JP2007048419A - 光記録媒体 - Google Patents

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Abstract

【課題】複数の記録層を備え、いずれの記録層についても良好な記録マークを形成でき、且つ、所望の再生精度が得られる光記録媒体を提供する。
【解決手段】光記録媒体１０は、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部１１よりも厚さが増加した記録マーク１２が形成される第１の記録層１４及び第２の記録層１６を含み、相対的にレーザ光の入射面１８に近い側に配置された第２の記録層１６の屈折率ｎ２が、該第２の記録層１６よりもレーザ光の入射面１８から離間する側に配置された第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも低い。
【選択図】図２

Description

本発明は複数の記録層を備える光記録媒体に関する。
情報記録媒体としてＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ）等の光記録媒体が広く利用されている。更に、近年、照射光として青色又は青紫色のレーザ光を用いることで、従来よりも大容量の情報を記録可能とした光記録媒体が注目されている。
又、光記録媒体は、データの追記や書き換えができないＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）型、データの書き換えができるＲＷ（Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）型、データを１回だけ追記できるＲ（Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）型に大別される。
Ｒ型の光記録媒体は、記録層にレーザ光が照射されて周囲のスペース部よりも反射率が低下した記録マークが形成されることでデータが記録される。尚、記録マークの周囲のスペース部にも記録用のレーザ光が照射されるがスペース部に照射される記録用のレーザ光の光量は少ないためスペース部の反射率はレーザ光が照射される前の記録層の反射率と同等である。又、Ｒ型の光記録媒体は、記録層にレーザ光が照射されて記録マークの反射率とスペース部の反射率との差がフォトディテクタで検出されることでデータが再生される。
このような光記録媒体は複数の記録層を備えることで、それだけ記録容量を高めることが可能である。複数の記録層を備えるＲ型の光記録媒体にデータを記録する場合、記録用のレーザ光の焦点を記録対象の記録層に合うように調整することで記録対象の記録層に選択的にデータを記録することができる。又、再生用のレーザ光の焦点を再生対象の記録層に合うように調整することで、選択的に再生対象の記録層のデータを再生することができる。
このような複数の記録層を備えるＲ型の光記録媒体は、各記録層に同等の出力の再生用のレーザ光が照射されることにより、各記録層の反射光の強さがフォトディテクタにおいて近い値で検出されることが好ましい。具体的には、隣接する２つの記録層の反射光の反射率がフォトディテクタにおいて、２倍未満の範囲内の近い値で検出されることが好ましい。
しかしながら、レーザ光の入射面から相対的に離間する側に配置された下側の記録層には上側の記録層を介してレーザ光が照射され、このレーザ光は、上側の記録層で一部が吸収されるので、下側の記録層に到達するレーザ光の光量はそれだけ減少することとなる。
従って、下側の記録層に対して照射される再生用のレーザ光の出力と上側の記録層に対して照射される再生用のレーザ光の出力とが同等である場合、下側の記録層に到達するレーザ光の光量は上側の記録層に到達するレーザ光の光量よりも小さくなる。更に、下側の記録層に照射されるレーザ光の反射光は上側の記録層を介してフォトディテクタに到達するので反射光も上側の記録層で一部が吸収される。従って、下側の記録層に対して照射される再生用のレーザ光の出力と上側の記録層に対して照射される再生用のレーザ光の出力とが同等であり、且つ、下側の記録層の反射率と上側の記録層の反射率とが同等である場合、下側の記録層の反射率は上側の記録層の反射率よりもフォトディテクタにおいて低い値で検出されることになる。
これに対し、上側の記録層を下側の記録層よりも薄くしたＲ型の光記録媒体が知られている（例えば、特許文献１参照）。その作用について簡単に説明する。図６は、単層の記録層の厚さと反射率との関係を示すグラフである。尚、図６中において、符号Ｓを付した曲線は記録層のスペース部の反射率、符号Ｍを付した曲線は記録マークの反射率である。
符号Ｓの曲線で示されるように、記録層は所定の厚さでスペース部の反射率が最大となり、これよりも厚くても薄くても反射率が低下する傾向がある。又、符号Ｍの曲線で示されるように、記録マークについても同様に、ほぼ同じ厚さで反射率が最大となり、これよりも厚くても薄くても反射率が低下する傾向がある。又、記録マークの反射率とスペース部の反射率との差も、これらの反射率が最大となる厚さ付近で最大となり、これよりも厚くても薄くても反射率の差は減少し、記録層を過度に厚くしたり薄くすると反射率の差が過度に小さくなり記録マークを読み取ることができない。
従って、例えば、反射率を最大とする厚さで下側の記録層を形成し、上側の記録層をこれよりも薄くすることで、下側の記録層の反射率を上側の記録層の反射率よりも高くすることができる。このような構成とすることで、下側の記録層に対して照射されるレーザ光の出力と上側の記録層に対して照射されるレーザ光の出力とを等しくし、これにより下側の記録層に到達するレーザ光の光量が上側の記録層に到達するレーザ光の光量よりも小さくなり、更に下側の記録層に照射されるレーザ光の反射光が上側の記録層で一部が吸収されてフォトディテクタに到達する場合であっても、双方の記録層からの反射光の反射率をフォトディテクタにおいて近い値で検出することが可能となる。
尚、反射率を最大とする厚さよりも厚い領域では、記録マークの反射率とスペース部の反射率との充分な差が得られる範囲が狭く、更にこの範囲では、最大値に近い下側の記録層の反射率に対して上側の記録層の反射率を充分に低減できないので、この点でも上側の記録層を下側の記録層よりも薄くする構成が選択される。
更に又、上側の記録層を下側の記録層よりも薄くすることで、上側の記録層におけるレーザ光の吸収量が減少し、下側の記録層に到達するレーザ光の光量を増加させる効果も得られるので、この点でも上側の記録層を下側の記録層よりも薄くする構成が選択される。
又、上側の記録層の屈折率を下側の記録層の屈折率よりも低くしたＲ型の光記録媒体が知られている（例えば、特許文献２参照）。その作用について簡単に説明する。図７は、記録層の屈折率をパラメータとして単層の記録層の厚さと反射率との関係を示すグラフである。尚、ｎ１＞ｎ２として、図７中において、符号Ｓ１を付した曲線は屈折率がｎ１の記録層のスペース部の反射率であり、符号Ｓ２を付した曲線は屈折率がｎ２である記録層のスペース部の反射率である。又、符号Ｍ１を付した曲線は屈折率がｎ１の記録層の記録マークの反射率であり、符号Ｍ２を付した曲線は屈折率がｎ２の記録層の記録マークの反射率である。
