JP2914431B2 - 高速ａｐｃ回路 - Google Patents
高速ａｐｃ回路Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力するパルス信
号に従った駆動電流により発光素子を駆動する際、この
発光素子から出力される光強度を駆動電流を制御するこ
とによって所定値に高速に収束し保持する高速ＡＰＣ
（Automatic Power Control ）回路に関し、特に、光送
信装置を立ち上げる際、瞬時に所望の光強度で送信が開
始でき、かつ無発光の期間に環境温度が急激に変化した
場合も次の発光の際の光強度を補償できる半導体集積回
路化に適した高速ＡＰＣ回路に関する。
号に従った駆動電流により発光素子を駆動する際、この
発光素子から出力される光強度を駆動電流を制御するこ
とによって所定値に高速に収束し保持する高速ＡＰＣ
（Automatic Power Control ）回路に関し、特に、光送
信装置を立ち上げる際、瞬時に所望の光強度で送信が開
始でき、かつ無発光の期間に環境温度が急激に変化した
場合も次の発光の際の光強度を補償できる半導体集積回
路化に適した高速ＡＰＣ回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の高速ＡＰＣ回路では、図
７に示されるような、バースト信号に対応する高速動作
が可能な回路が知られている（例えば、「パッシブダブ
ルスター用ＬＤドライバーＩＣの開発」、1993年、電子
情報通信学会春季大会予稿集、B-984,P4-122）。
７に示されるような、バースト信号に対応する高速動作
が可能な回路が知られている（例えば、「パッシブダブ
ルスター用ＬＤドライバーＩＣの開発」、1993年、電子
情報通信学会春季大会予稿集、B-984,P4-122）。
【０００３】図示される高速ＡＰＣ回路は、Ｄ形フリッ
プフロップ回路（以後、Ｄ−ＦＦ）１、駆動部２、発光
素子のレーザーダイオード（以後、ＬＤ）３、受光素子
のフォトダイオード（以後、ＰＤ）４、電流電圧変換部
５、基準電圧発生部９１、ピーク検出部９２、および比
較部９３を備えている。
プフロップ回路（以後、Ｄ−ＦＦ）１、駆動部２、発光
素子のレーザーダイオード（以後、ＬＤ）３、受光素子
のフォトダイオード（以後、ＰＤ）４、電流電圧変換部
５、基準電圧発生部９１、ピーク検出部９２、および比
較部９３を備えている。
【０００４】Ｄ−ＦＦ１は、パルス状の送信データＤＡ
ＴＡおよびクロック信号ＣＬＫを入力し、入力データＤ
ＡＴＡのパルスデューティを補正して駆動部２へ出力す
る。駆動部２は、Ｄ−ＦＦ１のパルス出力を入力し、入
力パルスが“１”レベルの期間、ＬＤ３に駆動電流を供
給してＬＤ３を発光させると共に、比較部９３から入力
する制御電圧により、ＬＤ３の発光が弱い場合には大き
くする一方、ＬＤ３の発光が強い場合には小さくするよ
うに、駆動電流を制御する。
ＴＡおよびクロック信号ＣＬＫを入力し、入力データＤ
ＡＴＡのパルスデューティを補正して駆動部２へ出力す
る。駆動部２は、Ｄ−ＦＦ１のパルス出力を入力し、入
力パルスが“１”レベルの期間、ＬＤ３に駆動電流を供
給してＬＤ３を発光させると共に、比較部９３から入力
する制御電圧により、ＬＤ３の発光が弱い場合には大き
くする一方、ＬＤ３の発光が強い場合には小さくするよ
うに、駆動電流を制御する。
【０００５】ＰＤ４はＬＤ３から出力された光を強度に
応じた電流に変換し出力する。電流電圧変換部５はＰＤ
４から出力される電流を電圧に変換しピーク検出部９２
へ出力する。
応じた電流に変換し出力する。電流電圧変換部５はＰＤ
４から出力される電流を電圧に変換しピーク検出部９２
へ出力する。
【０００６】基準電圧発生部９１は入力データＤＡＴＡ
から基準電圧を生成し比較部９３へ出力する。ピーク検
出部９２は、電流電圧変換部５から電圧を入力し、図示
されるように、演算増幅器およびＭＯＳ（Metal Oxide
Semiconductor ）トランジスタを介して、入力した電圧
のピーク値を検出し比較部９３へ出力する。比較部９３
は基準電圧発生部９１から出力された基準電圧とピーク
検出部９２で検出されたピーク電圧値との差分を演算増
幅器を使用して算出し、この差分を、ＬＤ３の駆動電流
を制御する制御電圧として駆動部２へ供給している。
から基準電圧を生成し比較部９３へ出力する。ピーク検
出部９２は、電流電圧変換部５から電圧を入力し、図示
されるように、演算増幅器およびＭＯＳ（Metal Oxide
Semiconductor ）トランジスタを介して、入力した電圧
のピーク値を検出し比較部９３へ出力する。比較部９３
は基準電圧発生部９１から出力された基準電圧とピーク
検出部９２で検出されたピーク電圧値との差分を演算増
幅器を使用して算出し、この差分を、ＬＤ３の駆動電流
を制御する制御電圧として駆動部２へ供給している。
【０００７】この構成により、ＬＤ３から出力される光
が弱い場合、比較部９３から出力される差分が大きくな
って駆動部２によりＬＤ３の駆動電流を大きくする一
方、ＬＤ３から出力される光が強い場合、比較部９３か
ら出力される差分が小さくなって駆動部２によりＬＤ３
の駆動電流を小さくするように負帰還がかけられるの
で、ＬＤ３から出力される光の強度を一定に保つという
目的が達成できる。
が弱い場合、比較部９３から出力される差分が大きくな
って駆動部２によりＬＤ３の駆動電流を大きくする一
方、ＬＤ３から出力される光が強い場合、比較部９３か
ら出力される差分が小さくなって駆動部２によりＬＤ３
の駆動電流を小さくするように負帰還がかけられるの
で、ＬＤ３から出力される光の強度を一定に保つという
目的が達成できる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の高速Ａ
ＰＣ回路では、図示し説明したように、ピーク検出部お
よび比較部において基本構成要素として演算増幅器が用
いられるが、光の強度を所定の誤差の範囲内で一定に高
速に収束させるため、用いられる演算増幅器のスルーレ
