JP2006338735A - 参照値推定回路および再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 簡素な構成により精度良く、且つ、どのような特性の信号にも広く用い得る参照値推定回路およびこれを用いた再生装置を提供する。
【解決手段】 参照値レベルＥ4+iよりも大きな振幅値を有するサンプル点の個数Ｎｐが参照値レベルＥ4-iよりも小さな振幅値を有するサンプル点の個数Ｎｍよりも大きい場合、プラス側参照値推定部８０８とマイナス側参照値推定部８０９にて参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-iに１を加算し、参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-iをプラス側に１だけシフトさせる。一方、ＮｐがＮｍよりも大きい場合には、参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-iに−１を加算し、参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-iをマイナス側に１だけシフトさせる。かかるシフトを、｜Ｎｐ−Ｎｍ｜≦Ｎｔｈまで行う。｜Ｎｐ−Ｎｍ｜≦Ｎｔｈとなったときの参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-iを、当該参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-iの適正値として推定する。
【選択図】 図２

Description

本発明は、最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路およびこれを用いた再生装置に関し、特に、次世代ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の高密度光ディスクを再生する際に用いて好適なものである。

次世代ＤＶＤ等の高密度光ディスクにおいては、データ復号器としてビタビ復号器等の最尤復号器が用いられる。この場合、ＲＦ信号波形にアシンメトリ（非対称性）が生じると、ビタビ復号化処理を行っても正しくデータが復号され難く、データ誤り率が増大するとの問題が生じる。かかる問題を回避するには、ＲＦ信号波形をアシンメトリのない波形に補正する方法と、ビタビ復号化処理で用いられる参照値レベルをアシンメトリに応じて設定する方法の２つの方法をとることができる。しかし、前者の方法においては、波形自身を補正するものであるため、計算コストおよび回路規模が極めて大きなものとなってしまう。そこで、通常は、後者の方法がとられる。

この場合、たとえば、再生ＲＦ信号に対するサンプル値のうち各参照値レベル前後のサンプル値をある期間において平均化して、それぞれの参照値レベルを推定する方法をとることができる。しかし、こうすると、各レベルに対して平均化回路が個別に必要となるため、回路規模が増大するとの問題が生じる。

なお、以下の特許文献１では、ＰＬＬのためのオフセット値とビタビ復号器のためのオフセット値を個別に求めることにより、ビタビ復号化処理の精度を高めるようにしている。この先行技術では、再生信号から取得される一つの参照値レベルＬとこの参照値レベルの理想値Ｉとを比較してビタビ復号器のためのオフセット値が求められる。そして、求めたオフセット値を再生信号から減算した後、ビタビ復号化処理を行うようにしている。しかし、この場合、どの参照値レベルを理想値Ｉと比較すべき参照値レベルＬとするのが最も好ましいかは再生信号特性に依存する。このため、かかる先行技術を如何なる特性の再生信号にもそのまま広く適用することはできず、適用しようとする再生信号の特性に応じて、理想値Ｉと比較すべき参照値レベルＬを適宜設定する必要が生じる。
特開２００３−１９６８３８号公報

本発明は、簡素な構成により精度良く、且つ、どのような特性の信号にも広く用い得る参照値推定回路およびこれを用いた再生装置を提供することを課題とする。

上記課題に鑑み本発明は、それぞれ以下の特徴を有する。

請求項１の発明は、最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路であって、前記ＲＦ信号波形の中心にある参照値レベルから見てプラス側およびマイナス側に対称な位置にある２つの参照値レベルのうちプラス側の参照値レベル以上または当該参照値レベルよりも大きな値を有するサンプル点の個数Ｎｐとマイナス側の参照値レベル以下または当該参照値レベルよりも小さな値を有するサンプル点の個数Ｎｍをカウントするカウント部と、前記カウントされた個数ＮｐとＮｍの差Ｄを求める減算部と、前記個数の差Ｄが閾値以下となるよう前記２つの参照値レベルをシフトさせるシフト部とを有することを特徴とする。

