JP2007036235A - マルチステージ発光ダイオードドライバ回路 - Google Patents

マルチステージ発光ダイオードドライバ回路 Download PDF

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ワイ・キート・タイ
Kok Soon Yeo
コク・スーン・イェオ
Chee Keong Teo
チェー・キョン・テオ
John J Asuncion
ジョン・ジュリアス・アサンション
Lian-Chun Xu
リャン・チュン・シュー
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Abstract

【課題】電流・電圧ストレスからのトランジスタの保護
【解決手段】マルチステージLEDドライバ回路。該回路はLEDに接続されたドライバトランジスタを含む。該LEDは該ドライバトランジスタのドレインに接続され該ドライバトランジスタが該LEDに電流を駆動する。該ドライバトランジスタのゲートとグランドとの間に第1のトランジスタスタックが接続される。該第1のトランジスタスタックの共通ゲートに第1のインバータステージが接続される。該第1のインバータステージは高電圧源とグランドとの間に接続される。該第1のインバータステージの共通ゲートに第2のインバータステージが接続される。該第2のインバータステージは高電圧源とグランドとの間に接続される。該回路は高電圧源とドライバトランジスタのゲートとの間に接続された第1のトランジスタを含む。該トランジスタのゲートは第1のインバータステージに接続される。
【選択図】図2

Description

本発明は、電流及び電圧ストレスからのトランジスタの保護に関するものである。
電子回路で使用されるトランジスタは、電流及び電圧ストレスを常に受けている。例えば、高電圧源に接続されたトランジスタは、低電圧源(VccL)から該高電圧源(VccH)へと切り換えられた際に電流及び電圧ストレスを受ける。
電圧のスイングを受ける際に、トランジスタは、該トランジスタの接合部をまたぐブレークダウンを被る可能性がある。例えば、PMOS(P型金属酸化膜半導体)トランジスタ及びNMOS(N型金属酸化膜半導体)トランジスタは、チャネルからゲートを隔てる薄い酸化ケイ素層を含み、入力電圧スイングにより引き起こされる極端な電圧又は電流ストレスに起因して前記酸化層においてブレークダウンを被る可能性がある。該接合部における電圧がPMOS又はNMOSトランジスタのブレークダウン電圧を超えた場合には、該トランジスタは最終的に故障することになる。
マルチステージ発光ダイオード(LED)ドライバ回路が提供される。該回路は、LEDに接続されたドライバトランジスタを含む。該LEDは、該ドライバトランジスタのドレインに接続され、該ドライバトランジスタが該LEDに電流を駆動する。該ドライバトランジスタのゲートとグランドとの間に第1のトランジスタスタックが接続される。該第1のトランジスタスタックの共通ゲートに第1のインバータステージが接続される。該第1のインバータステージは更に、高電圧源とグランドとの間に接続される。該第1のインバータステージの共通ゲートに第2のインバータステージが接続される。該第2のインバータステージは更に、前記高電圧源とグランドとの間に接続される。該回路は更に、前記高電圧源と前記ドライバトランジスタのゲートとの間に接続された第1のトランジスタを含む。該トランジスタのゲートは、前記第1のインバータステージに接続される。
図1は、発光ダイオード(LED)駆動回路100を図式的に表したものである。該LEDドライバ回路は、LED102を「オン」状態から「オフ」状態にする(またはその逆にする)ために使用される。該LEDドライバ回路100は、携帯電話、パーソナルディジタルアシスタント(PDA)、テレビ、又はその他の表示装置及び/又はその他の電子装置又は回路といった、LEDを使用するあらゆる装置で使用することが可能である。
図1に示すように、LEDドライバ回路100は、PMOSドライバトランジスタ120のドレインとグランド(Gnd)との間に接続されたLED102を含む。該PMOSドライバ120のソースは、抵抗119を介して高電圧源(VccH)に接続される。該PMOSドライバトランジスタ120のゲート及びインバータ145にトランジスタ対140が接続される。該トランジスタ対140は、VccHとGndとの間に接続される。低電圧源(VccL)とGndとの間に接続されたインバータ145は、入力信号(IN)を受信する。
トランジスタ対140は、VccH及びPMOSトランジスタ120のゲートに接続されたPMOSトランジスタ101を含む。該トランジスタ対140はまた、PMOSトランジスタ120のゲートに接続されたNMOSトランジスタ103を含む。該NMOSトランジスタ103のソースはGndに接続され、該NMOSトランジスタ103のドレインはPMOSトランジスタ101のドレインに接続される。図示のように、PMOSトランジスタ101のゲート及びNMOSトランジスタ103のゲートはインバータ145に接続される。
