JP2007080442A - 光ピックアップおよび光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
光ディスクの情報を再生または記録する用途以外の不要な光ビームが対物レンズにて発生すると、この不要な光ビームが受光面に入射して各種信号に影響を与える。
【解決手段】
光ディスクに第１の波長の光ビームを照射する第1のレーザ光源と、光ディスクに前記第１の波長とは異なる第２の波長の光ビームを照射する第２のレーザ光源と、前記第１のレーザ光源から照射された光ビーム及び前記第２のレーザ光源から照射された光ビームを光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームの一部を遮蔽する遮蔽素子と、前記一部を遮蔽された光ビームを受光する光検出器と、を備える光ピックアップを用いる。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ピックアップ、その光ピックアップを搭載した光ディスク装置に関する。

次世代の高密度光ディスクとして波長４０５ｎｍの青紫色レーザ、開口数（ＮＡ）０．８５の高ＮＡ対物レンズ、基板厚さ０．１ｍｍのディスク媒体を用いたＢＤや、同じく波長４０５ｎｍの青紫色レーザ、ＮＡ０．６５、基板厚さ０．６ｍｍのディスク媒体を用いたＨＤ ＤＶＤなどが提案されており、ＢＤに関しては既にレコーダ等の光ディスク装置が既に製品化されている。ここで、上記した次世代の高密度光ディスクに対応する光ディスク装置の光ピックアップとしては、アクチュエータの可動部にＢＤ用対物レンズ、ＤＶＤ／ＣＤ用対物レンズといった２種類の対物レンズを搭載し、使用する媒体の種類に応じて対物レンズを機械的に切替える技術が開示されている。

また、１つの対物レンズでＢＤまたはＨＤ ＤＶＤなどの次世代の高密度光ディスクに加えてＤＶＤ媒体、ＣＤ媒体の３種類の媒体すべてに対応可能な３波長互換の対物レンズを搭載した光ピックアップに関する技術が開示されている。

特開２００４−１４０９５号公報（７頁[００３９]−１０頁[００５４]、図１）

しかし、上記従来の構成ではアクチュエータ部が大きくなるため、光ピックアップの軽量化、小型化の妨げとなる。

また、アクチュエータ可動部の軽量化が難しいため駆動感度の向上を図ることができず、記録・再生高速化の妨げになる。

また、光ピックアップに３波長互換の対物レンズを使用した場合、ＢＤやＨＤ ＤＶＤなどの次世代高密度光ディスク用途に用いる光ビームの波長４０５ｎｍ帯と、ＣＤ用途に用いる光ビームの波長７８５ｎｍ帯とでは略倍半分の違いがあるため、両者において波長選択性を持たせるのは困難である。

また、波長６６０ｎｍ帯のＤＶＤをも対応させるとなると、ＢＤやＨＤ ＤＶＤ側の性能、特に光利用効率を優先して対物レンズを設計した場合、対物レンズにおけるＤＶＤやＣＤ側の光利用効率が非常に悪くなってしまう。仮にＤＶＤやＣＤ側の光利用効率が悪くなると、光ディスクの情報を再生または記録する用途以外の不要な光ビームがより多く対物レンズにて発生してしまうため、たとえばこの不要光が光検出器に入射すると、本来の各種信号に影響を与えてしまう問題が発生する。

そこで、本発明は、上記課題を解決し、信頼性の高い光ピックアップ及び光ディスク装置を提供することを目的とする。

上記課題を解決するため、本発明では、半導体レーザと、前記半導体レーザから出射する光ビームを光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクを反射した前記光ビームを検出する光検出器とを備えた光ピックアップにおいて、
前記半導体レーザから出射した前記光ビームが前記対物レンズに入射して前記光ディスクに集光する際、前記光ディスクの情報を再生または記録する用途として前記光ディスクの情報記録面に集光する光ビーム以外に前記対物レンズにて発生する不要な光ビームが前記光検出器内の受光面に入射するのを一部または全て遮蔽する遮蔽素子を、前記対物レンズと前記光検出器の間の光路中に設けたことを特徴とする光ピックアップを用いる。

