JP2006229224A - レーザダイオードのレーザ閾値を決定する方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】個々のレーザダイオードにおける固有のレーザ閾値を再現可能に精確かつ信頼性を伴って求める。
【解決手段】レーザダイオード12はドライバ回路36により第1のフィードバック回路37と第2のフィードバック回路39の信号に依存して駆動され、第1のフィードバック回路37には光カップリング28を介してダイオード12の出力信号が供給される。ドライバ回路36aとダイオード12との間で取り出された電気信号が第2のフィードバック回路39へ供給され、この信号が設定可能な活性化閾値SW2と比較される。閾値SW2を超えた電気信号の成分のみがドライバ回路36aへ転送される。第2のフィードバック回路39の活性状態が変化するよう閾値が変更され、ダイオード12のレーザ閾値SW1は、第2のフィードバック回路39の活性状態が変化したときの設定可能な活性化閾値SW2の値に依存して決定される。
【選択図】図4a

Description

本発明は、レーザダイオードのレーザ閾値を決定する方法に関する。この場合、レーザダイオードはドライバ回路により第1のフィードバック回路の第1の信号と第2のフィードバック回路の第2の信号に依存して駆動され、その際、第1のフィードバック回路には光カップリングを介してレーザダイオードの出力信号が供給される。
本発明はさらに、レーザダイオードのレーザ閾値を決定するドライバ回路にも関する。この場合、ドライバ回路はドライバ信号を生成し、レーザダイオードはこのドライバ信号に依存して出力信号を生成する。さらに第1のフィードバック回路と第2のフィードバック回路が設けられており、ここで第1のフィードバック回路は光カップリングを介して出力信号の一部分を供給するように構成されている。
この種の方法およびこの種のドライバ回路はそれぞれUS 5,260,955により知られている。この文献によればレーザダイオードの光パワーとドライバ電流を示す特性曲線は、小さいドライバ電流と光パワーである非線形の下方区間を有している。さらにこの特性曲線は、それよりも大きいドライバ電流と光パワーである上方区間を有しており、この区間では光パワーはドライバ電流に少なくともほぼ線形に依存している。ここでは線形領域は「レーザ発光領域lasing region」と呼ばれ、非線形領域は「光放射領域light emitting regionまたは自然発光領域spontaneous emission region」と呼ばれる。両方の区間は、レーザ閾値とも呼ばれるドライバ電流の値によって分けられる。レーザダイオードを制御するためには、レーザ閾値に関する情報が役立つ。
レーザ閾値を決定するために、US 5,260,955によれば2つのフィードバック回路が設けられており、これらの回路は共通の電気的な接続ノードを介してホトダイオードと接続されている。第1のフィードバック回路はレーザダイオードの動作中、レーザダイオードのパワー調整に用いられる。また、第2のフィードバック回路はレーザ閾値を求めるために用いられる。この目的で、第2のフィードバック回路において信号が一定の閾値と比較される。信号が閾値を超えなければ、レーザダイオードのドライバ電流が連続的に高められる。ホトダイオードが受光する特定の光パワーと相関関係にある閾値を信号が超えたならば、対応するドライバ電流はそのまま変更されることなく維持される。そして動作中、第2のフィードバック回路はこのレーザ閾値ドライバ電流を供給する一方、基準信号発生器はこのレーザ閾値よりも大きいドライバ電流寄与量となるような制御信号を供給する。これは第1のフィードバック回路によって安定化される。
ドライバ回路とレーザダイオードから成る公知の装置によれば、安定化は以下のようにして行われる:第1のフィードバック回路は差動増幅器の一方のフィードバック信号入力側と接続されており、レーザダイオードが放射した光パワーの一部分をホトダイオードを介して受け取る。さらに差動増幅器には、レーザダイオードの光パワーを制御する基準信号が供給される。レーザダイオードが比較的大きい光パワーを放射しているならば、ホトダイオードは大きい光電流を差動増幅器のフィードバック信号入力側へ供給し、その結果、差動増幅器の出力信号は小さくなり、ひいてはレーザダイオードの光パワーが減少する。これと同様に、比較的小さい放射光パワーであると差が拡がって光パワーが増大する。つまりフィードバック回路は閉ループ制御回路を成しており、これによって定常化状態において安定した光パワーが生じる。
駆動すべき固有のレーザダイオードのレーザ閾値は、同形式のレーザダイオードであっても個々に異なっている可能性があり、これに加えて経年変化の影響によって変化する可能性もある。ここで一例として用いる形式のレーザダイオードの場合、個々のレーザダイオードの固有のレーザ閾値はたとえば10mA〜50mAのドライバ電流強度範囲にある可能性がある。したがって規定のドライバ信号によって規定の出力信号を発生させることができるようにするためには、あるレーザダイオードにおける固有のレーザ閾値に関する情報が役立つ。このことは一般に、活性化閾値をもつその他の素子についてもあてはまるし、あるいは差動増幅器とレーザダイオードから成る装置についてもあてはまる。この種の装置の場合、レーザダイオードにおいてレーザ作用が始まるドライバ電流強度は、増幅器のオフセット電流にも付加的に依存する。以下でレーザダイオードの出力信号というときには通常、レーザ閾値または活性化閾値よりも上にある光パワーのことを意味する。
レーザダイオードの光パワーつまりはレーザダイオードの出力信号をできるかぎり精確に制御するために望まれるのは、公差を伴うレーザ閾値の情報を把握することである。
しかもドライバ電流源たとえば上述の差動増幅器の種々の個体は、それらの入出力信号特性に関してやはりばらつきをもっていることが多く、それらのばらつきは素子の規定の機能のために差動増幅器の補償調整によって相殺しなければならない。このような補償調整は、差動増幅器の動作条件が補償調整によって以降の動作時の動作条件といっそう良好に一致すればするほど、いっそう精確に行うことができる。以降の動作中、ドライバ電流強度はレーザ閾値のオーダで供給されることになるので、補償調整をレーザ閾値のできるかぎり近くで行うようにすべきである。この理由からも、レーザ閾値に関する情報を把握するのが望ましい。
US 5, 260, 955により公知の方法によれば、レーザ閾値を求めるためドライバ信号により所定の信号帯域幅が掃引され、これによりレーザダイオードとホトダイオードとの光結合のあとに位置する信号経路中の活性が閾値比較により捕捉される。実際には、光結合を有するこの種のフィードバックは殊にレーザダイオードの場合、測定による介入に対し非常に敏感に反応する。したがって得られた結果の十分な信頼性ならびに精度は、そのままでは保証されない。
US 5,260,955
