JP2006156814A - マルチチップパッケージ半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】MCP内部で必要な複数の電源電圧および複数のチップイネーブル制御信号をMCP内部で生成し、複数の半導体集積回路チップ(例えばメモリチップ)に供給可能とする。
【解決手段】少なくともチップイネーブル制御信号で制御される複数の半導体集積回路チップ201、202、203が1個のマルチチップパッケージに実装されたMCP半導体装置において、外部から供給された一つの電源電圧を昇圧あるいは降圧して新たな電源電圧を生成する電源電圧変換回路およびチップイネーブル制御信号を生成するチップイネーブル生成回路を含んだ電源/アドレス変換チップ204を搭載し、生成した電源電圧およびチップイネーブル制御信号を別の半導体集積回路チップに供給する。
【選択図】 図1
【解決手段】少なくともチップイネーブル制御信号で制御される複数の半導体集積回路チップ201、202、203が1個のマルチチップパッケージに実装されたMCP半導体装置において、外部から供給された一つの電源電圧を昇圧あるいは降圧して新たな電源電圧を生成する電源電圧変換回路およびチップイネーブル制御信号を生成するチップイネーブル生成回路を含んだ電源/アドレス変換チップ204を搭載し、生成した電源電圧およびチップイネーブル制御信号を別の半導体集積回路チップに供給する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、マルチチップパッケージ(Multi-Chip-Package)(MCP)半導体装置に係り、特に複数種類の電源電圧を使用する複数の半導体チップを1個のMCPに実装したMCP半導体装置に関する。
最近、複数種類の電源電圧を使用する複数の半導体チップを1個のMCPに実装した複数電源使用タイプのMCP半導体装置を使用するシステム(例えば携帯用電子機器)が多くなっている。
このようなシステムにおいて、従来は、必要な電源電圧の種類に応じた種類の電源用部品をシステム側に用意し、システム側で生成された各電源電圧をMCPの外部端子から入力していた。したがって、従来の複数電源使用タイプのMCP半導体装置は、各半導体チップが必要とする種類と個数の電源電圧端子を外部端子として設けていたので、以下に述べるような問題点があった。
(1)MCPの外部端子の総数が多くなる。これに伴い、MCP半導体装置内で複数の半導体チップを搭載する1個のパッケージ基板上のフレーム(リード端子)の個数、および配線の本数が多くなる。このため、パッケージ基板上の配線の設計が難しくなる場合や、配線の幅、間隔を大きくできないという制約が生じる場合が生じる。
(2)MCP半導体装置へ供給する電源電圧の種類が多いと、システム側で用意する電源用部品の数が増える。
一方、複数のメモリチップを1個のMCP半導体装置に実装する場合、1個のMCP半導体装置で必要とする特定種類のメモリ、例えばPseudo(擬似)Static RAM (PSRAM)の合計容量を1チップで構成できる場合は、1チップの制御に必要な制御信号ピン、アドレス入力ピン、データI/OピンをMCP半導体装置の外部端子として1組用意しておけば問題ない。しかし、現実のMCP半導体装置を開発する際には、諸々の事情により、必要な搭載容量を複数のメモリチップにより構成しなくてはならない場合が多々ある。
例えば、全体で256MbitのPSRAMをMCP半導体装置に搭載したいが、市場で入手できるPSRAMチップは128Mbitが最大容量である場合、あるいは256MbitのPSRAMチップは手に入るが、256MbitのPSRAMチップを1個使って構成するよりも128MbitのPSRAMチップを2個使って構成する方がコスト的に有利な場合などの理由で、128MbitのPSRAMチップを2個使って構成にする場合がある。あるいは、システム側の都合上、PSRAMとして192Mbitが必要で、市場状況としても、128MbitのPSRAMチップと64MbitのPSRAMチップを1個ずつ使って構成するのがコスト的にも有利な場合などである。
他方、一般に、メモリチップのチップイネーブル制御信号は、メモリチップ1個あたり1本の入力信号として入力され、そのチップが選択(イネーブル)状態か非選択(ディセーブル)状態かの制御を行うのに使われる。したがって、前記したようにMCP半導体装置で必要とする特定種類のメモリを同一種類の2個以上のメモリチップを使って構成する場合においては、チップイネーブル制御信号以外のアドレス入力信号、データI/O信号などは共通に複数チップに接続して使用することができる。しかし、チップイネーブル制御信号は複数のメモリチップを選択制御する必要があるため、メモリチップの個数分の本数が必要になる。その理由は、各メモリチップの選択制御を行うチップイネーブル制御信号は、通常は負論理であり、活性化レベル"Low"が入力された場合にそのチップが選択されたことになるので、複数のメモリチップを選択するために割り当てられた上位のアドレス信号をそのままチップイネーブル制御信号として入力することはできないからである。
しかし、システム側としては、MCP半導体装置内の合計のメモリ容量に相当するアドレス信号には十分に余裕があるにも拘らず、個々のメモリチップのアドレス空間を制御するためのメモリデバイス用のチップイネーブル制御信号の本数には限りがある場合が多い。即ち、前記したようなメモリチップの価格などの市場状況に起因して、メモリチップ1個あたりのアドレス空間を比較的小容量で構成しなくてはならない。その結果として、できれば分けたくない多数のメモリチップのアドレス空間毎にチップイネーブル制御信号を供給することになる。換言すると、システム側としては、MCP半導体装置内のメモリを本来は一つのメモリとして扱いたいが、複数のメモリチップが使われているためにそれぞれのアドレス空間を別々にして複数のチップイネーブル制御信号を使わざるを得ないということになっている。
このような状況は、例えば音楽、静止画、動画などのマルチメディア機能を多く搭載する携帯電話のシステムなどでは、多種のメモリデバイスを制御する必要があるので、特に重要な問題になることが多い。
