径の異なる複数の絞り孔が形成されており、観察条件に応じて使用する絞り孔を選択し、選択した絞り孔の中心を電子ビームの光軸上に配置する。これにより、絞り部材による電子ビームの絞り条件を選択的に設定することができる。
従来の電子顕微鏡において使用されていた絞り部材は、手動により移動操作がなされるものが多かった。この場合には、手動にて絞り孔の位置調整ができるので、取得された画像を確認しながら比較的容易に絞り孔の中心を光軸上に配置することができた。
これに対して、現在の装置においては、絞り部材を移動させる移動機構を備えたものが多くなっている。この移動機構は、モータ、シリンダ、若しくはピエゾ素子等の駆動源を有し、この駆動源が絞り部材の移動を行う。なお、装置を制御するメインCPUにより当該駆動源が制御される。これにより、移動機構による絞り部材の移動動作がメインCPUによって制御されることとなる。
ここで、このメインCPUにはPC(パーソナルコンピュータ)が接続されており、装置の操作を行うオペレータは、PCに備えられたマウス、ジョイスティック等のポインティングデバイス、及びキーボード等の入力手段を操作することにより、PCを介してメインCPUに必要な指示を送る。
例えば、絞り部材による電子ビームの絞り条件をオペレータが設定する際には、当該入力手段の操作をオペレータが行うことにより、PCからメインCPUに必要な指示が送られ、これに基づいてメインCPUが移動機構による絞り部材の移動動作の制御を行う。そして、オペレータによる操作により、設定された絞り条件に対応する絞り孔の位置調整が行われる
この場合には、PCの表示画面に表示された絞り部材の絞り孔の像を確認しながら、オペレータが絞り孔の移動方向の設定をして移動機構による絞り部材の移動操作を行う。
また、最近は遠隔操作により、装置が配置された部屋とは別室に備えられたPCからメインCPUに指示を送り、これに基づいてメインCPUが装置の制御を行う場合もある。
なお、透過形電子顕微鏡において、ポインティングデバイスの動きに対応して対物絞りを移動させる際に、像観察モード時と回折像観察モード時とで対物絞りの移動方向を反対方向とする装置もある(例えば、特許文献1参照)。
特開平4−366539号公報
オペレータがPCの入力部を操作して絞り孔の位置調整を行う際には、上述のごとく、PCの表示画面に表示された絞り孔の像を確認し、表示画面内での絞り孔の移動方向及び移動量の指示を行う。
この場合、当該表示画面内での絞り孔の指示移動方向と、移動機構の絞り部材の移動による絞り孔の実際の移動方向とが一致しない場合が多い。
これは、拡大像を得るために電子顕微鏡に備えられた磁界レンズの作用によって、取得される像が拡大されるだけではなく、像が回転することに起因する。
すなわち、拡大像の取得条件を変えるために倍率を変化させ、これにより磁界レンズの励磁条件を変えると、取得される像に回転が生じるので、これにより表示画面に表示された拡大像は回転後の像となる。
従って、当該回転により、表示画面のX−Y座標と、移動機構による絞り孔の移動時での機械的移動制御のx−y座標との間に相違が生じることとなり、表示画面内での絞り孔の指示移動方向と、移動機構の絞り部材の移動による絞り孔の移動方向とが一致しないこととなる。
このような場合では、オペレータが表示画面内での移動方向を指定しても、意図する方向と異なる方向に絞り孔が移動機構によって移動してしまうこととなり、絞り孔の中心を電子ビームの光軸上に移動させるという位置合せ操作を効率的に行うことができなかった。
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、絞り部材の絞り孔の位置合せを効率良く行うことのできる荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置における絞り調整方法を提供することを目的とする。
本発明に基づく一の荷電粒子ビーム装置は、荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、荷電粒子ビームが照射された試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする。
また、本発明に基づく他の荷電粒子ビーム装置は、荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、試料に照射された後に試料を透過した荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームに基づいて像を結像する結像系と、結像された像に基づいて試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする。
さらに、本発明に基づく一の荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法は、荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、荷電粒子ビームが照射された試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする。