このような背景ゆえに本発明の課題は、個々の素子におけるそれぞれ固有の活性化閾値たとえば個々のレーザダイオードにおける固有のレーザ閾値を再現可能に精確かつ信頼性を伴って求めることができるようにした方法およびドライバ回路を提供することにある。
本発明によればこの課題は冒頭で述べた形式の方法において、ドライバ回路とレーザダイオードとの間で取り出された電気信号が第2のフィードバック回路へ供給され、この信号が設定可能な活性化閾値と比較され、活性化閾値を超えた電気信号の成分のみがドライバ回路へ転送され、第2のフィードバック回路はこの成分が現れたときのみアクティブ状態となり、設定可能な活性化閾値は、第2のフィードバック回路の活性状態が変化するよう変更され、レーザダイオードのレーザ閾値は、第2のフィードバック回路の活性状態が変化したときの設定可能な活性化閾値の値に依存して決定されることにより解決される。
さらにこの課題は冒頭で述べた形式のドライバ回路において、第2のフィードバック回路は、ドライバ回路とレーザダイオードとの間でドライバ信号を搬送する接続点への電気端子を介して電気信号を供給し、該第2のフィードバック回路は、前記電気信号を設定可能な活性化閾値と比較し、該第2のフィードバック回路は、前記設定可能な活性化閾値を超えた電気信号の成分のみを前記ドライバ回路へ転送し、該第2のフィードバック回路は、前記成分が発生したときのみアクティブ状態となり、該第2のフィードバック回路は、前記設定可能な活性化閾値を変化させて該第2のフィードバック回路の活性状態を変更し、該第2のフィードバック回路は、該第2のフィードバック回路の活性状態が変化したときの前記設定可能な活性化閾値の値に依存して決定されることにより解決される。
ここで活性状態の変化とは有利には、アクティブなすなわち活性化状態の第2のフィードバック回路と非アクティブなすなわち非活性化状態の第2のフィードバック回路との間の移行を意味する。本発明の上述の特徴によれば、信号の流れで見てレーザダイオードとホトダイオードとの間の光カップリングの後ろに位置し影響を受けやすい敏感な信号経路に対し介入を行うことなく、レーザ閾値ないしは第1の活性化閾値を決定できるようになる。そのような介入を行う代わりに、第2のフィードバック回路においてレーザ閾値の間接的な捕捉が行われる。この場合、第2のフィードバック回路はフィードバック信号の制御について第1のフィードバック回路と競合関係にあり、測定のための介入操作に対しロバストに応動する。これらのフィードバック回路の競合によれば、閾値(レーザ閾値または第2の活性化閾値)が小さい方のフィードバック回路がフィードバックの役割を担うことになる。第2の活性化閾値がたとえばレーザ閾値よりも大きければ、第1のフィードバック回路を介して安定化される出力信号をレーザダイオードが送出する。このとき第2のフィードバック回路は非アクティブ状態であり、これは第1の活性状態に相応する。
これに対し第2の活性化閾値をレーザ閾値よりも小さい値に低下させると、今度は小さい方となった第2の活性化閾値に向かって装置が定常化を開始する。この構成部分はこのときもはや出力信号を供給しない。その結果、第1のフィードバック回路は非アクティブ状態となる一方、第2のフィードバック回路が信号を搬送し、したがってアクティブ状態となる。したがって設定可能な活性化閾値を変更することにより、精確にレーザ閾値の値のところで第2のフィードバック回路の活性状態が変化する。このように本発明によれば、光カップリングとは電気的に独立している第2のフィードバック回路での測定介入操作を通して、間接的で再現可能に精確かつ信頼性の高いレーザ閾値決定を行うことができる。
光カップリングによっても一般にはごく小さい電気信号しか発せられず、したがって測定のための介入操作に対し敏感に反応してしまうことが多い。それゆえこのような用途において上述の間接的な測定を行うことで、信頼性が高く再現可能に精確なレーザ閾値決定が可能となる。
この場合、第2のフィードバック回路に閾値フィルタを設け、設定可能な閾値を超えた信号だけをこのフィルタが通過させるように構成するのも有利である。
このような構成は、設定可能な活性化閾値のための簡単な回路技術的実現を成すものである。
さらに別の有利なドライバ回路の特徴によれば、制御可能な電流源が上述の閾値フィルタとして設けられ、この電流源は設定可能な活性化閾値に対応する電流強度まで電流を取り込むかまたは送出する。
この構成は、閾値フィルタのきわめて簡単かつ連続的な形態を成すものである。電流源をたとえば負の電流の電流源としても実現できつまり電流シンクとして実現することができ、この電流源は第2のフィードバック回路に接続されていて、小さい電流を取り込み、その最大電流を超える電流だけをフィードバック回路に流すようにする。
ドライバ回路に差動増幅器を設けるのも有利であり、この差動増幅器はドライバ信号を供給する出力側と、基準信号発生器から信号供給される基準信号入力側と、第1のフィードバック回路とも第2のフィードバック回路とも接続されているフィードバック信号入力側を備えている。
この構成は、両方のフィードバック回路間に競合を生じさせる簡単な回路技術的実現を成すものである。
第2のフィードバック回路に出力結合回路を設けるのがさらに有利であり、この出力結合回路は第2のフィードバック回路からフィードバック信号を出力結合させ、部分回路へ供給する。
第2のフィードバック回路におけるフィードバック信号の転送と並行して行われるこのような出力結合によって、第1の活性化閾値の決定を補償モード中に連続的に、しかも差動増幅器と第2のフィードバック回路から成るループの妨害作用を伴わずに行うことができる。
さらに有利であるのは、出力結合回路にカレントミラー回路を設けることであり、その際、このカレントミラー回路によって、差動増幅器から第2のフィードバック回路へ供給される電流が、フィードバック信号入力側へ導かれる電流分岐においても部分回路の測定分岐においてもマッピングされ、ないしは形成される。
カレントミラーにより出力結合を行うことの利点は、使用される素子の個数や選定によって、カレントミラーのそれぞれ異なる分岐を流れる電流間で任意の伝達比を生じさせることができる点にある。したがってたとえば、信号フィードバックの減衰を行わせることもできるし、あるいは要求に応じて十分な大きさの電流を測定分岐中に生じさせることもできる。
さらに有利であるのは、部分回路に検出器を設けることであり、その際、この検出器は出力結合されたフィードバック信号の信号強度を捕捉して制御装置へ転送する。
このような構成は、第1の活性化閾値の間接的な捕捉に関する簡単な回路技術的実現を成すものである。
さらに別の実施形態によれば、検出器は信号強度を周期的に走査する。
このような周期的走査によって、測定分岐中の電流との最小の相互作用で離散的な測定値のシーケンスが形成される。
さらに有利であるのは、検出器をタイミング制御型ないしはクロック制御型の比較器として構成することであり、その理由はこのような比較器の感度は著しく高いからである。これによって、測定のための操作介入と第2のフィードバック回路との相互作用を最低限に抑えることができる。