PMOSトランジスタ101及びNMOSトランジスタ103は、LED102が「オン」又は「オフ」に切り換えられる際に電流及び電圧ストレスを受ける。例えば、PMOSドライバトランジスタ120がオンになる(LED102へ電流を駆動する)と、LED102がオンになる。PMOSドライバトランジスタ120のゲートは論理低レベルへと駆動される。PMOSドライバトランジスタ120のゲートが論理低レベルへと駆動されると、PMOSトランジスタ101のドレイン-ソース接合が高電圧ストレスVccH(Vstress=VccH)を受けることになる。PMOSトランジスタ101のドレイン-ソース接合をまたぐVccHが、PMOSトランジスタ101のドレイン-ソース接合のブレークダウン電圧(P+/Nwellブレークダウン電圧)よりも大きくなった場合、PMOSトランジスタ101が損傷を受け、最終的には故障する可能性がある。
PMOSドライバトランジスタ120がオフになると、該ドライバPMOS120のゲートが高く(すなわちVccHに)設定される。NMOSトランジスタ103のドレイン-ソースにわたる電圧ストレスはVccH(Vstress=VccH)となる。これは、NMOSトランジスタ103がGndに結合されるからである。NMOSトランジスタ103のドレイン-ソース接合をまたぐVccHが、NMOSトランジスタ103のドレイン-ソース接合のブレークダウン電圧(P+/Nwellブレークダウン電圧)よりも大きくなった場合、NMOSトランジスタ103が損傷を受け、最終的に故障する可能性がある。NMOSトランジスタ103は故障率が高くなる。これは、ドライバPMOS120が通常はオフ状態となる(すなわちLED102へ電流を駆動しない)からである。
更に、NMOSトランジスタ103は、LED102がオフである際に完全にオフにならないPMOSトランジスタ101から流れる漏れ電流のために、電流ストレスを受ける可能性がある。PMOSトランジスタ101は、VccHとVccLとの間の電位差がPMOSトランジスタ101のしきい値電圧(Vth)よりも大きい場合に(すなわち、VccH−VccL>Vth)、完全にオフにならない可能性がある。PMOSトランジスタ101が完全にオフにならない場合、該PMOSトランジスタ101は、幾分かの電流(Istress)をNMOSトランジスタ103へ送ることを許容することになる。その結果として、NMOSトランジスタ103を通って流れる平均電流が、PMOSドライバトランジスタ120がオンとオフとの間で切り換わる際に、増大し、その結果として、NMOSトランジスタ103が加熱することになる。最終的に、該増大した電流ストレスは、NMOSトランジスタ103の早期の故障に通ずるものとなる。
図2は、マルチステージLEDドライバ回路200の一実施形態を示している。マルチステージLEDドライバ回路200は、LED202をオン・オフさせるために使用される構成要素としてのトランジスタにおける電流及び電圧ストレスを低減させることが可能である。本書で説明するマルチステージLEDドライバ回路200は、携帯電話、PDA、テレビ、又はその他の表示装置及び/又は他のあらゆる電子装置又は回路といった、LEDを使用するあらゆる装置で使用することが可能である。
図2に示すように、マルチステージLEDドライバ回路200は、PMOSドライバトランジスタ220のドレインとGndとの間に接続されたLED202を含む。PMOSドライバトランジスタ220のソースは、抵抗219を介して高電圧源VccHに接続される。PMOSトランジスタ201は、そのソースがVccHに接続される。該PMOSトランジスタ201のドレインは、PMOSドライバトランジスタ220のゲートに接続される。該PMOSトランジスタ201のドレインは、NMOSトランジスタ213のドレインに接続される。該NMOSトランジスタ213のソースは、NMOSトランジスタ203のドレインに接続される。該NMOSトランジスタ203のソースはGndに接続される。
PMOSトランジスタ201のゲートは、NMOSトランジスタ213,203のゲート及び第1ステージインバータ回路260に接続される。該第1ステージインバータ回路260は、第2ステージインバータ回路270に接続される。該第2ステージインバータ回路270は更に、インバータ211へ接続される。該インバータ211は、低電圧源VccLとGndとの間に接続されて、入力信号INを受信する。