そして、本発明に基づく他の荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法は、荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、試料に照射された後に試料を透過した荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームに基づいて像を結像する結像系と、結像された像に基づいて試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする。
本発明においては、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われる。
よって、表示画面に表示された絞り孔の位置合せを行う際に、オペレータは表示画像内での絞り孔の像の移動方向を適宜指定すれば、当該指定移動方向に沿って移動機構により絞り孔が移動することとなり、絞り孔の位置合せを効率良く行うことができる。
以下、図面を参照して、本発明に基づく荷電粒子ビーム装置及び当該装置における絞り位置調整方法について説明する。
図1は、本発明における荷電粒子ビーム装置を示す概略構成図である。この荷電粒子ビーム装置は、透過形電子顕微鏡の構成を備えている。同図において、荷電粒子ビーム源である電子銃1からは、試料12に向けて電子ビーム(荷電粒子ビーム)11が放出される。
ここで、電子銃1と試料12との間には、コンデンサレンズ(CL)2及びCL絞り部材6を備える照射系19が設けられている。コンデンサレンズ2は電子ビーム11を集束させるものである。
また、CL絞り部材6は金属製の平板から構成され、穴径の異なる複数の絞り孔(孔)6cが形成されている。なお、図1においては、簡略化のため、一つの絞り孔6cのみを図示している。
電子銃1から放出されてコンデンサレンズ2によるレンズ作用により集束された電子ビーム11の一部は、CL絞り部材6の絞り孔6cを通過する。これにより、電子ビーム11の一部のみがCL絞り部材6により抽出されることとなり、電子ビーム11に絞りを加えることができる。なお、このときCL絞り部材6における絞り孔6cの周縁部に到達した電子ビーム11は、当該周縁部により遮断される。
CL絞り部材6の絞り孔6cを通過した電子ビーム11は、試料12に照射される。これにより、電子銃1から放出された電子ビーム11は、照射系19により試料12に照射されることとなる。
試料12に照射されて試料12を透過した電子ビーム11は、対物レンズ(OL)3によるレンズ作用により集束される。これにより集束された電子ビーム11の一部は、OL絞り部材7の絞り孔7cを通過する。
このOL絞り部材7にも、上述と同様に、穴径の異なる複数の絞り孔7c(図では一つの絞り孔7cのみ図示)が形成されており、電子ビーム11に絞りを加える際には、何れか一つの絞り孔7cが選択されて電子ビーム11の光軸上に配置される。
OL絞り部材7の下流側には、SA絞り部材8が配置されている。このSA絞り部材8にも、上述と同様に、穴径の異なる複数の絞り孔8c(図では一つの絞り孔8cのみ図示)が形成されている。
そして、OL絞り部材7の絞り孔7cを通過した電子ビーム11に絞りを加える際には、何れか一つの絞り孔8cが選択されて電子ビーム11の光軸上に配置される。これにより、SA絞り部材8に到達した電子ビーム11の一部が絞り孔8cを通過することとなり、電子ビーム11に絞りが加えられる。
SA絞り部材8の絞り孔8cを通過した電子ビーム11は、中間レンズ4及び投影レンズ5によるレンズ作用を受けて、これらの下流側に位置する蛍光板9若しくは撮像手段10の何れかの投影面に到達する。この結果、当該投影面には、当該電子ビーム11に基づく像(試料の透過像)が結像される。
ここで、対物レンズ3、OL絞り部材7、SA絞り部材8、中間レンズ4、及び投影レンズ5により結像系20が構成されており、当該結像系20により上記像が結像されることとなる。
なお、図1に示す状態は、蛍光板9が電子ビーム11の軌道から退避されており、その下流側に位置する撮像手段10の投影面に電子ビーム11が到達した状態を示す。
撮像手段10は、CCD等の撮像素子を有する。当該撮像素子は、撮像手段10の投影面に結像した像の撮像を行う。これにより撮像された像に基づく像信号は、撮像手段10から画像データ形成部13に送られる。
画像データ形成部13は、撮像手段10からの像信号に基づいて、試料12の画像データを形成する。このようにして形成された画像データは、バスライン14を介して、画像表示部17に送られる。画像表示部17は、図示しない表示画面を有しており、当該画像データに基づく画像を表示画面に表示する。また、画像表示部17は、後述する操作用ウインドウを表示することもできる。
ここで、電子銃1は、電子銃駆動部1aにより駆動される。電子銃駆動部1aはバスライン14に接続されており、このバスライン14にはシステム制御部15が接続されている。これにより、電子銃1は、電子銃駆動部1aを介して、システム制御部15により駆動制御される。なお、システム制御部15は、図中では一つのブロックとして示しているが、メインCPUとPCとを含むものとする。
また、各レンズ2〜5は、それぞれ対応するレンズ駆動部2a〜5aにより駆動される。これらレンズ駆動部2a〜5aは、バスライン14を介して、システム制御部15に接続されている。これにより、各レンズ2〜5は、対応するレンズ駆動部2a〜5aを介して、システム制御部15により駆動制御される。