さらに別の実施形態の特徴によれば、補償信号源が設けられており、また、上述の部分回路は第1の活性化閾値の量を記憶後、この量を用いて補償信号を形成して記憶し、この補償信号により第1の活性化閾値を規定された残留オフセットまで補償し、さらに部分回路は基準信号発生器から供給された基準信号に加えて、記憶された補償信号を基準信号入力側へ、あるいはフィードバック信号入力側へ供給する。上述の残留オフセットをたとえば第3の閾値によって生じさせることができ、この第3の閾値は第2のフィードバック回路の活性をチェックする際に有効となる。このチェックについてはあとで詳しく説明する。
この構成によれば補償信号はいわば、第1の活性化閾値に相応するドライバ信号成分を供給する役割を担うことになる。第1の活性化閾値はいわば、オフセットの伴う増幅器を備えた装置構成におけるレーザダイオードのレーザ閾値を成すものである。この場合、基準信号発生器は、構成素子の出力信号における変化を制御するドライバ信号成分だけを供給すればよい。その結果、出力信号の変化に対する制御が改善されるようになる。
以下の説明ならびに添付の図面からも、さらに別の利点を読み取ることができる。
なお、これまで述べてきた特徴ならびにあとでさらに説明すべき特徴は、それぞれ記載した組み合わせとして適用できるだけでなく、本発明の範囲を逸脱することなくさらに別の組み合わせとして、あるいは単独で適用できるのは自明である。
次に、図面を参照しながら本発明の実施例について詳しく説明する。
図1は、レーザダイオード12を駆動する公知のドライバ回路10を示す図である。ドライバ回路10には、基準信号入力側16とフィードバック信号入力側18と出力側20を備えた差動増幅器14、基準信号発生器22、制御装置24ならびにホトダイオード26が設けられている。基準信号入力側16へは基準信号発生器22から信号供給され、この基準信号発生器22は制御装置24により制御される。フィードバック入力側18にはホトダイオード26が接続されており、これはドライバ回路10とレーザダイオード12の動作中、レーザダイオード12から放射された光パワーの一部分を光カップリング28を介して受光し、光電流に変換する。この光電流はフィードバック信号Ifbとして用いられる。差動増幅器14はレーザダイオード12のためのドライバ信号として電流Iを供給し、この電流は差動増幅器14の利得Gおよび基準信号入力側16の信号とフィードバック信号入力側18の信号との差に依存する。このようにして、レーザダイオード12から放射された光出力信号のパワーと信号波形が基準信号発生器22ならびに制御装置24によって決定され、レーザダイオード12とホトダイオード26との間の光カップリング28を介してつながった第1のフィードバック回路において、それらが閉ループ制御される。
図2aにはレーザダイオード12の実際の特性曲線2が示されている。この場合、駆動を行う入力信号Iを示す軸上にレーザダイオード12の光パワーPが書き込まれている。特性曲線2は、小さいドライバ電流と光パワーである非線形の下方区間4を有している。さらに特性曲線2は、それよりも大きいドライバ電流と光パワーである上方区間6を有しており、この区間では光パワーPはドライバ電流に少なくともほぼ線形に依存している。線形の上方区間6はレーザ発光領域lasing regionであり、非線形の下方区間4は光放射領域light emitting regionまたは自然発光領域spontaneous emission regionである。両方の区間4,6は、レーザ閾値LSとも呼ばれるドライバ電流Iの値によって分けられる。レーザダイオード12を制御するために、このレーザ閾値LSに関する情報が役立つ。
図2bには、レーザダイオード12の理想化された特性曲線2が示されている。この場合も、駆動を行う入力信号Iを示す軸上にレーザダイオード12の光パワーPが書き込まれている。理想化された特性曲線30の場合、図2aの特性曲線2における区間4つまり自然発光領域は、ここでは値ゼロをもつI軸と平行な直線として描かれている。理想化されているが通常ではないこの図によれば、ドライバ信号Iがレーザ閾値LSを超えたときにはじめて光パワーが発生する。この経過特性は上述のごく一般的な慣用の特性曲線に相応し、これによれば光パワーはレーザ閾値よりも上の特性曲線区間から出力信号とみなされる。図3についてはあとで説明する。
図4にはドライバ回路の実施例のブロック回路図が示されており、このドライバ回路によってレーザ閾値LSが決定される。なお、これらのブロック回路図によって、装置的な観点も方法的な観点も表される。詳細には、図4aにはドライバ回路36aが示されており、これによりレーザダイオード12のレーザ閾値LSが決定される。ドライバ回路36aは図1による公知のドライバ回路10をベースとしており、したがってこれにはたとえばレーザダイオード12、基準信号入力側16とフィードバック信号入力側18と出力側20とを有する差動増幅器14、基準信号発生器22、制御装置24ならびにホトダイオード26が設けられており、このホトダイオード26は差動増幅器14のフィードバック信号入力側18と接続されている。なお、各図中の同じ参照符号はそれぞれ同じ構成素子を表している。ドライバ回路36aはドライバ信号I,I′を発生し、レーザダイオード12はこれらのドライバ信号I,I′に依存する出力信号を発生し、この出力信号は光カップリング28を介してホトダイオード26に作用を及ぼす。ドライバ回路36aはさらに第1のフィードバック回路37と第2のフィードバック回路39を有しており、この場合、第1のフィードバック回路37はレーザダイオード12の出力信号の一部分を光カップリング28を介して供給するように構成されている。
これに対し第2のフィードバック回路39は、ドライバ回路36aとレーザダイオード12との間に設けられていてドライバ信号I,I′を搬送する接続線への電気端子41を介して、電気信号を供給するように構成されている。図4aの実施形態によれば、電気端子41は差動増幅器14の出力側20とレーザダイオード12との間に設けられている。さらに第2のフィードバック回路39の構成によれば、電気信号が設定可能な活性化閾値SW2と比較され、設定可能な閾値SW2を超えている電気信号の成分のみがドライバ回路へ転送される。このため第2のフィードバック回路は前述の成分が発生したときのみ活性化され、つまり動作状態ないしはアクティブ状態となり、この場合、第2のフィードバック回路における活性状態が変わるよう設定可能な活性化閾値SW2が変更され、第2のフィードバック回路39の活性状態が変化したときの設定可能な活性化閾値SW2に依存して、レーザダイオード12のレーザ閾値LSが決定される。設定可能な活性化閾値SW2は閾値フィルタ44により供給され、閾値結合装置46において端子41からの電気信号と結合される。この場合、設定可能な活性化閾値SW2は探索モード中、第1のフィードバック回路37で有効なレーザ閾値LSよりもたとえば最初は小さい。ただし構成によっては、レーザ閾値よりも大きい第2の活性化閾値SW2から始めることもできる。この場合、第2の活性化閾値は、第2のフィードバック回路39の活性が変化するまで連続的に低減される。
