JP2007035873A - 直列コンデンサ - Google Patents
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Abstract
【課題】コンデンサを２つ以上直列に配置した場合でも、コストを低減する。
【解決手段】直列に接続された容量の異なる第１及び第２コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）を備える直列コンデンサにおいて、第２コンデンサＣ２の容量を第１コンデンサＣ１の容量より大きくし、第２コンデンサの公差を第１コンデンサの公差よりも大きくした。
【選択図】図１
【解決手段】直列に接続された容量の異なる第１及び第２コンデンサ（Ｃ１、Ｃ２）を備える直列コンデンサにおいて、第２コンデンサＣ２の容量を第１コンデンサＣ１の容量より大きくし、第２コンデンサの公差を第１コンデンサの公差よりも大きくした。
【選択図】図１
Description
本発明は２個以上のコンデンサを直列に接続した直列コンデンサに関する。
従来において、セラミックコンデンサは、小型で高精度な用量を確保できる特徴があるが、反面、衝撃や歪に弱く、本体にクラックが入るなどして、リークする危険がある。このため、重要な部位にセラミックコンデンサを使用する場合は、コンデンサを直列に接続し、万一一方のコンデンサがリークしても、もう片側で絶縁を確保することで、安全に機能が満たされるように配慮するのが一般的である。
例えば、特許文献１では、アクティブマトリクスアレイの信号保持用コンデンサとして２個のコンデンサを直列に接続したものを用いている。
特公平０７−１０９４５９号公報（第１図及び第２図参照）
しかしながら、タイマーなどの高精度な容量が要求される部位では、高精度のコンデンサを２つ直列に接続した場合、部品費が高くなる。例えば、１００ｐＦ±２％の容量が必要な場合、２００ｐＦ±２％のコンデンサを二つ直列に接続せねばならない。
そこで、本発明においては、コンデンサを２つ以上直列に配置した場合でも、コストを低減することを課題とする。
上記した課題を解決するために講じた技術的手段は、直列に接続された容量の異なる第１及び第２コンデンサを備える直列コンデンサにおいて、第２コンデンサの容量を第１コンデンサの容量より大きくし、第２コンデンサの公差を第１コンデンサの公差よりも大きくしたことである。
直列に接続された２つの第１，第２コンデンサの合成容量Ｃは、それぞれ第１，第２コンデンサの容量をＣ１，Ｃ２とすると、Ｃ＝（Ｃ１×Ｃ２）／（Ｃ１＋Ｃ２）であらわされる。例えば、１００ｐＦ±２％のコンデンサを実現しようとした場合、Ｃ１＝１００ｐＦ±２％の第１コンデンサに直列にＣ２＝０．１μＦ±２０％（１０００００ｐＦ）の第２コンデンサを使用した場合の合成容量は、９７．９〜１０１．９ｐＦとなり、Ｃ２の公差の影響をほとんど受けることなく高精度の容量を維持できることがわかる。したがって、第２コンデンサとして、公差は大きいが、部品単価の安いコンデンサとなるので、全体として安価になる。この場合でも、直列コンデンサの容量のばらつきを抑えることができる上、第１コンデンサ及び第２コンデンサのいずれか一方がリークしても、直列コンデンサの両端としては、他方のコンデンサにより絶縁を確保できる。
本発明の技術的手段によれば、コンデンサを２つ以上直列に配置した場合でも、コストを低減できる。
本発明に従った実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１に本発明の直列コンデンサを適用した回路例を示す。図１において、直流電源電圧Ｖｃｃとグランドの間に制御装置ＣＰＵが接続されている。制御装置ＣＰＵはマイクロコンピュータやゲートアレイなどの制御装置で、電源電圧Ｖｃｃを使って作動し図示しない出力回路を制御するものである。第１コンデンサＣ１及び第２コンデンサＣ２は直列に接続されて直列コンデンサとなっている。この直列コンデンサに一端は制御装置ＣＰＵの入力端子に接続されている。またこの一端は抵抗Ｒ１を介して電源電圧Ｖｃｃに接続されている。直列コンデンサの他端はグランドに接続されている。
第１コンデンサＣ１及び第２コンデンサＣ２はセラミックコンデンサであり、第１コンデンサＣ１の容量は１００ｐＦで公差（精度）は±２％、第２コンデンサＣ１の容量は０．１μＦで公差（精度）は±２０％としている。
制御装置ＣＰＵは入力端子に接続された直列コンデンサへの充放電に応じて所定の制御を行う。例えば、時定数の設定に使うことができる。
直列コンデンサの平均容量はＣ＝（Ｃ１×Ｃ２）／（Ｃ１＋Ｃ２）であらわされるので、（１００ｐＦ×１０００００ｐＦ）／（１００ｐＦ＋１０００００ｐＦ）＝９９．９０ｐＦとなる。コンデンサの精度を加味すると、容量の最低値は（９８ｐＦ×８００００ｐＦ）／（９８ｐＦ＋８００００ｐＦ）＝９７．８８ｐＦ、最大値は（１０２ｐＦ×１２００００ｐＦ）／（１０２ｐＦ＋１２００００ｐＦ）＝１０１．９１ｐＦとなる。すなわち、ほぼ９９．９ｐＦ±２％が達成できている。
