JP2006528769A - 高周波回路アナライザ、高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法およびそれらの較正方法並びにそれらを含む回路の設計を改良および製造する方法。 - Google Patents
高周波回路アナライザ、高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法およびそれらの較正方法並びにそれらを含む回路の設計を改良および製造する方法。 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】実負荷引き出し回路201は、DUT206から出力信号を受け取って、そのとき、変更された信号をDUT206に提供して戻すDUT206に接続され、その信号は、入力信号x,yを考慮すると信号処理回路237によって変更されて、フィードバック回路237で作用する振幅ゲインと位相変化を制御する。よってポジティブフィードバックループは避けられて分析の制御のためのより良い制御が可能になる。ネットワークアナライザまたは他の信号測定装置242がDUT206のポートで観測された波形(引き出されたs−パラメータから)を記録し、その結果、様々な負荷条件の下におけるDUT206の挙動が分析される。
【選択図】図10
Description
デバイスアンダーテスト(DUT)106を示している。電力スプリッタ102の入力側で受け取られた信号aSOURCEは、二つの信号に分割され、一つは、移相器103、可変減衰器104および増幅器105を介し、その結果、信号aOUT(aOUTの矢は、一般的な慣習に従って図1の右から左へ指しているのを確認)、そして他のaINは、DUT106の他のポートに直接与えられて、信号bOUT(bOUTの矢は、一般的な慣習に従って図1の左から右へ指しているのを確認)を生成する。反射係数ΓLは、進行波aOUTとbOUTの比に等しく、それはΓL=aOUT/bOUTである。反射係数ΓLは、信号aOUTの強度および位相を変えることによって設定される。
本発明のアナライザは、分析される上記電子デバイスの作動中に接続可能な実負荷引き出し回路と、この実負荷引き出し回路は、フィードバック回路を有し、分析されるためにデバイスから出力信号を受け取り、この出力信号を変更し、そして分析されるために変更された上記信号を前記電子デバイスに提供して戻し、前記フィードバック回路は、周波数範囲内のすべての周波数で振幅ゲインを制限することを特徴とする。
デバイスのポートから分析されるべきデバイスからの出力信号を受け取ることができる。アナライザを使用している間、デバイスのそのようなポートに高周波信号が与えられる。作動中のデバイスまたは回路の設計改良を試みるとき、実負荷引き出し回路をかなり利用できる。そのような改良をすることを可能にするため、反射係数が約1であるとき、デバイスが所定の条件下で作動しているとき測定ができる利点がある。反射係数は、同じ周波数(またはDUTに向かって進行する電波)においてDUT(または電波がDUTから変化して)から作り出されるある周波数における出力信号対反射信号の比に等しい。DUTのポートで作り出される信号が電波であるので、しばしば多くの周波数からなり、一般に反射係数は異なる周波数において異なる。本発明によればシステムが不安定にならなければ反射係数が1に非常に近いときでも測定可能である。周波数範囲の中の全ての周波数でフィードバック回路の強度ゲインが制限されなければ、アナライザ(DUTに接続される)は、潜在的なシステムの「閉鎖」および/またはシステムの不安定性に導かれながら周波数範囲内のある周波数でポジティブフィードバックループ(その周波数における回路の電力利得が1以上であるようなところ)を形成することがある。その結果、回路(すなわち周波数範囲外の周波数で振幅ゲインがゼロまたはおおよそゼロに制限する)のバンド幅を変更する(例えば、減少する)および/またはバンドにおける性能を制御することによって(周波数範囲内の周波数で)事実上、実負荷引き出し回路のゲインを制限しながら振幅ゲインを制限するフィードバック回路の機能と見なすことができる。
実負荷引き出し回路は、フィードバック回路にもかかわらず、他のどんなコンポーネントからもなることができない。しかしながら、あるいはまた実負荷引き出し回路は、フィードバック回路のフィードバック効果にかなり貢献しない他のコンポーネントを含むことができる。
アナライザは、周波数範囲内の一つ以上の周波数におけるフィードバック回路で作用する位相変化を調整することができる。
フィードバック回路は、周波数範囲内のすべての周波数でフィードバック回路で作用した位相変化を制限することができる。たとえば、フィードバック回路で作用するフィードバック回路および/または回路発振における積極的なフィードバックの危険を最小とする位相変化を制限するためにフィードバック回路を設けることができる。例えば、一般にそのような望ましくない結果を引き起こす位相変化は、[180]度の整数倍、例えば[0]度または[360]度などである。
分析される上記電子デバイスの作動中に接続可能な実負荷引き出し回路と、この実負荷引き出し回路は、フィードバック回路を有し、(i)分析されるためにデバイスから出力信号を受け取り、(ii)この出力信号を変更し、そして(iii)分析されるために変更された上記信号を前記電子デバイスに提供して戻し、そしてそこではフィードバック回路が周波数範囲の中でのすべてのフィードバック回路のゲインの大きさおよび/または位相を制御するために設けられる
