JP2006157011A - マイクロリードフレームプラスチックパッケージ用の接続構造 - Google Patents
マイクロリードフレームプラスチックパッケージ用の接続構造 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006157011A JP2006157011A JP2005341592A JP2005341592A JP2006157011A JP 2006157011 A JP2006157011 A JP 2006157011A JP 2005341592 A JP2005341592 A JP 2005341592A JP 2005341592 A JP2005341592 A JP 2005341592A JP 2006157011 A JP2006157011 A JP 2006157011A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- paddle
- ground
- mlp
- circuit board
- connection structure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49503—Lead-frames or other flat leads characterised by the die pad
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0237—High frequency adaptations
- H05K1/0243—Printed circuits associated with mounted high frequency components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01004—Beryllium [Be]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01029—Copper [Cu]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
- H01L2924/141—Analog devices
- H01L2924/1423—Monolithic Microwave Integrated Circuit [MMIC]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/30107—Inductance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3011—Impedance
- H01L2924/30111—Impedance matching
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0201—Thermal arrangements, e.g. for cooling, heating or preventing overheating
- H05K1/0203—Cooling of mounted components
- H05K1/0204—Cooling of mounted components using means for thermal conduction connection in the thickness direction of the substrate
- H05K1/0206—Cooling of mounted components using means for thermal conduction connection in the thickness direction of the substrate by printed thermal vias
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0216—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
- H05K1/0218—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference by printed shielding conductors, ground planes or power plane
- H05K1/0219—Printed shielding conductors for shielding around or between signal conductors, e.g. coplanar or coaxial printed shielding conductors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10621—Components characterised by their electrical contacts
- H05K2201/10727—Leadless chip carrier [LCC], e.g. chip-modules for cards
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10613—Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
- H05K2201/10954—Other details of electrical connections
- H05K2201/10969—Metallic case or integral heatsink of component electrically connected to a pad on PCB
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
【課題】高周波で接地が連続するマイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージ用の接続構造の提供。