そして、各絞り部材6〜8は、それぞれ対応する移動機構6b〜8bに取り付けられている。これら移動機構6b〜8bは、対応する絞り部材6〜8の移動を行うものであり、それぞれx方向移動部及びy方向移動部を個別に備えている。
ここで、x方向移動部は、機械構成により決定される機械的x−y座標におけるx方向に沿って絞り部材を移動させるものである。また、y方向移動部は、当該機械的x−y座標におけるy方向に沿って絞り部材を移動させるものである。当該各移動に応じて、絞り部材に形成された絞り孔も当該x方向及びy方向に沿って移動する。
これらx方向移動部及びy方向移動部は、絞り部材の移動を行うためのモータ、シリンダ、若しくはピエゾ素子等の駆動源を備えている。
各移動機構6b〜8bは、それぞれ対応する駆動部6a〜8aにより駆動される。これら駆動部6a〜8aは、バスライン14を介して、システム制御部15に接続されている。これにより、各移動機構6b〜8bは、対応する駆動部6a〜8aを介して、システム制御部15により駆動制御される。
なお、システム制御部15には、記憶部16が接続されている。記憶部16には、システム制御部15が制御及び演算を行う際に必要なデータや後述する情報が格納される。
また、バスライン14には、入力部18が接続されている。この入力部18は、マウスやジョイスティック等のポインティングデバイス及びキーボードから構成される。本装置のオペレータは、入力部18を操作することにより、観察条件の設定やマニュアル動作の実行を行うことができる。さらに、システム制御部15は、上述した本装置の各構成要素の制御及び必要な演算を実行する。
以上が、本発明における荷電粒子ビーム装置の構成である。次に、上記荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法について説明する。
オペレータは、入力部18を操作して、画像表示部17の表示画面に、図2に示す操作用ウインドウ30を開いて表示する。この操作用ウインドウ30の表示データは予め記憶部16に格納されており、オペレータによる操作に基づいて、システム制御部15が当該表示用データを記憶部16から読み出して、画像表示部17の表示画面に操作用ウインドウ30を表示させる。
さらに、オペレータは入力部18の操作を行い、表示画面内で表示されるカーソル(図示せず)を用いて、調整対象とする絞りの種類とそのサイズの選択を操作用ウインドウ30内で行う。
図2に示す例では、絞りの種類として「CL絞り」が選択され、絞りサイズとして「絞り(1)」が選択されている。ここで、絞りサイズは、絞り部材に形成された穴径の異なる複数の絞り孔に対応して付与された番号が該当する。例えば、穴径の異なる4個の絞り孔が絞り部材に形成されている場合には、穴径の小さい順又は穴径の大きい順に「絞り(1)」から「絞り(4)」の名称(番号)が付与される。
同図の例では、「CL絞り」及び「絞り(1)」が選択されているとともに、OL絞り及びSA絞りについては、双方ともに「開放」が選択されている。この「開放」は、該当する箇所について絞りを加えることなく、対応する絞り部材を電子ビームの光軸から完全に退避させた状態をいう。
従って、「開放」の場合には、該当箇所において電子ビームは絞られることなく通過することとなる。なお、上述した「CL絞り」の箇所において、「開放」を選択することも可能である。
このようにして「CL絞り」と「絞り(1)」が選択された状態で、任意の倍率条件にて撮像手段10を介して取得され、画像表示部17により表示される画像の例を図3に示す。
図3において、40は画像表示部17に表示された表示画像である。この表示画像40には、CL絞り部材6に形成された絞り(1)に該当する絞り孔6cの像(以下、「絞り孔像」という)41が表示されている。ここで、同図に示す状態では、絞り孔像41の中心41aは、電子ビーム11の光軸に対応する表示画像40の中心Pに一致していない。
従って、CL絞り部材6の移動を行う移動機構6bを駆動して、CL絞り部材6を移動させ、これによりCL絞り部材6に形成された絞り孔6cの位置調整をする必要がある。
この場合、オペレータは、操作用ウインドウ30に設けられた移動操作部38に表示されている移動ボタン34〜37の何れかをカーソルによりクリックして、絞り孔像41の移動方向及び移動量の指示を行う。当該指示に基づいて、CL絞り部材6に形成された絞り孔6cの移動が行われる。
ここで、図2における移動ボタン34は、表示画像40におけるX−Y座標において、絞り孔像を+Y方向に沿って移動させるためのボタンである。また、移動ボタン35は、当該X−Y座標において、絞り孔像を+X方向に沿って移動させるためのボタンである。さらに、移動ボタン36は、当該X−Y座標において、絞り孔像を−X方向に沿って移動させるためのボタンである。そして、移動ボタン37は、当該X−Y座標において、絞り孔像を−Y方向に沿って移動させるためのボタンである。
オペレータは、カーソルにより、移動ボタン34〜37のうちの何れか一つの移動ボタンを選択してクリックし、これを押し続けることにより、押し続けた時間に応じて移動量が設定され、選択された移動ボタンの方向に絞り孔の移動が当該移動量に基づいて行われる。
