JP2007086581A - 画像処理装置、電気光学装置、電子機器およびデータ生成方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 複数種類の輝度ムラを抑制する。
【解決手段】 各電気光学素子Ｕの輝度は補正値Ａ1および補正値Ａ2に応じて補正される。処理ユニットＰk（Ｐ1・Ｐ2）は、Ｘ方向に沿って隣接する各電気光学素子Ｕの補正値Ａkの増減の方向を指定する増減指定データＤkを記憶するメモリ４１と、補正単位量Ｃkを記憶する設定回路４３と、各電気光学素子Ｕの補正値Ａkを増減指定データＤkが指定する方向に補正単位量Ｃkだけ変化させた数値を、その電気光学素子ＵのＸ方向に隣接する他の電気光学素子Ｕの補正値Ａkとして算定する補正値決定回路４５とを含む。処理ユニットＰ1の補正単位量Ｃ1と処理ユニットＰ2の補正単位量Ｃ2とは相違する。補正回路５３は、各電気光学素子Ｕの階調を指定する階調データＧ0を補正値Ａ1と補正値Ａ2とに基づいて補正する。
【選択図】 図２

Description

本発明は、有機発光ダイオード（以下「ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）」という）素子などの電気光学素子を所期の輝度に制御する技術に関する。

各種の電気光学装置によって出力される画像を補正する様々な技術が従来から提案されている。例えば特許文献１には、所定の方向に隣接する各画素について補正値の増減の方向を指定する補正データをメモリから順番に読み出し、画像を補正するための補正信号のレベルを補正データに基づいて増減させる技術が開示されている。この構成によれば、補正信号のレベルが画素ごとにメモリに記憶される構成と比較してメモリに必要な容量を削減することができる。
特許第３６３４５７５号公報（段落００４０および図５）

ところで、電気光学素子として例えばＯＬＥＤ素子を利用した電気光学装置においては輝度のムラが問題となる。この輝度ムラを解消するための方策として特許文献１の技術の採用も可能である。すなわち、この構成においては、補正データが指定する方向に各電気光学素子の補正値を所定量だけ変化させた数値がその隣の電気光学素子の補正値として算定される。そして、各電気光学素子に指定された階調をその電気光学素子の補正値に基づいて補正することで輝度ムラが抑制される。

一方、電気光学装置に発生する輝度ムラは多様である。例えば、複数の電気光学素子が配列された領域の広い範囲にわたって徐々に輝度が変化するようなムラもあれば、複数の狭い領域にて急激に輝度が変化するようなムラもある。しかしながら、特許文献１の構成においては、相互に隣接する各電気光学素子の補正値の変動量（差分値）が必然的に所定値に固定されるから、このような多様なムラを高精度に補正することはできない。例えば、各々の態様（ムラが分布する範囲の広狭や輝度の変化の程度）が相違する複数の種類のムラのうちひとつの態様のムラを補正できたとしても、もうひとつの態様のムラを有効に補正することはできない。このような事情に鑑みて、本発明は、多様な輝度ムラを高精度に補正するという課題の解決を目的としている。

この課題を解決するために、本発明に係る画像処理装置は、複数の電気光学素子の各々の輝度が第１補正値（例えば図２や図３の補正値Ａ1）および第２補正値（例えば図２や図３の補正値Ａ2）に応じて補正される電気光学装置の画像処理装置であって、所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の第１補正値の増減の方向を指定する増減指定データ（例えば図２や図３の増減指定データＤ1）を記憶する第１記憶手段（例えば図３の処理ユニットＰ1のメモリ４１）と、第１補正単位量（例えば図２や図３の補正単位量Ｃ1）を指定する第１指定手段（例えば図３の処理ユニットＰ1の設定回路４３）と、各電気光学素子の第１補正値を第１記憶手段の増減指定データが指定する方向に第１補正単位量だけ変化させた数値を、当該電気光学素子に対して所定の方向に隣接する他の電気光学素子の第１補正値として算定する第１補正値決定手段（例えば図３の処理ユニットＰ1の補正値決定回路４５）と、所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の第２補正値の増減の方向を指定する増減指定データ（例えば図２や図３の増減指定データＤ2）を記憶する第２記憶手段（例えば図３の処理ユニットＰ2のメモリ４１）と、第１補正単位量とは相違する第２補正単位量（例えば図２や図３の補正単位量Ｃ2）を指定する第２指定手段（例えば図３の処理ユニットＰ2の設定回路４３）と、各電気光学素子の第２補正値を第２記憶手段の増減指定データが指定する方向に第２補正単位量だけ変化させた数値を、当該電気光学素子に対して所定の方向に隣接する他の電気光学素子の第２補正値として算定する第２補正値決定手段（例えば図３の処理ユニットＰ2の補正値決定回路４５）とを具備する。

この構成によれば、所定の方向に隣接する各電気光学素子の第１補正値が第１補正単位量ずつ変化するとともに第２補正値が第２補正単位量ずつ変化する。したがって、電気光学素子の各位置に応じた輝度の変化量が相違する複数の種類の輝度ムラが発生している場合であっても、これらの輝度ムラの各々を有効に抑制することが可能である。なお、本発明に係る画像処理装置は、画像の処理に専用されるＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのハードウェアによって実現されてもよいし、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などのコンピュータとこれによって実行されるプログラムとの協働によって実現されてもよい。

本発明における電気光学素子とは、電流の供給や電圧（電界）の印加といった電気エネルギの付与によって輝度（階調）が制御される要素である。電気光学素子の典型例はＯＬＥＤ素子であるが、本発明における電気光学素子はこれに限定されない。また、本発明の「複数の電気光学素子」は、電気光学装置が備える総ての電気光学素子である必要はない。例えば、電気光学装置が備える総ての電気光学素子のうち特定の領域の電気光学素子に対して補正が必要であるような場合には、この領域に属する所定数の電気光学素子のみが本発明による補正値の設定の対象とされる。

本発明においては、第１記憶手段と第１指定手段と第１補正値決定手段とを含む要素（以下「処理ユニット」という）、および第２記憶手段と第２指定手段と第２補正値決定手段とを含む処理ユニットのみが特定されているが、３個以上の処理ユニットが設置された画像処理装置を本発明の範囲から除外する趣旨ではない。すなわち、さらに多数の処理ユニットを含む画像処理装置であっても、ひとつの処理ユニットに第１記憶手段と第１指定手段と第１補正値決定手段とが含まれるとともにもうひとつの処理ユニットに第２記憶手段と第２指定手段と第２補正値決定手段とが含まれる場合には、当然に本発明の範囲に含まれる。

