JP2006229269A - 走査線補間装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】飛び越し走査画像を順次走査画像に変換する際に、表示装置の画素配列に合わせた精度で動き探索および動き補償を行うことにより、高い精度の走査線補間を行い、表示画質を改善する。
【選択図】図1
Description
Y = k1*R 1 + k2*G 1 + k3*B1
により計算される。この輝度値での探索により求められた動きベクトルに基づき、従来はR,G,Bの組を一つの画素と考えて、その画素を動き補償により補間している。従来の動きベクトル探索においては、表示手段の画素構造を考慮していないため、動きベクトルの画素精度としては、計算量の少ない、整数画素精度や1/2画素精度が用いられている。
R1'=R1*(1/2)
G1'=G1*(1/2)
B1'=B1*(1/2)
R2'=R1*(1/2)
G2'=G1*(1/2)
B2'=B1*(1/2)
このように、走査線補間が、表示手段の画素構造と関係なく、画素単位で行われるため、例えば、表示装置の水平方向の画素が少ない場合には、水平方向に正確な画素補間が行われず、垂直エッジ部分のボケや、斜め線が不連続に見える等の、走査線補間による画質改善効果が十分に得られない場合があった。
入力された飛び越し走査画像を順次走査画像に動き補償を用いて走査変換する走査線補間部と、動き補償のための動きベクトルを探索する動きベクトル探索部と、動きベクトル探索の探索精度を制御する制御部とを有している走査線補間装置。特に制御部は、上記順次走査画像を表示する表示部の画素構造に基づいて上記探索精度を決定する。
走査線補間器101に入力される信号は、テレビ放送等を受信した際のインタレース映像信号や、DVD等の再生機からの出力であるインタレース映像信号である。入力された2:1インタレース画像は、動きベクトル探索器102で動きベクトルが探索される。動きベクトルは、現在の処理対象の画面のある部分が、他の画面もしくは同じ画面のどの場所からどれだけ移動したかを示すものである。この動きベクトルの検出にはいくつかの方法があるが、ブロックマッチング法がデジタル回路による処理の容易さなどから多く用いられている。ブロックマッチング法は、画像を(M×N)個の画素(例えば8画素×8ライン)のようなブロックに分け、このブロック単位で動きベクトルを検出する。
また、表示装置と、順次走査変換装置が一体となった装置の場合は、表示装置の画素構造は既知である。よって、探索精度制御器104の精度は予め初期設定される固定値とすることが出来る。
又、動きベクトル探索を用いないで走査線変換を行う従来技術を用いた補間方法を選択できるように、走査線補間器への動きベクトル探索部から入力を切り替える切替器を探索部に設けてもよい。この場合には別途走査線補間器に用意される変換方法によって走査変換が実行される。
111〜116…R、G、B三つのサブピクセルで構成される画素の一つ。
211〜216…R、G、B三つのサブピクセルで構成される画素の一つ。
301…表示装置の画素構造取得手段、302…動きベクトルの探索精度決定手段、303…動きベクトル探索手段、304…走査線補間手段。
Claims (8)
- 入力された飛び越し走査画像を順次走査画像に動き補償を用いて走査変換する走査線補間部と、
上記動き補償のための動きベクトルを探索する動きベクトル探索部と、
上記動きベクトル探索の探索精度を制御する制御部とを有し、
上記制御部は、上記順次走査画像を表示する表示部の画素構造に基づいて上記探索精度を決定することを特徴とする走査線補間装置。 - 上記画素構造は1画素を構成するサブピクセルの数であって、
上記制御部は上記サブピクセルの数の逆数の値に上記探索精度を設定することを特徴とする請求項1記載の走査線補間装置。 - 上記表示部の画素構造に関する情報を接続される表示部から受信することを特徴とする請求項1又は2に記載の走査線補間装置。
- 上記画素構造が1画素が水平方向にR,G,Bの3つのサブピクセルで構成されている場合には、水平方向の動き探索精度を1/3画素精度とすることを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の走査線補間装置。
- 上記動きベクトル探索部で上記制御部で決定された探索精度を用いる場合と所定の値を用いる場合を切り替える切替器を更に有することを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の走査線補間装置。
- 上記ベクトル探索は、ブロックマッチングにより行うことを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の走査線補間装置。
- 入力された飛び越し走査画像を順次走査画像に動き補償を用いて走査変換する走査線補間部と、
上記動き補償のための動きベクトルを探索する動きベクトル探索部と、
上記動きベクトル探索の探索精度を制御する制御部と、
上記順次走査画像を表示する表示部とを有し、
上記制御部は、上記順次走査画像を表示する表示部の画素構造に基づいて上記探索精度を決定することを特徴とする走査線補間装置。 - 上記画素構造は1画素を構成するサブピクセルの数であって、
上記サブピクセルの数の逆数の値に上記探索精度を設定することを特徴とする請求項7記載の走査線補間装置。
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