図3に示す例においては、絞り孔像41の中心41aは、表示画像40のX−Y座標におけるX軸上に位置しているが、表示画像40の中心Pに対して−X方向にずれた位置に位置している。従って、オペレータは、図2の移動操作部38に表示されている移動ボタンのうちの移動ボタン35をカーソルにてクリックして、これを押し続けるという操作を行う。
しかしながら、倍率条件に応じたレンズ作用に起因する像の回転が生じているため、図3に示すごとく、表示画像40のX−Y座標と、移動機構による孔の移動時での機械的x−y座標とが一致しない場合がある。このような場合、オペレータが移動ボタン35を選択して押しても、絞り孔像41の中心41aは、移動機構におけるx方向移動部の駆動により、当該機械的x−y座標におけるx方向に沿う方向(図中の矢印Q参照)に移動してしまうことがある。ここで、42は、この場合における移動後の絞り孔像を示し、42aは、当該絞り孔像42の中心である。
本発明においては、このような場合に応じて、指定手段である入力部18により指定された移動方向と移動機構6b〜8bの駆動による孔6c〜7cの移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構6b〜8bが駆動し、これにより表示画像部17における表示画面内での当該孔の像の指定移動方向に合うように移動機構によって当該孔の移動が行われるようになっている。
この場合、オペレータは、図2に示す操作用ウインドウ30内において、設定ボタン30aをカーソルによりクリックする。
設定ボタン30aのクリックにより、図4に示す、設定用ウインドウ50が画像表示部17により表示される。この設定用ウインドウ50には、設定部51が設けられている。この設定部51内には、数値を入力するための複数の入力ボックス53が配置されている。
各入力ボックス53は、操作用ウインドウ30(図2参照)における移動ボタン34〜37により指定される移動方向に対応して、移動機構を構成するx方向移動部及びy方向移動部による絞り孔の各移動量の比率をオペレータが入力するものである。
すなわち、設定用ウインドウ50の設定部51に表示された「上」は、操作用ウインドウ30における移動ボタン34に対応する。また、設定部51に表示された「下」は、移動ボタン37に対応する。さらに、設定部51に表示された「右」は、移動ボタン35に対応する。また、設定部51に表示された「左」は、移動ボタン36に対応する。
そして、オペレータは、これら上(移動ボタン34)、下(移動ボタン37)、右(移動ボタン35)、及び左(移動ボタン36)のそれぞれに対応して、x方向移動部及びy方向移動部による絞り孔の各移動量の比率を各入力ボックス53に適宜入力することができる。
ここで、図4に示す数値の例では、右方向である移動ボタン35を押したときのx方向移動部による絞り孔の移動量の比率は0.9であり、またこのときのy方向移動部による絞り孔の移動量の比率は−0.1に設定されている。ここで、x方向移動部若しくはy方向移動部による当該移動量の比率が負の値で設定されている場合には、−x方向若しくは−y方向に移動することを意味する。この状態で、OKボタン52をカーソルによって押すことにより、各入力ボックス53に入力された数値が設定される。これにより設定された各比率は、情報として記憶部16に格納される。
当該設定後、操作ウインドウの移動ボタン35をカーソルによりクリックして、これを押し続けることにより、対応する情報が記憶部16から読み出され、当該情報に基づいてシステム制御部15が駆動部6aを介して移動機構6bを駆動することにより、図5に示す矢印Rの方向(表示画像40のX−Y座標におけるX軸に沿う方向)に絞り孔像41の中心41aが移動し、絞り孔6cの中心を電子ビーム11の光軸上に位置させることができる。ここで、図5に示す43は、当該移動後における絞り孔像であり、43aは、当該絞り孔像43の中心である。同図において、移動後の絞り孔像43の中心43aは、表示画像40の中心Pと重なり合って一致している。これにより、絞り孔6cの中心が電子ビーム11の光軸上に位置することとなる。ここで、図3及び図5に示すX及びYは、表示画像40のX−Y座標におけるX軸及びY軸であり、またx及びyはx方向移動部による移動軸及びy方向移動部による移動軸である。なお、移動ボタン34をカーソルを介して押すことにより、表示画像40のX−Y座標におけるY軸に沿う方向に絞り孔像41を移動させることもできる。
このように、上記荷電粒子ビーム装置は、荷電粒子ビーム源1と、荷電粒子ビーム源1から放出された荷電粒子ビーム11の一部を通過させる孔6cが形成された絞り部材6を有し、この絞り部材6の孔6cを通過した荷電粒子ビーム11を試料12に照射させる照射系19と、荷電粒子ビーム11が照射された試料12の画像データを形成する画像データ形成手段13と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段17と、絞り部材6を移動させて絞り部材6の孔6cの移動を行う移動機構6bと、表示手段17に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段18とを具備する荷電粒子ビーム装置において、指定手段18により指定された移動方向と移動機構6bの駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構6bを駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構6bによって当該孔の移動が行われる。