ート、駆動能力等の性能を向上させる必要がある。この
性能の向上のためには、消費電流が大きくなることは避
けられないという問題点がある。
ＰＣ回路では、図示し説明したように、ピーク検出部お
よび比較部において基本構成要素として演算増幅器が用
いられるが、光の強度を所定の誤差の範囲内で一定に高
速に収束させるため、用いられる演算増幅器のスルーレ
ート、駆動能力等の性能を向上させる必要がある。この
性能の向上のためには、消費電流が大きくなることは避
けられないという問題点がある。
【０００９】また、上述した従来の高速ＡＰＣ回路で
は、光の出力パワーを高速で一定値に収束させた後、そ
の値をバースト信号の間、保持する必要があるため、ピ
ーク検出部に用いられる保持用容量は容量リークを考慮
した大きさが必要である。このため、バースト信号の間
隔が大きく、無発光の期間が長い程、大きな保持用容量
を必要とし、高速性を損なうという実用上の面で問題点
がある。
は、光の出力パワーを高速で一定値に収束させた後、そ
の値をバースト信号の間、保持する必要があるため、ピ
ーク検出部に用いられる保持用容量は容量リークを考慮
した大きさが必要である。このため、バースト信号の間
隔が大きく、無発光の期間が長い程、大きな保持用容量
を必要とし、高速性を損なうという実用上の面で問題点
がある。
【００１０】更に、バースト信号の間隙に急激な周囲温
度の変化が生じた場合には、次のバースト信号で発生す
る光出力パワーを補償することが困難であるという問題
点がある。
度の変化が生じた場合には、次のバースト信号で発生す
る光出力パワーを補償することが困難であるという問題
点がある。
【００１１】本発明の課題は、光送信装置を立ち上げる
際、瞬時に所望の光強度で送信が開始でき、かつ無発光
の期間に環境温度が急激に変化した場合も次の発光の際
の光強度を補償できると共に半導体集積回路化に適し、
かつ低消費電力化を図ることができる高速ＡＰＣ回路を
提供することである。
際、瞬時に所望の光強度で送信が開始でき、かつ無発光
の期間に環境温度が急激に変化した場合も次の発光の際
の光強度を補償できると共に半導体集積回路化に適し、
かつ低消費電力化を図ることができる高速ＡＰＣ回路を
提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明による高速ＡＰＣ
回路は、入力するパルス信号に従った駆動電流により発
光素子を駆動する際に、この発光素子から出力される光
強度を前記駆動電流を制御することによって所定値に高
速に収束し保持する高速ＡＰＣ回路において、入力する
パルス信号に従った駆動電流で前記発光素子を駆動する
と共に制御電圧を入力して前記駆動電流を制御する駆動
部と、前記発光素子から出力される光信号をモニターし
この光信号の強度に応じたレベルの電流信号を出力する
受光素子と、この受光素子により出力された電流信号の
レベルを検出し変換電圧として出力する電流電圧変換部
と、この変換電圧を所定の温度に対して設定された所定
基準電圧に収束させ帰還電圧として出力する比較手段
と、バイポーラトランジスタを備えこのバイポーラトラ
ンジスタが有するバンドギャップ電圧の温度特性から前
記発光素子の周囲温度に応じた補償電圧を出力する温度
補償電圧発生手段と、前記帰還電圧およびこの補償電圧
を入力して演算増幅し制御電圧として前記駆動部に供給
する制御電圧供給部とを備えている。
回路は、入力するパルス信号に従った駆動電流により発
光素子を駆動する際に、この発光素子から出力される光
強度を前記駆動電流を制御することによって所定値に高
速に収束し保持する高速ＡＰＣ回路において、入力する
パルス信号に従った駆動電流で前記発光素子を駆動する
と共に制御電圧を入力して前記駆動電流を制御する駆動
部と、前記発光素子から出力される光信号をモニターし
この光信号の強度に応じたレベルの電流信号を出力する
受光素子と、この受光素子により出力された電流信号の
レベルを検出し変換電圧として出力する電流電圧変換部
と、この変換電圧を所定の温度に対して設定された所定
基準電圧に収束させ帰還電圧として出力する比較手段
と、バイポーラトランジスタを備えこのバイポーラトラ
ンジスタが有するバンドギャップ電圧の温度特性から前
記発光素子の周囲温度に応じた補償電圧を出力する温度
補償電圧発生手段と、前記帰還電圧およびこの補償電圧
を入力して演算増幅し制御電圧として前記駆動部に供給
する制御電圧供給部とを備えている。
【００１３】また、前記温度補償電圧発生手段の一つの
具体的な回路は、バイポーラトランジスタを備えこのバ
イポーラトランジスタが有するバンドギャップ電圧の温
度特性から前記発光素子の周囲温度に応じた補償電流を
出力する温度補償電流発生部と、この補償電流を入力し
て補償電圧を出力する温度補償電圧発生部とを備えてい
る。
具体的な回路は、バイポーラトランジスタを備えこのバ
イポーラトランジスタが有するバンドギャップ電圧の温
度特性から前記発光素子の周囲温度に応じた補償電流を
出力する温度補償電流発生部と、この補償電流を入力し
て補償電圧を出力する温度補償電圧発生部とを備えてい
る。
【００１４】本構成によれば、比較手段から出力される
帰還電圧が制御電圧供給部、駆動部、発光素子、受光素
子、および電流電圧変換部を介して比較手段に帰還され
るＡＰＣ帰還制御回路が構成されており、更に、ＡＰＣ
帰還制御の際、温度補償電圧発生手段が発光素子の周囲
温度に応じた温度補償をすることにより、周囲温度に応
じた初期値から制御が開始される。このように、発光素
子を駆動する駆動電流の制御は、発光素子の周囲温度の
変化に瞬時に対応し、従って、光強度を所定の誤差の範
囲で所望値に高速に収束させている。
帰還電圧が制御電圧供給部、駆動部、発光素子、受光素
子、および電流電圧変換部を介して比較手段に帰還され
るＡＰＣ帰還制御回路が構成されており、更に、ＡＰＣ
帰還制御の際、温度補償電圧発生手段が発光素子の周囲
温度に応じた温度補償をすることにより、周囲温度に応
