JP2007010436A - 温度推定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 発熱性電子部品の温度を、発熱性電子部品から離れた温度センサを用いて正確に推定する。
【解決手段】 モータMの駆動状態に対応した相関を示す係数kを記憶装置30に記憶しておき、駆動装置としてのモータMの駆動状態をモータ回転速度センサ53で検出し、モータMの回転速度Nに応じた係数を推定温度変化量算出手段10が取得する。取得した係数kと温度センサ52による検出温度の温度変化量ΔTSとに基づいて、FET51の推定温度変化量ΔT(n)を推定温度変化量算出手段が算出する。
そして、推定値算出手段20により、今回の推定温度T(n)を、前回の推定温度T(n−1)と、算出された推定温度変化量ΔT(n)とに基づいて算出する。
【選択図】 図2
【解決手段】 モータMの駆動状態に対応した相関を示す係数kを記憶装置30に記憶しておき、駆動装置としてのモータMの駆動状態をモータ回転速度センサ53で検出し、モータMの回転速度Nに応じた係数を推定温度変化量算出手段10が取得する。取得した係数kと温度センサ52による検出温度の温度変化量ΔTSとに基づいて、FET51の推定温度変化量ΔT(n)を推定温度変化量算出手段が算出する。
そして、推定値算出手段20により、今回の推定温度T(n)を、前回の推定温度T(n−1)と、算出された推定温度変化量ΔT(n)とに基づいて算出する。
【選択図】 図2
Description
本発明は、電子部品の温度推定装置に関する。
一般に、電子部品は通電によって発熱する。そして、発熱により電子部品が劣化または損傷するおそれがある場合には、電子部品の近傍に温度センサを設け、温度センサが検出した温度に応じて電子部品の動作を制御することがある。
例えば、特許文献1では、電動パワーステアリングの制御において、通電量から求まるジュール熱と、温度センサにより検出された温度とに基づいて、電磁リレーの温度を推定し、モータの過熱を防止する技術が開示されている。
また、特許文献2では、制御部の推定温度Tを、
推定温度T=スタート時温度TS+温度上昇値DT(=T−TE)
により算出する方法が開示されている。
例えば、特許文献1では、電動パワーステアリングの制御において、通電量から求まるジュール熱と、温度センサにより検出された温度とに基づいて、電磁リレーの温度を推定し、モータの過熱を防止する技術が開示されている。
また、特許文献2では、制御部の推定温度Tを、
推定温度T=スタート時温度TS+温度上昇値DT(=T−TE)
により算出する方法が開示されている。
しかし、電子部品の温度を直接測定できない場合に、推定温度が不正確であると、制御によって不要に電子部品の性能を制限することがある。
そこで、本発明は、電子部品の温度を直接測定できない場合に、正確かつ簡易に電子部品の温度を推定することを課題とする。
そこで、本発明は、電子部品の温度を直接測定できない場合に、正確かつ簡易に電子部品の温度を推定することを課題とする。
前記した課題を解決するため、本発明は、駆動装置の駆動制御回路に実装され、通電により発熱する発熱性電子部品の推定温度を算出する温度推定装置であって、前記発熱性電子部品の温度に相関する温度になる位置に配置された温度検出手段と、前記駆動装置の駆動状態に対応した前記相関を示す係数kを記憶する係数記憶手段と、前記駆動装置の駆動状態を検出する駆動状態検出手段によって検出された駆動状態に対応する係数kを前記係数記憶手段から取得し、取得した係数kと前記温度検出手段による検出温度TSの温度変化量ΔTSとに基づいて、前記発熱性電子部品の推定温度変化量ΔT(n)を算出する推定温度変化量算出手段と、今回の推定温度T(n)を、前回の推定温度T(n−1)と、算出された推定温度変化量ΔT(n)とに基づいて算出する推定値算出手段とを備える。
この温度推定装置によれば、駆動装置の駆動状態に応じて、推定温度変化量算出手段が取得する係数kが変化する。つまり、駆動装置の駆動状態により、発熱性電子部品の発熱量が異なるため、駆動状態に応じた係数kを用いることで、より正確な温度推定が可能となる。
なお、本明細書において、変数に続く(n)は、今回の計算値であることを示し、(n−1)は、前回の計算値であることを示す。
なお、本明細書において、変数に続く(n)は、今回の計算値であることを示し、(n−1)は、前回の計算値であることを示す。
そして、前記推定値算出手段は、前回の推定温度T(n−1)と、算出された推定温度変化量ΔT(n)とに基づいて算出した温度より、前記温度検出手段による検出温度TSが大きい場合には、前記検出温度TSを今回の推定温度T(n)とするのが望ましい。
