JP2007017444A5 - - Google Patents
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Description
本発明は電子部品テスト技術に関する。しかしながら、さらに詳細には、本発明は、電子部品をテストするための接点を用いるテストソケットに関する。テストソケットは、テスト対象の電子部品のリードあるいはパッドと、ロードボード上の対応するトレースとの間に電子経路を相互結合し、それをもたらす接点を含む。本発明は、テストソケットの対応接点により装置のリードあるいはパッドおよびロードボードにかかる力の制御および調整に焦点を合わせる。
集積回路装置のテストは、電子装置に対して可能な限り高度な品質管理を得るため、長年にわたって遵守された手順である。テスタは、典型的には、テスタ装置と関連するロ ードボード上に形成された複数の導電性トレースを含む。テストを実施するため、導通装置の導線、あるいは非導電装置のパッドを、ロードボード上の対応トレースに相互接続する必要がある。複数接点を備えたテストソケットは、相互接続を実施するため、テスト対象装置とロードボードとの間に介装される。1つの接点は、前端において、テスト対象装置の導線またはパッドを、ロードボード上の対応トレースと嵌合する。
米国特許第4,980,245号明細書
米国特許第5,069,629号明細書
米国特許第5,189,363号明細書
米国特許第5,609,489号明細書
米国特許第5,634,801号明細書
米国特許第6,231,353号明細書
米国特許第6,244,874号明細書
米国特許第6,572,388号明細書
米国特許第6,854,981号明細書
米国特許公開第2003/0068908号公報
米国特許公開第2004/0067665号公報
米国特許公開第2004/0248448号公報
長年にわたり、このような接点の形状および構成は、テストソケットの構成、ロードボ ード、テスト対象装置の構造に応じて発展してきた。以前は、良好な伝送経路をもたらすため、接触端部における係合の種々な位置でぬぐい作業を行なうことが必要と考えられていた。しかしながら、技術の進歩につれて、以前考えられていたより少ないぬぐい作業でも良好な伝送経路を維持することが必要であることが明白になってきた。さらに、過剰なぬぐい作業により係合のさまざまなポイントで構成部品に損傷をもたらし、テストソケットやテスタロードボードの寿命を顕著に縮めることが明らかとなった。従って、面対面の摩滅を最小限にするため、さまざまな試みがなされている。しかしながら、現在の最先端の技術では、テストソケットの効率を最大化するとともに、磨耗やそれに続く構成部品の劣化を最小化することの両方に対して適した構成を決めることができなかった。
本発明が目指すものは、従来技術のそのような問題点や指示に関する。本発明の利点は、発明の概要、発明の詳細な説明、付録請求項、添付図面を参照することでさらに明白になる。
本発明は改良型テストソケットである。これは、テスタロードボード面と係合する場所である第1面を備えたハウジングを含む。このハウジングは、ハウジングの第1面とほぼ平行で、それと離間した第2面を備えた。ハウジングの第2面は、第1面が対面する方向と反対に対面する。少なくとも1つのスロットは、その第1面と第2面との間のハウジングを通して延び、ハウジング内で形成される。接点は対応スロットで受け入れられる。このような接点は、テスト対象装置の対応リードあるいはパッドに係合するハウジングの第2面を突き抜けて垂直に延びる前端を備えた。接点はさらに、弓状面を形成する後端をもち、この弓状面は、テスタロードボード面に形成された対応トレースに対して係合する。この接点は、接点の前端がテスト対象装置のリードまたはパッドにより係合され、そのスロットに押し込まれると、接点の弓状面が、並進摺動及び回転摺動のいずれも発生するこ となくテスタロードボード面の対応トレース上を転がるようスロット内に弾性的に設けられる。これにより、接点とロードボードとの間の磨耗が実質的になくなる。
接点の後端は、ロードボードに対して係合する弓状面を形成することに加えて、その弓状面から角度をなして離間する、徐々に弓状になった面も形成する。この実施例において、ハウジングはスロット内の壁を形成する。この壁は接点の後端の徐々に弓状になった面と係合し、徐々に弓状になった面と壁との間の空間関係は、接点の前端がテスト対象装置のリードまたはパッドと係合して対応スロットに押し込まれると、徐々に弓状になった面が壁に沿って動き、接点の弓状面がその対応トレース上で転がる。ハウジングにより形成される壁が、ハウジングの第1面に対して鋭角をなして第1面から離間することが予測される。これにより、接点の弓状面が並進摺動及び回転摺動のいずれも発生することなくテスタロードボードのトレース上を転がることができる。
本発明はこれにより、従来技術の指示を扱い、その問題を解決する改良型テストソケットである。これらの機能の観点から得られるさらに詳細な機能や利点は、発明の詳細な説明、請求項、添付図面を参照することでさらに明白になる。
本発明の好ましい実施例では、接点の弾性取付けを行うため、スロットに対して直交するエラストマ対を用いる。前エラストマは、テスタロードボード面と接点との間のチャネル内に置かれる。前エラストマは、ハウジングにより規定された肩部が接点と係合し、ハウジングの第2面を越えて延びる距離を制限するために用いることができることから、あらかじめ圧縮される。これにより、あらかじめ圧縮する作業は、前エラストマを間に挟む接点とロードボードとで達成される。前エラストマは、接点がテスト対象装置のリードまたはパッドと係合してそれぞれのスロットに押し込まれるとさらに圧縮される。
