JP2007033369A - 座標補正装置、座標補正方法、および、これに用いられるプログラム - Google Patents
座標補正装置、座標補正方法、および、これに用いられるプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007033369A JP2007033369A JP2005220332A JP2005220332A JP2007033369A JP 2007033369 A JP2007033369 A JP 2007033369A JP 2005220332 A JP2005220332 A JP 2005220332A JP 2005220332 A JP2005220332 A JP 2005220332A JP 2007033369 A JP2007033369 A JP 2007033369A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correction
- measurement target
- measurement
- target point
- correction amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 178
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 218
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 13
- 230000006870 function Effects 0.000 description 25
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 238000013461 design Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】 撮像された画像からパターン位置を検出して、予め与えられた基準対するずれ量を求めるずれ量検出機能22aと、検出されたずれ量から得られたずれを補正する座標線形補正機能22bと、撮像から測定までの一連の手順を制御する測定制御機能22cとを構築する。
【選択図】 図1
Description
測定試料をXY平面において変位させると共に、測定試料の画像を取得する測定系と、測定系において取得した画像に基づいて座標の線形補正分の補正量を求める情報処理系とを備え、
前記情報処理系は、
撮像視野内での測定対象点の、基準位置を基に対するずれ量を検出する手段と、
測定対象位置に移動するための座標を、既に測定された測定対象点についての前記ずれ量を用いて線形補正分について補正量を求める線形補正手段と、を有し、
前記線形補正手段は、既に測定された測定対象点のずれ量に基づいて計算される補正量が、次の測定対象点での線形補正分を反映するかを判定し、反映する場合には、その補正量に基づいて、次の測定対象点を決め、反映しない場合には、これまでの測定対象点による補正量が次の測定対象点の線形補正分を反映していない場合には、それらの測定対象点のずれ量に基づく補正量を用いず、次の測定対象点に対して線形補正分が反映されると、判定されるまで、さらなる測定対象点についての測定を行わせること、を特徴とする。
(1)既知のパターン位置がお互いに近い場合、測定試料全面の線形補正分を反映していない。
(2)補正係数を求めるための既知のパターン位置がお互いに直線に近い場合、面を形成することができず、直線方向と直角方向の補正精度が悪化する。
(a)近傍データでの問題改善
図6に示すように、測定経路62に沿って配置される、最初の測定対象点3点が近傍に存在し、4点目が離れている場合について考える。通常は、補正量を計算した最初の3点の線形補正分が4点目への移動に際し使用される。しかし、図6に示すような測定対象点の分布の場合、最初の3点での線形ひずみが、その周辺のみを反映したものである。そのため、試料全面での補正量を反映していない。従って、十分な精度の補正値でない可能性がある。
(b)直線並びの問題改善
図7に示すように、最初の測定対象点3点が、測定経路63に沿って、直線に近い並びで存在し、4点目が直線に対し直角方向に離れている場合について考える。この場合、補正量を計算した最初の3点の線形分が4点目への移動に際し使用される。しかし、最初の3点での線形ひずみがその周辺のみを反映したものであり、試料全面での補正量を反映していない。このため、十分な精度の補正値でない可能性がある。
(c)近距離連続測定時の問題改善
測定試料上において、図9に示す測定経路65のように、測定対象を、座標の移動距離の近い点から連続して計測して行く場合について考える。この場合、次点への補正計算をできるだけ最新のデータを用いて行ったほうが、目的の移動座標に近い線形成分をもとに補正計算を行うことになるため、補正精度の向上が見込める。例えば、図9において、3点目から4点目への移動は、1〜3点のデータ、4点目から5点目への移動時には、2〜4点のデータを利用し、その後も同じシーケンスで計算を行う。
(d)目標座標近傍データを使用することによる補正精度改善
測定試料上において、図10に示すように、測定経路66が点群の存在領域から一旦離れた点に移り、再び元の点群の近傍に位置する点に進む場合を考える。この場合には、図10に示すように、測定対象位置5点目への移動時に、目的座標の近傍にある既知の測定対象点1〜3点のみを評価することによって補正量を計算する。この計算結果を用いて、次の測定対象点への移動時の座標補正に反映する。
Claims (7)
- 測定試料をXY平面において変位させると共に、測定試料の画像を取得する測定系と、測定系において取得した画像に基づいて座標の線形補正分の補正量を求める情報処理系とを備え、
前記情報処理系は、
撮像視野内での測定対象点の、基準位置を基にずれ量を検出する手段と、
測定対象位置に移動するための座標を、既に測定された測定対象点についての前記ずれ量を用いて線形補正分について補正量を求める線形補正手段と、を有し、
前記線形補正手段は、既に測定された測定対象点のずれ量に基づいて計算される補正量が、次の測定対象点での線形補正分を反映するかを判定し、反映する場合には、その補正量に基づいて、次の測定対象点を決め、反映しない場合には、これまでの測定対象点による補正量が次の測定対象点の線形補正分を反映していない場合には、それらの測定対象点のずれ量に基づく補正量を用いず、次の測定対象点に対して線形補正分が反映されると、判定されるまで、さらなる測定対象点についての測定を行わせること、を特徴とする座標補正装置。 - 請求項1に記載の座標補正装置において、