第2のフィードバック回路39に入力結合された信号f(I)は閾値結合装置46により、閾値フィルタ44における最初は比較的小さい設定可能な活性化閾値SW2と結合される。この場合、結合をたとえば、閾値フィルタ44が電流を閾値結合装置46の所定の最大値になるまで動かすことができるように行うことができ、したがってこれによれば閾値結合装置46は、閾値フィルタ44により設定された最大値を信号f(I)が超えたときのみ信号成分を転送することになる。
したがってレーザ閾値LSを求めるために、電気信号f(I)が設定可能な活性化閾値SW2と比較され、設定可能な活性化閾値SW2を超えた電気信号f(I)の成分のみがドライバ回路36aのその他の部分へ転送される。このため第2のフィードバック回路39は、このような成分が発生したときのみ活性化状態つまりアクティブな状態にある。さらに設定可能な活性化閾値SW2は、第2のフィードバック回路39の活性状態が変化するよう変えられる。このことは図4aによれば、制御装置24と閾値フィルタ44との間の破線で表されている。第2のフィードバック回路39の活性はブロック52により監視され、このブロックはたとえばまえもって定められた最小信号強度のフィードバック信号の存在をチェックする。ついでレーザダイオード12のレーザ閾値LSが、第2のフィードバック回路39における活性状態が変化したときに設定可能な活性化閾値SW2の値に依存して決定される。この場合、第2の活性化閾値SW2の値がレーザ閾値LSの値を通過したときに、活性状態が正確に変化する。
図4bによるドライバ回路36bも図1による公知のドライバ回路10をベースとしており、したがってこれにはたとえばレーザダイオード12、基準信号入力側16とフィードバック信号入力側18と出力側20とを有する差動増幅器14、基準信号発生器22、制御装置24ならびにホトダイオード26が設けられており、このホトダイオード26は差動増幅器14のフィードバック信号入力側18と接続されている。また、光カップリング28によって第1のフィードバック回路37が接続されている。
これらの素子に加えてドライバ回路36bにはさらに出力段38ならびに第2のフィードバック回路39が設けられており、この第2のフィードバック回路39は、差動増幅器出力側20とレーザダイオード12との間の端子41、出力結合装置40、オプションとしてスイッチ42、閾値フィルタ44、閾値結合装置46、減衰装置48ならびに出力結合回路50を有している。さらにドライバ回路36bには、検出器52ならびにオプションとして補償電流源54も設けられており、これは結合装置56および/または結合装置58を有している。この場合、出力段38の役割は、レーザダイオード12のドライバ信号I′に対する差動増幅器14の出力信号をさらに増幅する役割を果たすだけである。また、出力結合装置40は信号f(I)を出力結合させるために用いられ、この信号は探索モード中、第2のフィードバック回路39を介して部分的に差動増幅器14のフィードバック信号入力側18へ供給される。
閾値フィルタ44は、第2のフィードバック回路を介して閉ループ制御のための設定可能な活性化閾値SW2を設定する。設定可能な活性化閾値SW2は探索モード中、この場合も第1のフィードバック回路において有効なレーザ閾値LSよりも最初は小さいかまたは最初は大きい。出力結合装置40を介して第2のフィードバック回路39に入力結合された差動増幅器14の信号Iまたはf(I)は閾値結合装置46により、閾値フィルタ44における最初は比較的小さい設定可能な活性化閾値SW2と結合される。この場合も結合を、閾値フィルタ44が電流を閾値結合装置46の所定の最大値になるまで動かすことができるように行うことができ、したがってこれによれば閾値結合装置46は、閾値フィルタ44により設定された最大値を出力結合された信号f(I)が超えたときのみ信号成分を減衰装置48へ転送することになる。
第2の活性化閾値SW2を超えた差動増幅器14の信号f(I)もしくは出力信号Iは減衰装置48により、安定した第2のフィードバック回路39が保証される程度に減衰され、ないしは抑えられる。減衰された信号は第2のフィードバック回路のフィードバック信号Ifb_2として、出力結合回路50を介して差動増幅器14のフィードバック信号入力側18へ供給される。オプションとして設けられている素子42,54,56,58によって、やはりドライバ回路36aとの共働によって実現可能であり以下で詳しく説明する形態が実現される。増幅器14の負のオフセットが生じたときもドライバ信号を発生させる目的で、増幅器14が相応に制御される。つまり増幅器は、最大可能な負のオフセットが生じたときも正のドライバ電流が生じるよう制御される。
図4aと図4bの形態について言えるのは、ドライバ信号を基本的に第1のフィードバック回路37を介して、または第2のフィードバック回路39を介して、それぞれ減衰ないしは抑えられたかたちでフィードバック信号入力側18へフィードバックできることである。したがって両方のフィードバック回路は互いに競合し合う。この場合、それぞれ有効である活性化閾値が小さい方のフィードバック回路が競合に勝つ。すなわち定性的に考察すると、小さい方の活性化閾値をもつフィードバック回路によりドライバ信号の小さい方の成分が減算され、したがって比較的大きいフィードバック信号がフィードバック信号入力側18へ供給される。相応に、大きい方のフィードバック信号については、差動増幅器14における小さい方の入力信号差分が生じ、したがってドライバ信号も小さい方が生じる。この場合、小さい方のドライバ信号は大きい方の閾値(活性化閾値SW2またはレーザ閾値LS)に打ち勝つにはもはや十分ではなく、その結果、有効な閾値が大きい方のフィードバック回路が不活性状態になり、つまり動作しない状態ないしは非アクティブ状態になる。
たとえば、第2のフィードバック回路39で有効な第2の活性化閾値SW2が第1のフィードバック回路37で有効なレーザ閾値LSよりも最初は小さい探索モードをスタートさせる場合、第2のフィードバック回路39が活性状態すなわち動作状態となり、レーザダイオード12は上述のやり方に沿って出力信号を発生しない。その結果として、レーザダイオード12とホトダイオード26との間の関連する光カップリング28も存在せず、したがって通常動作中はこの光カップリング28を介して接続される第1のフィードバック回路37も実質的に不活性状態すなわち非動作状態ないしは非アクティブ状態である。