本発明の好適な態様において、第１記憶手段の増減指定データが第１補正値の増加および減少の一方を複数の電気光学素子にわたって連続して指定する区間（例えば図２の区間Ｓb1や区間Ｓb2）は、第２記憶手段の増減指定データが第２補正値の増加および減少の一方を複数の電気光学素子にわたって連続して指定する区間（例えば図２の区間Ｓn1や区間Ｓn2）よりも長く、第１補正単位量は第２補正単位量よりも小さい。この態様によれば、所定の方向の広い範囲にわたって徐々に輝度が変化するようなムラ（例えば図２の広域ムラＢb）が第１補正値によって有効に抑制される一方、所定の方向の狭い範囲にて急激に輝度が変化するようなムラ（例えば図２の狭域ムラＢn）が第２補正値によって有効に抑制される。

より具体的な態様において、第１記憶手段および第２記憶手段の各々は、各電気光学素子の補正値がその隣の電気光学素子の補正値に対して増加するか減少するか同値であるかを指定する２ビットの増減指定データを電気光学素子ごとに記憶する。この態様によれば、ひとつの電気光学素子あたり２ビットの増減指定データを第１記憶手段および第２記憶手段に保持すれば足りるから、総ての電気光学素子について補正値が記憶される構成と比較して、画像処理装置に必要とされる記憶の容量を大幅に低減することができる。

なお、増減指定データは補正値の増加および減少の何れかを指定する１ビットのデータであってもよい。ただし、この場合には相互に隣接する電気光学素子の補正値を同値に設定できないから、補正の精度の向上という観点からすると、増減指定データを２ビットとした態様が好適である。もちろん、増減指定データを１ビットとした構成においては、特許文献１に開示されるように、例えば増加を指定する増減指定データと減少を指定する増減指定データとが交互に配列される区間にて補正値を同値に維持するという構成も考えられる。しかしながら、この構成においては、増減指定データによって増加と減少とが交互に指定されることを検知するための仕組みが必要となるから、画像処理装置の構成が複雑化するという問題が生じ得る。これに対し、増減指定データを２ビットとした構成によれば、増加および減少に加えて補正値の維持も増減指定データによって指定することができるから、相前後する増減指定データの大小を検知する仕組みが不要であるという利点がある。

本発明の好適な態様において、複数の電気光学素子の各々の階調を指定する階調データを、第１補正値決定手段が決定した第１補正値と第２補正値決定手段が決定した第２補正値とに基づいて補正する補正手段（例えば図３の補正回路５３）を具備する。この態様によれば、画像処理装置において第１補正値と第２補正値とに応じて階調データが補正されるから、階調データに応じて各電気光学素子を駆動する駆動回路（例えば図１のデータ線駆動回路）に階調データを補正するための機能を持たせる必要がない。したがって、補正の機能を持たない従来の駆動回路を電気光学装置に流用することができる。

本発明に係る電気光学装置（例えば発光素子を電気光学素子として採用した発光装置）は、複数の電気光学素子と、以上の何れかの態様に係る画像処理装置と、複数の電気光学素子の各々を、画像処理装置が当該電気光学素子について決定した第１補正値および第２補正値と当該電気光学素子の階調を指定する階調データとに応じた輝度で駆動する駆動手段（例えば図１のデータ線駆動回路２４）とを具備する。この態様によれば、各電器光学素子の補正値を保持するための容量を削減しながら、複数の種類の輝度ムラを有効に抑制することができる。

なお、画像処理装置と駆動手段との外観上の切り分けは任意である。例えば、駆動手段として機能するＩＣチップに画像処理装置が内蔵された構成としてもよいし、駆動手段に相当するＩＣチップと画像処理装置とが別個の部品とされた構成としてもよい。

本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。この電子機器の典型例は、電気光学装置を表示装置として利用した機器である。この種の電子機器としては、パーソナルコンピュータや携帯電話機などがある。もっとも、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体に潜像を形成するための露光装置（露光ヘッド）としても本発明の電気光学装置を適用することができる。

また、本発明は、以上に説明した画像処理装置や電気光学装置にて使用される増減指定データを生成するための方法を提供する。この方法は、電気光学装置が備える複数の電気光学素子のうち所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の補正値の増減の方向を指定する増減指定データを生成する方法であり、複数の電気光学素子の各々の輝度を測定する第１過程（例えば図５のステップＳ11）と、所定の方向に沿った各電気光学素子の位置と各電気光学素子の輝度の測定値との関係に対する平滑曲線（例えば図６の包絡線Ｅ）を特定する第２過程（例えば図５のステップＳ14）と、各電気光学素子の輝度の測定値と平滑曲線との差分値（例えば図６の差分値ａk）を所定の方向の各位置について算定する第３過程（例えば図５のステップＳ15）と、各位置について算定された差分値と当該位置に隣接する他の位置について算定された差分値との大小に応じて増減指定データを生成する第４過程（例えば図５のステップＳ18）とを含む。

この方法によれば、各電気光学素子の輝度と平滑曲線との差分値に基づいて増減指定データが生成されるから、例えば、広範囲にわたって徐々に輝度が変化するムラ（例えば人間の視覚によっては知覚されない程度の変動）の影響を除外することができる。したがって、本発明によれば、狭範囲にて急激に輝度が変化するムラを高精度に補正できる増減指定データを好適に生成することができる。なお、本発明における平滑曲線とは、輝度の測定値に連動して変動する曲線であって輝度よりも変動が低減された平滑な曲線である。例えば、輝度の測定値の極値を平滑に連結した包絡線（図６の包絡線Ｅ）や輝度の測定値の変動から高周波の成分を除去した曲線などが本発明の平滑曲線に該当する。

この方法の好適な態様においては、所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の補正値の増減の単位となる補正単位量（例えば図６の補正単位量Ｃk）を、所定の方向の位置に応じた差分値の変化の態様に基づいて算定する過程（例えば図５のステップＳ16）と、所定の方向の位置に応じた差分値の変化（例えば図６の折線Ｌ0）を補正単位量に応じた勾配の直線（例えば図６の折線Ｌ1）で近似し、この近似された差分値を補正値（例えば図６の補正値Ａk）として特定する過程（例えば図５のステップＳ17）とがさらに実行され、第４過程においては、各位置の差分値を近似した補正値と当該位置に隣接する他の位置の差分値を近似した補正値との大小に応じて増減指定データを生成する。この態様によれば、輝度と平滑曲線との差分値の近似によって簡易に補正値が特定される。また、各電気光学素子の実際の輝度に基づいて補正単位量が算定されるから、実際の輝度とは無関係に補正単位量が予め決定された場合と比較して、輝度ムラを高精度に抑制し得る増減指定データを生成することができる。

