JP2006303388A - Land of circuit mounting substrate - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a land capable of suppressing the occurrence of position deviation at a position where a surface mount is bonded during the bonding of the surface mount on a circuit mounting substrate, and of solder bonding the surface mount accurately at a given position. <P>SOLUTION: The land 1L comprises a first land 11L and a second land 12L. The second land 12L comprises side surfaces 31a, 31b that are provided inward in the axial direction X of the first land 11L in integration with the first land 11L, and taper inward in the axial direction X. The side surfaces 31a, 31b are formed to straddle bottom side surfaces 41a, 41b of a chip resistor 3. Angles 42a to 42d on the inward side on the bottom face of electrodes 4L, 4R are all positioned inside the second lands 12L and 12R. The motion of the angle 42a both in the normal direction along the widthwide direction Y and in the normal direction along the widthwide direction X is physically limited by the side surface 31a. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、回路実装基板のランドに関し、特に回路実装基板に表面実装部品を半田接合する際に、表面実装部品の接合位置に位置ずれが発生することを抑制し、表面実装部品を所定位置に正確に半田接合することが可能であるランドに関するものである。   The present invention relates to a land for a circuit mounting board, and in particular, when a surface mounting component is soldered to a circuit mounting board, the occurrence of displacement in the bonding position of the surface mounting component is suppressed, and the surface mounting component is placed in a predetermined position. The present invention relates to a land that can be soldered accurately.

図7は、特許文献1に開示されているプリント配線板の要部平面図である。図7に示すように、プリント配線板101上には一対のパッド102が一定間隔をおいて対向配置されている。このパッド102上には平面長方形状のチップ部品103が載置される。同チップ部品103の両端部は、電極部103aとなっており、パッド102と電気的に接続されるようになっている。上記パッド102の内方部102a、即ちチップ部品103の内方側においては、チップ部品103の両側に沿うように幅狭に形成されている。一方、パッド102の外方部102b、即ちチップ部品103の電極部103a側は、上記パッド102の内方部102aよりも幅広に形成され、半田のリフロー時の位置ずれを抑制している。   FIG. 7 is a plan view of a main part of the printed wiring board disclosed in Patent Document 1. As shown in FIG. As shown in FIG. 7, a pair of pads 102 are arranged on the printed wiring board 101 so as to face each other at a predetermined interval. A planar rectangular chip component 103 is placed on the pad 102. Both end portions of the chip component 103 are electrode portions 103a, and are electrically connected to the pads 102. The inner portion 102 a of the pad 102, that is, the inner side of the chip component 103, is formed so as to be narrow along the both sides of the chip component 103. On the other hand, the outer portion 102b of the pad 102, that is, the electrode portion 103a side of the chip component 103 is formed wider than the inner portion 102a of the pad 102, and suppresses misalignment during solder reflow.

尚、その他の関連技術として、特許文献2および3に開示されている技術がある。
特開平5−37144号公報 特開平7−212024号公報 特開平7−30238号公報
In addition, there exists a technique currently disclosed by patent document 2 and 3 as another related technique.
JP-A-5-37144 Japanese Patent Laid-Open No. 7-212024 Japanese Patent Laid-Open No. 7-30238

しかし、外方部102bの軸方向外方には、幅W101の隙間が存在する。すると半田リフロー時に、幅W101の範囲内で、チップ部品103が軸方向(紙面左右方向)に位置ずれを起こす事態が発生し得るため問題である。また軸方向の位置ずれ発生により、チップ部品103の両電極部においてリフローした半田の表面張力が異なることによるチップ立ちが発生する場合があるため問題である。   However, a gap having a width W101 exists outside the outer portion 102b in the axial direction. This is a problem because the chip component 103 may be displaced in the axial direction (left and right in the drawing) within the range of the width W101 during solder reflow. Another problem is that due to the occurrence of axial displacement, chip standing may occur due to different surface tensions of the reflowed solder at both electrode portions of the chip component 103.

本発明は前記従来技術の課題を解消するためになされたものであり、回路実装基板に表面実装部品を半田接合する際に、表面実装部品の接合位置に位置ずれが発生することを抑制し、表面実装部品を所定位置に正確に半田接合することで、均等かつ良好な形状を有するフィレットを形成することが可能な回路実装基板のランドを提供することを目的とする。   The present invention was made to solve the above-described problems of the prior art, and suppresses occurrence of displacement in the bonding position of the surface mounting component when the surface mounting component is soldered to the circuit mounting substrate, It is an object of the present invention to provide a land of a circuit mounting board capable of forming a fillet having a uniform and good shape by accurately soldering a surface mounting component at a predetermined position.

前記目的を達成するために、請求項1に係るランドは、表面実装部品の電極が半田接合される回路実装基板のランドであって、電極の底面の少なくとも一部が半田接合される第1ランド部と、第1ランド部の表面実装部品の軸方向内方に、該第1ランド部と一体に備えられる第2ランド部とを備え、該第2ランド部の軸方向に対する幅は、電極の幅以上から電極の幅方向端辺をまたいで電極の幅未満となるように、第1ランド部との接合部から軸方向内方に沿って変化することを特徴とする。   To achieve the above object, a land according to claim 1 is a land of a circuit mounting board to which an electrode of a surface mount component is soldered, and the first land to which at least a part of the bottom surface of the electrode is soldered. And a second land portion that is provided integrally with the first land portion on the inner side in the axial direction of the surface mount component of the first land portion, and the width of the second land portion with respect to the axial direction is It changes along the inner side in the axial direction from the junction with the first land portion so as to be less than the width of the electrode across the edge in the width direction of the electrode from the width or more.

回路実装基板のランドは、第1ランド部と第2ランド部とを備える。第1ランド部には、表面実装部品の電極の底面の少なくとも一部が半田接合される。第2ランド部は、第1ランド部の表面実装部品の軸方向内方に、該第1ランド部と一体に備えられる。第2ランド部の軸方向に対する幅は、軸方向に沿って変化する。そして第2ランド部の幅は、電極の幅以上の値から、電極の幅方向端辺をまたいで電極の幅未満となるように変化する。よって、第2ランド部の表面実装部品の軸方向に対する側辺のうち少なくとも一方が、表面実装部品の底面側辺をまたぐ構成となる。このとき第2ランド部の側辺は、軸方向および幅方向の両方向の成分を有して備えられる。   The land of the circuit mounting board includes a first land portion and a second land portion. At least a part of the bottom surface of the electrode of the surface mount component is soldered to the first land portion. The second land portion is provided integrally with the first land portion inward in the axial direction of the surface mount component of the first land portion. The width of the second land portion with respect to the axial direction varies along the axial direction. The width of the second land portion changes from a value equal to or larger than the width of the electrode so as to be less than the width of the electrode across the edge in the width direction of the electrode. Therefore, at least one of the sides of the second land portion with respect to the axial direction of the surface-mounted component straddles the bottom side of the surface-mounted component. At this time, the side of the second land portion is provided with components in both the axial direction and the width direction.

電極の底面から見て、第2ランド部の側辺から軸方向内方側の領域、および幅方向の外方の領域にはランドが存在しない。ここで、ランドが存在しない領域には半田が濡れないため半田が存在しない。また電極底面は、半田の存在しない領域へは移動することができない。すると電極底面は、第2ランド部の側辺によって、軸方向内方および幅方向外方へ移動することが物理的に制限されることになる。   As seen from the bottom surface of the electrode, there are no lands in a region on the inner side in the axial direction from the side of the second land portion and a region on the outer side in the width direction. Here, since the solder does not get wet in the area where the land does not exist, there is no solder. In addition, the bottom surface of the electrode cannot move to a region where no solder exists. Then, the movement of the electrode bottom surface inward in the axial direction and outward in the width direction is physically restricted by the side of the second land portion.

これにより、第2ランド部の側辺によって、表面実装部品の軸方向および幅方向への電極の移動を物理的に規制することができる。よって表面実装部品は、幅方向へ位置ずれが発生しないため、幅方向へ均等なすそ野を有する、良好な半田フィレットを形成することが可能となる。   Thereby, the movement of the electrode in the axial direction and the width direction of the surface-mounted component can be physically restricted by the side of the second land portion. Therefore, since the surface-mounted component does not shift in the width direction, it is possible to form a good solder fillet having a uniform base in the width direction.

