JP2006155718A - 磁気ディスク装置の製造方法及び製造装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】磁気ディスク装置に付与される衝撃回数を低減して、製品品質に悪影響が及ぶのを防止し、且つ組立時間を短縮した磁気ディスクの製造方法を提供すること。
【解決手段】磁気ディスク装置Hに衝撃を付与して、仮固定された磁気ディスクの動バランスを修正する磁気ディスク装置の製造方法において、前記磁気ディスクが回転しているときに、前記磁気ディスク装置の加速度を検出して、前記磁気ディスクの動アンバランス量を算出し、前記動アンバランス量が第1の閾値より小さい場合、前記動アンバランス量を減少させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与し、前記動アンバランス量が第1の閾値より大きい場合、少なくとも一回は前記動アンバランス量を増加させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与する。
【選択図】 図7
【解決手段】磁気ディスク装置Hに衝撃を付与して、仮固定された磁気ディスクの動バランスを修正する磁気ディスク装置の製造方法において、前記磁気ディスクが回転しているときに、前記磁気ディスク装置の加速度を検出して、前記磁気ディスクの動アンバランス量を算出し、前記動アンバランス量が第1の閾値より小さい場合、前記動アンバランス量を減少させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与し、前記動アンバランス量が第1の閾値より大きい場合、少なくとも一回は前記動アンバランス量を増加させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与する。
【選択図】 図7
Description
本発明は、磁気ディスク装置の製造方法及び製造装置に係り、特に磁気ディスク装置の組み立てにおけるディスクの動バランスの修正に関する。
磁気ディスク装置の製造工程には、ディスクの重心をモータの回転軸に一致させて、ディスクの動バランスを修正する、いわゆる動バランス修正工程がある。この動バランス修正工程では、モータの回転軸に仮固定されたディスクを製品の規定回転数で回転させて、ディスクの動アンバランスにより生じる磁気ディスク装置の振動を加速度センサで検出する。
そして、この振動に合わせてタイミングを計り、電動アクチュエータで磁気ディスク装置に衝撃を付与する。これを繰り返すことにより、ディスクと磁気ディスク装置とを相対変位させ、ディスクの重心をモータの回転軸に近づけてゆく。
ディスクの動バランスを修正する方法として、修正開始時の動アンバランス量(以下、「初期アンバランス量」と呼ぶ。)の大小に関わらず、同じタイミングで、すなわちディスクの動アンバランスが低減するタイミングで衝撃を付与する修正方法が開示されている(例えば、特許文献1参照。)。
また、ディスクの動バランスを修正する装置として、圧電アクチュエータの近傍に加速度センサを配置した修正装置が開示されている(例えば、特許文献2参照。)。
特開平9−161394号公報
特許第3001434号公報
しかしながら、特許文献1に記載された修正方法では、初期アンバランス量が大きく、かつ仮固定が強い場合に、動バランスの修正にかかる衝撃回数が増大し、製品品質に対する衝撃の影響や、修正に費やされる時間が無視できなくなる。
また、特許文献2に記載された修正装置では、電動アクチュエータの質量の影響により、電動アクチュエータ側における磁気ディスク装置の振動が小さくなり、磁気ディスク装置の振動を感度良く検出することができない。
本発明は、前記事情に鑑みてなされたものであって、その第1の目的とするところは、磁気ディスク装置に付与される衝撃回数を低減して、製品品質に及ぶ悪影響を防止し、且つ修正に費やされる時間を短縮した磁気ディスク装置の製造方法を提供することにある。