また、上記光ピックアップにおいて、前記遮蔽素子は前記光ディスクを反射した前記不要な光ビームが集光する位置に設けたことを特徴とする光ピックアップを用いる。

また、上記光ピックアップにおいて、前記光ディスクを反射した前記不要な光ビームは、前記対物レンズと前記光検出器の間の光路中に集光するような光ビームを発生させる前記対物レンズを搭載した光ピックアップを用いる。

なお、前記遮蔽素子は所定の波長の光ビームを透過し、別の波長の光ビームのみを遮蔽するダイクロイック性を有してもよく、また所定の向きを有する直線偏光の光ビームを透過し、該直線偏光とは直交する偏光の光ビームのみを遮蔽する偏光性を有しても良い。

また、上記光ピックアップは、第１の波長の光ビームを出射する第１の半導体レーザと、第２の波長の光ビームを出射する第２の半導体レーザと、第３の波長の光ビームを出射する第３の半導体レーザを備えていても良い。

また、上記光ピックアップにおいて、前記対物レンズは第１の波長の光ビームを第１の光ディスクに集光し、第２の波長の光ビームを第２の光ディスクに集光し、第３の波長の光ビームを第３の光ディスクに集光する機能を有する３波長互換の対物レンズであってもよい。ここで前記第１の波長は例えば４０５ｎｍであり、前記第２の波長は例えば６６０ｎｍであり、前記第３の波長は例えば７８５ｎｍとする。

また、上記光ピックアップにおいて、前記遮蔽素子は前記対物レンズの開口数から算出される有効径範囲内において発生する不要な光ビームを遮蔽することを特徴とする光ピックアップを用いる。

また、上記光ピックアップと、前記光ピックアップ内の前記半導体レーザを駆動するレーザ駆動回路と、前記光ピックアップ内の前記光検出器から検出された信号を用いてフォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号を生成するサーボ信号生成回路と、光ディスクに記録された情報信号を再生する情報信号再生回路とを搭載した光ディスク装置を用いる。

また、光ディスクに第１の波長の光ビームを照射する第1のレーザ光源と、光ディスクに前記第１の波長とは異なる第２の波長の光ビームを照射する第２のレーザ光源と、前記第１のレーザ光源から照射された光ビーム及び前記第２のレーザ光源から照射された光ビームを光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームの一部を遮蔽する遮蔽素子と、前記一部を遮蔽された光ビームを受光する光検出器と、を備える光ピックアップを用いる。

本発明によれば、信頼性の高い光ピックアップ及び光ディスク装置を提供することが可能となる。

本発明を実施するための実施の形態について、以下、説明する。

図１は本発明に係る光ピックアップの第１の実施例を示したものである。半導体レーザ１を出射した波長λの光ビームは３ビーム生成用の回折格子２によって少なくとも３本の光ビームに回折されてビームスプリッタ３を反射する。

ビームスプリッタ３を反射した光ビームはコリメートレンズ４によって略平行光となり、対物レンズ５によって光ディスク１００の情報記録面上に集光される。また光ディスク１００に集光した光ビームの反射光は往路と逆の経路をたどって対物レンズ５、コリメートレンズ４を経てビームスプリッタ３を透過する。ビームスプリッタ３を透過した光ビームは後述する所定の領域の光ビームを遮蔽する遮蔽素子６を透過し、検出レンズ７によって非点収差方式によるフォーカス誤差信号を検出できるような非点収差を付加され、光検出器８に集光する構成となっている。