じた初期値から制御が開始される。このように、発光素
子を駆動する駆動電流の制御は、発光素子の周囲温度の
変化に瞬時に対応し、従って、光強度を所定の誤差の範
囲で所望値に高速に収束させている。
【００１５】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【００１６】図１は本発明の実施の一形態を示す機能ブ
ロック図である。図１に示された高速ＡＰＣ回路では、
従来同様のＤ−ＦＦ１、駆動部２、ＬＤ３、ＰＤ４、お
よび電流電圧変換部５に加えて、Ｓ／Ｈ（Sample & Hol
d ）回路部６、比較部７、温度補償電流発生部８、温度
補償電圧発生部９、および制御電圧供給部１０が設けら
れている。
ロック図である。図１に示された高速ＡＰＣ回路では、
従来同様のＤ−ＦＦ１、駆動部２、ＬＤ３、ＰＤ４、お
よび電流電圧変換部５に加えて、Ｓ／Ｈ（Sample & Hol
d ）回路部６、比較部７、温度補償電流発生部８、温度
補償電圧発生部９、および制御電圧供給部１０が設けら
れている。
【００１７】従来と大きく相違する点は、発光素子であ
るＬＤ３の周囲温度をモニターし温度変化に応じて変化
する補償電流Ｊを出力する温度補償電流発生部８を備
え、この補償電流Ｊにより送信開始の際にＬＤ３が出力
する光強度の初期値を設定していることである。
るＬＤ３の周囲温度をモニターし温度変化に応じて変化
する補償電流Ｊを出力する温度補償電流発生部８を備
え、この補償電流Ｊにより送信開始の際にＬＤ３が出力
する光強度の初期値を設定していることである。
【００１８】Ｄ−ＦＦ１は、パルス状のデータＤＡＴＡ
およびクロック信号ＣＬＫを入力し、入力されたデータ
ＤＡＴＡのパルスデューティを補正してデータ出力Ａを
駆動部２へ送出するＤ形フリップフロップ回路であるも
のとする。
およびクロック信号ＣＬＫを入力し、入力されたデータ
ＤＡＴＡのパルスデューティを補正してデータ出力Ａを
駆動部２へ送出するＤ形フリップフロップ回路であるも
のとする。
【００１９】駆動部２は、図２に示されるように、ＭＯ
Ｓトランジスタにより主に構成される発光素子駆動回路
であり、一方で、Ｄ−ＦＦ１から入力したデータ出力Ａ
をバッファ３３を介し、更にインバータ３４およびＭＯ
Ｓトランジスタ３５のゲート・ドレインによる直列回路
とＭＯＳトランジスタ３６のゲート・ドレインとの並列
回路を介してＭＯＳトランジスタ３７のゲートに接続し
ている。ＭＯＳトランジスタ３７は二つのカレントミラ
ー回路３１・３２の出力素子を構成しており、他方で、
制御電圧供給部１０から入力された制御電圧Ｇが、ＭＯ
Ｓトランジスタ３８のゲート・ドレインを介してカレン
トミラー回路３１・３２に接続されている。
Ｓトランジスタにより主に構成される発光素子駆動回路
であり、一方で、Ｄ−ＦＦ１から入力したデータ出力Ａ
をバッファ３３を介し、更にインバータ３４およびＭＯ
Ｓトランジスタ３５のゲート・ドレインによる直列回路
とＭＯＳトランジスタ３６のゲート・ドレインとの並列
回路を介してＭＯＳトランジスタ３７のゲートに接続し
ている。ＭＯＳトランジスタ３７は二つのカレントミラ
ー回路３１・３２の出力素子を構成しており、他方で、
制御電圧供給部１０から入力された制御電圧Ｇが、ＭＯ
Ｓトランジスタ３８のゲート・ドレインを介してカレン
トミラー回路３１・３２に接続されている。
【００２０】すなわち、駆動部２は、Ｄ−ＦＦ１からデ
ータ出力Ａを入力し、入力パルスが“１”レベルの期
間、トランジスタ３５が“ＯＦＦ”、かつトランジスタ
３６が“ＯＮ”となることにより、制御電圧供給部１０
から入力された制御電圧Ｇをトランジスタ３８で電流変
換したのち、二つのカレントミラー回路３１・３２を介
してカレントミラー回路３２の出力素子を構成するトラ
ンジスタ３７によりＬＤ３に駆動電流Ｂを供給して発光
させている。
ータ出力Ａを入力し、入力パルスが“１”レベルの期
間、トランジスタ３５が“ＯＦＦ”、かつトランジスタ
３６が“ＯＮ”となることにより、制御電圧供給部１０
から入力された制御電圧Ｇをトランジスタ３８で電流変
換したのち、二つのカレントミラー回路３１・３２を介
してカレントミラー回路３２の出力素子を構成するトラ
ンジスタ３７によりＬＤ３に駆動電流Ｂを供給して発光
させている。
【００２１】ＰＤ４はＬＤ３から出力された光を受け、
この光の強度に応じた電流値に変換した電流信号を電流
電圧変換部５に供給する。電流電圧変換部５はＩ／Ｖ
（電流電圧変換）回路とＬＰＦ（Low Pass Filter ）と
を有し、Ｉ／Ｖ回路がＰＤ４から出力される電流信号を
電圧信号に変換した後、ＬＰＦがこの電圧信号のノイズ
を取り除いて変換電圧Ｃを有する変換信号としてＳ／Ｈ
回路部６へ出力するものとする。
この光の強度に応じた電流値に変換した電流信号を電流
電圧変換部５に供給する。電流電圧変換部５はＩ／Ｖ
（電流電圧変換）回路とＬＰＦ（Low Pass Filter ）と
を有し、Ｉ／Ｖ回路がＰＤ４から出力される電流信号を
電圧信号に変換した後、ＬＰＦがこの電圧信号のノイズ
を取り除いて変換電圧Ｃを有する変換信号としてＳ／Ｈ
回路部６へ出力するものとする。
【００２２】Ｓ／Ｈ回路部６の主要部は基準電圧Ｖr1、
スイッチＳ１・Ｓ２、および容量Ｃ１を有している。基
準電圧Ｖr1は本回路を搭載した装置を出荷する際に、所
定の温度でＬＤ３の光強度が所望の値になるように初期
調整されている。スイッチＳ１・Ｓ２はＤ−ＦＦ１のデ
ータ出力Ａにより制御され、スイッチＳ１は基準電圧Ｖ
r1、またスイッチＳ２は変換電圧Ｃ、それぞれを容量Ｃ
１に接続している。
スイッチＳ１・Ｓ２、および容量Ｃ１を有している。基
準電圧Ｖr1は本回路を搭載した装置を出荷する際に、所
定の温度でＬＤ３の光強度が所望の値になるように初期
調整されている。スイッチＳ１・Ｓ２はＤ−ＦＦ１のデ
ータ出力Ａにより制御され、スイッチＳ１は基準電圧Ｖ
r1、またスイッチＳ２は変換電圧Ｃ、それぞれを容量Ｃ
１に接続している。
【００２３】装置に電源投入の際、Ｄ−ＦＦ１のデータ