図７に示されるように、記録層は厚さが等しければ屈折率が低い程、スペース部及び記録マークのいずれについても反射率が低くなる。従って、下側の記録層の屈折率をｎ１、上側の記録層の屈折率をｎ２とすることで、上側の記録層の反射率が下側の記録層の反射率よりも低くなり、これにより双方の記録層からの反射光の反射率をフォトディテクタにおいて近い値で検出することが可能となる。
特開２００３−２６６９３６号公報 特開平９−１９８７０９号公報
しかしながら、記録層は薄くなる程記録マークが形成されにくくなるため、上側の記録層の厚さを下側の記録層の厚さよりも薄くすることで、上側の記録層に所望の特性の良好な記録マークを形成できないことがあった。
又、記録層は屈折率が低くなる程、スペース部の反射率と記録マークの反射率との差が小さくなるため、下側の記録層の屈折率よりも上側の記録層の屈折率を低くすることで、上側の記録層について所望の再生精度が得られないことがあった。
本発明は、この問題に鑑みてなされたものであって、複数の記録層を備え、いずれの記録層についても良好な記録マークを形成でき、且つ、所望の再生精度が得られる光記録媒体を提供することを目的とする。
本発明は、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される複数の記録層を含み、これら記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層の屈折率が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層の屈折率よりも低い光記録媒体により、上記目的を達成するものである。
又、本発明は、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される複数の記録層を含み、これら記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層の消衰係数が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層の消衰係数よりも低い光記録媒体により、上記目的を達成するものである。
発明者らは、本発明に想到する過程において様々な材料で記録層を形成してみたところ、所定の材料の記録層は、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成されることを見出した。又、この記録層は、従来の記録層よりも消衰係数が著しく低いことを見出した。
記録マークの部分の厚さが周囲よりも増加しているため、この記録マークの反射率は前記図７中に符号Ｍ１及びＭ２を付した曲線で示される記録マークの反射率に対し、厚さの増加分だけ厚い記録層の記録マークの反射率と等しいこととなる。言い換えれば、記録層の厚さに対する記録マークの反射率の関係は、図１に示されるように、図７に対して厚さの増加分だけ符号Ｍ１及びＭ２の曲線が、厚さが薄い方向に平行移動した関係になる。これにより、スペース部の反射率を最大とする厚さ付近及びこれよりも厚い領域においてスペース部の反射率と記録マークの反射率との差が大きくなる。従って、例えば、下側の記録層及び上側の記録層の厚さをいずれもスペース部の反射率を最大とする厚さ付近に設定し、上側の記録層の反射率を下側の記録層の反射率よりも低くするために上側の記録層の屈折率を下側の記録層の屈折率よりも低くしても、上側の記録層について記録マークの反射率とスペース部の反射率との充分な差が得られ、且つ、上側の記録層の厚さを下側の記録層の厚さと同等、又は上側の記録層を下側の記録層よりも厚くすることで上側の記録層に所望の特性の良好な記録マークを形成できる。
尚、記録層の消衰係数を例えば０．３５以下の小さな値に抑制することで、相対的にレーザ光の入射面側に配置される上側の記録層の厚さを下側の記録層の厚さと同等又はこれよりも厚くしても、下側の記録層に照射されるレーザ光は上側の記録層において吸収されにくくなるので、フォトディテクタにおいて検出される下側の記録層の反射率を高めることができると共に下側の記録層にも良好な記録マークを形成できる。
又、上側の記録層の消衰係数を下側の記録層の消衰係数よりも小さくすることで、下側の記録層の記録感度やフォトディテクタにおいて検出される反射率を上側の記録層の記録感度や反射率に近づけることができ、更に上側の記録層の厚さを下側の記録層の厚さと同等、又は上側の記録層を下側の記録層よりも厚くすることで上側の記録層に所望の特性の良好な記録マークを形成できる。
このように本発明は、スペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される材料で少なくとも上側の記録層を構成することにより、上側の記録層の屈折率を下側の記録層の屈折率よりも低くしても上側の記録層について記録マークの反射率とスペース部の反射率との充分な差が得られるようにしたものであり、従来の技術とは全く異なるコンセプトに基づいてなされたものである。
又、本発明は、スペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される材料で少なくとも上側の記録層を構成し、上側の記録層の消衰係数を下側の記録層の消衰係数よりも小さくすることで、下側の記録層の記録感度やフォトディテクタにおいて検出される反射率を上側の記録層の記録感度やフォトディテクタにおいて検出される反射率に近づけると共に上側の記録層に所望の特性の良好な記録マークを形成できるようにしたものであり、従来の技術とは全く異なるコンセプトに基づいてなされたものである。
即ち、以下の発明により上記目的を達成することができる。
（１）レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される複数の記録層を含み、これら記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層の屈折率が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層の屈折率よりも低いことを特徴とする光記録媒体。
（２）レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される複数の記録層を含み、これら記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層の消衰係数が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層の消衰係数よりも低いことを特徴とする光記録媒体。
（３） （１）又は（２）において、３層以上の記録層を含み、これら記録層のうち、少なくともレーザ光の入射面から最も離間した位置に配置された記録層よりも前記レーザ光の入射面側に配置された複数の記録層が前記レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される記録層であることを特徴とする光記録媒体。
（４） （１）乃至（３）のいずれかにおいて、前記複数の記録層の厚さが等しいことを特徴とする光記録媒体。
（５） （１）乃至（３）のいずれかにおいて、前記複数の記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層よりも厚いことを特徴とする光記録媒体。
（６） （１）乃至（５）のいずれかにおいて、前記複数の記録層のうち前記レーザ光の入射面に最も接近して配置された記録層の屈折率が前記レーザ光の入射面から最も離間して配置された記録層の屈折率よりも０．１〜０．６低いことを特徴とする光記録媒体。