本発明の特に有利な特徴は、アナライザ(そして、実負荷引き出し回路)によって、ある一定の帯域幅(周波数範囲)の周波数でフィードバックの大きさと位相を制御する機能を有することである。この特徴は、実負荷引き出し回路が実際の情報通信システムに使用されるものと等しい周波数と電力の信号と関連して利用されることを可能にし、通常、信号が接近して仕切られた周波数からなるフィルタでは周波数を分離できなかった(アクティブロード回路の中のYIGフィルタについて先行技術で提案した)。
アナライザが複数の周波数の離散的な範囲の周波数上で測定するために用いられるとき、周波数範囲は周波数の複数の離散的なバンドを含んでいると考えることができる。そのような離散的なバンドは、周波数範囲のサブレンジであると見なすことができる。
アナライザは、例えば電力レベルが1Wを超える高電力信号にかけられると都合が良く、特に電力レベルが10Wを超えると好都合である。デバイスは、高電力トランジスタでよい。デバイスは、例えばテレコミュニケーション基地局の回路を増幅する高電力で用いるのに適したデバイスでよい。
以下、本発明について説明した実施例では、信号を変更するユニットは、アナログ−ディジタルコンバータを通して、第一のミキサからアナログ信号を受け取って、ディジタル−アナログコンバータを通して第二のミキサに出力信号を送るために設けられるディジタルシグナルプロセッサを備える。そのよう場合は、ディジタルシグナルプロセッサがコンピュータの形式にあるか、またはコンピュータの制御の下で操作されるのが好ましい。この実施例では、アナライザがナローバンドフィルタを有していて、アナログ−ディジタルコンバータは、8ビットのサンプリング回路であり、ナローバンドフィルタの帯域幅のセンタにおける周波数の少なくとも4倍の速度で入力されるアナログ信号を抽出する。ディジタルシグナルプロセッサと、ことによるとアナログ−ディジタルコンバータおよび/またはディジタル−アナログコンバータは、大変好都合に配置されているので、ディジタル−アナログコンバータによって出力されたアナログ信号は、当然のこと帯域幅の外でアナログ−ディジタルコンバータで受け取った信号の要素を除くために使用されてフィルタにかけられるということであり、その結果、バンドフィルタの機能をする。
フィードバック回路は、予め選択することのできる量によって分析されるデバイスからの信号の振幅を作動中に変更可能な回路を備えることを特徴とする。可変振幅変更回路は、例えば可変増幅器を有することができる。可変振幅変更回路は、可変増幅器と固定増幅器を有することができる。増幅変更回路は、信号の量またはコンポーネントのそれらによって分析されるデバイスからの信号の増幅度を作動中に変えることができる。
(オプションでディジタル)シグナルプロセッサは、作動中に作動するフィルタ回路、振幅変更回路および位相変更回路を備えることを特徴とする。ディジタルシグナルプロセッサは、その信号のIQ値を処理しながら振幅および位相変更回路の機能を提供する。
フィードバック回路は、例えばミキサまたはIQデモジュレータを有し、シグナルプロセッサが処理できる信号に高周波数信号を変換する。このような場合、フィードバック回路は、例えば、ミキサまたはIQモジュレータを備え、シグナルプロセッサによって処理された信号を高周波出力信号に変換して戻している。
実負荷引き出し回路は、フィードバック回路が制御している周波数とかなり異なる周波数で出力信号を作動中に作成できる。分析されるべき実負荷引き出し回路がお互いに影響を及ぼすことができる周波数が全くない、あるいはデバイスがアクティブな負荷牽引力の回路によって分析されるために提供して戻される信号において周波数と同じであるか同様の周波数などのようなものであれは、分析されるべきデバイスと実負荷引き出し回路の間の発振は効果的に有効に減少または除去できる(通常、高周波信号、例えば1.8GHz台)。しかしながら実負荷引き出し回路のすべての内部発振は、単に周波数が変化し、ダウンコンバートされる(通常、比較的低い周波数の信号である例えば20kHzのオーダ)。通常20kHzではどのような発振も非常に起こりにくく、その結果、単に1.8GHzで分析されるべきデバイスのインピーダンスのどのような変化も観測することができる。その結果、実負荷引き出しが信号を変更している周波数からフィードバック信号を作成する周波数の分離は、安定性をもたらし、対象となるすべての周波数のける内部回路発振とポジティブフィードバックの危険を大いに減少させる。そのような利点は、独立しているアプリケーションを有することができ、そしてそのようなものとして本発明はさらに測定周波数内の周波数で測定するためのアナライザに高周波入力信号への電子デバイスの応答を与え、分析されるためにデバイスの作動中に接続可能な負荷引き出し回路を含むアナライザであって、その負荷引き出し回路は、アレンジされた信号変換回路を備え、(i)変更されるために受信される信号、(ii)低周波信号にダウンコンバートされる受信された信号、変換された低周波信号を高周波信号にアップコンバートし、そして(iii)分析されるために変換された信号をデバイスに与える。そのような構成は、望ましくないポジティブフィードバックまたは信号発振の危険を減少させることができる。本発明のこの側面は、もちろん本明細書に記載された発明の他の側面の特徴を含むことができる。例えば、信号変換回路によって受信された信号が分析されるためにデバイスから生成されるものであるように負荷引き出し回路がフィードバック回路の構成であってもよい。信号のダウンコンバージョンは、変更された上記のI値およびQ信号を得ることができる。