前記線形補正手段は、測定対象点への移動に先立ち、試料平面上での既知の座標を結んだ多角形を基に線形補正量の計算を行い、この補正量を基に移動を行い、
既知の座標での補正量計算に際し、座標間の距離が一定値以内の場合、その計算結果として得られた補正量は、試料全体の線形補正量を反映していないと判断し、補正計算の対象から外すこと、を特徴とする座標補正装置。 - 請求項1に記載の座標補正装置において、
前記線形補正手段は、前記補正量計算において、既知の座標を結んだ多角形が幅、長さの比で一定値以上である場合、面を形成せず直線に近いと判断し、得られた補正量は、試料全体の線形補正量を反映していないと判断し、補正計算の対象から外すこと、を特徴とする座標補正装置。 - 請求項1に記載の座標補正装置において、
前記線形補正手段は、前記補正計算において、測定対象を座標の移動距離の近い点から連続して計測して行く場合、最新のデータ数点のみを評価することにより補正量を計算し、次の測定対象点への移動時の座標補正に反映すること、を特徴とする座標補正装置。 - 請求項1に記載の座標補正装置において、
前記線形補正手段は、前記補正計算において、測定対象点座標の近傍にある既知の測定対象点のみを評価する事により補正量を計算し、次の測定対象点への移動時の座標補正に反映すること、を特徴とする座標補正装置。 - 測定試料をXY平面において変位させると共に、測定試料の画像を取得する測定系により取得した画像に基づいて座標の線形補正分の補正量を求める座標補正方法において、
撮像視野内での測定対象点の、基準位置を基に対するずれ量を検出し、
測定対象位置に移動するための座標を、既に測定された測定対象点についての前記ずれ量を用いて線形補正分について補正量を算出し、
前記補正量の算出は、既に測定された測定対象点のずれ量に基づいて計算される補正量が、次の測定対象点での線形補正分を反映するかを判定し、反映する場合には、その補正量に基づいて、次の測定対象点を決め、反映しない場合には、これまでの測定対象点による補正量が次の測定対象点の線形補正分を反映していない場合には、それらの測定対象点のずれ量に基づく補正量を用いず、次の測定対象点に対して線形補正分が反映されると、判定されるまで、さらなる測定対象点についての測定を行わせること、を特徴とする座標補正方法。 - 測定試料をXY平面において変位させると共に、測定試料の画像を取得する測定系により取得した画像に基づいて座標の線形補正分の補正量を、情報処理装置により行うためのプログラムであって、
前記プログラムは、前記情報処理装置に、
撮像視野内での測定対象点の、基準位置を基に対するずれ量を検出する手段と、
測定対象位置に移動するための座標を、既に測定された測定対象点についての前記ずれ量を用いて線形補正分について補正量を求める線形補正手段と、を構築させ、
前記線形補正手段は、既に測定された測定対象点のずれ量に基づいて計算される補正量が、次の測定対象点での線形補正分を反映するかを判定し、反映する場合には、その補正量に基づいて、次の測定対象点を決め、反映しない場合には、これまでの測定対象点による補正量が次の測定対象点の線形補正分を反映していない場合には、それらの測定対象点のずれ量に基づく補正量を用いず、次の測定対象点に対して線形補正分が反映されると、判定されるまで、さらなる測定対象点についての測定を行わせること、を特徴とする、線形補正の補正量を算出させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005220332A JP4882304B2 (ja) | 2005-07-29 | 2005-07-29 | 座標補正装置、座標補正方法、および、これに用いられるプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005220332A JP4882304B2 (ja) | 2005-07-29 | 2005-07-29 | 座標補正装置、座標補正方法、および、これに用いられるプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007033369A true JP2007033369A (ja) | 2007-02-08 |
JP4882304B2 JP4882304B2 (ja) | 2012-02-22 |
Family
ID=37792805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005220332A Active JP4882304B2 (ja) | 2005-07-29 | 2005-07-29 | 座標補正装置、座標補正方法、および、これに用いられるプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4882304B2 (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0274804A (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-14 | Canon Inc | 位置合わせ装置 |
JPH08233528A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 位置決め装置およびこれを利用した半導体ウエハの測定装置 |
JPH09283412A (ja) * | 1996-04-16 | 1997-10-31 | Mitsubishi Electric Corp | 重ね合わせ測定誤差補正方法 |
JP2003092248A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-03-28 | Canon Inc | 位置検出装置、位置決め装置及びそれらの方法並びに露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2003151874A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-23 | Nikon Corp | 位置検出方法、露光方法及び露光装置 |
JP2004273850A (ja) * | 2003-03-10 | 2004-09-30 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | パターン検査方法及び装置 |