また表面実装部品の載置時に、幅方向の位置ずれが発生すると、第2ランド部の両側辺近傍に存在する、表面実装部品が存在しない領域の面積差が発生する。そして当該面積差に応じて、リフローした半田の表面張力の差が発生する。すると表面張力の差を解消するように、表面実装部品の位置を幅方向の中央に戻す力が表面実装部品に働く。特に第2ランド部の幅方向の幅は、第1ランド部の幅方向の幅に比して狭いため、半田による表面張力が分散しにくい。すると第1ランド部によって得られるセルフアライメント効果に比して、第2ランド部によって得られるセルフアライメント効果の方が、より正確に幅方向の中心へ表面実装部品を移動させる効果を有している。これにより、第2ランド部によって得られるセルフアライメント効果によって、表面実装部品を幅方向の中心位置へ正確に半田接合することが可能とされる。   Further, if a positional deviation in the width direction occurs when the surface mount component is placed, an area difference between the areas in the vicinity of both sides of the second land portion where the surface mount component does not exist is generated. And according to the said area difference, the difference of the surface tension of the reflowed solder generate | occur | produces. Then, a force that returns the position of the surface mount component to the center in the width direction acts on the surface mount component so as to eliminate the difference in surface tension. In particular, since the width in the width direction of the second land portion is narrower than the width in the width direction of the first land portion, the surface tension due to solder is difficult to disperse. Then, compared with the self-alignment effect obtained by the first land portion, the self-alignment effect obtained by the second land portion has an effect of moving the surface mounting component to the center in the width direction more accurately. . Thus, the surface-mounted component can be accurately soldered to the center position in the width direction by the self-alignment effect obtained by the second land portion.

また、第2ランド部が、軸方向内方側に備えられることにより、第1ランド部の軸方向外方の形状には制限が課されない。これにより、第1ランド部の軸方向外方において、自由なフィレット形状を形成することが可能とされる。例えば、電極の外方端面の軸方向外方であって、かつ電極の幅方向外方に存在する領域にランドを確保し、当該領域と電極の外方端面との間にフィレットを形成することができる。これにより、側面に電極がない表面実装部品においてもフィレットの応力緩和効果を確保でき、フィレットの応力に対するクラック耐性を高めることが可能となる。   Further, since the second land portion is provided on the inner side in the axial direction, no limitation is imposed on the shape of the first land portion on the outer side in the axial direction. As a result, a free fillet shape can be formed outside the first land portion in the axial direction. For example, a land is secured in a region that is axially outward of the outer end surface of the electrode and outward in the width direction of the electrode, and a fillet is formed between the region and the outer end surface of the electrode. Can do. As a result, the stress relaxation effect of the fillet can be secured even in a surface-mounted component having no electrode on the side surface, and the crack resistance against the stress of the fillet can be increased.

また請求項2に係るランドは、請求項1に記載のランドにおいて、ランドは、表面実装部品の軸方向の両端に備えられる電極の位置に応じて、対向配置されることを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the land according to the first aspect, the lands are arranged so as to face each other according to the positions of the electrodes provided at both axial ends of the surface mount component.

第2ランド部を備えるランドが対向して配置される。表面実装部品は、一方の第2ランド部によって、その第2ランド部の軸方向内方への移動が規制される。また他方の第2ランド部によって、その第2ランド部の軸方向内方への移動が規制される。よって電極は、対向する各々の第2ランド部によって、軸方向へ移動することが制限される。これにより、表面実装部品の軸方向への位置ずれ発生を抑制することができる。   The lands having the second land portion are arranged to face each other. In the surface mount component, movement of the second land portion inward in the axial direction is restricted by one second land portion. Further, the movement of the second land portion inward in the axial direction is restricted by the other second land portion. Therefore, the movement of the electrode in the axial direction is restricted by each of the opposing second land portions. Thereby, generation | occurrence | production of position shift to the axial direction of surface mount components can be suppressed.

また請求項3に係るランドは、請求項2に記載のランドにおいて、第1ランド部の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離は、電極の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離に比して大きくされ、第2ランド部の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離は、電極の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離に比して小さくされることを特徴とする。   The land according to claim 3 is the land according to claim 2, wherein the distance between the edges of the first land portion located on the inner side in the axial direction is the edge side located on the inner side in the axial direction of the electrode. The distance between the end sides of the second land portion that is located inward in the axial direction of the second land portion is equal to the distance between the end sides of the end sides that are present inward in the axial direction of the electrode. It is characterized by being made smaller than that.

第2ランド部の軸方向に対する幅は、軸方向に沿って変化する際に、変化の前後において、電極の幅以上から電極の幅方向端辺をまたいで電極の幅未満となるように変化する。そしてこのような端辺間距離の関係を有することで、電極の軸方向内方に存在する端辺の両角部は、第2ランド部内に位置することになる。これにより、電極の角部の軸方向および幅方向の移動を、第2ランド部の側辺によって制限することができる。   The width of the second land portion with respect to the axial direction changes so as to be less than the width of the electrode across the edge in the width direction of the electrode, before and after the change, when changing along the axial direction. . By having such a relationship between the distances between the end sides, both corners of the end sides existing inward in the axial direction of the electrode are located in the second land portion. Thereby, the movement of the corner | angular part of an electrode in the axial direction and the width direction can be restrict | limited by the side of a 2nd land part.

また請求項4に係るランドは、請求項1に記載のランドにおいて、第2ランド部の軸方向に対する幅は、軸方向内方に向かって外に凸の曲線状に変化することを特徴とする。   The land according to claim 4 is characterized in that, in the land according to claim 1, the width of the second land portion with respect to the axial direction changes in a curved shape protruding outward in the axial direction. .

これにより、ランドと電極底面との対向部に各種応力が加えられた場合においても、電極の軸方向内方に存在する端辺の両角部に応力集中することを抑制することができる。よって、応力に対する半田接合部のクラック耐性を高めることが可能となる。   Thereby, even when various stresses are applied to the facing portion between the land and the bottom surface of the electrode, it is possible to suppress stress concentration at both corners of the edge that exists inward in the axial direction of the electrode. Therefore, it becomes possible to increase the crack resistance of the solder joint portion against stress.

また請求項5に係るランドは、請求項1に記載のランドにおいて、第2ランド部の軸方向に対する幅は、直線状に変化することを特徴とする。   The land according to claim 5 is characterized in that, in the land according to claim 1, the width of the second land portion in the axial direction changes linearly.

第2ランド部の軸方向に対する幅が、直線状に変化することで、第2ランド部の軸方向の側辺は、軸方向内方に向かってテーパ状に狭くなる。すると第2ランド部の側辺は、表面実装部品の軸方向および幅方向の両方向の成分を備えることになる。これにより電極底面は、第2ランド部の側辺によって、軸方向内方および幅方向外方へ移動することが物理的に制限されるため、表面実装部品の位置ずれ発生を抑制することができる。   Since the width of the second land portion with respect to the axial direction changes linearly, the side edge in the axial direction of the second land portion becomes narrower in a taper shape inward in the axial direction. Then, the side of the second land portion includes components in both the axial direction and the width direction of the surface mount component. As a result, the electrode bottom surface is physically restricted by the side of the second land portion from moving inward in the axial direction and outward in the width direction, and therefore it is possible to suppress the occurrence of displacement of the surface-mounted component. .

また請求項6に係るランドは、表面実装部品の電極が半田接合され、電極の位置に応じて対向配置される回路実装基板のランドであって、電極の底面の少なくとも一部が半田接合される第1ランド部と、第1ランド部の表面実装部品の軸方向内方に、該第1ランド部と一体に備えられる第2ランド部とを備え、該第2ランド部の軸方向に対する幅は、第1ランド部の軸方向に対する幅に比して狭く、かつ一定の幅とされ、第2ランド部の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離は、電極の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離以下とされ、一方のランドに備えられる第2ランド部の軸方向内方に存在する端辺と、他方のランドに備えられる第1ランド部の軸方向内方に存在する端辺との端辺間距離は、電極の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離以上とされることを特徴とする。   The land according to claim 6 is a land of a circuit mounting board in which the electrodes of the surface mount component are soldered and are arranged to face each other according to the position of the electrode, and at least a part of the bottom surface of the electrode is soldered. A first land portion and a second land portion provided integrally with the first land portion in an axially inward direction of the surface mount component of the first land portion, the width of the second land portion with respect to the axial direction is The distance between the edges of the first land portion is narrower than the axial width of the first land portion and has a constant width, and the end-to-end distance existing inward in the axial direction of the second land portion is inward in the axial direction of the electrode. The distance between the edges of the first land provided in one land and the distance between the edges of the first land provided in the other land The edge-to-edge distance to the edge that exists in the direction is the edge of the edge that exists inward in the axial direction of the electrode. Characterized in that it is a between distance or more.