マルチステージLEDドライバ回路200は、PMOSトランジスタ201及びNMOSトランジスタ203といった構成要素から、NMOSトランジスタ213、第1ステージインバータ回路260、及び/又は第2ステージインバータ回路270といった他の構成要素へ、電圧及び/又は電流ストレスを転移させる。更に、電圧ストレス(Vstress)及び/又は電流ストレス(Istress)が、回路200全体にわたって分散されて、PMOSトランジスタ201及びNMOSトランジスタ213,203といったトランジスタのブレークダウン電圧に達するのが防止される。
第1ステージインバータ回路260は、第1のPMOSトランジスタ204及び第2のPMOSトランジスタ205を含む。該第1のPMOSトランジスタ204のソースは、VccHに接続され、該第1のPMOSトランジスタ204のドレインは、第2のPMOSトランジスタ205のソースに接続される。該第2のPMOSトランジスタ205のドレインは、NMOSトランジスタ206のドレインに接続される。該NMOSトランジスタ206のソースはGndに接続される。前記第2のPMOSトランジスタ205のドレインと前記NMOSトランジスタ206のドレインは共に、PMOSトランジスタ201のゲート及びNMOSトランジスタ213,203のゲートに接続される。PMOSトランジスタ204,205のゲート及びNMOSトランジスタ206のゲートは共に、第2ステージインバータ回路270に接続される。
該第2ステージインバータ回路270は、第1のPMOSトランジスタ207及び第2のPMOSトランジスタ208を含む。該第1のPMOSトランジスタ207のソースは、VccHに接続され、該第1のPMOSトランジスタ207のドレインは、第2のPMOSトランジスタ208のソースに接続される。該第2のPMOSトランジスタ208のドレインは、抵抗285を介して、第1のNMOSトランジスタ209のドレインに接続される。該第2のPMOSトランジスタ208のドレインは、第1ステージインバータ回路260の共通に接続されたPMOSトランジスタ204,205のゲート及びNMOSトランジスタ206のゲートに接続される。前記第1のNMOSトランジスタ209のソースは、第2のNMOSトランジスタ210のドレインに接続される。該第2のNMOSトランジスタ210のソースはGndに接続される。該PMOSトランジスタ207,208のゲート及びNMOSトランジスタ209,210のゲートは共に、インバータ211及びGndに接続される。該インバータ211は、低電圧源VccL及びGndに接続され、入力信号IN(例えば、Vin=VccL)を受信する。
PMOSドライバトランジスタ220がオフ(すなわち、LED202がオフ)であるとき、ドライバPMOS220のゲートはVccHである。NMOSトランジスタ203がGndに結合されるため、NMOSトランジスタ213,203をまたぐ電圧はVccHになる。この場合、VccHにより引き起こされる電圧ストレス(Vstress)は、2つのNMOSトランジスタ213,203にわたって分散される。2つのトランジスタにわたって電圧ストレスが分散されるため、NMOSトランジスタ203等の単一のトランジスタにわたる電圧ストレスが低減される。このため、該分散されたVccHの値が高くなって例えばNMOSトランジスタ213及び/又は203のドレイン-ソース接合のブレークダウンが生じる可能性が低下する。1つ又は2つ以上の更なるトランジスタ(NMOSトランジスタ213等)を挿入することによりトランジスタを多段にすれば、NMOSトランジスタ(例えばトランジスタ203,213)を損傷させ早期に故障させる危険性を低下させることが可能となる。
更に、PMOSトランジスタ201がオフ状態にあるときに該PMOSトランジスタ201からNMOSトランジスタ213,203へと流れる漏れ電流を防止するために、図示するように第1ステージインバータ回路260が挿入される。上述したように、VccH−VccL>Vth(Vthはトランジスタ201のしきい値電圧)である場合、トランジスタ201は、そのゲート電圧を一層高い電圧へ(例えばVccLからVccHへ)と上昇させない限り、完全にはオフにならないことになる。PMOSトランジスタ201のゲート電圧を上昇させるために、第1ステージインバータ回路260の出力が図示のようにPMOSトランジスタ201のゲートに結合される。該第1ステージインバータ回路260は、PMOSトランジスタ204,205並びにNMOSトランジスタ206を含む。PMOSトランジスタ204,205がオンになると、該PMOSトランジスタ205のソースがPMOSトランジスタ201のゲートに上昇した電圧(VccH)を提供することになる。該上昇した電圧VccHは、PMOSトランジスタ201を完全にオフにするものとなり、これによりNMOSトランジスタ213,203への漏れ電流の流入が防止される。
