JP2006512212A - 混合された合金からなる無鉛はんだペースト - Google Patents
混合された合金からなる無鉛はんだペースト Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006512212A JP2006512212A JP2004565730A JP2004565730A JP2006512212A JP 2006512212 A JP2006512212 A JP 2006512212A JP 2004565730 A JP2004565730 A JP 2004565730A JP 2004565730 A JP2004565730 A JP 2004565730A JP 2006512212 A JP2006512212 A JP 2006512212A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- alloy
- solder paste
- phase temperature
- particles
- difference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3485—Applying solder paste, slurry or powder
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/02—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape
- B23K35/0222—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape for use in soldering, brazing
- B23K35/0244—Powders, particles or spheres; Preforms made therefrom
- B23K35/025—Pastes, creams, slurries
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/02—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape
- B23K35/0222—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by mechanical features, e.g. shape for use in soldering, brazing
- B23K35/0244—Powders, particles or spheres; Preforms made therefrom
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/26—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
- B23K35/262—Sn as the principal constituent
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K35/00—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
- B23K35/22—Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
- B23K35/24—Selection of soldering or welding materials proper
- B23K35/30—Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 1550 degrees C
- B23K35/3006—Ag as the principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
- H05K3/3463—Solder compositions in relation to features of the printed circuit board or the mounting process
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/02—Fillers; Particles; Fibers; Reinforcement materials
- H05K2201/0203—Fillers and particles
- H05K2201/0263—Details about a collection of particles
- H05K2201/0272—Mixed conductive particles, i.e. using different conductive particles, e.g. differing in shape
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
Abstract
混合された合金からなる無鉛はんだペーストと、同はんだペーストの製造方法、及び使用方法に関する。はんだペーストは、フラックス中に混合された第一の合金の粒子と第二の合金の粒子とを含有する。第一の合金と第二の合金との液相温度の差は、約15℃未満である。
Description