第2ランド部の幅は、第1ランド部の軸方向に対する幅に比して狭い幅とされ、かつ一定値の幅とされる。よって第2ランド部の形状は、第1ランド部との接合部から電極の幅方向の端辺に沿って、軸方向内方へ延びた形状とされる。すると第2ランド部の軸方向の側辺は、表面実装部品の電極における軸方向の側辺に沿うように配置される。すると電極の底面から見て、第2ランド部の側辺から幅方向の外方の領域にはランドが存在せず、半田が濡れない。よって電極底面は、第2ランド部の側辺によって、幅方向外方へ移動することが物理的に制限されることになる。   The width of the second land portion is narrower than the width of the first land portion in the axial direction and has a constant value. Therefore, the shape of the second land portion is a shape that extends inward in the axial direction along the edge in the width direction of the electrode from the joint portion with the first land portion. Then, the axial side of the second land portion is arranged along the axial side of the electrode of the surface mount component. Then, as viewed from the bottom surface of the electrode, no land exists in the region outside in the width direction from the side of the second land portion, and the solder does not get wet. Therefore, the electrode bottom surface is physically restricted from moving outward in the width direction by the side of the second land portion.

また、第2ランド部の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離を、第2ランド部端辺間距離とする。また、一方のランドに備えられる第2ランド部の軸方向内方に存在する端辺と、他方のランドに備えられる第1ランド部の軸方向内方に存在する端辺との距離を、第1ランド部−第2ランド部端辺間距離とする。また、表面実装部品の電極の軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離を、電極端辺間距離とする。第2ランド部端辺間距離は、電極端辺間距離以下の値にされる。そして第1ランド部−第2ランド部端辺間距離は、電極端辺間距離以上の値とされる。   Further, the distance between the end sides of the second land portion that is located inward in the axial direction is defined as the distance between the second land portion end sides. Further, the distance between the end side existing in the axial direction of the second land portion provided in one land and the end side existing in the axial direction of the first land portion provided in the other land is set to The distance between the edges of the first land portion and the second land portion. In addition, the distance between the edge sides of the surface-mounted component that exists on the inner side in the axial direction of the electrode is defined as the distance between the electrode edge sides. The distance between the edges of the second land portion is set to a value equal to or smaller than the distance between the edges of the electrodes. The distance between the edges of the first land portion and the second land portion is greater than or equal to the distance between the electrode edge sides.

これにより、第2ランド部の軸方向内方に存在する端辺は、表面実装部品の電極の軸方向内方に存在する端辺から軸方向内方側の位置に、当該電極の端辺に沿うように配置される。すると電極から見て、第2ランド部の軸方向内方に存在する端辺から軸方向内方の領域においては、ランドが存在しない。よって電極の底面は、第2ランド部の軸方向内方端辺によって、軸方向へ移動することが物理的に制限されることになる。   As a result, the edge that exists in the axially inward direction of the second land portion is located at the position on the axially inward side from the edge that exists in the axially inward direction of the electrode of the surface mount component. It is arranged along. Then, when viewed from the electrode, there is no land in the region inward in the axial direction from the edge existing inward in the axial direction of the second land portion. Therefore, the movement of the bottom surface of the electrode in the axial direction is physically limited by the axially inner end side of the second land portion.

また第1ランド部−第2ランド部端辺間距離が、電極端辺間距離以上の値とされている。すると、表面実装部品が軸方向の何れか一方へ最大限に移動した場合(第2ランド部の軸方向内方端辺と電極の軸方向内方端辺とが干渉する位置まで移動した場合)においても、移動方向側の表面実装部品の電極の少なくとも一部は、第2ランド部内に存在することになる。これにより、電極の軸方向および幅方向の移動を、第2ランド部の軸方向内方端辺および側辺によって、物理的に制限することが可能とされる。   Further, the distance between the first land portion-second land portion end sides is set to a value equal to or greater than the distance between the electrode end sides. Then, when the surface mount component has moved to the maximum in either of the axial directions (when moving to the position where the axially inner edge of the second land and the axially inner edge of the electrode interfere) In this case, at least a part of the electrodes of the surface mounting component on the moving direction side is present in the second land portion. Thereby, the movement of the electrode in the axial direction and the width direction can be physically restricted by the axially inner end side and the side side of the second land portion.

本発明に係る回路実装基板のランドによれば、回路実装基板に表面実装部品を半田接合する際に、表面実装部品の接合位置に位置ずれが発生することを抑制し、表面実装部品を所定位置に正確に半田接合することができる。よって、均等かつ良好な形状を有し、高いクラック耐性を備える半田フィレットを形成することが可能となる。   According to the land of the circuit mounting board according to the present invention, when the surface mounting component is soldered to the circuit mounting board, it is possible to suppress the occurrence of displacement in the bonding position of the surface mounting component, and to place the surface mounting component in a predetermined position. Can be soldered accurately. Therefore, it is possible to form a solder fillet having a uniform and good shape and high crack resistance.

以下、本発明の回路実装基板のランドおよび表面実装部品が搭載された回路実装基板について具体化した実施形態を詳細に説明する。図1は、ランドと表面実装部品との関係を示す斜視図である。図1に示すように、回路実装基板2上には、一対のランド1Lおよび1Rが一定間隔をおいて対向配置されている。このランド1L、1R上には平面長方形状のチップ抵抗3が載置される。チップ抵抗3の両端部には、電極4L、4Rが備えられ、ランド1L、1Rと電気的に接続されるようになっている。   DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of a circuit mounting board on which lands and surface mounting components of the circuit mounting board of the present invention are mounted will be described in detail below. FIG. 1 is a perspective view showing the relationship between lands and surface-mounted components. As shown in FIG. 1, a pair of lands 1 </ b> L and 1 </ b> R are disposed on the circuit mounting substrate 2 so as to face each other at a constant interval. A planar rectangular chip resistor 3 is placed on the lands 1L and 1R. Electrodes 4L and 4R are provided at both ends of the chip resistor 3, and are electrically connected to the lands 1L and 1R.

チップ抵抗3の電極4L、4Rは、チップ抵抗側面部5に電極が存在しない構成である。よって電極4L、4Rは、縦断面形状が略コ字状に形成される。これは、チップ抵抗3の仕様上および製造上の観点から、チップ抵抗においては一般的に採用されている構成である。   The electrodes 4L and 4R of the chip resistor 3 are configured such that no electrode is present on the chip resistor side surface portion 5. Therefore, the electrodes 4L and 4R are formed in a substantially U-shaped longitudinal section. This is a configuration generally employed for chip resistors from the viewpoint of specifications and manufacturing of the chip resistor 3.

図2に、ランド1L、1Rを示す平面図を示す。ランド1L、1Rは、チップ抵抗3の電極4L、4Rの位置に応じて対向配置される。ランド1Lは、第1ランド部11Lと第2ランド部12L(図中斜線部)とを備える。またランド1Rは、第1ランド部11Rと第2ランド部12R(図中斜線部)とを備える。   FIG. 2 is a plan view showing the lands 1L and 1R. The lands 1L and 1R are arranged to face each other according to the positions of the electrodes 4L and 4R of the chip resistor 3. The land 1L includes a first land portion 11L and a second land portion 12L (shaded portion in the figure). The land 1R includes a first land portion 11R and a second land portion 12R (shaded portion in the figure).

図2の紙面左右方向をチップ抵抗3の軸方向Xとする。また紙面上下方向を幅方向Yとする。ランド1Lにおいて、第2ランド部12Lは、第1ランド部11Lの軸方向X内方に、第1ランド部11Lと一体に備えられる。第2ランド部12Lの幅方向Yの幅は、第1ランド部11Lとの接合部では幅W4とされ、軸方向X内方における端辺30Lでは、幅W1とされる。よって、第2ランド部12Lの軸方向Xに対する幅は、軸方向X内方に向かって、幅W4から幅W1へ変化する。すると第2ランド部12Lは、軸方向X内方に向かってテーパ状に狭くなる側辺31a、31bを備える。またランド1Rにおける第2ランド部12Rにおいても同様の構成を有するため、ここでは説明を省略する。   The left-right direction in FIG. 2 is the axial direction X of the chip resistor 3. Further, the vertical direction of the paper surface is defined as the width direction Y. In the land 1L, the second land portion 12L is provided integrally with the first land portion 11L inward in the axial direction X of the first land portion 11L. The width in the width direction Y of the second land portion 12L is the width W4 at the joint portion with the first land portion 11L, and the width W1 at the end side 30L in the axial direction X. Therefore, the width of the second land portion 12L with respect to the axial direction X changes from the width W4 to the width W1 inward in the axial direction X. Then, the second land portion 12 </ b> L includes side sides 31 a and 31 b that narrow in a tapered shape toward the inside in the axial direction X. Further, since the second land portion 12R in the land 1R has the same configuration, the description thereof is omitted here.