（７） （１）乃至（６）のいずれかにおいて、前記複数の記録層のうち前記レーザ光の入射面に最も接近して配置された記録層の消衰係数が前記レーザ光の入射面から最も離間して配置された記録層の消衰係数よりも０．０１〜０．２０小さいことを特徴とする光記録媒体。
（８） （１）乃至（７）のいずれかにおいて、前記記録層の材料は、厚さにより前記スペース部の反射率が変化し、かつ、所定の厚さで前記スペース部の反射率が最大となる特性を有し、各記録層は、そのスペース部の反射率を最大とする厚さで形成されたことを特徴とする光記録媒体。
（９） （１）乃至（８）のいずれかにおいて、前記複数の記録層のうち、前記レーザ光の入射面から最も離間した位置に配置された記録層よりも前記レーザ光の入射面側に配置された少なくとも一の記録層は実質的にＢｉ及びＯからなり、該記録層中のＯの原子数の比率が６２％以上であることを特徴とする光記録媒体。
（１０） （９）において、前記複数の記録層のうち、前記レーザ光の入射面から最も離間した位置に配置された記録層よりも前記入射面側に配置された少なくとも一の記録層は実質的にＢｉ、Ｏ及びＸ（ＸはＭｇ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｖ、Ｚｎ、Ｇｅ、Ｙ、Ｓｎ、Ｓｂ、Ｄｙの中から選択される少なくとも１種の元素）からなることを特徴とする光記録媒体。
尚、本出願において「記録層の厚さが等しい」とは、記録マークが形成されていない状態において、最も厚い記録層の厚さに対し最も薄い記録層の厚さが１０％以内であることを意味し、記録層の厚さが完全に一致する場合に限定されない。
又、本出願において「記録層は実質的にＢｉ、Ｏからなり」とは、記録層を構成する総ての原子の数に対する記録層中のＢｉ、Ｏの原子数の合計値が８０％以上であることを意味する。記録層が実質的にＢｉ、Ｏからなる場合、記録層を構成する総ての原子の数に対する記録層中のＢｉ、Ｏの原子数の合計値が９０％以上であることが更に好ましい。記録層が実質的にＢｉ、Ｏからなり、記録層を構成する総ての原子の数に対する記録層中のＢｉ、Ｏの原子数の合計値が８０％以上である場合、記録層はＢｉ、Ｏ以外の他の添加元素を含んでいてもよい。添加元素は１種類でもよく、又、２種類以上であってもよい。
又、「記録層は、実質的にＢｉ、Ｏ及びＸからなり」とは、記録層中のＢｉ、Ｏ及びＸの原子数の合計値が８０％以上であることを意味する。記録層が実質的にＢｉ、Ｏ及びＸからなる場合、記録層を構成する総ての原子の数に対する記録層中のＢｉ、Ｏ及びＸの原子数の合計値が９０％以上であることが更に好ましい。
本発明によれば、複数の記録層を備え、いずれの記録層にも良好な記録マークを形成し、且つ、該記録マークを確実に再生できる光記録媒体を実現することができる。
以下、本発明を実施するための好ましい形態について図面を参照して詳細に説明する。
本発明の第１実施形態に係る光記録媒体１０は、外径が約１２０ｍｍ、厚さが約１．２ｍｍの円板形状で、図２及び図３に示されるように、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部１１よりも厚さが増加した記録マーク１２が形成される第１の記録層１４及び第２の記録層１６を含み、相対的にレーザ光の入射面１８に近い側に配置された第２の記録層１６の屈折率ｎ２が、該第２の記録層１６よりもレーザ光の入射面１８から離間する側に配置された第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも低いことを特徴としている。他の構成については、従来の光記録媒体と同様、又は従来の光記録媒体と類似しており、本発明の理解に特に重要とは思われないため、説明を適宜省略する。
第１の記録層１４及び第２の記録層１６は、実質的にＢｉ及びＯからなり、これら第１の記録層１４及び第２の記録層１６中のＯの原子数の比率は６２％以上である。尚、第１の記録層１４及び第２の記録層１６中のＯの原子数の比率は７３％以下であることが好ましい。第２の記録層１６の材料は、Ｍｇ、Ａｌ、Ｓｉ、Ｖ、Ｚｎ、Ｇｅ、Ｙ、Ｓｎ、Ｓｂ、Ｄｙの中から選択される少なくとも１種の元素を含み、これにより第２の記録層１６の屈折率ｎ２は、第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも低くなっている。又、これらの元素を添加することで、第２の記録層１６の消衰係数を低下させ、第１の記録層１４に到達するレーザ光の光量を増大させる効果も得られる。
このようにＢｉ、Ｏ以外の元素を添加して第２の記録層１６の消衰係数を低減することで、第２の記録層１６を介してレーザ光が照射される第１の記録層１４の反射率と第２の記録層１６の反射率とを近づけることができる。又、第１の記録層１４の記録感度と第２の記録層１６の記録感度とを近づけることもできる。尚、第１の記録層１４の材料として、実質的にＢｉ及びＯからなり、更に、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｍｏ、Ａｇ、Ｗ、Ｉｒ、Ｐｔ、Ａｕの中から選択される少なくとも１種の元素を含む材料を用いることで、第１の記録層１４の消衰係数を増加させ、第１の記録層１４の記録感度を向上させる（記録マークを形成しやすくさせる）ことができ、これにより第１の記録層１４の記録感度を第２の記録層１６の記録感度に近づけることもできる。
これらの材料で構成される第１の記録層１４、第２の記録層１６の厚さと反射率との関係は、前記図１中に符号Ｓ１、Ｓ２、Ｍ１、Ｍ２を付した曲線のようになる。ここで示される反射率は、記録層自体の反射率であり、第２の記録層１６についてはフォトディテクタ２０で検出される反射率とほぼ等しいが、第１の記録層１４についてはフォトディテクタ２０で検出される反射率よりも高い。これら第１の記録層１４及び第２の記録層１６の材料は図１に示されるように、スペース部１１の反射率が所定の厚さ（本第１実施形態では約４０ｎｍ）で反射率が最大となる特性を有している。
第１の記録層１４及び第２の記録層１６はいずれもスペース部１１の反射率を最大とする厚さとほぼ等しい約４５ｎｍの厚さで形成されている。上記のように、第２の記録層１６の屈折率ｎ２は、第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも低く、これにより第２の記録層１６の反射率はスペース部１１、記録マーク１２のいずれについても、第１の記録層１４の反射率よりも低くなっている。尚、第２の記録層１６の屈折率ｎ２は、第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも０．１〜０．６低いことが好ましく、０．２〜０．５低ければ更に好ましい。
又、第１の記録層１４及び第２の記録層１６は、消衰係数が０、３５以下である。第２の記録層１６の消衰係数は、第１の記録層１４の消衰係数よりも０．０１〜０．２０小さいことが好ましく、０．０２〜０．１４小さければ更に好ましい。
これら第１の記録層１４及び第２の記録層１６は、基板２２の上に形成され、第２の記録層１６における基板２２と反対側にはカバー層２４が形成されている。又、第１の記録層１４と第２の記録層１６の間にはスペーサ層２６が形成されている。