図9は、MCP半導体装置の第1の従来例を示す。このMCP半導体装置は、1つのMCP 100内に、128Mbitの1個のPSRAM チップ101と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ102の合計2チップを実装している。ここで、PSRAMチップ101のI/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ102のI/Oは16ビット(PSRAMチップ101と共通)、VDD=1.8Vである。
このMCP半導体装置において、16ビットのI/O端子は、PSRAMチップ101とNAND Flashチップ102で共通に使用しているが、各チップで使用している他の端子に関しては、全て独立にMCPの外部端子として設定されている。即ち、128MbitのPSRAMチップ101に対して、VDD用の電源端子、VDDQ用の電源端子を使用する。その結果、MCP 100の外部端子の合計は58端子となっている。なお、上記VDDQは、チップ内のデータI/O回路が他の回路とは異なる電源電圧仕様である場合に使用するデータI/O端子用の電源電圧である。
図10は、MCP半導体装置の第2の従来例を示す。このMCP半導体装置は、1つのMCP 200内に、64MbitのPSRAMチップ201を2個(合計で128Mbit)と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ202の合計3チップを実装している。ここで、PSRAMチップ201のI/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ202のI/Oは16ビット(PSRAMチップ201と共通)、VDD=1.8Vである。
このMCP半導体装置においても、図9と同様に、16ビットのI/O端子のみは、2個のPSRAMチップ201と1個のNAND Flash202とで共通に使用している。64Mbitの2個のPSRAMチップ201に対して、アドレス、各種の制御信号は共通に使用されているが、チップイネーブル信号/CEのみはチップ毎に別の信号となっている。その結果、図9のMCP半導体装置と比べてチップイネーブル信号/CE端子は1本追加されているが、アドレス信号は1本減っている。したがって、MCP 200の外部端子の合計は図9のMCP半導体装置と同様に58端子となっている。
図11は、MCP半導体装置の第3の従来例を示す。このMCP半導体装置は、1つのMCP 300内に、32Mbitの4個のPSRAMチップ301と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ302の合計5チップを実装している。ここで、PSRAMチップ301のI/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ302のI/Oは16ビット(PSRAMチップ301と共通)、VDD=1.8Vである。
このMCP半導体装置においても、図9のMCP半導体装置と同様に、16ビットのI/O端子は、4個のPSRAMチップ301と1個のNAND Flashチップ302で共通に使用している。4個のPSRAMチップ301に対して、アドレス、各種の制御信号は共通に使用されているが、チップイネーブル信号/CEのみはチップ毎に別の信号となっている。その結果、図9のMCP半導体装置と比べて、チップイネーブル信号/CE端子は3本追加されているが、アドレス信号は2本減っている。したがって、MCP 300の外部端子の合計は図9のMCP半導体装置より1つ多い59端子となっている。
図12は、MCP半導体装置の第4の従来例を示す。このMCP半導体装置は、1つのMCP 400内に、32Mbitの1個のPSRAMチップ401および64Mbitの1個のPSRAMチップ402と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ403の合計3チップを実装している。ここで、各PSRAMチップ401、402とも、I/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ403のI/Oは16ビット(PSRAMチップ401、402と共通)、VDD=1.8Vである。
このMCP半導体装置においても、図9のMCP半導体装置と同様に、16ビットのI/O端子のみは、2個のPSRAMと1個のNAND Flashで共通に使用している。2個のPSRAMチップ401、402に対して、アドレス、各種の制御信号は共通に使用されているが、チップイネーブル信号/CEのみはチップ毎に別の信号となっている。その結果、図9のMCP半導体装置と比べて、アドレスピンが1個減り、PSRAMチップ用の/CEピンが1個増えている。したがって、MCP 400の外部端子の合計は図9のMCP半導体装置と同様に58端子となっている。
なお、特許文献1には、1つのチップ上の電源回路で異なる電圧値を生成する点が開示されている。
特開2000−246541号公報
本発明は前記した従来の問題点を解決すべくなされたもので、全体として外部端子数を増やさずに、複数の半導体集積回路チップの容量の選択の自由度を向上させ得るマルチチップパッケージ半導体装置を提供することを目的とする。
本発明のマルチチップパッケージ半導体装置は、少なくともチップイネーブル制御信号で制御される複数の半導体集積回路チップが1個のマルチチップパッケージに実装されたマルチチップパッケージ半導体装置において、外部から供給された一つの電源電圧を昇圧あるいは降圧して新たな電源電圧を生成する電源電圧変換回路および前記チップイネーブル制御信号を生成するチップイネーブル生成回路を含んだ電源・チップイネーブル生成用の半導体集積回路チップを搭載し、生成した電源電圧およびチップイネーブル制御信号を別の半導体集積回路チップに供給することを特徴とする。
本発明によれば、全体として外部端子数を増やさずに、複数の半導体集積回路チップの容量の選択の自由度を向上させ得るマルチチップパッケージ半導体装置を提供することができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。この説明に際して、全図にわたり共通する部分には共通する参照符号を付す。
<第1の実施形態>