本実施例では、光ディスク１００を反射した光ビームが光検出器８に入射する光路中に、所定の領域の光ビームを遮蔽する遮蔽素子６を設けた。遮蔽素子６の役割は対物レンズ５に入射した光ビームが光ディスク１００に集光する際、光ディスク１００の情報を再生または記録する用途として集光する光ビーム以外に不要な光ビームが発生した場合に、その不要な光ビームの光ディスク１００における反射光が光検出器８内の受光面に入射して各種信号に影響を与えないように、該不要な光ビームを遮蔽することである。

例えば光ディスク１００の情報を再生または記録する用途として光ディスク１００に集光する光ビーム（以降、便宜上、信号検出用光ビームと記述する。）が光検出器８に集光する様子を図１（ａ）に示す一方で、対物レンズ５にて不要な光ビームが発生し、その光ビームが光検出器８に向かう様子を図１（ｂ）に示す。

図１（ｂ）に示すように対物レンズ５にて発生する不要な光ビーム（以下、便宜上、不要光ビームと記述する。）の光ディスク１００における集光位置が、例えば信号検出用光ビームの集光位置に対して対物レンズ側にあるとすると（図中では集光位置の差をΔｄと表記）、光ディスク１００を反射した不要光ビームの集光位置は光検出器８の位置よりも手前、つまり対物レンズ５側に集光することになる。

なお、ここでいう不要光ビームとは、例えば対物レンズの非球面上に回折格子を刻んだいわゆる回折型の対物レンズにおいて、信号検出用光ビームを形成する回折次数光とは異なる次数の回折光によって形成される光ビームを指す。

また、ここでいう遮蔽素子は、遮蔽領域外に比べて遮蔽領域内の光ビームの透過率を低くするような素子である。ダイクロイック性を持たせる場合は、例えば誘電体多層膜等で形成されるような素子とすることが想定される。

図２（ａ）は光ディスク１００を反射した不要光ビームの集光位置近傍に遮蔽素子６を配置した際の、遮蔽素子６上における信号検出用光ビームおよび不要光ビームのスポットダイアグラムを表した図である。

図２（ａ）において符号３００は信号検出用光ビームのスポットダイアグラムを、またそのときの光強度分布の概略を符号４００にて表し、符号３０１は不要光ビームのスポットダイアグラムを、またそのときの光強度分布の概略を符号４０１にて表している。不要光ビームの集光位置近傍に遮蔽素子６を配置していることから、不要光ビームのスポットダイアグラム３０１は信号検出用光ビームのスポットダイアグラム３００に比べて十分小さな径となる。よって図２（ｂ）に示すように、スポットダイアグラム３０１を覆う領域６ａに入射する光ビームを遮蔽するような遮蔽パターンとすることで、不要光ビームが光検出器８内の受光面に入射して各種信号に影響を与えるのを防ぐことが出来る。

ところで遮蔽素子６の遮蔽領域内では不要光ビームを遮蔽するだけでなく、信号検出用光ビームまでも遮蔽してしまう。例えば図３は遮蔽素子６を配置した場合における光検出器８内の受光面上におけるスポットダイアグラムの概略図を示したものである。３ビーム生成用の回折格子２によって３本の光ビームに分岐された信号検出用光ビーム５０、５１、５２は光検出器８内の４分割受光面８０、８１、８２のそれぞれに入射するように予め設定されており、図３（ａ）は遮蔽素子６を配置する前のスポットダイアグラムを、また図３（ｂ）は遮蔽素子６を配置した後のスポットダイアグラムを表している。図３（ｂ）に示すように遮蔽素子６を配置することによって不要光ビーム２００を遮蔽することができるが、遮蔽素子６は遮蔽領域内において信号検出用光ビームも遮蔽するため、４分割受光面８０、８１、８２のそれぞれに入射する信号検出用光ビーム５０、５１、５２は遮蔽素子６の遮蔽領域の形状や大きさに応じた中抜けのスポットとなってしまう。