本発明は、混合された合金からなる無鉛はんだペーストと、同はんだペーストの製造方法、及び使用方法に関する。より詳細には、混合された合金は、はんだプロセスにおけるツームストーン効果を低減するか、又は排除する液相温度を有する少なくとも二種の合金の粒子の組み合わせから構成されている。
電子工業界は、消費者製品から鉛を排除することを強いられており、そのため環境に優しい新たなはんだペーストを製造する試みが盛んに行われている。
特許公報1には、無鉛はんだ合金の粉末とフラックスとから構成されているはんだペーストが開示されている。このはんだ合金の粉末は、10〜45重量%のBiと、バランス量のSnとを含有する、10〜30体積%のSn−Bi合金からなる第一の粉末と、9〜15重量%のZnと、バランス量のSnとを含有する、70〜90体積%のSn−Zn合金からなる第二の粉末との混合物から構成されている。混合物は、融解することにより、7〜11重量%のZnと、1〜5重量%のBiと、バランス量のSnとを含有する組成の合金を形成する。
特許公報1には、無鉛はんだ合金の粉末とフラックスとから構成されているはんだペーストが開示されている。このはんだ合金の粉末は、10〜45重量%のBiと、バランス量のSnとを含有する、10〜30体積%のSn−Bi合金からなる第一の粉末と、9〜15重量%のZnと、バランス量のSnとを含有する、70〜90体積%のSn−Zn合金からなる第二の粉末との混合物から構成されている。混合物は、融解することにより、7〜11重量%のZnと、1〜5重量%のBiと、バランス量のSnとを含有する組成の合金を形成する。
特許文献2には、主なはんだ粉末と、はんだプロセス中に融解しない付加的な金属粉末成分とを含有する無鉛電気はんだペーストを製造する方法が開示されている。主なはんだ粉末は、従来のはんだペーストに使用されているはんだ粉末と同一である。付加的な粉末は、主な粉末の融点よりも相当高い融点を有する。主要な粉末は、80〜99%のSnと、1〜20%のAgとを含有している。付加的な粉末の金属は、Sn,Ni,Cu,Ag,及びBi、並びにこれらの混合物のうちから選択される。
米国特許出願公開第2002/0040624号明細書
米国特許第6,360,939号明細書
はんだに関連する問題として、ツームストーンの発生がある。ツームストーンは、一般に、はんだリフロー中、電気構成要素が幾分か鉛直方向に変位することとして定義される。他言すれば、ツームストーンとは、電気構成要素が基板にはんだ付けされる際に、電気構成要素の一方の端部が上方の位置へと変位することを意味する。この問題は、無鉛はんだ付けにおいて特に悪化する。即ち、無鉛はんだ材料は相当高い癒着力(湿潤力)を有しており、これがツームストーン効果を促進する。従って、ツームストーンの発生が低減、又は排除された無鉛はんだ材料を発見することは有益であると想定される。
本発明のはんだペーストは、均質なはんだ材料を提供し、リフロー工程中の望ましくないツームストーンの発生を低減、又は排除する。本発明の一実施形態において、混合された合金からなるはんだペーストを提供する。はんだペーストは、液相温度と固相温度との差が20℃以下である第一の合金の粒子と、液相温度と固相温度との差が20℃以下である第二の合金の粒子とを含有している。はんだペースト中には、フラックスも含まれる。第一の合金の粒子と第二の合金の粒子とはフラックスと混合され、第一の合金の液相温度と第二の合金との液相温度との差は、15℃以下であることが好ましい。
本発明の一実施形態では、第一の合金の粒子の液相温度と固相温度との差は15℃以下であり、第二の合金の粒子の液相温度と固相温度との差は15℃以下である。第一の合金
の粒子の液相温度と固相温度との差は10℃以下であり、第二の合金の粒子の液相温度と固相温度との差は10℃以下であることが好ましい。第一の合金と第二の合金との液相温度の差は、10℃以下であることがより好ましい。第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差は、5℃以下であることが最も好ましい。
の粒子の液相温度と固相温度との差は10℃以下であり、第二の合金の粒子の液相温度と固相温度との差は10℃以下であることが好ましい。第一の合金と第二の合金との液相温度の差は、10℃以下であることがより好ましい。第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差は、5℃以下であることが最も好ましい。
本発明の別の一実施形態において、第一の合金は、Sn,Ag及び少なくとも一種の更なる金属とを含有する。少なくとも一種の更なる金属は、Cu,Zn,Bi,Ni,及びInのうちから選択されることが好ましい。第二の合金は、Sn及びAgを含有することがより好ましい。
更なる実施形態において、本発明は、Sn−Ag−Cuからなる第一の合金の粒子と、Sn−Agからなる第二の合金の粒子と、フラックスとを含有する混合された合金からなる無鉛はんだペーストに関する。
本発明の別の一実施形態において、第一の合金は、2.3〜4.3重量%のAgと、0.4〜1.2重量%のCuと、残りのSnとを含有する。第一の合金は、2.5〜4.1重量%のAgと、0.5〜1.0重量%のCuと、残りのSnとを含有することが好ましい。
更なる別の一実施形態において、第二の合金は、2.0〜5.0重量%のAgと、残りのSnとを含有する。第二の合金は、2.3〜4.2重量%のAgと、残りのSnとを含有することが好ましい。
本発明は、はんだペーストを製造する方法にも関する。一実施形態において本方法は、液相温度と固相温度との差が20℃以下である第一の合金の粒子を提供する工程と、液相温度と固相温度との差が20℃以下である第二の合金の粒子を提供する工程とを含み、ここで第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差は、15℃以下である。第一の合金の粒子と第二の合金の粒子とがフラックスと混合されて、はんだペーストが形成される。