後エラストマは、接点の後端に予圧をかける。これにより、テスタロードボード面上の対応トレースに対する各接点の後端の接触を維持する。
本発明は貴金属製接点として用いることができる。このような接点はロードボード寿命を延ばす。NeyoroG(登録商法)製の接点は、めっきのない固体金合金製接点である。このような材料により接点の寿命が延びることが見出された一方、同様にロードボー ドの寿命も延びる。接点に対してNeyoroG(登録商法)製材料を用いることで、ロ ードボードの寿命が、従来技術により公知のメカニズムでのロードボードの寿命より少なくとも2倍にできることがわかった。
本発明は貴金属製接点として用いることができる。このような接点はロードボード寿命を延ばす。NeyoroG(登録商法)製の接点は、めっきのない固体金合金製接点である。このような材料により接点の寿命が延びることが見出された一方、同様にロードボー ドの寿命も延びる。接点に対してNeyoroG(登録商法)製材料を用いることで、ロ ードボードの寿命が、従来技術により公知のメカニズムでのロードボードの寿命より少なくとも2倍にできることがわかった。
ここで図面を参照するが、この中で同様の参照番号は複数図を通して同様の要素を表しており、図1は本発明によるテストソケット10を示す。テストソケット10は、電子器具で用いられる集積回路の品質を確認するため、典型的に用いられるテスタとともに利用することが意図されている。テスタは、テスタと試験対象の集積回路装置18との間の電子通信を可能にするため、表面16上に形成された電導性トレース14を備えたテスタロ ードボード12との間でインタフェイスを取る。すなわち、電気信号がテスト対象装置18とテスト装置との間でテストソケット10を通して伝送される。
図1は、複数のリード20とともに提供される検査対象パッケージを示すが、それらリ ードのうちの1つだけが示されている。図1は、テスト対象装置18の一部だけを示しているが、実質的に同一のリードは装置パッケージ18の対向する側面の両方に沿って延び ることが理解される。
図1は、テスト対象装置18のリード20がテストソケット10の対応接点24に係合 して接触した場合に、リード20の曲げを防止するリード補助具をさらに示す。下向きの圧力が(図示されていない)プランジャ機構によりテスト対象装置18にかけられる。プランジャは、テスト実施時、弾性取り付けされた接点24によりかけられる上向きバイアスに打ち勝ち、接点24を押し下げる。図1は、テスト対象装置18が接点24と係合する前の接点24の正常位置を示す。同図ではさらに、プランジャがテスト対象装置をテスト位置まで押し下げた場合の接点位置を想像線にて示す。典型的には、プランジャが移動する軸に沿った接点24の前端26の移動距離は0.3ミリメートル程度である。以下で論じるとおり接点24の構成に関して、下縁の接点24の後端30における弓状面28は、並進摺動及び回転摺動のいずれも発生することなくロードボード12上の対応トレース14上を転がる。最適な方法として、トレース14にかかる衝撃を制限するため、弓状面28ができるだけ大きな曲率半径を備えたようにする。さらに、接点24は、対応テスト対象装置18のリード20に沿った接点24の前端26の並進滑動において、接点の前端に対するこすれは大きいが、装置18のリード20に対するこすれは最小限に抑えられる ように構成されている。例えば、本発明の1つの実施例において、装置18上の並進摺動 は0.041ミリメートルの程度である。
テストソケット10は、トレース14が形成されるテスタロードボード12の表面16に係合する第1面34を備えたハウジング32を含む。このハウジング32は、ハウジングの第1面とほぼ平行で、それと離間した第2面36を備えた。ハウジング32の第2面36は第1面34の反対側に対面する。前に論じたとおり、ハウジング32は複数の接点24をもつ。複数のスロット38が設けられるが、各スロットは接点24のうちの1つだけを受け入れる。
図2は、本発明による個々の接点を示す斜視図である。接点24は、第1、第2、第3の突出40,42,44を含む。第1突出40は、ロードボード12のトレース14に係 合する接点24の後端30に形成される。第3突出44は、テスト対象装置18のリード20またはパッドに係合する接点24の前端26により形成される。第2突出42は、以下で論じるとおり複数エラストマ46,48が設けられる場合、ハウジング32により形 成される肩部49に対して係合するよう機能する。第2突出42と肩部49との係合は、接点24の上方への移動の程度を制限するよう機能する。また、この係合は、接点24がテスト対象装置に係合しない場合に接点24の前端26がハウジング32の第2面36を越えて延びる距離を制限する。
再び図1を参照すると、テストソケット10は、ハウジング32内に形成されたスロット38により形成される面をほぼ横断する軸に沿って延びる一対のチャネル50,52を有する。これらのチャネル50,52は、接点24をスロット38に設けるよう機能するエラストマ46,48を受け入れるよう意図されたものである。図1は、大きい前エラストマ46を受けいれるほぼ円形のチャネル50と、小さい後部エラストマ48を受け入れる角形のチャネル52とを示す。後エラストマ48は予圧される。接点29の後端30の弓状面28がロードボード12に係合しているため、後エラストマ48はある位置におい て接点24の後端30の上縁に係合し、接点24の前端26を上に押し上げている。同様に、前エラストマ46も圧縮されており、接点24を上方に押し上げ、テスト対象集積回路装置18のリード24またはパッドに対して接触する位置に接点24を付勢するよう機能する。
