JP2007003418A - 荷電粒子ビームの偏向・収束方法および荷電粒子ビームの偏向・収束器具 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一方の端部の開口部の内径よりも他方の端部の開口部の内径が小径となるように一方の端部から他方の端部に向けて内径が絞られている管状の絶縁物の一方の端部の開口部から荷電粒子ビームを投射し、一方の端部の開口部から管状の絶縁物の管内へ荷電粒子ビームを入射すると、管状の絶縁物の管内の内壁への荷電粒子の衝突による衝突部分における帯電ならびに該衝突部分における帯電に伴う電界による荷電粒子の偏向が、管状の絶縁物の管内において繰り返し行われることで、一方の端部の開口部から管状の絶縁物の管内に入射された荷電粒子ビームは、管状の絶縁物の管内と接触することなく収束されて他方の端部の開口部から外部へ出射される。
【選択図】 図7
Description
なお、本願出願人が特許出願のときに知っている先行技術は、文献公知発明に係る発明ではないため、記載すべき先行技術文献情報はない。
管状の絶縁物の出口から出た荷電粒子数÷管状の絶縁物の入口から入った荷電粒子数>管状の絶縁物の出口の開口面積÷管状の絶縁物の入口の開口面積
の状態を意味するものとする。
即ち、本発明のうち請求項1に記載の発明は、荷電粒子ビームを偏向および収束する荷電粒子ビームの偏向・収束方法であって、一方の端部の開口部の内径よりも他方の端部の開口部の内径が小径となるように上記一方の端部から上記他方の端部に向けて内径が絞られている管状の絶縁物の上記一方の端部の開口部から荷電粒子ビームを投射し、上記一方の端部の開口部から上記管状の絶縁物の管内へ荷電粒子ビームを入射すると、上記管状の絶縁物の管内の内壁への荷電粒子の衝突による衝突部分における帯電ならびに該衝突部分における帯電に伴う電界による荷電粒子の偏向が、上記管状の絶縁物の管内において繰り返し行われることで、上記一方の端部の開口部から上記管状の絶縁物の管内に入射された荷電粒子ビームは、上記管状の絶縁物の管内と接触することなく収束されて上記他方の端部の開口部から外部へ出射されるようにしたものである。
図1ならびに図2(a)(b)には、本発明による荷電粒子ビームの偏向・収束方法を実施するための荷電粒子ビームの偏向・収束器具の構成説明図が示されている。なお、図1は図2(a)のI−I線による断面図であり、また、図2(a)は図1のA1矢視図であり、また、図2(b)は図1のB1矢視図である。
以上の構成において、O−O線をビーム中心軸として荷電粒子ビームをガラス管12の荷電粒子ビーム入口部12aへ入射すると、荷電粒子ビーム入口部12aへ入射された荷電粒子ビームは、ガラス管12の内径に沿って偏向されてガラス管12内を通過し、荷電粒子ビーム出口部12bから荷電粒子ビームのビーム中心軸方向に沿って外部へ出射されることになる。
上記した作用についてさらに詳細に説明すると、荷電粒子ビーム入口部12aからガラス管12内に入射された荷電粒子ビームに含まれる荷電粒子Cが、例えば、ガラス管12の内壁のある部位に最初に衝突すると、当該衝突部分Dの帯電が始まる。
ここで、図3には、O−O線により示す荷電粒子ビームのビーム中心軸に対して、ガラス管12の管軸中心を角度αだけ全体に傾けて配置した場合が示されている。なお、角度αとしては任意の角度を設定することができ、例えば、角度αは5°に設定することができる。
ここで、図4には、O−O線により示す荷電粒子ビームのビーム中心軸に対して、ガラス管12の荷電粒子ビーム出口部12b近傍の領域のみを角度βだけ傾けて配置した場合が示されている。なお、角度βとしては任意の角度を設定することができ、例えば、角度βは5°に設定することができる。
次に、図5ならびに図6(a)(b)には、本発明による荷電粒子ビームの偏向・収束方法を実施するための本発明による荷電粒子ビームの偏向・収束器具の実施の形態の一例の構成説明図が示されている。なお、図5は図6(a)のV−V線による断面図であり、また、図6(a)は図5のA2矢視図であり、また、図6(b)は図5のB2矢視図である。
次に、図7ならびに図8(a)(b)には、本発明による荷電粒子ビームの偏向・収束方法を実施するための本発明による荷電粒子ビームの偏向・収束器具の実施の形態の他の例の構成説明図が示されている。なお、図7は図8(a)のVII−VII線による断面図であり、また、図8(a)は図7のA3矢視図であり、また、図8(b)は図7のB3矢視図である。