なお、上記例では、透過形電子顕微鏡における絞り孔の位置調整の例であったが、走査形電子顕微鏡の構成を備える荷電粒子ビーム装置における絞り孔の位置調整においても本発明は適用可能である。
また、上述した例においては、図1に示す荷電粒子ビーム装置におけるCL絞り部材6の絞り孔6cの位置調整の例を取り上げたが、これに限定されることはない。すなわち、結像系20を構成するOL絞り部材7の絞り孔7cの位置調整又はSA絞り部材8の絞り孔8cの位置調整を行う際にも適用できる。
すなわち、上述したCL絞り部材6の絞り孔6cの位置調整時に設定された上記各比率の情報を記憶部16に格納した後、OL絞り部材7の絞り孔7cの位置調整時における移動機構7bのx方向移動部及びy方向移動部による絞り孔7cの各移動量の比率を、操作用ウインドウ30内での選択操作の後に、設定用ウインドウ50の入力ボックス53に別途入力し、これにより当該各比率を設定して情報として記憶部16に格納する。
さらに、SA絞り部材8の絞り孔8cの位置調整時における移動機構8bのx方向移動部及びy方向移動部による絞り孔8cの各移動量の比率を、操作用ウインドウ30内での選択操作の後に、設定用ウインドウ50の入力ボックス53に別途入力し、これにより当該各比率を設定して情報として記憶部16に格納する。
この場合の荷電粒子ビーム装置は、荷電粒子ビーム源1と、荷電粒子ビーム源1から放出された荷電粒子ビーム11を試料12に照射させる照射系19と、試料12に照射された後に試料12を透過した荷電粒子ビーム11の一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームに基づいて像を結像する結像系20と、結像された像に基づいて試料の画像データを形成する画像データ形成手段13と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段17と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段18とを具備する荷電粒子ビーム装置において、指定手段18により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われる。
このように、本発明においては、表示画像内での絞り孔の像の指定移動方向に合うように移動機構によって絞り孔の移動が行われる。
よって、表示画面に表示された絞り孔の位置合せを行う際に、オペレータは表示画像内での絞り孔の像の移動方向を適宜指定すれば、当該指定移動方向に沿って移動機構により絞り孔が移動することとなり、絞り孔の位置合せを効率良く行うことができる。
なお、上記各例においては、表示画像のX−Y座標に沿う方向を指定して、その指定された方向での孔の像の移動に対応して、移動機構を構成するx方向移動部及びy方向移動部による孔の各移動量の比率が設定可能となっているがこれに限定されるものではない。
すなわち、表示画面のX−Y座標に沿う方向以外の任意の方向(例えば、当該X−Y座標の平面内でX方向に対して45度の角度でもって傾斜する方向)を指定して、その指定された方向での孔の像の移動に対応して、x方向移動部及びy方向移動部による孔の各移動量の比率を設定可能とすることもできる。
また、本発明は、画像表示部及び入力部等を装置本体がある部屋とは別室に配置して、当該装置本体を遠隔操作する際にも適用できる。
本発明における荷電粒子ビーム装置を示す概略構成図である。 操作用ウインドウを示す図である。 絞り孔の像を含む表示画像を示す図である。 設定用ウインドウを示す図である。 絞り孔の像を含む表示画像を示す図である。
符号の説明
1…電子銃(荷電粒子ビーム源)、6,7,8…絞り部材、6c,7c,8c…絞り孔(孔)
11…電子ビーム(荷電粒子ビーム)、12…試料、13…画像データ形成部(画像データ形成手段)、17…画像表示部(表示手段)、18…入力部(指定手段)

Claims (8)

  1. 荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、荷電粒子ビームが照射された試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする荷電粒子ビーム装置。
  2. 荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、試料に照射された後に試料を透過した荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームに基づいて像を結像する結像系と、結像された像に基づいて試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする荷電粒子ビーム装置。
  3. 前記表示画像内での指定移動方向は、当該表示画像のX−Y座標におけるX軸若しくはY軸に沿う方向であることを特徴とする請求項1若しくは2記載の荷電粒子ビーム装置。
