JP2007003640A - 自発光パネル - Google Patents

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Abstract

【課題】 煩雑な操作を行うことなく外光の強度に応じて自発光パネルの発光を調整可能な自発光パネルを提供すること、自発光パネルを小型化すること。
【解決手段】 発光機能および受光機能を含む複数の自発光素子1と、入力信号SSに応じた駆動信号を自発光素子1に入力して発光機能を生じさせる駆動回路20と、自発光素子1の受光機能によって外光強度を検出する検出部30と、検出部30による検出結果に基づいて駆動回路20が自発光素子1に入力する駆動信号を調整する制御回路40とを設ける。
【選択図】図5

Description

本発明は、自発光パネルに関するものである。
例えば、発光機能と受光機能と有する発光受光素子が知られている。また、この発光状態と受光状態を交互に切り替えるように発光受光素子を駆動する発光受光装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2001−203078号公報(図1)
ところで、例えば有機EL(エレクトロルミネッセンス)素子等の自発光素子を備えた自発光パネルにおいて、外光の強度によって表示画像の視認性が低下する場合がある。例えば外光強度と比較して自発光素子の発光強度が非常に小さい場合には表示画像が暗いために視認性が低く、逆に外光強度と比較して自発光素子の発光強度が非常に大きい場合には、表示画像が明るすぎるために視認性が低下する場合がある。この際、ユーザは自発光素子の発光強度(輝度レベル等)を手動にて調整するという煩雑な操作を行う必要がある。
これを回避するために、例えばフォトダイオード等の受光素子を別途設けた場合には、受光素子を設けるスペースが必要となり装置の小型化が困難である。また、上述した発光受光装置は、発光受光素子の発光機能と受光機能を切り替えるのみであり、上述したような調整機能は備わっていない。
本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、煩雑な操作を行うことなく外光の強度に応じて自発光パネルの発光を調整可能な自発光パネルを提供すること、自発光パネルを小型化すること等が本発明の目的である。
このような目的を達成するために、本発明は、以下の各独立請求項に係る構成を少なくとも具備するものである。
請求項1に係る発明の自発光パネルは、発光機能および受光機能を含む複数の自発光素子と、入力信号に応じた駆動信号を前記自発光素子に入力して、前記発光機能を生じさせる駆動手段と、前記自発光素子の前記受光機能によって外光の強度を検出する検出手段と、前記検出手段による検出結果に基づいて、前記駆動手段が前記自発光素子に入力する前記駆動信号を調整する制御手段とを有することを特徴とする。
請求項15に係る発明の自発光パネルは、複数のデータ線と複数の走査線との交差位置近傍に配置された、発光機能および受光機能を含む複数の自発光素子と、入力信号に応じ駆動信号を前記走査線およびデータ線を介して前記自発光素子に入力して、前記発光機能を生じさせる駆動手段と、前記自発光素子の前記受光機能によって外光強度を検出する検出手段と、前記複数の自発光素子のうち、規定された第1のエリア内の前記自発光素子について前記検出手段による検出結果に基づいて、規定された第2のエリア内の前記自発光素子に入力する前記駆動信号を調整する制御手段とを有することを特徴とする。
本発明の一実施形態に係る自発光パネルは、発光機能および受光機能を含む複数の自発光素子と、入力信号に応じた駆動信号を自発光素子に入力して、発光機能を生じさせる駆動手段と、自発光素子の受光機能によって外光の強度を検出する検出手段と、検出手段による検出結果に基づいて、駆動手段が自発光素子に入力する駆動信号を調整する制御手段とを有する。
上記構成の自発光パネルでは、例えば検出手段が自発光素子の受光機能によって外光の強度を検出し、制御手段が、検出手段による検出結果に基づいて、駆動手段が自発光素子に入力する駆動信号を調整する。このため、煩雑な操作を行うことなく外光の強度に応じて自発光パネルの自発光素子の駆動信号を調整して発光強度(輝度レベル等)を調整可能である。また、例えば新たに外光強度測定用の受光素子を別途設ける装置と比べて、本発明に係る自発光パネルでは、複数の自発光素子それぞれが受光機能および発光機能を有し、検出手段による検出結果に基づいて制御手段が駆動信号の調整を行うので、受光用素子等を別途設ける必要がなく、自発光パネルを小型化することができる。
以下、本発明の一実施形態を図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る自発光パネルの自発光素子を説明するための等価回路である。本実施形態に係る自発光パネルの自発光素子として、例えば有機EL素子を採用する。自発光素子1は、電気的には例えば図1に示すように、ダイオード成分Eおよび寄生容量成分Cpが並列接続された等価回路に置き換えることができる。この自発光素子1は、発光機能と受光機能を有する。
図2は、本発明の一実施形態に係る自発光素子を説明するための断面図である。図2(a)は本発明に係る自発光素子の発光時の動作を説明するための図であり、図2(b)は受光時の動作を説明するための図である。自発光素子1は、例えば図2(a)に示すように、基板2、基板2上に直接または他の層を介して形成された第1電極(正孔注入電極)3、第1電極上に形成された半導体層4、および半導体層4上に形成された第2電極(電子注入電極)5を有する。
半導体層4は、例えばpn結合を有する半導体層により形成されており、詳細には例えば低分子型有機EL素子を採用した場合には、発光層を含む有機層が形成されており、例えば高分子型有機EL素子を採用した場合にはバイポーラ性の材料を単層または複数層積層した構造の有機層が形成されている。発光時には、図2(a)に示すように、第1電極3にプラス電極を接続し、第2電極5にマイナス電極を接続して、印加電圧を増加させると接合の界面でホールと電子の再結合が生じて発光する。一方受光時には、図2(b)に示すように、外部から光を与えると、第1電極3と第2電極5間に起電力が生じる。
図3は、図2に示した自発光素子の電圧電流特性を説明するための図である。
自発光素子1は、例えば図3に示すように、順方向に電圧を印加した場合(順バイアス時)、詳細には第1電極3にプラス電極を接続し第2電極5にマイナス電極を接続した場合に、閾値Vth1 以上のとき、駆動電圧Vに応じた電流Iが流れ、その電流Iに応じて略比例した輝度レベルの発光を行う。自発光素子1は、暗状態時には例えば実線で示すような電圧電流特性を示し、外光を受光した場合(明状態時)には、破線で示すような電圧電流特性を示す。つまり、受光強度に応じて素子内部に順方向に流れる電流量が多くなる。このため明状態時には暗状態時と比べて一定電流を流すための駆動電圧が低下する。本実施形態では、自発光素子1の受光による駆動特性の変化に応じた受光機能に基づいて、自発光素子1により受光した外光の強度を検出し、検出結果に応じて自発光素子1に入力する駆動信号を調整する。詳細には自発光素子1に流れる電流や素子の電極間の電圧を測定することで外光強度を検出し、その検出結果に基づいて自発光素子1に入力する駆動信号を調整する。