設定可能な閾値SW2を徐々に高める場合、上昇する信号成分が第2のフィードバック回路39の閾値結合装置46において減算され、それによりフィードバック信号入力側18のところで有効なフィードバック信号が低減する。これに応じて差動増幅器14の差分入力信号が大きくなり、ひいてはドライバ信号Iも大きくなる。設定可能な活性化閾値SW2が第1の活性化閾値SW1よりも大きくなると、レーザダイオード12は出力信号を送出し、これによって第1のフィードバック回路37が活性化されてアクティブになり、第2のフィードバック回路39が不活性状態になり非アクティブになる。つまり第2のフィードバック回路39における活性状態「アクティブおよび非アクティブ」との間の移行によって、第1の活性化閾値SW1の通過が表されることになる。換言すれば、レーザ閾値LSまたはもっと一般的には、レーザダイオード12の光パワーの関連する放射を出力信号としてトリガするために超えなければならない活性化閾値SW1は、第2のフィードバック回路39における閾値SW2の値として間接的に決定され、この場合、第2のフィードバック回路39は不活性状態となり、つまり非アクティブになる。
したがって、光カップリングを有していない第2のフィードバック回路39において行われる測定によるアクティブな第2のフィードバック回路39と非アクティブな第2のフィードバック回路39との測定技術的な判別によって、レーザ閾値LSの間接的な決定を行うことができる。この目的で出力結合回路50は第2のフィードバック回路39から信号を出力結合し、その際に信号f(I)がフィードバック信号Ifb_2として形成されて反映される。この形成ないしは反映をたとえば、信号Ifb_2が検出器52へもフィードバック信号入力側18へも供給されるよう、同一のものとすることができる。
検出器52は供給されたフィードバック信号Ifb_2をまえもって設定されている第3の閾値SW3と比較し、フィードバック信号Ifb_2が第3の閾値を上回ったときまたは下回ったとき、対応する信号を制御装置24へ供給する。ブロック24とブロック52との間の破線の接続を介して制御装置24は検出器52をたとえば、検出器52が制御装置24により設定されているタイミングでその入力信号をサンプリングして第3の閾値と比較するよう制御する。したがって検出器52と制御装置24とによって、第2のフィードバック回路39の活性状態を監視する部分回路が形成される。供給された信号が閾値SW3を超えていることに対して検出器52が応動している間、第2のフィードバック回路39はアクティブである。これに対し供給された信号が閾値SW3を下回っていることは、第2のフィードバック回路39が非アクティブであることを表す。この場合、第2のフィードバック回路39における2つの活性状態のこのような変化を生じさせる設定可能な活性化閾値SW2の値が、レーザ閾値LSの値に対応することになる。
このように本発明は方法の観点からみると、以下のステップによって実現できる:第1のフィードバック回路37とフィードバック信号の作用について競合する第2のフィードバック回路39に対しドライバ信号I,I′に依存する信号f(I)を供給するステップ、この場合、第2のフィードバック回路39において設定可能な活性化閾値SW2が有効である。第2のフィードバック回路39の活性状態を捕捉するステップ。設定可能な活性化閾値SW2を変化させて第2のフィードバック回路39の活性状態を変えるステップ。第2のフィードバック回路39の活性状態が変化したときの設定可能な活性化閾値SW2の値としてレーザ閾値LSを決定するステップ。
図5には、図4の様々なブロックにより実現可能な回路技術的な実装の一例として挙げた回路図が示されている。この場合、出力結合をトランジスタ60によって実現することができる。トランジスタ60はエミッタ抵抗62を介して給電電位64と接続されており、差動増幅器14の出力信号によって制御され、さらにトランジスタ60のコレクタは閾値結合装置46と接続されている。図5によるドライバ回路36において、差動増幅器の出力信号を電圧または電流とすることができる。出力段38もトランジスタ66によって実現することができる。トランジスタ66はエミッタ抵抗68を介して給電電位64と接続され、このトランジスタも同様に差動増幅器14の出力信号Iにより制御され、そのコレクタ電流がレーザダイオード12のドライバ信号I′として用いられる。また、閾値フィルタ44をディジタル/アナログ変換器として実現することができ、これによって電流源70の基準電流I_dacが制御装置24から送出されたデータ語に従い重み付けられ、このことは結合装置72によって表される。重み付けは、可変の強さであるが設定された最大強度をもつ閾値結合装置46の電流が閾値フィルタ44によって減算されるようにして行われる。
3つの分岐76,78,80を有するカレントミラー回路74は、第1の分岐76において閾値結合装置46からトランジスタ82と抵抗84を介してアース電位86へ流れる電流をフィードバック電流Ifb_2として、やはりそれぞれトランジスタ88,90とエミッタ抵抗92,94をそれぞれ有する他の2つの分岐78,80にミラーリングする。第2の分岐78におけるトランジスタ88のコレクタは差動増幅器14のフィードバック信号入力側18と接続されており、つまりはこれによって第2のフィードバック回路39が形成される。
図4にブロック48として示した減衰装置は、図5の形態によれば分岐76,78における電流の変換比によって実現される。第3の分岐80にミラーリングされる電流は第2のフィードバック回路から出力結合される電流を成しており、したがって第3の分岐80はカレントミラー回路74の他の2つの分岐76,78とともに図4の出力結合回路50の機能を果たすことになる。この場合、トランジスタ82,88,90と抵抗84,92,94を、測定分岐として用いられる第3の分岐80にフィードバック分岐として用いられる第2の分岐78とは異なる電流が供給されるよう選定することができる。測定分岐80中の電流をいっそう高くすることで、たとえば測定抵抗96における電圧降下を大きくすることができ、これによって測定感度が上昇する。図4による検出器52はたとえば、比較器98により測定抵抗96との共働によって実現される。比較器98を「ラッチ付き比較器 Latched Comparator」または「クロック制御型比較器」として構成することができる。この種のクロック制御型比較器は差動入力側100,102に加えてクロック入力側104も有しており、これは制御装置24と接続されている。供給されたクロック信号によって比較器98内部の正のフィードバックがアクティブ状態になり、比較器98はこれを自身の出力側106における状態から検出する。これはその後、すなわちクロック信号の次のパルスが生じるまで、入力信号に依存する。正のフィードバックにより比較器98の増幅は切り換え時点において著しく大きくなるので、差動入力側100と102との間の最小の変化で出力側106においてすでに明確な信号が生じることになる。この場合、第3の閾値SW3を回路設計にあたり様々なやり方で実現することができる。たとえば考慮の対象となるのは、適切に選定された比較器98のオフセットまたは付加的な電流シンクであって、これはトランジスタ80のコレクタのところで第3の閾値SW3に対応する電流を取り出す。
次に図4bを再び参照しながら、前述のようにして求められた第1の活性化閾値を1つの実施形態としてドライバ回路の動作中にどのように補償するのかについて説明する。