図３（ｂ）に示すように受光面に入射するスポットが中抜けになると、信号光量が少なくなる点や、再生信号の品質劣化、ならびに各種サーボ信号の品質劣化など新たな課題の原因となる可能性が生じるため、できるだけ遮光する領域は小さい方が望ましい。よって本実施例では遮蔽素子６内における遮蔽領域の大きさを、例えば図３（ｃ）に示すように光ディスク１００を反射した不要光ビームが光検出器８内の受光面に入射しない最低限の遮蔽領域の大きさとしても良い。また遮蔽素子６は光ディスク１００を反射した不要光ビームのできるだけ集光位置近傍に配置することが望ましい。このように設定することで遮蔽素子６内の遮蔽領域を小さくでき、信号検出用光ビーム５０、５１、５２の中抜けする度合を低減することができるので、各種信号の劣化を防ぐことが可能となる。

実施例1では図４（ａ）に示すように遮蔽素子６内の遮蔽領域６ａの形状は円状としたが、本発明はこれに限定されるものではない。光ピックアップは光ディスク再生時、または記録時のシーク動作において対物レンズを光ディスク半径方向（以降、便宜上、Ｒａｄ方向と記載。）に走査することがある。このように対物レンズがＲａｄ方向に走査すると、遮蔽素子６上における不要光ビームの集光位置は図４（ｂ）に示すようにＲａｄ方向に変位する。

よって対物レンズのＲａｄ方向走査時を考慮すると、不要光ビームが光検出器８内の受光面に入射するのを防ぐ目的から、遮蔽領域の形状としては図４（ｂ）に示すようにＲａｄ方向に延びた形状とした方が望ましい。ここで図４（ｂ）では対物レンズのＲａｄ方向走査時を含めて不要光ビームを全て遮蔽する形状となっているが、本実施例はこの形状に限定されるわけではない。実施例１にて記載したように対物レンズのＲａｄ方向走査時を含めて、不要光ビームが光検出器８内の受光面に入射しない最低限の遮蔽領域の大きさとしても一向に構わない。

なお、本実施例における遮蔽素子６の遮蔽形状としては、不要光ビームが光検出器８内の受光面に入射しない、もしくは光検出器８から出力される各種信号の品質に影響を与えない程度に不要光ビームを遮蔽する遮蔽形状であるならば、どのような形状であっても良い。例えば同心円状やドーナツ状であっても構わない。

図５は本発明に係る光ピックアップの第２の実施例を示したものである。本実施例は波長４０５ｎｍの光ビームを出射する半導体レーザ２１と波長６６０ｎｍの光ビームを出射する半導体レーザ１１と波長７８５ｎｍの光ビームを出射する半導体レーザ１を搭載し、３波長互換の対物レンズ５を搭載することによってＢＤまたはＨＤ ＤＶＤなどの次世代の高密度光ディスクに加えてＤＶＤ媒体、ＣＤ媒体の３種類の媒体すべてに対応可能な光ピックアップに関する実施例を示したものである。

本実施例において、半導体レーザ２１を出射した波長４０５ｎｍの光ビームは３ビーム生成用の回折格子２２によって少なくとも３本の光ビームに回折されてビームスプリッタ２３を反射する。ビームスプリッタ２３を反射した光ビームはコリメートレンズ２４によって略平行光となり、ビームスプリッタ２９を反射し、ビームエキスパンダ３０を通過して３波長互換の対物レンズ５に入射する。

対物レンズ５に入射した光ビームは対物レンズ５によって光ディスク１００の情報記録面上に集光し、その反射光は往路と逆の経路をたどって対物レンズ５、ビームエキスパンダ３０、ビームスプリッタ２９、コリメートレンズ２４を経てビームスプリッタ２３を透過する。ビームスプリッタ２３を透過した光ビームは検出レンズ２７によって非点収差方式によるフォーカス誤差信号を検出できるような非点収差を付加され、光検出器２８に集光する構成となっている。