一方、逆方向に電圧を印加した場合(逆バイアス)、詳細には第1電極3にマイナス電極を接続し第2電極5にプラス電極を接続した場合に、自発光素子1には、例えば図3に示すようにダイオード特性により逆方向に微弱電流が流れる。自発光素子1は、暗状態時には例えば実線で示すような電圧電流特性を示し、外光を受光した場合(明状態時)には破線で示すような電圧電流特性を示す。つまり、自発光素子1は、逆方向に微弱電流が流れた状態で受光した場合(明状態)に受光強度に応じて逆方向の電流量が増加する。この際、逆バイアス印加時に発生する電流の大きさは、順バイアス印加時と比べて大きいために、光検知の分解能が大きい。このため、順バイアス印加時と比べて、逆バイアス印加時のほうが光検出能力が大きい。
本願発明者は、本実施形態に係る自発光素子の発光機能および受光機能を確認するため電圧電流特性を測定した。図4(a),(b)は、本発明の一実施形態に係る自発光素子の明状態時および暗状態時の電圧電流特性の第1および第2具体例を説明するための図である。横軸は電圧(V:ボルト),縦軸は電流(nA)を示す。例えば図4(a),(b)に示すように、暗状態時と比べて明状態時では光電流や光起電力により電流量が増加することが確認できた。また、暗状態時と比べて明状態時では一定電流量を印加するための駆動電圧が低下することが確認できた。
例えば上述したように自発光素子1の電圧電流特性を予め測定し、その測定結果を示すデータを記憶して、受光強度検出時にそのデータを参照して検出や制御を行うことが好ましい。こうすることにより自発光パネル100では高精度に受光強度検出や駆動信号調整を行うことができる。
図5は、本発明の一実施形態に係る自発光パネルの機能ブロック図である。
本実施形態に係る自発光パネル100は、例えば図5に示すように、自発光素子1、駆動回路20、検出部30、制御回路40、およびメモリ50を有する。自発光素子1は本発明に係る自発光素子の一実施形態に相当し、駆動回路20は本発明に係る駆動手段の一実施形態に相当する。検出部30は本発明に係る検出手段の一実施形態に相当し、制御回路40は本発明に係る制御手段の一実施形態に相当する。
自発光素子1は、上述したように発光機能および受光機能を有する。駆動回路20は、入力信号SSに応じた駆動信号S20を自発光素子1に入力し、発光機能を生じさせる。詳細には駆動回路20は、入力信号SSに応じて制御回路40から出力された信号S40に基づいて駆動信号S20を自発光素子1に入力する。
駆動回路20は、例えば図5に示すように、電源部21、第1スイッチ22、および第2スイッチ23を有する。電源部21は、自発光素子1に印加する電力を供給する。例えば電源部21は定電流源21aや定電圧源により構成される。本実施形態に係る電源部21は一端が電源電圧VHに接続され、他端が第1スイッチ22に接続されている。第1スイッチ22は、自発光素子1への電力供給をオンまたはオフする機能や、第2スイッチ23と協働して自発光素子1に印加するバイアスの方向を設定する機能を有する。例えば図5に示すように、第1スイッチ22は、固定端子22a、端子22b、および端子22cを有する。固定端子22aは検出部30を介して自発光素子1の一端(第1電極3)に接続され、固定端子22bは電源部21に接続され、端子22cは基準電位GNDに接続されている。第2スイッチ23は、例えば図5に示すように、固定端子23a、端子23b、第2端子23cを有する。固定端子23aは、自発光素子1の他端(第2電極5)に接続され、端子23bは基準電位GNDに接続され、端子23cは電源電圧VMに接続されている。電源電圧VMは、電源電圧VHと同じ電圧でもよいし、異なっていてもよい。
制御回路40は、非駆動時には、例えば端子22aと端子22cを接続させ、端子23aと端子23bを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力する。こうすることで自発光素子1には駆動信号が入力されず消灯状態となる。また、制御回路40は、駆動時(順バイアス印加時)には、端子22aと端子22bを接続させ、端子23aと端子23bを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力する。こうすることで自発光素子1には順バイアスが印加され、閾値以上の駆動電圧が印加された場合に、素子内に流れる電流に応じた輝度レベルにて素子が発光する。また、制御回路40は、駆動時(逆バイアス印加時)には端子22aと端子22cを接続させ端子23aと端子23bを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力する。こうすることで自発光素子1には逆バイアスが印加され、非点灯状態(駆動信号が印加されているが点灯していない状態、輝度レベルが略ゼロ状態)となる。
検出部30は、自発光素子1の受光機能によって外光の強度を検出する。詳細には検出部30は、受光による自発光素子1の駆動特性変化に応じた受光機能に基づいて、自発光素子1により受光した外光の強度を検出する。また、検出部30はその検出結果を示す信号S32を制御回路40に出力する。具体的には検出部30は、例えば自発光素子1に順バイアスや逆バイアスを印加した状態で、受光機能によって生じる自発光素子1に流れる電流値(変化)や自発光素子1の電圧値(変化)に基づいて、外光の強度を検出する。例えば検出部30は、図5に示すように、測定回路31、および検出回路32を有する。測定回路31は、自発光素子1に印加される電流値または電圧値を測定し、測定結果を示す信号S31を検出回路32に出力する。測定回路31として例えば電流測定回路311や電圧測定回路312を適宜設ける。電流測定回路311は例えば図5に示すように自発光素子1と駆動回路20間に設けられ、自発光素子1に流れる電流値を測定し、測定結果を示す信号S311(S31)を検出回路32に出力する。電圧測定回路312は、例えば図5に示すように、自発光素子1の両端子間の電圧を測定し、測定結果を示す信号S312(S31)を検出回路32に出力する。
制御回路40は、検出部30による検出結果に基づいて、駆動回路20が自発光素子1に入力する駆動信号S20を調整する。例えば制御回路40は、検出回路30による検出結果に基づいて、駆動回路20が自発光素子1に入力する駆動信号S20の輝度レベルを調整する。詳細には、例えば制御回路40は輝度レベルを調整させる信号S40を駆動回路20に出力する。
メモリ50は、例えば本発明に係る機能を有するプログラム、データD1、各種初期データ等を記憶する。制御回路40は、例えばこのプログラムを実行することにより本発明に係る機能を実現する。データD1は、輝度レベル調整時に制御回路40や検出部30により参照され、例えば図3,4に示すように、受光強度に対応する電圧電流特性を示すデータや、外光強度と制御用輝度レベルとを対応付けるデータを含む。制御回路40や検出部30は、例えばデータD1を参照することにより、高精度に受光強度を検出する。
以下、自発光パネル100の表示パネル10の一実施形態を示す。
〔パッシブ駆動型自発光パネル〕
図6は、本発明の一実施形態に係る自発光パネル100を採用したパッシブ駆動型自発光パネルの一部と周辺回路を説明するための図である。パッシブ駆動型自発光パネルには、陰極線走査・陽極線ドライブ、陽極線走査・陰極線ドライブの2つの方法があるが、以下、陰極線走査・陽極線ドライブを説明する。本実施形態に係る自発光パネル100は、例えば図6に示すように、表示パネル10、駆動回路20、検出部30、制御回路40、およびメモリ50を有する。他の実施形態と共通する部分については一部説明を省略する。表示パネル10は、図6に示すように、複数個の走査線(陰極線)Lk1〜Lkm(Lkとも言う)、複数個のデータ線(陽極線)La1〜Lan(Laとも言う)、および複数個の自発光素子111〜1nmを有する。例えば図6に示すように、複数個の走査線Lk1〜Lkmは横方向(行方向)に配列され、複数個のデータ線La1〜Lanは横方向(列方向)に配列され、その交差位置近傍に自発光素子1が配置され、自発光素子1それぞれは走査線Lkおよびデータ線Laと接続されている。詳細には自発光素子1の一端(第1電極3)は、データ線Laに接続され、他端(第2電極5)は走査線Lkに接続されている。