増減指定データは、各位置の補正値がこれに隣接する位置の補正値に対して増加するか減少するか同値であるかを指定する２ビットのデータであり、第４過程においては、各位置の補正値と当該位置に隣接する他の位置の補正値とが同値である場合にはこれを指定する増減指定データを生成する。この態様によれば、各電気光学素子の補正値が同値であることが増減指定データによって指定されるから、例えば増減指定データが１ビットである構成と比較して電気光学装置や画像処理装置の構成が簡素化される。

なお、本発明は、増減指定データを生成する装置（データ生成装置）としても特定される。すなわち、この装置（例えば図４の情報処理装置）は、複数の電気光学素子の各々の輝度の測定値を測定器から取得する手段と、所定の方向に沿った各電気光学素子の位置と各電気光学素子の輝度の測定値との関係に対する平滑曲線を特定する手段と、各電気光学素子の輝度の測定値と平滑曲線との差分値を所定の方向の各位置について算定する手段と、各位置について算定された差分値と当該位置に隣接する他の位置について算定された差分値との大小に応じて増減指定データを生成する手段とを具備する。これらの手段は、各処理に専用されるＤＳＰなどのハードウェアによって実現されてもよいし、ＣＰＵなどのコンピュータ（例えば図４の制御部７３１）とこれによって実行されるプログラムとの協働によって実現されてもよい。

＜Ａ：電気光学装置の構成＞
図１は、本発明のひとつの実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。この電気光学装置Ｄは、各種の電子機器に搭載されて画像を表示する表示装置であり、図１に示されるように、複数の電気光学素子Ｕが配列された電気光学パネル１０と、画像に関する処理を実行する画像処理装置３０とを含む。

電気光学パネル１０は、Ｘ方向（行方向）に延在するｍ本の走査線１２と、Ｘ方向と直交するＹ方向（列方向）に延在するｎ本のデータ線１４とを含む（ｍおよびｎは自然数）。各電気光学素子Ｕは、走査線１２とデータ線１４との各交差に対応して配置される。したがって、これらの電気光学素子Ｕは、Ｘ方向およびＹ方向にわたって縦ｍ行×横ｎ列のマトリクス状に配列する。各電気光学素子Ｕは、相互に対向する陽極と陰極との間隙に有機ＥＬ（ElectroLuminescent）材料の発光層を介在させた構造のＯＬＥＤ素子である。

電気光学パネル１０は、各電気光学素子Ｕを駆動する走査線駆動回路２２およびデータ線駆動回路２４を含む。走査線駆動回路２２は、複数の走査線１２の各々を順番に選択する回路である。データ線駆動回路２４は、各電気光学素子Ｕに指定される階調に応じたレベル（電流値または電圧値）のデータ信号を各データ線１４に出力する。各電気光学素子Ｕの輝度は、画像処理装置３０から出力される階調データＧ1によって指定される。走査線駆動回路２２が選択した走査線１２に対応する各電気光学素子Ｕは、この選択時にデータ線１４に供給されているデータ信号に応じた輝度（階調）で駆動される。

画像処理装置３０には画像信号VIDが入力される。この画像信号VIDは、電気光学装置Ｄが搭載される電子機器のＣＰＵ（Central Processing Unit）など各種の上位装置から供給されるデジタル信号である。画像信号VIDは、各電気光学素子Ｕの階調を指定する階調データＧ0を含む。画像処理装置３０は、電気光学素子Ｕごとに補正値を特定し、各電気光学素子Ｕの階調データＧ0をその電気光学素子Ｕについて特定した補正値に基づいて補正する。この補正後のデータが階調データＧ1としてデータ線駆動回路２４に出力される。なお、図１においては画像処理装置３０が電気光学パネル１０とは別個の要素として図示されているが、画像処理装置３０の一部または全部は、電気光学パネル１０に実装されていてもよいし、走査線駆動回路２２やデータ線駆動回路２４のＩＣチップに搭載されてもよい。

図２の部分(ａ1)は、画像処理装置３０による補正が実行されない構成のもとで総ての電気光学素子Ｕに同階調が指定された場合の各電気光学素子Ｕの実際の輝度を示すグラフである。このグラフにおいては、１行分の電気光学素子ＵのＸ方向における位置（第１列から第ｎ列）が横軸に示され、各電気光学素子Ｕの輝度が縦軸に示されている。図２の部分(ａ1)に示されるように、総ての電気光学素子Ｕに対して同一の階調が指定された場合であっても、各電気光学素子Ｕの輝度はその位置に応じて相違する。

また、各々の原因が相違する複数の種類の輝度ムラが同時に発生する場合がある。例えば、図２の部分(ａ1)に例示されたケースでは、Ｘ方向の比較的に広い範囲にわたって破線Ｌに沿うように徐々に輝度が変化するタイプのムラ（以下「広域ムラ」という）Ｂbと、Ｘ方向の比較的に狭い範囲において急激に輝度が変化するタイプのムラ（以下「狭域ムラ」という）Ｂnとが同時に発生している。このうち広域ムラＢbは、例えば走査線１２における電圧降下を原因とするムラである。すなわち、Ｘ方向に延在する走査線１２のうち電気光学素子Ｕが接続された各箇所の電位が電圧降下によってバラつき、この結果として電気光学素子Ｕに付与される電気エネルギがＸ方向の位置に応じて相違するために、各電気光学素子Ｕの輝度にムラが発生するのである。一方、狭域ムラＢnは、例えば各電気光学素子Ｕの特性の局所的な誤差を原因とするムラである。すなわち、主として製造技術上の理由によって各電気光学素子Ｕの特性に誤差が発生し、この特性のバラツキに起因して各電気光学素子Ｕの輝度にムラが発生するのである。本実施形態の画像処理装置３０は、広域ムラＢbを低減するための手段と狭域ムラＢnを低減するための手段とを兼備する。

次に、図３を参照して、画像処理装置３０の具体的な構成を説明する。同図に示される入出力回路３１は、外部から供給される画像信号VIDから階調データＧ0とドットクロック信号DCKとを抽出する手段である。階調データＧ0は補正回路５３に出力され、ドットクロック信号DCKはアドレスカウンタ３３に出力される。ドットクロック信号DCKは、所定の周期（例えば垂直走査期間を電気光学素子Ｕの総数で除算した時間長）のクロック信号である。

図３に示されるように、画像処理装置３０は２個の処理ユニット（Ｐ1・Ｐ2）を備える。このうち処理ユニットＰ1は、広域ムラＢbを抑制するための補正値Ａ1を電気光学素子Ｕごとに設定する手段である。一方、処理ユニットＰ2は、狭域ムラＢnを抑制するための補正値Ａ2を電気光学素子Ｕごとに設定する手段である。