発熱性電子部品が熱源であり、通常、温度検出手段が発熱性電子部品と接触せずに配置されていることからも温度検出手段で検出される検出温度TSより発熱性電子部品の推定温度T(n)が高温になることはない。そのため、温度検出手段による温度が、何らかの異常により算出された推定温度よりも大きくなった場合には、推定温度が誤っている可能性があるので、温度検出手段で検出した温度を今回の推定温度とすることで、推定温度の誤りを小さくすることができる。その結果、推定温度を利用する装置の誤動作を抑制することができる。
また、前記推定温度変化量算出手段は、前記温度検出手段による検出温度TSの温度変化量ΔTSに基づき温度が上昇しているか否かを判定する温度上昇判定部を有し、前記温度上昇判定部によって温度が上昇していると判定された場合には前記係数記憶手段から前記駆動手段の駆動状態に応じて変化する値を取得し、上昇していると判定されなかった場合には一定値を取得することができる。
温度検出手段により検出される温度が上昇しているとき、つまり、発熱性電子部品が発熱しているときは、駆動装置の駆動状態により発熱の程度が異なるので、係数kは駆動状態により異なる値とするのがよいが、温度が上昇していない場合には、駆動装置が停止していると考えられ、自然に放熱している状態なので、発熱性電子部品の冷却特性は一定となる。そのため、係数kとして一定値を取得することで、処理を簡単にしながら正確に発熱性電子部品の温度を推定することができる。また、計算負荷の増大による発熱を抑制することができる。
前記した温度推定装置においては、例えば、前記駆動装置は、電動モータであって、前記駆動状態は、前記電動モータの回転速度である。このとき、前記係数kは、前記電動モータが回転している場合には、前記回転速度が小さい程大きくなるように設定すると、低回転ほど発熱性電子部品の発熱量が増す場合に、より推定温度が正確になる。そこで、係数kを回転速度が低いほど大きくなるように設定することで、この性質を発熱性電子部品の温度の推定に反映させることができる。
また、前記温度推定装置は、少なくとも前記発熱性電子部品と、前記温度検出手段とが、一のケース内に収容されている場合に特に有効に適用することができる。このような場合は、空気が流通しにくく、空気の拡散による影響を受けないので、温度検出手段による推定精度が高くなる。また、発熱性電子部品と温度検出手段を同じ位置に配置する必要がないので、ケース内のレイアウトの自由度が高くなる。
なお、ここでのケースは、空気の流通が少ないものであればよく、密封されている場合に限らず、温度変化に伴う空気の容積変化を許容するための隙間や小孔が形成されていてもよい。
なお、ここでのケースは、空気の流通が少ないものであればよく、密封されている場合に限らず、温度変化に伴う空気の容積変化を許容するための隙間や小孔が形成されていてもよい。
本発明によれば、モータなどの駆動装置の駆動状態に応じて適切に発熱性電子部品の温度を推定することができる。
次に、本発明の実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。
本実施形態では、温度推定装置が適用される一例として、車両安定化制御や、アンチロックブレーキ制御を行う車両用ブレーキ液圧制御装置の電子部品を例に説明する。
参照する図面において、図1は、本発明の温度推定装置が適用される車両用ブレーキ液圧制御装置の例を示す概略図であり、図2は、本発明の温度推定装置のブロック図である。
本実施形態では、温度推定装置が適用される一例として、車両安定化制御や、アンチロックブレーキ制御を行う車両用ブレーキ液圧制御装置の電子部品を例に説明する。
参照する図面において、図1は、本発明の温度推定装置が適用される車両用ブレーキ液圧制御装置の例を示す概略図であり、図2は、本発明の温度推定装置のブロック図である。
図1に示すように、本発明の温度推定装置Aは、車両用ブレーキ液圧制御装置Bが有するコントロールハウジング400内に設けられている。車両用ブレーキ液圧制御装置Bは、基体100と、基体100の一端面に取り付けられた電動モータMと、基体100の他端面に取り付けられた、ケースとしてのコントロールハウジング400と、コントロールハウジング400内に収容された駆動制御回路としての制御基板Cとを備えて構成されている。
制御基板Cは、一例として、DCモータであるモータMを駆動する制御回路であるが、これに限定されるものではない。モータMは、基体100に装着されたポンプPの駆動に用いられる。なお、車両用ブレーキ液圧制御装置以外に本発明が適用される場合には、モータMは、例えば、電気自動車または燃料電池自動車の駆動装置、電動パワーステアリング、生産機械など、各種の機械の動力に使用されうる。