出力Ａにより最初のデータが入力されるまではスイッチ
Ｓ１が基準電圧Ｖr1を容量Ｃ１に接続している。次い
で、最初のデータが入力されるた際、スイッチＳ１は容
量Ｃ１から基準電圧Ｖr1を開放し、この後、スイッチＳ
２が、電流電圧変換部５の出力の変換電圧Ｃを、データ
“１”が入力された際に容量Ｃ１に接続してサンプルす
る一方、データ“０”が入力された際には接続を開放し
て容量Ｃ１にサンプルした電圧をＳ／Ｈ電圧Ｄとしてホ
ールドするという動作を繰り返す。
出力Ａにより最初のデータが入力されるまではスイッチ
Ｓ１が基準電圧Ｖr1を容量Ｃ１に接続している。次い
で、最初のデータが入力されるた際、スイッチＳ１は容
量Ｃ１から基準電圧Ｖr1を開放し、この後、スイッチＳ
２が、電流電圧変換部５の出力の変換電圧Ｃを、データ
“１”が入力された際に容量Ｃ１に接続してサンプルす
る一方、データ“０”が入力された際には接続を開放し
て容量Ｃ１にサンプルした電圧をＳ／Ｈ電圧Ｄとしてホ
ールドするという動作を繰り返す。
【００２４】比較部７は演算増幅器２１、ＮＭＯＳトラ
ンジスタ２２および抵抗Ｒ１を有し、演算増幅器２１が
Ｓ／Ｈ回路部６にホールドされたＳ／Ｈ電圧Ｄと基準電
圧Ｖr1とを入力して比較しその差電圧を増幅してＮＭＯ
Ｓトランジスタ２２のゲートに接続している。ＮＭＯＳ
トランジスタ２２および抵抗Ｒ１は直列回路を形成し、
ＮＭＯＳトランジスタ２２が演算増幅器２１から出力さ
れた電圧を電流変換し、この電流により抵抗Ｒ１が帰還
電圧Ｅを発生して制御電圧供給部１０へ出力している。
ンジスタ２２および抵抗Ｒ１を有し、演算増幅器２１が
Ｓ／Ｈ回路部６にホールドされたＳ／Ｈ電圧Ｄと基準電
圧Ｖr1とを入力して比較しその差電圧を増幅してＮＭＯ
Ｓトランジスタ２２のゲートに接続している。ＮＭＯＳ
トランジスタ２２および抵抗Ｒ１は直列回路を形成し、
ＮＭＯＳトランジスタ２２が演算増幅器２１から出力さ
れた電圧を電流変換し、この電流により抵抗Ｒ１が帰還
電圧Ｅを発生して制御電圧供給部１０へ出力している。
【００２５】一方、温度補償電流発生部８は、図３に示
されるように、エミッタ接地されたバイポーラトランジ
スタ４１、定電流源４２、演算増幅器４３、および電圧
電流変換回路４４により構成されている。エミッタ接地
されたバイポーラトランジスタ４１がベース・コレクタ
を定電流源４２と共に演算増幅器４３の入力に接続し、
演算増幅器４３が出力する電圧を電圧電流変換回路４４
が電流に変換する。このようにして、エミッタ接地され
たバイポーラトランジスタ４１により、そのバンドギャ
ップ電圧の温度特性から温度によりリニアに変化する補
償電流Ｊが温度補償電圧発生部９に出力されている。
されるように、エミッタ接地されたバイポーラトランジ
スタ４１、定電流源４２、演算増幅器４３、および電圧
電流変換回路４４により構成されている。エミッタ接地
されたバイポーラトランジスタ４１がベース・コレクタ
を定電流源４２と共に演算増幅器４３の入力に接続し、
演算増幅器４３が出力する電圧を電圧電流変換回路４４
が電流に変換する。このようにして、エミッタ接地され
たバイポーラトランジスタ４１により、そのバンドギャ
ップ電圧の温度特性から温度によりリニアに変化する補
償電流Ｊが温度補償電圧発生部９に出力されている。
【００２６】温度補償電圧発生部９は、演算増幅器２３
および抵抗Ｒ２により構成されている。演算増幅器２３
は、温度補償電流発生部８からの入力と出力とを抵抗Ｒ
２により接続されており、更に入力側に基準電圧Ｖr2を
接続して、温度補償電流発生部８から出力される補償電
流Ｊを補償電圧Ｆに変換して制御電圧供給部１０へ出力
している。電流電圧変換係数である抵抗Ｒ２は、図４に
示されるような、発光素子ＬＤ３の温度特性を考慮した
抵抗値を有するものとする。具体的には、この抵抗Ｒ２
の抵抗値は図４に示される直線αおよび直線βの傾きを
決めている。
および抵抗Ｒ２により構成されている。演算増幅器２３
は、温度補償電流発生部８からの入力と出力とを抵抗Ｒ
２により接続されており、更に入力側に基準電圧Ｖr2を
接続して、温度補償電流発生部８から出力される補償電
流Ｊを補償電圧Ｆに変換して制御電圧供給部１０へ出力
している。電流電圧変換係数である抵抗Ｒ２は、図４に
示されるような、発光素子ＬＤ３の温度特性を考慮した
抵抗値を有するものとする。具体的には、この抵抗Ｒ２
の抵抗値は図４に示される直線αおよび直線βの傾きを
決めている。
【００２７】また、制御電圧供給部１０は演算増幅器２
４により構成されており、演算増幅器２４が、比較部７
により出力される帰還電圧Ｅと温度補償電圧発生部９か
ら出力される補償電圧Ｆとを入力して差分を演算増幅
し、制御電圧Ｇとして駆動部２へ供給している。
４により構成されており、演算増幅器２４が、比較部７
により出力される帰還電圧Ｅと温度補償電圧発生部９か
ら出力される補償電圧Ｆとを入力して差分を演算増幅
し、制御電圧Ｇとして駆動部２へ供給している。
【００２８】この構成により、駆動部２では、制御電圧
供給部１０から入力する制御電圧Ｇが駆動電流Ｂを、Ｌ
Ｄ３の発光が弱い場合には大きくする一方、ＬＤ３の発
光が強い場合には小さくするように、制御している。
供給部１０から入力する制御電圧Ｇが駆動電流Ｂを、Ｌ
Ｄ３の発光が弱い場合には大きくする一方、ＬＤ３の発
光が強い場合には小さくするように、制御している。
【００２９】次に、図４に図１から図３までを併せ参照
して図面に示されたＬＤの温度特性と温度補償電流との
関係について詳細に説明する。
して図面に示されたＬＤの温度特性と温度補償電流との
関係について詳細に説明する。
【００３０】図示されるように、ＬＤ３の所望の光強度
を保持する駆動電流Ｂに対する温度特性は、周囲温度Ｔ
0 において電流値ＩOP(T0)、また周囲温度Ｔ1 において
電流値ＩOP(T1)となる。一般に、レーザーダイオード等
の発光素子の温度特性は周囲温度Ｔの上昇に伴って周囲
温度Ｔの低い状態では徐々に上昇し、高くなると急激に
上昇する曲線を描く。