補正値演算回路５１は、ある電気光学素子Ｕについて処理ユニットＰ1が設定した補正値Ａ1と処理ユニットＰ2がその電気光学素子Ｕについて設定した補正値Ａ2とに基づいて当該電気光学素子Ｕの補正値Ｒを算定する。本実施形態の補正値演算回路５１は、補正値Ａ1と補正値Ａ2との加算値を補正値Ｒとして補正回路５３に出力する。この補正回路５３は、ドットクロック信号DCKに同期して入出力回路３１から順次に供給される各電気光学素子Ｕの階調データＧ0を、その電気光学素子Ｕについて補正値演算回路５１が算定した補正値Ｒに基づいて補正する手段である。本実施形態の補正回路５３は、階調データＧ0と補正値Ｒとの加算値を階調データＧ1として算定する。

次に、補正値Ａ1と補正値Ａ2とを設定するための具体的な構成について説明する。なお、処理ユニットＰ1および処理ユニットＰ2の各々の構成や処理は多くの部分で共通する。そこで、処理ユニットＰ1と処理ユニットＰ2とを特に区別する必要がない場合には、記号ｋ（ｋは１または２）を使用することで処理ユニットＰ1および処理ユニットＰ2の双方を併せて説明する。例えば、「処理ユニットＰkが補正値Ａkを決定する」という表現は、「処理ユニットＰ1が補正値Ａ1を決定する」という意味と「処理ユニットＰ2が補正値Ａ2を決定する」という意味とを含む。

図３に示されるように、各処理ユニットＰkはメモリ４１と設定回路４３と補正値決定回路４５とを含む。メモリ４１は、Ｘ方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子Ｕの補正値Ａkの増減の方向を指定する増減指定データＤkを記憶する手段である。本実施形態のメモリ４１は、電気光学パネル１０の全行に属する第２列から第ｎ列までの電気光学素子Ｕの各々について増減指定データＤkを記憶する。第ｊ列目（ｊは２≦ｊ≦ｎを満たす整数）の電気光学素子Ｕに対応する増減指定データＤkは、この電気光学素子Ｕについて設定されるべき補正値Ａkが、そのＸ方向の負側に隣接する第（j-1）列目の電気光学素子Ｕの補正値Ａkを(1)増加させた数値であるか(2)減少させた数値であるか(3)同値であるかを指定する２ビットのデジタルデータである。

図２の部分(ａ2)は、広域ムラＢbを抑制するために処理ユニットＰ1が１行分の各電気光学素子Ｕに設定すべき補正値Ａ1と各電気光学素子ＵのＸ方向の位置との関係を示すグラフである。図２の部分(ａ1)に示されたＸ方向の負側（左側）の広域ムラＢbは、複数（ここでは９個）の電気光学素子Ｕが配列する区間Ｓb1のうちＸ方向の正側の位置ほど明るくなるように各電気光学素子Ｕの輝度が徐々に変化するムラである。この区間Ｓb1の広域ムラＢbを抑制して輝度を均等化するためには、図２の部分(ａ2)に示されるように、Ｘ方向の正側ほど電気光学素子Ｕの補正値Ａ1が減少するように区間Ｓb1の各電気光学素子Ｕの補正値Ａ1が選定される必要がある。したがって、区間Ｓb1に属する各電気光学素子Ｕの増減指定データＤ1は「減少（図２の部分(ａ3)では記号「−」で表記されている）」を指定する内容となる。

一方、図２の部分(ａ1)に示されるように、区間Ｓb2においてはＸ方向の正側の位置ほど暗くなるように各電気光学素子Ｕの輝度が徐々に変化する広域ムラＢbが発生している。この区間Ｓb2の広域ムラＢbを抑制するためには、図２の部分(ａ2)に示されるように、Ｘ方向の正側ほど補正値Ａ1が増加するように補正値Ａ1が選定されなければならない。したがって、区間Ｓb2に属する各電気光学素子Ｕの増減指定データＤ1は「増加（図２の部分(ａ3)では記号「＋」で表記されている）」を指定する内容となる。

また、区間Ｓb1と区間Ｓb2との間隙に位置する区間Ｓb3においては、狭域ムラＢnを除外すれば各電気光学素子Ｕの輝度は略一定となる。すなわち、この区間Ｓb3に広域ムラＢbは発生していないから、広域ムラＢbを抑制するための補正値Ａ1は区間Ｓb3にて略一定の数値に維持される。したがって、区間Ｓb3に属する各電気光学素子Ｕの増減指定データＤ1は「維持（図２の部分(ａ3)では記号「０」で表記されている）」を指定する内容となる。

次に、図２の部分（ｂ1）は、同図の部分（ａ1）に例示された輝度を同図の部分（ａ2）の補正値Ａ1で補正した場合の各電気光学素子Ｕの輝度の測定値を示すグラフである。なお、本実施形態の画像処理装置３０においては補正値Ａ1および補正値Ａ2の双方に基づいて階調データＧ0が補正される。したがって、図２の部分（ｂ1）のように補正値Ａ1による補正のみを前提とした特性は実際の電気光学装置Ｄにおいては観測されないが、ここでは説明の便宜のために補正値Ａ1による補正のみを仮想的に想定している。

図２の部分（ｂ1）における各狭域ムラＢnは、図２の部分（ｂ2）に示されるように、区間Ｓn2内においてＸ方向の正側ほど暗くなるとともに、これに隣接する区間Ｓn1においてＸ方向の正側ほど明るくなるように各電気光学素子Ｕの輝度が急激に変化するムラである。この狭域ムラＢnを抑制して輝度を均等化するためには、図２の部分（ｂ2）に示されるように、区間Ｓn2におけるＸ方向の正側ほど増加するとともに区間Ｓn1におけるＸ方向の正側ほど減少するように補正値Ａ2が選定される必要がある。したがって、処理ユニットＰ2のメモリ４１の増減指定データＤ2は、区間Ｓn2に対応する各電気光学素子Ｕについては「増加」を指定し、区間Ｓn1に対応する各電気光学素子Ｕについては「減少」を指定する内容となる。また、各狭域ムラＢnの間隙の区間において広域ムラＢbを除外すれば各電気光学素子Ｕの輝度は略一定となるから、この区間に属する各電気光学素子Ｕの増減指定データＤ2は「維持」を指定する内容となる。

図３のアドレスカウンタ３３は、入出力回路３１から供給されるドットクロック信号DCKに同期したタイミングにて複数の電気光学素子Ｕの各々を順番に選択する手段である。さらに詳述すると、アドレスカウンタ３３は、各電気光学素子Ｕを順次に選択し、ここで選択した電気光学素子Ｕの増減指定データＤ1のアドレスＡＤ1を処理ユニットＰ1のメモリ４１に指定するとともに、この電気光学素子Ｕの増減指定データＤ2のアドレスＡＤ2を処理ユニットＰ2のメモリ４１に指定する。複数の電気光学素子Ｕの各々はその配列の順番で順次に選択される。すなわち、第１行に属する第１列目から第ｎ列目までの各電気光学素子Ｕがこの順番に（すなわちＸ方向の正側に向かって）順次に選択され、同行の第ｎ列目の電気光学素子Ｕの選択が完了すると、今度は第２行に属する第１列目から第ｎ列目までの各電気光学素子Ｕが同様の順番で選択される。この選択が第ｎ行まで完了すると、次は第１行に戻って各電気光学素子Ｕの選択が繰り返される。メモリ４１は、アドレスカウンタ３３によって指定されたアドレスＡＤkの端部指定データＤkを順次に読み出して補正値決定回路４５に出力する。