請求項２の発明は、請求項１に記載の参照値推定回路において、前記２つの参照値レベルは、前記ＲＦ信号波形の最大値レベルと最小値レベルの間隔に比例するものとして設定された当該２つの参照値レベルのレベル差を維持したまま、前記シフト部によってプラス側またはマイナス側にシフトされることを特徴とする。

請求項３の発明は、請求項２に記載の参照値推定回路において、前記２つの参照値レベルは、前記ＲＦ信号波形の最大値レベルと最小値レベルをもとに初期設定され、このレベルから、前記個数の差が前記閾値以下となるレベルまで、前記シフト部によってシフトされることを特徴とする。

請求項４の発明は、請求項１ないし３の何れか一項に記載の参照値推定回路と、ＲＦ信号に含まれるオフセットを除去して前記参照値推定回路に入力するオフセット除去回路と、該参照値推定回路によって推定された参照値をもとに最尤復号化処理を行う復号化回路とを有する再生装置である。

本発明によれば、ＲＦ信号波形の中心にある参照値レベルから見てプラス側およびマイナス側に対称な位置にある２つの参照値レベルのうちプラス側の参照値レベル以上または当該参照値レベルよりも大きな値を有するサンプル点の個数Ｎｐとマイナス側の参照値レベル以下または当該参照値レベルよりも小さな値を有するサンプル点の個数Ｎｍをもとに参照値レベルを推定するものであるから、参照値レベルの推定においては、再生信号からサンプル点の個数Ｎｐ、Ｎｍのみを検出できればよく、よって、信号特性の相違に拘わらず如何なる特性の信号に対しても、本発明を広く適用することができる。

また、参照値レベルの推定は、サンプル点の個数Ｎｐ、Ｎｍの差を求めることによって行われるため、カウンタや簡単な演算回路等、簡素かつ低処理コストの回路の組み合わせにて参照値推定回路を構成することができる。さらに、以下の実施の形態に検証結果として示す如く、このように簡素な構成にて参照値推定回路を構成したとしても、精度の高い参照値の推定を実現することができる。

このように、本発明によれば、簡素な構成により精度良く、且つ、どのような特性の信号にも広く用い得る参照値推定回路およびこれを用いた再生装置を提供することができる。

本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。本実施の形態は、次世代ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の高密度光ディスクに対して記録／再生を行う光ディスク装置に本発明を適用したものである。

図１に実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す。なお、図１には、再生系のみを図示し記録系については図示省略している。また、フォーカスサーボ回路やトラッキングサーボ回路等も図示省略している。

図１に示す如く、本実施の形態に係る光ディスク装置は、光ピックアップ１０と、増幅回路２０と、ＡＤ変換回路３０と、オフセット調整回路４０と、デジタルＰＬＬ５０と、イコライザ６０と、ビタビ復号器７０と、ビタビ参照値推定回路８０を備えている。

光ピックアップ１０は、ディスクにレーザ光を照射してデータの書き込みを行うとともに、ディスクからの反射光を受光してデータの読み取りを行う。増幅回路２０は、光ピックアップ１０から供給される再生ＲＦ信号を増幅してＡＤ変換回路３０に出力する。ＡＤ変換回路３０は、非同期クロックに応じたタイミングにて再生ＲＦ信号をサンプリングし、サンプル値をデジタルデータに変換してオフセット調整回路４０に出力する。オフセット調整回路４０は、再生ＲＦ信号に含まれるＤＣオフセットを検出してこれを除去し、オフセットのない再生ＲＦ信号（デジタルデータ）を出力する。

デジタルＰＬＬ５０は、ＡＤ変換回路３０にてサンプリングされたデータを補間して、正規のサンプリングタイミングにおけるデータを生成する。イコライザ６０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルに合うよう、デジタルＰＬＬ５０から供給されるデータに対して波形等化処理を施してビタビ復号器７０に出力する。ビタビ復号器７０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルをもとに、イコライザ６０から入力されるデジタルデータにビタビ復号処理を施して１、０の２値化データを生成出力する。