駆動回路20は、制御回路40を介して入力された信号(映像信号)SSに応じて、自発光パネル100を駆動させる駆動信号S40を、自発光パネル100に入力する。駆動回路20は、例えば図6に示すように、陽極線ドライブ回路210、および陰極線走査回路220を有する。陽極線ドライブ回路210は、データ線La1〜Lanそれぞれに接続され、それぞれを駆動する。陽極線ドライブ回路210は、例えば図6に示すように、スイッチ群211、および電源部212を有する。スイッチ群211は、例えば図5に示した第1スイッチ22に対応し、電源部212は電源部21に対応する。スイッチ群211は、例えば図6に示すように、ドライブスイッチsx1〜sxn(sx)を有する。ドライブスイッチsxそれぞれの固定端子sxaは、データ線Laに接続され、端子sxbは電源部212の出力端に接続され、端子sxcは基準電位GNDに接続されている。このスイッチsxは例えばトランジスタにより形成されている。
本実施形態に係る電源部212は、例えば定電流源I1 〜In により形成され、入力端が電源電圧VHに接続され、出力端がスイッチsxの端子sxbに接続されている。陰極線走査回路220は、走査線Lk1〜Lkmそれぞれに接続され、それぞれを駆動する。陰極線走査回路220は、例えば図6に示すように、スイッチ群221を有する。スイッチ群221は図5に示した第2スイッチ23に対応する。スイッチ群221は例えば複数個のスイッチSY1〜SYm(SY)を有する。スイッチSYそれぞれの固定端子SYaは走査線Lkに接続され、端子SYbは電源電圧VMに接続され、端子SYcは基準電位GNDに接続されている。このスイッチSYは例えばトランジスタにより形成されている。
検出部30は、受光時に自発光素子1に生じる光電流や起電力に基づいて、自発光素子1が受光した外光の強度を検出する。検出部30は、例えば図6に示すように、測定回路31、および検出回路32を有する。本実施形態では測定回路31は電流測定回路311により構成される。測定回路31は、陽極線ドライブ回路210と表示パネル10間に備えられ、一端がデータ線Laを介して自発光素子1に接続され、他端がスイッチsxの固定端sxaに接続されている。電流測定回路311は、例えばデータ線Laを介して自発光素子1に流れる電流値を測定し、測定結果を示す信号S31を検出回路32に出力する。検出回路32は、測定回路31による測定結果に基づいて、自発光素子1により受光した外光の強度を検出する。例えば、検出回路32は、測定回路31から出力された信号S31に基づいて上記外光強度を検出する。また、検出回路32は、検出結果を示す信号S32を制御回路40に出力する。
制御回路40は、例えば外部から入力された信号SSに基づいて、駆動回路20に制御信号を出力する。また制御回路40は、検出部30による検出結果に基づいて、駆動回路20が自発光素子1に入力する駆動信号を調整する。例えば制御回路40は、メモリ50等に記憶されているデータD1等に基づいて駆動信号の輝度レベルを調整する。
次に、本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の動作を説明する。
〔消灯時(非駆動時)〕
図7は、本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の消灯時の動作を説明するための図である。制御回路40は、消灯時(非駆動時)には、例えば図7に示すように、第1スイッチSW1および第2スイッチSW2を非接続状態に設定する。図7に示した第1スイッチSW1および第2スイッチSW2は、例えば図5に示した第1スイッチ22および第2スイッチ23に対応する。これは、例えば図5に示した制御回路40が、第1スイッチ22の固定端子22aと端子22cとを接続させ、第2スイッチ23の固定端子23aと端子23cとを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力することに相当する。また第1スイッチSW1および第2スイッチSW2は、例えば図6に示したスイッチ群211およびスイッチ群221に対応する。これは、例えば図6に示した制御回路40が、スイッチ群211内の全スイッチにおいて、固定端sxaと端子sxcとを接続させ、スイッチ群221内の全スイッチにおいて、固定端syaと端子sycとを接続させる制御信号S40を出力することに相当する。上述したように自発光素子1に駆動電力が供給されないので、自発光素子1は消灯状態である。
〔駆動時〕
図8は、本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の駆動時の動作を説明するための図である。制御回路40は、駆動時には表示パネル10内の複数の自発光素子1それぞれに入力信号SSに応じた駆動信号を駆動回路20を介して印加する。詳細には制御回路40は、例えば図8に示すように、表示パネル10の内、点灯部分に対応する自発光素子1には順バイアスを印加し、非点灯部分に対応する自発光素子1には逆バイアスを印加する。これは、例えば図5に示した制御回路40が、点灯部分に対応する自発光素子1に対して、第1スイッチ22の固定端子22aと端子22bとを接続させ、第2スイッチ23の固定端子23aと端子23bとを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力することに相当する。また、非点灯部分に対応する自発光素子1に対して、第1スイッチ22の固定端子22aと端子22cとを接続させ、第2スイッチ23の固定端子23aと端子23cとを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力することに相当する。
図9は、自発光パネル100の表示タイミングについて説明するための図である。自発光パネル100は、例えば図6に示したようにマトリクス状に複数個の自発光素子1が配置された表示パネル10を有する場合に、例えば図9に示すように1ライン毎に順次走査しながら映像表示を行う。例えば図9に示すように走査ライン上の点灯部分に対応する自発光素子1を丸印で示し、非点灯部分に対応する自発光素子1をX印で示す。これは、例えば図6に示した制御回路40が、駆動対象の走査線Lkに対応するスイッチSYの固定端子SYaと端子SYcとを接続し、それ以外の走査線Lkに対応するスイッチSYの固定端SYaと端子SYbとを接続させ、点灯部分に対応する自発光素子1に対して、スイッチsxの固定端子sxaと端子sxbとを接続させ、非点灯部分に対応する自発光素子1に対して、スイッチsxの固定端子sxaと端子sxcとを接続させる制御信号S40を出力することに相当する。そして図9に示すように、制御回路40は順次走査線Lkに対して同様な動作を行う。上述したように閾値以上の順バイアスが印加された自発光素子1は発光状態となり、逆バイアスが印加された自発光素子1は非点灯状態となる。
〔表示タイミング前(走査前)に逆バイアスを印加している自発光素子1について受光強度検出〕