さて、図２の部分（ａ1）および部分（ｂ1）に示されるように、広域ムラＢbは広い範囲にわたって徐々に輝度が変化するのに対し、狭域ムラＢnは、広域ムラＢbよりも狭い範囲にわたるムラであって輝度の変化は広域ムラＢbよりも急激である。したがって、広域ムラＢbおよび狭域ムラＢnの双方を効率的に抑制するためには、Ｘ方向に隣接する各電気光学素子Ｕの補正値Ａkの差分値（すなわち、Ｘ方向にひとつの電気光学素子Ｕのぶんだけ移動したときの補正値Ａkの変動量）を補正値Ａ1と補正値Ａ2とで別個の数値に設定する必要がある。すなわち、狭域ムラＢnが発生する区間（Ｓn1・Ｓn2）内においてＸ方向に隣接する各電気光学素子Ｕの補正値Ａ2の差分値（以下「補正単位量」という）Ｃ2は、広域ムラＢbが発生する区間（Ｓb1・Ｓb2）内で隣接する各電気光学素子Ｕの補正値Ａ1の差分値（以下「補正単位量」という）Ｃ1よりも大きい数値に設定される。

図３における処理ユニットＰkの設定回路４３は、以上の補正単位量Ｃkを記憶する手段である。さらに、本実施形態における設定回路４３は、Ｘ方向の最も負側に位置する第１列目の電気光学素子Ｕの補正値（以下「初期値」という）Ｓkを記憶する。なお、本実施形態においては、全行にわたって初期値Ｓkがゼロである場合を想定する。ただし、各行について別個の初期値Ｓkが設定された構成としてもよい。補正単位量Ｃkおよび初期値Ｓkは設定回路４３から補正値決定回路４５に出力される。

処理ユニットＰkの補正値決定回路４５は、メモリ４１から出力される増減指定データＤkと設定回路４３から出力される補正単位量Ｃkおよび初期値Ｓkとから各電気光学素子Ｕの補正値Ａkを決定する手段である。より具体的には、補正値決定回路４５は、アドレスカウンタ３３が選択した電気光学素子Ｕ（すなわち増減指定データＤkがメモリ４１から読み出された電気光学素子Ｕ）の補正値Ａkを、その電気光学素子Ｕの直前にアドレスカウンタ３３が選択した電気光学素子Ｕの補正値Ａkから、増減指定データＤkで指定される方向に補正単位量Ｃkだけ変化させた数値として設定する。例えば、第ｊ列目の電気光学素子Ｕの増減指定データＤkによって「増加」が指定される場合、その補正値Ａkは、第（j-1）列目の電気光学素子Ｕの補正値Ａkに補正単位量Ｃkを加算した数値に決定される。一方、第ｊ列目の電気光学素子Ｕの増減指定データＤkによって「維持」が指定される場合、その補正値Ａkは、第（j-1）列目の電気光学素子Ｕの補正値Ａkと同値に決定される。ただし、補正値決定回路４５は、第１列目の電気光学素子Ｕの補正値Ａkは初期値Ｓkに決定する。

図２の部分（ａ2）に示されるように、各電気光学素子Ｕの補正値Ａ1は、第１列目の初期値Ｓ1から区間Ｓb1内において補正単位量Ｃ1に応じた勾配（すなわち広域ムラＢbにおける輝度の変動の程度に応じた勾配）でＸ方向の正側ほど減少して最小値Ａm1に到達する。さらに、補正値Ａ1は、区間Ｓb3内において最小値Ａm1を維持するとともに、区間Ｓb2においては最小値Ａm1から補正単位量Ｃ1に応じた勾配にて増加して初期値Ｓ1（＝０）に到達する。

一方、図２の部分（ｂ2）に示されるように、各電気光学素子Ｕの補正値Ａ2は、狭域ムラＢnに対応する区間Ｓn2において初期値Ｓ2から補正単位量Ｃ2に応じた勾配（すなわち狭域ムラＢnにおける輝度の変動の程度に応じた勾配）でＸ方向の正側ほど増加して最大値Ａm2に到達する。そして、区間Ｓn1において最大値Ａm2から補正単位量Ｃ2に応じた勾配で減少して初期値Ｓ2に到達する。一方、狭域ムラＢnが発生していない区間に属する各電気光学素子Ｕの補正値Ａ2は初期値Ｓ2に維持される。このような手順で決定された補正値Ａ1と補正値Ａ2とが階調データＧ0に加算されることによって、各電気光学素子Ｕの輝度は、図２の部分(c)に例示されるようにＸ方向の略全域にわたって均一化される。

以上に説明したように、本実施形態においては、第（j-1）列目の電気光学素子Ｕの補正値Ａkを増減指定データＤkが指定する方向に補正単位量Ｃkだけ変化させることで第ｊ列目の電気光学素子Ｕの補正値Ａkが決定される。したがって、総ての電気光学素子Ｕについて補正値Ａkが画像処理装置３０に保持される構成と比較して、画像処理装置３０に要求される記憶の容量を低減することができる。

また、特許文献１の構成のように補正単位量Ｃkが１種類のみである構成においては、広域ムラＢbおよび狭域ムラＢnの双方を効率的に抑制することは困難である。例えば、以上の形態にて例示した増減指定データＤ1で指定される方向に広域ムラＢbに対応した補正単位量Ｃ1だけ変化させることで補正値Ｒが算定される構成においては、広域ムラＢbを低減することは可能であるものの、図２の部分（ｂ1）に例示したように狭域ムラＢnを抑制することはできない。これに対し、本実施形態においては、各々の補正単位量Ｃkが相違する複数の処理ユニットＰkによって補正値Ａkが決定されるから、広域ムラＢbおよび狭域ムラＢnの双方を高精度に抑制することができる。

＜Ｂ：増減指定データを作成する方法＞
次に、各電気光学素子Ｕの増減指定データＤkを生成する方法（換言すると、増減指定データＤkの基礎となる補正値Ａkを選定する方法）の具体例を説明する。図４に示されるように、増減指定データＤkの生成には測定器７１と情報処理装置７３とが使用される。測定器７１は、各電気光学素子Ｕの輝度（光量）を測定するためのセンサである。例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）などの受光素子を備えた撮像装置が測定器７１として採用される。