図3に、ランド1L、1Rとチップ抵抗3との関係を示す平面図を示す。電極4Lは、幅方向Yに幅W2を有する。またチップ抵抗3の電極4Lの幅W2は、第2ランド部12の幅W1より広く、幅W4よりも狭くされている。このような幅の関係を有することで、第2ランド部12Lの幅は、幅W2をまたぐように、軸方向Xの内方に向かって幅W4から幅W1へ変化することになる。そして第2ランド部12の軸方向の側辺31aは、チップ抵抗3の底面側辺41aをまたいで構成され、また第2ランド部12の側辺31bは、チップ抵抗3の底面側辺41bをまたいで構成される。   FIG. 3 is a plan view showing the relationship between the lands 1L and 1R and the chip resistor 3. As shown in FIG. The electrode 4L has a width W2 in the width direction Y. In addition, the width W2 of the electrode 4L of the chip resistor 3 is wider than the width W1 of the second land portion 12 and narrower than the width W4. By having such a width relationship, the width of the second land portion 12L changes from the width W4 to the width W1 inward in the axial direction X so as to straddle the width W2. Further, the side 31a in the axial direction of the second land portion 12 is configured to straddle the bottom surface side 41a of the chip resistor 3, and the side 31b of the second land portion 12 is configured to cover the bottom surface side 41b of the chip resistor 3. It consists of straddles.

第1ランド部11Lの軸方向X内方に存在する端辺32Lと、第1ランド部11Rの軸方向X内方に存在する端辺32Rとの端辺間距離を距離L1とする。また、第2ランド部12Lの軸方向X内方に存在する端辺30Lと、第2ランド部12Rの軸方向X内方に存在する端辺30Rとの端辺間距離を距離L2とする。また、電極4Lの軸方向X内方に存在する端辺34Lと、電極4Rの軸方向X内方に存在する端辺34Rとの端辺間距離を距離L3とする。距離L1は距離L3に比して大きくされ、距離L2は距離L3に比して小さくされる。このような距離の関係を有することで、電極4の底面における内方側の角部42a乃至42dは、全て第2ランド部12Lおよび12R内に位置することになる。本実施形態では、図3に示すように、角部42a乃至42dが、側辺31a乃至31dに略接するように構成されている。   A distance L1 is an end-to-end distance between the end side 32L existing in the axial direction X of the first land portion 11L and the end side 32R existing in the axial direction X of the first land portion 11R. Further, a distance L2 is an inter-edge distance between the end side 30L existing in the axial direction X of the second land portion 12L and the end side 30R existing in the axial direction X of the second land portion 12R. Further, the distance L3 between the end sides 34L existing in the axial direction X of the electrode 4L and the end side 34R existing in the axial direction X of the electrode 4R is defined as a distance L3. The distance L1 is made larger than the distance L3, and the distance L2 is made smaller than the distance L3. By having such a distance relationship, the inner corners 42a to 42d on the bottom surface of the electrode 4 are all located in the second land portions 12L and 12R. In the present embodiment, as shown in FIG. 3, the corner portions 42 a to 42 d are configured to be substantially in contact with the side edges 31 a to 31 d.

本発明に係るランドの作用を説明する。まず図8(A)を用いて、第2ランド部を備えないランドにおける問題点を説明する。図8(A)に示すランド111Lは、電極104Lの幅W102に対して十分に広い幅W103を有している。そして電極104Lの外方端面106の軸方向外方であって、電極104Lの幅方向外方の位置に、領域R101(図中斜線部)を備えている。領域R101を備えることによって、半田接合時に、半田フィレットを外方端面106から領域R101にかけて形成することで、フィレットのすそ野の形状を幅方向Yへも拡げることができるため、熱応力に対する応力緩和効果を向上させ、クラック耐性を向上できるメリットがある。しかしランド111Lでは、領域R101を備えることで、チップ抵抗113の幅方向Yへの移動自由度が高くなっている。   The operation of the land according to the present invention will be described. First, a problem in a land that does not include the second land portion will be described with reference to FIG. The land 111L shown in FIG. 8A has a width W103 that is sufficiently wider than the width W102 of the electrode 104L. A region R101 (shaded portion in the figure) is provided at a position outward in the axial direction of the outer end face 106 of the electrode 104L and outward in the width direction of the electrode 104L. By providing the region R101, the solder fillet is formed from the outer end face 106 to the region R101 at the time of solder joining, so that the shape of the fillet skirt can be expanded in the width direction Y. There is an advantage that the crack resistance can be improved. However, the land 111L includes the region R101, so that the degree of freedom of movement of the chip resistor 113 in the width direction Y is high.

半田リフロー時においては、例えば半田量の違い、位置の差、リフロー炉での温度の加え方の差などの様々な要因により、表面張力差が発生する場合がある。すると図8(A)に示すように、半田リフロー時に、表面張力差によって幅方向Yへチップ抵抗113の位置ずれが発生する場合があるため問題である。また、幅方向Yへの位置ずれを抑制するために領域R101の面積を減少させたり、幅W103を狭めると、半田フィレットのすそ野の形状を幅方向Yへ拡げることができず、熱応力に対する十分な応力緩和効果が得られない場合があるため問題である。   During solder reflow, a difference in surface tension may occur due to various factors such as differences in the amount of solder, differences in position, and differences in how the temperature is applied in the reflow furnace. Then, as shown in FIG. 8A, there is a problem that the position of the chip resistor 113 may be displaced in the width direction Y due to the difference in surface tension during solder reflow. Further, if the area of the region R101 is reduced or the width W103 is reduced in order to suppress misalignment in the width direction Y, the shape of the bottom of the solder fillet cannot be expanded in the width direction Y. This is a problem because a significant stress relaxation effect may not be obtained.

また図8(B)を用いて、第2ランド部を備えないランドにおける別の問題点を説明する。ランド111L、111Rは、軸方向X外方に対して十分に面積を備えている。これは、半田接合時において、電極104L、104Rから軸方向Xの外方に延びる半田フィレットのすそ野の長さを確保することで、十分な応力緩和効果を有するフィレットを得るためである。しかしランド111L、111Rでは、軸方向X外方に十分な面積を備えることで、チップ抵抗113の軸方向Xへの移動自由度が高くなっている。   Further, another problem in a land that does not include the second land portion will be described with reference to FIG. The lands 111L and 111R have a sufficient area with respect to the outside in the axial direction X. This is to obtain a fillet having a sufficient stress relaxation effect by securing the length of the bottom of the solder fillet extending outward in the axial direction X from the electrodes 104L and 104R at the time of solder bonding. However, since the lands 111L and 111R have a sufficient area outside the axial direction X, the degree of freedom of movement of the chip resistor 113 in the axial direction X is high.

すると半田リフロー時においては、半田の表面張力差により、図8(B)に示すように、軸方向Xへチップ抵抗113の位置ずれが発生する場合があるため問題である。また、軸方向Xへ位置ずれが発生すると、チップ抵抗113の両電極部においてリフローした半田の表面張力が異なることによるチップ立ち(マンハッタン現象)が発生する場合があるため問題である。   Then, during solder reflow, the chip resistor 113 may be displaced in the axial direction X as shown in FIG. 8B due to the difference in surface tension of the solder. Further, when the positional deviation occurs in the axial direction X, there is a problem that chip standing (Manhattan phenomenon) may occur due to different surface tensions of reflowed solder in both electrode portions of the chip resistor 113.

一方、本実施形態に係る第2ランド部をそなえたランドにおける、チップ抵抗3の位置ずれ抑制効果を、図3を用いて説明する。図3において、電極4Lの底面における角部42aと、第2ランド部12Lの側辺31aとの関係に着目する。角部42aから見て、幅方向Yの正方向、および軸方向Xの正方向にはランドが存在しない。ここで、ランドが存在しない領域には半田が濡れないため半田が存在しない。また電極4Lは、半田の存在しない領域へは移動することができない。すると角部42aは、側辺31aによって、幅方向Yの正方向および軸方向Xの正方向への両方向への移動が、物理的に制限されることになる。ここで軸方向Xおよび幅方向Yの両方向への移動を制限することができるのは、側辺31aが、軸方向Xに対して角度を持ったテーパ形状を有していることで、軸方向Xおよび幅方向Yの成分を備えていることに起因して得られる効果である。   On the other hand, the effect of suppressing the displacement of the chip resistor 3 in the land having the second land portion according to the present embodiment will be described with reference to FIG. In FIG. 3, attention is paid to the relationship between the corner 42a on the bottom surface of the electrode 4L and the side 31a of the second land portion 12L. There are no lands in the positive direction of the width direction Y and the positive direction of the axial direction X when viewed from the corner 42a. Here, since the solder does not get wet in the area where the land does not exist, there is no solder. Further, the electrode 4L cannot move to a region where there is no solder. Then, the movement of the corner portion 42a in both the positive direction of the width direction Y and the positive direction of the axial direction X is physically restricted by the side 31a. Here, the movement in both the axial direction X and the width direction Y can be restricted because the side 31a has a tapered shape with an angle with respect to the axial direction X, so that the axial direction This is an effect obtained due to having the components of X and the width direction Y.