第1ステージインバータ回路260の挿入によって回路200の論理が反転される。この反転を防止して該論理の一貫性を維持するために、該第1ステージインバータ回路260に第2ステージインバータ回路270が接続される。更に複数のインバータステージを回路200内に挿入することが可能であることが理解されよう。第2ステージインバータ回路270の追加は、電流及び/又は電圧ストレスを、該第2ステージインバータ回路270のNMOSトランジスタ209,210等の特定の構成要素へと更に分散させるものとなる(以下で更に詳述する)。しかし、抵抗285が、NMOSトランジスタ209と直列に挿入されて、PMOSトランジスタ207,208のドレイン・ソース抵抗値(Rds)が増大される。該抵抗285は、第2ステージインバータ回路270の経路を通るパルス電流を制限する。ドレイン・ソース抵抗値を増大させることにより、ドライバPMOS220がオン及びオフに切り換わる際にNMOSトランジスタ209,210を通るパルス電流が低減される。抵抗285の値は、数Ω(例えば、1〜100Ω)〜数百Ω(例えば、100〜900Ω)の範囲とすることが可能である。抵抗285の抵抗値が高いほど、パルス電流が低減されることになるが、その結果として、回路200の立ち上がり/立ち下がり時間が遅くなり得る。
第1及び第2ステージインバータ回路260,270は、LED202がオフ状態にあるときにPMOSトランジスタ201及びNMOSトランジスタ213,203にわたる電圧ストレスの低減に資するものとなる。上述したように、LED202をオフにするために、PMOSトランジスタ220のゲート電圧が高電圧源VccHへと引き上げられる。この場合には、Vstress=VccHが、NMOSトランジスタ213及びNMOSトランジスタ203間で分散される。更に、PMOSトランジスタ201のゲート電圧及びNMOSトランジスタ213,203のゲート電圧は低レベル(Gnd)である。換言すれば、第1ステージインバータ回路260の出力電圧は低レベル(Gnd)である。第1ステージインバータ回路260の出力電圧が低レベル(Gnd)であるため、PMOSトランジスタ204,205が共にVstress=VccHを共有することになる。このため、電圧ストレスは、第1ステージインバータ回路260の構成要素(例えばPMOSトランジスタ204,205)に分散される。
第1ステージインバータ回路260の出力が低レベルであるとき、これは、該第1ステージインバータ回路260の入力又は第2ステージインバータ回路270の出力が高電圧源VccHであることを意味している。第2ステージインバータ回路270の出力がVccHである場合には、Vstress=VccHは抵抗285及びNMOSトランジスタ209,210間で分散される。この場合も、電圧ストレスが複数の構成要素間に分散されて、トランジスタが損傷する可能性が低下する。
上述のように、例えばPMOSトランジスタ201及びNMOSトランジスタ203が受ける電圧及び/又は電流ストレスが低減される。例えば、電圧及び/又は電流ストレスは、PMOSトランジスタ204,205,207,208、NMOSトランジスタ213,203,209,210、及び抵抗285といった構成要素全体にわたって分散される。電圧及び/又は電流ストレスの低減により、トランジスタのブレークダウンを防止し、及びトランジスタの寿命を長くすることが可能となる。
以下においては、本発明の種々の構成要件の組み合わせからなる例示的な実施形態を示す。
1.マルチステージ発光ダイオード(LED)ドライバ回路であって、
LEDに接続されたドライバトランジスタであって、該LEDが該ドライバトランジスタのドレインに接続され、該ドライバトランジスタが該LEDへ電流を駆動する、ドライバトランジスタと、
前記ドライバトランジスタのゲートとグランドとの間に接続された第1のトランジスタスタックと、
該第1のトランジスタスタックの共通のゲートに接続された第1のインバータステージであって、高電圧源とグランドとの間に接続されている、第1のインバータステージと、
該第1のインバータステージの共通のゲートに接続された第2のインバータステージであって、前記高電圧源とグランドとの間に接続されている、第2のインバータステージと、
前記高電圧源と前記ドライバトランジスタのゲートとの間に接続された第1のトランジスタであって、そのゲートが前記第1のインバータステージに接続されている、第1のトランジスタと
を含む、マルチステージLEDドライバ回路。
2.前記第1のトランジスタスタックが、
互いに直列に接続された一対のNMOSトランジスタであって、該一対のNMOSトランジスタのうちの第1のNMOSトランジスタのドレインが前記ドライバトランジスタのゲートに接続され、該一対のNMOSトランジスタのうちの第2のNMOSトランジスタのソースがグランドに接続されている、一対のNMOSトランジスタ
を含む、前項1に記載の回路。
3.前記ドライバトランジスタ及び前記第1のトランジスタがPMOSトランジスタである、前項1に記載の回路。
4.前記第1のインバータステージが、
互いに直列に接続された第1の一対のPMOSトランジスタと、
1つのNMOSトランジスタとを含み、