過程を制御し、フィルタ回路は、作動中、回路が受信した第一のミキサからの第一の入力信号と一緒にフィルタ回路の一部によって生成された第二の信号、第一のミキサで混合されたて異なる周波数の第三の信号の生成するコンポーネントを有し、この異なる周波数は第一の信号と第二の信号の周波数の差に等しく、そして第三の信号は信号変換ユニットによって実質的に変換されて、異なる周波数を含む周波数のバンド外に移される。
分析されるために電子デバイス提供し、
高周波信号をデバイスに与え、そして、
デバイスから出力信号を変換して、次に変換された信号をデバイスに与え戻して、その結果、フィードバックループを形成し、そして、
周波数範囲の中の複数の周波数でデバイスに与えられた信号に対するデバイスの応答を測定し、
そこでは、フィードバックループの振幅ゲインは、所定周波数範囲内の周波数で制限される。
望ましくは、デバイスの適用される信号の基本周波数は、1GHz以上である。その基本周波数は、500MHz〜50GHzである。
望ましくは入力信号は、少なくとも1ワットと、より望ましくは10ワット以上の高電力入力信号である。その方法は、繰り返されデバイスに適用された複数の異なる入力信号で実行されることを特徴とする。異なる入力信号は、例えば異なる別々の入力信号の電力の複合でもよい。その入力信号は、例えば異なる別々の周波数の入力信号の複合でもよい。各入力信号においてこの方法は、分析されるデバイスからの出力信号の異なる変更の複合関連で望ましく繰り返されて実行される。例えば、各入力信号のため、事実上、デバイスが提供して戻された信号にされる異なった変更の複合はIQプレーンを通して信号のシステマティックなトレースから成ることができる(例えば、上述のように)。
例えば、ヘテロダインフィルタ環状回路は、第一のミキサ、第二のミキサおよび信号変換ユニットを備えることができる。
シグナルプロセッサは、例えばデバイスからの出力信号の変換をするステップにおける好ましい方法を用いたこと特徴としている。シグナルプロセッサは、バンドフィルタリング機能を備える。シグナルプロセッサは、一つあるいはそれ以上の以下のステップを備える:信号の周波数を変更すること、信号の振幅を変更すること、信号のI値および信号のQ値を変更すること。またシグナルプロセッサは、この方法で使用される他の一つ以上のコンポーネントの非理想的な振る舞いの補償ができる。
高周波信号をフィードバックループまたはフィードバック回路の入力として与え、そして、
与えられた高周波信号を変換して負荷を合成するべく変更されたその信号を入力に与え戻して、
周波数範囲内の複数の周波数、入力における変更された信号で計測し、
フィードバックループまたはフィードバック回路によって与えられた信号になされた特定の変更に対応する代表的な負荷について計算して、この信号への変更に対して測定値の結果を電子的に格納し、異なる複数の前記負荷のため上記の各工程を繰り返す。この較正方法は、電子的に格納された測定値の通りに信号を変更するステップの間、適切な変更を選択することによって予め用意された負荷を電子デバイスの出力に適用できるよう実行する。
この方法は、本明細書に記載されるように本発明によるアナライザで行うことができる。望ましくは本明細書に記載される本発明のアナライザまたは実負荷引き出し回路が本明細書に記載されるように本発明の方法のいずれかまたはすべてを行うことができるようアレンジされる。
本明細書において周波数範囲内のすべての周波数でフィードバック回路の振幅ゲインを制限させる。ゲインの限界点がポジティブフィードバックまたは発振を起こしそうな周波数で能動的に適用されるだけでよい。
図2bは本発明の第二の実施例による回路図を最初の実施例の概要図に従って示したものである(図2a)。回路はDUT6につなげられたフィードバック実負荷引き出し回路1を含んでいる。回路1は増幅器5と、シグナルサーキュレータ7、周波数帯内と周波数帯外の信号を操作する信号変換手段9とからなる。信号変換手段9はIQデモジュレータ36を有する(それは、シグナルサーキュレータ7から信号を受信する)。
信号bOUTに含まれた大きさと位相情報を低い周波数に変換し、次に、再プログラム可能なディジタル回路37によってディジタル化され、次に操作されたこの情報から「I」,「Q」信号を作り出す。ディジタル回路37はフィードバック回路1によって実行された「I」,「Q」信号のフィルタリングの有効帯域幅を変えることができる。信号bOUTの周波数内成分よって帯域幅を変えることができる。また、容易に「IおよびIと同様にQ」と「Q」の間のオフセットを変えることができ、その結果、フィルタリングの帯域幅の中で負荷引き出しの周波数レスポンスを制御する。その結果、帯域幅外および帯域幅内で信号aOUTと信号bOUTの負荷引き出し回路の周波数レスポンスを制御できる。