同様に、電極4Lの角部42bと、第2ランド部12Lの側辺31bとの関係に着目すると、角部42bから見て幅方向Yの負方向および軸方向Xの正方向にはランドが存在しない。よって角部42bは、側辺31bによって、幅方向Yの負方向および軸方向Xの正方向へ移動することが物理的に制限される。   Similarly, when attention is paid to the relationship between the corner portion 42b of the electrode 4L and the side 31b of the second land portion 12L, lands are present in the negative direction in the width direction Y and the positive direction in the axial direction X as viewed from the corner portion 42b. not exist. Accordingly, the corner portion 42b is physically restricted from moving in the negative direction in the width direction Y and the positive direction in the axial direction X by the side 31b.

以上より電極4Lは、第2ランド部12Lの側辺31aおよび31bによって、幅方向Yの正方向および負方向の移動が制限される。すなわち第2ランド部12Lによって、電極4Lの幅方向Yへの移動を物理的に規制することができる。よってチップ抵抗3は、幅方向Yへ位置ずれが発生しないため、幅方向Yへ均等なすそ野を有する、良好な半田フィレットを形成することが可能となる。   As described above, the movement of the electrode 4L in the positive and negative directions in the width direction Y is restricted by the side edges 31a and 31b of the second land portion 12L. That is, the movement of the electrode 4L in the width direction Y can be physically restricted by the second land portion 12L. Accordingly, since the chip resistor 3 is not displaced in the width direction Y, it is possible to form a good solder fillet having a uniform base in the width direction Y.

また同様に電極4Rにおいて、電極4Rの角部42cは、テーパを有する側辺31cによって軸方向Xの負方向へ移動することが制限される。また角部42dは、側辺31dによって軸方向Xの負方向へ移動することが制限される。するとチップ抵抗3は、第2ランド部12Lによって軸方向Xの正方向への移動が規制され、第2ランド部12Rによって軸方向Xの負方向への移動が規制されるため、軸方向X方向の位置が完全に固定される。すなわち第2ランド部12Lを備えるランド1Lと、第2ランド部12Rを備えるランド1Rとが対向配置されることで、チップ抵抗3の軸方向X方向への移動を物理的に規制することができる。よって、軸方向Xへ均等なすそ野を有する良好な半田フィレットを形成すると共に、チップ抵抗3のマンハッタン現象の発生を防止することができる。   Similarly, in the electrode 4R, the corner portion 42c of the electrode 4R is restricted from moving in the negative direction of the axial direction X by the side 31c having a taper. Further, the corner portion 42d is restricted from moving in the negative direction of the axial direction X by the side edge 31d. Then, the chip resistor 3 is restricted from moving in the positive direction of the axial direction X by the second land portion 12L, and is restricted from moving in the negative direction of the axial direction X by the second land portion 12R. The position of is completely fixed. That is, the land 1L including the second land portion 12L and the land 1R including the second land portion 12R are arranged to face each other, so that the movement of the chip resistor 3 in the axial direction X can be physically restricted. . Therefore, it is possible to form a good solder fillet having a uniform skirt in the axial direction X and to prevent the Manhattan phenomenon of the chip resistor 3 from occurring.

また、本実施形態に係るランドにおけるセルフアライン効果について説明する。マウンタ等を用いて、チップ抵抗3をランド1Lおよび1Rの所定位置(図3)に載置する際には、誤差が存在し、完全にランドの中心に載置することは困難である。そして幅方向Y方向の載置ずれが発生すると、第2ランド部12Lの側辺31a側と31b側との間で、チップ抵抗3が存在しない領域の面積差が発生する。そして当該面積差に応じて、リフローした半田の表面張力の差が発生する。すると表面張力の差を解消するように、チップ抵抗3の位置を幅方向Yの中央に戻す力がチップ抵抗3に働く。いわゆるセルフアライメント効果である。   The self-alignment effect in the land according to the present embodiment will be described. When the chip resistor 3 is placed at a predetermined position (FIG. 3) of the lands 1L and 1R using a mounter or the like, there is an error and it is difficult to place it completely at the center of the land. When the placement displacement in the width direction Y direction occurs, an area difference in a region where the chip resistor 3 does not exist is generated between the side 31a side and the 31b side of the second land portion 12L. And according to the said area difference, the difference of the surface tension of the reflowed solder generate | occur | produces. Then, a force to return the position of the chip resistor 3 to the center in the width direction Y acts on the chip resistor 3 so as to eliminate the difference in surface tension. This is a so-called self-alignment effect.

ここで第2ランド部12Lの幅方向Yの幅(幅W1、幅W4)は、第1ランド部11Lの幅方向Yの幅(幅W3)に比して狭いため、半田による表面張力が分散しにくい。すると第1ランド部11Lによって得られるセルフアライメント効果に比して、第2ランド部12Lによって得られるセルフアライメント効果の方が、より正確に幅方向Yの中心へチップ抵抗3を移動させる効果を有している。これにより、第2ランド部12Lおよび12Rを備えることによって、チップ抵抗3をより正確に幅方向Yの所定位置へ位置させることが可能となる。よって幅方向Yへ均等なすそ野を有する、良好な半田フィレットを形成することが可能となる。   Here, since the width (width W1, width W4) in the width direction Y of the second land portion 12L is narrower than the width (width W3) in the width direction Y of the first land portion 11L, the surface tension due to solder is dispersed. Hard to do. Then, compared with the self-alignment effect obtained by the first land portion 11L, the self-alignment effect obtained by the second land portion 12L has an effect of moving the chip resistor 3 more accurately to the center in the width direction Y. is doing. Thereby, by providing the second land portions 12L and 12R, the chip resistor 3 can be more accurately positioned at a predetermined position in the width direction Y. Therefore, it is possible to form a good solder fillet having a uniform base in the width direction Y.

また、第2ランド部が、軸方向X外方側ではなく、軸方向X内方側に備えられることによる利点を説明する。まず比較として、第2ランド部を第1ランド部の軸方向X外方側に作成する場合を、図9を用いて説明する。図9に示すランド121Lは、軸方向X外方に第2ランド部112Lを備える。第2ランド部112Lは、軸方向X外方に向かってテーパ状に狭くなる側辺131a、131bを備える。側辺131aおよび131bは、電極104Lの底面の角部142aおよび142bの、軸方向Xの負方向への移動を規制する。しかしランド121Lでは、側辺131aおよび131bを形成したことによって、電極104Lの外方端面106の軸方向外方であって、電極104Lの幅方向外方の位置に、領域R100(図中斜線部)を備えることができない。よって電極104Lの外方端面106と、領域R100との間に半田フィレットを形成することができない。すると、チップ抵抗側面部に電極がないチップ抵抗113の半田接合時においては、十分な応力緩和効果が得られず、半田フィレットのクラック耐性が不足するおそれがある。   In addition, the advantage of the second land portion being provided not on the outer side in the axial direction X but on the inner side in the axial direction X will be described. First, as a comparison, the case where the second land portion is formed on the outer side in the axial direction X of the first land portion will be described with reference to FIG. The land 121L shown in FIG. 9 includes a second land portion 112L outside the axial direction X. The second land portion 112 </ b> L includes side sides 131 a and 131 b that are tapered in the axial direction X outward. The side sides 131a and 131b restrict the movement of the corners 142a and 142b on the bottom surface of the electrode 104L in the negative direction of the axial direction X. However, in the land 121L, since the sides 131a and 131b are formed, the region R100 (shaded portion in the drawing) is located at the outer side in the axial direction of the outer end face 106 of the electrode 104L and the outer side in the width direction of the electrode 104L. ). Therefore, a solder fillet cannot be formed between the outer end face 106 of the electrode 104L and the region R100. As a result, at the time of solder bonding of the chip resistor 113 having no electrode on the side surface of the chip resistor, a sufficient stress relaxation effect cannot be obtained, and the crack resistance of the solder fillet may be insufficient.

しかし本実施形態では、図3に示すように、第2ランド部12Lおよび12Rは、第1ランド部11Lおよび11Rの軸方向X内方側に備えられる。これにより、第1ランド部11Lおよび11Rの軸方向X外方の形状には制限が課されないため、領域Rを確保することができる。よって、領域Rにフィレットを形成することが可能とされ、十分な応力緩和効果を確保できる。そして側面に電極がないチップ抵抗3においても、フィレットのクラック耐性を高めることが可能となる。   However, in the present embodiment, as shown in FIG. 3, the second land portions 12L and 12R are provided on the inner side in the axial direction X of the first land portions 11L and 11R. Thereby, since the restriction | limiting is not imposed on the shape of the 1st land part 11L and 11R outside the axial direction X, the area | region R is securable. Therefore, a fillet can be formed in the region R, and a sufficient stress relaxation effect can be secured. Even in the chip resistor 3 having no electrode on the side surface, the crack resistance of the fillet can be increased.