を保持する駆動電流Ｂに対する温度特性は、周囲温度Ｔ
0 において電流値ＩOP(T0)、また周囲温度Ｔ1 において
電流値ＩOP(T1)となる。一般に、レーザーダイオード等
の発光素子の温度特性は周囲温度Ｔの上昇に伴って周囲
温度Ｔの低い状態では徐々に上昇し、高くなると急激に
上昇する曲線を描く。
【００３１】無発光の期間に、ＬＤ３の周囲温度Ｔ0 が
周囲温度Ｔ1 に変化した場合、温度の補償電流が変化す
ることにより、駆動電流Ｂの設定値は直線α上を電流値
ＩOP(T0)から電流値ＩOP′(T1)に変化する。この後、Ｌ
Ｄ３の発光の間にＡＰＣ機能により駆動電流Ｂが電流値
ＩOP′(T1)から電流値ＩOP(T1)に補正されたものとす
る。
周囲温度Ｔ1 に変化した場合、温度の補償電流が変化す
ることにより、駆動電流Ｂの設定値は直線α上を電流値
ＩOP(T0)から電流値ＩOP′(T1)に変化する。この後、Ｌ
Ｄ３の発光の間にＡＰＣ機能により駆動電流Ｂが電流値
ＩOP′(T1)から電流値ＩOP(T1)に補正されたものとす
る。
【００３２】次の無発光の期間に再び変化があり、ＬＤ
３の周囲温度Ｔ1 が周囲温度Ｔ0 に戻った場合、温度の
補償電流が変化することにより、駆動電流Ｂの設定値は
補正された電流値ＩOP(T1)から電流値ＩOP′(T0)へ直線
β上を変化する。
３の周囲温度Ｔ1 が周囲温度Ｔ0 に戻った場合、温度の
補償電流が変化することにより、駆動電流Ｂの設定値は
補正された電流値ＩOP(T1)から電流値ＩOP′(T0)へ直線
β上を変化する。
【００３３】次に、図１から図３までに図４および図５
を合わせ参照してＤ−ＦＦ１にデータＤＡＴＡが入力し
た際の動作原理について説明する。
を合わせ参照してＤ−ＦＦ１にデータＤＡＴＡが入力し
た際の動作原理について説明する。
【００３４】図示された本回路では、時刻ｔ0 （図５参
照）に回路に電源が投入された後、初めてのデータ入力
があるまでＳ／Ｈ回路部６では、スイッチＳ１が基準電
圧Ｖr1を容量Ｃ１に接続しており、スイッチＳ２は容量
Ｃ１との接続回路を開放している。この回路状態ではＳ
／Ｈ回路部６の出力のＳ／Ｈ電圧Ｄは基準電圧Ｖr1とな
っている。
照）に回路に電源が投入された後、初めてのデータ入力
があるまでＳ／Ｈ回路部６では、スイッチＳ１が基準電
圧Ｖr1を容量Ｃ１に接続しており、スイッチＳ２は容量
Ｃ１との接続回路を開放している。この回路状態ではＳ
／Ｈ回路部６の出力のＳ／Ｈ電圧Ｄは基準電圧Ｖr1とな
っている。
【００３５】基準電圧Ｖr1は、この回路状態で、出荷の
際に周囲温度Ｔ0 において駆動電流Ｂを電流値ＩOP(T0)
に収束させるように調整し設定されているものとする。
際に周囲温度Ｔ0 において駆動電流Ｂを電流値ＩOP(T0)
に収束させるように調整し設定されているものとする。
【００３６】ここで、図５に示されるように、データＤ
ＡＴＡ“１”が入力され、Ｄ−ＦＦ１のデータ出力Ａ
“１”が開始される場合、開始時刻ｔ1 の直前に周囲温
度がＴ1 であったものとすれば、上述のように、温度補
償電流発生部８から発生する補償電流Ｊにより駆動電流
Ｂの設定値は電流値ＩOP′(T1)になっている。（従来で
は温度補償がないため、初期の駆動電流Ｂは電流値ＩOP
(T0)のまま変化しない。）一方、Ｓ／Ｈ回路部６では、
データ出力Ａ“１”の入力によりスイッチＳ１が基準電
圧ＶR1と容量Ｃ１との接続回路を開放し、容量Ｃ１には
基準電圧Ｖr1が保持されている。
ＡＴＡ“１”が入力され、Ｄ−ＦＦ１のデータ出力Ａ
“１”が開始される場合、開始時刻ｔ1 の直前に周囲温
度がＴ1 であったものとすれば、上述のように、温度補
償電流発生部８から発生する補償電流Ｊにより駆動電流
Ｂの設定値は電流値ＩOP′(T1)になっている。（従来で
は温度補償がないため、初期の駆動電流Ｂは電流値ＩOP
(T0)のまま変化しない。）一方、Ｓ／Ｈ回路部６では、
データ出力Ａ“１”の入力によりスイッチＳ１が基準電
圧ＶR1と容量Ｃ１との接続回路を開放し、容量Ｃ１には
基準電圧Ｖr1が保持されている。
【００３７】この結果、次の時刻ｔ2 に、ＬＤ３は駆動
電流Ｂの電流値ＩOP′(T1)により光強度Ｋinitで発光を
開始する。
電流Ｂの電流値ＩOP′(T1)により光強度Ｋinitで発光を
開始する。
【００３８】次の時刻ｔ3 では、ＰＤ４がＬＤ３の発光
をモニターして光強度Ｋinitに対応した電流信号に変換
し、この電流信号が電流電圧変換部５により変換電圧Ｃ
としてＳ／Ｈ回路部６に出力される。一方、Ｓ／Ｈ回路
部６では、精度を高めるためデータ出力Ａ“１”の入力
より時間的なディレイをもってスイッチＳ２が電流電圧
変換部５の出力を容量Ｃ１に接続している。
をモニターして光強度Ｋinitに対応した電流信号に変換
し、この電流信号が電流電圧変換部５により変換電圧Ｃ
としてＳ／Ｈ回路部６に出力される。一方、Ｓ／Ｈ回路
部６では、精度を高めるためデータ出力Ａ“１”の入力
より時間的なディレイをもってスイッチＳ２が電流電圧
変換部５の出力を容量Ｃ１に接続している。
【００３９】従って次の時刻ｔ4 では、ＬＤ３が発光し
ている間、すなわちデータ出力Ａ“１”の間、Ｓ／Ｈ回
路部６が変換電圧Ｃを容量Ｃ１にサンプルしてＳ／Ｈ電
圧Ｄを発生する。
ている間、すなわちデータ出力Ａ“１”の間、Ｓ／Ｈ回
路部６が変換電圧Ｃを容量Ｃ１にサンプルしてＳ／Ｈ電
圧Ｄを発生する。
【００４０】次の時刻ｔ5 では、比較部７がＳ／Ｈ電圧
Ｄを基準電圧Ｖr1と比較してその差分を演算増幅し帰還
電圧Ｅとして制御電圧供給部１０へ出力する。
Ｄを基準電圧Ｖr1と比較してその差分を演算増幅し帰還
電圧Ｅとして制御電圧供給部１０へ出力する。
【００４１】ここで、説明を簡単にするため、周囲温度
Ｔ１は、時刻ｔ1 から時刻ｔ13までの間、変化しないも
のとする。つまり、温度補償電流発生部８では、バンド
ギャップ電圧で決まる補償電流Ｊの電流値は変化せず、
従って図５に示されるように温度補償電圧発生部９は周
囲温度Ｔ1 に対応する補償電圧Ｆを継続して出力してい
る。