この回路21は、同調可能な局部発振器(LO)22が信号を与える2個のミキサへの信号に23a,23bに介挿されて、これらの間には8ビットのアナログ−ディジタルコンバータ(ADC)24と8ビットのディジタル−アナログコンバータ26を含む。(もちろんより高い精度が必要であるなら、ADCとDACのビット分解能を高めることができる。)回路に入る信号は、矢27によって表され、回路21を出る信号は、矢28によって表される。局部発振器は、作動中にDUT6によって図3を参照して説明したナローバンドフィルタ8と同様の方法で第一の高調波周波数のまさにその近くの周波数で(互いに同調した)二つの同じ正弦波信号を生成するように(DSP25の制御下によって)設定される。第一のミキサ23aは、二つの信号をまとめてミキサ23aで入力された二つの信号の周波数(この場合1MHz)の差に等しい周波数を有するコンポーネントを含む信号を出力する。したがって、DUT6からの入って来る信号(矢27)は、事実上、ダウンコンバートされて低い周波数信号に変換される(それは、矢30によって表される)。その信号は、ダウンコンバートされてADCに渡されるとき、ディジタル信号に変換される。そのサンプリングレートは、入ってくる信号の周波数の少なくとも4倍であるように設定される。本実施例では、抽出される信号の周波数が1MHzであるがADCのサンプリングレートは40MHzである。DSPはそのときの信号を処理し、DAC26によってアナログ信号に変換されるディジタル信号を出力する。その結果として生じる出力信号31は、第二のミキサ23bに渡されて、第二のミキサ23bの局部発振器22からの二つの信号のうちの一方(矢29)と再結合する。DAC26からの出力信号31は、対象となる周波数以外の周波数に信号成分を実質的にまったく含んでいない。
第五の実施例によれば、第三の実施例によるところのLOが対象となる周波数と同じ周波数で発振する原因になるなら計測装置と回路を利用する。したがって、最初のミキサ23aの出力は対象となる周波数で入力信号(矢27)の成分の大きさを代表する直流成分を含む。実負荷引き出しによってかけられた負荷の相対的な大きさと位相の制御は、信号の位相がDUT6に入力して、単一発生器(図示せず)で発生させたLOの相対的な位相を変更して、第二のミキサ23bに送られたDC信号の大きさを変更することで制御可能である。それは第一と第四の実施例と関連して同じ手法を使用できたということが分かる。
I’=IX−QY ; および
Q’=IY+QX , そしてそれは、:
Fx,y(I,Q)=I’+jQ’=(x・I−y・Q)+j(x・Q+y・I)
=(x+jy)*(I+jQ), および
(I’+jQ’)/(I+jQ)=x+jy=Z、
ここに[Z]は一定の複素数である。
また、一つの実施例の特徴を別の実施例に適切に、容易に取り入れることができる。例えば、第三の実施例のDSP回路21と第四の実施例のモジュレータ32は、それぞれフィルタ8と第一の実施例の回路に図示された信号変換ユニット9を形成できる。
上述の実施例では、負荷引き出し回路は、DUTだけの出力に接続されるとして示された。したがって、例えば、少なくとも2個の実負荷引き出し回路からなって、入力のときにDUTに付与される1個の実負荷引き出し回路およびもう片方が出力のときに付与されるアナライザを付与することができる。
5 増幅器
6 DUT(デバイスアンダーテスト)
7 サーキュレータ
8 バンドフィルタ
9 信号変換ユニット
10a,10b ミキサ
11,22 局部発振器
12 バンドパスフィルタ
17 コンピュータ
18,32,38 モジュレータ
21 ディジタルシグナルプロセッサ回路
22 局部発振器
23a,23b ミキサ
26 アナログコンバータ
32 信号変調回路
33 可変移相器
34 可変増幅器
36 デモジュレータ
37 ディジタルシグナルプロセッサ
39 局部発振源
201 実負荷引き出し回路
236 IQデモジュレータ
237 アナログ信号処理回路
240a,240b 信号発生器(信号源)
241 信号結合器
242 オシロスコープ(信号測定装置)
243a,243b 結合器
244a,244b 結合器
Claims (29)
- 所定の周波数範囲内における周波数の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答を測定するための高周波回路アナライザであって、
分析される上記電子デバイスの作動中に接続可能な実負荷引き出し回路と、
この実負荷引き出し回路は、フィードバック回路を有し、
(i)分析されるためにデバイスから出力信号を受け取り、
(ii)この出力信号を変更し、そして
(iii)分析されるために変更された上記信号を前記電子デバイスに提供して戻し、
前記フィードバック回路は、周波数範囲内のすべての周波数で振幅ゲインを制限することを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1に記載の高周波回路アナライザであって、
前記高周波回路アナライザは、前記周波数範囲内の一つ以上の周波数における前記フィードバック回路の振幅ゲインが調整できることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1または2に記載の高周波回路アナライザであって、
前記高周波回路アナライザは、前記周波数範囲内の一つ以上の周波数における前記フィードバック回路で作用する位相変化が調整できることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1〜3のいずれかに記載に高周波回路アナライザであって、