これまで述べてきたように、レーザダイオード12のレーザ閾値LSはドライバ電流強度の最小値として決定され、そのときレーザダイオード12は出力信号を上述のやり方に即して放出する。ドライバ電流強度は最終的には差動増幅器14によって生成されるが、これ自体はその入出力特性において公差を有する可能性がある。
別の実施形態を理解するためにここで述べておくと、差動増幅器の特性曲線はレーザダイオードの特性曲線と同様の形状を有しており、この場合、オフセット電流の影響によって、素子12と差動増幅器14とから成る装置構成であれば、レーザダイオード12の特性曲線30が左側へずらされる可能性もあるし、右側へずらされる可能性もある。したがってレーザダイオード12と差動増幅器14から成る装置構成の動作時、レーザダイオードの公差と差動増幅器のオフセット作用とに依存する活性化閾値f(SW1)がレーザダイオードの出力信号に関して発生することになる。
図3には、このような依存性が生じている典型的な(理想的な)特性曲線が示されている。ここではレーザダイオード12の出力信号Pが基準信号Irefを示す軸上に書き込まれており、この場合、特性曲線はループが開かれた状態で、つまりフィードバック信号入力側18における信号が一定の状態で記録されたものである。光パワーPがドライバ電流Iつまり差動増幅器出力側における値を示す軸上に書き込まれている図2とは異なり、図3における光パワーPは差動増幅器入力側における値Irefを示す軸上に書き込まれている。このような描き方をした場合、レーザ閾値LSあるいはもっと一般的には第1の活性化閾値SW1は、出力側でこの第1の活性化閾値SW1に対応するドライバ電流を供給する目的で差動増幅器を入力側で制御すべき値f(SW1)にマッピングされる。
詳しくは図3には、2つの(理想化された)特性曲線32および34が示されており、この場合、参照符号32は最適な特性曲線を表す。最適な特性曲線32が格別な点は、基準信号Irefにおいてゼロとは異なる小さい変化が生じると、出力信号Pにおいてゼロとは異なる変化が生じることである。
ただし差動増幅器とレーザダイオードの公差ゆえに通常、特性曲線がずれることになる。破線で描かれている特性曲線34は最適な特性曲線32から右側にずれて現れ、このことは結果として負のオフセット総量に対応する。この場合、最適な特性曲線32をIrefの関数とみなせば、特性曲線は引数(Iref−Ioff)をもつ同じ関数として形成することができ、ここでloffは結果として生じるオフセット総量に相応する。
このオフセット総量を補償するために、結合装置56および/または58を備えた既述の補償電流源54が用いられる。第1の活性化閾値SW1=SW2が決定された後、第1のフィードバック回路を補償に対し非アクティブにする目的で、閾値フィルタ44はいっそう僅かな値になるよう調整される。これにより差動増幅器14のために補償モード中、通常動作においてレーザダイオードの出力パワーの制御により生じ活性化閾値SW1により決定される動作条件に十分に対応する動作条件を形成する。望ましい結果として、有限のループゲインで生じる可能性のある補償調整時にエラーが最小化される。活性化閾値SW1について把握していないと、補償調整の際に有効である第2の閾値SW2を著しく小さい値に設定しなければならず、その目的は、レーザダイオードも許容インターバルの下限領域にあるレーザ閾値(上述の例であればインターバルの下限、10mA、50ma)ではまだ活性化されないようにするためである。第2のフィードバック回路の活性が変化したときに閾値SW1とSW2が上述のように同一に扱われるのは、電流源38と50における電流が等しいという特別なケースについて成り立つ。ただし有利であるのはこれらの電流源38,40を、電流源40の電流が電流源38の電流よりも小さくなるよう選定することである。たとえば、電流源38における電流が電流源40の電流のx倍に相応するならば、これに応じて第2のフィードバック回路の活性は、式SW1=x * SW2を満たす値SW2のときに変化する。したがって一般に、活性化閾値を求めるためにこの関係が利用される。
これに加えて、スイッチ42が閉じられ、基準信号発生器22が制御装置24により非アクティブ状態にされ、その結果、基準信号発生器22はもはや差動増幅器14の基準信号入力側16へいかなる信号も供給しなくなる。図5の場合であると、異なるトポロジーゆえにスイッチ42は開かれる。
このような装置が適合調整前に右側にずれている図3の特性曲線34を有しているならば、基準信号Irefが遮断されていると、第2のフィードバック回路を介して減衰された信号Ifb_2として差動増幅器14のフィードバック信号入力側18へフィードバックされる可能性のある出力信号は発生しない。その理由は、第2のフィードバック回路において有効な第2の活性化閾値SW2は第1の活性化閾値SW1(あるいはそれと若干異なる値)にまえもって調整されているからである。出力結合回路50は第2のフィードバック回路39から信号を出力結合し、その際にフィードバック信号Ifb_2が形成されて反映される。たとえばこの形成ないしは反映を、信号Ifb_2が検出器52へ供給されるよう同じものとすることができる。上述のケースでは、この信号は最初はゼロと等しいか、もしくは閾値SW3よりも小さい。
検出器52は供給されたフィードバック信号Ifb_2をまえもって設定されている第3の閾値SW3と比較し、フィードバック信号Ifb_2が第3の閾値を上回ったときまたは下回ったとき、対応する信号を制御装置24へ供給する。ブロック24とブロック52との間の破線の接続を介して制御装置24は検出器52をたとえば、検出器52が制御装置24により設定されているタイミングでその入力信号をサンプリングして第3の閾値と比較するよう制御する。第3の閾値SW3をたとえば、図3において値f(SW3)に相応するよう選定することができる。この場合、図3中の値f(SW3)は見やすくするためP軸上で比較的高いところに書き込まれているが、本発明の実施にあたっては座標原点にもっと近づけられる。
図3の特性曲線34のケースに該当するように、最初に信号が第3の閾値SW3を下回ったならば、制御装置24は補償電流源54を介して補償電流の段階的な変化をトリガし、この補償電流は結合装置56を介して差動増幅器14の基準信号入力側16へ、および/または結合装置58を介してフィードバック信号入力側18へ供給され、これによりそこにおいて有効なオフセット電流ならびにレーザダイオード12のレーザ閾値LSを補償することができる。基準信号入力側16における正(負)の補償電流の作用を実現するためには、フィードバック信号入力側18に対する信号供給を負(正)の極性符号で行わなければならない。すでに述べたように、特性曲線34は負のオフセット総量に対応しているので、制御装置24はこのケースでは、補償電流が基準信号入力側16を介して供給されるとき、補償電流源54の正の補償電流を設定する。第2のフィードバック回路を介して、これはフィードバック信号Ifb_2の変化として現れる。
