JP2006214896A - 形状認識装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 被加工物を支持する被加工物支持手段と、被加工物支持手段に支持された被加工物に光を照射する光照射手段と、被加工物支持手段に支持された被加工物を撮像する撮像手段と、撮像手段によって撮像された画像信号に基づいて被加工物の輪郭を認識する制御手段とを具備する形状認識装置であって、光照射手段は380〜780nm以外の波長の光を照射し、撮像手段は、380〜780nmの波長の光を遮断し該光照射手段によって照射される波長の光を通過する偏光フィルターが装着されている。
【選択図】 図3
Description
該光照射手段は、380〜780nm以外の波長の光を照射し、
該撮像手段は、380〜780nmの波長の光を遮断し該光照射手段によって照射される波長の光を通過する偏光フィルターが装着されている、
ことを特徴とする形状認識装置が提供される。
また、上記光照射手段が照射する光は近赤外線であることが好ましく、波長が800〜1000nmの近赤外線であることがより好ましい。
カセット載置テーブル8上に載置されたカセット9の所定位置に収容されている被加工物組立体10は、図示しない昇降手段によってカセット載置テーブル8が上下動することにより搬出位置に位置付けられる。次に、搬出手段15が進退作動して搬出位置に位置付けられた被加工物組立体10を仮置きテーブル14上に搬出する。仮置きテーブル14に搬出された被加工物組立体10は、搬送手段16の旋回動作によって上記チャックテーブル3上に搬送される。チャックテーブル3上に被加工物組立体10が載置されたならば、図示しない吸引手段が作動して被加工物組立体10をチャックテーブル3上に吸引保持する。また、被加工物組立体10の支持フレーム11は、上記クランプ機構33によって固定される。このようにして被加工物組立体10を保持したチャックテーブル3は、アライメント手段6の直下まで移動せしめられる。チャックテーブル3がアライメント手段6の直下に位置付けられると、アライメント手段6によって被加工物組立体10のウエーハ13に形成されているストリート132が検出され、スピンドルユニット4を割り出し方向である矢印Y方向に移動調節してストリートと切削ブレード43との精密位置合わせ作業が行われる。
先ず、図7に示すように搬出手段15を作動してカセット9の所定位置に収容された被加工物組立体10を仮置きテーブル14の所定位置に搬出する。このとき、被加工物組立体10の支持フレーム11が仮置きテーブル14を構成する一対の支持レール140、140に案内されるので、支持フレーム11のX方向が位置規制される。
図16に示す形状認識装置20aは、加工装置の所定位置に配設され上記被加工物組立体10の全面に光を照射する光照射手段21aと、該光照射手段21aの上方に配設され被加工物組立体10のシリコンウエーハ13の全面および該シリコンウエーハ13の周囲を撮像する撮像手段22aを具備している。光照射手段21aは、上方が開口された矩形状のハウジング211と、該ハウジング211内に配設されて複数の赤外線照射ランプ212とからなっている。ハウジング211は底壁211aと側壁211bとからなっており、側壁211bの上端面211cには上記複数の赤外線照射ランプ212をカバーするガラス板213が配設されている。このガラス板213上に上記被加工物組立体10の環状の支持フレーム11が載置される。従って、ハウジング211に配設されたガラス板213は、被加工物組立体10の環状の支持フレーム11を支持する被加工物支持手段として機能する。上記複数の赤外線照射ランプ212は、波長が800〜1000nmの赤外線を照射する。
以上のように構成された図16に示す形状認識装置20aを用いることにより、上述した実施形態と同様に作業室内を照明する蛍光灯等による可視光の影響を受けることなく、シリコンウエーハ13の全体の輪郭を正確に撮像して認識することができる。
3:チャックテーブ
4:スピンドルユニット
6:アライメント手段
7:表示手段
8:カセット載置テーブル
10:被加工物組立体
11:環状の支持フレーム
12:保護テープ
13:シリコンウエーハ(被加工物)
14:仮置きテーブル
15:搬出手段
16:搬送手段
17:洗浄手段
18:洗浄搬送手段
20:輪郭認識装置
21:帯状の光照射手段
22:撮像手段
20a:発光手段
211:ハウジング
212:赤外線照射ランプ
22a:撮像手段
30:制御手段
Claims (4)
- 被加工物を支持する被加工物支持手段と、該被加工物支持手段に支持された被加工物に光を照射する光照射手段と、該被加工物支持手段に支持された被加工物を撮像する撮像手段と、該撮像手段によって撮像された画像信号に基づいて被加工物の輪郭を認識する制御手段と、を具備する形状認識装置において、
該光照射手段は、380〜780nm以外の波長の光を照射し、
該撮像手段は、380〜780nmの波長の光を遮断し該光照射手段によって照射される波長の光を通過する偏光フィルターが装着されている、
ことを特徴とする形状認識装置。 - 該光照射手段と該撮像手段は互いに対向して配設され、該被加工物支持手段は被加工物を該光照射手段と該撮像手段の間に支持する、請求項1記載の形状認識装置。
- 該光照射手段は、近赤外線を照射する、請求項1又は2記載の形状認識装置。
- 該光照射手段は、波長が800〜1000nmの近赤外線を照射する、請求項3記載の形状認識装置。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013228404A (ja) * | 2013-06-28 | 2013-11-07 | Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd | 撮像装置 |
JP2021072296A (ja) * | 2019-10-29 | 2021-05-06 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080703A (ja) * | 1983-10-11 | 1985-05-08 | Hokuyo Automatic Co | 光学式外径測定装置 |
JPH0992596A (ja) * | 1995-09-25 | 1997-04-04 | Nikon Corp | 位置検出方法、及び位置検出装置 |
JPH09510931A (ja) * | 1995-01-18 | 1997-11-04 | ゲオルク プラチュ,ハンス | 印刷物の表面測定装置 |
JP2002039725A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Disco Abrasive Syst Ltd | 被加工物輪郭認識装置及びこれを含む加工機 |
JP2002151382A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-24 | Nikon Corp | 位置検出装置および該位置検出装置を備えた露光装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080703A (ja) * | 1983-10-11 | 1985-05-08 | Hokuyo Automatic Co | 光学式外径測定装置 |
JPH09510931A (ja) * | 1995-01-18 | 1997-11-04 | ゲオルク プラチュ,ハンス | 印刷物の表面測定装置 |
JPH0992596A (ja) * | 1995-09-25 | 1997-04-04 | Nikon Corp | 位置検出方法、及び位置検出装置 |
JP2002039725A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Disco Abrasive Syst Ltd | 被加工物輪郭認識装置及びこれを含む加工機 |
JP2002151382A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-24 | Nikon Corp | 位置検出装置および該位置検出装置を備えた露光装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013228404A (ja) * | 2013-06-28 | 2013-11-07 | Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd | 撮像装置 |
JP2021072296A (ja) * | 2019-10-29 | 2021-05-06 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
JP7358014B2 (ja) | 2019-10-29 | 2023-10-10 | 株式会社ディスコ | 加工装置 |
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