情報処理装置７３は、測定器７１によって測定された各電気光学素子Ｕの輝度に基づいて各電気光学素子Ｕの増減指定データＤkを生成する手段である。この情報処理装置７３は、プログラムを実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）などの制御部７３１と、この制御部７３１が実行するプログラムやその実行に際して使用されるデータを記憶する記憶部７３２とを含む。パーソナルコンピュータなど各種のコンピュータが情報処理装置７３として採用される。

図５は、増減指定データＤkの生成のために制御部７３１が実行する処理の内容を示すフローチャートであり、図６は、この処理によって増減指定データＤkが生成される様子を説明するための概念図である。なお、以下に例示する処理は、処理ユニットＰ2が狭域ムラＢnを補正するために使用する増減指定データＤ2の生成に特に好適に採用されるが、増減指定データＤ1の生成にもこの方法を適用できる。

図５の処理を開始すると、制御部７３１はまず、データ線駆動回路２４に対する階調データＧ1の出力によって総ての電気光学素子Ｕに同階調を指定する（ステップＳ10）。さらに、制御部７３１は、この駆動時における各電気光学素子Ｕの輝度を測定器７１によって測定する（ステップＳ11）。各電気光学素子Ｕの輝度は記憶部７３２に記憶される。

次いで、制御部７３１は、増減指定データＤkの生成の対象となる何れかの行を選択する（ステップＳ12）。そして、制御部７３１は、ステップＳ11における測定値から、ステップＳ12における選択行に属する各電気光学素子Ｕの輝度を抽出する（ステップＳ13）。図６の部分(ａ)には、選択行に属する各電気光学素子Ｕの輝度が特性Ｆとして例示されている。同図に示されるように、総ての電気光学素子Ｕに同階調が指定された場合であっても、各電気光学素子Ｕの輝度にはＸ方向の位置によってバラツキがある。

次に、制御部７３１は、ステップＳ13で取得した輝度の曲線の包絡線を特定する（ステップＳ14）。本実施形態においては、図６の部分(ａ)に示されるように、輝度の極小値を滑らかに連結する包絡線Ｅが特定される。そして、制御部７３１は、ステップＳ13で抽出した輝度とステップＳ14で特定した包絡Ｅとの差分値ａkをＸ方向の各位置について算定する（ステップＳ15）。図６の部分(ｂ)には、ステップＳ15で選択行の電気光学素子Ｕごとに算定された差分値ａkと各電気光学素子ＵのＸ方向の位置との関係を示す折線Ｌ0が図示されている。なお、ステップＳ14においては輝度の極大値を連結する包絡線を特定してもよい。

次いで、制御部７３１は、Ｘ方向の位置に応じた差分値ａkの変化の態様に基づいて補正単位量Ｃkを決定する（ステップＳ16）。本実施形態における制御部７３１は、差分値ａkが最小値（０）から極大値に到達するまでの平均的な勾配（傾き）を補正単位量Ｃkとして算定する。例えば、図６の部分(ｂ)に図示された折線Ｌ0はＸ方向に沿って３個の山部（ピーク）がある。制御部７３１は、各山部について差分値ａkがゼロから極大値に到達するまでの平均的な勾配を算定し、さらに３個の山部における勾配の平均値を補正単位量Ｃkとして算定する。この補正単位量Ｃkは記憶部７３２に格納される。さらに、制御部７３１は、ステップＳ16にて算定した補正単位量Ｃk（より厳密には±Ｃk）を勾配とする直線を含んだ折線Ｌ1によって差分値ａkを近似する（ステップＳ17）。この折線Ｌ1による差分値ａkの近似値が、電気光学装置Ｄにおいて実際に輝度の補正に適用される補正値Ａkとなる。したがって、Ｘ方向の各位置における補正値Ａkとこれに隣接する位置における補正値Ａkとの変化幅は、図２の部分（ａ2）や部分（ｂ2）に例示したように補正単位量Ｃkとなる。

制御部７３１は、Ｘ方向の各位置における補正値Ａk（すなわち補正値ａkの近似値）とその位置に隣接する他の位置における補正値Ａkとの大小に応じて、選択行の各電気光学素子Ｕについて増減指定データＤkを生成する（ステップＳ18）。例えば、制御部７３１は、第ｊ列目の補正値Ａkが第（j-1）列目の補正値Ａkよりも大きい場合には、第ｊ列目の電気光学素子Ｕについて「増加」を指定する増減指定データＤkを生成し、第（j-1）列目の補正値Ａkよりも小さい場合には、第ｊ列目の電気光学素子Ｕについて「減少」を指定する増減指定データＤkを生成する。また、第ｊ列目の補正値Ａkが第（j-1）列目の補正値Ａkと同値である場合には、第ｊ列目の電気光学素子Ｕについて「維持」を指定する増減指定データＤkを生成する。ステップＳ18で生成された増減指定データＤkは記憶部７３２に記憶される。

次に、制御部７３１は、電気光学パネル１０の全行についてステップＳ13からステップＳ18までの処理を実行したか否かを判定する（ステップＳ19）。ここで何れかの行が未処理であると判定すると、制御部７３１は、それまでとは異なる行を新たに選択し（ステップＳ20）、この選択行についてステップＳ13からステップＳ18までの処理を繰り返す。一方、全行について処理が完了したと判定すると、制御部７３１は、ステップＳ16で特定した補正単位量ＣkとステップＳ18で生成した増減指定データＤkとを記憶部７３２から読み出して画像処理装置３０に転送する（ステップＳ21）。このうち補正単位量Ｃkは処理ユニットＰkの設定回路４３に保持され、増減指定データＤkは処理ユニットＰkのメモリ４１に格納される。

以上に説明したように、本実施形態によれば、各電気光学素子Ｕの輝度（特性Ｆ）と包絡線Ｅとの差分値ａkに基づいて補正値Ａkが決定されるから、例えば広範囲にわたって徐々に輝度が変化する広域ムラＢb（包絡線Ｅ）の影響が除外される。したがって、狭域ムラＢnを高精度に補正し得る増減指定データＤ2を簡易な処理で生成することが可能である。

＜Ｃ：変形例＞
以上の形態には様々な変形を加えることができる。具体的な変形の態様を例示すれば以下の通りである。なお、以下の各態様を適宜に組み合わせてもよい。

（１）変形例１
図３の補正値演算回路５１は省略される。例えば、補正値Ａ1と補正値Ａ2とが補正回路５３に対して直接に出力される構成としてもよい。この構成においては、補正回路５３が階調データＧ0に補正値Ａ1と補正値Ａ2とを加算して階調データＧ1を生成する。また、以上の形態においては補正値Ａ1と補正値Ａ2とが加算される構成を例示したが、補正値Ｒを算定するための演算の内容は適宜に変更される。例えば、補正値Ａ1と補正値Ａ2との乗算によって補正値Ｒが算定される構成としてもよい。