一実施形態において、はんだペースト中の粒子混合物は、少なくとも50重量%の第一の合金と、50重量%以下の第二の合金とを含有する。はんだペースト中の粒子混合物は、50〜90重量%の第一の合金と、10〜50重量%の第二の合金とを含有することが好ましい。
本発明は、電気構成要素を基板に対してはんだ付けする方法にも関する。一実施形態において、本方法は、混合された合金からなる無鉛はんだペーストを、基板に塗布する工程を含む。混合された合金からなる無鉛はんだペーストは、Sn−Ag−Cuからなる第一の合金の粒子と、Sn−Agからなる第二の合金の粒子と、フラックスとを含有し、第一の合金の粒子と第二の合金の粒子とがフラックスと混合される。混合された合金からなる無鉛はんだペースト上に電気構成要素を配置して、電気構成要素と、基板と、はんだペーストとを加熱して第一の合金と第二の合金とを融解して流動させる。次いで、電気構成要素と、基板と、融解した第一の合金と第二の合金とを冷却して、電気構成要素を基板に対して固定する。
本発明は、はんだペーストと、はんだペーストの製造方法と、はんだペーストにより互いにはんだ付けされた基板と電気構成要素とを提供する。本発明によるはんだペーストは、混合された合金からなるはんだペーストであり、合金同士は互いに類似した融解特性を有している。本発明のはんだペーストを使用して基板に電気構成要素をはんだ付けすると
、はんだ付けされた製品はツームストーン効果を殆ど生じない。即ち、電気構成要素は同構成要素の一方の端部が対向する端部に関して傾斜された角度をなすように、基板に対してはんだ付けされるのではなく、基板に対して比較的平坦に接着されるものと想定される。
、はんだ付けされた製品はツームストーン効果を殆ど生じない。即ち、電気構成要素は同構成要素の一方の端部が対向する端部に関して傾斜された角度をなすように、基板に対してはんだ付けされるのではなく、基板に対して比較的平坦に接着されるものと想定される。
本発明によるはんだペーストは、第一の合金組成物の粒子と、第二の合金組成物の粒子とを含有している。これらの粒子がフラックスと混合されて、はんだペーストが形成される。その後、はんだペーストは電気構成要素を基板に対してはんだ付けする際に使用される。
はんだペースト中に含まれる第一の合金の液相温度と固相温度の差は、約20℃以下であることが好ましい。液相温度とは一般に、合金が完全に融解した状態にあるときの最低温度を意味する。固相温度とは、合金が完全に固体であるか、又は非融解状態にあるときの最高温度を意味する。液相温度と固相温度との差は、約15℃以下であることが好ましい。液相温度と固相温度との差は、約10℃以下であることがより好ましい。
本発明の一実施形態において、第一の合金は、Sn,Ag及び少なくとも一種の更なる金属を含有している。第一の合金は、約225℃以下の液相温度を有し、好ましくは約222℃以下の液相温度を有し、最も好ましくは約220℃以下の液相温度を有する。
第一の合金中の少なくとも一種の更なる金属は、Cu,Zn,Bi,Ni,及びInのうちから選択される。更なる金属は、Cuが好ましい。
本発明の一実施形態において、第一の合金は、第三の金属としてのCuと、第四の金属とを含有している。第四の金属は、固相温度と液相温度との差を増大させない。第四金属はZn,Bi,Ni,及びInのうちから選択されることが好ましい。第四金属は、Biがより好ましい。第四金属が存在している場合、第四金属は合金の総重量の約0.1〜5重量%を占める。
本発明の一実施形態において、第一の合金は、第三の金属としてのCuと、第四の金属とを含有している。第四の金属は、固相温度と液相温度との差を増大させない。第四金属はZn,Bi,Ni,及びInのうちから選択されることが好ましい。第四金属は、Biがより好ましい。第四金属が存在している場合、第四金属は合金の総重量の約0.1〜5重量%を占める。
本発明の一実施形態において、第一の合金は、約2.3〜4.3重量%のAgと、約0.4〜1.2重量%のCuと、残りのSnとを含有する。第一の合金は、約2.5〜4.1重量%のAgと、約0.5〜1.0重量%のCuと、残りのSnとを含有することが好ましい。
第二の合金は、第一の合金と類似する融解特性を有することが好ましい。このことを目的として、はんだペースト中に含まれる第二の合金の液相温度と固相温度との差は、約20℃以下であることが望ましい。液相温度と固相温度との差は、約15℃以下であることが好ましい。液相温度と固相温度との差は、約10℃以下であることがより好ましい。
本発明の一実施形態において、第二の合金はSnとAgとを含有している。第一の合金は、約225℃以下の液相温度を有し、好ましくは約222℃の液相温度を有し、最も好ましくは約220℃の液相温度を有する。
本発明の一局面において、第二の合金は、約2.0〜5.0重量%のAgと、残りのSnとを含有する。第二の合金は、約2.3〜4.2重量%のAgと、残りのSnとを含有することが好ましい。
本発明の別の一局面において、第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差は、15℃以下である。第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差は、10℃以下であることが好ましい。第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差は、5℃以下であることがより好ましい。