JP2006215528A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-08-17 | Fujitsu Ltd | レチクル検査装置およびレチクル検査方法 |
-
2005
- 2005-07-29 JP JP2005220332A patent/JP4882304B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0274804A (ja) * | 1988-09-09 | 1990-03-14 | Canon Inc | 位置合わせ装置 |
JPH08233528A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 位置決め装置およびこれを利用した半導体ウエハの測定装置 |
JPH09283412A (ja) * | 1996-04-16 | 1997-10-31 | Mitsubishi Electric Corp | 重ね合わせ測定誤差補正方法 |
JP2003092248A (ja) * | 2001-09-17 | 2003-03-28 | Canon Inc | 位置検出装置、位置決め装置及びそれらの方法並びに露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2003151874A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-23 | Nikon Corp | 位置検出方法、露光方法及び露光装置 |
JP2004273850A (ja) * | 2003-03-10 | 2004-09-30 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | パターン検査方法及び装置 |
JP2006215528A (ja) * | 2005-01-05 | 2006-08-17 | Fujitsu Ltd | レチクル検査装置およびレチクル検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4882304B2 (ja) | 2012-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2007292679A5 (ja) | ||
JP2017015396A (ja) | 検査方法、検査装置、処理装置、プログラム及び記録媒体 | |
JP6379410B1 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法、およびプログラム | |
JP3958327B2 (ja) | 試料検査装置及び試料検査方法 | |
CN111263142A (zh) | 一种摄像模组光学防抖的测试方法、装置、设备及介质 | |
JP2006276454A (ja) | 画像補正方法、およびこれを用いたパターン欠陥検査方法 | |
WO2018168757A1 (ja) | 画像処理装置、システム、画像処理方法、物品の製造方法、プログラム | |
KR20140113449A (ko) | 묘화 데이터 생성 방법, 묘화 방법, 묘화 데이터 생성 장치, 및 묘화 장치 | |
JP4882304B2 (ja) | 座標補正装置、座標補正方法、および、これに用いられるプログラム | |
JP5136108B2 (ja) | 三次元形状計測方法および三次元形状計測装置 | |
JP6682469B2 (ja) | 座標検出方法および座標出力装置、欠陥検査装置 | |
JP2008014857A (ja) | プリント板の検査用座標取得装置、検査用座標取得方法、及び検査用座標取得プログラム | |
JP2009019907A (ja) | 検査装置 | |
KR20160117302A (ko) | 기준 위치 취득 방법, 기준 위치 취득 장치, 패턴 묘화 방법, 패턴 묘화 장치 및 기록 매체에 기록된 프로그램 | |
JP2022152480A (ja) | 3次元計測装置、3次元計測方法、プログラム、システム、及び物品の製造方法 | |
JP2012004664A (ja) | 画像処理装置、検査装置、画像処理方法および画像処理プログラム | |
JP6900261B2 (ja) | 処理装置、基板検査装置、処理方法および基板検査方法 | |
JP4261535B2 (ja) | マスク検査装置におけるアライメント方法および評価方法 | |
JP5417997B2 (ja) | 撮像検査方法 | |
JP2019139104A (ja) | パターン検査方法およびパターン検査装置 | |
JP6631225B2 (ja) | 三次元形状測定装置 | |
JP6225719B2 (ja) | 真直度測定装置、真直度測定方法、およびプログラム | |
CN117359135B (zh) | 振镜校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 | |
JP6862302B2 (ja) | 処理装置、基板検査装置、処理方法および基板検査方法 | |
JP7139953B2 (ja) | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080707 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110629 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110705 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110927 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111019 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111108 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111121 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4882304 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141216 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |