JP2006170841A - 表示パネルの製造方法及び表示パネルの検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る製造方法は、液晶表示パネル20の表示欠損不良の有無を検査する検査工程を含む。検査工程は、輝度測定装置10を用いて、液晶表示パネル20の輝度相対データを測定する測定工程S5と、予め求められた、基準サンプルの実際の輝度と、輝度測定装置10により基準サンプルの輝度を測定した際に得られる相対的な輝度相対データとの相関関係に基づいて、輝度相対データからパネル輝度を算出する算出工程S7と、パネル輝度と所定閾値とを比較することにより、表示欠損の有無を判断する判断工程S8とを含む。
【選択図】図1
Description
11、103 バックライト
12、102 検査用テーブル
13 レンズ群
14 カメラ
15、105 画像処理装置
16、106 A/Dコンバータ
17 メモリ
18、108 演算回路
20 液晶表示パネル
100 自動検査装置
101 液晶表示パネル
104 CCDカメラ
107 画像メモリ
Claims (2)
- 表示パネルの表示欠損不良の有無を検査する検査工程を含む前記表示パネルの製造方法であって、
前記検査工程は、輝度測定装置を用いて、前記表示パネルの輝度相対データを測定する測定工程と、
予め求められた、基準サンプルの実際の輝度と、前記輝度測定装置により前記基準サンプルの輝度を測定した際に得られる相対的な輝度相対データとの相関関係に基づいて、前記輝度相対データからパネル輝度を算出する算出工程と、
前記パネル輝度と所定の閾値とを比較することにより表示欠損不良の有無を判断する判断工程と、
を含む表示パネルの製造方法。 - 表示パネルの表示欠損不良の有無を検査するための検査装置であって、
前記表示パネルからの光を受光し、前記光の強度を測定する受光素子と、
基準サンプルの実際の輝度と、前記基準サンプルから出射される光の強度を前記受光素子により測定したときに得られる輝度相対データとの相関関係を記憶するメモリと、
前記メモリに記憶された前記相関関係に基づいて、前記受光素子により測定された前記光の強度から前記表示パネルのパネル輝度を算出し、前記パネル輝度と所定の閾値とを比較することにより表示欠損不良の有無を判断する演算回路と、
を有する検査装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004364620A JP2006170841A (ja) | 2004-12-16 | 2004-12-16 | 表示パネルの製造方法及び表示パネルの検査装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004364620A JP2006170841A (ja) | 2004-12-16 | 2004-12-16 | 表示パネルの製造方法及び表示パネルの検査装置 |
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Family Applications (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013079880A (ja) * | 2011-10-04 | 2013-05-02 | Fujitsu Ltd | 画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラム |
-
2004
- 2004-12-16 JP JP2004364620A patent/JP2006170841A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2013079880A (ja) * | 2011-10-04 | 2013-05-02 | Fujitsu Ltd | 画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラム |
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