図10は、表示タイミング前に逆バイアスを印加している自発光素子について受光強度検出を行う動作を説明するための図である。制御回路40は、図9に示すように1ライン毎に上から下方向に順次走査しながら映像表示を行う場合に、図10に示すように表示タイミング前(走査前)に各自発光素子1に逆バイアスを印加して各自発光素子1を非点灯状態にさせる。詳細には、これは、図5に示した制御回路40が、非点灯部分に対応する自発光素子1に対して、第1スイッチ22の固定端子22aと端子22cとを接続させ、第2スイッチ23の固定端子23aと端子23cとを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力することに相当する。またこれは、例えば図6に示した制御回路40が、駆動対象以外の走査線Lkまたは全走査線Lkに対応するスイッチSYの固定端SYaと端子SYbとを接続させ、スイッチsxの固定端子sxaと端子sxcとを接続させる制御信号S40を出力することに相当する。検出部30は、その逆バイアスが印加された自発光素子1に流れる電流値または電圧値を検出することにより、受光強度を検出し、検出結果を示す信号S32を制御回路40に出力する。制御回路40は、その信号S40が示す検出結果に基づいて、駆動回路20を介して駆動信号S20の輝度レベルを調整する。
以上説明したように、複数の走査線Lkと複数のデータ線Laとの交差位置近傍に配置された複数の自発光素子1と、走査駆動時に走査線Lkおよびデータ線Laを介して自発光素子1に駆動信号を入力する駆動回路20と、走査駆動前に、走査線Lkおよびデータ線Laを介して自発光素子1に逆方向に印加する駆動電流または駆動電圧に基づいて外光強度を検出する検出部30と、走査駆動時に検出部30による検出結果に基づいて、駆動回路20による駆動信号S20の輝度レベルを調整する制御回路40とを設けたので、例えば自発光パネル100が発光していないので、高精度に外光強度を検出することができ、検出結果に応じて高精度に輝度レベルを調整することができる。
また、上述したように検出部30は、逆方向電圧印加時に、自発光素子1に流れる電流値(変化)を検出することで、高精度に受光強度を検出することができる。
〔表示タイミング中(走査中)に順バイアスを印加している自発光素子1(点灯画素)について受光強度検出〕
図11は、表示タイミング中(走査中)に順バイアスを印加している自発光素子について受光強度検出を行う動作を説明するための図である。制御回路40は、例えば図9に示すように、表示パネル10の各自発光素子1について1ライン毎に順次走査しながら映像表示を行う場合に、図11に示すように駆動対象の走査線Lk上の点灯部分に対応する自発光素子1に順バイアスを印加する。これは、例えば図5に示した制御回路40が、点灯部分に対応する自発光素子1に対して、第1スイッチ22の固定端子22aと端子22bとを接続させ、第2スイッチ23の固定端子23aと端子23bとを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力することに相当する。また、制御回路40が、非点灯部分に対応する自発光素子1に対して、第1スイッチ22の固定端子22aと端子22cとを接続させ、第2スイッチ23の固定端子23aと端子23cとを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力することに相当する。また、これは、例えば図6に示した制御回路40が、駆動対象の走査線Lkに対応するスイッチSYの固定端子SYaと端子SYcとを接続し、それ以外の走査線Lkに対応するスイッチSYの固定端SYaと端子SYbとを接続させ、駆動対象の走査線Lk上の点灯部分に対応する自発光素子1に対して、スイッチsxの固定端子sxaと端子sxbとを接続させ、非点灯部分に対応する自発光素子1に対して、スイッチsxの固定端子sxaと端子sxcとを接続させる制御信号S40を出力することに相当する。検出部30は、その順バイアスが印加された自発光素子1に流れる電流値または電圧値を検出することにより、受光強度を検出し、検出結果を示す信号S32を制御回路40に出力する。制御回路40は、その信号S40が示す検出結果に基づいて、駆動回路20を介して輝度レベルを調整する。そして制御回路40は順次走査線Lkに対して同様な動作を行う。
以上説明したように、複数のデータ線Laと複数の走査線Lkとの交差位置近傍に配置された複数の自発光素子1と、走査駆動時に走査線Lkおよびデータ線Laを介して自発光素子1に駆動信号を入力する駆動回路20と、走査駆動時に、自発光素子1に順方向印加される駆動電流または駆動電圧に基づいて外光強度を検出する検出部30と、走査駆動時に、検出部30による検出結果に基づいて、駆動回路20による駆動信号の輝度レベルを調整する制御回路40とを設けたので、つまり表示パネル10のうち点灯状態の自発光素子1が受光機能を有することで、自発光パネル100は映像表示を行うと共に受光強度に応じて輝度レベルを調整することができる。
また、図3に示すように自発光素子発光時には、発光閾値電圧Vth1 を超える順方向電圧が印加されており、自発光素子1は順方向電圧(駆動電圧)に応じて電流に比例した発光を行うが、受光強度が大きくなると駆動電圧が低くなる等の自発光素子1の電圧値(変化)を検出することで、検出部30は高精度に受光強度を検出することができる。
〔表示タイミング中(走査中)に逆バイアスを印加している自発光素子1(非点灯画素)について受光強度検出〕
図12は、表示タイミング中(走査中)に逆バイアスを印加している自発光素子について受光強度検出を行う動作を説明するための図である。制御回路40は、例えば図9に示すように、表示パネル10の各自発光素子1について1ライン毎に順次走査しながら映像表示を行う場合に、図11に示すように駆動対象の走査線Lk上の非点灯部分に対応する自発光素子1に逆バイアスを印加する。これは、例えば図5に示した制御回路40が、非点灯部分に対応する自発光素子1に対して、第1スイッチ22の固定端子22aと端子22cとを接続させ、第2スイッチ23の固定端子23aと端子23cとを接続させる制御信号S40を駆動回路20に出力することに相当する。またこれは、例えば図6に示した制御回路40が、駆動対象の走査線Lkに対応するスイッチSYの固定端子SYaと端子SYcとを接続し、それ以外の走査線Lkに対応するスイッチSYの固定端SYaと端子SYbとを接続させ、駆動対象の走査線Lk上の非点灯部分に対応する自発光素子1に対して、スイッチsxの固定端子sxaと端子sxcとを接続させる制御信号S40を出力することに相当する。検出部30は、その逆バイアスが印加された自発光素子1に流れる電流値または電圧値を検出することにより、受光強度を検出し、検出結果を示す信号S32を制御回路40に出力する。制御回路40は、その信号S40が示す検出結果に基づいて、駆動回路20を介して輝度レベルを調整する。
以上説明したように、複数のデータ線Laと複数の走査線Lkとの交差位置近傍に配置された複数の自発光素子1と、走査駆動時に走査線Lkおよびデータ線Laを介して自発光素子1に駆動信号を入力する駆動回路20と、走査駆動時に、自発光素子1に逆方向印加される駆動電流または駆動電圧に基づいて外光強度を検出する検出部30と、走査駆動時に、検出部30による検出結果に基づいて、駆動回路20による駆動信号の輝度レベルを調整する制御回路40とを設けたので、つまり表示パネル10のうち非点灯状態の自発光素子1が受光機能を有することで、自発光パネル100は映像表示を行うと共に受光強度に応じて輝度レベルを調整することができる。また検出部30は、自発光素子1に逆バイアスを印加した状態で受光強度検出を行うので、順バイアス印加時と比べて受光感度が高く、高精度に受光強度を検出することができ、高精度に輝度レベルを調整することができる。
〔リフレッシュ期間〕