以上詳細に説明したとおり、第1実施形態に係るランドは、第2ランド部12Lの側辺31aおよび31bが、底面側辺41aおよび41bに対して角度を持ったテーパ形状を有している。よって側辺31aおよび31bにより、角部42aおよび42bの幅方向Yへの移動が物理的に制限される。これによりチップ抵抗3は、幅方向Yへ位置ずれが発生しないため、幅方向Yへ均等なすそ野を有する、良好な半田フィレットを形成することが可能となる。   As described above in detail, in the land according to the first embodiment, the side sides 31a and 31b of the second land portion 12L have a tapered shape with an angle with respect to the bottom side sides 41a and 41b. Therefore, the movement of the corner portions 42a and 42b in the width direction Y is physically limited by the side edges 31a and 31b. As a result, the chip resistor 3 is not displaced in the width direction Y, so that it is possible to form a good solder fillet having a uniform base in the width direction Y.

また第2ランド部12Lを備えるランド1Lと、第2ランド部12Rを備える第2ランド部12Rとが、対向して配置される。チップ抵抗3は、第2ランド部12Lによって軸方向Xの正方向への移動が規制され、第2ランド部12Rによって軸方向Xの負方向への移動が規制される。これにより、電極は、第2ランド部12Lおよび12Rによって、軸方向Xへ移動することが制限され、軸方向Xへの位置ずれを抑制することができる。また、リフローした半田の表面張力がチップ抵抗3の両電極部において異なることによる、チップ立ちの発生を防止することができる。   Further, the land 1L including the second land portion 12L and the second land portion 12R including the second land portion 12R are disposed to face each other. The chip resistor 3 is restricted from moving in the positive direction of the axial direction X by the second land portion 12L, and is restricted from moving in the negative direction of the axial direction X by the second land portion 12R. Accordingly, the electrode is restricted from moving in the axial direction X by the second land portions 12L and 12R, and positional deviation in the axial direction X can be suppressed. Further, the occurrence of chip standing due to the difference in surface tension of the reflowed solder between the two electrode portions of the chip resistor 3 can be prevented.

また第2ランド部12Lおよび12Rの幅方向Yの幅は、第1ランド部11Lおよび11Rの幅方向の幅に比して狭いため、半田による表面張力が幅方向Yへ分散しにくい。すると第1ランド部11Lおよび11Rによって得られるセルフアライメント効果に比して、第2ランド部12Lおよび12Rによって得られるセルフアライメント効果の方が、より正確に幅方向Yの中心へチップ抵抗3を移動させる効果を有している。これにより、第2ランド部12Lおよび12Rによって得られるセルフアライメント効果によって、チップ抵抗3を幅方向Yの中心位置へより正確に半田接合することが可能となる。   Further, since the width in the width direction Y of the second land portions 12L and 12R is narrower than the width in the width direction of the first land portions 11L and 11R, the surface tension due to solder is not easily dispersed in the width direction Y. Then, the self-alignment effect obtained by the second land portions 12L and 12R moves the chip resistor 3 more accurately to the center in the width direction Y than the self-alignment effect obtained by the first land portions 11L and 11R. Has the effect of Thereby, the chip resistor 3 can be more accurately soldered to the center position in the width direction Y by the self-alignment effect obtained by the second land portions 12L and 12R.

また、第2ランド部12Lおよび12Rは、軸方向X内方側に備えられる。よって第1ランド部11Lおよび11Rの軸方向X外方の形状には制限が課されない。これにより、自由な半田フィレット形状を形成することが可能となる。特に、ランド上に領域R(電極4Lの外方端面の外方であって電極4Lの幅方向外方に存在する領域)を確保し、領域Rと電極4Lの外方端面との間にフィレットを形成することが可能となる。そしてチップ抵抗側面部に電極がないチップ抵抗3においても、半田フィレットの応力に対するクラック耐性を高めることが可能となる。   The second land portions 12L and 12R are provided on the inner side in the axial direction X. Therefore, no limitation is imposed on the shape of the first land portions 11L and 11R outside the axial direction X. As a result, a free solder fillet shape can be formed. In particular, a region R (a region outside the outer end surface of the electrode 4L and outside the electrode 4L in the width direction) is secured on the land, and a fillet is formed between the region R and the outer end surface of the electrode 4L. Can be formed. Even in the chip resistor 3 having no electrode on the side surface of the chip resistor, the crack resistance against the stress of the solder fillet can be increased.

また本発明に係る第2実施形態を、図4を用いて説明する。図4に、第2実施形態に係るランド71L、71Rを示す平面図を示す。ランド71L、71Rは、チップ抵抗3の電極4L、4Rの位置に応じて対向配置される。ランド71Lは、第1ランド部11Lと第2ランド部72Lとを備える。またランド71Rは、第1ランド部11Rと第2ランド部72Rとを備える。   A second embodiment according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a plan view showing lands 71L and 71R according to the second embodiment. The lands 71L and 71R are arranged to face each other according to the positions of the electrodes 4L and 4R of the chip resistor 3. The land 71L includes a first land portion 11L and a second land portion 72L. The land 71R includes a first land portion 11R and a second land portion 72R.

第2ランド部72Lの幅W11は、第1ランド部11Lの幅W13に比して狭い幅とされる。また第2ランド部72Lの幅は、幅W11で一定とされる。よって第2ランド部72Lの形状は、第1ランド部11Lとの接合部73Lから電極の幅方向の端辺に沿って、軸方向X内方へ延びた形状とされる。すると第2ランド部72Lの軸方向の側辺81aおよび81bは、チップ抵抗3の電極4Lの底面における軸方向の側辺84aおよび84bに沿うように配置される。すると電極4Lの底面から見て、第2ランド部の側辺81aから幅方向Yの正方向、および側辺81bから幅方向Yの負方向の領域には第2ランド部72Lが存在せず、半田が濡れない。よって電極4Lは、第2ランド部72Lの側辺81aおよび81bによって、幅方向Yの外方へ移動することが物理的に制限されることになる。また第2ランド部72Rについても同様であるため、ここでは説明を省略する。   The width W11 of the second land portion 72L is narrower than the width W13 of the first land portion 11L. The width of the second land portion 72L is constant at the width W11. Therefore, the shape of the second land portion 72L is a shape that extends inward in the axial direction X along the edge in the width direction of the electrode from the joint portion 73L with the first land portion 11L. Then, the side sides 81 a and 81 b in the axial direction of the second land portion 72 </ b> L are arranged along the side sides 84 a and 84 b in the axial direction on the bottom surface of the electrode 4 </ b> L of the chip resistor 3. Then, when viewed from the bottom surface of the electrode 4L, the second land portion 72L does not exist in the positive direction in the width direction Y from the side 81a of the second land portion and in the negative direction in the width direction Y from the side 81b. Solder does not get wet. Therefore, the electrode 4L is physically restricted from moving outward in the width direction Y by the side edges 81a and 81b of the second land portion 72L. Since the same applies to the second land portion 72R, the description thereof is omitted here.

また、第2ランド部72L、72Rの軸方向内方に存在する端辺75L、75Rの端辺間距離を、第2ランド部端辺間距離L13とする。また、ランド71Lに備えられる第2ランド部72Lの軸方向X内方に存在する端辺75Lと、ランド71Rに備えられる第1ランド部11Rの軸方向X内方に存在する端辺76Rとの距離を、第1ランド部−第2ランド部端辺間距離L12とする。また、電極4L、4Rの軸方向X内方に存在する端辺34L、34Rの端辺間距離を、電極端辺間距離L11とする。第2ランド部端辺間距離L13は、電極端辺間距離L11以下の値にされる。そして第1ランド部−第2ランド部端辺間距離L12は、電極端辺間距離L11以上の値とされる。   Further, the distance between the end sides 75L and 75R existing inward in the axial direction of the second land portions 72L and 72R is defined as a second land portion end side distance L13. Further, an end side 75L existing inward in the axial direction X of the second land portion 72L provided in the land 71L and an end side 76R existing inward in the axial direction X of the first land portion 11R provided in the land 71R. The distance is defined as a distance L12 between the first land portion and the second land portion end side. Further, the distance between the end sides of the end sides 34L and 34R existing inward in the axial direction X of the electrodes 4L and 4R is defined as an electrode end side distance L11. The distance L13 between the second land end sides is set to a value equal to or smaller than the electrode end side distance L11. The distance L12 between the first land portion and the second land portion end side is set to a value equal to or larger than the electrode end side distance L11.

