JP2006294437A - Ic裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケット - Google Patents

Ic裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケット Download PDF

Info

Publication number
JP2006294437A
JP2006294437A JP2005114156A JP2005114156A JP2006294437A JP 2006294437 A JP2006294437 A JP 2006294437A JP 2005114156 A JP2005114156 A JP 2005114156A JP 2005114156 A JP2005114156 A JP 2005114156A JP 2006294437 A JP2006294437 A JP 2006294437A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit board
exposed
printed circuit
socket
back surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005114156A
Other languages
English (en)
Inventor
Fuyuki Okubo
冬樹 大久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2005114156A priority Critical patent/JP2006294437A/ja
Publication of JP2006294437A publication Critical patent/JP2006294437A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Abstract

【課題】ICの裏面にパッドが露出したパッケージで、バイパスコンデンサをICの端子と裏面が露出しているダイパッドとを最短距離で接続することができる。
【解決手段】ICとプリント基板のパターンとを接触させるピン間に、バイパスコンデンサを収容できる凹部に配置し、ICがプリント基板側に押さえられた際、ピン間に配置されたバイパスコンデンサが導電シートに接触することにより、ICの端子とダイパッドが接続されるものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、例えばICの裏面にパッドが露出したパッケージの半導体集積回路試験装置に用いられるソケットに関するものである。
近年、半導体集積回路装置の高集積化、高周波化に伴って、外付け部品を極力IC近くに配置するソケットが提案されている。
以下、図4を参照しながら、特許文献1に示されており、外付け部品を極力IC近くに配置する方法について説明する。
図4は、従来のICソケットの構成を示すものである。図中、2Aはコンタクト、2Bはハウンジング、3は位置決めピン、4はプリント基板、5,6はバイパスコンデンサ、11,12は凹部である。図示のようにICソケットのハウジング2Bに、DUTボードであるプリント基板4と接する両側に開口する複数(図示では2個)の凹部11,12を形成して、その一方の凹部11にバイパスコンデンサ5を収容するとともに、他方の凹部12にもバイパスコンデンサ6を収容したものである。
即ち、ICソケットのハウジング2Bには、その中央部に保持した複数のコンタクト2A,2A,2A・・・と周辺部に貫通した複数の位置決めピン3,3との間において、図示下面に開口する図示2個の凹部11,12を形成しておく。また、プリント基板4の図示上面には、その中央部と周辺部に起設した図示2本の位置決めピン3,3との間において、図示2個のバイパスコンデンサ5,6を実装しておく。そしてICソケットをプリント基板4上のバイパスコンデンサ5,6をICソケットのハウジング2Bに形成された凹部11、12に収容する。このようにバイパスコンデンサ5,6をICソケットと同一面に配置することができる。ICの電源ピンのインダクタンスを最小限に抑えながらテストができる(特許文献1参照)。しかしながら、上記特許文献1は、BGA型ICを想定したソケットである。半導体集積回路装置の高周波化が進み、ICのグランドピンを強化する目的で、ICの裏面にダイパッドを露出させ、そこをICのグランドとしたパッケージが採用されており、図5に示すようなソケットが使用されている。
図中、21はICとプリント基板のパターンとを接触させるピン、27は、接触ピンをハウジングに固定する棒、24はハウンジング、26はプリント基板、25はパターン、23はスルーホール、20はバイパスコンデンサ、22はICである。
IC22を、上からプリント基板26側に押さえることにより、ICとプリント基板のパターンとを接触させるピンがたわみプリント基板26のパターン25に、ピン20が押し付けられ、IC22のパッドとプリント基板26のパターン25とが接続される。そこで、IC22の電源ピンにバイパスコンデンサ20を接続する場合、ソケットの横に配置し、スルーホールを通じてグランドと接続される。
特開2001−13209号公報
しかしながら、半導体集積回路装置の高周波化が進み、ICのグランドピンを強化する目的で、ICの裏面にダイパッドを露出させ、そこをICのグランドとしたパッケージが使用されている。その際、上記の構成のソケットだと、バイパスコンデンサをICの横に配置するしかなく、バイパスコンデンサのグランド側とICの裏面のダイパッドまでの距離が長くなり、バイパス効果を低下させているという問題があった。
前記に鑑み、本発明は、バイパスコンデンサのグランド側とICの裏面のダイパッドまでの距離を極力短くし、バイパス効果の低下を防止することを目的とする。
前記の目的を達成するため、本発明に係るIC裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケットは、例えば図1に示すように、コンタクトピンは、ICの端子及び裏面に露出しているダイパッドとプリント基板のパターン双方に接触する構成で、ICの電源端子及び裏面に露出しているダイパッドに接触するピンの側面に導電シートが配置され、その導電シート間にバイパスコンデンサを備えており、ICがプリント基板のパターンに接触する際、接触するピンがたわみ、バイパスコンデンサが導電シートを介してピンに接触される。
本発明に係るIC裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケットによると、バイパスコンデンサをICの端子と裏面が露出しているダイパッドとを最短距離で接続することができる。
本発明に係るIC裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケットによると、バイパスコンデンサをICの端子と裏面が露出しているダイパッドとを最短距離で接続することができる。
(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態に係るIC裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケットについて、図面を参照しながら説明する。
まず、図1は本発明を適用した例としてのIC裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケットの構成を示すもので、図中、41はICとプリント基板のパターンとを接触させるピン、33は接触ピンをハウジングに固定する棒、34はハウンジング、36はプリント基板、35はパターン、37はスルーホール、31,32はバイパスコンデンサ、30はIC、40は導電シート、38,39は凹部である。
図2は、バイパスコンデンサが2つの接触ピンにはさまれる部分を拡大したものである。
図3は、本発明を適用した例としてのIC裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケットの裏面からの構成を示すものである。
第1の実施形態によると、IC30とプリント基板36のパターン35とを接触させるピン41が、ICのパッケージリード及びIC裏面のパッドが露出した部分に配置され、IC30をプリント基板36側に押さえることにより、IC30とプリント基板36のパターン35とを接触させるピン41がたわみ、プリント基板36のパターン35に押しつけられ接触する。その際、ICのパッケージリードにおいて電源ピンとIC裏面のパッドが露出した部分に配置された接触ピン41の側面に導電シート40を貼り付け、凹部38,39にバイパスコンデンサを収容し、IC30をプリント基板36側に押さえた際、IC30とプリント基板36のパターン35とを接触させるピン41がたわみ、IC30のパッケージリードにおいて電源ピンとIC裏面のパッドが露出した部分に配置された接触ピン41が導電シートを介して凹部38,39に収容されたバイパスコンデンサ31,32をはさみつける。そうすることにより、バイパスコンデンサ31,32をIC30の端子と裏面が露出しているダイパッドとを最短距離で接続することができる。
以上説明したように、本発明は、IC裏面にパッドが露出したパッケージにおいてバイパスコンデンサをICの端子と裏面が露出しているダイパッドとを最短距離で接続することに有用である。
本発明を適用した例としてのIC裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケットの構成を示す図 図1においてバイパスコンデンサが2つの接触ピンにはさまれる部分を拡大した図 図1において、裏面からの図 従来のパッケージ用ソケットの断面図 従来のパッケージ用ソケットの断面図
符号の説明
2A コンタクト
3 位置決めピン
4 プリント基板
5,6 バイパスコンデンサ
11,12 バイパスコンデンサ
20 バイパスコンデンサ
21 ICとプリント基板のパターンとを接触させるピン
22 IC
23 スルーホール
24 ハウジング
25 パターン
26 プリント基板
27 接触ピンの固定棒
30 IC
31、32 バイパスコンデンサ
33 接触ピンの固定棒
34 ハウジング
35 パターン
36 プリント基板
37 スルーホール
38,39 凹部
40 導電シート
41 ICとプリント基板のパターンとを接触させるピン