制御基板Cは、一例として、DCモータであるモータMを駆動する制御回路であるが、これに限定されるものではない。モータMは、基体100に装着されたポンプPの駆動に用いられる。なお、車両用ブレーキ液圧制御装置以外に本発明が適用される場合には、モータMは、例えば、電気自動車または燃料電池自動車の駆動装置、電動パワーステアリング、生産機械など、各種の機械の動力に使用されうる。
制御基板C上には、モータMを駆動するための電力を供給するFET(Field Effect Transistor)51が設けられている。FET51は、モータMに電力を供給する際に、大きな電流が流れ、ジュール熱により発熱する発熱性電子部品である。なお、発熱性電子部品としては、FETだけでなく、例えば、半導体や抵抗器、変圧器、CPU(Central Processing Unit)などがある。
制御基板CのFET51の近傍には、温度検出手段としての温度センサ52が配置されている。温度センサ52は、FET51からの伝導熱または放射熱などによりFET51の温度と相関が認められる範囲の場所に設置されていれば、その位置は特に問わないが、温度の推定精度を高めるためには、できるだけFET51に近い位置に配置されるのが望ましい。
図2に示すように、温度推定装置Aは、温度センサ52と、モータ回転速度センサ53と、推定温度変化量算出手段10と、推定値算出手段20と、係数記憶手段としての記憶装置30とを備えている。本実施形態では、推定温度変化算出手段10と、推定値算出手段20は、記憶装置30に記憶されたプログラムをCPUに実行させることにより実現される。
温度センサ52は、前記したように制御基板Cに設けられ、検出した温度TSを推定温度変化量算出手段10へ出力する。
モータ回転速度センサ53は、モータMの回転速度Nを検出する駆動状態検出手段としてのセンサである。このセンサとしては、例えばロータリエンコーダなどが使用できる。モータ回転速度センサ53は、モータMの回転速度Nを推定温度変化量算出手段10へ出力する。
なお、モータ回転速度センサ53を設ける代わりに、モータMに供給する電流の変化や、モータMを駆動する指令の信号からモータMの回転速度を取得することもできる。
なお、モータ回転速度センサ53を設ける代わりに、モータMに供給する電流の変化や、モータMを駆動する指令の信号からモータMの回転速度を取得することもできる。
記憶装置30は、半導体メモリなどの外部記憶装置であり、温度推定装置Aを機能させるためのプログラムや、推定温度変化量算出手段10が算出した推定温度変化量ΔT(n)、推定値算出手段20が算出した推定温度T(n)、温度センサ52が検出した温度TSなどを適宜記憶している。また、推定温度変化量算出手段10が、温度変化量の推定に使用するテーブル(マップ)、関数なども予め記憶されている。
推定温度変化量算出手段10は、温度センサ52から入力された温度TSと、モータ回転速度センサ53から入力された、モータMの駆動状態を示す回転速度Nとに基づいてFET51の推定温度T(n)の変化量ΔT(n)を算出する手段である。
推定温度変化量算出手段10は、温度上昇判定部11と、係数設定部12と、温度変化量推定部13とを備える。
推定温度変化量算出手段10は、温度上昇判定部11と、係数設定部12と、温度変化量推定部13とを備える。
温度上昇判定部11は、温度センサ52から入力された温度TSに基づいて、FET51の温度が上昇しているか、下降しているかを判断する。この判断は、記憶装置30に記憶している前回の温度TS(n−1)と今回検出した温度TS(n)とを比較して、温度変化量ΔTS=TS(n)−TS(n−1)の正負により判定することができる。つまり、ΔTSが正だった場合には、温度上昇中と判断でき、ΔTSが負だった場合には、温度下降中と判断することができる。
なお、ΔTSは、記憶装置30に記憶される。
なお、ΔTSは、記憶装置30に記憶される。
係数設定部12は、モータ回転速度センサ53から入力されたモータMの回転速度Nに基づき、推定温度変化量ΔT(n)を算出するのに用いる係数kを設定する。
具体的には、予め、モータMの回転速度Nと、係数kの関係テーブル(マップ)または関数として記憶装置30に記憶しておき、入力されたモータMの回転速度Nに基づいてその関係を参照して係数kを取得する。
この関係の例としては、例えば図3のような関係を示すことができる。図3の関係は、検出した温度TSが上昇中における、モータMの回転速度Nと係数kの関係を示したものである。なお、温度TSが上昇中のときの係数kをk1と示し、下降中のときの係数kをk2と示す(図3では不図示)。図3に示すように、係数k1は、回転速度Nが低くなるほど大きな値を採るように設定されている。これは、モータMを低速回転する場合ほど発熱量が増えるためである。