前記第1の一対のPMOSトランジスタが前記高電圧源と前記NMOSトランジスタとの間に接続され、該NMOSトランジスタのソースがグランドに接続され、前記第1の一対のPMOSトランジスタ及び前記NMOSトランジスタのゲートが前記第2のインバータステージに共通に接続されている、前項1に記載の回路。
5.前記第2のインバータステージが、
互いに直列に接続された第2の一対のPMOSトランジスタと、
互いに直列に接続された一対のNMOSトランジスタを含む第1のNMOSトランジスタスタックと、
1つの抵抗とを含み、
前記第2の一対のPMOSトランジスタが、前記高電圧源と前記抵抗との間に接続され、前記第1のNMOSトランジスタスタックが、前記抵抗とグランドとの間に接続され、前記第2の一対のPMOSトランジスタのうちの一方のPMOSトランジスタのドレインが、前記第1のインバータステージの共通に接続されたゲートに接続され、前記第2の一対のPMOSトランジスタのゲート及び前記第1のNMOSトランジスタスタックが、1つのインバータに共通に接続される、前項4に記載の回路。
6.発光ダイオード(LED)ドライバ回路であって、
第1の電圧を出力する第1のインバータステージと、
第2の電圧を出力する第2のインバータステージと、
互いに直列に接続された第1の一対のNMOSトランジスタを含む第1のトランジスタスタックと、
該第1のトランジスタスタックの一方のNMOSトランジスタにドレインが接続されたPMOSトランジスタであって、そのゲートと前記第1のトランジスタスタックの前記第1の一対のNMOSトランジスタのゲートとが、前記第1のインバータステージの前記第1の出力電圧を受容するよう共通に接続されている、PMOSトランジスタと、
該PMOSトランジスタのドレインと前記第1のトランジスタスタックの一方のNMOSトランジスタのドレインとにゲートが接続されたドライバトランジスタと、
該ドライバトランジスタのドレインとグランドとの間に接続されたLEDとを含み、
該LEDがオフである場合に、前記ドライバトランジスタのゲート電圧が高レベルになり、前記第1の出力電圧が低レベルになり、及び前記第2の出力電圧が高レベルになる、LEDドライバ回路。
7.前記LEDがオンである場合に、前記ドライバトランジスタのゲート電圧が低レベルになり、前記第1の出力電圧が高レベルになり、及び前記第2の出力電圧が低レベルになる、前項6に記載の回路。
8.前記ドライバトランジスタがPMOSトランジスタである、前項6に記載の回路。
9.前記第1のインバータステージが、
互いに直列に接続された第1の一対のPMOSトランジスタと、
NMOSトランジスタとを含み、
前記第1の一対のPMOSトランジスタが、高電圧源と前記NMOSトランジスタとの間に接続され、該NMOSトランジスタのソースがグランドに接続され、該NMOSトランジスタのゲートと前記第1の一対のPMOSトランジスタのゲートとが前記第2のインバータステージに共通に接続される、前項6に記載の回路。
10.前記第2のインバータステージが、
互いに直列に接続された第2の一対のPMOSトランジスタと、
互いに直列に接続された第2の一対のNMOSトランジスタを含む第2のトランジスタスタックと、
1つの抵抗とを含み、
前記第2の一対のPMOSトランジスタが、前記高電圧源と前記抵抗との間に接続され、前記第2のNMOSトランジスタスタックが、前記抵抗とグランドとの間に接続され、前記第2の一対のPMOSトランジスタの一方のPMOSトランジスタのドレインが、前記第1のインバータステージのゲートに共通に接続される、前項6に記載の回路。
11.前記第2の一対のPMOSトランジスタのゲートと前記第2のNMOSトランジスタスタックのゲートとが共通に接続されたインバータを更に含む、前項10に記載の回路。
12.発光ダイオードドライバ回路であって、
発光ダイオード(LED)と、
該LEDに接続されたPMOSドライバトランジスタであって、そのドレインに該LEDが接続され、及び該LEDに電流を駆動する、PMOSドライバトランジスタと、
該ドライバトランジスタのゲートとグランドとの間に接続された第1のトランジスタスタックであって、互いに直列に接続された一対のNMOSトランジスタを含む、第1のトランジスタスタックと、
高電圧源と前記PMOSドライバトランジスタのゲートとの間に接続された第1のPMOSトランジスタとを含み、
前記PMOSドライバトランジスタが前記LEDへ電流を駆動していない場合に、前記PMOSドライバトランジスタのゲートが前記高電圧源の電圧となり、前記第1のトランジスタスタックが前記一対のNMOSトランジスタにわたって電圧ストレスを分散させる、LEDドライバ回路。
13.前記ドライバトランジスタが前記LEDへ電流を駆動しており該LEDがオンである場合に前記PMOSドライバトランジスタのゲートがグランド電圧である、前項12に記載の回路。