Ｔ１は、時刻ｔ1 から時刻ｔ13までの間、変化しないも
のとする。つまり、温度補償電流発生部８では、バンド
ギャップ電圧で決まる補償電流Ｊの電流値は変化せず、
従って図５に示されるように温度補償電圧発生部９は周
囲温度Ｔ1 に対応する補償電圧Ｆを継続して出力してい
る。
【００４２】次の時刻ｔ6 では、補償電圧Ｆの電圧値が
変化せず一定なので、制御電圧供給部１０から駆動部２
へ出力される制御電圧Ｇは、比較部７から入力する帰還
電圧Ｅの変化にしたがって変化する。
変化せず一定なので、制御電圧供給部１０から駆動部２
へ出力される制御電圧Ｇは、比較部７から入力する帰還
電圧Ｅの変化にしたがって変化する。
【００４３】次の時刻ｔ7 では、駆動部２が、制御電圧
供給部１０から入力する制御電圧Ｇの変化により、それ
まで出力していた駆動電流Ｂの電流値ＩOP′(T1)を図４
を参照して説明したように電流値ＩOP(T1)に収束するよ
うに補正して出力しＬＤ３へ供給する。この結果、ＬＤ
３は駆動電流Ｂの電流値ＩOP(T1)により所望の光強度Ｋ
を発光する。この所望の光強度Ｋの発光により以降の時
刻ｔ8 、ｔ9 、ｔ10で、変換電圧Ｃ、Ｓ／Ｈ電圧Ｄ、帰
還電圧Ｅそれぞれが収束する。
供給部１０から入力する制御電圧Ｇの変化により、それ
まで出力していた駆動電流Ｂの電流値ＩOP′(T1)を図４
を参照して説明したように電流値ＩOP(T1)に収束するよ
うに補正して出力しＬＤ３へ供給する。この結果、ＬＤ
３は駆動電流Ｂの電流値ＩOP(T1)により所望の光強度Ｋ
を発光する。この所望の光強度Ｋの発光により以降の時
刻ｔ8 、ｔ9 、ｔ10で、変換電圧Ｃ、Ｓ／Ｈ電圧Ｄ、帰
還電圧Ｅそれぞれが収束する。
【００４４】一方、時刻ｔ11で、データＤＡＴＡ“１”
が消えて入力Ｄ−ＦＦ１のデータ出力Ａが“０”となっ
た際には、Ｓ／Ｈ回路部６のスイッチＳ２は変換電圧Ｃ
と容量Ｃ１との接続回路を開放する。従って、Ｓ／Ｈ回
路部６はデータ出力Ａ“１”が入力するまでこの時刻の
Ｓ／Ｈ電圧Ｄをホールドする。
が消えて入力Ｄ−ＦＦ１のデータ出力Ａが“０”となっ
た際には、Ｓ／Ｈ回路部６のスイッチＳ２は変換電圧Ｃ
と容量Ｃ１との接続回路を開放する。従って、Ｓ／Ｈ回
路部６はデータ出力Ａ“１”が入力するまでこの時刻の
Ｓ／Ｈ電圧Ｄをホールドする。
【００４５】この結果、次の時刻ｔ12では、ＬＤ３の駆
動電流Ｂが“０”となり、発光は停止する。従って、次
の時刻ｔ13で、ＰＤ４がＬＤ３の発光をモニターして電
流信号を“０”とするので、電流電圧変換部５による変
換電圧Ｃも“０”となる。しかし、前述のようにＳ／Ｈ
電圧Ｄはホールドされている。
動電流Ｂが“０”となり、発光は停止する。従って、次
の時刻ｔ13で、ＰＤ４がＬＤ３の発光をモニターして電
流信号を“０”とするので、電流電圧変換部５による変
換電圧Ｃも“０”となる。しかし、前述のようにＳ／Ｈ
電圧Ｄはホールドされている。
【００４６】この一連の動作手順を繰り返すことによ
り、収束精度を向上させることができる。
り、収束精度を向上させることができる。
【００４７】次に、時刻ｔ21で、バースト信号の間に周
囲温度Ｔ1 が周囲温度Ｔ0 に変化した場合、バースト信
号の間ではＬＤ３が無発光のため、ＰＤ４で光強度をモ
ニターできない。しかし、温度補償電流発生部８により
温度補償電圧発生部９の補償電圧Ｆは補正される。
囲温度Ｔ1 が周囲温度Ｔ0 に変化した場合、バースト信
号の間ではＬＤ３が無発光のため、ＰＤ４で光強度をモ
ニターできない。しかし、温度補償電流発生部８により
温度補償電圧発生部９の補償電圧Ｆは補正される。
【００４８】従って、次の時刻ｔ22では、制御電圧供給
部１０の制御電圧Ｇは補正されている。この結果、デー
タＤＡＴＡの入力で駆動部２から出力されるＬＤ３の駆
動電流Ｂは図４に示されるように電流値ＩOP(T1)から電
流値ＩOP′(T0)に補正されている（従来の構成の場合、
駆動電流Ｂは、補正されず、電流値ＩOP(T1)のままであ
る。）。
部１０の制御電圧Ｇは補正されている。この結果、デー
タＤＡＴＡの入力で駆動部２から出力されるＬＤ３の駆
動電流Ｂは図４に示されるように電流値ＩOP(T1)から電
流値ＩOP′(T0)に補正されている（従来の構成の場合、
駆動電流Ｂは、補正されず、電流値ＩOP(T1)のままであ
る。）。
【００４９】従って、無発光の期間に周囲温度Ｔが急激
に変化しても発光開始の際の光強度の補正幅は少なくて
よい。
に変化しても発光開始の際の光強度の補正幅は少なくて
よい。
【００５０】次に、本発明の別の実施の形態について図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【００５１】図６は本発明の実施の第２の形態を示す機
能ブロック図である。図６に示された高速ＡＰＣ回路で
は、従来同様のＤ−ＦＦ１、駆動部２、ＬＤ３、ＰＤ
４、および電流電圧変換部５に加えて、Ｓ／Ｈ（Sample
& Hold ）回路部６、比較部７、温度補償電流発生部
８、および制御電圧供給部１０、ならびに抵抗Ｒ３およ
び温度補償電圧発生部１１が設けられている。
能ブロック図である。図６に示された高速ＡＰＣ回路で
は、従来同様のＤ−ＦＦ１、駆動部２、ＬＤ３、ＰＤ
４、および電流電圧変換部５に加えて、Ｓ／Ｈ（Sample
& Hold ）回路部６、比較部７、温度補償電流発生部
８、および制御電圧供給部１０、ならびに抵抗Ｒ３およ
び温度補償電圧発生部１１が設けられている。
【００５２】図１に示される実施の第１の形態と大きく
相違する点は、温度補償電流発生部８が出力する補償電
流Ｊを抵抗Ｒ３に供給し、抵抗Ｒ３で発生する電圧を温
度補償電圧発生部１１に入力することである。この結
果、温度補償電圧発生部１１は入力する電圧と基準電圧
Ｖr2とを比較して差分を演算増幅し、補償電圧Ｆとして
出力する演算増幅器２５を有している。
相違する点は、温度補償電流発生部８が出力する補償電
流Ｊを抵抗Ｒ３に供給し、抵抗Ｒ３で発生する電圧を温
度補償電圧発生部１１に入力することである。この結