図1は、本発明のMCP半導体装置の第1の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図10を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源生成機能およびチップイネーブル生成機能を持つ電源・チップイネーブル生成用の半導体集積回路チップ(以下、電源/アドレス変換チップ203と呼ぶ)が追加されて実装されており、それに伴ってMCP の外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。上記電源/アドレス変換チップ203は、外部から供給される一つの電源電圧から昇圧あるいは降圧して新たな電源電圧を生成する電源電圧変換回路および前記チップイネーブル制御信号を生成するチップイネーブル生成回路を含む。
図1は、本発明のMCP半導体装置の第1の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図10を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源生成機能およびチップイネーブル生成機能を持つ電源・チップイネーブル生成用の半導体集積回路チップ(以下、電源/アドレス変換チップ203と呼ぶ)が追加されて実装されており、それに伴ってMCP の外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。上記電源/アドレス変換チップ203は、外部から供給される一つの電源電圧から昇圧あるいは降圧して新たな電源電圧を生成する電源電圧変換回路および前記チップイネーブル制御信号を生成するチップイネーブル生成回路を含む。
即ち、このMCP半導体装置は、1つのMCP200a内に、64MbitのPSRAMチップ201を2個(合計で128Mbit)と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ202と、電源/アドレス変換チップ203の合計4チップを実装している。ここで、PSRAMチップ201のI/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ202のI/Oは16ビット(PSRAMチップ201と共通)、VDD=1.8Vである。
図1のMCP半導体装置においては、16ビットのI/O端子は、2個のPSRAMチップ201と1個のNAND Flashチップ202とで共通に使用しており、電源電圧VDD(PS) 3.0Vの端子および接地電位GND(PS)の端子はPSRAMチップ201と電源/アドレス変換チップ203で共通に使用している。また、64Mbitの2個のPSRAMチップ201に対して、アドレス信号A0〜A21(PS)や、チップセレクト信号/CS(PS)、出力イネーブル信号/OE(PS)、ライトイネーブル信号/WE(PS)、上位バイト指定信号/UB(PS)、下位バイト指定信号/LB(PS)などの制御信号は共通に使用されているが、チップイネーブル信号/C(PS)はチップ毎に別の信号となっている。その他、NAND Flashチップ202で個別に使用している外部端子としては、チップイネーブル信号/CE(N)、ライトイネーブル信号/WE(N)、リードイネーブル信号/RE(N)などがある。
即ち、図1のMCP半導体装置において、外部から供給される電源電圧VDD(PS) 3.0Vが、2個のPSRAMチップ201の電源電圧VDD(PS) 3.0Vおよび電源/アドレス変換チップ203の電源電圧VD(入力)3.0Vとして入力する。そして、電源/アドレス変換チップ203で生成された電源電圧VDDQ(出力)1.8Vを2個のPSRAMチップ201のI/O用の電源電圧VDDQ(PS)1.8VおよびNAND Flashチップ202の電源電圧VDD(N)1.8Vとして直接供給している。この場合、電源/アドレス変換チップ203の電源電圧VDDQ(出力)1.8V用のパッドから2個のPSRAMチップ201上の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用のパッドおよびNAND Flashチップ203上の電源電圧VDD(N)1.8V用のパッドへ直接にワイヤボンディング(チップ間直接ボンディング)により配線されている。なお、チップ間直接ボンディングの様子は、後出の例えば図6に一例を示す。上記VDDQは、チップ内のデータI/O回路の電源電圧仕様が他の回路とは異なる場合に使用するデータI/O端子用の電源電圧である。
また、図10を参照して前述した従来例のMCP半導体装置で必要とした2個のPSRAMチップ201を制御するための2個のチップイネーブル信号/CE(PS)1、/CE(PS)2に替えて、全体で128Mbit分のPSRAMの選択制御を行うためのチップイネーブル信号/CE(PS)を使い、電源/アドレス変換チップへの入力信号としている。
さらに、図10を参照して前述した従来例のMCP半導体装置では、アドレス信号は、64MbitのPSRAM用にA0〜A21(PS)の22本のみで足りたが、64MbitのPSRAMチップ201の2個分である合計128MbitのPSRAM用に最上位アドレスA22を外部から追加入力し、電源/アドレス変換チップ203への入力信号としている。
そして、電源/アドレス変換チップ203は、入力信号/CE(PS)、A22に基づいてチップイネーブル信号/CEout9と/CEout10を生成し、それぞれ64Mbitの2個のPSRAMチップ201のチップイネーブル信号/CE(PS)として供給する。このために電源/アドレス変換チップ203と2個のPSRAMチップ201とは、チップ間直接ボンディングにより配線されている。
その結果、図1のMCP半導体装置においては、電源/アドレス変換チップ203を使わない従来例の図10のMCP半導体装置と比べて、アドレス/チップイネーブル関連の外部端子は、チップイネーブル信号/CE端子およびアドレス信号A22端子はそれぞれ1本追加されている(図中、細い実線で囲む)が、チップイネーブル信号/CE(PS)1端子、/CE(PS)2端子は不要になるので、外部端子数は不変である。また、電源関連の外部端子は、PSRAMチップ201用の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用の外部端子とNAND Flashチップ202用の電源電圧VDD(N)1.8V用の外部端子の合計2個を削減可能(図中、破線で囲む)になる。したがって、MCP 200aの外部端子の合計は、図10のMCP半導体装置と比べて2本減少し、56端子となっている。