前に述べたとおり、ロードボード12上のトレース14に係合する弓状面28は、ロー ドボード12のトレース14上において、並進摺動及び回転摺動のいずれも行わない。ま た、たとえ摺動するとしてもその摺動は無視できるほど僅かなものである。この理由は、スロット38の端部近くの第1面34に近いハウジング32内に形成される角度のついた壁54があるためである。接点24の後端30は、弓状面28を形成することに加えて、ハウジング32に形成される角度のついた壁54に係合する接点24の後端30の縁部で徐々に弓状になった面56も有する。接点24は、弓状面28のロードボードに対する接 触点がロードボードトレース14に沿って移動しながらも、そのトレース14上で滑動しないように、徐々に弓状になった面56とスロット38の端部に形成された角度のついた壁54とが相互作用するように配置される。この接触点の移動は事実上すべて転がり運動 である。(すなわち、トレース上における相対移動は、滑動なく表面上を転がる車輪の運 動と同様のものである。)これは徐々に弓状になる面56の形状に起因するものであるが 、この形状により徐々に弓状になる面56が角度のついた壁54に係合してこの壁54との接触を維持した状態にて接点24の後端30の弓状面28が並進滑動することなく転が ることができるようになっている。テスト対象装置18が引き出されると、逆方での転が りが起こる。
前で論じたとおり、装置の引き出しが行われると、接点24の上方への動きを制限するため、第2突出42が、ハウジング32に形成された肩部49に係合する。
また、テスト対象装置18による力の作用点は、接点24の後端30とロードボード12上のトレース14との係合点から比較的大きな距離で離間している点が指摘される。これにより、転がり運動により達成される利点(すなわち、ロードボードへの損傷等の最小 化)が大きくなる。
また、テスト対象装置18による力の作用点は、接点24の後端30とロードボード12上のトレース14との係合点から比較的大きな距離で離間している点が指摘される。これにより、転がり運動により達成される利点(すなわち、ロードボードへの損傷等の最小 化)が大きくなる。
さらに、貴金属製接点を本発明で使うこともできる。このような接点はロードボード寿命も延ばす。めっきをもたない固体金合金製接点であるNeyoroG(登録商法)製の接点の利用が考えられる。この材料は接点の寿命を延ばすだけでないことがわかった。この材料はまた、トレースに対する損傷を最小限にすることでロードボードの寿命も延ばす。ロードボードの寿命は従来技術で知られるもので構成された機構に比べて、少なくとも二倍になることがわかった。
この開示は、多くの点で、明示的なものでだけであることが理解される。本発明の適用範囲を逸脱することなく、詳細、特に形状、寸法、材料、部品配置に関して変更を行ってもよい。したがって、本発明の適用範囲は添付請求項の文言で定義されるとおりである。
Claims (8)
- テスタロードボード面に係合する第1面、同第1面に対して離間して平行に延びるとともに同第1面に対向する第2面、及びハウジング内に形成されるとともに前記第1面と第2面との間においてハウジング内を延びる少なくとも1つのスロットを有するハウジングと、
対応するスロットで受け入れられ、テスト対象装置の対応リードまたはパッドに係合す るように前記第2面を越えて延びる前端を有するとともに、テスタロードボード面上の対応トレースに係合する弓状面を形成する後端を備えた接点と、
前記対応するスロット内に前記接点を弾性的に保持するための手段と、を備え、
前記接点の前端がテスト対象装置のリードまたはパッドに係合して対応するスロットに押し込まれる際に、並進摺動及び回転摺動のいずれも発生することなく前記対応トレース 上を前記弓状面が転がるテストソケット。 - 請求項1によるテストソケットであって、前記接点の後端が、弓状面から角度をなして離 間する、徐々に弓状になる面を形成し、前記ハウジングが、スロット内において、前記接点の後端の徐々に弓状になる面と係合する壁を形成し、これにより、前記接点の前記前端がテスト対象装置のリードまたはパッドと係合して対応スロット内に押しこまれると、前記接点の前記徐々に弓状になる面が前記壁に沿って動き、前記弓状面が対応トレース上に おいて転がるテストソケット。
- 請求項2によるテストソケットであって、前記壁が、前記ハウジングの前記第1面に対して鋭角をなして同第1面から離間するところのテストソケット。
- 請求項1によるテストソケットであって、前記接点を弾性的に設けるための手段が、接点によりあらかじめ圧縮され、さらに、前記接点の前記前端がテスト対象装置のリードまたはパッドに係合してスロット内に押し込まれると、接点によりさらに圧縮される前エラス トマを備えるテストソケット。
- 請求項4によるテストソケットであって、前記接点を弾性的に設けるための手段がさらに、テスタロードボード面上の対応トレースに対して接点の後端に予圧をかける後エラストマを備えるところのテストソケット。
- 請求項5によるテストソケットであって、さらに、接点に係合し、前記ハウジングの前記第2面を越えて延びる接点の距離を制限するため、前記ハウジングに形成される肩部を備えるテストソケット。
- 互いに対向する面と、これら面の間に延びる複数スロットとを備えたハウジングであって、
