JP2007036177A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2007036177A5
JP2007036177A5 JP2005369029A JP2005369029A JP2007036177A5 JP 2007036177 A5 JP2007036177 A5 JP 2007036177A5 JP 2005369029 A JP2005369029 A JP 2005369029A JP 2005369029 A JP2005369029 A JP 2005369029A JP 2007036177 A5 JP2007036177 A5 JP 2007036177A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
light
mirror
interference fringes
diffraction grating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005369029A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4720489B2 (ja
JP2007036177A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2005369029A priority Critical patent/JP4720489B2/ja
Priority claimed from JP2005369029A external-priority patent/JP4720489B2/ja
Priority to US11/425,005 priority patent/US7426222B2/en
Publication of JP2007036177A publication Critical patent/JP2007036177A/ja
Publication of JP2007036177A5 publication Critical patent/JP2007036177A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4720489B2 publication Critical patent/JP4720489B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (12)

  1. レーザ発生源からのレーザ光の少なくとも一部を受光し、干渉縞を生じさせる光学素子と、
    上記干渉縞が並ぶ方向に2つのディテクタが配列され、各ディテクタが上記干渉縞の光量を検出する第1の2分割ディテクタと、
    上記干渉縞が並ぶ方向に2つのディテクタが配列され、各ディテクタが上記干渉縞の光量を検出すると共に、上記干渉縞の光の光路と直交する面上で、上記第1の2分割ディテクタと上記干渉縞のほぼ1/4周期の奇数倍の間隔でもって配置された第2の2分割ディテクタと、
    上記第1の2分割ディテクタが有する2つのディテクタの検出信号の第1の差信号を演算する演算手段と、
    上記第2の2分割ディテクタが有する2つのディテクタの検出信号の第2の差信号を演算する演算手段と、
    上記第1および第2の差信号の一方の差信号を選択する選択手段と、
    選択された上記第1および第2の差信号の一方の差信号の値に基づいて、上記レーザ光の波長の判定を行う判定手段とを備えたレーザ装置。
  2. 請求項1において、
    上記レーザ発生源は半導体レーザであり、
    上記半導体レーザと上記光学素子との間に、上記半導体レーザからのレーザ光を受光し、所定の波長の1次回折光を上記半導体レーザに向けて出射し、0次光を出力光として反射する回折格子とをさらに備えたレーザ装置。
  3. 請求項1において、
    上記レーザ発生源は半導体レーザであり、
    上記半導体レーザからのレーザ光を受光し、所定の波長の1次回折光を上記半導体レーザに向けて出射し、0次光を反射する回折格子と、
    上記回折格子によって反射された0次光を反射するミラーと、
    上記回折格子と上記ミラーの開き角を一定に維持した状態で、上記回折格子及びミラーを支持すると共に、上記回折格子の表面の延長線と上記ミラーの表面の延長線との交点を支点として、回転自在に上記回折格子と上記ミラーを支持する支持手段とをさらに備えたレーザ装置。
  4. 請求項1、請求項2、または請求項3において、
    上記光学素子と上記第1および第2の2分割ディテクタの間で、上記干渉縞の間隔を変更するようにしたレーザ装置。
  5. 請求項1、請求項2、または請求項3において、
    上記干渉縞の光の光路に対して傾いた面上に上記第1および第2の2分割ディテクタが配置されたレーザ装置。
  6. 請求項において、
    上記ミラーが半透過ミラーとされ、上記半透過ミラーの透過光が入射され、波長を検出する他の波長検出手段をさらに有するレーザ装置。
  7. レーザ発生源からのレーザ光の少なくとも一部を受光し、干渉縞を生じさせる光学素子と、
    上記干渉縞が並ぶ方向に順に第1の間隔で配列された第1および第2のディテクタと、
    上記干渉縞が並ぶ方向に順に第2の間隔で配列された第2および第3のディテクタと、
    上記第1のディテクタの検出信号と上記第2のディテクタの検出信号の第1の差信号を演算する演算手段と、
    上記第2のディテクタの検出信号と上記第3のディテクタの検出信号の第2の差信号を演算する演算手段と、
    上記第1および第2の差信号の一方の差信号を選択する選択手段と、
    選択された上記第1および第2の差信号の一方の差信号の値に基づいて、上記レーザ光の波長の判定を行う判定手段とを備え、
    上記干渉縞の1周期2πに対して、上記干渉縞の光の光路と直交する面上における、上記第1の間隔および上記第2の間隔がほぼ(2π/3,π/3)、またはほぼ(2π/3,2π/3)とされたレーザ装置。
  8. 請求項7において、
    上記レーザ発生源は半導体レーザであり、
    上記半導体レーザと上記光学素子との間に、上記半導体レーザからのレーザ光を受光し、所定の波長の1次回折光を上記半導体レーザに向けて出射し、0次光を出力光として反射する回折格子とをさらに備えたレーザ装置。
  9. 請求項7において、
    上記レーザ発生源は半導体レーザであり、
    上記半導体レーザからのレーザ光を受光し、所定の波長の1次回折光を上記半導体レーザに向けて出射し、0次光を反射する回折格子と、
    上記回折格子によって反射された0次光を反射するミラーと、
    上記回折格子と上記ミラーの開き角を一定に維持した状態で、上記回折格子及びミラーを支持すると共に、上記回折格子の表面の延長線と上記ミラーの表面の延長線との交点を支点として、回転自在に上記回折格子と上記ミラーを支持する支持手段とをさらに備えたレーザ装置。
  10. 請求項7、請求項8、または請求項9において、
    上記光学素子と上記第1および第2の2分割ディテクタの間で、上記干渉縞の間隔を変更するようにしたレーザ装置。
  11. 請求項7、請求項8、または請求項9において、
    上記干渉縞の光の光路に対して傾いた面上に上記第1および第2の2分割ディテクタが配置されたレーザ装置。
  12. 請求項において、
    上記ミラーが半透過ミラーとされ、上記半透過ミラーの透過光が入射され、波長を検出する他の波長検出手段をさらに有するレーザ装置。
JP2005369029A 2005-06-21 2005-12-22 レーザ装置 Expired - Fee Related JP4720489B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005369029A JP4720489B2 (ja) 2005-06-21 2005-12-22 レーザ装置
US11/425,005 US7426222B2 (en) 2005-06-21 2006-06-19 Laser apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005181035 2005-06-21
JP2005181035 2005-06-21
JP2005369029A JP4720489B2 (ja) 2005-06-21 2005-12-22 レーザ装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2007036177A JP2007036177A (ja) 2007-02-08
JP2007036177A5 true JP2007036177A5 (ja) 2009-02-05
JP4720489B2 JP4720489B2 (ja) 2011-07-13