よって第2ランド部72Lの軸方向X内方に存在する端辺75Lは、電極4Lの底面の軸方向X内方に存在する端辺34Lから軸方向Xの内方(正方向)側の位置に、端辺34Lに沿うように配置される。すると電極4Lの底面から見て、第2ランド部72Lの端辺75Lから軸方向Xの正方向の領域においては、第2ランド部72Lが存在しない。よって電極4Lは、第2ランド部72Lの端辺75Lによって、軸方向Xの内方(正方向)へ移動することが物理的に制限されることになる。また第2ランド部72Rについても同様であるため、ここでは説明を省略する。   Therefore, the end side 75L existing in the axial direction X of the second land portion 72L is positioned on the inner side (positive direction) in the axial direction X from the end side 34L existing in the axial direction X on the bottom surface of the electrode 4L. Are arranged along the end side 34L. Then, when viewed from the bottom surface of the electrode 4L, the second land portion 72L does not exist in the positive region of the axial direction X from the end side 75L of the second land portion 72L. Therefore, the electrode 4L is physically restricted from moving inward (positive direction) in the axial direction X by the end side 75L of the second land portion 72L. Since the same applies to the second land portion 72R, the description thereof is omitted here.

またこのような端辺間距離の関係を有することで、チップ抵抗3が軸方向Xの正方向へ最大限に移動した場合(第2ランド部72Lの端辺75Lと、電極4Lの端辺34Lとが干渉する位置まで移動した場合)においても、電極4Rの端辺34Rは、接合部73Rを超えて軸方向Xの正方向へ移動することがない。すなわち、電極4Rの底面の少なくとも一部は、必ず第2ランド部72R内に存在することになる。よって、半田リフロー時にチップ抵抗3が軸方向Xの正方向へ最大限に移動した場合においても、第2ランド部72Rの側辺81cおよび81dによって、電極4Rの幅方向Yへの移動を制限することが可能とされる。またチップ抵抗3が、軸方向Xの負方向へ最大限に移動した場合における第2ランド部72Lの作用についても同様であるため、ここでは説明を省略する。   Further, by having the relationship between the distances between the edges, when the chip resistor 3 is moved to the maximum in the positive direction of the axial direction X (the edge 75L of the second land portion 72L and the edge 34L of the electrode 4L). In the case where the end 34R of the electrode 4R moves to a position where the two interfere with each other, the end 34R of the electrode 4R does not move in the positive direction of the axial direction X beyond the joint 73R. That is, at least a part of the bottom surface of the electrode 4R is necessarily present in the second land portion 72R. Therefore, even when the chip resistor 3 moves to the maximum in the positive direction of the axial direction X during solder reflow, the movement of the electrode 4R in the width direction Y is limited by the side edges 81c and 81d of the second land portion 72R. It is possible. The same applies to the action of the second land portion 72L when the chip resistor 3 is moved to the maximum in the negative direction of the axial direction X, and the description thereof is omitted here.

以上詳細に説明したとおり、第2実施形態に係るランド71L、71Rにおいて、第2ランド部72L、72Rの側辺81a乃至81dによって、電極4Lおよび4Rの幅方向Yの正、負方向の移動が制限される。よってチップ抵抗3は、幅方向Yへの位置ずれ発生が抑制されるため、幅方向Yへ均等なすそ野を有する、良好な半田フィレットを形成することが可能となる。   As described above in detail, in the lands 71L and 71R according to the second embodiment, the lateral sides 81a to 81d of the second land portions 72L and 72R cause the electrodes 4L and 4R to move in the positive and negative directions in the width direction Y. Limited. Accordingly, since the chip resistor 3 is prevented from being displaced in the width direction Y, it is possible to form a good solder fillet having a uniform base in the width direction Y.

またチップ抵抗3は、第2ランド部72Lの端辺75Lによって軸方向Xの正方向への移動が規制され、第2ランド部72Rの端辺75Rによって軸方向Xの負方向への移動が規制される。よってチップ抵抗3の軸方向Xへの位置ずれを抑制することができるため、チップ立ちの発生を防止することができる。   The chip resistor 3 is restricted from moving in the positive direction of the axial direction X by the end side 75L of the second land portion 72L, and is restricted from moving in the negative direction of the axial direction X by the end side 75R of the second land portion 72R. Is done. Therefore, since the positional deviation of the chip resistor 3 in the axial direction X can be suppressed, the occurrence of chip standing can be prevented.

尚、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変形が可能であることは言うまでもない。第1実施形態では、図3に示すように、角部42a乃至42dが、側辺31a乃至31dに略接するように構成されるとしたが、この形態に限られない。角部42a乃至42dは、側辺31a乃至31dに対して軸方向X外方側の位置に存在していればよい。そして、角部42a乃至42dと側辺31a乃至31dとの距離は、ランド1Lおよび1Rを備える回路実装基板2の製造歩留まりや、チップ抵抗3をランドに載置するマウンタの位置決め精度などに応じて適宜定めればよい。ここで角部と側辺との距離を近づけるように設計するほど、チップ抵抗3の位置決め精度を上昇させることができる。また角部と側辺との距離を離すように設計するほど、ランド1Lおよび1Rの製造マージンやチップ抵抗3の載置時の位置決め余裕が広くなり、コスト低減効果を得ることができる。   The present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that various improvements and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. In the first embodiment, as shown in FIG. 3, the corner portions 42 a to 42 d are configured to substantially contact the side edges 31 a to 31 d, but the present invention is not limited to this configuration. The corners 42a to 42d only need to exist at positions on the outer side in the axial direction X with respect to the side edges 31a to 31d. The distance between the corners 42a to 42d and the sides 31a to 31d depends on the manufacturing yield of the circuit mounting board 2 including the lands 1L and 1R, the positioning accuracy of the mounter on which the chip resistor 3 is placed on the land, and the like. What is necessary is just to determine suitably. Here, the positioning accuracy of the chip resistor 3 can be increased as the distance between the corner and the side is designed closer. Further, as the distance between the corner portion and the side is designed to be increased, the manufacturing margin of the lands 1L and 1R and the positioning margin when the chip resistor 3 is placed become wider, and the cost reduction effect can be obtained.

また第2実施形態では、図4に示すように、第2ランド部72Lと電極4Lとの位置関係において、側辺81aと側辺84aとの間、側辺81bと側辺84bとの間、端辺75Lと端辺34Lとの間に所定量の間隙を有するように構成されるとしたが、この形態に限られない。第2ランド部72Lと電極4Lとの側辺が略一致する形態や、端辺が略一致する形態としても良いことは言うまでもない。そして当該間隙が小さくなるように設計するほど、チップ抵抗3の位置決め精度を向上させることが可能となる。   In the second embodiment, as shown in FIG. 4, in the positional relationship between the second land portion 72L and the electrode 4L, between the side 81a and the side 84a, between the side 81b and the side 84b, Although it is configured to have a predetermined amount of gap between the end side 75L and the end side 34L, it is not limited to this configuration. Needless to say, the second land portion 72L and the electrode 4L may have substantially the same side or end sides. As the gap is designed to be smaller, the positioning accuracy of the chip resistor 3 can be improved.

また第1実施形態では図3に示すように、ランド1Lおよび1Rは幅W3を有するとしたが、この形態に限られない。図5に示すランド51Lおよび51Rのように、チップ抵抗3の幅W2に近い幅W5を有する形態としてもよい。この場合においても、第2ランド部12Lおよび12Rの側辺31a乃至31dによって、チップ抵抗3は、軸方向Xおよび幅方向Yへ位置ずれが発生することが抑制される。よってより高精度なチップ抵抗3の位置決めを行うことが可能となる。   In the first embodiment, as shown in FIG. 3, the lands 1L and 1R have the width W3. However, the present invention is not limited to this configuration. Like the lands 51L and 51R shown in FIG. 5, the chip resistor 3 may have a width W5 close to the width W2. Even in this case, the side edges 31a to 31d of the second land portions 12L and 12R prevent the chip resistor 3 from being displaced in the axial direction X and the width direction Y. Therefore, the chip resistor 3 can be positioned with higher accuracy.