また半導体レーザ１１を出射した波長６６０ｎｍの光ビームは、３ビーム生成用の回折格子１２によって少なくとも３本の光ビームに回折されてビームスプリッタ１３ならびにビームスプリッタ３を反射する。

ビームスプリッタ３を反射した光ビームはコリメートレンズ４によって略平行光となり、ビームスプリッタ２９を透過し、ビームエキスパンダ３０を通過して３波長互換の対物レンズ５に入射する。

対物レンズ５に入射した光ビームは対物レンズ５によって光ディスク１００の情報記録面上に集光し、その反射光は往路と逆の経路をたどって対物レンズ５、ビームエキスパンダ３０、ビームスプリッタ２９、コリメートレンズ４を経てビームスプリッタ３を透過する。ビームスプリッタ３を透過した光ビームは所定の領域の光ビームを遮蔽する遮蔽素子６を透過し、検出レンズ７によって非点収差方式によるフォーカス誤差信号を検出できるような非点収差を付加され、光検出器８に集光する構成となっている。

さらに半導体レーザ１を出射した波長７８５ｎｍの光ビームは、３ビーム生成用の回折格子２によって少なくとも３本の光ビームに回折されてビームスプリッタ１３を透過してビームスプリッタ３を反射する。

ビームスプリッタ３を反射した光ビームはコリメートレンズ４によって略平行光となり、ビームスプリッタ２９を透過し、ビームエキスパンダ３０を通過して３波長互換の対物レンズ５に入射する。

対物レンズ５に入射した光ビームは対物レンズ５によって光ディスク１００の情報記録面上に集光し、その反射光は往路と逆の経路をたどって対物レンズ５、ビームエキスパンダ３０、ビームスプリッタ２９、コリメートレンズ４を経てビームスプリッタ３を透過する。ビームスプリッタ３を透過した光ビームは所定の領域の光ビームを遮蔽する遮蔽素子６を透過し、検出レンズ７によって非点収差方式によるフォーカス誤差信号を検出できるような非点収差を付加され、光検出器８に集光する構成となっている。

本実施例では、波長６６０ｎｍの光ビームまたは波長７８５ｎｍの光ビームが対物レンズ５によって集光する際、光ディスク１００の情報を再生または記録する用途として集光する光ビーム以外に不要な光ビームが発生した場合に、その不要な光ビームの光ディスク１００における反射光が光検出器８内の受光面に入射して各種信号に影響を与えないように、遮蔽素子６によって不要な光ビームを遮蔽している。

３波長互換対物レンズの場合は、１波長用対物レンズに比べて前述した不要な光ビームの発生が顕著となるため、該不要な光ビームが光検出器内の受光面に入射して各種信号に影響を与えるのを低減するという点で、遮蔽素子による不要な光ビームの遮蔽はより効果を発揮する。図５では対物レンズ５によって発生する波長６６０ｎｍの光ビームまたは波長７８５ｎｍの光ビームにおける不要な光ビームを遮蔽する構成としているが、本発明はこれに限定されるわけではなく、波長４０５ｎｍの光ビームが対物レンズ５によって集光する際に発生する不要な光ビームを遮蔽するために対物レンズ５と光検出器２８の間の光路中に遮蔽素子を配置する構成としても良い。

また本実施例の構成のように、例えば２波長の光ビームの共通光路中に遮蔽素子６を配置する場合、遮蔽領域は所定の波長の光ビームを透過し、別の波長の光ビームのみを遮蔽するダイクロイック性を有しても良い。また遮蔽領域は所定の向きを有する直線偏光の光ビームを透過し、該直線偏光とは直交する偏光の光ビームのみを遮蔽する偏光性を有しても良い。

なお遮蔽素子６の配置位置や遮蔽領域のパターン等に関しては実施例１にて記述した内容と同様のため、詳細については省略する。

上述した各実施例における光ピックアップを搭載した光ディスク装置の実施例を図６に示す。符号７０は例えば図１や図５に示すような構成を有する光ピックアップである。なお光ピックアップ７０には光ディスク１００の半径方向に位置をスライドできる機構が設けられており、アクセス制御回路７２からのアクセス制御信号に応じて位置制御がおこなわれる。