14.前記第1のトランジスタスタックの共通のゲートに接続された第1のインバータステージであって、前記高電圧源とグランドとの間に接続されている、第1のインバータステージを更に含む、前項12に記載の回路。
15.前記第1のインバータステージが、
互いに直列に接続された第1の一対のPMOSトランジスタと、
1つのNMOSトランジスタとを含み、
前記第1の一対のPMOSトランジスタが前記高電圧源と前記NMOSトランジスタとの間に接続され、該NMOSトランジスタのソースがグランドに接続され、前記第1の一対のPMOSトランジスタのゲート及び前記NMOSトランジスタのゲートが前記第2のインバータステージに共通に接続されている、前項14に記載の回路。
16.前記第1のインバータステージの共通のゲートに接続された第2のインバータステージであって、前記高電圧源とグランドとの間に接続されている、第2のインバータステージを更に含む、前項14に記載の回路。
17.前記PMOSドライバトランジスタが前記LEDへ電流を駆動していない場合に前記第2のインバータステージの出力電圧がグランド電圧である、前項16に記載の回路。
18.前記PMOSドライバトランジスタが前記LEDへ電流を駆動している場合に前記第2のインバータステージの出力電圧が高電圧源の電圧である、前項16に記載の回路。
19.前記第2のインバータステージが、
互いに直列に接続された第2の一対のPMOSトランジスタと、
互いに直列に接続された第2の一対のNMOSトランジスタを含む第2のNMOSトランジスタスタックと、
1つの抵抗とを含み、
前記第2の一対のPMOSトランジスタが、前記高電圧源と前記抵抗との間に接続され、前記第2のNMOSトランジスタスタックが、前記抵抗とグランドとの間に接続され、前記第2の一対のPMOSトランジスタの一方のPMOSトランジスタのドレインが、前記第1のインバータステージのゲートに共通に接続され、及び前記第2の一対のPMOSトランジスタのゲートと前記第2のNMOSトランジスタスタックのゲートとが1つのインバータに共通に接続される、前項16に記載の回路。
20.前記ドライバ回路が前記LEDへ電流を駆動していない場合に、前記PMOSドライバトランジスタのゲート電圧が前記高電圧源の電圧であり、前記第1のPMOSトランジスタのゲート電圧がグランド電圧である、前項12に記載の回路。
発光ダイオード(LED)ドライバ回路を示している。 マルチステージ入力回路を含むLEDドライバ回路を示している。
符号の説明
200 マルチステージLEDドライバ回路
201 PMOSトランジスタ
202 LED
203,213 NMOSトランジスタ
204 第1のPMOSトランジスタ
205 第2のPMOSトランジスタ
206 NMOSトランジスタ
207 第1のPMOSトランジスタ
208 第2のPMOSトランジスタ
209 第1のNMOSトランジスタ
210 第2のNMOSトランジスタ
211 インバータ
219 抵抗
220 PMOSドライバトランジスタ
260 第1ステージインバータ回路
270 第2ステージインバータ回路
285 抵抗
VccH 高電圧源
VccL 低電圧源
Vstress 電圧ストレス
Istress 電流ストレス

Claims (10)

  1. マルチステージ発光ダイオード(LED)ドライバ回路であって、
    LED(202)に接続されたドライバトランジスタ(220)であって、該LED(202)が該ドライバトランジスタ(220)のドレインに接続され、該ドライバトランジスタ(220)が該LED(202)へ電流を駆動する、ドライバトランジスタ(220)と、
    前記ドライバトランジスタ(220)のゲートとグランドとの間に接続された第1のトランジスタスタック(213,203)と、
    該第1のトランジスタスタック(213,203)の共通のゲートに接続された第1のインバータステージ(260)であって、高電圧源とグランドとの間に接続されている、第1のインバータステージ(260)と、
    該第1のインバータステージ(260)の共通のゲートに接続された第2のインバータステージ(270)であって、前記高電圧源とグランドとの間に接続されている、第2のインバータステージ(270)と、
    前記高電圧源と前記ドライバトランジスタ(220)のゲートとの間に接続された第1のトランジスタ(201)であって、そのゲートが前記第1のインバータステージ(260)に接続されている、第1のトランジスタ(201)と
    を含む、マルチステージLEDドライバ回路。
  2. 前記第1のトランジスタスタック(213,203)が、
    互いに直列に接続された一対のNMOSトランジスタ(213,203)であって、該一対のNMOSトランジスタのうちの第1のNMOSトランジスタ(213)のドレインが前記ドライバトランジスタのゲートに接続され、該一対のNMOSトランジスタのうちの第2のNMOSトランジスタ(203)のソースがグランドに接続されている、一対のNMOSトランジスタ(213,203)