また、第2の目的とするところは、磁気ディスク装置の振動を感度良く検出して、ディスクの動バランスの修正効率を向上した磁気ディスク装置の製造装置を提供することにある。
前記課題を解決し目的を達成するために、本発明の磁気ディスク装置の製造方法及び製造装置は次のように構成されている。
(1)磁気ディスク装置に衝撃を付与して、仮固定されたディスクの動バランスを修正する磁気ディスク装置の製造方法において、前記ディスクが回転しているときに、前記磁気ディスク装置の加速度を検出して、前記ディスクの動アンバランス量を算出し、前記動アンバランス量が第1の閾値より小さい場合、前記動アンバランス量を減少させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与し、前記動アンバランス量が第1の閾値より大きい場合、少なくとも一回は前記動アンバランス量を増加させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与する。
(2)(1)に記載された磁気ディスク装置において、前記磁気ディスク装置の加速度が0になってから予め設定された時間が経過したときに、前記磁気ディスク装置に衝撃を付与する。
(3)(1)に記載された磁気ディスク装置において、前記動アンバランス量が第2の閾値より小さくなった時点、または前記磁気ディスク装置に規定回数の衝撃が付与された時点で、前記磁気ディスク装置への衝撃の付与を停止する。
(4)磁気ディスク装置に仮固定されたディスクの動バランスを修正する磁気ディスク装置の製造装置において、前記磁気ディスク装置を着脱可能に保持するプレートと、前記プレートを振動可能に支持する支持手段と、前記プレートに設けられ、前記ディスクの回転中に前記磁気ディスク装置の加速度を検出する検出手段と、前記プレートに設けられ、前記ディスクの回転中に前記検出手段が検出した加速度に基づいて前記磁気ディスク装置に衝撃を付与する衝撃付与手段とを具備し、前記検出手段と衝撃付与手段とは、前記磁気ディスク装置を挟んで互いに反対側に配置され、前記検出手段は、前記衝撃を付与する方向と交差する方向への加速度を検出する。
本発明によれば、磁気ディスク装置に対する衝撃回数が低減するから、製品品質に悪影響が及ぶのを防止することができ、修正にかかる時間を短縮することができる。また、磁気ディスク装置の振動が感度良く検出されるから、ディスクの動バランスの修正効率を向上することができる。
以下、図1〜図8を参照しながら本発明を実施するための最良の形態について説明する。
まず、図1を参照しながら磁気ディスク装置Hについて説明する。
図1は本発明の一実施の形態に係る磁気ディスク装置Hを示す平面図、図2は同実施の形態に係る磁気ディスク装置Hを示す断面図である。
図1と図2に示すように、磁気ディスク装置Hは筐体20を有している。この筐体20は、第1の側板20aと第2の側板20bにより矩形箱状に形成されており、その上面開口部20cにはカバー21が着脱可能に取付けられている。
筐体20の内底部にはモータ22が固定されている。このモータ22は駆動軸22aを有し、その上端部には磁気ディスク24(後述する)を保持するためのハブ23が設けられている。
ハブ23は略円板状をしており、その上面には円柱状の突出部23aと、突出部23aを取り囲む環状の載置面23bが形成されている。載置面23bには、本発明の動バランス修正対象である磁気ディスク24が載置される。
磁気ディスク24は2枚のディスク板24aから構成されている。これらディスク板24aは円板状をしており、スペーサ25を挟んで上下に重ねられている。なお、本実施の形態では、磁気ディスク24を2枚のディスク板24aで構成しているが、これに限定されるものではなく、例えば1枚又は3枚以上のディスク板24aで構成してもよい。
各ディスク板24aの径方向中心部には支持穴24bが形成されている。この支持穴24bは円形をしており、その内側にはハブ23の突出部23aが挿入されている。なお、支持穴24bの内径は突出部23aの外径より大きく、磁気ディスク24がハブ23に対して移動可能となっている。