前記フィードバック回路は、前記周波数範囲内のすべての周波数で該フィードバック回路に作用した位相変化を制限することを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1〜4のいずれかに記載の高周波回路アナライザであって、
前記フィードバック回路は、所定範囲内の周波数をカバーする帯域を有するバンドフィルタとして機能することを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1〜5のいずれかに記載の高周波回路アナライザであって、
更に前記デバイスから与えられた信号を該デバイスに戻す前段に設けられて、前記フィードバック回路または該フィードバック回路からの所定周波数範囲内の周波数の信号をカバーする帯域幅でフィルタリングする高周波帯域フィルタ回路を備えることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項5または6に記載の高周波回路アナライザであって、
前記フィードバック回路は、10MHz以上の帯域幅を有するバンドフィルタとして機能することを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1〜7のいずれかに記載の高周波回路アナライザであって、
前記フィードバック回路は、ヘテロダインフィルタ環状回路を含むことを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項8に記載の高周波回路アナライザであって、
前記ヘテロダインフィルタ環状回路は、第一のミキサ、第二のミキサおよび信号変換ユニットを有し、
ヘテロダインフィルタ環状回路は、
その作動中に予め選択された周波数を有する信号と共に、第一のミキサへの入力を受け取るために設けられて、
前記第一のミキサからの出力は、前記ヘテロダインフィルタ環状回路の出力信号を生成するために予め選択された周波数と等しい周波数を有する信号に結合されて前記信号変換ユニットを介して前記第二のミキサに送出されることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1〜9のいずれかに記載の高周波回路アナライザであって、
前記フィードバック回路は、予め前選択することが可能な量によって分析されるデバイスからの信号を作動中に変更できるシグナルプロセッサを備えることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項10に記載の高周波回路アナライザであって、
前記シグナルプロセッサは、前記信号のI値およびQ値のそれぞれの代表値を処理するべく設けられたことを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1〜11のいずれかに記載の高周波回路アナライザであって、
前記アナライザは、分析される前記デバイスに入力信号を送出する信号発生器を備えることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項1〜12に記載の高周波回路アナライザであって、
前記アナライザは、分析される前記デバイスに与えられた信号に対応して生じる測定負荷を計測する信号測定装置を備えることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 前記高周波回路アナライザで用いる周波数範囲内の所定の周波数において高周波入力信号に対する電子デバイスの応答を測定するための実負荷引き出し回路と、
この実負荷引き出し回路に接続されて、分析される稼働中の前記電子デバイスと、
この分析される電子デバイスからの信号を受けるべく設けられて、該信号を変更して分析されて変更された該信号を前記電子デバイスに戻すフィードバック回路と
を備え、
前記フィードバック回路は、周波数範囲内でのすべての周波数で該フィードバック回路の振幅ゲインを制限することを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 請求項14に記載の高周波回路アナライザであって、
前記実負荷引き出し回路は、前記請求項2〜11のいずれかに記載のアナライザの実負荷引き出し回路を備えることを特徴とする高周波回路アナライザ。 - 高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
分析される前記電子デバイスに高周波信号を与え、前記電子デバイスから出力される出力信号を変更して、そのとき変更された前記出力信号を前記電子デバイスに与え戻すフィードバックループを形成し、所定の周波数範囲中の複数の周波数で、前記電子デバイスに与えられた前記信号に対する該電子デバイスの応答を測定する一方、前記フィードバックループの振幅ゲインは、前記周波数範囲内の周波数で制限されることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項16に記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記フィードバックループで作用する位相変化は、所定の周波数範囲中の周波数で制限されることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項16または17に記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記デバイスからの出力信号が変更される方法を予め選択する工程を有することを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項18に記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記電子デバイスからの出力信号に与えられる振幅を予め選択する工程を備えることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項18または19に記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記電子デバイスからの出力信号に与えられた位相変化を予め選択する工程を備えることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項16〜20のいずれかに記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記電子デバイスからの出力信号を変更する工程は、前記周波数範囲中で周波数をカバーし、周波数バンド外の周波数を有する信号を無視することを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項16〜21のいずれかに記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記電子デバイスに与えられる信号の基本周波数が1GHz以上であることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項16〜22のいずれかに記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記電子デバイスからの出力信号の複数の異なる変更に関し、繰り返し実行されることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項16〜23のいずれかに記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法であって、
前記電子デバイスに与えられた異なる複数の入力信号に関し、繰り返されて実行されることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法。 - 請求項1〜15に記載の高周波回路アナライザまたは請求項16〜24に記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法における較正方法であって、
この較正方法は、前記高周波信号を前記フィードバックループまたはフィードバック回路の入力として与え、そして与えられた高周波信号を変換して負荷を合成するべく変更されたその信号を入力に与え戻して、周波数範囲内の複数の周波数、入力における変更された信号で計測し、前記フィードバックループまたは前記フィードバック回路によって与えられた信号になされた特定の変更に対応する代表的な負荷について計算して、この信号への変更に対して測定値の結果を電子的に格納し、異なる複数の前記負荷のため上記の各工程を繰り返すことを特徴とする較正方法。 - 請求項16〜24のいずれかに記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法における較正方法であって、
電子的に格納された測定値の通りに信号を変更するステップの間、適切な変更を選択することによって予め用意された負荷を前記電子デバイスの出力に適用できるように請求項25に記載の較正を実行することを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法における較正方法。 - 請求項16〜26のいずれかに記載の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法における較正方法であって、
これら較正方法は、請求項1〜15に記載のアナライザで実行されることを特徴とする高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法における較正方法。 - 高周波大電力デバイスまたは高周波大電力デバイスを含む回路の設計を改良する方法であって、
請求項1〜15のいずれかに記載のアナライザまたは請求項16〜24を用いることによって前記デバイスの挙動を分析し、これらデバイスの挙動の分析の結果を考慮してデバイスの設計を変更し、またはデバイスを含む回路を変更することを特徴とする高周波大電力デバイスまたは高周波大電力デバイスを含む回路の設計を改良する方法。 - 高周波大電力デバイスまたは高周波大電力デバイスを含む回路を製造する方法であって、
請求項28に記載の方法を適用することによって同様の既存のデバイスまたはそのようなデバイスを含む回路の設計を改良して改善された設計を行うことを特徴とする高周波大電力デバイスまたは高周波大電力デバイスを含む回路を製造する方法。
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