各対応スロットで受け入れられ、テスト対象装置のリードまたはパッドにより係合され るハウジングの対向する面のうちの1つを超えて延びる前端を備えた接点と、さらにロー ドボード面上の対応トレースに係合する弓状面を形成する後端を備えた接点とを含む複数の接点と、
テスト対象でありスロット内に押し込まれる装置のリードまたはパッドとの係合に応じて接点が動くと、後端にある接点の弓状面が並進摺動及び回転摺動のいずれも発生するこ となく対応トレース上を転がるよう対応スロット内に各接点を設けるための手段と
を備えるテストソケット。 - 請求項7によるテストソケットであって、前記接点がNeyoroG(登録商法)を用い て製造されたものであるところのテストソケット。
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Families Citing this family (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7639026B2 (en) * | 2006-02-24 | 2009-12-29 | Johnstech International Corporation | Electronic device test set and contact used therein |
| JP5134803B2 (ja) * | 2006-10-05 | 2013-01-30 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
| JP5134805B2 (ja) * | 2006-10-12 | 2013-01-30 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
| JP2009043591A (ja) | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Yamaichi Electronics Co Ltd | Icソケット |
| US7686621B2 (en) * | 2008-03-12 | 2010-03-30 | Sigmatel, Inc. | Integrated circuit test socket having elastic contact support and methods for use therewith |
| US8278955B2 (en) | 2008-03-24 | 2012-10-02 | Interconnect Devices, Inc. | Test interconnect |
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| JP5029969B2 (ja) * | 2008-11-12 | 2012-09-19 | 山一電機株式会社 | 電気接続装置 |
| TW201027849A (en) | 2009-01-13 | 2010-07-16 | Yi-Zhi Yang | Connector |
| USD668625S1 (en) * | 2010-07-22 | 2012-10-09 | Titan Semiconductor Tool, LLC | Integrated circuit socket connector |
| KR200455379Y1 (ko) * | 2011-06-13 | 2011-09-01 | 나경화 | 반도체 칩 테스트용 핀 및 그를 포함한 반도체 칩 테스트용 소켓 |
| MY175570A (en) * | 2012-03-20 | 2020-07-01 | Jf Microtechnology Sdn Bhd | Multiple rigid contact solution for ic testing |
| US9274141B1 (en) | 2013-01-22 | 2016-03-01 | Johnstech International Corporation | Low resistance low wear test pin for test contactor |
| TWI500222B (zh) * | 2013-07-12 | 2015-09-11 | Ccp Contact Probes Co Ltd | 連接器組合 |
| US9425529B2 (en) | 2014-06-20 | 2016-08-23 | Xcerra Corporation | Integrated circuit chip tester with an anti-rotation link |
| KR101594993B1 (ko) * | 2014-10-10 | 2016-02-17 | 정요채 | 반도체 패키지용 테스트 소켓 |
| US9343830B1 (en) * | 2015-06-08 | 2016-05-17 | Xcerra Corporation | Integrated circuit chip tester with embedded micro link |
| US9958499B1 (en) | 2015-07-07 | 2018-05-01 | Johnstech International Corporation | Constant stress pin tip for testing integrated circuit chips |