ビタビ参照値推定回路８０は、オフセット調整回路４０から供給されるオフセット調整後のデジタルデータをもとにビタビ復号器７０にて期待値として参照される参照値を生成し、これをイコライザ６０とビタビ復号器７０に出力する。

図２に、ビタビ参照値推定回路８０の構成を示す。

再生ＲＦ信号にアシンメトリが存在する場合、再生ＲＦ信号の振幅は、０レベルを境に上下で異なっている。したがって、この波形をサンプリングすると、サンプル点の分布に偏りが生じる。

ビタビ参照値が、マイナス値側からプラス値側に掛けて９段階のレベル（Ｅ０、Ｅ１、…、Ｅ８）に分かれているとすると、ＤＣオフセットが除去されている場合、ＲＦ信号波形の中心にある参照値レベルがビタビ参照値レベルＥ４となる。また、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminを求めることにより、ＲＦ信号波形の最も外側にあるビタビ参照値レベルＥ０とＥ８を、Ｅ０＝Ｌmin、Ｅ８＝Ｌmaxとして取得することができる。図２に示すビタビ参照値推定回路８０では、このようにして取得されるビタビ参照値レベルＥ４、Ｅ０、Ｅ８から、これら以外のビタビ参照値レベルが推定および設定される。

ノイズのない理想的なＲＦ信号の場合、０レベルを中心にして対称となる２つの参照値レベルをそれぞれ振幅値として与えるサンプル点の個数をある期間においてカウントしたとき、それぞれのカウント値は互いに等しい筈である。すなわち、この期間において、参照値レベルＥ１とＥ７をそれぞれ振幅値として与えるサンプル点の個数は互いに等しく、同様に、参照値レベルＥ２とＥ６、Ｅ３とＥ５をそれぞれ振幅値として与えるサンプル点の個数も互いに等しい筈である。したがって、０レベルを中心にして対称となる２つの参照値レベルをペアとして、その参照値レベルを与えるサンプル点の個数が一定期間において等しくなるように、各ペアの参照値レベルを正または負にシフトさせることにより、各ペアの参照値レベルを適正値に調整することができる。

しかし、実際のＲＦ信号には、ノイズが加わっているため、各参照値レベルを与えるサンプル点の個数をそのまま比較して適正な参照値レベルを推定・設定するのは難しい。そこで、本実施の形態では、各ペアの外側にあるサンプル点の個数がほぼ等しくなるように、各ペアのレベルを推定・設定する。たとえば、参照値レベルＥ３とＥ５については、Ｅ３よりも小さな振幅値を与えるサンプル点の個数と、Ｅ５よりも大きな振幅値を与えるサンプル点の個数を比較し、両者の差が閾値よりも小さくなるよう、Ｅ３とＥ５を推定・設定する。このとき、Ｅ３とＥ５のレベル差は、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminから、（Ｌmax−Ｌmin）／４に設定する。そして、このレベル差を保ったまま、上記サンプル点の個数の差が閾値よりも小さくなるよう、Ｅ３とＥ５を正または負の方向にシフトさせる。

同様に、Ｅ２とＥ６、Ｅ１とＥ７のペアについても、各ペアのレベル差をそれぞれ、２×｛（Ｌmax−Ｌmin）／４｝、３×｛（Ｌmax−Ｌmin）／４｝に設定し、このレベル差を保ったまま、各レベルの外側にあるサンプル点の個数の差が閾値よりも小さくなるよう、各ペアのレベルを正または負の方向にシフトさせる。

図２を参照して、ビタビ参照値推定回路８０は、サンプル検出器８０１と、Ｎｐカウンタ８０２と、Ｎｍカウンタ８０３と、絶対値減算部８０４と、比較部８０５、８０６と、積算部８０７と、プラス側参照値推定部８０８と、マイナス側参照値推定部８０９を備えている。