なお、電源/アドレス変換チップ203で入力信号/CE(PS)、A22に基づいて2個のチップイネーブル信号/CE(PS)を生成する処理は、従来例の図10のMCP半導体装置を使用するシステム(MCPの外部)において行われていたことであり、あたかも入力信号/CE(PS)、A22が追加信号として必要になったように思える。しかし、MCPに実装されるチップ内で全てのチップイネーブル信号の作成が可能になったという意味でシステム全体としては部品数の削減が実現される。
次に、図1中の電源/アドレス変換チップ203の電源生成機能(電源電圧変換機能)およびチップイネーブル生成機能を詳細に説明する。
(1)電源生成機能(電源電圧変換機能)
入力された電源電圧を降圧あるいは昇圧した電源電圧を生成して他チップに供給する能力を持つ。例えば、5V、3V、2.5V、1.8V、1.3Vのいずれかの電源電圧を入力し、それに基づいて5V、3V、2.5V、1.8V、1.3Vのいずれかの電源電圧を生成して出力する。
入力された電源電圧を降圧あるいは昇圧した電源電圧を生成して他チップに供給する能力を持つ。例えば、5V、3V、2.5V、1.8V、1.3Vのいずれかの電源電圧を入力し、それに基づいて5V、3V、2.5V、1.8V、1.3Vのいずれかの電源電圧を生成して出力する。
(2)チップイネーブル生成機能
入力された複数のアドレス信号A0,A1,A2および/CE信号に基づいて各チップの活性化/非活性化を選択制御するための信号/CEoutを生成して出力する。上記入力信号A0,A1,A2、/CEおよび出力信号/CEout1〜14の電圧は、使用するチップでの電圧仕様に応じて、5V,3V,2.5V,1.8V および1.3Vのいずれかを選べるような機能を持つ。
入力された複数のアドレス信号A0,A1,A2および/CE信号に基づいて各チップの活性化/非活性化を選択制御するための信号/CEoutを生成して出力する。上記入力信号A0,A1,A2、/CEおよび出力信号/CEout1〜14の電圧は、使用するチップでの電圧仕様に応じて、5V,3V,2.5V,1.8V および1.3Vのいずれかを選べるような機能を持つ。
図2は、図1中の電源/アドレス変換チップ203の一例を示すブロック図である。電源電圧変換回路2031は、外部から供給された一つの電源電圧を昇圧あるいは降圧して新たな電源電圧を生成して他チップに供給する機能を持つ。本例では、5V、3V、2.5V、1.8V、1.3Vのいずれかの電源電圧が入力し、それに基づいて5V、3V、2.5V、1.8V、1.3Vのいずれかの電源電圧を生成して出力する。
アドレス・/CE変換回路2032は、アドレス信号およびメモリシステム制御信号/CEを入力して複数のチップイネーブル制御信号/CEout信号を生成して出力する。ここで、メモリシステム制御信号/CEは、特定種類のメモリの最大容量のチップの活性化/非活性化を制御するためのチップイネーブル制御信号であり、そのタイミングを基にして複数チップを選択制御するための複数の制御信号/CEout信号を生成する。
図3は、図2中のアドレス・/CE変換回路2032の一具体例を示す回路図である。本例のアドレス・/CE変換回路では、チップ選択用に割り当てられた上位アドレスの3ビットの信号A0,A1,A2および1ビットの/CE信号を入力して14個のチップイネーブル制御信号/CEout1〜/CEout14を選択的に生成して出力するように複数のデコーダ回路(NANDゲート回路)2033が設けられている。
この場合、1ビットのメモリシステム制御信号/CEのタイミングを基にして3ビットの信号A0,A1,A2をデコードすることにより、最大8個のメモリチップ用の/CEout1〜/CEout8を選択的に活性化("Low"レベル)することが可能である。
また、1ビットのメモリシステム制御信号/CEのタイミングを基にして1ビットの信号A2の論理レベルに応じて2個のメモリチップ用の/CEout9〜/CEout10を選択的に活性化("Low"レベル)することが可能である。
また、1ビットのメモリシステム制御信号/CEのタイミングを基にして2ビットの信号A1,A2をデコードすることにより、最大4個のメモリチップ用の/CEout11〜/CEout14を選択的に活性化("Low"レベル)することが可能である。
即ち、同じ容量のチップを搭載する場合には、2チップまでなら/CEout9〜/CEout10を使用し、4チップまでなら/CEout11〜/CEout14を使用し、8チップまでなら/CEout1〜/CEout8を使用すればよい。さらに、容量が異なる複数チップを搭載する場合には、前記/CEout1〜/CEout14のいずれかを組み合わせて使用すればよい。
上記した第1の実施形態に係るMCP半導体装置によれば、MCP内部で必要な複数の電源電圧および複数のチップイネーブル制御信号を電源/アドレス変換チップ上で生成し、複数のメモリチップに供給することができる。
この際、電源系統については、外部からある電圧値の電源を供給し、他の電圧値の電源を電源/アドレス変換チップ上で生成し、これを必要とする他のチップに供給する。これにより、外部からMCPへ供給する電源電圧の種類を低減することができる(電源電圧は最低で一通りで済む)。
また、チップイネーブル制御系統については、MCPに特定種類の半導体メモリを搭載する場合には、搭載する可能性のある最大容量に相当する1個のメモリチップを想定し、それに必要なアドレス信号の数と、チップイネーブル制御信号に対応する外部端子を設けておけばよい。また、実際に搭載する特定種類の半導体メモリの容量が最大容量よりも少なく、実際に搭載する特定種類の半導体メモリとして最大容量より小さい容量のメモリチップを複数個使って構成することが可能になり、メモリ構成の自由度が増す。また、メモリチップの最終的な搭載数に応じたチップイネーブル制御信号を外部入力信号として用意しておく必要がなくなる。したがって、MCPへ入力するチップイネーブル制御信号の個数を減らすことができるので、MCPへの合計の入力信号本数を削減することができる。