この発熱量についてより詳しく言えば、一般に、DCモータは、回転速度が低くなるほど流れる電流が大きくなる。また、発熱性電子部品であるFETをスイッチングする際には、逆起電圧がかかり、この逆起電圧は、流れる電流が大きいほど大きくなる。そのため、電動モータは、電流が大きくなる低速回転の時ほど逆起電圧が大きくなり、温度上昇も大きくなるといえる。
具体的には、予め、モータMの回転速度Nと、係数kの関係テーブル(マップ)または関数として記憶装置30に記憶しておき、入力されたモータMの回転速度Nに基づいてその関係を参照して係数kを取得する。
この関係の例としては、例えば図3のような関係を示すことができる。図3の関係は、検出した温度TSが上昇中における、モータMの回転速度Nと係数kの関係を示したものである。なお、温度TSが上昇中のときの係数kをk1と示し、下降中のときの係数kをk2と示す(図3では不図示)。図3に示すように、係数k1は、回転速度Nが低くなるほど大きな値を採るように設定されている。これは、モータMを低速回転する場合ほど発熱量が増えるためである。
この発熱量についてより詳しく言えば、一般に、DCモータは、回転速度が低くなるほど流れる電流が大きくなる。また、発熱性電子部品であるFETをスイッチングする際には、逆起電圧がかかり、この逆起電圧は、流れる電流が大きいほど大きくなる。そのため、電動モータは、電流が大きくなる低速回転の時ほど逆起電圧が大きくなり、温度上昇も大きくなるといえる。
モータMが停止しているとき(回転速度Nが0のとき)は、回転しているときよりも係数k1を小さい値、例えば0にする。これは、温度センサ52の温度変化のFET51の温度変化に対する遅れを考慮したものである。温度センサ52が検出する温度は、FET51が発生した熱により変化するため、FET51の温度変化に比べると、温度センサ52が検出する温度の変化は遅れる傾向にある。そのため、FET51が温度上昇中は、温度センサ52が検出した温度に大きな係数k1を用いてFET51の温度上昇を追いかけるように温度を推定するが、モータMが停止したときには、FET51の温度は下降を始めるので、温度推定装置Aで推定するモータMの温度もできるだけ早く下降を始めるべく、係数k1を0に設定している。
例えば、モータMが作動後、FET51が発熱して温度センサ52の温度も上昇した後、モータMが停止すると、FET51の発熱は止まるが、その熱は、未だ温度センサ52まで到達していないため、温度センサ52の温度は上昇する。しかし、FET51の温度は、下降し始めるはずであるので、推定温度T(n)が上昇しないように、係数k1を0にすることで、推定温度T(n)の上昇が抑制される。
例えば、モータMが作動後、FET51が発熱して温度センサ52の温度も上昇した後、モータMが停止すると、FET51の発熱は止まるが、その熱は、未だ温度センサ52まで到達していないため、温度センサ52の温度は上昇する。しかし、FET51の温度は、下降し始めるはずであるので、推定温度T(n)が上昇しないように、係数k1を0にすることで、推定温度T(n)の上昇が抑制される。
また、FET51の温度が下降しているときには、モータMは停止しており、FET51の発熱も無く、FET51は、自然放熱している状態である。そのため、係数kは、一定の係数k2をとる。係数k1,k2の値は、温度センサ52の設置位置により適宜変化するものである。
温度変化量推定部13は、係数kが設定された後に、推定温度変化量ΔT(n)を、
ΔT(n)=k×ΔTS
により算出する。
算出された推定温度変化量ΔT(n)は、推定値算出手段20へ出力される。
ΔT(n)=k×ΔTS
により算出する。
算出された推定温度変化量ΔT(n)は、推定値算出手段20へ出力される。
推定値算出手段20は、推定温度変化量ΔT(n)に基づいて推定温度T(n)を算出する。推定温度T(n)は、前回の推定温度T(n−1)に、推定温度変化量ΔT(n)を足したものなので、
T(n)=T(n−1)+ΔT(n)
により算出することができる。
もっとも、何らかの異常により、検出した温度TSが推定温度T(n)より大きくなった場合には、推定温度T(n)が誤っている可能性があるので、推定温度T(n)を温度TSに置き換えるのが望ましい。
T(n)=T(n−1)+ΔT(n)
により算出することができる。
もっとも、何らかの異常により、検出した温度TSが推定温度T(n)より大きくなった場合には、推定温度T(n)が誤っている可能性があるので、推定温度T(n)を温度TSに置き換えるのが望ましい。
以上のように構成された温度推定装置Aの動作について、図4のフローチャートを参照しながら説明する。
まず、図示はしないが、係数kについて、温度TSの変化や、モータMの回転速度Nに対応させて値を予め記憶装置30に記憶させておく。