サンプル検出器８０１は、プラス側参照値推定部８０８から入力される参照値Ｅ4+i（i=1,2,3）よりも大きな振幅値を与えるサンプル点を検出したとき、その検出信号をＮｐカウンタ８０２に出力する。また、マイナス側参照値推定部８０９から入力される参照値Ｅ4-i（i=1,2,3）よりも小さな振幅値を与えるサンプル点を検出したとき、その検出信号をＮｍカウンタ８０３に出力する。

Ｎｐカウンタ８０２は、サンプル検出器８０１から上記検出信号が入力されることに応じて１カウントアップされる。Ｎｍカウンタ８０３は、サンプル検出器８０１から上記検出信号が入力されることに応じて１カウントアップされる。

絶対値減算回路８０４は、Ｎｐカウンタ８０２のカウント値ＮｐとＮｍカウンタ８０３のカウント値Ｎｍを減算し、その絶対値Ｄを比較部８０５に出力する。比較部８０５は、絶対値Ｄと閾値Ｎｔｈとを比較し、Ｄ＞Ｎｔｈならば１を、Ｄ≦Ｎｔｈならば０を乗算部８０７に出力する。なお、ここで出力される“１”は、ＲＦ信号波形のサンプル値の分解能を２５６レベル（８ビット）としたときの１レベルである。

比較部８０６は、カウント値ＮｐとＮｍを比較し、Ｎｐ＞Ｎｍならば１を、Ｎｐ＜Ｎｍならば−１を乗算部８０７に出力する。乗算部８０７は、比較部８０５および８０６から入力された値を乗算し、乗算値δをプラス側参照値推定部８０８とマイナス側参照値推定部８０９に出力する。乗算値δは、δ＝１または−１のときに、それぞれ参照値レベルＥ4+i、Ｅ4-i（i=1,2,3）に加算される。これにより、上述のごとく、参照値レベル（Ｅ4+i，Ｅ4-i）のペアが、設定されたレベル差を保ったまま、正または負の方向にシフトされる。

かかるシフトは、比較部８０５の出力がゼロになるまで、すなわち、カウント値ＮｐとＮｍの差（絶対値）が閾値Ｎｔｈよりも小さくなるまで行われる。そして、カウント値ＮｐとＮｍの差（絶対値）が閾値Ｎｔｈよりも小さくなったときの参照値レベル（Ｅ4+i，Ｅ4-i）が、当該ペアの参照値レベルとして推定・設定される。

図３に、参照値レベル設定時のフローチャートを示す。

参照値レベルの設定動作が開始されると、変数ｉが０に設定された後、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxと平均最小値Ｌminが取得される（Ｓ１０１）。さらに、取得された平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminをもとに、参照値レベルＥ０〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ８の初期値が設定される（Ｓ１０２）。かかる初期値は、たとえば、参照値レベル（Ｅ4+i，Ｅ4-i）（i=1,2,3,4）のペアのレベル差を、
Ｅ4+i−Ｅ4-i＝ｉ×｛（Ｌmax−Ｌmin）／４｝
として求め、このレベル差にて、各参照値レベルのペアをＲＦ信号波形の中心レベル（参照値レベルＥ４）を中心として対称に位置づけるようにして設定される。この場合、参照値レベルＥ０〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ８の初期値は、図４に示すものとなる。なお、初期値の設定方法はこれに限定されるものではない。

このようにして初期値が設定されると、次に、Ｓ１０１にて取得された平均最大値Ｌmaxと平均最小値Ｌminがそれぞれ参照値レベルＥ８およびＥ０に設定される（Ｓ１０３）。そして、Ｓ１０４以降の処理によって、初期設定されたＥ１〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ７に対する調整が行われる。

まず、最初のルーチンでは変数ｉがｉ＝１となっているため、Ｓ１０４以降の処理ステップにて、参照値レベルＥ３、Ｅ５のペアの調整がなされる。すなわち、Ｓ１０４にて、参照値レベルＥ５よりも大きな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｐと、参照値レベルＥ３よりも小さな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｍが、Ｎｐ＋Ｎｍ＝Ｎｓになるまでカウントされる。