  4. 前記移動機構はx方向移動部及びy方向移動部を有し、前記指定手段により指定された移動方向に対応するx方向移動部及びy方向移動部による当該孔の移動量の比率が前記情報に含まれていることを特徴とする請求項1乃至3何れか記載の荷電粒子ビーム装置。
  5. 荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、荷電粒子ビームが照射された試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法。
  6. 荷電粒子ビーム源と、荷電粒子ビーム源から放出された荷電粒子ビームを試料に照射させる照射系と、試料に照射された後に試料を透過した荷電粒子ビームの一部を通過させる孔が形成された絞り部材を有し、この絞り部材の孔を通過した荷電粒子ビームに基づいて像を結像する結像系と、結像された像に基づいて試料の画像データを形成する画像データ形成手段と、形成された画像データに基づく画像を表示するための表示手段と、絞り部材を移動させて絞り部材の孔の移動を行う移動機構と、表示手段に表示された当該孔の像の表示画像内での移動方向を指定する指定手段とを具備する荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法において、指定手段により指定された移動方向と移動機構の駆動による当該孔の移動方向とを対応付ける情報に基づいて移動機構を駆動することにより、表示画像内での当該孔の像が当該指定手段による指定方向に移動するように移動機構によって当該孔の移動が行われることを特徴とする荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法。
  7. 前記表示画像内での指定移動方向は、当該表示画像のX−Y座標におけるX軸若しくはY軸に沿う方向であることを特徴とする請求項5若しくは6記載の荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法。
  8. 前記移動機構はx方向移動部及びy方向移動部を有し、前記指定手段により指定された移動方向に対応するx方向移動部及びy方向移動部による当該孔の移動量の比率が前記情報に含まれていることを特徴とする請求項5乃至7何れか記載の荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法。
JP2005312364A 2005-10-27 2005-10-27 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法 Pending JP2007122998A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005312364A JP2007122998A (ja) 2005-10-27 2005-10-27 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005312364A JP2007122998A (ja) 2005-10-27 2005-10-27 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007122998A true JP2007122998A (ja) 2007-05-17

Family

ID=38146624

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005312364A Pending JP2007122998A (ja) 2005-10-27 2005-10-27 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007122998A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011034020A1 (ja) * 2009-09-15 2011-03-24 国立大学法人浜松医科大学 電子顕微鏡
JP2011129444A (ja) * 2009-12-21 2011-06-30 Jeol Ltd 電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置
WO2016166805A1 (ja) * 2015-04-14 2016-10-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置及び試料観察方法
CN111971775A (zh) * 2018-03-29 2020-11-20 株式会社日立高新技术 电荷粒子线装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04366539A (ja) * 1991-06-14 1992-12-18 Jeol Ltd 電子顕微鏡の対物絞り駆動装置
JPH07302564A (ja) * 1994-05-10 1995-11-14 Topcon Corp 走査電子顕微鏡

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04366539A (ja) * 1991-06-14 1992-12-18 Jeol Ltd 電子顕微鏡の対物絞り駆動装置