また第1実施形態では図3に示すように、側辺31a乃至31dは直線状のテーパ形状を有するとしたが、この形態に限られず、物理的に電極4L、4Rの角部42a乃至42dを規制する形状であればよい。例えば図6に示す第2ランド部52Lおよび52Rの側辺33a乃至33dのように、外に凸の曲線状の形状を有し、軸方向X内方に向かって狭くなる形態としてもよい。これにより、ランド61L、61Rと電極4L、4Rの底面との対向部に各種応力が加えられた場合においても、角部42a乃至42dに応力集中することを防止することができる。   In the first embodiment, as shown in FIG. 3, the side edges 31a to 31d are linearly tapered. However, the present invention is not limited to this configuration, and the corner portions 42a to 42d of the electrodes 4L and 4R are physically formed. What is necessary is just the shape to regulate. For example, it is good also as a form which has an outward convex curvilinear shape and becomes narrow toward the inside of the axial direction X like the side 33a thru | or 33d of 2nd land part 52L and 52R shown in FIG. Thereby, even when various stresses are applied to the facing portions between the lands 61L and 61R and the bottom surfaces of the electrodes 4L and 4R, it is possible to prevent stress concentration on the corner portions 42a to 42d.

また側辺31a乃至31dが有するテーパの角度は、マウンタの載置精度などに応じて適宜定めればよいことは言うまでもない。例として、側辺31b(図3)について説明する。側辺31bの軸方向Xに対する角度を考える。当該角度は、45度を境界とし、45度よりも大きくする(軸方向Xに対して垂直に近づける)ほど、軸方向Xへの位置ずれ抑制効果が大きくなると共に、幅方向Yへの位置ずれ抑制効果が小さくなる。よって、チップ立ちの発生をより効果的に防止することが出来る。一方、45度よりも小さくする(軸方向Xに対して平行に近づける)ほど、幅方向Yへの位置ずれ抑制効果が大きくなると共に、軸方向Xへの位置ずれ抑制効果が小さくなる。よって、ランド1Lおよび1Rの幅方向Yを拡げる場合においては、チップ抵抗3の幅方向Yへの位置ずれを有効に抑制できる。   Needless to say, the taper angles of the side edges 31a to 31d may be appropriately determined according to the mounting accuracy of the mounter. As an example, the side 31b (FIG. 3) will be described. Consider the angle of the side 31b with respect to the axial direction X. As the angle is 45 degrees as a boundary and larger than 45 degrees (approaching perpendicular to the axial direction X), the effect of suppressing the positional deviation in the axial direction X increases and the positional deviation in the width direction Y increases. The suppression effect is reduced. Therefore, the occurrence of chip standing can be more effectively prevented. On the other hand, as the angle is smaller than 45 degrees (approaching parallel to the axial direction X), the positional deviation suppressing effect in the width direction Y increases and the positional deviation suppressing effect in the axial direction X decreases. Therefore, in the case where the width direction Y of the lands 1L and 1R is expanded, the positional deviation of the chip resistor 3 in the width direction Y can be effectively suppressed.

また本実施形態では、表面実装部品としてチップ抵抗を用いたが、これに限られず、チップコンデンサ等の各種表面実装部品に対して本発明が適用可能であることは言うまでもない。   In this embodiment, the chip resistor is used as the surface mount component. However, the present invention is not limited to this, and it goes without saying that the present invention can be applied to various surface mount components such as a chip capacitor.

ランドと表面実装部品との関係を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the relationship between a land and surface mount components. 第1実施形態に係るランド1L、1Rを示す平面図である。It is a top view showing land 1L and 1R concerning a 1st embodiment. ランド1L、1Rとチップ抵抗3との関係を示す平面図である。3 is a plan view showing a relationship between lands 1L and 1R and a chip resistor 3. FIG. 第2実施形態に係るランド71L、71Rを示す平面図である。It is a top view which shows land 71L, 71R which concerns on 2nd Embodiment. ランド51Lおよび51Rを示す平面図である。It is a top view which shows land 51L and 51R. 第2ランド部52Lおよび52Rを示す平面図である。It is a top view which shows the 2nd land parts 52L and 52R. 特許文献1に開示されているプリント配線板の要部平面図である。10 is a plan view of a principal part of a printed wiring board disclosed in Patent Document 1. FIG. 第2ランド部を備えないランドを示す平面図である。It is a top view which shows the land which is not provided with a 2nd land part. 第2ランド部を第1ランド部の軸方向X外方側に作成する場合を示す平面図である。It is a top view which shows the case where a 2nd land part is produced in the axial direction X outer side of a 1st land part.

符号の説明Explanation of symbols

1L、1R ランド
2 回路実装基板
3 チップ抵抗
4L、4R 電極
11L、11R 第1ランド部
12L、12R 第2ランド部
31a乃至31d 側辺
41a、41b 底面側辺
42a乃至42d 角部
1L, 1R Land 2 Circuit mounting board 3 Chip resistor 4L, 4R Electrode 11L, 11R First land 12L, 12R Second land 31a to 31d Side 41a, 41b Bottom side 42a to 42d Corner

Claims (6)

表面実装部品の電極が半田接合される回路実装基板のランドであって、
前記電極の底面の少なくとも一部が半田接合される第1ランド部と、
前記第1ランド部の前記表面実装部品の軸方向内方に、該第1ランド部と一体に備えられる第2ランド部とを備え、
該第2ランド部の前記軸方向に対する幅は、前記電極の幅以上から前記電極の幅方向端辺をまたいで前記電極の幅未満となるように、前記第1ランド部との接合部から前記軸方向内方に沿って変化することを特徴とするランド。
The land of the circuit mounting board to which the electrodes of the surface mounting component are soldered,
A first land portion to which at least a part of the bottom surface of the electrode is soldered;
A second land portion provided integrally with the first land portion on an inner side in the axial direction of the surface mount component of the first land portion;
The width of the second land portion with respect to the axial direction is greater than the width of the electrode and less than the width of the electrode across the edge in the width direction of the electrode. A land characterized by changing along the axially inward direction.
前記ランドは、前記表面実装部品の前記軸方向の両端に備えられる前記電極の位置に応じて、対向配置されることを特徴とする請求項1に記載のランド。   2. The land according to claim 1, wherein the lands are arranged to face each other in accordance with positions of the electrodes provided at both ends of the surface-mount component in the axial direction. 前記第1ランド部の前記軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離は、前記電極の前記軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離に比して大きくされ、
前記第2ランド部の前記軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離は、前記電極の前記軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離に比して小さくされることを特徴とする請求項2に記載のランド。
The distance between the side edges of the first land portion that is present inward in the axial direction is larger than the distance between the side edges of the edge that is present inward in the axial direction of the electrode;
The distance between the edges of the second land portion that is present inward in the axial direction is made smaller than the distance between the edges of the edges that are present inward in the axial direction of the electrode. The land according to claim 2, wherein
前記第2ランド部の前記軸方向に対する幅は、前記軸方向内方に向かって外に凸の曲線状に変化することを特徴とする請求項1に記載のランド。   2. The land according to claim 1, wherein a width of the second land portion with respect to the axial direction changes in a curved shape protruding outward in the axial direction. 前記第2ランド部の前記軸方向に対する幅は、直線状に変化することを特徴とする請求項1に記載のランド。   The land according to claim 1, wherein a width of the second land portion with respect to the axial direction changes linearly. 表面実装部品の電極が半田接合され、前記電極の位置に応じて対向配置される回路実装基板のランドであって、
前記電極の底面の少なくとも一部が半田接合される第1ランド部と、
前記第1ランド部の前記表面実装部品の軸方向内方に、該第1ランド部と一体に備えられる第2ランド部とを備え、
該第2ランド部の前記軸方向に対する幅は、前記第1ランド部の前記軸方向に対する幅に比して狭く、かつ一定の幅とされ、
前記第2ランド部の前記軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離は、前記電極の前記軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離以下とされ、
一方の前記ランドに備えられる前記第2ランド部の前記軸方向内方に存在する端辺と、他方の前記ランドに備えられる前記第1ランド部の前記軸方向内方に存在する端辺との端辺間距離は、前記電極の前記軸方向内方に存在する端辺の端辺間距離以上とされることを特徴とするランド。
The surface mounting component electrodes are solder-bonded, and are lands of a circuit mounting board that are arranged to face each other according to the position of the electrodes,
A first land portion to which at least a part of the bottom surface of the electrode is soldered;
A second land portion provided integrally with the first land portion on an inner side in the axial direction of the surface mount component of the first land portion;
The width of the second land portion with respect to the axial direction is narrower than the width of the first land portion with respect to the axial direction, and is a constant width.
The distance between the side edges of the second land portion that is present inward in the axial direction is equal to or less than the distance between the side edges of the edge that is present inward in the axial direction of the electrode.
An end side existing in the axial direction of the second land portion provided in one of the lands, and an end side existing in the axial direction of the first land portion provided in the other land. The land-to-end distance is equal to or greater than the end-to-end distance of the end side existing inward in the axial direction of the electrode.
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