図13は、本発明に係る自発光パネル100を採用したフィールドリフレッシュ駆動型自発光パネルの動作を説明するための図である。本実施形態に係る駆動回路20は、例えば図13に示すように、1フレーム(1フィールド)期間の線次書き込み駆動が終了する毎に、表示パネル10全体の自発光素子1について、自発光素子1の発光閾値電圧Vth1以上の書き込みパルスppとは逆の極性で、発光閾値電圧に近い電圧のフィールドリフレッシュパルスRP(リフレッシュ信号)を印加する。検出部30は、駆動回路20によるリフレッシュパルスRP印加時に、その逆バイアスが印加された自発光素子1に流れる電流値または電圧値を検出することにより、受光強度を検出し、検出結果を示す信号S32を制御回路40に出力する。制御回路40は、その信号S40が示す検出結果に基づいて、駆動回路20を介して輝度レベルを調整する。
以上説明したように、リフレッシュ信号印加時の駆動電圧または駆動電流に基づいて外光強度を検出する検出部30と、走査駆動時に、検出部30による検出結果に基づいて駆動回路20による駆動信号の輝度レベルを調整する制御回路40とを設けたので、映像表示を行っていない状態、詳細には自発光素子1が発光していない状態で光検出を行うことで、高精度に受信強度を検出することができ、高精度に輝度レベルを調整することができる。
〔制御回路による輝度レベル制御の一実施形態〕
図14は、本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の制御回路40の輝度レベル制御に関する動作を説明するための図である。横軸は外光強度LP、縦軸は輝度レベル(発光強度)LLをそれぞれ示す。制御回路40は、例えば図14に示すように、自発光素子1により受光された外光強度LPに応じて自発光素子1の輝度レベル(発光強度)を調整する。詳細には図14に示すように、制御回路40は、外光強度LPに略比例した輝度レベルLLとなるように調整する。以上説明したように、例えば暗状態検出時に輝度レベルを第1のレベルに設定し、明状態検出時にその輝度レベルを第1のレベルよりも大きい第2のレベルに設定する制御回路40を設けたので、例えば外光強度が比較的大きい場合には輝度レベルを大きく設定し、外光強度が比較的小さい場合に輝度レベルを小さく設定するので、視認性が向上する。
また、制御回路40は、例えば図14に示すように外光強度LPが予め規定した第1閾値LP1より小さい場合には、輝度レベルLLを下限値LL1に設定することが好ましい。例えば単純に外光強度LPに対して輝度レベルLLが略比例するように調整した場合には、外光強度が比較的小さいと輝度レベルLLが必要以上に小さくなり、視認性が悪化するが、本実施形態に係る制御回路40は、外光強度LPが規定した第1閾値LP1より小さい場合に、自発光素子1の輝度レベルLLを下限値LL1に設定するので、外環境が比較的暗い場合であっても自発光パネル100の視認性が良好である。
また、制御回路40は、例えば図14に示すように、外光強度LPが予め規定した第2閾値LP1より大きい場合には、輝度レベルLLを上限値LL2に設定することが好ましい。例えば単純に外光強度LPに対して輝度レベルLLが略比例するように調整した場合には、外光強度が比較的大きいと輝度レベルLLが必要以上に大きくなり、消費電力が大きく、また自発光素子1の発光寿命が短くなるおそれがあるが、本実施形態に係る制御回路40は、外光強度LPが第2閾値LP2より大きい場合に、自発光素子1の輝度レベルLLを上限値LL2に設定するので、外環境が比較的明るい場合であっても自発光パネル100の消費電力を低減することができる。また、自発光素子1の発光寿命の低下を防止することができる。また輝度レベルが必要以上に大きくならないので視認性が向上する。つまり上述したように輝度レベルの下限値または上限値を設定する制御回路40を設けたので省電力化、パネルの長寿命化、視認性の改善を実現することができる。
〔受光機能および発光機能の分離〕
図15は、本発明の一実施形態に係る自発光パネル100を説明するための図である。
本実施形態に係る制御回路40は、複数の自発光素子1のうち、規定された第1のエリア内の自発光素子1について検出部30の検出結果に基づいて、規定された第2のエリア内の自発光素子1に入力する駆動信号を制御する。詳細には、例えば図15(a)に示すように、表示パネル10の全エリアのうち、右エリアを発光用エリア10aに設定し、左エリアを受光用エリアに設定してもよい。また、図15(b)に示すように、表示パネル10の全エリアのうち、周辺部エリアを発光用エリア10aに設定し、中心部エリアを受光用エリア10bに設定してもよい。逆に図15(c)に示すように、表示パネル10の全エリアのうち、周辺部エリアを受光用エリア10b設定し、中心部エリアを発光用エリア10aに設定してもよい。また、上記エリアは例えば円形状や矩形状、格子形状など任意の形状でもよい。
以上説明したように、複数の自発光素子1のうち、規定された第1のエリア内の自発光素子1について検出部30の検出結果に基づいて、規定された第2のエリア内の自発光素子1に入力する駆動信号を制御する制御回路40を設けたので、発光用エリア10aの受光強度に応じて第2のエリア内の発光強度を調整することができる。また、例えば1個や数個の受光素子を設けた場合と比べて、本実施形態に係る自発光パネル100は、予め規定したエリア(面領域)について受光強度を検出するので、高精度に受光強度を検出することができる。
〔アクティブ駆動型自発光パネル〕
図16は、本発明の一実施形態に係る自発光パネル100を採用したアクティブ駆動型自発光パネルの一部と周辺回路を説明するための図である。本発明に係る自発光パネルをアクティブ駆動型自発光パネルに適用した場合を説明する。自発光パネル100は、例えば図16に示すように、表示パネル10、駆動回路20、検出部30、制御回路40、メモリ50、および電源回路230を有する。他の実施形態と共通する部分については一部説明を省略する。
駆動回路20は、図16に示すように、データドライバ210a、走査回路220a、および電源回路230を有する。表示パネル10は、例えば、発光機能および受光機能を有する複数個の自発光素子1を備える。詳細には表示パネル10は、図16に示すように、複数個の走査線Lk1〜Lkm(Lkとも言う)、複数個のデータ線La1〜Lan(Laとも言う)、複数個の電源供給線Lb1〜Lbn(Lbとも言う)、複数個の自発光素子111〜1nm、複数個のセル毎に制御用トランジスタTr1、駆動用トランジスタTr2、および電荷保持用キャパシタC1を有する。だたし図16には4個のセルについて示し、他のセルについては省略している。
例えば図16に示すように、複数個の走査線Lk1〜Lkmは横方向(行方向)に配列され、複数個のデータ線La1〜Lanは横方向(列方向)に配列され、その交差位置近傍に自発光素子1が配置され、さらに表示パネル10には各データ線Laに対応して、電源供給線Lbが縦方向に配列されている。
走査線Lkは走査回路220aに接続され、データ線Laはデータドライバ210aに接続され、電源供給線Lbは電源回路230に接続されている。例えば、各画素は、コンダクタンスコントロール方式により駆動される。詳細には、例えばNチャネル型TFT(Thin film transistor)により構成される制御用トランジスタTr1のゲートは走査線Lkに接続され、ソースはデータ線Laに接続され、ドレインは、例えばPチャネル型TFT(Thin film transistor)により構成される駆動用トランジスタTr2のゲート、および電荷保持用キャパシタC1の第1電極に接続されている。電荷保持用キャパシタC1の第2電極は駆動用トランジスタのソースおよび電源供給線Lbに接続されている。駆動用トランジスタTr2のドレインは、自発光素子1の第1電極3に接続され、自発光素子1の第2電極5は基準電位GNDに接続されている。このように自発光素子1は、図16に示すようにマトリクス状にデータ線Laおよび走査線Lkの交差点近傍に配置されている。