（２）変形例２
補正回路５３による階調データＧ0の補正の内容は任意である。例えば、階調データＧ0に対する補正値Ｒ（または補正値Ａ1および補正値Ａ2）の乗算によって階調データＧ1が生成される構成としてもよい。

また、図３の補正回路５３は適宜に省略される。例えばいま、データ線駆動回路２４が、各列ごとに設定される所定の電圧（以下「基準電圧」という）を基準としたレベルのデータ信号を生成する構成を想定する。この構成においては、図３の補正回路５３が省略されたうえで、入出力回路３１から出力される階調データＧ0と補正値演算回路５１から出力される補正値Ｒ（変形例１のように補正値演算回路５１が省略された構成においては補正値Ａ1および補正値Ａ2）とがデータ線駆動回路２４に供給される構成としてもよい。データ線駆動回路２４においては、階調データＧ0に応じたレベルのデータ信号が当該列の基準電圧に基づいて生成される一方、この基準電圧が補正値Ｒ（あるいは補正値Ａ1および補正値Ａ2）に応じて調整される。この構成によっても、各電気光学素子Ｕを補正値Ａ1および補正値Ａ2に応じた輝度で駆動することができる。このように、各電気光学素子Ｕの輝度を補正する機能が画像処理装置３０に搭載されている必要は必ずしもない。

また、以上の形態においては、各データ線１４に出力されるデータ信号のレベル（電流値または電圧値）が補正値Ｒに応じて補正される構成を例示したが、この補正の対象は適宜に変更される。例えばいま、データ信号が所定のレベル（例えば電気光学素子Ｕを発光させるレベル）となる時間長を階調データに応じて制御することで多階調が表現されるパルス幅変調方式のデータ線駆動回路２４を想定する。この場合には、各電気光学素子Ｕに供給されるデータ信号を所定のレベルとする時間長がその電気光学素子Ｕの補正値Ｒ（あるいは補正値Ａ1および補正値Ａ2）に応じて調整される構成としてもよい。このように電気光学装置Ｄにおいては、各電気光学素子Ｕの階調を指定する階調データＧ0と画像処理装置３０にて生成された補正値Ａ1および補正値Ａ2とに応じた輝度となるように各電気光学素子Ｕが駆動される構成であれば足りる。

（３）変形例３
増減指定データＤkの形式は任意である。例えば、以上の形態においては増減指定データＤkを２ビットとしたが、補正値Ａkの増加および減少のみを指定する１ビットの増減指定データを利用してもよい。この構成においては、例えば、メモリ４１から順次に読み出される増減指定データによって増加と減少とが交互に指定された場合に補正値Ａkを変化させない（一定値に維持する）といった構成が採用される。

（４）変形例４
以上の形態においては増減指定データＤ1と増減指定データＤ2とが別個のメモリ４１に格納された構成を例示したが、増減指定データ（Ｄ1・Ｄ2）や補正単位量（Ｃ1・Ｃ2）や初期値（Ｓ1・Ｓ2）の各々が個別のメモリに格納されるかひとつのメモリに格納されるかは不問である。

（５）変形例５
以上の形態においては補正値Ａkが減少する区間（例えば図２の区間Ｓb1や区間Ｓn1）での補正単位量Ｃkと補正値Ａkが増加する区間（例えば図２の区間Ｓb2や区間Ｓn2）での補正単位量Ｃkとが同値である構成を例示したが、各区間における補正単位量Ｃkが相違する構成としてもよい。この構成においては、各々の数値が相違する複数の補正単位量Ｃkが設定回路４３に保持され、これらの補正単位量Ｃkのうちアドレスカウンタ３３が選択した電気光学素子Ｕの位置に応じた補正単位量Ｃkが選択的に補正値決定回路４５に出力される構成とすればよい。

また、以上の形態においては補正値決定回路４５に指定される補正単位量Ｃkが固定値である構成を例示したが、補正単位量Ｃkは可変値であってもよい。例えば、電気光学素子Ｕの位置に応じて別個の補正単位量Ｃkが指定される構成としてもよいし、電気光学装置Ｄの周囲の温度に応じた補正単位量Ｃkが算定される構成としてもよい。すなわち、別個の補正単位量を指定する複数の手段（設定回路４３）を備えた構成であれば足り、各々によって指定される補正単位量は固定値であっても可変値であってもよい。

（６）変形例６
以上の形態においては、測定器７１と情報処理装置７３とが電気光学装置Ｄとは別個の装置とされた構成を例示したが、測定器７１と制御部７３１と記憶部７３２とが電気光学装置Ｄに搭載された構成としてもよい。例えば、制御部７３１と記憶部７３２とが画像処理装置３０に内蔵され、測定器７１による測定の結果に基づいて各メモリ４１の増減指定データＤkや設定回路４３の補正単位量Ｃkまたは所期値Ｓkを随時に更新する。この構成によれば、各電気光学素子Ｕの経時的な劣化によって輝度ムラの態様が変化した場合であっても、この変化後のムラに対応する補正値Ａkを算定して高精度にムラを抑制することができる。

（７）変形例７
相互に近接する各電気光学素子Ｕの輝度の相違が微小であれば、その相違は人間の視覚によって殆ど知覚されない。図５のステップＳ14において輝度を平滑化した包絡線Ｅを特定し、この包絡線Ｅと輝度との差分値ａkをステップＳ5にて算定することによって、輝度の変動（特性Ｆの折線）のうち人間が視認できない程度の高周波な成分の影響を補正値Ａkから排除することができる。ここで、人間に視認されない変動を排除するという観点からすると、図５のステップＳ14にて特定される曲線が包絡線Ｅである必要は必ずしもない。すなわち、ステップＳ14においては、輝度に連動して変動する曲線であって輝度よりも変動が低減された平滑な曲線（平滑曲線）が特定されればよい。この種の曲線は、例えば、輝度の測定値を平均化（スムージング）する処理や、輝度の測定値（特性Ｆの折線）のうち低周波の成分をローパスフィルタによって選択的に抽出する処理など各種の処理によって特定される。

（８）変形例８
以上の形態においては、電気光学素子ＵとしてＯＬＥＤ素子を例示したが、本発明における電気光学素子はこの例示に限定されない。例えば、無機ＥＬ材料からなる発光層を含む素子やＬＥＤ（Light Emitting Diode）素子あるいはプラズマの放電によって発光するプラズマ発光素子など様々な発光素子を電気光学素子として採用することができる。さらに、本発明の電気光学素子はそれ自身が発光する素子でなくてもよい。例えば、照明装置（バックライト）からの照射光を変調して出射する液晶素子なども本発明の電気光学素子に含まれる。以上のように、各々の輝度が制御される複数の電気光学素子を備えた電気光学装置であれば、各電気光学素子の具体的な構造や輝度を制御する方法の如何を問わず、以上の各形態と同様に本発明を適用することができる。