| US10436819B1 (en) | 2015-07-07 | 2019-10-08 | Johnstech International Corporation | Constant pressure pin tip for testing integrated circuit chips |
| TWI567846B (zh) * | 2015-08-19 | 2017-01-21 | 創意電子股份有限公司 | 測試單元與使用其的測試裝置 |
| US10101360B2 (en) * | 2016-11-02 | 2018-10-16 | Xcerra Corporation | Link socket sliding mount with preload |
| PH12018050194A1 (en) * | 2017-05-18 | 2019-02-04 | Jf Microtechnology Sdn Bhd | Manufacturing process for kelvin contact assembly housing |
| JP7046527B2 (ja) * | 2017-08-15 | 2022-04-04 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
| CN111164434B (zh) * | 2017-09-25 | 2022-10-28 | 约翰国际有限公司 | 用于集成电路测试的具有测试引脚和壳体的高隔离接触器 |
| US10985480B2 (en) | 2018-04-30 | 2021-04-20 | GITech Inc. | Transformation connector |
| US11047878B2 (en) | 2018-04-30 | 2021-06-29 | GITech Inc. | Electrical connector |
| US11067603B2 (en) | 2018-04-30 | 2021-07-20 | GITech Inc. | Connector having contact members |
| USD942290S1 (en) * | 2019-07-12 | 2022-02-01 | Johnstech International Corporation | Tip for integrated circuit test pin |
| CN110320390B (zh) * | 2019-08-08 | 2021-12-10 | 深圳市研测科技有限公司 | 一种引脚保护型二极管测试用夹持工装 |
| US11289836B2 (en) * | 2020-07-23 | 2022-03-29 | International Business Machines Corporation | Land grid array electrical contact coating |
| CA3194156A1 (en) * | 2020-10-02 | 2022-04-07 | Bob CHARTRAND | Housing with anti-dislodge capability |
| US11906576B1 (en) | 2021-05-04 | 2024-02-20 | Johnstech International Corporation | Contact assembly array and testing system having contact assembly array |
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| JP2024540287A (ja) * | 2021-11-03 | 2024-10-31 | ジョンズテック インターナショナル コーポレイション | 垂直バックストップを備えるハウジング |
| USD1042346S1 (en) | 2022-04-05 | 2024-09-17 | Johnstech International Corporation | Contact pin for integrated circuit testing |
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Family Cites Families (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4980245A (en) * | 1989-09-08 | 1990-12-25 | Precision Concepts, Inc. | Multi-element metallic composite article |
| US5189363A (en) * | 1990-09-14 | 1993-02-23 | Ibm Corporation | Integrated circuit testing system having a cantilevered contact lead probe pattern mounted on a flexible tape for interconnecting an integrated circuit to a tester |
| US5069629A (en) * | 1991-01-09 | 1991-12-03 | Johnson David A | Electrical interconnect contact system |