また、本実施形態に係る検出部30の測定回路31は、例えば図16に示すように、電流測定回路311や電圧測定回路312を有する。電流測定回路311は、自発光素子1に流れる電流を測定する。電流測定回路311は、例えば図16に示すように駆動用トランジスタTr2と自発光素子1間に形成される。電圧測定回路312は自発光素子1の両電極間の電圧を測定する。電圧測定回路312は、例えば図16に示すように、各セルにおいて、駆動用トランジスタTr2と自発光素子1間のノードtと基準電位GND間の電位差を測定する。
上述した構成の自発光パネル100の動作を説明する。例えば、自発光素子1に順バイアスを印加する場合には、所望のセル(画素)の制御用トランジスタTr1のゲートに、走査線Lkを介して走査回路220aよりオン電圧が供給され、制御用トランジスタTr1はソースに供給されるデータ線Laからのデータ電圧に対応した電流をソースからドレインに流す。制御用トランジスタTrのゲートがオン電圧の期間に、キャパシタC1にはデータ電圧に対応した電圧が充電され、その電圧が駆動用トランジスタTr2のゲートに供給される。駆動用とランジスタTr2はそのゲート電圧とソース電圧に基づいた電流を、自発光素子1に流し、自発光素子1を発光駆動させる。一方、制御用トランジスタTr1のゲートがオフ電圧になると、制御用トランジスタTr1はカットオフとなり、制御用トランジスタTr1のドレインは開放状態となり、駆動用トランジスタTr2はキャパシタC1に蓄積された電荷によりゲート電圧が保持される。このため、次の走査まで駆動用トランジスタの駆動電流が保持され、これにより自発光素子1の発光状態も維持される。検出部30は、自発光素子1に順バイアス印加時の駆動電流や駆動電圧に基づいて受光強度を検出し、制御回路40は、検出部30による検出結果に基づいて、駆動回路20による駆動信号の輝度レベルを調整する。
上述したよう、自発光パネル100をアクティブ駆動型自発光パネル100に適用した場合にも、自発光素子1による外光の受光強度に応じて輝度レベルを調整することができる。
なお、本発明は上述した実施形態に限られるものではない。上述した実施形態それぞれを組み合わせてもよい。
例えば図2に示した自発光パネル100の形態に限られるものではない。例えば、下部電極に電子注入電極、上部電極に正孔注入電極が形成された自発光素子1でもよい。また、下部電極に反射電極、上部電極に透明性を有する電極が形成された自発光素子1でもよい。また、下部電極、上部電極共に透明性を有する電極が形成された自発光素子1でもよい。
以下、図17によって、前述した自発光パネルの具体例として有機ELパネルを例に挙げて、具体構成を説明する。
有機ELパネル100の基本構成は、第1電極(下部電極)131と第2電極(上部電極)132との間に有機発光機能層を含む有機材料層133を挟持して支持基板110上に複数の有機EL素子130を形成したものである。図示の例では、支持基板110上にシリコン被覆層120aを形成しており、その上に形成される第1電極131をITO等の透明電極からなる陽極に設定し、第2電極132をAl等の金属材料からなる陰極に設定して、支持基板110側から光を取り出すボトムエミッション方式を構成している。また、有機材料層133としては、正孔輸送層133A,発光層133B,電子輸送層133Cの3層構造の例を示している。そして、支持基板110と封止部材111とを接着層112を介して貼り合わせることによって封止領域Sを形成し、この封止領域S内に有機EL素子130からなる自発光素子部を形成している。
有機EL素子130からなる自発光素子部は、図示の例では、第1電極131を絶縁層134で区画しており、区画された第1電極131の下に各有機EL素子130による単位表示領域(130R,130G,130B)を形成している。また、封止領域Sを形成する封止部材111の内面には乾燥手段140が取り付けられて、湿気による有機EL素子130の劣化を防止している。
また、支持基板110の端部に形成される引出領域110A上には、第1電極131と同材料,同工程で形成される第1の電極層121Aが、第1電極131とは絶縁層134で絶縁された状態でパターン形成されている。第1の電極層121Aの引出配線部分には、銀合金等を含む低抵抗配線部分を形成する第2の電極層121Bが形成されており、更にその上に、必要に応じてIZO等の保護被膜121Cが形成されて、第1の電極層121A,第2の電極層121B,保護被膜121Cからなる引出配線部121が形成されている。そして、封止領域S内端部で第2電極132の端部132aが引出配線121に接続されている。
第1電極131の引出配線は、図示省略しているが、第1電極131を延出して封止領域S外に引き出すことによって形成することができる。この引出配線においても、前述した第2電極132の場合と同様に、Ag合金等を含む低抵抗配線部分を形成する電極層を形成することもできる。
そして、封止部材111の引出配線部121に臨む端縁111E0は支持基板110と封止部材111の貼り合わせ前に加工された孔加工縁によって形成されている。
以下、有機ELパネル100の細部について、更に具体的に説明する。
a.電極;
第1電極131,第2電極132は、一方が陰極側、他方が陽極側に設定される。陽極側は陰極側より仕事関数の高い材料で構成され、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni)、白金(Pt)等の金属膜やITO、IZO等の酸化金属膜等の透明導電膜が用いられる。逆に陰極側は陽極側より仕事関数の低い材料で構成され、アルカリ金属(Li,Na,K,Rb,Cs)、アルカリ土類金属(Be,Mg,Ca,Sr,Ba)、希土類金属等、仕事関数の低い金属、その化合物、又はそれらを含む合金、ドープされたポリアニリンやドープされたポリフェニレンビニレン等の非晶質半導体、Cr2O3、NiO、Mn2O5等の酸化物を使用できる。また、第1電極131,第2電極132ともに透明な材料により構成した場合には、光の放出側と反対の電極側に反射膜を設けた構成にすることもできる。
引出配線部(図示の引出配線部121及び第1電極131の引出配線)には、有機ELパネル100を駆動する駆動回路部品やフレキシブル配線基板が接続されるが、可能な限り低抵抗に形成することが好ましく、前述したように、Ag合金或いはAPC,Cr,Al等の低抵抗金属電極層を積層するか、或いはこれらの低抵抗金属電極単独で形成することができる。
b.有機材料層;
有機材料層133は、少なくとも有機EL発光機能層を含む単層又は多層の有機化合物材料層からなるが、層構成はどのように形成されていても良い。一般には、図17に示すように、陽極側から陰極側に向けて、正孔輸送層133A、発光層133B、電子輸送層133Cを積層させたものを用いることができるが、発光層133B、正孔輸送層133A、電子輸送層133Cはそれぞれ1層だけでなく複数層積層して設けても良く、正孔輸送層133A、電子輸送層133Cについてはどちらかの層を省略しても、両方の層を省略しても構わない。また、正孔注入層、電子注入層等の有機材料層を用途に応じて挿入することも可能である。正孔輸送層133A、発光層133B、電子輸送層133Cは従来の使用されている材料(高分子材料、低分子材料を問わない)を適宜選択して採用できる。
また、発光層133Bを形成する発光材料においては、1重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(蛍光)と3重項励起状態から基底状態に戻る際の発光(りん光)のどちらを採用しても良い。