直列コンデンサの用途としては、このほか、電源の両端への接続や制御装置ＣＰＵの電源端子とグランド端子の間に接続などにより、電圧変動や外部から飛来するノイズの影響などを直列コンデンサが吸収し、制御装置ＣＰＵの両端に加わる電圧を安定化させるような用い方も可能である。
Ｃ１ 第１コンデンサ
Ｃ２ 第２コンデンサ
Ｃ２ 第２コンデンサ
Claims (1)
- 直列に接続された容量の異なる第１及び第２コンデンサを備える直列コンデンサにおいて、第２コンデンサの容量を第１コンデンサの容量より大きくし、第２コンデンサの公差を第１コンデンサの公差よりも大きくしたことを特徴とする直列コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005216309A JP2007035873A (ja) | 2005-07-26 | 2005-07-26 | 直列コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005216309A JP2007035873A (ja) | 2005-07-26 | 2005-07-26 | 直列コンデンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007035873A true JP2007035873A (ja) | 2007-02-08 |
Family
ID=37794769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005216309A Pending JP2007035873A (ja) | 2005-07-26 | 2005-07-26 | 直列コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2007035873A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012163394A (ja) * | 2011-02-04 | 2012-08-30 | Hitachi Electric Systems Ltd | 非接触電圧検出装置 |
| JP2014135815A (ja) * | 2013-01-09 | 2014-07-24 | Kyushu Univ | 伝送システム、受電装置及び送電装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08168371A (ja) * | 1994-06-16 | 1996-07-02 | Bio Rad Lab Inc | 高電圧電流プロファイルを送るトランスフェクション制御装置 |
| JP2001037089A (ja) * | 1999-07-26 | 2001-02-09 | Shizuki Electric Co Inc | コンデンサ蓄電装置 |
| JP2005101280A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | コンデンサ集合体 |
-
2005
- 2005-07-26 JP JP2005216309A patent/JP2007035873A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08168371A (ja) * | 1994-06-16 | 1996-07-02 | Bio Rad Lab Inc | 高電圧電流プロファイルを送るトランスフェクション制御装置 |
| JP2001037089A (ja) * | 1999-07-26 | 2001-02-09 | Shizuki Electric Co Inc | コンデンサ蓄電装置 |
| JP2005101280A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | コンデンサ集合体 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012163394A (ja) * | 2011-02-04 | 2012-08-30 | Hitachi Electric Systems Ltd | 非接触電圧検出装置 |
| JP2014135815A (ja) * | 2013-01-09 | 2014-07-24 | Kyushu Univ | 伝送システム、受電装置及び送電装置 |
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