図3の特性曲線34のケースでは、結合装置56への正の補償電流の供給によって特性曲線34が左側へシフトする。これにより特性曲線34とP軸との交点が下がる。補償電流源54と接続された制御装置24による正の補償電流を繰り返し高めると、特性曲線34は値f(SW3)になるまで特性曲線34が連続的に左側へさらにずれる。この値への到達は検出器52により検出され、制御装置24によって記録される。制御装置24は補償電流源54に対し、直前に使用した補償電流値を保持し、以降の動作モードでアクティブ状態にされた第1のフィードバック回路ともに使用するよう命令を出す。さらに制御装置24は以降の動作モードにおいて図3のスイッチ42を開き、これによって第2のフィードバック回路が通常モードでは非アクティブ状態になる。第2のフィードバック回路の同じ作用は、図5の実施形態の場合にはスイッチ42の閉成によって達成される。
第1のフィードバック回路が設けられたドライバ回路の装置構成を示す図 レーザダイオードの実際の特性曲線と理想化された特性曲線とを示す図 レーザダイオードと差動増幅器とからなる装置構成の特性曲線を示す図 本発明によるドライバ回路に関する1つの実施例を示すブロック図 本発明によるドライバ回路に関する1つの実施例を示すブロック図 本発明によるドライバ回路の実施例の回路技術的な実装について示す図
符号の説明
10 ドライバ回路
12 レーザダイオード
14 差動増幅器
16 基準信号入力側
18 フィードバック信号入力側
20 差動増幅器出力側
22 基準信号発生器
24 制御装置
26 ホトダイオード
36a ドライバ回路
37 第1のフィードバック回路
38 出力段
39 第2のフィードバック回路
40 出力結合装置
44 閾値フィルタ
46 閾値結合装置
48 減衰装置
50 出力結合回路
52 検出器
54 補償電流源
56,58 結合装置

Claims (11)

  1. 第1のフィードバック回路(37)における第1の信号と第2のフィードバック回路(39)における第2の信号とに依存してドライバ回路(36a)により駆動されるレーザダイオード(12)のレーザ閾値(SW1)を決定する方法において、
    前記第1のフィードバック回路(37)へ、光カップリング(28)を介してレーザダイオード(12)の光出力信号が供給され、
    前記第2のフィードバック回路(39)へ、前記のドライバ回路(36a)とレーザダイオード(12)から取り出された電気信号(f(I))が供給され、
    該電気信号f(I))は設定可能な活性化閾値(SW2)と比較され、該設定可能な活性化閾値(SW2)を超えた前記電気信号(f(I))の成分だけが前記ドライバ回路(36a)へ転送され、
    前記第2のフィードバック回路(39)により、前記成分が発生したときのみ前記設定可能な活性化閾値(SW2)が変更されて、前記第2のフィードバック回路(39)における活性状態が変化し、
    前記レーザダイオード(12)のレーザ閾値(SW1)は、前記第2のフィードバック回路(39)の活性状態が変化したときの前記設定可能な活性化閾値(SW2)の値に依存して決定されることを特徴とする、
    レーザダイオード(12)のレーザ閾値(SW1)を決定する方法。
  2. レーザダイオード(12)のレーザ閾値を決定するドライバ回路(36a)において、
    該ドライバ回路(36a)はドライバ信号(I,I′)を発生し、前記レーザダイオード(12)は該ドライバ信号(I,I′)に依存する出力信号を発生し、
    第1のフィードバック回路(37)と第2のフィードバック回路(39)が設けられており、
    前記第1のフィードバック回路(37)は、前記出力信号の一部分を光カップリング(28)を介して供給し、
    前記第2のフィードバック回路(39)は、前記ドライバ回路(36a)と前記レーザダイオード(12)との間で前記ドライバ信号(I,I′)を搬送する接続点への電気端子(41)を介して電気信号(f(I))を供給し、
    該第2のフィードバック回路(39)は、前記電気信号(f(I))を設定可能な活性化閾値(SW2)と比較し、
    該第2のフィードバック回路(39)は、前記設定可能な活性化閾値(SW2)を超えた電気信号(f(I))の成分のみを前記ドライバ回路(36a)へ転送し、該第2のフィードバック回路(39)は、前記成分が発生したときのみアクティブ状態となり、
    該第2のフィードバック回路(39)は、前記設定可能な活性化閾値(SW2)を変化させて該第2のフィードバック回路(39)の活性状態を変更し、
    該第2のフィードバック回路(39)は、該第2のフィードバック回路(39)の活性状態が変化したときの前記設定可能な活性化閾値(SW2)の値に依存して決定されることを特徴とする、
    レーザダイオード(12)のレーザ閾値を決定するドライバ回路。
  3. 請求項2記載のドライバ回路(36a)において、
    前記第2のフィードバック回路(39)は閾値フィルタ(44)を有しており、該閾値フィルタ(44)は、前記設定可能な活性化閾値(SW2)を超えた信号のみを通過させることを特徴とするドライバ回路。
  4. 請求項3記載のドライバ回路(36a)において、
    制御可能な電流源が前記閾値フィルタ(44)として設けられており、該電流源は、前記設定可能な活性化閾値(SW2)に対応する電流強度まで電流を取り込むかまたは送出することを特徴とするドライバ回路。
  5. 請求項2から4のいずれか1項記載のドライバ回路(36a)において、
    差動増幅器(14)が設けられており、該差動増幅器(14)は、ドライバ信号(I,I′)を供給する出力側(20)と、基準信号発生器(22)から信号供給される基準信号入力側(16)と、前記第1のフィードバック回路(37)とも前記第2のフィードバック回路(39)とも接続されているフィードバック信号入力側(18)を備えていることを特徴とするドライバ回路。
  6. 請求項5記載のドライバ回路(36a)において、
    前記第2のフィードバック回路(39)は出力結合回路(50)を有しており、該出力結合回路(50)は前記第2のフィードバック回路(39)からフィードバック信号を出力結合して、該第2のフィードバック回路(39)の活性状態を監視する部分回路(24,52)へ供給することを特徴とするドライバ回路。
  7. 請求項6記載のドライバ回路(36a)において、
    前記出力結合回路(50)はカレントミラー回路(74)を有しており、該カレントミラー回路は、前記差動増幅器(14)から前記第2のフィードバック回路(39)へ供給される電流を、前記フィードバック信号入力側(18)へ導かれる電流分岐(78)においても前記部分回路(24,52)の測定分岐(80)においても形成することを特徴とするドライバ回路。
  8. 請求項7記載のドライバ回路(36a)において、
    前記部分回路(24,52)は検出器(52)を有しており、該検出器は出力結合されたフィードバック信号の信号強度を捕捉して制御装置(24)へ転送することを特徴とするドライバ回路。