本発明にて使用される合金は、従来の手段により製造され得る。一実施形態において、適量の金属を金属又はセラミックス製のるつぼ内で混合して、同金属が融解するまで混合物を加熱することにより合金が製造される。その後、融解した金属を鋳型内に注入する。金属が冷却して固化すると、インゴットが形成される。
インゴットは任意の従来の手段により合金の粒子に形成され得る。このような手段には、ガス噴霧や遠心噴霧等がある。粒子は、約200〜400メッシュの平均粒径を有することが好ましい。より粒径の小さい粒子を使用することも可能である。結果として得られた粒子をフラックスと混合して、はんだペーストが形成される。
本発明の合金ペーストのフラックス部分は、電気構成要素を基板材にはんだ付けする際に使用される従来の任意の適切なフラックス材であり得る。このフラックス材の例にはロジンフラックスがある。ロジンフラックスは、非水溶性を備えた、ロジンを基材とするフラックスが好ましい。フラックス中のロジンは、天然ロジン、及び高分子ロジン等の変性ロジンのいずれであってもよい。フラックスは、活性剤、及び溶媒を含有してもよい。
本発明によるはんだペーストは、第一の合金と第二の合金とをフラックスと混合することにより形成される。粒子混合物はフラックスに添加されるか、又フラックスと混合される。粒子混合物は、少なくとも50重量%の第一の合金と、50重量%以下の第二の合金とを含有することが好ましい。粒子混合物は、約50〜90重量%の第一の合金と、約10〜50重量%の第二の合金とを含有することが好ましい。粒子混合物は、約55〜85重量%の第一の合金と、約15〜45重量%の第二の合金とを含有することがより好ましい。粒子混合物は、約60〜80重量%の第一の合金と、約20〜40重量%の第二の合金とを含有することが最も好ましい。
一般にはんだペーストは、約42〜83重量%の第一の合金と、約9〜42重量%の第二の合金と、約8〜16重量%のフラックスとを含有するものと想定される。はんだペーストは、約47〜77重量%の第一の合金と、約14〜39重量%の第二の合金と、約9〜14重量%のフラックスとを含有することが好ましい。はんだペーストは、約53〜72重量%の第一合金と、約18〜35重量%の第二の合金と、約10〜12重量%のフラックスとを含有することがより好ましい。
本発明のはんだペーストは、無鉛はんだペーストであると見なされる。本発明によれば、はんだペースト自体が含有する無鉛化手段は、ペーストの総量を基準として約3000ppm以下の鉛を含有している。はんだペーストは、ペーストの総量を基準として、約2000ppm以下の鉛を含有することが好ましく、約1000ppm以下の鉛を含有することがより好ましい。
本発明によるはんだペーストは、回路基板等の基板に対して塗布される。はんだペーストは、刷り込み、又はスクリーン印刷等の任意の従来の方法によって塗布される。はんだペーストを基板上に塗布した後、プリント回路基板上のはんだペースト上に電気構成要素を配置して、このアセンブリを炉内に配置して、はんだ粉末が十分に融解して流動する温度にまで加熱する。温度が低下する際に、融解したはんだが固化して、電気構成要素とはんだ結合を形成する。この種の方法は、従来のはんだリフローと称され得る。
加熱は、所望であれば、二段階にて実行され得る。二段階の加熱工程において、温度は比較的一定に、約100〜170℃の予熱温度にて保持される。その後、温度は約240℃以下、好ましくは約230℃以下に上昇される。
加熱後、アセンブリは冷却されて、電気構成要素がはんだ付けされている基板が形成される。本発明にて提供される合金粉末の組成によって、ツームストーン等の問題が低減、又は排除される。結果として、均質なはんだ合金により基板に電気構成要素が固定されている、基板と電気構成要素との組み合わせが形成される。
本発明のはんだペーストは、任意数の電気構成要素を、任意数の適切な基板に対してはんだ付けする際に使用され得る。電気構成要素には、表面実装アセンブリに使用される構成要素等がある。このような構成要素ははんだ可能な末端部を有し、同末端部は、はんだペーストが融解して液化し、その液体が冷却されて固化する際にはんだペーストによって接着される。このような電気構成要素の例には、ボールグリッドアレイ(Ball Grid Array)(BGA)、シンスモール実装パッケージ(Thin Small Outline Package)(TSOP)、キャパシタ、レジスタ、エア巻きコイル(air wound coil)、及び電子アセンブリに使用される任意の他の電気構成要素がある。
本発明に使用される基板は、電気構成要素に対して接続されるに適した任意の種類の基板であり得る。このような基板には、はんだ可能な、かつ本発明にて説明されたリフロー温度に晒されることが可能な基板が含まれる。一般にこのような基板は、セラミックス及びガラスエポキシ材からなり、可撓性又は剛性のタイプのものであり得る。適切な基板の特定の例には、電子アセンブリにて一般に使用されているプリント配線板(Printed Wiring Boards)、セラミック基板(Ceramic substrate)がある。プリント配線板は、電気を通す電線、パッド及びバイアを有するグラスファイバーを包囲する複層のエポキシ複合材からなる。
本発明のはんだペーストと本方法とを使用すれば、無鉛はんだ材料によって基板に対して堅固に固定された電気構成要素が獲得されると想定される。本発明のはんだ材料は、均質で、非常に所望されるはんだ特性を有すると想定される。硬化したはんだは、はんだ合金中の要素からなる相の混合を含む。相の特定の寸法及び形状は、冷却速度と、二種の合金が互いに融解した後に、冷却により固化した後の、最終的な特定の合金組成とに依存する。
