JP2006211069A - 欠陥検出装置および欠陥検出方法、欠陥補正装置および欠陥補正方法、ならびに撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】相関検出回路151には、イメージセンサ12の撮像中に注目画素とその周辺画素との相関により、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する動作を複数フレームに亘って行い、手振れ検出器155による手振れの発生の検出を条件として、確定回路156において、複数フレームの相互間でアドレスが一致する画素を欠陥画素と確定することで、高周波成分をもった被写体、具体的には画素単位で変化する細かい画像の場合にも高精度にて欠陥画素を検出するようにする。
【選択図】図3
Description
先ず、欠陥検出回路15での欠陥検出の原理について、図2を用いて説明する。その原理とは、手振れによって撮像画面上において被写体が動いても、画素欠陥は画素そのものの欠陥であり、欠陥画素の位置は絶対的なものであって、変わることがないことに着目して欠陥画素を検出するというものである。
(b)図6(A)に示すように、相関検出回路151で相関をとる周辺画素の数を多くすることによって欠陥候補画素の検出基準を高くして、ステップS14〜ステップS16の各処理と同じ処理を実行することで、高周波成分の被写体を欠陥画素として誤検出するのをなくすようにする。
(c)図6(B)に示すように、相関検出回路151において、例えば注目画素と同色の周辺画素との差分をとり、全ての差分が予め設定した閾値を越えるか否かを判定する際の当該閾値の値を大きくすることによって欠陥候補画素の検出基準を高くして、ステップS14〜ステップS16の各処理と同じ処理を実行することで、高周波成分の被写体を欠陥画素として誤検出するのをなくすようにする。
続いて、欠陥補正回路16について説明する。先ず、欠陥補正回路16での欠陥補正の原理について説明する。この欠陥補正では、高フレームレートで複数フレーム(複数枚)の画像を撮像することを前提とする。
(a)前フレームの補正データおよび後フレームの補正データの両方を使って補正する。
(b)前フレームの補正データのみ、または後フレームの補正データのみを使って補正する。
の2通りの補正処理いずれかを選ぶことができる。
(a)手振れによって、欠陥画素に対応する画素が前フレームと後フレームのいずれかで画面外にはみ出てしまう欠陥画素については、画面外にはみ出ない方のフレームの補正データを使う。具体的には、特定された後のフレームでの画素位置の画素が手振れによって画面内から画面外へ移動する場合は、前のフレームの画素データを用いて補正を行い、逆に、画面外から画面内に移動する場合は、後のフレームの画素データを用いて補正を行うようにする。
Claims (17)
- 固体撮像素子の撮像中に注目画素とその周辺画素との相関をとることにより、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する動作を複数フレームに亘って行うアドレス検出手段と、
前記複数フレームの相互間でのアドレス比較によってアドレスが一致する画素を検出するアドレス比較手段と、
手振れの発生の有無を検出する手振れ検出手段と、
前記手振れ検出手段によって手振れの発生が検出されたとき、前記アドレス比較手段によって検出された画素を欠陥画素と確定する確定手段と
を備えたことを特徴とする欠陥検出装置。 - 前記確定手段は、前記手振れ検出手段によって手振れの発生が検出されなかったとき、前記アドレス比較手段によって検出された画素を欠陥画素と確定しない
ことを特徴とする請求項1記載の欠陥検出装置。 - 前記アドレス検出手段は、前記手振れ検出手段によって手振れの発生が検出されなかったとき、前記相関をとる際の閾値を大きくする
ことを特徴とする請求項1記載の欠陥検出装置。 - 前記アドレス検出手段は、前記手振れ検出手段によって手振れの発生が検出されなかったとき、前記相関をとる際の前記周辺画素の数を増やす
ことを特徴とする請求項1記載の欠陥検出装置。 - 固体撮像素子の注目画素とその周辺画素との相関をとることによって欠陥画素を検出する候補画素検出手段と、
前記固体撮像素子の出力信号から高周波成分の被写体を検出する高周波検出手段と、
前記高周波検出手段によって高周波成分の被写体が検出されたとき、前記候補画素検出手段の検出基準を高くする制御手段と
を備えたことを特徴とする欠陥検出装置。 - 前記制御手段は、前記候補画素検出手段の相関をとる際の閾値を大きくする
ことを特徴とする請求項5記載の欠陥検出装置。 - 前記制御手段は、前記候補画素検出手段の相関をとる際の前記周辺画素の数を増やす
ことを特徴とする請求項5記載の欠陥検出装置。 - 固体撮像素子の撮像中に注目画素とその周辺画素との相関により、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する動作を複数フレームに亘って行い、
手振れの発生を条件として、前記複数フレームの相互間でアドレスが一致する画素を欠陥画素と確定する
ことを特徴とする欠陥検出方法。 - 被写体の動きを検出する動き検出手段と、
現フレームで検出された欠陥画素に対して、前記動き検出手段で検出した動き情報に基づいて前後のフレームでの前記欠陥画素に対応する画素位置を特定する位置特定手段と、
前記位置特定手段によって特定された前後のフレームの少なくとも一方の画素位置の画素データを用いて前記欠陥画素のデータを補正する補正手段と