    を含む、請求項1に記載の回路。
  3. 前記第1のインバータステージ(260)が、
    互いに直列に接続された第1の一対のPMOSトランジスタ(204,205)と、
    1つのNMOSトランジスタ(206)とを含み、
    前記第1の一対のPMOSトランジスタ(204,205)が前記高電圧源と前記NMOSトランジスタ(206)との間に接続され、該NMOSトランジスタ(206)のソースがグランドに接続され、前記第1の一対のPMOSトランジスタ(204,205)及び前記NMOSトランジスタ(206)のゲートが前記第2のインバータステージ(270)に共通に接続されている、請求項1又は請求項2に記載の回路。
  4. 前記第2のインバータステージ(270)が、
    互いに直列に接続された第2の一対のPMOSトランジスタ(207,208)と、
    互いに直列に接続された一対のNMOSトランジスタ(209,210)を含む第1のNMOSトランジスタスタック(209,210)と、
    1つの抵抗(285)とを含み、
    前記第2の一対のPMOSトランジスタ(207,208)が、前記高電圧源と前記抵抗(285)との間に接続され、前記第1のNMOSトランジスタスタック(209,210)が、前記抵抗(285)とグランドとの間に接続され、前記第2の一対のPMOSトランジスタ(207,208)のうちの一方のPMOSトランジスタ(208)のドレインが、前記第1のインバータステージ(260)の共通に接続されたゲートに接続され、前記第2の一対のPMOSトランジスタ(207,208)のゲート及び前記第1のNMOSトランジスタスタック(209,210)が、1つのインバータ(211)に共通に接続される、請求項1又は請求項3に記載の回路。
  5. 発光ダイオード(LED)ドライバ回路であって、
    第1の電圧を出力する第1のインバータステージ(260)と、
    第2の電圧を出力する第2のインバータステージ(270)と、
    互いに直列に接続された第1の一対のNMOSトランジスタ(213,203)を含む第1のトランジスタスタック(213,203)と、
    該第1のトランジスタスタック(213,203)の一方のNMOSトランジスタ(213)にドレインが接続されたPMOSトランジスタ(201)であって、そのゲートと前記第1のトランジスタスタック(213,203)の前記第1の一対のNMOSトランジスタ(213,203)のゲートとが、前記第1のインバータステージ(260)からの前記第1の出力電圧を受容するよう共通に接続されている、PMOSトランジスタ(201)と、
    該PMOSトランジスタ(201)のドレインと前記第1のトランジスタスタック(213,203)の一方のNMOSトランジスタ(213)のドレインとにゲートが接続されたドライバトランジスタ(220)と、
    該ドライバトランジスタ(220)のドレインとグランドとの間に接続されたLED(202)とを含み、
    該LED(202)がオフである場合に、前記ドライバトランジスタ(220)のゲート電圧が高レベルになり、前記第1の出力電圧が低レベルになり、及び前記第2の出力電圧が高レベルになる、LEDドライバ回路。
  6. 前記LED(202)がオンである場合に、前記ドライバトランジスタ(220)のゲート電圧が低レベルになり、前記第1の出力電圧が高レベルになり、及び前記第2の出力電圧が低レベルになる、請求項5に記載の回路。
  7. 前記ドライバトランジスタ(220)がPMOSトランジスタである、請求項5に記載の回路
  8. 前記第1のインバータステージ(260)が、
    互いに直列に接続された第1の一対のPMOSトランジスタ(204,205)と、
    NMOSトランジスタ(206)とを含み、
    前記第1の一対のPMOSトランジスタ(204,205)が、高電圧源と前記NMOSトランジスタ(206)との間に接続され、該NMOSトランジスタ(206)のソースがグランドに接続され、該NMOSトランジスタ(206)のゲートと前記第1の一対のPMOSトランジスタ(204,205)のゲートとが前記第2のインバータステージ(270)に共通に接続される、請求項5又は請求項6に記載の回路。
  9. 前記第2のインバータステージ(270)が、
    互いに直列に接続された第2の一対のPMOSトランジスタ(207,208)と、
    互いに直列に接続された第2の一対のNMOSトランジスタ(209,210)を含む第2のトランジスタスタック(209,210)と、
    1つの抵抗(285)とを含み、