| US5634801A (en) * | 1991-01-09 | 1997-06-03 | Johnstech International Corporation | Electrical interconnect contact system |
| US5207584A (en) * | 1991-01-09 | 1993-05-04 | Johnson David A | Electrical interconnect contact system |
| FR2703839B1 (fr) * | 1993-04-09 | 1995-07-07 | Framatome Connectors France | Connecteur intermédiaire entre carte de circuit imprimé et substrat à circuits électroniques. |
| US5594355A (en) * | 1994-07-19 | 1997-01-14 | Delta Design, Inc. | Electrical contactor apparatus for testing integrated circuit devices |
| US5609489A (en) * | 1994-12-21 | 1997-03-11 | Hewlett-Packard Company | Socket for contacting an electronic circuit during testing |
| US5938451A (en) * | 1997-05-06 | 1999-08-17 | Gryphics, Inc. | Electrical connector with multiple modes of compliance |
| MY128129A (en) * | 1997-09-16 | 2007-01-31 | Tan Yin Leong | Electrical contactor for testing integrated circuit devices |
| JP3577416B2 (ja) * | 1997-11-25 | 2004-10-13 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
| JP2000156268A (ja) * | 1998-11-18 | 2000-06-06 | Kasasaku Electronics:Kk | Icソケット及びicソケット用コンタクトピン |
| US6794890B1 (en) | 1999-07-27 | 2004-09-21 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Test socket, method of manufacturing the test socket, test method using the test socket, and member to be tested |
| JP2002093541A (ja) | 2000-09-19 | 2002-03-29 | Miyazaki Oki Electric Co Ltd | Icソケット |
| KR100351676B1 (ko) * | 2000-10-12 | 2002-09-05 | 주식회사 우영 | 콘택핀 및 이것을 구비한 집적회로 패키지 테스트용 소켓 |
| US20040067665A1 (en) * | 2001-05-31 | 2004-04-08 | Tomohiro Nakano | Socket connector and contact for use in a socket connector |
| US20030068908A1 (en) * | 2001-08-31 | 2003-04-10 | Brandt Jeffrey J. | Electrical contact for improved wiping action |
| US6854981B2 (en) * | 2002-06-03 | 2005-02-15 | Johnstech International Corporation | Small pin connecters |
| US7059866B2 (en) * | 2003-04-23 | 2006-06-13 | Johnstech International Corporation | integrated circuit contact to test apparatus |
| SG129245A1 (en) * | 2003-04-29 | 2007-02-26 | Tan Yin Leong | Improved probe for integrated circuit test socket |
| WO2006114895A1 (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 電気的接続装置 |
| JP2009043591A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Yamaichi Electronics Co Ltd | Icソケット |
-
2006
- 2006-07-07 US US11/482,644 patent/US7445465B2/en active Active
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