本発明を完全に説明したが、本発明はその趣旨と範囲とから逸脱せずに、請求項に記載される幅広いパラメータにおいて実行され得ることが理解されよう。
Claims (10)
- 液相温度と固相温度との差が20℃以下である第一の合金の粒子と、
液相温度と固相温度との差が20℃以下である第二の合金の粒子と、
フラックスとを含有し、第一の合金の粒子と第二の合金の粒子とはフラックスと混合され、第一の合金の液相温度と第二の合金との液相温度との差が15℃以下である混合された合金からなるはんだペースト。 - 前記第一の合金の粒子の液相温度と固相温度との差が15℃以下であり、第二の合金の粒子の液相温度と固相温度との差が15℃以下である請求項1に記載の方法。
- 前記第一の合金の粒子の液相温度と固相温度との差が10℃以下であり、第二の合金の粒子の液相温度と固相温度との差が10℃以下である請求項1に記載の方法。
- 前記第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差が10℃以下である請求項1に記載の方法。
- 前記第一の合金の液相温度と第二の合金の液相温度との差が5℃以下である請求項1に記載の方法。
- 前記第一の合金は、Sn,Ag及び少なくとも一種の更なる金属を含有する請求項1に記載の方法。
- 前記少なくとも一種の更なる金属は、Cu,Zn,Bi,Ni及びInから選択される請求項6に記載の方法。
- 前記第二の合金は、Sn及びAgを含有する請求項1に記載の方法。
- Sn−Ag−Cuからなる第一の合金の粒子と、
Sn−Agからなる第二の合金の粒子と、
フラックスとを含有し、第一の合金の粒子と第二の合金の粒子とがフラックスと混合される、混合された合金からなる無鉛はんだペースト。 - 前記第一の合金は、2.3〜4.3重量%のAgと、0.4〜1.2重量%のCuと、残りのSnとを含有する請求項9に記載の混合された合金からなる無鉛はんだペースト。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US33413202A | 2002-12-31 | 2002-12-31 | |
PCT/US2003/041326 WO2004060604A1 (en) | 2002-12-31 | 2003-12-26 | Mixed alloy lead-free solder paste |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006512212A true JP2006512212A (ja) | 2006-04-13 |
Family
ID=32710860
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004565730A Withdrawn JP2006512212A (ja) | 2002-12-31 | 2003-12-26 | 混合された合金からなる無鉛はんだペースト |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060021466A1 (ja) |
EP (1) | EP1585614A4 (ja) |
JP (1) | JP2006512212A (ja) |
KR (1) | KR100645241B1 (ja) |
CN (1) | CN100408251C (ja) |
AU (1) | AU2003299955A1 (ja) |
BR (1) | BR0317901A (ja) |
WO (1) | WO2004060604A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008001740A1 (fr) * | 2006-06-30 | 2008-01-03 | Asahi Kasei Emd Corporation | Charge conductrice |
JP2008091801A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-04-17 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1724050B1 (en) * | 2004-03-09 | 2013-12-04 | Senju Metal Industry Co., Ltd. | Solder paste |
DE102004034035A1 (de) * | 2004-07-13 | 2006-02-09 | W.C. Heraeus Gmbh | Bleifreie Lotpasten mit erhöhter Zuverlässigkeit |
US8083832B2 (en) * | 2007-02-27 | 2011-12-27 | International Rectifier Corporation | Paste for forming an interconnect and interconnect formed from the paste |
US9018130B2 (en) * | 2008-09-30 | 2015-04-28 | Pirelli & C. Eco Technology S.P.A. | Honeycomb structural body for exhaust gas purification |
KR101535404B1 (ko) * | 2014-03-05 | 2015-07-10 | 주식회사 네패스 | 반도체 패키지 및 그 제조방법 |