  9. 請求項8記載のドライバ回路(36a)において、
    前記検出器(52)は前記信号強度を周期的に走査することを特徴とするドライバ回路。
  10. 請求項8または9記載のドライバ回路(36a)において、
    前記検出器(52)はタイミング制御される比較器(98)として構成されていることを特徴とするドライバ回路。
  11. 請求項6から10のいずれか1項記載のドライバ回路(36a)において、
    前記部分回路(24,52)は付加的にオフセット補償信号源(54)を有しており、
    該部分回路(24,52,54)はレーザ閾値の量(SW1)の記憶後、該量(SW1)を用いて補償信号を形成して記憶し、該補償信号により第1の活性化閾値(SW1)が規定の残留オフセットまで補償され、
    前記補償信号源(54)は前記基準信号発生器(22)から供給された基準信号に加えて、記憶した補償信号を前記基準信号入力側(16)へ、またはフィードバック信号入力側(18)へ供給することを特徴とするドライバ回路。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10217675B2 (en) 2013-02-28 2019-02-26 A.B. Mikroelektronik Gesellschaft Mit Beschraenkter Haftung Placement method for circuit carrier and circuit carrier
JP2019509466A (ja) * 2015-12-24 2019-04-04 コミサリア ア レネルジ アトミク エ オウ エネルジ アルタナティヴ レンズレス画像処理によって試料を観測するための方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005022612A1 (de) * 2005-05-10 2006-11-16 Atmel Germany Gmbh Treiberschaltung für elektronische Bauteile
US8971364B2 (en) 2011-01-19 2015-03-03 Coherent, Inc. Driving circuit for analog-modulated diode-laser
CN103389450B (zh) * 2012-05-07 2015-11-04 中磊电子股份有限公司 光判断电路
CN103235173B (zh) * 2013-04-24 2016-02-24 成都优博创技术有限公司 一种激光器阈值电流的测试方法和驱动采样装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3113039A1 (de) * 1981-04-01 1982-10-21 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt "betriebsregelschaltung mit einem stromregler fuer strahlungsdioden"
DE3333248A1 (de) * 1983-09-14 1985-03-28 Siemens Ag Laserregelung fuer optische uebertragungssysteme
US5260955A (en) * 1991-12-20 1993-11-09 Eastman Kodak Company Automatically setting a threshold current for a laser diode
US5323408A (en) * 1992-07-21 1994-06-21 Alcatel N.V. Regulation of preconduction current of a laser diode using the third derivative of the output signal
US5579329A (en) * 1994-07-15 1996-11-26 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor laser apparatus, information recording/reproducing apparatus and image recording apparatus
JP3700296B2 (ja) * 1996-11-29 2005-09-28 富士ゼロックス株式会社 半導体レーザ駆動装置および画像記録装置
JP3739341B2 (ja) * 2002-06-21 2006-01-25 ユーディナデバイス株式会社 レーザ装置並びにその制御装置及び制御方法
JP4205916B2 (ja) * 2002-09-03 2009-01-07 パナソニック株式会社 消光比補償レーザ駆動回路及び光通信装置
GB2393034B (en) * 2002-09-12 2007-01-17 Ericsson Telefon Ab L M Laser driver control circuit
KR20060003108A (ko) * 2003-05-20 2006-01-09 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 방사 전력을 제어하기 위한 방법 및 방사선 발생원 구동장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10217675B2 (en) 2013-02-28 2019-02-26 A.B. Mikroelektronik Gesellschaft Mit Beschraenkter Haftung Placement method for circuit carrier and circuit carrier
US10672672B2 (en) 2013-02-28 2020-06-02 Ab Mikroelektronik Gesellschaft Mit Beschraenkter Haftung Placement method for circuit carrier and circuit carrier
US10991632B2 (en) 2013-02-28 2021-04-27 Ab Mikroelektronik Gesellschaft Mit Beschraenkter Haftung Assembly process for circuit carrier and circuit carrier
JP2019509466A (ja) * 2015-12-24 2019-04-04 コミサリア ア レネルジ アトミク エ オウ エネルジ アルタナティヴ レンズレス画像処理によって試料を観測するための方法

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