次に、Ｓ１０５にて、カウント値Ｎｐ、Ｎｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈよりも大きいかが判別され、大きければ、Ｓ１０６にて、乗算値δの算出が行われる。すなわち、Ｎｐ＞Ｎｍのときは比較部８０６から乗算部８０７に１が入力されて乗算値δは、δ＝１となる。また、Ｎｐ＜Ｎｍのときは比較部８０６から乗算部８０７に−１が入力されて乗算値δは、δ＝−１となる。

このようにして得られた乗算値は、Ｓ１０７にて、参照値レベルＥ３、Ｅ５にそれぞれ加算される。これにより、参照値レベルＥ３、Ｅ５は、サンプル値の分解能を２５６レベルとしたときに１レベルだけ正または負の方向にシフトされる。

しかして、参照値レベルＥ３、Ｅ５がシフトされると、Ｓ１０４に戻り、シフト後の参照値レベルＥ３、Ｅ５に対して同様の処理が行われる。この処理は、Ｓ１０５にて、参照値レベルＥ５よりも大きな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｐと、参照値レベルＥ３よりも小さな振幅値を与えるサンプル点の個数Ｎｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下になるまで繰り返される。すなわち、参照値レベルＥ３、Ｅ５は、サンプル点の個数ＮｐとＮｍが略等しくなるまで、初期値から正または負の方向にシフトされる。そして、ＮｐとＮｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下となったときのレベルが、参照値レベルＥ３、Ｅ５の適正レベルとして推定される。

しかして、参照値レベルＥ３、Ｅ５の推定がなされると、Ｓ１０８にて変数ｉが１だけインクリメントされてｉ＝２とされた後、Ｓ１０４に戻る。これにより、参照値レベルＥ２とＥ６のペアに対する推定処理が行われる。ここでの処理は、上記参照値レベルＥ３、Ｅ５のペアに対する処理と同じである。すなわち、参照値レベルＥ２、Ｅ６は、サンプル点の個数ＮｐとＮｍが略等しくなるまで、初期値から正または負の方向にシフトされる。そして、ＮｐとＮｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下となったときのレベルが、参照値レベルＥ２、Ｅ６の適正レベルとして推定される。

参照値レベルＥ２、Ｅ６の推定が終わると、Ｓ１０８にて変数ｉが１だけインクリメントされてｉ＝３とされた後、Ｓ１０４に戻る。そして、上記と同様にして、参照値レベルＥ１とＥ７のペアに対する推定処理が行われる。すなわち、サンプル点の個数ＮｐとＮｍが略等しくなるまで、参照値レベルＥ１、Ｅ７が初期値から正または負の方向にシフトされる。そして、ＮｐとＮｍの差の絶対値Ｄが閾値Ｎｔｈ以下となったときのレベルが、参照値レベルＥ１、Ｅ７の適正レベルとして推定される。

このようにして、参照値レベルＥ０〜Ｅ３とＥ５〜Ｅ８の推定が全て終了すると、Ｓ１０８にて変数ｉが１だけインクリメントされてｉ＝４となり、Ｓ１０９からＳ１１０へと移行する。これにより、ビタビ参照値レベルの推定が終了され、Ｓ１０１以降の処理にて推定されたそれぞれの参照値レベルが新たな参照値レベルとして設定される（Ｓ１１２）。設定後の参照値レベルは図５のようになる。

設定された参照値レベルは、ビタビ参照値推定回路８０からビタビ復号器７０に出力される。ビタビ復号器７０は、入力された参照値レベルをもとに復号処理を行う。

以上、本実施の形態によれば、プラス側とマイナス側のサンプル点の分布状態をもとにビタビ参照値レベルが設定されるため、図２に示すような簡素な構成にて各参照値レベルを設定することができる。また、本実施の形態によれば、このようにサンプル点の分布状態をもとに各参照値レベルが推定されるため、アシンメトリによって振幅レベル間隔が等しくなくなるような場合にも、各参照値レベルを精度よく推定することができる。