しかも、従来はMCPの外部で行っていた複数種類の電源電圧の生成、複数本数のチップイネーブル制御信号の生成に関わる部品を削減することができる。結果として、MCPの外部端子数の削減および外部部品点数の削減により、本発明のMCP半導体装置を使用するシステム全体のコストおよびスペースの大幅な低減を実現することになる。
<第2の実施形態>
図4は、本発明のMCP半導体装置の第2の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図11を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源/アドレス変換チップ303が追加されて実装されており、それに伴ってMCPの外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。
図4は、本発明のMCP半導体装置の第2の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図11を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源/アドレス変換チップ303が追加されて実装されており、それに伴ってMCPの外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。
このMCP半導体装置は、1つのMCP 300a内に、32MbitのPSRAMチップ301を4個と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ302と、電源/アドレス変換チップ303の合計6チップを実装している。ここで、PSRAMチップ301のI/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ302のI/Oは16ビット(PSRAM チップ301と共通)、VDD=1.8Vである。
このMCP半導体装置においては、図11のMCP半導体装置と同様に、16ビットのI/O端子は、4個のPSRAM チップ301と1個のNAND Flashチップ302で共通に使用している。また、4個のPSRAM チップ301に対して、アドレス信号A0〜A20(PS)や、チップセレクト信号/CS(PS)、出力イネーブル信号/OE(PS)、ライトイネーブル信号/WE(PS)、上位バイト指定信号/UB(PS)、下位バイト指定信号/LB(PS)などの制御信号は共通に使用されているが、チップイネーブル信号/C(PS)はチップ毎に別の信号となっている。その他、NAND Flashチップで個別に使用している外部端子としては、チップイネーブル信号/CE(N)、ライトイネーブル信号/WE(N)、リードイネーブル信号/RE(N)などがある。
即ち、図4のMCP半導体装置において、外部から供給される電源電圧VDD(PS) 3.0Vが、4個のPSRAMチップ301の電源電圧VDD(PS) 3.0Vおよび電源/アドレス変換チップ303の電源電圧VD(入力)3.0Vとして入力する。そして、電源/アドレス変換チップ303で生成された電源電圧VDDQ(出力)1.8Vを4個のPSRAMチップ301のI/O 用の電源電圧VDDQ(PS)1.8VおよびNAND Flash用の電源電圧VDD(N)1.8Vとして直接供給している。この場合、電源/アドレス変換チップ303の電源電圧VDDQ(出力)1.8V用のパッドから4個のPSRAMチップ301上の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用のパッドおよびNAND Flashチップ302上の電源電圧VDD(N)1.8V用のパッドへチップ間直接ボンディングにより配線されている。
また、図11を参照して前述した従来例のMCP半導体装置で必要とした4個のPSRAMチップ301を制御するための4個のチップイネーブル信号/CE(PS)1、/CE(PS)2、/CE(PS)3、/CE(PS)4に替えて、全体で128Mbit分のPSRAMの選択制御を行うためのチップイネーブル信号/CE(PS)を使い、電源/アドレス変換チップ303への入力信号としている。
さらに、図11を参照して前述した従来例のMCP半導体装置では、アドレス信号は、32MbitのPSRAM用にA0〜A20(PS)の21本のみで足りたが、32MbitのPSRAMの4個分である合計128MbitのPSRAM用に上位アドレスA21、A22を外部から追加入力し、電源/アドレス変換チップ303への入力信号としている。
そして、電源/アドレス変換チップ303は、入力信号/CE(PS)、A21、A22に基づいてチップイネーブル信号/CEout11、/CEout12、/CEout13および/CEout14を生成し、それぞれ32Mbitの4個のPSRAMチップ301のチップイネーブル信号/CE(PS)として供給する。電源/アドレス変換チップ303と4個のPSRAMチップ301とはチップ間直接ボンディングにより配線されている。
その結果、図4のMCP半導体装置においては、電源/アドレス変換チップ303を使わない従来例の図11のMCP半導体装置と比べて、アドレス/チップイネーブル関連の外部端子は、アドレス信号A21、A22の端子が2本、チップイネーブル信号/CE端子が1本(合計で3本)追加されている(図中、細い実線で囲む)。しかし、チップイネーブル信号/CE(PS)1、/CE(PS)2、/CE(PS)3、/CE(PS)4の端子は削減可能(図中、点線で囲む)になるので、全体の端子数として1本減少する。
また、電源関連の外部端子は、PSRAMチップ301用の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用の外部端子とNAND Flashチップ302用の電源電圧VDD(N)1.8V用の外部端子の合計2個を削減可能(図中、破線で囲む)になる。したがって、MCPの外部端子の合計は、図11のMCP半導体装置と比べて3本減少し、56端子となっている。