レーザ駆動回路７７からは所定のレーザ駆動電流が光ピックアップ装置７０内の半導体レーザに供給され、再生または記録に応じて所定の光量でレーザ光が出射する。なおレーザ駆動回路７７は光ピックアップ７０の中に組み込まれていても良い。

光ピックアップ７０内の光検出器から検出された信号は、サーボ信号生成回路７４及び情報信号再生回路７５に送られる。サーボ信号生成回路７４では、これら検出信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が生成され、これを基にアクチュエータ駆動回路７３を経て光ピックアップ７０内のアクチュエータを駆動することによって対物レンズの位置制御がおこなわれる。

また情報信号再生回路７５では前記検出信号から光ディスク１００に記録された情報信号が再生される。なお前記サーボ信号生成回路７４及び情報信号再生回路７５で得られた信号の一部はコントロール回路７６に送られる。このコントロール回路７６にはレーザ駆動回路７７、アクセス制御回路７２、アクチュエータ駆動回路７３、スピンドルモータ駆動回路７１などが接続されており、それぞれ光ピックアップ７０内の半導体レーザ発光光量の制御、アクセス方向および位置の制御、光ディスク１００を回転させるスピンドルモータ６０の回転制御等が行われる。

以上に説明した実施例によれば、３波長互換の対物レンズにて発生する不要光によって各種信号が影響を受けるのを改善した光ピックアップ、ならびに該光ピックアップを用いた光ディスク装置を提供するが可能となる。

光ピックアップに関する第１の実施例を示した図。 遮蔽素子６上におけるスポットダイアグラムを示した図。 光検出器８内の受光面上におけるスポットダイアグラムを示した図。 遮蔽素子６の遮蔽領域のパターンを示した図。 光ピックアップに関する第２の実施例を示した図。 光ディスク装置に関する実施例を示した図。

符号の説明

１１，２１・・・半導体レーザ、 ２，１２，２２・・・回折格子、 ３，１３，２３，２９・・・ビームスプリッタ、 ４，２４・・・コリメートレンズ、 ５・・・対物レンズ、 ６・・・遮蔽素子、 ６ａ・・・遮蔽領域、 ７，２７・・・検出レンズ、 ８，２８・・・光検出器、 ３０・・・ビームエキスパンダ、 ５０，５１，５２・・・信号検出用光ビーム、 ６０・・・スピンドルモータ、 ７０・・・光ピックアップ装置、 ７１・・・スピンドルモータ駆動回路、 ７２・・・アクセス制御回路、 ７３・・・アクチュエータ駆動回路、 ７４・・・サーボ信号生成回路、 ７５・・・情報信号再生回路、 ７６・・・コントロール回路、 ７７・・・レーザ駆動回路、 ８０，８１，８２・・・４分割受光面、 １００・・・光ディスク、 ２００・・・不要光ビーム、 ３００・・・信号検出用光ビームのスポットダイアグラム、 ３０１・・・不要光ビームのスポットダイアグラム、 ４００・・・信号検出用光ビームの光強度分布、 ４０１・・・不要光ビームの光強度分布。

Claims (14)