基板２２は、厚さが約１．１ｍｍで、そのカバー層２４側の面にはグルーブを構成する凹凸パターンが形成されている。尚、「グルーブ」という用語は一般的にはデータの記録／再生のために使用される凹部という意味で用いられるが、データの記録／再生のために使用される部位がカバー層２４側に突出する凸部であっても本出願では便宜上「グルーブ」という用語を用いることとする。本第１実施形態では、カバー層２４側に突出する凸部がグルーブである。尚、基板２２の材料としてはポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素系樹脂、ＡＢＳ樹脂、ウレタン樹脂等を用いることができる。
カバー層２４は、厚さが例えば３０〜１５０μｍである。カバー層２４の材料としては透光性を有するアクリル系紫外線硬化性樹脂、エポキシ系紫外線硬化性樹脂等のエネルギ線硬化性樹脂を用いることができる。ここで、「エネルギ線」という用語は、流動状態の特定の樹脂を硬化させる性質を有する、例えば紫外線、電子線等の電磁波、粒子線の総称という意義で用いることとする。尚、カバー層２４の材料を形成する方法としては、流動性を有する樹脂を基板上に塗布してからエネルギ線を照射して硬化させてもよく、予め作製した透光性のフィルムを基板上に貼り付けてもよい。
スペーサ層２６は、厚さが例えば５〜９０μｍ程度であり、両面が基板２２と同様のグルーブの凹凸パターンとなっている。尚、スペーサ層２６の材料としてはカバー層２４と同様に、透光性を有するアクリル系紫外線硬化性樹脂、エポキシ系紫外線硬化性樹脂等のエネルギ線硬化性樹脂を用いることができる。
第１の記録層１４は、基板２２の凹凸パターンに倣って凹凸パターンで形成されている。又、第２の記録層１６も、スペーサ層２６の凹凸パターンに倣って凹凸パターンで形成されている。
次に、光記録媒体１０の作用について説明する。
光記録媒体１０は、第１の記録層１４及び第２の記録層１６にレーザ光が照射されることにより周囲のスペース部１１よりも厚さが増加した記録マーク１２が形成されるため、図１に示されるように、スペース部１１の反射率を最大とする厚さ付近及びこれよりも厚い領域においてスペース部１１の反射率と記録マーク１２の反射率との差が大きい。従って、第１の記録層１４及び第２の記録層１６の厚さをいずれもスペース部１１の反射率を最大とする厚さ付近に設定し、第２の記録層１６の反射率を第１の記録層１４の反射率よりも低くするために第２の記録層１６の屈折率を第１の記録層１４の屈折率よりも低く設定しているにも拘わらず、第２の記録層１６について記録マーク１２の反射率とスペース部１１の反射率との充分な差が得られ、且つ、第２の記録層１６が第１の記録層１４と同等の厚さを有しているので第２の記録層に所望の特性の良好な記録マークを形成できる。
又、第２の記録層１６の消衰係数が０．３５以下であるので、第２の記録層１６が第１の記録層１４と同等の厚さを有していても、第１の記録層１４に照射されるレーザ光は第２の記録層１６において吸収されにくく、これによりフォトディテクタ２０において検出される第１の記録層１４の反射率を高めることができると共に第１の記録層１４にも良好な記録マークを形成できる。
次に、本発明の第２実施形態について説明する。
図４に示されるように、本第２実施形態に係る光記録媒体３０は、前記第１実施形態に係る光記録媒体１０に対し、前記第１の記録層１４、第２の記録層１６に加えて第３の記録層３２、第４の記録層３４を備える４層記録式である。他の構成については、前記第１実施形態と同様であるので同様の構成については前記第１実施形態と同一符号を用いることとして説明を適宜省略することとする。
第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４は、厚さが等しく、この順で基板２２からレーザ光の入射面１８の方向に並んで配置されている。第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４の間には、それぞれスペーサ層２６が配置されている。又、第４の記録層３４は、カバー層２４に接している。
第３の記録層３２、第４の記録層３４の材料は、第１の記録層１４及び第２の記録層１６の材料と同様に、実質的にＢｉ及びＯからなり、これら第３の記録層３２、第４の記録層３４中のＯの原子数の比率は６２％以上である。
第３の記録層３２の屈折率ｎ３は第２の記録層１６の屈折率ｎ２よりも低く、第４の記録層３４の屈折率ｎ４は第３の記録層３２の屈折率ｎ３よりも低い。即ち、光記録媒体３０は、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の屈折率の関係がｎ１＞ｎ２＞ｎ３＞ｎ４である構成である。これにより、光記録媒体３０は、第４の記録層３４、第３の記録層３２、第２の記録層１６、第１の記録層１４の（記録層自体の）反射率が、この順でレーザ光の入射面１８から基板２２の方向に高くなっている。
光記録媒体３０も光記録媒体１０と同様に、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４にレーザ光が照射されることにより周囲のスペース部１１よりも厚さが増加した記録マーク１２が形成されるため、スペース部１１の反射率を最大とする厚さ付近及びこれよりも厚い領域においてスペース部１１の反射率と記録マーク１２の反射率との差が大きい。従って、スペース部１１の反射率を最大とする厚さ付近に第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４の厚さを設定し、第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４の反射率を第１の記録層１４の反射率よりも低くするために第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４の屈折率ｎ２、ｎ３、ｎ４を第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも低くしているにも拘わらず、第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４について記録マーク１２の反射率とスペース部の反射率との充分な差が得られ、且つ、第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４が第１の記録層１４と同等の厚さを有しているので第２の記録層１６、第３の記録層３２及び第４の記録層３４に所望の特性の良好な記録マークを形成できる。
又、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の消衰係数が０．３５以下であるので、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４が第１の記録層１４と同等の厚さを有していても、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２に照射されるレーザ光は第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４において吸収されにくく、これによりフォトディテクタ２０において検出される第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２の反射率を高めることができると共に第１の記録層１４にも良好な記録マークを形成できる。
次に、本発明の第３実施形態について説明する。