を備えたことを特徴とする欠陥補正装置。 - 前記補正手段は、前記位置特定手段によって特定された前後のフレームでの画素位置の画素が欠陥画素に対して同色でない場合は、当該画素位置の画素周辺の同色画素の画素データを用いて補正を行う
ことを特徴とする請求項9記載の欠陥補正装置。 - 前記補正手段は、前記位置特定手段によって特定された後のフレームでの画素位置の画素が手振れによって画面内から画面外へ移動する場合は、前のフレームの画素データを用いて補正を行い、前記位置特定手段によって特定された後のフレームでの画素位置の画素が手振れによって画面外から画面内に移動する場合は、後のフレームの画素データを用いて補正を行う
ことを特徴とする請求項9記載の欠陥補正装置。 - 前記補正手段は、前記位置特定手段によって特定された前のフレームでの画素位置の画素が欠陥画素である場合は、後のフレームの画素データを用いて補正を行い、前記位置特定手段によって特定された後のフレームでの画素位置の画素が欠陥画素である場合は、前のフレームの画素データを用いて補正を行う
ことを特徴とする請求項9記載の欠陥補正装置。 - 前記補正手段は、欠陥画素周辺の画素データの平均値を算出し、フレーム間での平均値の推移分だけ前記補正データに対してレベル補正を行う
ことを特徴とする請求項9記載の欠陥補正装置。 - 前記補正手段は、フレーム間での画像全体の明るさの推移分だけ前記補正データに対してレベル補正を行う
ことを特徴とする請求項9記載の欠陥補正装置。 - 現フレームで検出された欠陥画素に対して、被写体の動き情報に基づいて前後のフレームでの前記欠陥画素に対応する画素位置を特定し、
この特定した前後のフレームの少なくとも一方の画素位置の画素データを用いて前記欠陥画素の画素データを補正する
ことを特徴とする欠陥補正方法。 - 固体撮像素子と、
被写体からの像光を前記固体撮像素子の撮像面上に結像する光学系と、
前記固体撮像素子の撮像中に注目画素とその周辺画素との相関により、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する動作を複数フレームに亘って行い、手振れの発生を条件として、前記複数フレームの相互間でアドレスが一致する画素を欠陥画素と確定する欠陥検出回路と、
前記欠陥検出回路の検出結果に基づいて前記固体撮像素子の欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正回路と
を備えたことを特徴とする撮像装置。 - 固体撮像素子と、
被写体からの像光を前記固体撮像素子の撮像面上に結像する光学系と、
前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥検出回路と、
現フレームで検出された欠陥画素に対して、被写体の動き情報に基づいて前後のフレームでの前記欠陥画素に対応する画素位置を特定し、この特定した前後のフレームの少なくとも一方の画素位置の画素データを用いて前記欠陥検出回路によって検出された欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正回路と
を備えたことを特徴とする撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005017622A JP4548128B2 (ja) | 2005-01-26 | 2005-01-26 | 欠陥検出装置および欠陥検出方法、ならびに撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005017622A JP4548128B2 (ja) | 2005-01-26 | 2005-01-26 | 欠陥検出装置および欠陥検出方法、ならびに撮像装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010113442A Division JP2010187409A (ja) | 2010-05-17 | 2010-05-17 | 欠陥補正装置および欠陥補正方法、ならびに撮像装置 |
JP2010113441A Division JP2010187408A (ja) | 2010-05-17 | 2010-05-17 | 欠陥検出装置および欠陥検出方法、ならびに撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006211069A true JP2006211069A (ja) | 2006-08-10 |
JP4548128B2 JP4548128B2 (ja) | 2010-09-22 |
Family
ID=36967459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005017622A Expired - Fee Related JP4548128B2 (ja) | 2005-01-26 | 2005-01-26 | 欠陥検出装置および欠陥検出方法、ならびに撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4548128B2 (ja) |
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JP4548128B2 (ja) | 2010-09-22 |
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