1. 半導体レーザと、前記半導体レーザから出射する光ビームを光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクを反射した前記光ビームを検出する光検出器とを備えた光ピックアップにおいて、
   前記半導体レーザから出射した前記光ビームが前記対物レンズに入射して前記光ディスクに集光する際、前記光ディスクの情報を再生または記録する用途として前記光ディスクの情報記録面に集光する光ビーム以外に前記対物レンズにて発生する不要な光ビームが前記光検出器内の受光面に入射するのを一部または全て遮蔽する遮蔽素子を前記対物レンズと前記光検出器の間の光路中に設けたことを特徴とする光ピックアップ。
2. 請求項１記載の光ピックアップにおいて、前記遮蔽素子は前記光ディスクを反射した前記不要な光ビームが集光する位置に設けたことを特徴とする光ピックアップ。
3. 請求項１又は２記載の光ピックアップにおいて、前記光ディスクを反射した前記不要な光ビームが、前記対物レンズと前記光検出器の間の光路中に集光するようにあらかじめ設定された前記対物レンズを搭載した光ピックアップ。
4. 前記１乃至３の何れか記載の光ピックアップにおいて、前記遮蔽素子は所定の波長の光ビームを透過し、別の波長の光ビームのみを遮蔽するダイクロイック性を有することを特徴とする光ピックアップ。
5. 前記１乃至３の何れか記載の光ピックアップにおいて、前記遮蔽素子は所定の向きを有する直線偏光の光ビームを透過し、該直線偏光とは直交する偏光の光ビームのみを遮蔽する偏光性を有することを特徴とする光ピックアップ。
6. 請求項１乃至５の何れか記載の光ピックアップは、第１の波長の光ビームを出射する第１の半導体レーザと、第２の波長の光ビームを出射する第２の半導体レーザと、第３の波長の光ビームを出射する第３の半導体レーザを備えていることを特徴とする光ピックアップ。
7. 請求項１乃至６の何れか記載の光ピックアップにおいて、前記対物レンズは第１の波長の光ビームを第１の光ディスクに集光し、第２の波長の光ビームを第２の光ディスクに集光し、第３の波長の光ビームを第３の光ディスクに集光する機能を有する３波長互換の対物レンズであることを特徴とする光ピックアップ。
8. 請求項６乃至７の何れか記載の光ピックアップにおいて、第１の波長は４０５ｎｍであり、第２の波長は６６０ｎｍであり、第３の波長は７８５ｎｍであることを特徴とする光ピックアップ。
9. 請求項１乃至８の何れか記載の光ピックアップにおいて、前記遮蔽素子は前記対物レンズの開口数から算出される有効径範囲内において発生する不要な光ビームを遮蔽することを特徴とする光ピックアップ。
10. 請求項１乃至９の何れか記載の光ピックアップと、前記光ピックアップ内の前記半導体レーザを駆動するレーザ駆動回路と、前記光ピックアップ内の前記光検出器から検出された信号を用いてフォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号を生成するサーボ信号生成回路と、光ディスクに記録された情報信号を再生する情報信号再生回路とを搭載した光ディスク装置。
11. 光ディスクに第１の波長の光ビームを照射する第1のレーザ光源と、
    光ディスクに前記第１の波長とは異なる第２の波長の光ビームを照射する第２のレーザ光源と、
    前記第１のレーザ光源から照射された光ビーム及び前記第２のレーザ光源から照射された光ビームを光ディスクに集光する対物レンズと、
    前記光ディスクで反射された光ビームの一部を遮蔽する遮蔽素子と、
    前記一部を遮蔽された光ビームを受光する光検出器と、を備えることを特徴とする光ピックアップ。
12. 請求項１１記載の光ピックアップにおいて、
    前記遮蔽される一部の光ビームは、前記対物レンズで発生する不要な光ビームであることを特徴とする光ピックアップ。
13. 請求項１１記載の光ピックアップにおいて、
    前記第1のレーザ光源と前記第２のレーザ光源は、２波長レーザ光源に搭載されていることを特徴とする光ピックアップ。
14. 請求項１１から１３の何れか記載の光ピックアップと、
    前記光ピックアップのレーザ光源を駆動するレーザ駆動部と、
    前記光ピックアップから出力された信号からサーボ信号を生成するサーボ信号生成部と、
    前記光ピックアップから出力された信号から前記光ディスクに記録された情報を再生する情報信号再生部と、を備えることを特徴とする光ディスク装置。
    

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