果、温度補償電圧発生部１１は入力する電圧と基準電圧
Ｖr2とを比較して差分を演算増幅し、補償電圧Ｆとして
出力する演算増幅器２５を有している。
【００５３】図６に示される回路の動作は、上述の図１
の代わりに図６を参照し、温度補償電圧発生部９を温度
補償電圧発生部１１に読み替えればよいので、説明を省
略する。
の代わりに図６を参照し、温度補償電圧発生部９を温度
補償電圧発生部１１に読み替えればよいので、説明を省
略する。
【００５４】上記説明では、発光素子をＬＤ（レーザー
ダイオード）とし、受光素子をＰＤ（フォトダイオー
ド）として説明したが、他の素子でもよい。また、回路
を構成するトランジスタも、同様な機能、性能を有する
ものであれば他の素子であってもよい。
ダイオード）とし、受光素子をＰＤ（フォトダイオー
ド）として説明したが、他の素子でもよい。また、回路
を構成するトランジスタも、同様な機能、性能を有する
ものであれば他の素子であってもよい。
【００５５】上記説明では、２つの実施の形態を図示し
て説明したが、機能ブロックの構成において、機能の分
離併合等の分配は上記機能を満たす限り自由であり、上
記説明が本発明を限定するものではない。
て説明したが、機能ブロックの構成において、機能の分
離併合等の分配は上記機能を満たす限り自由であり、上
記説明が本発明を限定するものではない。
【００５６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、Ｌ
Ｄのような発光素子が出力する光の強度を駆動電流の制
御により所定値に自動的に収束し保持する際、ＰＤのよ
うな受光素子が発光素子の光強度をモニターして電気信
号として出力し、この電気信号を演算処理して生成した
制御電圧により駆動電流を制御する帰還制御機能に、発
光素子の周囲温度に応じた駆動電流値を発光開始前の初
期値として設定する機能を加えた高速ＡＰＣ回路が得ら
れる。
Ｄのような発光素子が出力する光の強度を駆動電流の制
御により所定値に自動的に収束し保持する際、ＰＤのよ
うな受光素子が発光素子の光強度をモニターして電気信
号として出力し、この電気信号を演算処理して生成した
制御電圧により駆動電流を制御する帰還制御機能に、発
光素子の周囲温度に応じた駆動電流値を発光開始前の初
期値として設定する機能を加えた高速ＡＰＣ回路が得ら
れる。
【００５７】この構成によって、本発明による高速ＡＰ
Ｃ回路は、発光素子が発光を開始する際に、いかなる周
囲温度であっても温度補償によって駆動電流の収束値に
近い初期値を得ることができるので、所望の光強度に所
定の誤差の範囲内で高速に収束できる。すなわち、光送
信装置を立ち上げる際に、瞬時に所望の光強度で送信が
開始でき、かつ、無発光の期間に急激に周囲温度が変化
した場合も次の発光の際には光強度の変動幅を小さくで
きる。
Ｃ回路は、発光素子が発光を開始する際に、いかなる周
囲温度であっても温度補償によって駆動電流の収束値に
近い初期値を得ることができるので、所望の光強度に所
定の誤差の範囲内で高速に収束できる。すなわち、光送
信装置を立ち上げる際に、瞬時に所望の光強度で送信が
開始でき、かつ、無発光の期間に急激に周囲温度が変化
した場合も次の発光の際には光強度の変動幅を小さくで
きる。
【００５８】また、上記構成で発光素子の周囲温度に応
じて、所望値に近い初期値を設定することにより所定の
誤差の範囲内で所望値に高速に収束することができの
で、ＡＰＣ回路を構成する演算増幅器等の機能およびパ
ワーが低減でき、低消費電力化を図ることができる。
じて、所望値に近い初期値を設定することにより所定の
誤差の範囲内で所望値に高速に収束することができの
で、ＡＰＣ回路を構成する演算増幅器等の機能およびパ
ワーが低減でき、低消費電力化を図ることができる。
【００５９】更に、本発明による高速ＡＰＣ回路は、半
導体デバイスにより構成することが容易なので、半導体
集積回路化に適している。
導体デバイスにより構成することが容易なので、半導体
集積回路化に適している。
【図１】本発明の実施の一形態を示す機能ブロック図で
ある。
ある。
【図２】本発明の駆動部の実施の一形態を示す回路図で
ある。
ある。
【図３】本発明の温度補償電流発生部の実施の一形態を
示す回路図である。
示す回路図である。
【図４】発光素子の駆動電流・周囲温度特性の一形態を
示すグラフである。
示すグラフである。
【図５】図１による動作原理を説明するタイミングチャ
ートである。
ートである。
【図６】本発明の実施の第２の形態を示す機能ブロック
図である。
図である。
【図７】従来の一例を示す機能ブロック図である。
１ Ｄ−ＦＦ（Ｄ形フリップフロップ回路） ２ 駆動部 ３ ＬＤ（レーザーダイオード、発光素子） ４ ＰＤ（フォトダイオード、受光素子） ５ 電流電圧変換部 ６ Ｓ／Ｈ回路部（サンプル・ホールド回路部） ７ 比較部 ８ 温度補償電流発生部 ９、１１ 温度補償電圧発生部 １０ 制御電圧供給部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０４Ｂ 1/04 Ｈ０４Ｂ 1/04 Ｅ 10/04 9/00 Ｙ 10/06 10/14 10/26 10/28 (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01S 3/18 H01S 3/133 H01S 3/096
Claims (3)
- 【請求項１】 入力するパルス信号に従った駆動電流に
より発光素子を駆動する際、該発光素子から出力される
光強度を前記駆動電流を制御することによって所定値に
高速に収束し保持する高速ＡＰＣ（Automatic Power Co
ntrol ）回路において、入力するパルス信号に従った駆
動電流により前記発光素子を駆動すると共に制御電圧を
入力して前記駆動電流を制御する駆動部と、前記発光素
子から出力される光信号をモニターし該光信号の強度に
応じたレベルの電流信号を出力する受光素子と、該受光
素子により出力された電流信号のレベルを検出し変換電