温度センサ52は、常時、温度TSを検出しており(S1)、推定温度変化量算出手段10に出力する。推定温度変化量算出手段10の温度上昇判定部11は、検出された温度TSの変化量ΔTSを計算し、ΔTSの正負を判断する(S2)。ΔTSが負だった場合には(S2,No)、温度が下降中なので、係数設定部12が記憶装置30から温度下降時の係数k2を取得する。一方、ΔTSが正だった場合には(S2,Yes)、温度が上昇中なので、モータ回転速度センサ53が常時検出している回転速度Nを取得して(S4)、この回転速度Nに応じた係数k1を記憶装置30内のテーブルから取得する。
係数kを取得した後は、温度変化量推定部13が、変化量ΔTSに係数kを乗じて推定温度変化量ΔT(n)を算出し(S6)、推定値算出手段20に出力する。
そして、推定値算出手段20は、前回の推定温度T(n−1)と推定温度変化量ΔT(n)の和と、温度TSとを比較して大きい方を今回の推定温度T(n)として算出する(S7)。
以上のようにして、発熱性電子部品であるFET51と接触しない位置に温度センサ52を配置した場合であっても、FET51の温度を正確に推定できる。図5は、本実施形態の温度推定装置Aにより温度の推定をした例である。FET51から数mm程度離れた位置に温度センサ52を設置し、係数kとして実施形態と同様のk1,k2を用いて、温度の推定をしたところ、実際のFET51の温度と温度センサ52の温度TSのずれに比較して、推定温度T(n)と温度センサ52が検出した温度TSとのずれは、およそ4分の1〜5分の1程度まで小さくなった。
まず、図示はしないが、係数kについて、温度TSの変化や、モータMの回転速度Nに対応させて値を予め記憶装置30に記憶させておく。
温度センサ52は、常時、温度TSを検出しており(S1)、推定温度変化量算出手段10に出力する。推定温度変化量算出手段10の温度上昇判定部11は、検出された温度TSの変化量ΔTSを計算し、ΔTSの正負を判断する(S2)。ΔTSが負だった場合には(S2,No)、温度が下降中なので、係数設定部12が記憶装置30から温度下降時の係数k2を取得する。一方、ΔTSが正だった場合には(S2,Yes)、温度が上昇中なので、モータ回転速度センサ53が常時検出している回転速度Nを取得して(S4)、この回転速度Nに応じた係数k1を記憶装置30内のテーブルから取得する。
係数kを取得した後は、温度変化量推定部13が、変化量ΔTSに係数kを乗じて推定温度変化量ΔT(n)を算出し(S6)、推定値算出手段20に出力する。
そして、推定値算出手段20は、前回の推定温度T(n−1)と推定温度変化量ΔT(n)の和と、温度TSとを比較して大きい方を今回の推定温度T(n)として算出する(S7)。
以上のようにして、発熱性電子部品であるFET51と接触しない位置に温度センサ52を配置した場合であっても、FET51の温度を正確に推定できる。図5は、本実施形態の温度推定装置Aにより温度の推定をした例である。FET51から数mm程度離れた位置に温度センサ52を設置し、係数kとして実施形態と同様のk1,k2を用いて、温度の推定をしたところ、実際のFET51の温度と温度センサ52の温度TSのずれに比較して、推定温度T(n)と温度センサ52が検出した温度TSとのずれは、およそ4分の1〜5分の1程度まで小さくなった。
以上に本発明の実施形態について説明したが、本発明は、前記実施形態には限定されず、適宜変更して実施することが可能である。
例えば、係数kを決める際には、必ずしも図3に示したようなモータの回転速度Nと係数kの関係をマップとして記憶し、回転速度Nから求める必要はなく、モータの回転速度Nと相関があるパラメータ値と係数kの関係をマップまたは関数として記憶しておき、そのパラメータ値からマップまたは関数を参照して、係数kを求めてもよい。このようなパラメータ値としては、例えば、モータMの制御電圧や電流値、デューティ比などがある。
また、車両用ブレーキ液圧制御装置を温度推定装置が適用される装置の一例として挙げたが、コンピュータや、電源装置、昇圧回路など、他の装置に適用することもできる。
例えば、係数kを決める際には、必ずしも図3に示したようなモータの回転速度Nと係数kの関係をマップとして記憶し、回転速度Nから求める必要はなく、モータの回転速度Nと相関があるパラメータ値と係数kの関係をマップまたは関数として記憶しておき、そのパラメータ値からマップまたは関数を参照して、係数kを求めてもよい。このようなパラメータ値としては、例えば、モータMの制御電圧や電流値、デューティ比などがある。
また、車両用ブレーキ液圧制御装置を温度推定装置が適用される装置の一例として挙げたが、コンピュータや、電源装置、昇圧回路など、他の装置に適用することもできる。
10 推定温度変化量算出手段
11 温度上昇判定部
12 係数設定部
13 温度変化量推定部
20 推定値算出手段
30 記憶装置
51 FET
52 温度センサ
53 モータ回転速度センサ