c.封止部材;
有機ELパネル100において、有機EL素子130を気密に封止するための封止部材111としては、ガラス製,プラスチック製、金属製等による板状部材を用いることができる。ガラス製の封止基板にプレス成形,エッチング,ブラスト処理等の加工によって封止用凹部(一段掘り込み、二段掘り込みを問わない)を形成したものを用いることもできるし、或いは平板ガラスを使用してガラス(プラスチックでも良い)製のスペーサにより支持基板110との間に封止領域Sを形成することもできる。また、上記のような封止部材により封止領域Sを形成する気密封止法を利用しても良く、封止領域S内に樹脂やシリコーンオイル等の充填剤を封入した固体封止法、バリア膜等で有機EL素子130を封止する膜封止法でも良い。
d.接着剤;
接着層112を形成する接着剤は、熱硬化型,化学硬化型(2液混合),光(紫外線)硬化型等を使用することができ、材料としてアクリル樹脂,エポキシ樹脂,ポリエステル,ポリオレフィン等を用いることができる。特には、加熱処理を要さず即硬化性の高い紫外線硬化型のエポキシ樹脂製接着剤の使用が好ましい。
e.乾燥手段;
乾燥手段140は、ゼオライト,シリカゲル,カーボン,カーボンナノチューブ等の物理的乾燥剤、アルカリ金属酸化物,金属ハロゲン化物,過酸化塩素等の化学的乾燥剤、有機金属錯体をトルエン,キシレン,脂肪族有機溶剤等の石油系溶媒に溶解した乾燥剤、乾燥剤粒子を透明性を有するポリエチレン,ポリイソプレン,ポリビニルシンナエート等のバインダに分散させた乾燥剤により形成することができる。
f.有機ELパネルの各種方式等;
本発明の実施例である有機ELパネル100としては、本発明の要旨を逸脱しない範囲で各種の設計変更が可能である。例えば、有機EL素子130の発光形態は、前述したように支持基板110側から光を取り出すボトムエミッション方式でも、封止部材111側から光を取り出すトップエミッション方式でも構わない(この場合封止部材111を透明材にして、乾燥手段140の配置を考慮する必要がある)。また、有機ELパネル100は単色表示であっても複数色表示であっても良く、複数色表示を実現するためには、塗り分け方式を含むことは勿論のこと、白色や青色等の単色の発光機能層にカラーフィルタや蛍光材料による色変換層を組み合わせた方式(CF方式、CCM方式)、単色の発光機能層の発光エリアに電磁波を照射する等して複数発光を実現する方式(フォトブリーチング方式)、2色以上の単位表示領域を縦に積層し一つの単位表示領域を形成した方式(SOLED(transparent Stacked OLED)方式)、異なる発光色の低分子有機材料を予め異なるフィルム上に成膜してレーザによる熱転写で一つの基板上に転写するレーザ転写方式、等を採用することができる。また、図示の例ではパッシブ駆動方式を示しているが、支持基板110としてTFT基板を採用し、その上に平坦化層を形成した上に第1電極131を形成するようにして、アクディブ駆動方式を採用したものであってもよい。
また、測定回路31として電流測定回路311および/または電圧測定回路312を適宜設けてよい。また、電流測定回路311は自発光素子1に流れる電流を測定できればよく、上述した接続形態でなくてもよい。また電圧測定回路312も自発光素子1の両電極間の電圧を測定できればよく、上述した接続形態でなくてもよい。
また、測定回路31は、複数個の自発光素子1それぞれに設けてもよく、予め規定した自発光素子1にのみ設けてもよく、走査線毎やデータ線毎、電源線毎に設けてもよい。
以上説明したように、本発明の実施形態に係る自発光パネルは、発光機能および受光機能を含む複数の自発光素子1と、入力信号に応じた駆動信号を自発光素子1に入力して、発光機能を生じさせる駆動回路20と、自発光素子1の受光機能によって外光の強度を検出する検出部30と、検出部30による検出結果に基づいて駆動回路20が自発光素子1に入力する駆動信号を調整する制御回路40とを設けたので、煩雑な操作を行うことなく外光の強度に応じて自発光パネルの駆動信号を調整可能な自発光パネルを提供することができる。また、表示パネル10の自発光素子1それぞれに受光機能や発光機能を備えているので、受光素子等を別途設ける必要がなく、装置全体を小型化することができる。
また、検出部30は、受光による自発光素子1の駆動特性変化に応じた受光機能に基づいて、自発光素子1により受光した外光の強度を検出するので、例えば電圧電流特性により高精度に外光の強度を検出することができる。
また、駆動回路20が自発光素子1に入力する駆動電流または駆動電圧に基づいて、自発光素子1により受光した外光の強度を検出する検出部30と、その検出結果に応じて駆動信号を調整する制御回路40を設けたので、自発光素子1を駆動中に駆動信号を調整することができる。
また、検出部30は、自発光素子1に逆バイアスを印加した状態で、自発光素子1に流れる電流値に基づいて外光の強度を検出することで検出感度が高い。つまり検出部30は、自発光素子1に逆バイアスが印加されて当該自発光素子が非発光時に、正孔注入電極(第1電極)3と電子注入電極(第2電極)5との間の駆動電流に基づいて、受光強度を検出することで検出感度が高い。
また、検出部30は、自発光素子1に順バイアスを印加した状態で、自発光素子1に印加された駆動電圧値に基づいて外光の強度を検出することで、発光状態の自発光素子1により、受光強度を検出することができる。つまり、検出部30は、自発光素子1に順バイアスが印加されて自発光素子1が発光時に、正孔注入電極(第1電極)3と電子注入電極(第2電極)5との間の駆動電圧に基づいて、受光強度を検出することで、発光状態の自発光素子1により、受光強度を検出することができる。
また、自発光パネル100の駆動状態に応じて受光検出および駆動信号の調整を行うことで、高精度に受光検出や輝度レベルを調整することができる。
また、部品点数の低減と高い表示性能を有する自発光パネルを提供することができる。
本発明の一実施形態に係る自発光パネルの自発光素子を説明するための等価回路である。 本発明の一実施形態に係る自発光素子を説明するための断面図である。(a)は本発明に係る自発光素子の発光時の動作を説明するための図であり、(b)は受光時の動作を説明するための図である。 図2に示した自発光素子の電圧電流特性を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る自発光素子の明状態時および暗状態時の電圧電流特性の一具体例を説明するための図である。(a)は自発光素子の電圧電流特性の第1具体例を説明するための図である。(b)は自発光素子の電圧電流特性の第2具体例を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の機能ブロック図である。 本発明の一実施形態に係る自発光パネル100を採用したパッシブ駆動型自発光パネルの一部と周辺回路を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の消灯時の動作を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の駆動時の動作を説明するための図である。 自発光パネル100の表示タイミングについて説明するための図である。 表示タイミング前に逆バイアスを印加している自発光素子について受光強度検出を行う動作を説明するための図である。 表示タイミング中(走査中)に順バイアスを印加している自発光素子について受光強度検出を行う動作を説明するための図である。 表示タイミング中(走査中)に逆バイアスを印加している自発光素子について受光強度検出を行う動作を説明するための図である。 本発明に係る自発光パネル100を採用したフィールドリフレッシュ駆動型自発光パネルの動作を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る自発光パネル100の制御回路40の輝度レベル制御に関する動作を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る自発光パネル100を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る自発光パネル100を採用したアクティブ駆動型自発光パネルの一部と周辺回路を説明するための図である。 本発明の実施形態に係る自発光パネルの一具体例として、有機ELパネルの構造を示した説明図である。