なお、前記した電源/アドレス変換チップ303で入力信号/CE(PS)、A21、A22に基づいて4個のチップイネーブル信号/CE(PS)を生成する処理は、従来例の図11のMCP半導体装置を使用するシステム(MCPの外部)において行われていたことであり、あたかも入力信号/CE(PS)、A21、A22が追加信号として必要になったように思える。しかし、MCPに実装されるチップ内で全てのチップイネーブル信号の作成が可能になったという意味でシステム全体としては部品数の削減が実現される。
<第3の実施形態>
図5は、本発明のMCP半導体装置の第3の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図12を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源/アドレス変換チップ404が追加されて実装されており、それに伴ってMCPの外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。
図5は、本発明のMCP半導体装置の第3の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図12を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源/アドレス変換チップ404が追加されて実装されており、それに伴ってMCPの外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。
このMCP半導体装置は、1つのMCP 400a内に、32Mbitの1個のPSRAMチップ401および64Mbitの1個のPSRAMチップ402と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ403と、電源/アドレス変換チップ404の合計4チップを実装している。ここで、各PSRAMチップ401、402とも、I/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ403のI/Oは16ビット(PSRAMチップ401、402と共通)、VDD=1.8Vである。
このMCP半導体装置においては、図12のMCP半導体装置と同様に、16ビットのI/O端子は、2個のPSRAM401、402と1個のNAND Flashチップ403で共通に使用している。2個のPSRAM401、402に対して、アドレス信号A0〜A21(PS)や、チップセレクト信号/CS(PS)、出力イネーブル信号/OE(PS)、ライトイネーブル信号/WE(PS)、上位バイト指定信号/UB(PS)、下位バイト指定信号/LB(PS)などの制御信号は共通に使用されている。チップイネーブル信号/C(PS)はチップ毎に別の信号となっている。その他、NAND Flashチップ403で個別に使用している外部端子としては、チップイネーブル信号/CE(N)、ライトイネーブル信号/WE(N)、リードイネーブル信号/RE(N)などがある。
即ち、図5のMCP半導体装置において、外部から供給される電源電圧VDD(PS) 3.0Vが、2個のPSRAMチップ401、402の電源電圧VDD(PS) 3.0Vおよび電源/アドレス変換チップの電源電圧VD(入力)3.0Vとして入力する。そして、電源/アドレス変換チップ404で生成された電源電圧VDDQ(出力)1.8Vを2個のPSRAM401、402のI/O用の電源電圧VDDQ(PS)1.8VおよびNAND Flashチップ403用の電源電圧VDD(N)1.8Vとして直接供給している。この場合、電源/アドレス変換チップ404の電源電圧VDDQ(出力)1.8V用のパッドから2個のPSRAMチップ401、402上の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用のパッドおよびNAND Flashチップ403上の電源電圧VDD(N)1.8V用のパッドへチップ間直接ボンディングにより配線されている。
また、図12を参照して前述した従来例のMCP半導体装置で必要とした2個のPSRAMチップ401、402を制御するための2個のチップイネーブル信号/CE(PS)1、/CE(PS)2に替えて、全体で96Mbit分のPSRAMの選択制御を行うためのチップイネーブル信号/CE(PS)を使い、電源/アドレス変換チップへの入力信号としている。
さらに、図12を参照して前述した従来例のMCP半導体装置では、アドレス信号は、32MbitのPSRAMチップ401用にA0〜A20(PS)の21本、あるいは64MbitのPSRAMチップ402用にA0〜A21(PS)の22本のみで足りたが、32MbitのPSRAMチップ401あるいは64MbitのPSRAMチップ402用に最上位アドレスA22を外部から追加入力し、電源/アドレス変換チップ404への入力信号としている。
そして、電源/アドレス変換チップ404は、入力信号/CE(PS)、A22に基づいてチップイネーブル信号/CEout9と/CEout10を生成し、それぞれ32MbitのPSRAMチップ401、64MbitのPSRAMチップ402のチップイネーブル信号/CE(PS)として供給する。電源/アドレス変換チップ404と2個のPSRAMチップ401、402とはチップ間直接ボンディングにより配線されている。
その結果、図5のMCP半導体装置においては、電源/アドレス変換チップ404を使わない従来例の図12のMCP半導体装置と比べて、アドレス/チップイネーブル関連の外部端子は、アドレス信号A22の端子が1本、チップイネーブル信号/CE端子が1本(合計で2本)追加されている(図中、細い実線で囲む)が、チップイネーブル信号/CE(PS)1、/CE(PS)2の端子は2本削減可能(図中、点線で囲む)になるので、全体の端子数としては不変である。
また、電源関連の外部端子は、PSRAMチップ401、402用の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用の外部端子とNAND Flashチップ403用の電源電圧VDD(N)1.8V用の外部端子の合計2個を削減可能(図中、破線で囲む)になる。したがって、MCPの外部端子の合計は、図12のMCP半導体装置と比べて2本減少し、57端子となっている。