JPH07302564A (ja) * 1994-05-10 1995-11-14 Topcon Corp 走査電子顕微鏡

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011034020A1 (ja) * 2009-09-15 2011-03-24 国立大学法人浜松医科大学 電子顕微鏡
JP5610491B2 (ja) * 2009-09-15 2014-10-22 国立大学法人浜松医科大学 電子顕微鏡
JP2011129444A (ja) * 2009-12-21 2011-06-30 Jeol Ltd 電子顕微鏡の可動絞り位置制御方法及び装置
WO2016166805A1 (ja) * 2015-04-14 2016-10-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置及び試料観察方法
CN107408484A (zh) * 2015-04-14 2017-11-28 株式会社日立高新技术 带电粒子束装置以及试样观察方法
JPWO2016166805A1 (ja) * 2015-04-14 2018-02-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線装置及び試料観察方法
US10636621B2 (en) 2015-04-14 2020-04-28 Hitachi High-Technologies Corporation Charged particle beam device for moving an aperture having plurality of openings and sample observation method
CN111971775A (zh) * 2018-03-29 2020-11-20 株式会社日立高新技术 电荷粒子线装置
CN111971775B (zh) * 2018-03-29 2023-10-03 株式会社日立高新技术 电荷粒子线装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7612337B2 (en) Focused ion beam system and a method of sample preparation and observation
US10621411B2 (en) Method for laser microdissection
CN106941065B (zh) 样品位置对准方法和带电粒子束装置
CN109906497B (zh) 带电粒子束装置以及试样观察方法
JP2007122998A (ja) 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置におけるビーム絞り位置調整方法
JP2005114578A (ja) 試料作製方法および試料作製装置ならびに試料観察装置
KR20130065633A (ko) 레이저 가공을 위한 터치 스크린 인터페이스
JP6901460B2 (ja) 走査電子顕微鏡および画像処理方法
DE10313593B4 (de) Verfahren zum Betrachten einer Probe mittels eines Transmissionselektronenmikroskops und entsprechendes Transmissionselektronenmikroskop
JP3672970B2 (ja) 非接触画像計測システム
JP2000357481A (ja) 走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法
JP4397683B2 (ja) 走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法
JP3941668B2 (ja) 細胞の観察方法
JP3870141B2 (ja) 電子顕微鏡
JP4397730B2 (ja) 電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置
JP5084528B2 (ja) 電子顕微鏡の制御装置及び制御方法
TWI847205B (zh) 帶電粒子線裝置
JP2008052232A (ja) マニピュレータ装置
WO2023242954A1 (ja) 荷電粒子線装置および注目画像データを出力する方法
JP2014116207A (ja) 荷電粒子線装置
WO2023021540A1 (ja) 荷電粒子線装置
JP3987636B2 (ja) 電子顕微鏡
JP4223734B2 (ja) 電子顕微鏡
JP2008175896A (ja) 画像表示装置
JPH10302704A (ja) 荷電粒子ビーム装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080723

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110126

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110405

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110816