突出部23aの上面にはクランパ26が設けられている。このクランパ26は、板バネ等の弾性部材で形成されており、載置面23b上に載置された磁気ディスク24を下方に付勢している。なお、この付勢力は、クランパ26を締結する締結ねじ27の締結トルクにより調整可能となっている。
例えば、締結ねじ27を回転させてクランパ26に対する締め付け力を大きくすると、磁気ディスク24とハブ23とが完全に固定された、いわゆる本固定の状態となり、クランパ26を締め付ける力を小さくすると、磁気ディスク24とハブ23とが移動可能に固定された、いわゆる仮固定の状態となる。なお、本発明の動バランス修正は、この仮固定の状態で行われる。
次に、図3と図4を参照しながら動バランス修正装置について説明する。
図3は同実施の形態に係る動バランス修正装置を示す平面図、図4は同実施の形態に係る動バランス修正装置を示す側面図である。
図3と図4に示すように、動バランス修正装置(磁気ディスク装置の製造装置)はベース1を有している。このベース1は矩形板状をしており、その上面四隅にはそれぞれ支柱2が設けられている。
これら支柱2は円柱型をしており、その上端部にはプレート3が略水平に設けられている。なお、本実施の形態では、プレート3の上面四隅にそれぞれ支柱2を設けているが、その本数や配置は特に限定されるものではない。
プレート3の支柱2と対応する位置には穴部(図示しない)が形成されている。これら穴部は円形をしており、その内側には前記支柱2がそれぞれ挿入されている。なお、穴部の内径は支柱2の外形より大きく、穴部と支柱2との間にはゴム等の弾性部材4(支持手段)が介装されている。これにより、プレート3はベース1に対して振動可能となっている。
プレート3の上面には、磁気ディスク装置Hを位置決めするための位置決め部5が設けられている。この位置決め部5は、2本の第1の支持ピン5aと、1本の第2の支持ピン5bとから構成されている。
第1、第2の支持ピン5a、5bは、いずれも円柱状をしており、平面略L字状に配置されている。これにより、磁気ディスク装置Hの第1の側板20aを第1の支持ピン5aに当接させ、磁気ディスク装置Hの第2の側板20bを第2の支持ピン5bに当接させることで、第1の側板20aとY軸、及び第2の側板20bとX軸がそれぞれ平行となるように、磁気ディスク装置Hを位置決めすることができる。
なお、本実施の形態では、磁気ディスク装置Hの位置決めに3本の支持ピン5a、5bを用いているが、磁気ディスク装置Hを正しく位置決めできるのであれば、その本数や配置は特に限定されるものではない。
磁気ディスク装置Hの第1の支持ピン5a側には加速度センサ6(検出手段)が設けられている。この加速度センサ6は、磁気ディスク装置HのY方向に対する加速度ayを検出するものであり、第1の支持ピン5aの間から磁気ディスク装置Hの第1の側板20aと対向している。
磁気ディスク装置Hを挟んで加速度センサ6の反対側には圧電アクチュエータ7(衝撃付与手段)が設けられている。この圧電アクチュエータ7は、プレート3に固定される駆動部7aと、駆動部7aにより進退駆動される衝撃伝達部材7bとから構成されている。
衝撃伝達部材7bの先端部は、磁気ディスク装置Hの第1の側板20aに当接しており、駆動部7aに電圧を印加することで、磁気ディスク装置Hに衝撃を付与できるようになっている。なお、磁気ディスク装置Hに付与される衝撃は、駆動部7aに印加する電圧値に比例する。
ここで重要なのは、加速度センサ6と圧電アクチュエータ7とを磁気ディスク装置Hを挟んで反対側に配置していることである。このような配置にすると、加速度センサ6と圧電アクチュエータ7の間に大きな間隔が確保されるから、圧電アクチュエータ7の重量により加速度センサ6の検出感度が低下するのを防止することができる。
加速度センサ6と圧電アクチュエータ7には制御装置100が接続されている。この制御装置100は、加速度センサ6が検出した加速度ayに基づいて磁気ディスク装置Hに衝撃を付与するタイミングを決定したり、圧電アクチュエータ7を駆動して磁気ディスク装置Hに衝撃を付与したりする。