図５に示されるように、本第３実施形態に係る光記録媒体４０は、前記第２実施形態に係る光記録媒体３０に対し、前記第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４に加えて第５の記録層４２、第６の記録層４４を備える６層記録式である。他の構成については、前記第１及び第２実施形態と同様であるので同様の構成については前記第１及び第２実施形態と同一符号を用いることとして説明を適宜省略することとする。
第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４は、厚さが等しく、この順で基板２２からレーザ光の入射面１８の方向に並んで配置されている。第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２及び第６の記録層４４の間には、それぞれスペーサ層２６が配置されている。又、第６の記録層４４は、カバー層２４に接している。
第５の記録層４２、第６の記録層４４の材料は、第１の記録層１４、第２の記録層１６等と同様に、実質的にＢｉ及びＯからなり、これら第５の記録層４２、第６の記録層４４中のＯの原子数の比率は６２％以上である。
第５の記録層４２の屈折率ｎ５は第４の記録層３４の屈折率ｎ４よりも低く、第６の記録層４４の屈折率ｎ６は第５の記録層４２の屈折率ｎ５よりも低い。即ち、光記録媒体４０は、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の屈折率の関係がｎ１＞ｎ２＞ｎ３＞ｎ４＞ｎ５＞ｎ６である構成である。これにより、光記録媒体４０は、第６の記録層４４、第５の記録層４２、第４の記録層３４、第３の記録層３２、第２の記録層１６、第１の記録層１４の（記録層自体の）反射率が、この順でレーザ光の入射面１８から基板２２の方向に高くなっている。
光記録媒体４０も光記録媒体１０と同様に、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４にレーザ光が照射されることにより周囲のスペース部１１よりも厚さが増加した記録マーク１２が形成されるため、スペース部１１の反射率を最大とする厚さ付近及びこれよりも厚い領域においてスペース部１１の反射率と記録マーク１２の反射率との差が大きい。従って、スペース部１１の反射率を最大とする厚さ付近に第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の厚さを設定し、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の反射率を第１の記録層１４の反射率よりも低くするために第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の屈折率ｎ２、ｎ３、ｎ４、ｎ５、ｎ６を第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも低くしているにも拘わらず、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４について記録マーク１２の反射率とスペース部の反射率との充分な差が得られ、且つ、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４が第１の記録層１４と同等の厚さを有しているので第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４に所望の特性の良好な記録マークを形成できる。
又、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の消衰係数が０．３５以下であるので、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４が第１の記録層１４と同等の厚さを有していても、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２に照射されるレーザ光は第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４において吸収されにくく、これによりフォトディテクタ２０において検出される第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２の反射率を高めることができると共に第１の記録層１４にも良好な記録マークを形成できる。
尚、上記第１〜第３実施形態において、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４は、スペース部１１の反射率を最大とする厚さとほぼ等しい厚さで形成されているが、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４について記録マーク１２の反射率とスペース部１１の反射率との充分な差が得られ、且つ、レーザ光の入射面１８から基板２２の方向に記録層自体の反射率が高くなる構成であれば、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の厚さは、反射率を最大とする厚さよりも薄くてもよく、厚くてもよい。記録マーク１２の反射率とスペース部１１の反射率との差を大きくでき、記録感度を向上させることもできるという点では、反射率を最大とする厚さよりも厚くすることが好ましい。
又、上記第１〜第３実施形態において、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の材料は、スペース部１１の反射率を最大とする厚さが約４０ｎｍである材料であるが、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の材料として、スペース部１１の反射率を最大とする厚さが４０ｎｍよりも厚い材料を用いてもよく、４０ｎｍよりも薄い材料を用いてもよい。
又、上記第１〜第３実施形態において、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の厚さが等しいが、これらの記録層うち相対的にレーザ光の入射面１８に近い側に配置された記録層が該記録層よりもレーザ光の入射面１８から離間する側に配置された記録層よりも厚い構成としてもよい。このように相対的にレーザ光の入射面１８に近い側に配置された記録層を厚くすることで、その記録感度を向上させることができる。
又、上記第１〜第３実施形態において、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の材料は、実質的にＢｉ及びＯからなる材料であるが、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される材料であれば、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の材料として他の材料を用いてもよい。この場合も、消衰係数が０．３５以下の材料を用いることが好ましい。例えば、Ｂｉ、Ｇｅ及びＮを含む材料を用いることができる。