【解決手段】MLPパッケージ(20)用の接続構造は、回路基板(24)に接続されるよう構成されたパドル(28)と、このパドル(28)にそれぞれ接続された第1接地パッド(26)及び第2接地パッド(26)とを有する。第1及び第2接地パッド(26)はパドル(28)と共に、パドル(28)に実装されたチップ(40)と回路基板(24)との間の接地連続性を提供するよう構成される。
【選択図】図4
【解決手段】MLPパッケージ(20)用の接続構造は、回路基板(24)に接続されるよう構成されたパドル(28)と、このパドル(28)にそれぞれ接続された第1接地パッド(26)及び第2接地パッド(26)とを有する。第1及び第2接地パッド(26)はパドル(28)と共に、パドル(28)に実装されたチップ(40)と回路基板(24)との間の接地連続性を提供するよう構成される。
【選択図】図4
Description
本発明はマイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージに関し、より詳細には、MLPパッケージ用の接続構造に関する。
高周波、マイクロ波及びミリ波の周波数において、低コスト及び製造容易さのため、プラスチックパッケージが好まれる。例えば、リードフレームは、ボールグリッドアレーパッケージで使用される基板と比較してコストが非常に低い。しかし、作動周波数が増加すると、部品/回路全体の高周波性能に関するパッケージ効果はますます重要になっている。パッケージを設計する際、良好な電気特性に加え、放熱経路、空間の要求事項又は制限、環境保護及び部品の信頼性を考慮することも重要である。
特開平5−226559号公報
プラスチックパッケージの使用は現在、例えば最大周波数が約5GHzの用途等の低い周波数用途に制限されている。これは主に、チップ−パッケージ−親基板移行部のワイヤ接合の不連続に関連した寄生(例えば、大きなインダクタンス)のためである。これらの寄生は、例えば24GHz等の高い周波数で特に深刻である。寄生はまた、接続されていない接地パッド及びパドルの使用により生ずることによって、特により高い周波数で接地が連続しない。これら寄生は、高い挿入損失、インピーダンス不整合、及び要求される周波数帯にわたる大きな応答という結果となる。また、チップ−パッケージ−親基板移行部の高周波振舞いは、周波数が高いほど電力降下が大きくなるという結果となる。
例えばモノリシックマイクロ波集積回路(MMIC)チップ自体に付加的な整合スタブを有することにより、寄生効果を克服することがある。しかし、チップ上の空間は非常に制限されていることが多いので、このオンチップ整合は複雑になるおそれがあり、実施に非常に費用がかかるおそれがある。また、整合スタブを使用すると、周波数バンド幅が非常に限定されているので、これら構成は、例えば高解像度レーザ(HRR)等の超ブロードバンド用には受け入れられなくなる。また、他の解決方法も公知であり、チップ上の増幅器を整合させるために寄生を使用する。しかし、これらの解決方法も実施が困難であるおそれがある。
また、作動周波数の問題に取り組むために、MLPパッケージのフリップチップ版も公知である。これらのパッケージにおいて、バンプが形成されたダイはリードフレームパドル上に反転され、次に標準的なプラスチックパッケージ組立法を使用して成形される。フリップチップの設計は、接合ワイヤと比較すると相互接続部がずっと短い(例えば、1mmに対して0.1mm)ので、信号インダクタンスが減少する。しかし、このようなフリップチップ法のための製造方法は大量生産に向かないおそれがある。
このため、公知のMLPパッケージは、より高い周波数で満足に作動しないか、実施するには複雑でコストがかかる。
本発明は、回路基板に接続されるよう構成されたパドルと、このパドルにそれぞれ接続された第1接地パッド及び第2接地パッドとを有するマイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージ用の接続構造を提供する。第1及び第2接地パッドはパドルと共に、パドルに実装されたチップと回路基板との間の接地連続性を提供するよう構成される。
本発明はまた、複数のバイアを使用して接地するよう構成されたパドルと、高周波回路と、パドルに接続された第1接地パッド及び第2接地パッドとを有するマイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージ基板を提供する。第1及び第2接地パッドはパドルと共に、パドルに実装されたチップと高周波回路と間の連続接地経路を提供するよう構成される。
本発明はまた、マイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージを回路基板に接続する方法を提供する。この方法は、回路基板上にパドルを設ける工程と、このパドルに接続するよう回路基板の第1接地パッド及び第2接地パッドを構成し、パドルに実装されたチップと回路基板との間に接地連続性を提供する工程とを具備する。
以下、添付図面を参照して本発明を説明する。本発明の種々の実施形態は接続構造を提供し、より特定すると、ミリ波マイクロリードフレームプラスチックパッケージを含むマイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージと共に使用するための広帯域移行部である。これらのパッケージはまた、クワッドフラットリード無し(QFN)パッケージとも称される。種々の実施形態は、(i)MLPパッケージが接続される回路基板上か、リードフレーム自体上にある整合回路すなわち整合構造と、(ii)接合ワイヤインダクタンスを補償するためのリードフレーム構成とを有する。一般的に、そして本明細書により詳細に説明されるように、親基板上の2個のパッド及び特に金属接地パッドは、パドル接地を共平面構造の高周波パッドの周囲のリードに接続する。この構造は、MLPパッケージ内のチップ(例えば集積回路(IC)チップ)の高周波信号と、チップを有するMLPパッケージが実装される親基板(例えば高周波基板)上の高周波信号との間の接地を連続にする。