WO2019027261A1 (ko) * | 2017-08-01 | 2019-02-07 | 서울시립대학교 산학협력단 | 무연솔더 합금 조성물 및 그 제조방법 |
CN110961831B (zh) * | 2018-09-28 | 2022-08-19 | 株式会社田村制作所 | 成形软钎料及成形软钎料的制造方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5527628A (en) * | 1993-07-20 | 1996-06-18 | Iowa State University Research Foudation, Inc. | Pb-free Sn-Ag-Cu ternary eutectic solder |
CA2131256A1 (en) * | 1993-09-07 | 1995-03-08 | Dongkai Shangguan | Lead-free solder alloy |
US5455004A (en) * | 1993-10-25 | 1995-10-03 | The Indium Corporation Of America | Lead-free alloy containing tin, zinc, indium and bismuth |
US5439639A (en) * | 1994-01-05 | 1995-08-08 | Sandia Corporation | Tin-silver-bismuth solders for electronics assembly |
US5427865A (en) * | 1994-05-02 | 1995-06-27 | Motorola, Inc. | Multiple alloy solder preform |
US5540379A (en) * | 1994-05-02 | 1996-07-30 | Motorola, Inc. | Soldering process |
JP3776505B2 (ja) * | 1996-05-02 | 2006-05-17 | 松下電器産業株式会社 | はんだ接合 |
US5928404A (en) * | 1997-03-28 | 1999-07-27 | Ford Motor Company | Electrical solder and method of manufacturing |
JPH11186712A (ja) * | 1997-12-24 | 1999-07-09 | Nissan Motor Co Ltd | はんだペーストおよび接続方法 |
JPH11291083A (ja) * | 1998-04-14 | 1999-10-26 | Murata Mfg Co Ltd | 半田合金 |
EP1180411A1 (en) * | 2000-08-17 | 2002-02-20 | Senju Metal Industry Co., Ltd. | Lead-free paste for reflow soldering |
US6433425B1 (en) * | 2000-09-12 | 2002-08-13 | International Business Machines Corporation | Electronic package interconnect structure comprising lead-free solders |
JP4438974B2 (ja) * | 2000-10-05 | 2010-03-24 | 千住金属工業株式会社 | ソルダペ−スト |
GB2380964B (en) * | 2001-09-04 | 2005-01-12 | Multicore Solders Ltd | Lead-free solder paste |
US6767411B2 (en) * | 2002-03-15 | 2004-07-27 | Delphi Technologies, Inc. | Lead-free solder alloy and solder reflow process |
-
2003
- 2003-12-26 AU AU2003299955A patent/AU2003299955A1/en not_active Abandoned
- 2003-12-26 JP JP2004565730A patent/JP2006512212A/ja not_active Withdrawn
- 2003-12-26 WO PCT/US2003/041326 patent/WO2004060604A1/en active Application Filing
- 2003-12-26 BR BR0317901-0A patent/BR0317901A/pt not_active IP Right Cessation
- 2003-12-26 EP EP03800221A patent/EP1585614A4/en not_active Withdrawn
- 2003-12-26 KR KR1020057012457A patent/KR100645241B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2003-12-26 CN CNB2003801080268A patent/CN100408251C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-08-22 US US11/209,076 patent/US20060021466A1/en not_active Abandoned