又、上記第１〜第３実施形態において、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４は共通の構成元素（Ｂｉ及びＯ）を含んでいるが、第１の記録層１４については、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４と共通の構成元素を含まない構成としてもよい。例えば第１の記録層１４の材料として、消衰係数が０．３５よりも大きな値である材料を用いてもよい。又、第１の記録層１４の材料として、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成されない材料を用いてもよい。
又、上記第２実施形態において、光記録媒体３０は、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４が、この順で基板２２からレーザ光の入射面１８の方向に屈折率が低くなる構成であり、第４の記録層３４、第３の記録層３２、第２の記録層１６、第１の記録層１４の順でレーザ光の入射面１８から基板２２の方向に（記録層自体の）反射率が高くなる構成であり、上記第３実施形態においては、光記録媒体４０は、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４が、この順で基板２２からレーザ光の入射面１８の方向に屈折率が低くなる構成であり、第６の記録層４４、第５の記録層４２、第４の記録層３４、第３の記録層３２、第２の記録層１６、第１の記録層１４の順でレーザ光の入射面１８から基板２２の方向に（記録層自体の）反射率が高くなる構成であるが、これらのうちのいずれか２層の組み合わせについて、相対的にレーザ光の入射面１８に近い側に配置された上側の記録層が、この記録層よりもレーザ光の入射面１８から離間する側に配置された下側の記録層よりも屈折率が低い構成であれば、他の組み合わせについては屈折率がこの関係を満たさなくてもよい。この場合も、フォトディテクタにおいて検出されるこれらの記録層の反射率を近づける一定の効果が得られる。
又、上記第１実施形態の図２において、記録マーク１２は厚さが全体的に一様な形状であるが、少なくとも一部が周囲のスペース部よりも厚い形状であれば記録マークの形状は特に限定されず、全体が周囲のスペース部よりも厚く、且つ、厚さが部位によりばらつく形状でもよく、一部だけが周囲のスペース部よりも厚く他の部位はスペース部と厚さが等しい形状でもよい。例えば、中心近傍が最も厚く、中心から離れる程薄くなる形状でもよい。実際には、このような形状の記録マークが形成されることが多い。尚、記録マーク中の各部位の厚さは、記録マークの断面をＴＥＭ（Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ）で観察することにより確認できる。
又、上記第１〜第３実施形態において、光記録媒体１０、光記録媒体３０、光記録媒体４０は、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４がいずれも基板２２、カバー層２４、スペーサ層２６のいずれかに直接接する構成であるが、例えば第１の記録層１４と基板２２との間に反射層を設けてもよい。反射層の材料としてはＡｌ、Ａｇ、Ａｕ、Ｃｕ、Ｍｇ、Ｔｉ、Ｃｒ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｚｎ、Ｇｅ、Ｐｔ、Ｐｄやそれらの合金等を用いることができる。これらのうち、高い反射率が得られるという点でＡｌ、Ａｇ、Ａｕ、Ｃｕ、ＡｇＰｄＣｕなどの合金を用いることが好ましい。尚、反射層の材料として誘電体材料を用いることも可能である。又、一部又は全部の記録層の一方側又は両側に誘電体層を設けてもよい。誘電体層の材料としては、例えば、ＳｉＯ２、Ａｌ２Ｏ３、ＺｎＯ、ＣｅＯ２、Ｔａ２Ｏ５、ＴｉＯ２等の酸化物、ＳｉＮ、ＡｌＮ、ＧｅＮ、ＧｅＣｒＮ等の窒化物、ＺｎＳ等の硫化物、又は例えばＺｎＳとＳｉＯ２との混合物のように、これらを組合わせた材料を主成分とする材料を用いることができる。
又、上記第１実施形態において、光記録媒体１０は、相対的にレーザ光の入射面１８に近い側に配置された第２の記録層１６の屈折率ｎ２が、該第２の記録層１６よりもレーザ光の入射面１８から離間する側に配置された第１の記録層１４の屈折率ｎ１よりも低い構成であり、上記第２実施形態においては、光記録媒体３０は、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の屈折率の関係がｎ１＞ｎ２＞ｎ３＞ｎ４である構成であり、上記第３実施形態においては、光記録媒体４０は、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の屈折率の関係がｎ１＞ｎ２＞ｎ３＞ｎ４＞ｎ５＞ｎ６である構成であるが、記録層の屈折率がこのような関係になっていなくても、レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される複数の記録層を含み、これら記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層の消衰係数が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層の消衰係数よりも低い構成であれば、下側の記録層の記録感度やフォトディテクタにおいて検出される反射率を上側の記録層の記録感度やフォトディテクタにおいて検出される反射率に近づけることができると共に上側の記録層に所望の特性の良好な記録マークを形成できる。
又、上記第１実施形態において光記録媒体１０は２層の記録層を備え、上記第２実施形態において光記録媒体３０は４層の記録層を備え、又、上記第３実施形態において光記録媒体４０は６層の記録層を備えているが、３層の記録層を備える光記録媒体や５層の記録層を備える光記録媒体、更に７層以上の記録層を備える光記録媒体についても本発明は好適である。
又、上記第１〜第３実施形態において、光記録媒体１０、３０、４０は片面のみに記録層を備える片面記録式であるが、両面に記録層を備える両面記録式の光記録媒体に対しても本発明は当然適用可能である。
又、上記第１〜第３実施形態において、光記録媒体１０、３０、４０は、基板２２よりもカバー層２４が薄い構成であるが、ＤＶＤのように基板とカバー層とが等しい厚さを有する光記録媒体に対しても本発明は当然適用可能である。尚、この場合、基板及びカバー層の形状はほぼ等しくなるが、本出願では、記録／再生用のレーザ光が照射される方をカバー層と呼ぶこととする。
上記第１実施形態の光記録媒体１０と構成が等しい１４種類の２層記録式の光記録媒体を作製した。これら１４種類の光記録媒体は、第２の記録層１６の組成が相互に異なる構成とし、第２の記録層１６以外の構成は等しくした。
具体的には、第１の記録層１４、第２の記録層１６の材料としてＢｉ及びＯを含む材料を用いた。第１の記録層１４中のＯの原子数の比率は６８％、Ｂｉの原子数の比率は３２％とし、他の元素は添加しなかった。一方、第２の記録層１６にはＳｉ、Ａｌ、Ｍｇ、Ｖ、Ｚｎ、Ｇｅ、Ｙ、Ｓｎ、Ｓｂ、Ｄｙを添加し、第１の記録層１４よりも屈折率を低くした。又、第１の記録層１４、第２の記録層１６の厚さはいずれも、これらの材料で反射率を最大とする厚さに近い約４５ｎｍとした。