A 温度推定装置
C 回路基板
M モータ
11 温度上昇判定部
12 係数設定部
13 温度変化量推定部
20 推定値算出手段
30 記憶装置
51 FET
52 温度センサ
53 モータ回転速度センサ
A 温度推定装置
C 回路基板
M モータ
Claims (5)
- 駆動装置の駆動制御回路に実装され、通電により発熱する発熱性電子部品の推定温度を算出する温度推定装置であって、
前記発熱性電子部品の温度に相関する温度になる位置に配置された温度検出手段と、
前記駆動装置の駆動状態に対応した前記相関を示す係数kを記憶する係数記憶手段と、
前記駆動装置の駆動状態を検出する駆動状態検出手段によって検出された駆動状態に対応する係数kを前記係数記憶手段から取得し、取得した係数kと前記温度検出手段による検出温度TSの温度変化量ΔTSとに基づいて、前記発熱性電子部品の推定温度変化量ΔT(n)を算出する推定温度変化量算出手段と、
今回の推定温度T(n)を、前回の推定温度T(n−1)と、算出された推定温度変化量ΔT(n)とに基づいて算出する推定値算出手段とを備えることを特徴とする温度推定装置。 - 前記推定値算出手段は、前回の推定温度T(n−1)と、算出された推定温度変化量ΔT(n)とに基づいて算出した温度より、前記温度検出手段による検出温度TSが大きい場合には、前記検出温度TSを今回の推定温度T(n)とすることを特徴とする請求項1に記載の温度推定装置。
- 前記推定温度変化量算出手段は、前記温度検出手段による検出温度TSの温度変化量ΔTSに基づき温度が上昇しているか否かを判定する温度上昇判定部を有し、前記温度上昇判定部によって温度が上昇していると判定された場合には前記係数記憶手段から前記駆動手段の駆動状態に応じて変化する値を取得し、上昇していると判定されなかった場合には一定値を取得することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の温度推定装置。
- 前記駆動装置は、電動モータであり、
前記駆動状態は、前記電動モータの回転速度であり、
前記係数kは、前記電動モータが回転している場合には、前記回転速度が小さい程大きくなるように設定されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の温度推定装置。 - 少なくとも前記発熱性電子部品と、前記温度検出手段とが、一のケース内に収容されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の温度推定装置。
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JP2005190462A JP2007010436A (ja) | 2005-06-29 | 2005-06-29 | 温度推定装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016505849A (ja) * | 2012-12-27 | 2016-02-25 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 食品のコア温度を決定する装置及び方法 |
US9310798B2 (en) | 2012-03-30 | 2016-04-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Motor drive device |
JP2019045435A (ja) * | 2017-09-07 | 2019-03-22 | ファナック株式会社 | 温度推定装置および温度推定方法 |
JP2020080644A (ja) * | 2013-12-20 | 2020-05-28 | ヴァレオ システム ドゥ コントロール モトゥール | 回転駆動システム、インバータを制御するための方法および関連するコンピュータプログラム |
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2005
- 2005-06-29 JP JP2005190462A patent/JP2007010436A/ja active Pending
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US10514320B2 (en) | 2017-09-07 | 2019-12-24 | Fanuc Corporation | Temperature estimation device and temperature estimation method |
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