なお、前記した電源/アドレス変換チップ404で入力信号/CE(PS)、A22に基づいて2個のチップイネーブル信号/CE(PS)を生成する処理は、従来例の図12のMCP半導体装置を使用するシステム(MCPの外部)において行われていたことであり、あたかも入力信号/CE(PS)、A22が追加信号として必要になったように思える。しかし、MCPに実装されるチップ内で全てのチップイネーブル信号の作成が可能になったという意味でシステム全体としては部品数の削減が実現される。
図6は、図5のMCP半導体装置の一実装例の内部を概略的に示す斜視図である。実装基板61は、上面に配線パターン(フレーム)62が形成され、裏面にも配線パターンが形成され、上面フレーム62と裏面の配線パターンがスルーホール配線を介して接続され、裏面に外部接続端子(例えばボールグリッドアレイ)が形成されている。この実装基板上に複数の半導体チップが適宜に接着剤やスペーサを介して積み重ねられている。本例では、チップ1(本例ではNAND Flashチップ)上に、チップ2(本例では64MbitのPSRAMチップ)、チップ3(本例では32MbitのPSRAMチップ)、電源/アドレス変換チップの順に積み重ねられている。ここで、通常、最下段のチップサイズが最も大きいチップ1から最上段のチップサイズが最も小さい電源/アドレス変換チップまで、チップサイズ順に搭載される。
そして、各チップ1,2,3の所定のパッド67と実装基板上面の所定のフレーム62との間がボンディングワイヤ68により接続されている。前記したようにチップ間の所定のパッド同士が直接にボンディングワイヤ68により接続された状態で、例えば樹脂により封止され、全体として小型、薄型のスタック構造のMCP半導体装置が構成されている。
<第4の実施形態>
以上の各実施形態においては、MCPに実装するチップとして、電源/アドレス変換チップの他にはメモリチップのみを実装する例を述べたが、特にこれに限定することはなく、例えばロジックLSIなどのチップを実装することも可能である。
以上の各実施形態においては、MCPに実装するチップとして、電源/アドレス変換チップの他にはメモリチップのみを実装する例を述べたが、特にこれに限定することはなく、例えばロジックLSIなどのチップを実装することも可能である。
<第5の実施形態>
以上の各実施形態においては、電源/アドレス変換チップを、他の機能を持たずに電源/アドレス変換機能のみを有する専用チップとして通常のメモリチップとは別にMCPに搭載する場合を述べたが、特にこれに限定することはなく、電源/アドレス変換チップの機能をメモリチップ、あるいは別の機能を持った他のチップ上に搭載してMCP内部で必要な接続を行うように実装することも可能である。この場合には、さらに、チップ数の削減、コストの低減、MCPの小型化も可能になる。
以上の各実施形態においては、電源/アドレス変換チップを、他の機能を持たずに電源/アドレス変換機能のみを有する専用チップとして通常のメモリチップとは別にMCPに搭載する場合を述べたが、特にこれに限定することはなく、電源/アドレス変換チップの機能をメモリチップ、あるいは別の機能を持った他のチップ上に搭載してMCP内部で必要な接続を行うように実装することも可能である。この場合には、さらに、チップ数の削減、コストの低減、MCPの小型化も可能になる。
<第6の実施形態>
以上の各実施形態においては、電源/アドレス変換チップで生成した1つの電源電圧を複数のチップに共通に供給したが、これに限らず、電源/アドレス変換チップで生成した複数の異なる電源電圧を複数のチップに別々に供給するように構成してもよい。
以上の各実施形態においては、電源/アドレス変換チップで生成した1つの電源電圧を複数のチップに共通に供給したが、これに限らず、電源/アドレス変換チップで生成した複数の異なる電源電圧を複数のチップに別々に供給するように構成してもよい。
<第7の実施形態>
以上の各実施形態において、電源/アドレス変換チップ上のパッドの数および配列は、MCP内の各チップ上のパッドとMCP配線基板上のフレームとの間、パッド間を配線するワイヤボンディング工程を容易化するために自由度を持たせるように工夫することが望ましい。
以上の各実施形態において、電源/アドレス変換チップ上のパッドの数および配列は、MCP内の各チップ上のパッドとMCP配線基板上のフレームとの間、パッド間を配線するワイヤボンディング工程を容易化するために自由度を持たせるように工夫することが望ましい。
図7は、本発明のMCP半導体装置に搭載される電源/アドレス変換チップ上のパッドの数および配列の一例を示す平面図である。この電源/アドレス変換チップ700は、出力信号/CEout1〜/CEout14のパッドを複数組設け、各組をチップ上の周辺部、例えば各辺(四辺)に対応して配設している。
このような電源/アドレス変換チップを他のチップと共にMCP半導体装置に搭載して実装する場合、MCPの電源電圧入力用のフレームの配置辺と電源/アドレス変換チップ上の電源電圧入力端子の配置辺が対向するように電源/アドレス変換チップの向きを決定する。これによって、電源/アドレス変換チップの電源電圧入力端子とMCPの電源電圧入力用のフレームとの間をワイヤでボンディング接続することが容易であり、電源/アドレス変換チップ上の各辺(四辺)に対応して配設されている出力信号/CEout1〜/CEout14のパッドのいずれかと他のチップ上のチップイネーブル制御信号/CE(PS)のパッドとの間をワイヤボンディング接続することが容易になる。
<第8の実施形態>
図8は、本発明のMCP半導体装置の第8の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図9を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源/アドレス変換チップ103が追加されて実装されており、それに伴ってMCPの外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。
図8は、本発明のMCP半導体装置の第8の実施形態を概略的に示すブロック図である。このMCP半導体装置は、図9を参照して前述した従来例のMCP半導体装置と比べて、電源/アドレス変換チップ103が追加されて実装されており、それに伴ってMCPの外部入力、外部端子、内部配線などが異なる。