なお、本実施の形態にて参照値レベルを設定した場合の効果を検証したので、以下、これについて示しておく。

（検証方法）
上記実施の形態におけるアルゴリズムと簡易手法に従うアルゴリズムにて参照値レベルの推定を行い、両者を比較した。

簡易手法では、平均最大値レベルＬmaxと平均最小レベルLminをそれぞれ参照値レベルＥ８、Ｅ０に設定し、平均最大値レベルＬmaxと中心レベルＥ４の間を４等分したレベルを上から順にＥ７、Ｅ６、Ｅ５とし、平均最小値レベルＬminと中心レベルＥ４の間を４等分したレベルを下から順にＥ１、Ｅ２、Ｅ３とした。

本検証では、９値を持つ理想サンプル点信号をアシンメトリなサンプル点信号に加工してシミュレーションに用いることとした。具体的には、以下のようにアシンメトリのあるサンプル点信号ｆａ（ｔ）を作成した。なお、理想サンプル点信号の取る９値をＶ₀〜Ｖ₈とする。

（１） このとき、Ｖ₃’＝Ｖ₃＋ｄ₀、Ｖ₅’＝Ｖ₅＋ｄ₀、Ｖ₀’＝Ｖ₀＋ｄ₁、Ｖ₈’＝Ｖ₈＋ｄ₁とする。

（２） Ｖ₅’とＶ₈’の間にある信号レベルを、隣り合うレベル間隔がＶ₅’からＶ₈’にかけてｒ％ずつ増加するようにＶ₆’、Ｖ₇’を決定し、Ｖ₃’からＶ₀’の間にある信号レベルを、隣り合うレベル間隔がＶ₃’からＶ₀’にかけてｒ％ずつ増加するようにＶ₂’、Ｖ₁’を決定する。

（３） （２）で作成したアシンメトリ元サンプル信号ｆｉ（ｔ）に対して白色雑音ｎ（ｔ）（平均０，分散１）を加えてｆａ（ｔ）を作成する。具体的には、fa(t) = fi(t) + k・n(t)と作成する。ここで、ｋは白色雑音レベルを表す。

この方法に従えば、パラメータ（d0; d1; r）を変化させることで様々なアシンメトリを持った信号を作成できる。また、パラメータｋを変化させることで実施の形態に従うアルゴリズムの対雑音性能も検証することができる。

今回のシミュレーションでは、パラメータ（k; d0; d1; r）を以下のように設定し、その組合せを全て考えることとした。
ｋ＝３
ｄ₀＝−９、−６、−３、０、３、６
ｄ₁＝−２０、−１０、１０、２０
ｒ＝１０、２０、３０

また、図３のフローチャートでは、Ｓ１０７において、Ｎｓ＝1000となるまでＮｐおよびＮｓをカウントするようにして検証を行った。

なお、評価指標としてはＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）を用いることとした。なお、ＰＲＳＮＲの評価方法については、たとえば「信学技報、MR2003-35 (2003-12)」に記載されている。

ＰＲＳＮＲ値が大きい程、再生信号のビットエラーレートが小さくなる。ディスク再生においては、ＰＲＳＮＲ＞１５が要求され、ＰＲＳＮＲ＞２０程度であれば、良好な再生を行い得る。

（検証結果）
図６に、実施の形態（提案手法）に従うアルゴリズムと簡易手法に従うアルゴリズムによってそれぞれＰＲＳＮＲを求めたときの算出結果を示す。

図において、横軸は、問題番号である。各問題番号では、上述のパラメータｋ、ｄ₀、ｄ₁、ｒの値が変えられている。縦軸は、各問題番号に対して算出したＰＲＳＮＲの平均値である。

図６を参照すると、実施の形態に係るアルゴリズムの方が簡易手法の場合に比べ、ＰＲＳＮＲが大きくなっている。また、本実施の形態に係るアルゴリズムによれば、ＰＲＳＮＲが２０を大きく越えていることが分かる。このことから、実施の形態に係るアルゴリズムの有効性が確認できる。