次に、本願発明者による実験結果について説明するが、この実験においては、図7および図8(a)(b)に示す荷電粒子ビームの偏向・収束器具200を用いて、この荷電粒子ビームの偏向・収束器具200を図3に示すような状態になるように徐々に傾けるようにして、その傾きの変化に伴う荷電粒子ビーム出口部12bから出射される荷電粒子ビームの変化を測定した。なお、荷電粒子ビームは、荷電粒子ビームのビーム中心軸が常時O−O線と一致するように入射した。
なお、以上において説明した上記した実施の形態は、以下の(1)乃至(5)に説明するように変形してもよい。
(a)ビーム中の荷電粒子の価数は2価以上であり、好ましくは、8価以上であって電荷はプラスまたはマイナスであること、
(b)質量数が5以上であり、好ましくは、10以上140以下であり、さらに好ましくは、18以上40以下であるイオンビームまたは分子イオンビームであること(水素イオンと原子核崩壊しないヘリウムのイオンは含まないこと)、
(c)各イオンの持つ運動エネルギーは100キロ電子ボルト以下であり、好ましくは、1キロ電子ボルト以上80キロ電子ボルト以下であり、さらに好ましくは、8キロ電子ボルト以上70キロ電子ボルト以下であること、
という、上記(a)(b)(c)の条件を満たすものであることが好ましいものであり、上記条件を備えた荷電粒子ビームにおいては、本発明を適用することにより極めて良好な偏向および収束作用を得ることができる。
12 ガラス管
12a 荷電粒子ビーム入口部
12b 荷電粒子ビーム出口部
12c 端面
12d 内壁部位
100 荷電粒子ビームの偏向・収束器具
102 導体膜
200 荷電粒子ビームの偏向・収束器具
202 金属板
Claims (7)
- 荷電粒子ビームを偏向および収束する荷電粒子ビームの偏向・収束方法であって、
一方の端部の開口部の内径よりも他方の端部の開口部の内径が小径となるように前記一方の端部から前記他方の端部に向けて内径が絞られている管状の絶縁物の前記一方の端部の開口部から荷電粒子ビームを投射し、前記一方の端部の開口部から前記管状の絶縁物の管内へ荷電粒子ビームを入射すると、前記管状の絶縁物の管内の内壁への荷電粒子の衝突による衝突部分における帯電ならびに該衝突部分における帯電に伴う電界による荷電粒子の偏向が、前記管状の絶縁物の管内において繰り返し行われることで、前記一方の端部の開口部から前記管状の絶縁物の管内に入射された荷電粒子ビームは、前記管状の絶縁物の管内と接触することなく収束されて前記他方の端部の開口部から外部へ出射される
ことを特徴とする荷電粒子ビームを偏向および収束する荷電粒子ビームの偏向・収束方法。 - 請求項1に記載の荷電粒子ビームの偏向・収束方法において、
前記一方の端部の開口部の端面は導体により被覆されており、前記一方の端部の開口部の端面の帯電を防止して荷電粒子ビームを入射する
ことを特徴とする荷電粒子ビームを偏向および収束する荷電粒子ビームの偏向・収束方法。 - 請求項1または2のいずれか1項に記載の荷電粒子ビームの偏向・収束方法において、
前記一方の端部の開口部の端面に隣接する内壁部位の帯電を中和しながら荷電粒子ビームを入射する
ことを特徴とする荷電粒子ビームを偏向および収束する荷電粒子ビームの偏向・収束方法。 - 請求項1、2または3のいずれか1項に記載の荷電粒子ビームの偏向・収束方法において、
前記荷電粒子ビームは、電荷はプラスまたはマイナスであり、かつ、質量数が5以上のイオンビームまたは分子イオンビームであり、かつ、各イオンの持つ運動エネルギーは100キロ電子ボルト以下である
ことを特徴とする荷電粒子ビームを偏向および収束する荷電粒子ビームの偏向・収束方法。 - 請求項4に記載の荷電粒子ビームの偏向・収束方法において、
前記荷電粒子ビームは、ビーム中の荷電粒子の価数が2価以上である
ことを特徴とする荷電粒子ビームを偏向および収束する荷電粒子ビームの偏向・収束方法。 - 荷電粒子ビームを偏向および収束するために用いる荷電粒子ビームの偏向・収束器具であって、
荷電粒子ビームが入射される一方の端部の開口部の内径よりも他方の端部の開口部の内径が小径となるように前記一方の端部から前記他方の端部に向けて内径が絞られている管状の絶縁物と、
荷電粒子ビームが入射される前記管状の絶縁物の前記一方の端部の開口部の端面に形成された導体と
を有し、
前記一方の端部の開口部の端面の帯電を防止して荷電粒子ビームを入射する
ことを特徴とする荷電粒子ビームの偏向・収束器具。 - 請求項6に記載の荷電粒子ビームの偏向・収束器具において、さらに、
前記一方の端部の開口部の端面に隣接する内壁部位の帯電を中和する電子またはプラスイオンを供給する供給手段を
有すること特徴とする荷電粒子ビームの偏向・収束器具。
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