    前記第2の一対のPMOSトランジスタ(207,208)が、前記高電圧源と前記抵抗(285)との間に接続され、前記第2のNMOSトランジスタスタック(209,210)が、前記抵抗(285)とグランドとの間に接続され、前記第2の一対のPMOSトランジスタ(207,208)の一方のPMOSトランジスタ(208)のドレインが、前記第1のインバータステージ(260)のゲートに共通に接続される、請求項5又は請求項6に記載の回路。
  10. 発光ダイオードドライバ回路であって、
    発光ダイオード(LED)(202)と、
    該LED(202)に接続されたPMOSドライバトランジスタ(220)であって、そのドレインに該LED(202)が接続され、及び該LED(202)に電流を駆動する、PMOSドライバトランジスタ(220)と、
    該ドライバトランジスタ(220)のゲートとグランドとの間に接続された第1のトランジスタスタック(213,203)であって、互いに直列に接続された一対のNMOSトランジスタ(213,203)を含む、第1のトランジスタスタック(213,203)と、
    高電圧源と前記PMOSドライバトランジスタ(220)のゲートとの間に接続された第1のPMOSトランジスタ(201)とを含み、
    前記PMOSドライバトランジスタ(220)が前記LED(202)へ電流を駆動していない場合に、前記PMOSドライバトランジスタ(220)のゲートが前記高電圧源の電圧となり、前記第1のトランジスタスタック(213,203)が前記一対のNMOSトランジスタ(213,203)にわたり電圧ストレスを分散させる、LEDドライバ回路。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7181836B2 (en) * 2003-12-19 2007-02-27 General Electric Company Method for making an electrode structure
US20090237126A1 (en) * 2008-03-24 2009-09-24 Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Gate driver for switching power mosfet
TWI413354B (zh) * 2010-12-27 2013-10-21 Au Optronics Corp 驅動電路及採用此驅動電路之照明設備

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01154575A (ja) * 1987-12-11 1989-06-16 Seiko Epson Corp Led駆動用集積回路
JPH10200045A (ja) * 1997-01-10 1998-07-31 Fujitsu Ltd 発光素子の保護装置及び発光素子の保護方法
JP2004048170A (ja) * 2002-07-09 2004-02-12 Natl Space Development Agency Of Japan インバータ、半導体論理回路、スタティックランダムアクセスメモリ、及びデータラッチ回路

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010009697A (ko) * 1999-07-13 2001-02-05 윤종용 차폐선을 구비한 반도체 집적회로
US6825820B2 (en) 2000-08-10 2004-11-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device
US6803801B2 (en) * 2002-11-07 2004-10-12 Lsi Logic Corporation CMOS level shifters using native devices
JP2004361424A (ja) 2003-03-19 2004-12-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 素子基板、発光装置及び発光装置の駆動方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01154575A (ja) * 1987-12-11 1989-06-16 Seiko Epson Corp Led駆動用集積回路
JPH10200045A (ja) * 1997-01-10 1998-07-31 Fujitsu Ltd 発光素子の保護装置及び発光素子の保護方法
JP2004048170A (ja) * 2002-07-09 2004-02-12 Natl Space Development Agency Of Japan インバータ、半導体論理回路、スタティックランダムアクセスメモリ、及びデータラッチ回路

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