特に図1に示されるように、本発明の種々の実施形態は、複数のリード22(例えば銅のリード)を有するMLPパッケージ20内にチップを実装するための接続構造を提供する。MLPパッケージ20の寸法及び形状は、例えばMLPパッケージ20が使用される特定用途又は特定システムに実装されるチップの寸法及び形状に基づいて、所望の通り又は必要に応じて変更可能であることに留意されたい。さらに、設けられるリード22の数及び位置も、例えばMLPパッケージ20内に実装されるチップに基づいて、所望の通り又は必要に応じて変更可能である。
特に図2及び図3に示されるように、典型的な一実施形態において、例えば親基板24等の回路基板に実装されるMLPパッケージ20用の接続構造が設けられる。この実施形態において、例えば親基板24上の銅パッド等の(図3により明瞭に示される)2個の接地パッド26は、接地パドルと称されることがあるパドル28(例えば銅板)に(図3により明瞭に示される)接地パッド44を介して接続される。このため、パドル28を、半田付けを使用して例えば接地パッド44の上面に実装することができる。複数のバイア(via)30(例えば銅の接続部)を、例えば接地パッド44の下の親基板24を貫通して設け、パドル28と親基板24の接地平面との間に共通接地を提供することができる。バイア30は中空であって金属めっきされてもよいし、金属で充填してもよい。また、バイア30は、例えばMLPパッケージ20内でICチップが発生する熱のための熱伝導路を提供してもよい。
接地パッド26及びパドル28は、任意の適当な材料製であり、任意の適当な方法で構成し、例えば銅パターン等で接地接続してもよい。例えばパドル28の寸法及び形状に基づいて、バイア30の数及び寸法を所望の通り又は必要に応じて変更することができる。接地パッド26は、パドル28及びバイア30を介して2本のリード22を親基板24に接続し、接地連続性を提供する。種々の実施形態において、接地が連続するような任意の適当な方法で、接地パッド26を親基板24上でパドル28と接続又は一体化してもよい。
図2及び図3にはMLPパッケージ20の一部のみが図示されていることに留意されたい。このため、追加のリード22等はMLPパッケージ20の一部として設けることができる。
(例えば銅パターン、マイクロストリップライン等の)高周波ライン32又は他の高周波回路は、親基板24の縁34から、高周波ライン32及び接地パッド26により画定される共平面部分36まで延びる。さらに、高周波ライン32は、図2及び図4により明瞭に示されるように、接合ワイヤ35を使用してMLPパッケージ20のリード22を介してMLPパッケージ20内のチップ40に接続される。図4及び図7に図示されているように、チップ40(例えばGaAsIC、SiGeIC又はCMOSのIC)を、公知の任意の方法でパドル28に実装できる。また、例えば環境からチップを保護するために、ダイコーティング42をチップ40に設けてもよい。さらに、パドル28は、例えば半田付け法を使用して親基板24の接地パッド44に実装されて示される。親基板24を任意の適当な材料又は基板で構成してもよい。
図3を再度参照すると、接地パッド26の形状及び寸法、並びに高周波ライン32と各接地パッド26との間の間隙38が与える空間は、共平面部分36で生成されるキャパシタンスが(図4及び図7に示される)接合ワイヤ35により生成されるインダクタンスとほぼ整合するように構成される。例えば、0.1mmの間隙38を設けて、30GHz周波数帯にわたって非常に良好なインピーダンス整合を提供してもよい。
図6及び図7に示されるような本発明の別の実施形態において、図2ないし図5に示されるような親基板24上にチップ−パッケージ−基板を相互接続する代わりに、リードフレームのみへの接続部(例えばリード22へ直接接続)が設けられる。この構成は図2ないし図5に示される構成に類似するが、本実施形態においてリード22は、リード22とパドル28の間に(図4に示されるような)間隙46が無くなるようにパドル28に直接接続される。しかし、本実施形態において、高周波ライン32と接地パッド44との間には間隙65がある。
作動時、チップ40上の高周波信号と親基板24上の高周波信号との間に接地連続性が提供される。特に、接地パッド26のパドル28への直接接続は、高周波ライン32から親基板24上の接地まで、バイア30を介して接地パッド26からパドル28までの接地連続性(すなわち連続した接地経路)を提供する。さらに、高周波ライン32及び接地パッド26の共平面構造は、MLPパッケージ20内のワイヤ接合35により生成されるインダクタンスに整合するキャパシタンスを生成する。共平面部分36における高周波ライン32及び接地パッド26の形状及び構造、並びに共平面部分36における高周波ライン32と接地パッド26との間の間隙38の寸法は、本明細書で説明されたように構成され、整合を与える。
このように、本発明の種々の実施形態は、チップ−パッケージ−基板移行部、特にMLPパッケージ、特により高い周波数範囲でのMLPパッケージの作動改善を可能にする共平面部分を使用した接地構造及び整合構成を提供する。この構成は、MLPパッケージに実装されたチップ上の高周波ラインと、MLPパッケージが実装される親基板上の高周波ラインとの間に接地連続性を与えることにより、ワイヤ接合の不連続性を補償する。これにより、親基板とMLPパッケージとの間の移行部分の分散パラメータが改善され、挿入損失が減少する。さらに、異なる周波数範囲での電力出力も一定になる。
本発明の種々の実施形態を使用して、ミリ波周波数での用途に使用可能なMLPパッケージを提供することができる。例えば、本発明の種々の実施形態は、超広帯域周波数システム用の24GHzのMLPパッケージを構成するように実施可能である。さらに、これら移行部のバンド幅は非常に広いので、本発明の種々の実施形態に従って構成されたMLPパッケージは、例えば光電システムにおける異なる用途に使用することが可能である。
20 マイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージ
22 リード
24 回路基板
26 接地パッド
28 パドル
30 バイア
32 高周波ライン