前記構成の動バランス修正装置に磁気ディスク装置Hを設定する場合、前もって圧電アクチュエータ7の衝撃伝達部材7bを退避させておく。そして、磁気ディスク装置Hを第1、第2の支持ピン5a、5bで位置決めし、圧電アクチュエータ7の衝撃伝達部材7bを磁気ディスク装置Hの第1の側板20aに当接させる。これにより、磁気ディスク装置Hは、第1、第2の支持ピン5a、5bと衝撃伝達部材7bとの間に保持される。
次に、図5を参照しながら磁気ディスク24の動バランス修正の基本原理について説明する。
図5は同実施の形態に係る磁気ディスク24の動バランス修正の基本原理を説明する説明図である。
図5に示すように、ハブ23に磁気ディスク24を固定しただけの状態では、モータ22の駆動軸22aの軸中心Oと磁気ディスク24の重心Gとの間にズレが生じていることがある。そのため、この状態で磁気ディスク24を回転させると、磁気ディスク装置Hに振動が発生し、騒音の原因となることがある。
磁気ディスク装置Hから発生する振動や騒音等を低減させるためには、モータ22の駆動軸22aの軸中心Oと磁気ディスク24の重心Gとのズレを小さくして、磁気ディスク24の動バランスを修正する必要がある。
磁気ディスク24の動バランスを修正する場合、まずハブ23に磁気ディスク24を仮固定する。そして、この磁気ディスク24を一定速度で回転させ、磁気ディスク装置HのY方向に対する加速度ayを検出する。そして、検出した加速度ayに基づいてタイミングを決定し、磁気ディスク装置Hに衝撃を付与する。
例えば、図5(a)に示すように、磁気ディスク24の重心Gが駆動軸22aの軸中心Oに対して圧電アクチュエータ7の反対側に位置しているときに衝撃を付与すると、磁気ディスク24の重心Gがモータ22の駆動軸22aに近づき、磁気ディスク24の動アンバランス量が低減する。
逆に、図5(b)に示すように、磁気ディスク24の重心Gが駆動軸22aの軸中心Oに対して圧電アクチュエータ7側に位置しているときに衝撃を付与すると、磁気ディスク24の重心Gがモータ22の駆動軸22aから離れ、磁気ディスク24の動アンバランス量が増大する。
次に、図6を参照しながら本発明の重要なポイントである磁気ディスク装置Hに衝撃を付与するタイミングの決定方法について説明する。
図6は同実施の形態に係る磁気ディスク装置HのY方向に対する加速度ayと磁気ディスク24の重心GのX方向に対する変位Xとの関係を示すグラフである。なお、このグラフでは、変位Xと変位Yの原点として、モータ22の駆動軸22aの軸中心Oを用いている。
図6を見ると、磁気ディスク装置HのY方向に対する加速度ayが0となり、かつその微分値が正となるタイミングT1で、磁気ディスク24の重心Gの変位Xが正方向に極大となる、すなわち図5(a)に示す状態となることがわかる。
また、磁気ディスク装置Hの加速度ayが0となり、かつその微分値が負となるタイミングT2で、磁気ディスク24の重心Gの変位Xが負方向に極大となる、すなわち図5(b)に示す状態となることがわかる。
これにより、磁気ディスク装置Hの加速度ayが0で、かつその微分値が正となるタイミングT1で衝撃を付与すれば、磁気ディスク24の動バランスを修正できることとなる。
しかしながら、初期アンバランス量が大きく、かつクランプ力が大きい場合には、タイミングT1でのみ衝撃を付与しても、なかなか磁気ディスク24の動アンバランスが規定値以下に到達しないことがある。
逆に、初期アンバランス量が大きく、かつクランプ力が大きい場合には、タイミングT2で磁気ディスク24に衝撃を付与することで、磁気ディスク24の動アンバランス量が急激に低減することがある。
そこで、本実施の形態では、従来のようにタイミングT1でのみ衝撃を付与するのではなく、初期アンバラス量が大きい場合には、タイミングT2でも衝撃を印加することで、動バランスの修正効率を向上させようとしている。