これら１４種類の光記録媒体について、第１の記録層１４、第２の記録層１６の屈折率、消衰係数、（未記録部分の）反射率、記録感度及び８Ｔ Ｃ／Ｎ値を測定した。測定結果を表１に示す。又、第１の記録層１４、第２の記録層１６の組成及び成膜条件を表１に併記する。尚、記録感度は、次のような手法で測定した。まず、各光記録媒体に様々なパワーのレーザ光を照射して記録マーク１２を形成した。次に、記録／再生装置により各記録マーク１２のジッタ値を測定した。ジッタ値が最も低い記録マーク１２の形成に用いられたレーザ光の出力がこの光記録媒体のレーザ光の出力として好適であるので、この出力を記録感度として捉えた。尚、レーザ光の出力とは、入射面１８に到達したレーザ光の強度を電力に換算したものである。記録感度を示すレーザ光の出力が低い程、記録マークが形成されやすく記録感度が敏感であることを示す。表１に示される第１の記録層１４、第２の記録層１６の反射率は、それぞれの記録層にその記録感度に相当する出力の記録用レーザ光を照射して形成した記録マーク１２に再生用レーザ光を照射し、フォトディテクタ２０で検出したものである。尚、第１の記録層１４、第２の記録層１６に照射した再生用レーザ光の出力は同等である。
Figure 2007048419
上記実施例１に対し、第１の記録層１４にＦｅを添加し、第２の記録層１６にはＡｌを添加した１種類の２層記録式の光記録媒体を作製した。これら第１の記録層１４、第２の記録層１６の厚さはいずれも約５５ｎｍとした。他の構成は実施例１と同様とした。
この光記録媒体について第１の記録層１４、第２の記録層１６の屈折率、消衰係数、反射率、記録感度及び８Ｔ Ｃ／Ｎ値を測定した。測定結果を表２に示す。又、第１の記録層１４、第２の記録層１６の組成及び成膜条件を表２に併記する。
Figure 2007048419
上記第２実施形態の光記録媒体３０と同様に４層記録式の光記録媒体を作製した。尚、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の厚さがこの順で厚くなる構成とした。
具体的には、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の材料としてＢｉ、Ｏ及びＧｅからなる材料を用い、これら第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４中のＢｉ、Ｏ及びＧｅの原子数の比率が各記録層で異なる１種類の光記録媒体を作製した。第１の記録層１４の厚さは、この材料で反射率を最大とする厚さに近い４８ｎｍとした。これに対し、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の厚さは、第１の記録層１４よりも厚い６２ｎｍ、６８ｎｍ、７３ｎｍとした。
この光記録媒体について、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の屈折率、消衰係数、反射率、記録感度及び８Ｔ Ｃ／Ｎ値を測定した。測定結果を表３に示す。又、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４の組成及び成膜条件を表３に併記する。
Figure 2007048419
上記第３実施形態の光記録媒体４０と同様に６層記録式の光記録媒体を作製した。尚、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の厚さがこの順で厚くなる構成とした。
具体的には、第１の記録層１４はＳｉ層とＣｕ層とを積層した構成であり、レーザ光が照射されて形成される記録マークは周囲のスペース部よりも厚くならない。Ｃｕ層が基板２２側、Ｓｉ層がカバー層２４側である。尚、Ｃｕ層の屈折率は３．３、Ｓｉ層の屈折率は０．２であるが、第１の記録層１４全体の屈折率ｎ１は把握できない。
又、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の材料としてＢｉ、Ｏ及びＧｅからなる材料を用い、これら第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４中のＢｉ、Ｏ及びＧｅの原子数の比率が各記録層で異なる１種類の光記録媒体を作製した。第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の屈折率の関係はｎ２＞ｎ３＞ｎ４＞ｎ５＞ｎ６である。
第１の記録層１４のＳｉ層、Ｃｕ層の厚さはいずれも６ｎｍとし、第１の記録層１４の合計の厚さは１２ｎｍとした。尚、第１の記録層１４の両側には、材料がＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳ：ＳｉＯ２＝８０：２０）である誘電体層を設けた。各誘電体層の厚さは、４０ｎｍとした。又、基板２２側の誘電体層と基板２２との間には、材料がＡｇＰｄＣｕ合金である反射層を設けた。反射層の厚さは１００ｎｍとした。
一方、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の厚さは、３３ｎｍ、３７ｎｍ、４０ｎｍ、４３ｎｍ、４６ｎｍとした。尚、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の両側には、材料がＴｉＯ２である誘電体層を設けた。第２の記録層１６の両側の誘電体層の厚さは、それぞれ１０ｎｍとした。第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２の両側の誘電体層の厚さは、それぞれ１４ｎｍとした。第６の記録層１６の両側の誘電体層の厚さは、それぞれ１５ｎｍとした。
この光記録媒体について、第１の記録層１４、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の反射率、記録感度、８Ｔ Ｃ／Ｎ値及び消衰係数を測定した。測定結果を表４に示す。又、第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４の組成及び成膜条件を表４に併記する。
Figure 2007048419
[比較例]
上記実施例１に対し、第２の記録層の屈折率が、第１の記録層１６の屈折率と等しい光記録媒体を作製した。
具体的には、第２の記録層１６の組成が、上記実施例１の第１の記録層１４の組成と等しい１種類の光記録媒体を作製した。
この光記録媒体について、第１の記録層１４、第２の記録層１６の屈折率、消衰係数、反射率、記録感度及び８Ｔ Ｃ／Ｎ値を測定した。測定結果を表５に示す。又、第１の記録層１４、第２の記録層１６の組成及び成膜条件を表５に併記する。
Figure 2007048419
表１〜４に示されるように実施例１〜４の光記録媒体はいずれも、各記録層の８Ｔ Ｃ／Ｎ値が５０以上で良好であった。即ち、実施例１〜４の光記録媒体は、各記録層に形成された記録マーク１２がいずれも良好であることが確認された。
又、実施例１〜４の光記録媒体はいずれも、隣接する２つの記録層の記録マーク１２の反射率がフォトディテクタ２０において、２倍未満の近い値で検出されており良好であった。
実施例１〜３の光記録媒体はいずれも、複数の記録層の主たる構成元素がＢｉ及びＯで共通であり、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された記録層の屈折率が第１の記録層１４の屈折率よりも０．１〜０．６低い。言い換えれば、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された記録層の屈折率が第１の記録層１４の屈折率よりも０．１〜０．６低ければフォトディテクタ２０において検出される複数の記録層の反射率の差が４％以内に抑制され、好ましい。更に、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された記録層の屈折率が第１の記録層１４の屈折率よりも０．２〜０．５低ければフォトディテクタ２０において検出される各記録層の反射率の差が３％未満に抑制されるので、より好ましい。