圧として出力する電流電圧変換部と、該変換電圧を所定
の温度に対して設定された所定基準電圧に収束させ帰還
電圧として出力する比較手段と、バイポーラトランジス
タを備え該バイポーラトランジスタが有するバンドギャ
ップ電圧の温度特性から前記発光素子の周囲温度に応じ
た補償電圧を出力する温度補償電圧発生手段と、前記帰
還電圧および該補償電圧を入力して演算増幅し制御電圧
として前記駆動部に供給する制御電圧供給部とを備える
ことを特徴とする高速ＡＰＣ回路。 - 【請求項２】 請求項１において、前記温度補償電圧発
生手段は、バイポーラトランジスタを備え該バイポーラ
トランジスタが有するバンドギャップ電圧の温度特性か
ら前記発光素子の周囲温度に応じた補償電流を出力する
温度補償電流発生部と、該補償電流を入力して補償電圧
を出力する並列に接続された演算増幅器および抵抗を有
する温度補償電圧発生部とを備えることを特徴とする高
速ＡＰＣ回路。 - 【請求項３】 請求項１において、前記温度補償電圧発
生手段は、バイポーラトランジスタを備え該バイポーラ
トランジスタが有するバンドギャップ電圧の温度特性か
ら前記発光素子の周囲温度に応じた補償電流を出力する
温度補償電流発生部と、該温度補償電流発生部の出力を
接続して電流供給する抵抗と、該抵抗により決定される
電圧を入力して補償電圧を出力する演算増幅器を有する
温度補償電圧発生部とを備えることを特徴とする高速Ａ
ＰＣ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6237496A JP2914431B2 (ja) | 1996-03-19 | 1996-03-19 | 高速ａｐｃ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6237496A JP2914431B2 (ja) | 1996-03-19 | 1996-03-19 | 高速ａｐｃ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09260720A JPH09260720A (ja) | 1997-10-03 |
| JP2914431B2 true JP2914431B2 (ja) | 1999-06-28 |
Family
ID=13198289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6237496A Expired - Lifetime JP2914431B2 (ja) | 1996-03-19 | 1996-03-19 | 高速ａｐｃ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2914431B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
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|---|---|---|---|---|
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| JP4575604B2 (ja) * | 2001-01-23 | 2010-11-04 | 株式会社キーエンス | 光電スイッチのａｐｃ装置 |
| CN100452581C (zh) * | 2003-11-18 | 2009-01-14 | 松下电器产业株式会社 | 激光器驱动装置、具备激光器驱动装置的光学头及光盘装置 |
| US7250806B2 (en) * | 2005-03-02 | 2007-07-31 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Apparatus and method for generating an output signal that tracks the temperature coefficient of a light source |
| US7326947B2 (en) * | 2005-11-15 | 2008-02-05 | Avago Technologies Ecbu Ip Pte Ltd | Current transfer ratio temperature coefficient compensation method and apparatus |
| JP5067335B2 (ja) * | 2008-10-02 | 2012-11-07 | 住友電気工業株式会社 | 光送信モジュール |
| JP2013125049A (ja) * | 2011-12-13 | 2013-06-24 | Semiconductor Components Industries Llc | 光検出回路 |
| CN104137442B (zh) * | 2012-03-22 | 2016-10-19 | 三菱电机株式会社 | 光发送器 |
| WO2014038239A1 (ja) * | 2012-09-06 | 2014-03-13 | 住友電気工業株式会社 | 光通信モジュール、宅側装置および発光素子の制御方法 |
| JP6204222B2 (ja) | 2014-02-19 | 2017-09-27 | パナソニック株式会社 | 無線通信装置 |
| JP6360272B2 (ja) | 2016-06-24 | 2018-07-18 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 受発光装置及び光検出方法 |
-
1996
- 1996-03-19 JP JP6237496A patent/JP2914431B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09260720A (ja) | 1997-10-03 |
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