以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。

たとえば、上記実施の形態では、参照値レベルのペアについてシリアルに推定処理を行うようにしたが、各ペアの推定処理をパラレルに行うようにしても良い。この場合、上記に比べ、推定処理に要する時間は短くなるが、回路規模は大きくなる。

また、上記実施の形態では、参照値レベルＥ4+i（i=1,2,3）よりも大きな振幅値を与えるサンプル点の個数と、参照値レベルＥ4-i（i=1,2,3）よりも小さな振幅値を与えるサンプル点の個数をカウントし、その差もとに、参照値レベルＥ4+iとＥ4-iをシフトさせるようにしたが、参照値レベルＥ4+i以上の振幅値を与えるサンプル点の個数と、参照値レベルＥ4-i以下の振幅値を与えるサンプル点の個数をカウントし、その差もとに、参照値レベルＥ4+iとＥ4-iをシフトさせるようにしても、ほぼ同様の効果を奏することができる。

また、上記実施の形態では、ビタビ参照値レベルを９段階としたが、本発明は、これ以外の段数のビタビ参照値レベルが設定されている場合にも適用可能である。さらに、上記実施の形態では、オフセット調整回路４０から出力されるサンプルデータをビタビ参照値推定回路８０に入力して参照値推定を行うようにしたが、デジタルＰＬＬ回路５０から出力されるデータをビタビ参照値推定回路８０に入力して参照値推定を行うように変更することもできる。

この他、上記実施の形態では、次世代ＤＶＤ等の高密度光ディスクに対して記録／再生を行う光ディスク装置に本発明を適用した例を示したが、これ以外のディスク再生装置やその他の再生装置に本発明を適用することも可能である。

本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施の形態に係るビタビ参照値推定回路の構成を示す図 実施の形態に係るビタビ参照値レベル設定時のフローチャート 実施の形態に係る参照値レベルの初期値の設定を説明する図 実施の形態に係る参照値レベルの推定状態を説明する図 実施の形態に係る検証結果を示す図

符号の説明

７０ ビタビ復号器
８０ ビタビ参照値推定回路
８０１ サンプル検出器
８０２ Ｎｐカウンタ
８０３ Ｎｍカウンタ
８０４ 絶対値減算部
８０５ 比較部
８０６ 比較部
８０７ 乗算部
８０８ プラス側参照値推定部
８０９ マイナス側参照値推定部

Claims (4)

1. 最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路であって、
   前記ＲＦ信号波形の中心にある参照値レベルから見てプラス側およびマイナス側に対称な位置にある２つの参照値レベルのうちプラス側の参照値レベル以上または当該参照値レベルよりも大きな値を有するサンプル点の個数Ｎｐとマイナス側の参照値レベル以下または当該参照値レベルよりも小さな値を有するサンプル点の個数Ｎｍをカウントするカウント部と、
   前記カウントされた個数ＮｐとＮｍの差Ｄを求める減算部と、
   前記個数の差Ｄが閾値以下となるよう前記２つの参照値レベルをシフトさせるシフト部と、
   を有することを特徴とする参照値推定回路。
2. 請求項１に記載の参照値推定回路において、
   前記２つの参照値レベルは、前記ＲＦ信号波形の最大値レベルと最小値レベルの間隔に比例するものとして設定された当該２つの参照値レベルのレベル差を維持したまま、前記シフト部によってプラス側またはマイナス側にシフトされる、
   ことを特徴とする参照値推定回路。
3. 請求項２に記載の参照値推定回路において、
   前記２つの参照値レベルは、前記ＲＦ信号波形の最大値レベルと最小値レベルをもとに初期設定され、このレベルから、前記個数の差が前記閾値以下となるレベルまで、前記シフト部によってシフトされる、
   ことを特徴とする参照値推定回路。
4. 請求項１ないし３の何れか一項に記載の参照値推定回路と、ＲＦ信号に含まれるオフセットを除去して前記参照値推定回路に入力するオフセット除去回路と、該参照値推定回路によって推定された参照値をもとに最尤復号化処理を行う復号化回路とを有する、
   ことを特徴とする再生装置。

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