具体的には、磁気ディスク装置Hの加速度ayが0となる部分(以下、「0クロスポイント」と呼ぶ。)を検出し、この0クロスポイントから所定時間が経過した後に衝撃を付与する。
例えば、タイミングT1で衝撃を付与したい場合には、0クロスポイントを基点として時間ΔTが経過したときに衝撃を付与し、タイミングT2で衝撃を付与したい場合には、0クロスポイントKを基点として時間2ΔTが経過したときに衝撃を付与する。
以下、タイミングT1で衝撃を付与して磁気ディスク24の動バランスを修正することを正位相修正と呼び、タイミングT2で衝撃を付与して磁気ディスク24の動バランスを修正することを逆位相修正と呼ぶこととする。
次に、磁気ディスク24の動バランス修正工程について簡単に説明する。
磁気ディスク24の動バランスを修正する場合、まず動バランス修正装置に磁気ディスク装置Hを設定する。このとき、磁気ディスク装置Hはカバー21が取り外された状態であり、また磁気ディスク24はハブ23に仮固定された状態である。
磁気ディスク装置Hの設定が終了したら、磁気ディスク24を回転させて、磁気ディスク装置Hの加速度ayの検出を開始する。そして、磁気ディスク24の回転が所定速度に到達したら、以下の動バランス修正工程を開始する。
次に、図7を参照しながら本発明の重要なポイントである磁気ディスク24の動バランス修正工程について説明する。
図7は同実施の形態に係る磁気ディスク24の動バランス修正工程を示すフローチャートである。
本実施の形態に係る磁気ディスク24の動バランス修正工程は、主に第1〜第4の工程系列S10、S20、S30、S40により構成されている。以下、磁気ディスク24の動バランス修正工程を工程系列ごとに詳細に説明する。
(第1の工程系列S10)
磁気ディスク24の動バランス修正工程が開始されたら(ステップSs)、検出される動アンバランス量と予め設定された第1の閾値とを比較する(ステップS11)。そして、動アンバランス量が第1の閾値より小さい場合(ステップS11のYES)、それ以前に付与された第1の電圧値V1による修正回数と予め設定された許容回数N1とを比較する(ステップS12)。
磁気ディスク24の動バランス修正工程が開始されたら(ステップSs)、検出される動アンバランス量と予め設定された第1の閾値とを比較する(ステップS11)。そして、動アンバランス量が第1の閾値より小さい場合(ステップS11のYES)、それ以前に付与された第1の電圧値V1による修正回数と予め設定された許容回数N1とを比較する(ステップS12)。
そして、修正回数が許容回数N1より少ない場合(ステップS12のYES)、第1の電圧値V1で正位相修正を行い(ステップS13)、検出される動アンバランス量と予め設定された第2の閾値とを比較する(ステップS14)。
そして、動アンバランス量が第2の閾値より小さい場合(ステップS14のYES)、磁気ディスク24の動アンバランス量が規定値内に収まったとみなし、動バランス修正工程を終了する(ステップSe1)。一方、動アンバランス量が第2の閾値より大きい場合(ステップS14のNO)、再び動アンバランス量と第1の閾値とを比較する(ステップS11)。
(第2の工程系列S20)
前記ステップS12において、修正回数が許容回数N1より多い場合(ステップS12のNO)、それ以前に付与された第2の電圧値V2(後述する)による衝撃回数と予め設定された許容回数N2とを比較する(ステップS21)。
前記ステップS12において、修正回数が許容回数N1より多い場合(ステップS12のNO)、それ以前に付与された第2の電圧値V2(後述する)による衝撃回数と予め設定された許容回数N2とを比較する(ステップS21)。
そして、修正回数が許容回数N2より少ない場合(ステップS21のYES)、第1の電圧値V1よりも大きい第2の電圧値V2で正位相修正を行い(ステップS22)、検出される動アンバランス量と予め設定された第2の閾値とを比較する(ステップS23)。