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008001740A1 (fr) * | 2006-06-30 | 2008-01-03 | Asahi Kasei Emd Corporation | Charge conductrice |
GB2452229A (en) * | 2006-06-30 | 2009-03-04 | Asahi Kasei Emd Corp | Conductive filler |
GB2452229B (en) * | 2006-06-30 | 2010-11-17 | Asahi Kasei Emd Corp | Conductive filler |
JP5166261B2 (ja) * | 2006-06-30 | 2013-03-21 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 導電性フィラー |
JP2008091801A (ja) * | 2006-10-05 | 2008-04-17 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | 半導体装置およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1585614A1 (en) | 2005-10-19 |
KR100645241B1 (ko) | 2006-11-15 |
BR0317901A (pt) | 2005-11-29 |
CN100408251C (zh) | 2008-08-06 |
WO2004060604A1 (en) | 2004-07-22 |
CN1732063A (zh) | 2006-02-08 |
EP1585614A4 (en) | 2008-07-30 |
KR20050085941A (ko) | 2005-08-29 |
AU2003299955A1 (en) | 2004-07-29 |
US20060021466A1 (en) | 2006-02-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6360939B1 (en) | Lead-free electrical solder and method of manufacturing | |
EP0655961B1 (en) | Tin-bismuth solder paste and method of use | |
JP4968381B2 (ja) | 鉛フリーはんだ | |
EP1245328B2 (en) | Use of silver in a lead-free solder paset | |
JP4438974B2 (ja) | ソルダペ−スト | |
EP1614500A1 (en) | Solder paste and printed board | |
US20060021466A1 (en) | Mixed alloy lead-free solder paste | |
PL195528B1 (pl) | Bezołowiowy stop lutowniczy | |
JP2006255784A (ja) | 無鉛ハンダ合金 | |
WO2000048784A1 (en) | Lead-free solder alloy powder paste use in pcb production | |
WO2010098357A1 (ja) | 金属フィラー、低温接続鉛フリーはんだ、及び接続構造体 | |
WO2008056676A1 (fr) | Pâte à braser sans plomb, carte de circuit électronique utilisant cette pâte à braser sans plomb, et procédé de fabrication de carte de circuit électronique | |
US7413110B2 (en) | Method for reducing stress between substrates of differing materials | |
JP2011147982A (ja) | はんだ、電子部品、及び電子部品の製造方法 | |
JP3782743B2 (ja) | ハンダ用組成物、ハンダ付け方法および電子部品 | |
JP5724088B2 (ja) | 金属フィラー及びこれを含む鉛フリーはんだ | |
JPH09277082A (ja) | ソルダペースト | |
JP2005072173A (ja) | 電子部品およびソルダペースト | |
JP4008799B2 (ja) | 無鉛はんだペースト組成物およびはんだ付け方法 | |
JP2001001180A (ja) | 半田材料及びそれを用いた電子部品 | |
JP2005297011A (ja) | ソルダーペーストおよび半田付け物品 | |
JP2004095907A (ja) | ハンダ接合構造およびハンダペースト | |
JP2019141881A (ja) | 鉛フリーはんだ合金 | |
JP4471824B2 (ja) | 高温はんだ及びクリームはんだ | |
JP2008027588A (ja) | 導電性フィラー、及び中温はんだ材料 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061226 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20080903 |