JP2007078359A - プローブの基板への取り付け方法およびそれに用いるプローブユニット - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 基板に取り付けるための接合部、接合部から延在しバネ性を有するように屈曲しているアーム部、およびアーム部の先端側に配置され被検査対象物の電極に接触する接触部から構成される複数個の同じ形状のプローブを、同一平面上に所定の間隔を有して整列させた状態で支持部材に埋め込んでプローブユニットを形成し、上記プローブユニットを基板に取り付け、基板に取り付けた後にプローブユニットの支持部材を除去することによりプローブを基板へ取り付ける。
【選択図】 図4
Description
2 プローブユニット
3 接触部
4 アーム部
5 接合部
6 レジスト
7 基板
Claims (6)
- 基板に取り付けるための接合部、接合部から延在しバネ性を有するように屈曲しているアーム部、およびアーム部の先端側に配置され被検査対象物の電極に接触する接触部から構成される複数個の同じ形状のプローブを、同一平面上に所定の間隔を有して整列させた状態で支持部材に埋め込んでプローブユニットを形成し、上記プローブユニットを基板に取り付け、基板に取り付けた後にプローブユニットの支持部材を除去することを特徴とするプローブの基板への取り付け方法。
- 上記支持部材としてレジスト、金属、非感光性樹脂のいずれかを用いてプローブユニットを形成することを特徴とする請求項1に記載のプローブの基板への取り付け方法。
- 上記支持部材としてレジストを用い、レジストを鋳型として使用し電鋳によりプローブを形成し、レジストに複数のプローブが埋め込まれたプローブユニットを形成することを特徴とする請求項1に記載のプローブの基板への取り付け方法。
- 複数のプローブユニットを所定の間隔で整列させて固定しプローブのエリアアレイを行った後に基板へ取り付け、プローブユニットの支持部材を除去することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載のプローブの基板への取り付け方法。
- 支持部材の一部を残して除去し、残された支持部材によりプローブの固定を補強することを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のプローブの基板への取り付け方法。
- 基板に取り付けるための接合部、接合部から延在しバネ性を有するように屈曲しているアーム部、およびアーム部の先端側に配置され被検査対象物の電極に接触する接触部から構成されるプローブが複数、同一平面上に所定の間隔を有して整列させられた状態で支持部材によって結合されたプローブユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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