そして、動アンバランス量が第2の閾値より小さい場合(ステップS23のYES)、磁気ディスク24の動アンバランス量が規定値内に収まったとみなし、動バランス修正工程を終了する(ステップSe1)。一方、動アンバランス量が第2の閾値より大きい場合(ステップS23のNO)、再び動アンバランス量と第1の閾値とを比較する(ステップS21)。
また、前記ステップS21において、修正回数が許容回数N2よりも多い場合(ステップS21のNO)、再び動アンバランス量と第2の閾値とを比較する(ステップS24)。そして、動アンバランス量が第2の閾値よりも小さい場合(ステップS24のYES)、磁気ディスク24の動アンバランス量が規定値内に収まったとみなし、動バランス修正工程を終了する(ステップSe1)。
(第3の工程系列S30)
前記ステップS11において、動アンバランス量が第1の閾値よりも大きい場合(ステップS11のNO)、及び前記ステップS24において、動アンバランス量が第2の閾値よりも大きい場合(ステップS24のNO)、第2の電圧値V2よりも大きい第3の電圧値V3で逆位相修正を行い(ステップS31)、動アンバランス量と第2の閾値とを比較する(ステップS32)。
前記ステップS11において、動アンバランス量が第1の閾値よりも大きい場合(ステップS11のNO)、及び前記ステップS24において、動アンバランス量が第2の閾値よりも大きい場合(ステップS24のNO)、第2の電圧値V2よりも大きい第3の電圧値V3で逆位相修正を行い(ステップS31)、動アンバランス量と第2の閾値とを比較する(ステップS32)。
そして、動アンバランス量が第2の閾値より小さい場合(ステップS32のYES)、動アンバランス量が規定値内に収まったとみなし、動バランス修正工程を終了する(ステップSe1)。
(第4の工程系列S40)
前記ステップS32において、動アンバランス量が第2の閾値より大きい場合(ステップS32のNO)、それ以前に付与された第4の電圧値V4(後述する)による修正回数と予め設定された許容回数N4とを比較する(ステップS41)。
前記ステップS32において、動アンバランス量が第2の閾値より大きい場合(ステップS32のNO)、それ以前に付与された第4の電圧値V4(後述する)による修正回数と予め設定された許容回数N4とを比較する(ステップS41)。
そして、修正回数が許容回数N4より少ない場合(ステップS41のYES)、第1の電圧値V1よりも小さい第4の電圧値V4で正位相修正V4を行い(ステップS42)、動アンバランス量と第2の閾値とを比較する(ステップS43)。
そして、動アンバランス量が第2の閾値より小さい場合(ステップS43のYES)、磁気ディスク24の動アンバランス量が規定値内に収まったとみなし、動バランス修正工程を終了する(ステップSe1)。一方、動アンバランス量が第2の閾値よりも大きい場合(ステップS43のNO)、再び修正回数と許容回数N4とを比較する(ステップS41)。
また、前記ステップS41において、修正回数が許容回数N4より多い場合(ステップS41のNO)、再び動アンバランス量と第2の閾値を比較する(ステップS44)。そして、動アンバランス量が第2の閾値より小さい場合(ステップS44のYES)、磁気ディスク24の動アンバランス量が規定値内に収まったとみなし、動バランス修正工程を終了する(ステップSe1)。一方、動アンバランス量が第2の動アンバランス量より大きい場合(ステップS44のNO)、動バランス修正が失敗したとみなし、動バランス修正工程を終了する(ステップSe2)。なお、動バランス修正が失敗した場合、磁気ディスク24を付け直して、再び動バランス修正工程を開始する(ステップSs)。
前記構成の磁気ディスクの動バランス修正装置によれば、磁気ディスク24の動バランス修正工程中に、磁気ディスク装置Hに対して逆位相修正を行っている。そのため、初期アンバランス量が大きく、かつクランプ力が強い場合であっても、磁気ディスク24の動バランスを効率良く修正することができる。その結果、磁気ディスク装置Hに付与する衝撃の回数が減り、磁気ディスク装置Hの製品品質に悪影響が及ぶのを防止することができる。