＜Ｄ：応用例＞
次に、本発明に係る電気光学装置を利用した電子機器について説明する。図７は、以上の形態に係る電気光学装置Ｄを表示装置として採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は、表示装置としての電気光学装置Ｄと本体部２０１０とを備える。本体部２０１０には、電源スイッチ２００１およびキーボード２００２が設けられている。この電気光学装置Ｄは電気光学素子ＵにＯＬＥＤ素子を使用しているので、視野角が広く見易い画面を表示できる。

図８に、以上の形態に係る電気光学装置Ｄを適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２、ならびに表示装置としての電気光学装置Ｄを備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、電気光学装置Ｄに表示される画面がスクロールされる。

図９に、以上の形態に係る電気光学装置Ｄを適用した携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成を示す。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１および電源スイッチ４００２、ならびに表示装置としての電気光学装置Ｄを備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が電気光学装置Ｄに表示される。

なお、本発明に係る電気光学装置が適用される電子機器としては、図７から図９に示した機器のほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などがある。また、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光書込み型のプリンタや電子複写機といった画像形成装置においては、用紙などの記録材に形成される画像に応じて感光体を露光する書込みヘッドが使用されるが、この書込みヘッドとしても本発明の電気光学装置は利用される。

本発明の実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。 輝度ムラが補正される様子を説明するための概念図である。 画像処理装置の構成を示すブロック図である。 増減指定データを生成するための構成を示すブロック図である。 増減指定データを生成する処理を説明するためのフローチャートである。 増減指定データを生成する処理の具体例を説明するための概念図である。 本発明に係る電子機器の具体的な形態（パーソナルコンピュータ）を示す斜視図である。 本発明に係る電子機器の具体的な形態（携帯電話機）を示す斜視図である。 本発明に係る電子機器の具体的な形態（携帯情報端末）を示す斜視図である。

符号の説明

Ｄ……電気光学装置、Ｕ……電気光学素子、１０……電気光学パネル、１２……走査線、１４……データ線、２２……走査線駆動回路、２４……データ線駆動回路、３０……画像処理装置、Ｐ1，Ｐ2……処理ユニット、３１……入出力回路、３３……アドレスカウンタ、４１……メモリ、４３……設定回路、４５……補正値決定回路、５１……補正値演算回路、５３……補正回路、７１……測定器、７３……情報処理装置、７３１……制御部、７３２……記憶部。

Claims (9)

1. 複数の電気光学素子の各々の輝度が第１補正値および第２補正値に応じて補正される電気光学装置の画像処理装置であって、
   所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の第１補正値の増減の方向を指定する増減指定データを記憶する第１記憶手段と、
   第１補正単位量を指定する第１指定手段と、
   各電気光学素子の第１補正値を前記第１記憶手段の増減指定データが指定する方向に前記第１補正単位量だけ変化させた数値を、当該電気光学素子に対して前記所定の方向に隣接する他の電気光学素子の第１補正値として算定する第１補正値決定手段と、
   前記所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の第２補正値の増減の方向を指定する増減指定データを記憶する第２記憶手段と、
   前記第１補正単位量とは相違する第２補正単位量を指定する第２指定手段と、
   各電気光学素子の第２補正値を前記第２記憶手段の増減指定データが指定する方向に前記第２補正単位量だけ変化させた数値を、当該電気光学素子に対して前記所定の方向に隣接する他の電気光学素子の第２補正値として算定する第２補正値決定手段と
   を具備する画像処理装置。
2. 前記第１記憶手段の増減指定データが第１補正値の増加および減少の一方を複数の電気光学素子にわたって連続して指定する区間は、前記第２記憶手段の増減指定データが第２補正値の増加および減少の一方を複数の電気光学素子にわたって連続して指定する区間よりも長く、
   前記第１補正単位量は前記第２補正単位量よりも小さい
   請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記第１記憶手段および前記第２記憶手段の各々は、各電気光学素子の補正値がその隣の電気光学素子の補正値に対して増加するか減少するか同値であるかを指定する２ビットの増減指定データを電気光学素子ごとに記憶する
   請求項１または請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記複数の電気光学素子の各々の階調を指定する階調データを、前記第１補正値決定手段が決定した第１補正値と前記第２補正値決定手段が決定した第２補正値とに基づいて補正する補正手段
   を具備する請求項１から請求項３の何れかに記載の画像処理装置。
5. 複数の電気光学素子と、
   請求項１から請求項４の何れかに記載の画像処理装置と、
   前記複数の電気光学素子の各々を、前記画像処理装置が当該電気光学素子について決定した第１補正値および第２補正値と当該電気光学素子の階調を指定する階調データとに応じた輝度で駆動する駆動手段と
   を具備する電気光学装置。
6. 請求項５に記載の電気光学装置を具備する電子機器。
7. 電気光学装置が備える複数の電気光学素子のうち所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の補正値の増減の方向を指定する増減指定データを生成する方法であって、
   複数の電気光学素子の各々の輝度を測定する第１過程と、
   前記所定の方向に沿った各電気光学素子の位置と各電気光学素子の輝度の測定値との関係に対する平滑曲線を特定する第２過程と、
   前記各電気光学素子の輝度の測定値と前記平滑曲線との差分値を前記所定の方向の各位置について算定する第３過程と、
   前記各位置について算定された差分値と当該位置に隣接する他の位置について算定された差分値との大小に応じて増減指定データを生成する第４過程と
   を含むデータ生成方法。
8. 前記所定の方向に沿って相互に隣接する各電気光学素子の補正値の増減の単位となる補正単位量を、前記所定の方向の位置に応じた前記差分値の変化の態様に基づいて算定する過程と、
   前記所定の方向の位置に応じた前記差分値の変化を前記補正単位量に応じた勾配の直線で近似し、この近似された差分値を補正値として特定する過程とを含み、
   前記第４過程においては、各位置の差分値を近似した補正値と当該位置に隣接する他の位置の差分値を近似した補正値との大小に応じて増減指定データを生成する
   請求項７に記載のデータ生成方法。
9. 前記増減指定データは、各位置の補正値がこれに隣接する位置の補正値に対して増加するか減少するか同値であるかを指定する２ビットのデータであり、
   前記第４過程においては、各位置の補正値と当該位置に隣接する他の位置の補正値とが同値である場合にはこれを指定する増減指定データを生成する
   請求項７または請求項８に記載のデータ生成方法。
   
   
   
   

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