Family

ID=37573036

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005369029A Expired - Fee Related JP4720489B2 (ja) 2005-06-21 2005-12-22 レーザ装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7426222B2 (ja)
JP (1) JP4720489B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008186923A (ja) * 2007-01-29 2008-08-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd 外部共振器型レーザ光源装置
JP2012199359A (ja) * 2011-03-22 2012-10-18 Sony Corp レーザー照射装置および微小粒子測定装置
CN107764524B (zh) * 2017-10-11 2023-11-28 深圳市深龙杰科技有限公司 一种基于激光检测的3d打印精度监测装置
CN109698463A (zh) * 2019-03-06 2019-04-30 潍坊科技学院 一种电子光学分析系统提供有波长可调谐激光器

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3197869B2 (ja) * 1998-03-31 2001-08-13 アンリツ株式会社 波長可変レーザ光源装置
US6795459B2 (en) * 2000-10-18 2004-09-21 Fibera, Inc. Light frequency locker
EP1248333A1 (en) * 2001-04-02 2002-10-09 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Wavelenght stabilised optical source
US6859469B2 (en) * 2001-12-11 2005-02-22 Adc Telecommunications, Inc. Method and apparatus for laser wavelength stabilization
US6859284B2 (en) * 2002-12-02 2005-02-22 Picarro, Inc. Apparatus and method for determining wavelength from coarse and fine measurements
JP2005159000A (ja) * 2003-11-26 2005-06-16 Sony Corp 半導体レーザ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5795532B2 (ja) レーザ自己混合測定装置
KR101545075B1 (ko) 한정영역 반사형 광전센서
JP2007010659A5 (ja)
US7738112B2 (en) Displacement detection apparatus, polarization beam splitter, and diffraction grating
US11199400B2 (en) Optical angle sensor
TWI452262B (zh) 同時量測位移及傾角之干涉儀系統
JP4181119B2 (ja) 斜入射干渉計用干渉縞パターン弁別器
JP2007036177A5 (ja)
RU2008125819A (ru) Измерительное устройство, экспонирующее устройство и способ изготовления устройства
JP6427399B2 (ja) 変位検出装置
JP2003227914A5 (ja)
JP2007178281A (ja) チルトセンサ及びエンコーダ
JP5295900B2 (ja) チルトセンサ
JP7497122B2 (ja) 光学式変位センサ
JP5421677B2 (ja) 光干渉計を用いた変位計測装置
JP7141313B2 (ja) 変位検出装置
US9739598B2 (en) Device for interferential distance measurement
JP2006145466A5 (ja)
JP2020012784A (ja) 光学式角度センサ
JPH07234171A (ja) 反射効率測定装置および回折効率測定装置
JP2004347465A (ja) 光電式エンコーダ
JP7139177B2 (ja) 光学式角度センサ
JP2009186254A (ja) 光線角度検出器
US8169599B2 (en) Device and method for measuring parts
JP2005274429A (ja) 形状測定装置