尚、実施例４については、上記のように第１の記録層１４全体の屈折率が把握できないが、レーザ光が照射されて周囲のスペース部よりも厚い記録マークが形成される第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４のうち、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された第６の記録層４４の屈折率と、レーザ光の入射面１８から最も離間して配置された第２の記録層１６の屈折率との差は（０．２〜０．５の範囲内の）０．５で、これら５層の記録層の反射率の差は３％未満に抑制されていた。
又、実施例１〜４の光記録媒体はいずれも、各記録層の記録感度が５ｍＷ以内の近い値であり良好であった。
実施例１〜３の光記録媒体はいずれも、複数の記録層の主たる構成元素がＢｉ及びＯで共通であり、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された記録層の消衰係数が第１の記録層１６の消衰係数よりも０．０２〜０．１４小さい。言い換えれば、複数の記録層の主たる構成元素が共通である場合、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された記録層の消衰係数が第１の記録層１６の消衰係数よりも０．０２〜０．１４小さければ、各記録層の記録感度の差が５ｍＷ以内に抑制され、好ましい。更に、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された記録層の消衰係数が第１の記録層１４の消衰係数よりも０．０２〜０．０７小さければ、各記録層の記録感度の差が３ｍＷ以内に抑制され、より好ましい。
尚、実施例４は、上記のように第１の記録層１４の主たる構成元素と他の記録層の主たる構成元素とが異なり、第１の記録層１４の消衰係数が他の記録層の消衰係数よりも著しく高いため、第１の記録層１４を含めるとこのような関係とはなっていないが、実施例４でも主たる構成元素が共通である第２の記録層１６、第３の記録層３２、第４の記録層３４、第５の記録層４２、第６の記録層４４については、レーザ光の入射面１８に最も接近して配置された第６の記録層４４の消衰係数がレーザ光の入射面１８から最も離間して配置された第２の記録層１４の消衰係数よりも（０．０２〜０．１４の範囲内の）０．０８小さく、これら主たる構成元素が共通である５層の記録層の記録感度の差が５ｍＷ以内に抑制されていた。
これに対し、第２の記録層の屈折率が第１の記録層１６の屈折率と等しい比較例の光記録媒体は、第１の記録層１４にレーザ光の焦点を合わせようとしても第２の記録層１６に焦点が合ってしまい、第１の記録層１４に記録マークを形成できなかった。即ち、第１の記録層１４の評価ができなかった。これは、フォトディテクタ２０において検出される第１の記録層１４の反射率が第２の記録層１６の反射率に対して過度に低かったためであると考えられる。
本発明は、複数の記録層を備える光記録媒体に利用することができる。
本発明の第１実施形態に係る光記録媒体の記録層の厚さに対する記録層の反射率の関係を記録層の屈折率をパラメータとして示すグラフ 同光記録媒体の記録層周辺の構造を模式的に示す側断面図 同光記録媒体の全体構造を模式的に示す側断面図 本発明の第２実施形態に係る光記録媒体の全体構造を模式的に示す側断面図 本発明の第３実施形態に係る光記録媒体の全体構造を模式的に示す側断面図 従来の光記録媒体の記録層の厚さに対する記録層の反射率の関係を示すグラフ 従来の光記録媒体の記録層の厚さに対する記録層の反射率の関係を記録層の屈折率をパラメータとして示すグラフ
符号の説明
１０、３０、４０…光記録媒体
１１…スペース部
１２…記録マーク
１４…第１の記録層
１６…第２の記録層
１８…入射面
２０…フォトディテクタ
２２…基板
２４…カバー層
２６…スペーサ層
３２…第３の記録層
３４…第４の記録層
４２…第５の記録層
４４…第６の記録層

Claims (9)

  1. レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される複数の記録層を含み、これら記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層の屈折率が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層の屈折率よりも低いことを特徴とする光記録媒体。
  2. レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される複数の記録層を含み、これら記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層の消衰係数が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層の消衰係数よりも低いことを特徴とする光記録媒体。
  3. 請求項１又は２において、
    ３層以上の記録層を含み、これら記録層のうち、少なくともレーザ光の入射面から最も離間した位置に配置された記録層よりも前記レーザ光の入射面側に配置された複数の記録層が前記レーザ光が照射されることにより周囲のスペース部よりも厚さが増加した記録マークが形成される記録層であることを特徴とする光記録媒体。
  4. 請求項１乃至３のいずれかにおいて、
    前記複数の記録層の厚さが等しいことを特徴とする光記録媒体。
  5. 請求項１乃至３のいずれかにおいて、
    前記複数の記録層のうち相対的に前記レーザ光の入射面に近い側に配置された記録層が該記録層よりも前記レーザ光の入射面から離間する側に配置された記録層よりも厚いことを特徴とする光記録媒体。
  6. 請求項１乃至５のいずれかにおいて、
    前記複数の記録層のうち前記レーザ光の入射面に最も接近して配置された記録層の屈折率が前記レーザ光の入射面から最も離間して配置された記録層の屈折率よりも０．１〜０．６低いことを特徴とする光記録媒体。
  7. 請求項１乃至６のいずれかにおいて、
    前記複数の記録層のうち前記レーザ光の入射面に最も接近して配置された記録層の消衰係数が前記レーザ光の入射面から最も離間して配置された記録層の消衰係数よりも０．０１〜０．２０小さいことを特徴とする光記録媒体。
  8. 請求項１乃至７のいずれかにおいて、
    前記記録層の材料は、厚さにより前記スペース部の反射率が変化し、かつ、所定の厚さで前記スペース部の反射率が最大となる特性を有し、各記録層は、そのスペース部の反射率を最大とする厚さで形成されたことを特徴とする光記録媒体。
  9. 請求項１乃至８のいずれかにおいて、
    前記複数の記録層のうち、前記レーザ光の入射面から最も離間した位置に配置された記録層よりも前記レーザ光の入射面側に配置された少なくとも一の記録層は実質的にＢｉ及びＯからなり、該記録層中のＯの原子数の比率が６２％以上であることを特徴とする光記録媒体。
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