35 ワイヤ接合
38 間隙
40 チップ
44 第3接地パッド
65 間隙
22 リード
24 回路基板
26 接地パッド
28 パドル
30 バイア
32 高周波ライン
35 ワイヤ接合
38 間隙
40 チップ
44 第3接地パッド
65 間隙
Claims (20)
- マイクロリードフレームプラスチック(MLP)用パッケージの接続構造であって、
回路基板に接続されるよう構成されたパドルと、
前記パドルにそれぞれ接続されると共に、前記パドルに実装されたチップと前記回路基板との間の接地連続性を提供するよう前記パドルと共に構成される第1接地パッド及び第2接地パッドと
を具備することを特徴とする接続構造。 - 前記回路基板上の高周波ラインと前記チップ上の高周波ラインとをさらに具備し、
前記回路基板上の前記高周波ラインと前記チップ上の前記高周波ラインとの間で接地が連続していることを特徴とする請求項1記載の接地構造。 - 前記第1接地パッドに接続するよう構成された少なくとも第1リードと、前記第2接地パッドに接続するよう構成された少なくとも第2リードとを有する複数のリードをさらに具備することを特徴とする請求項1記載の接続構造。
- 前記回路基板上に高周波ラインをさらに具備し、
該高周波ライン並びに前記第1及び第2接地パッドは、共平面に配置されていることを特徴とする請求項1項記載の接続構造。 - 前記回路基板上の高周波ラインと、前記回路基板にチップを接続する少なくとも1本のワイヤ接合とをさらに具備し、
前記高周波ライン並びに前記第1及び第2接地パッドは、前記少なくとも1本のワイヤ接合により生成されるインダクタンスと整合するキャパシタンスを生成するよう構成されていることを特徴とする請求項1記載の接続構造。 - 前記第1及び第2接地パッドの各々と前記高周波ラインとの間に間隙をさらに有することを特徴とする請求項5項記載の接続構造。
- 前記パドルと前記高周波ラインとの間に間隙をさらに有することを特徴とする請求項5記載の接続構造。
- 前記パドルの下に第3接地パッドをさらに具備し、
前記第1及び第2接地パッドは、前記第3接地パッドを介して前記パドルに接続されていることを特徴とする請求項1記載の接続構造。 - 前記第1及び第2接地パッドは、前記MLPパッケージからリードを介して前記パッドに接続されていることを特徴とする請求項1記載の接続構造。
- 前記第1及び第2接地パッドは、前記回路基板上で前記パドルへの接続用の第3接地パッドとそれぞれ一体に形成されていることを特徴とする請求項1記載の接続構造。
- 前記パドルと前記MLPパッケージのリードとの間に間隙をさらに有し、
ワイヤ接合が前記リードを前記パドルに接続することを特徴とする請求項1記載の接続構造。 - 前記回路基板上に高周波ラインをさらに具備し、
該高周波ライン並びに前記第1及び第2接地パッドは、整合回路を提供するよう構成されていることを特徴とする請求項1記載の接続構造。 - 複数のバイアを使用して接地されるよう構成されたパドルと、
高周波回路と、
第3接地パッドを介して前記パドルに接続されると共に、前記パドルに実装されたチップと前記高周波回路との間の接地連続性を提供するよう前記パドルと共に構成される第1接地パッド及び第2接地パッドと
を具備することを特徴とするマイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージ基板。 - 前記高周波回路並びに前記第1及び第2接地パッドは、前記MLPパッケージ内で生成されるインダクタンスと整合するキャパシタンスを生成するよう構成されていることを特徴とする請求項13記載のMLPパッケージ基板。
- 前記高周波回路を前記MLPパッケージ内のチップに接続するワイヤ接合をさらに具備することを特徴とする請求項13記載のMLPパッケージ基板。
- 前記高周波回路並びに前記第1及び第2接地パッドは、前記ワイヤ接合により生成されるインダクタンスと整合するキャパシタンスを生成するよう構成されていることを特徴とする請求項15記載のMLPパッケージ基板。
- 前記高周波回路並びに前記第1及び第2接地パッドは、共平面に配置されていることを特徴とする請求項13項記載のMLPパッケージ基板。
- 前記MLPパッケージはリードを具備し、
前記接地パッドは、前記MLPパッケージのリードフレームを介して前記リードに接続されていることを特徴とする請求項13記載のMLPパッケージ基板。 - マイクロリードフレームプラスチック(MLP)パッケージを回路基板に接続する方法であって、
回路基板上にパドルを設ける工程と、
該パドルに接続するよう前記回路基板の第1接地パッド及び第2接地パッドを構成し、前記パドルに実装されたチップと前記回路基板との間に接地連続性を提供する工程と
を具備することを特徴とする接続方法。 - 前記第1及び第2接地パッドと共平面の配置で、前記回路基板に形成された高周波回路を構成する工程をさらに具備することを特徴とする請求項19記載の接続方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/999,591 US7211887B2 (en) | 2004-11-30 | 2004-11-30 | connection arrangement for micro lead frame plastic packages |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006157011A true JP2006157011A (ja) | 2006-06-15 |
Family
ID=36353337
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005341592A Pending JP2006157011A (ja) | 2004-11-30 | 2005-11-28 | マイクロリードフレームプラスチックパッケージ用の接続構造 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7211887B2 (ja) |
EP (1) | EP1675178A3 (ja) |