Claims (1)

  1. ICを固定するハウジング内に内包されたICとプリント基板のパターンとを接触させるピンが、ICのパッド及びICの裏面にも接触するように配備され、
    前記ピンのICと接触する側とは反対側の側面に導電シートを備えており、そのピンとピンの間にバイパスコンデンサを収容できるようなハウジングを有しており、ICをプリント基板に接触させた際、ピン間に配置されたバイパスコンデンサが導電シートを介してピンとピンを接触することを特徴とするICの裏面にパッドが露出したパッケージ用のソケット。
JP2005114156A 2005-04-12 2005-04-12 Ic裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケット Pending JP2006294437A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005114156A JP2006294437A (ja) 2005-04-12 2005-04-12 Ic裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケット

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005114156A JP2006294437A (ja) 2005-04-12 2005-04-12 Ic裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケット

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006294437A true JP2006294437A (ja) 2006-10-26

Family

ID=37414772

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005114156A Pending JP2006294437A (ja) 2005-04-12 2005-04-12 Ic裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケット

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006294437A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG148054A1 (en) * 2007-05-17 2008-12-31 Micron Technology Inc Semiconductor packages and method for fabricating semiconductor packages with discrete components

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG148054A1 (en) * 2007-05-17 2008-12-31 Micron Technology Inc Semiconductor packages and method for fabricating semiconductor packages with discrete components
US7807502B2 (en) 2007-05-17 2010-10-05 Micron Technology, Inc. Method for fabricating semiconductor packages with discrete components
US7964946B2 (en) 2007-05-17 2011-06-21 Micron Technology, Inc. Semiconductor package having discrete components and system containing the package

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4911495B2 (ja) 半導体集積回路用ソケット
JPH11233216A (ja) テスト用icソケット
JP2006085947A (ja) コネクタ装置、コネクタ装置の保持方法およびコネクタ装置を有する電子機器
KR100989673B1 (ko) 표면 실장형 집적회로 패키지용 테스트 소켓
KR200456269Y1 (ko) 클립형 단자
JP2006294437A (ja) Ic裏面にパッドが露出したパッケージ用ソケット
JP2007033101A (ja) Ic試験装置
JP3379920B2 (ja) Ic用ソケット
KR101212945B1 (ko) 수직형 프로브를 갖는 검사용 소켓
JP4698928B2 (ja) Zifソケット対応半導体デバイス及びzifソケットを用いた回路アセンブリ
JP2002071750A (ja) ハンドラー装置用キャリア,ハンドラー装置用プッシャー及びハンドラー装置
JP2009193677A (ja) アダプタ、ソケット、電子装置および実装方法
JP2004340867A (ja) スプリングプローブ及びicソケット
JP2003051562A (ja) 半導体装置
KR20070101389A (ko) 중계 기판
JP2007049764A (ja) 表面実装型圧電発振器ユニット
JP4754458B2 (ja) 電子部品の試験装置
JPH08321368A (ja) Icソケット
JP3150318U (ja) Icソケット
JP2008077988A (ja) コンタクト端子およびそれを備える半導体装置用ソケット
KR100792146B1 (ko) 반도체 패키지
JP2005093924A (ja) 電子部品実装モジュール
JP2005268574A (ja) 接触シート、lsi実装構造及びlsi実装方法
JP2007026718A (ja) 半導体装置用ソケット
JP2545263Y2 (ja) Ic装置のバーンインボード