符号の説明
1 自発光素子
2 基板
3 第1電極(正孔注入電極)
4 半導体層
5 第2電極(電子注入電極)
10 表示パネル
20 駆動回路
21 電源部
22 第1スイッチ
23 第2スイッチ
30 検出部
31 測定回路
32 検出回路32
40 制御回路
50 メモリ
100 自発光パネル
210 ドライブ回路
220 走査回路
230 電源回路
311 電流測定回路
312 電圧測定回路

Claims (17)

  1. 発光機能および受光機能を含む複数の自発光素子と、
    入力信号に応じた駆動信号を前記自発光素子に入力して、前記発光機能を生じさせる駆動手段と、
    前記自発光素子の前記受光機能によって外光の強度を検出する検出手段と、
    前記検出手段による検出結果に基づいて、前記駆動手段が前記自発光素子に入力する前記駆動信号を調整する制御手段と
    を有することを特徴とする自発光パネル。
  2. 前記検出手段は、受光による前記自発光素子の駆動特性変化に応じた前記受光機能に基づいて、前記自発光素子により受光した外光の強度を検出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の自発光パネル。
  3. 前記検出手段は、前記自発光素子に逆バイアスを印加した状態で、前記受光機能によって生じる当該自発光素子に流れる電流値に基づいて、前記外光の強度を検出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の自発光パネル。
  4. 前記検出手段は、前記自発光素子に順バイアスを印加した状態で、前記受光機能によって生じる当該自発光素子の電圧値に基づいて、前記外光の強度を検出する
    ことを特徴とする請求項1に記載の自発光パネル。
  5. 複数の走査線と複数のデータ線との交差位置近傍に配置された複数の前記自発光素子を備え、
    前記駆動手段は、走査駆動時に前記走査線およびデータ線を介して前記自発光素子に駆動信号を入力し、
    前記検出手段は、走査駆動前に、前記走査線およびデータ線を介して前記自発光素子に逆方向に印加する駆動電流または駆動電圧に基づいて、前記外光強度を検出し、
    前記制御手段は、前記走査駆動時に、前記検出手段による検出結果に基づいて、前記駆動手段による駆動信号の輝度レベルを調整する
    ことを特徴とする請求項1に記載の自発光パネル。
  6. 複数のデータ線と複数の走査線との交差位置近傍に配置された複数の前記自発光素子を備え、
    前記駆動手段は、走査駆動時に前記走査線およびデータ線を介して前記自発光素子に駆動信号を入力し、
    前記検出手段は、前記走査駆動時に、前記自発光素子に順方向または逆方向に印加される駆動電流または駆動電圧に基づいて前記外光強度を検出し、
    前記制御手段は、前記走査駆動時に、前記検出手段による検出結果に基づいて、前記駆動手段による駆動信号の輝度レベルを調整する
    ことを特徴とする請求項1に記載の自発光パネル。
  7. 複数のデータ線と複数の走査線との交差位置近傍に配置された複数の前記自発光素子を備え、
    前記駆動手段は、走査駆動時に前記走査線およびデータ線を介して前記自発光素子に駆動信号を入力し、走査駆動毎にリフレッシュ信号を前記自発光素子に印加し、
    前記検出手段は、前記リフレッシュ信号印加時の駆動電圧または駆動電流に基づいて前記外光強度を検出し、
    前記制御手段は、走査駆動時に、前記検出手段による検出結果に基づいて、前記駆動手段による駆動信号の輝度レベルを調整する
    ことを特徴とする請求項1に記載の自発光パネル。
  8. パッシブ駆動型またはアクティブ駆動型の表示パネルを備える
    ことを特徴とする請求項5に記載の自発光パネル。
  9. 前記自発光素子は、
    基板と、
    前記基板上に形成された正孔注入電極と、
    前記正孔注入電極上に形成された、pn結合を有する半導体層と、
    前記半導体層上に形成された電子注入電極と、を含む
    ことを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか一に記載の自発光パネル。
  10. 前記自発光素子は、
    基板と、
    前記基板上に形成された電子注入電極と、
    前記電子注入電極上に形成された、pn結合を有する半導体層と、
    前記半導体層上に形成された正孔注入電極と、を含む
    ことを特徴とする請求項1から8のいずれか一に記載の自発光パネル。
  11. 前記検出手段は、受光時に、前記正孔注入電極および前記電子注入電極間に流れる電流値に基づいて、前記受光強度を検出する
    ことを特徴とする請求項9または請求項10に記載の自発光パネル。
  12. 前記検出手段は、前記自発光素子に順バイアスが印加されて当該自発光素子が発光時に、前記正孔注入電極と前記電子注入電極との間の駆動電圧に基づいて、前記受光強度を検出する
    ことを特徴とする請求項9または請求項10に記載の自発光パネル。
  13. 前記検出手段は、前記自発光素子に逆バイアスが印加されて当該自発光素子が非発光時に、前記正孔注入電極と前記電子注入電極との間の駆動電流に基づいて、前記受光強度を検出する
    ことを特徴とする請求項9または請求項10に記載の自発光パネル。
  14. 前記制御手段は、暗状態検出時に前記輝度レベルを第1のレベルに設定し、明状態検出時に前記輝度レベルを第1のレベルよりも大きい第2のレベルに設定する
    ことを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか一に記載の自発光パネル。
  15. 前記制御手段は、前記輝度レベルの下限値または上限値を設定する
    ことを特徴とする請求項14に記載の自発光パネル。
  16. 複数のデータ線と複数の走査線との交差位置近傍に配置された、発光機能および受光機能を含む複数の自発光素子と、
    入力信号に応じ駆動信号を前記走査線およびデータ線を介して前記自発光素子に入力して、前記発光機能を生じさせる駆動手段と、
    前記自発光素子の前記受光機能によって外光強度を検出する検出手段と、
    前記複数の自発光素子のうち、規定された第1のエリア内の前記自発光素子について前記検出手段による検出結果に基づいて、規定された第2のエリア内の前記自発光素子に入力する前記駆動信号を調整する制御手段と
    を有することを特徴とする自発光パネル。
  17. 前記自発光素子は、有機EL素子であることを特徴とする
    請求項1から請求項16のいずれか一に記載の自発光パネル。
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