JP (1) | JP2006157011A (ja) |
CN (1) | CN1797760A (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8399968B2 (en) * | 2005-11-18 | 2013-03-19 | Stats Chippac Ltd. | Non-leaded integrated circuit package system |
TWI302813B (en) * | 2006-01-11 | 2008-11-01 | Via Tech Inc | Circuit board and electronic assembly |
US8003443B2 (en) * | 2006-03-10 | 2011-08-23 | Stats Chippac Ltd. | Non-leaded integrated circuit package system with multiple ground sites |
US8062934B2 (en) * | 2006-06-22 | 2011-11-22 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit package system with ground bonds |
TWI315567B (en) * | 2006-11-10 | 2009-10-01 | Via Tech Inc | Electronic assembly and circuit board |
US7768105B2 (en) * | 2007-01-24 | 2010-08-03 | Fairchild Semiconductor Corporation | Pre-molded clip structure |
US7755173B2 (en) * | 2007-06-26 | 2010-07-13 | M/A-Com Technology Solutions Holdings, Inc. | Series-shunt switch with thermal terminal |
US8664038B2 (en) * | 2008-12-04 | 2014-03-04 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit packaging system with stacked paddle and method of manufacture thereof |
US20110115063A1 (en) * | 2009-11-18 | 2011-05-19 | Entropic Communications, Inc. | Integrated Circuit Packaging with Split Paddle |
US10271448B2 (en) * | 2012-08-06 | 2019-04-23 | Investar Corporation | Thin leadframe QFN package design of RF front-ends for mobile wireless communication |
US9515032B1 (en) | 2015-08-13 | 2016-12-06 | Win Semiconductors Corp. | High-frequency package |
US10128170B2 (en) | 2017-01-09 | 2018-11-13 | Silanna Asia Pte Ltd | Conductive clip connection arrangements for semiconductor packages |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5386576A (en) * | 1977-01-10 | 1978-07-31 | Nec Corp | Package for semiconductor element |
US4975761A (en) * | 1989-09-05 | 1990-12-04 | Advanced Micro Devices, Inc. | High performance plastic encapsulated package for integrated circuit die |
US5153379A (en) * | 1990-10-09 | 1992-10-06 | Motorola, Inc. | Shielded low-profile electronic component assembly |
US5557144A (en) * | 1993-01-29 | 1996-09-17 | Anadigics, Inc. | Plastic packages for microwave frequency applications |
US5422664A (en) * | 1993-06-25 | 1995-06-06 | Xerox Corporation | Method and apparatus for maintaining constant drop size mass in thermal ink jet printers |
KR960000706B1 (ko) * | 1993-07-12 | 1996-01-11 | 한국전기통신공사 | 전력소자용 플라스틱 패키지 구조 및 그 제조방법 |
US6061251A (en) * | 1997-09-08 | 2000-05-09 | Hewlett-Packard Company | Lead-frame based vertical interconnect package |
JP4623850B2 (ja) * | 2001-03-27 | 2011-02-02 | 京セラ株式会社 | 高周波半導体素子収納用パッケージおよびその実装構造 |