このMCP半導体装置は、1つのMCP100a内に、128Mbitの1個のPSRAMチップ101と、256Mbitの1個のNAND Flashチップ102と、電源/アドレス変換チップ103の合計3チップを実装している。ここで、PSRAMチップ101のI/Oは16ビット、VDD=3.0V、VDDQ=1.8Vであり、NAND Flashチップ102のI/Oは16ビット(PSRAMチップ101と共通)、VDD=1.8Vである。
このMCP半導体装置においては、図9のMCP半導体装置と同様に、16ビットのI/O端子は、1個のPSRAMチップ101と1個のNAND Flashチップ102で共通に使用している。PSRAMチップ101で個別に使用している外部端子としては、アドレス信号A0〜A22(PS)や、チップセレクト信号/CS(PS)、出力イネーブル信号/OE(PS)、ライトイネーブル信号/WE(PS)、上位バイト指定信号/UB(PS)、下位バイト指定信号/LB(PS)などがある。NAND Flashチップ102で個別に使用している外部端子としては、チップイネーブル信号/CE(N)、ライトイネーブル信号/WE(N)、リードイネーブル信号/RE(N)などがある。
即ち、図8のMCP半導体装置において、外部から供給される電源電圧VDD(PS) 3.0Vが、PSRAMチップ101の電源電圧VDD(PS) 3.0Vおよび電源/アドレス変換チップ103の電源電圧VD(入力)3.0Vとして入力する。そして、電源/アドレス変換チップ103で生成された電源電圧VDDQ(出力)1.8VをPSRAMチップ101のI/O用の電源電圧VDDQ(PS)1.8VおよびNAND Flashチップ102用の電源電圧VDD(N)1.8Vとして直接供給している。この場合、電源/アドレス変換チップ103の電源電圧VDDQ(出力)1.8V用のパッドからPSRAMチップ101上の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用のパッドおよびNAND Flashチップ102上の電源電圧VDD(N)1.8V用のパッドへチップ間直接ボンディングにより配線されている。
図8のMCP半導体装置においては、電源/アドレス変換チップ103を使わない従来例の図9のMCP半導体装置と比べて、電源関連の外部端子は、PSRAMチップ101用の電源電圧VDDQ(PS)1.8V用の外部端子とNAND Flashチップ102用の電源電圧VDD(N)1.8V用の外部端子の合計2個を削減可能(図中、破線で囲む)になる。したがって、MCPの外部端子の合計は、図9のMCP半導体装置と比べて2本減少し、56端子となっている。
200a…MCP、201…64MbitのPSRAMチップ、202…256MbitのNAND Flashチップ、203…電源/アドレス変換チップ。
Claims (3)
- 少なくともチップイネーブル制御信号で制御される複数の半導体集積回路チップが1個のマルチチップパッケージに実装されたマルチチップパッケージ半導体装置において、
外部から供給された一つの電源電圧を昇圧あるいは降圧して新たな電源電圧を生成する電源電圧変換回路および前記複数の半導体集積回路チップに対応してチップイネーブル制御信号を生成するチップイネーブル生成回路を含んだ電源・チップイネーブル生成用の半導体集積回路チップを搭載し、生成した電源電圧およびチップイネーブル制御信号を別の半導体集積回路チップに供給することを特徴とするマルチチップパッケージ半導体装置。 - 前記電源・チップイネーブル生成用の半導体集積回路チップは、前記電源電圧変換回路および前記チップイネーブル生成回路の他に半導体メモリの機能を有することを特徴とする請求項1記載のマルチチップパッケージ半導体装置。
- 前記電源・チップイネーブル生成用の半導体集積回路チップは、1つのチップイネーブル信号入力および複数のアドレスビット信号入力に基づいて生成される前記複数のチップイネーブル制御信号を出力するための複数の出力パッドを有し、当該複数の出力パッドと前記複数の半導体集積回路チップのチップイネーブル信号入力パッドとはチップ間直接ボンディングにより配線されていることを特徴とする請求項1または2記載のマルチチップパッケージ半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004347085A JP2006156814A (ja) | 2004-11-30 | 2004-11-30 | マルチチップパッケージ半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007102994A (ja) * | 2005-10-06 | 2007-04-19 | Samsung Electronics Co Ltd | 電流消耗を減少させる内部電源電圧発生回路を有するマルチチップ半導体メモリ装置 |
US7957217B2 (en) | 2007-11-09 | 2011-06-07 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of controlling internal voltage and multi-chip package memory prepared using the same |
KR101518331B1 (ko) * | 2008-03-13 | 2015-05-15 | 삼성전자주식회사 | 파워 메니지먼트 ic를 구비하는 멀티 칩 패키지 |
-
2004
- 2004-11-30 JP JP2004347085A patent/JP2006156814A/ja active Pending
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US7957217B2 (en) | 2007-11-09 | 2011-06-07 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of controlling internal voltage and multi-chip package memory prepared using the same |
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