US6791166B1 (en) * | 2001-04-09 | 2004-09-14 | Amkor Technology, Inc. | Stackable lead frame package using exposed internal lead traces |
US6828658B2 (en) * | 2002-05-09 | 2004-12-07 | M/A-Com, Inc. | Package for integrated circuit with internal matching |
WO2004075336A1 (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 高周波回路 |
US7026664B2 (en) * | 2003-04-24 | 2006-04-11 | Power-One, Inc. | DC-DC converter implemented in a land grid array package |
TWI249832B (en) * | 2003-11-10 | 2006-02-21 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Lead frame and semiconductor package with the lead frame |
US7261793B2 (en) * | 2004-08-13 | 2007-08-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | System and method for low temperature plasma-enhanced bonding |
-
2004
- 2004-11-30 US US10/999,591 patent/US7211887B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-11-28 JP JP2005341592A patent/JP2006157011A/ja active Pending
- 2005-11-29 EP EP05111431A patent/EP1675178A3/en not_active Withdrawn
- 2005-11-30 CN CNA2005101270723A patent/CN1797760A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1797760A (zh) | 2006-07-05 |
EP1675178A3 (en) | 2008-05-28 |
EP1675178A2 (en) | 2006-06-28 |
US7211887B2 (en) | 2007-05-01 |
US20060113646A1 (en) | 2006-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2006157011A (ja) | マイクロリードフレームプラスチックパッケージ用の接続構造 | |
US7911066B2 (en) | Through-chip via interconnects for stacked integrated circuit structures | |
JP2009038696A (ja) | アンテナ付き集積回路パッケージ | |
CN204119175U (zh) | 一种基于pcb工艺的超宽带微波功率放大器模块 | |
KR20010110421A (ko) | 집적 고주파 능력을 갖는 다중 칩 모듈 | |
TWI594380B (zh) | 封裝結構及三維封裝結構 | |
US8436450B2 (en) | Differential internally matched wire-bond interface | |
US6414387B1 (en) | Semiconductor device including a chip having high-frequency circuit blocks | |
JP2022104789A (ja) | 前面インターポーザ端子とモジュールを通じる熱散逸構造とを有する回路モジュール | |
JP2022104788A (ja) | グランド端子が電力増幅器ダイに隣接する増幅器モジュールおよびシステム | |
US5889319A (en) | RF power package with a dual ground | |
US6998292B2 (en) | Apparatus and method for inter-chip or chip-to-substrate connection with a sub-carrier | |
US20010048155A1 (en) | Interchangeable bond-wire interconnects | |
US11362011B2 (en) | Power amplification device | |
Namaki et al. | A tunable macro-modeling method for signal transition in mm-wave flip-chip technology | |
KR20040063784A (ko) | 반도체장치 | |
US6780057B2 (en) | Coaxial dual pin sockets for high speed I/O applications | |
CN112614813A (zh) | 超高频表贴陶瓷垂直互联结构及封装结构 | |
WO2020115830A1 (ja) | 半導体装置及びアンテナ装置 | |
US7105924B2 (en) | Integrated circuit housing | |
JPH0936617A (ja) | 高周波モジュール | |
JP2007235149A (ja) | 半導体装置および電子装置 | |
TWI528507B (zh) | Chip package structure | |
JP2007129078A (ja) | 半導体装置、電子機器及び実装方法 | |
JP2001284490A (ja) | 高周波接地構造 |