しかも、磁気ディスク装置Hに対する修正回数が許容回数(N1+N2+N4)を超えた時点で、動バランス修正が失敗したとみなして、動バランス修正工程を終了するようにしている。このことによっても、磁気ディスク装置Hの製品品質に悪影響が及ぶのを防止することができる。
また、加速度センサ6と圧電アクチュエータ7とを磁気ディスク装置Hを挟んで反対側に配置している。そのため、加速度センサ6と圧電アクチュエータ7の間隔が広がり、圧電アクチュエータ7の重量の影響により加速度センサ6の検出感度が低下するのを防止することができる。
なお、本実施の形態では、磁気ディスク24の動バランス修正にあたり、磁気ディスク装置Hに1回だけ逆位相修正を行っているが、これに限定されるものではなく、逆位相修正を何度も行ってもよい。
図8は同実施の形態に係る正位相修正を2回連続して行ったのち、逆位相修正を2回連続して行ったときの動アンバランス量の変化を示すグラフである。なお、逆位相修正は符号Rで示している。
図8に示すように、最初の2回の正位相修正により動アンバランス量が拡大してしまっているが、そのあと2回連続して逆位相修正を行うことで、動アンバランス量が一気に修正されることがわかる。これにより、初期アンバランス量が第1の閾値を大きく越えている場合、複数回連続して逆位相修正を行えば、動バランス修正に要する時間を飛躍的に短くすることが可能である。
本発明は、前記実施の形態そのままに限定されるものではなく、実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、前記実施の形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施の形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
3…プレート、4…弾性部材(支持手段)、6…加速度センサ(検出手段)、7…圧電アクチュエータ(衝撃付与手段)、24…磁気ディスク(ディスク)、H…磁気ディスク装置、T1…タイミング、T2…タイミング。
Claims (4)
- 磁気ディスク装置に衝撃を付与して、仮固定されたディスクの動バランスを修正する磁気ディスク装置の製造方法において、
前記ディスクが回転しているときに、前記磁気ディスク装置の加速度を検出して、前記ディスクの動アンバランス量を算出し、
前記動アンバランス量が第1の閾値より小さい場合、前記動アンバランス量を減少させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与し、
前記動アンバランス量が第1の閾値より大きい場合、少なくとも一回は前記動アンバランス量を増加させるタイミングで前記磁気ディスク装置に衝撃を付与することを特徴とする磁気ディスク装置の製造方法。 - 前記磁気ディスク装置の加速度が0になってから予め設定された時間が経過したときに、前記磁気ディスク装置に衝撃を付与することを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置の製造方法。
- 前記動アンバランス量が第2の閾値より小さくなった時点、または前記磁気ディスク装置に規定回数の衝撃が付与された時点で、前記磁気ディスク装置への衝撃の付与を停止することを特徴とする請求項1記載の磁気ディスク装置の製造方法。
- 磁気ディスク装置に仮固定されたディスクの動バランスを修正する磁気ディスク装置の製造装置において、
前記磁気ディスク装置を着脱可能に保持するプレートと、
前記プレートを振動可能に支持する支持手段と、
前記プレートに設けられ、前記ディスクの回転中に前記磁気ディスク装置の加速度を検出する検出手段と、
前記プレートに設けられ、前記ディスクの回転中に前記検出手段が検出した加速度に基づいて前記磁気ディスク装置に衝撃を付与する衝撃付与手段と、
を具備し、
前記検出手段と衝撃付与手段とは、前記磁気ディスク装置を挟んで互いに反対側に配置され、
前記検出手段は、前記衝撃を付与する方向と交差する方向への加速度を検出することを特徴とする磁気ディスク装置の製造装置。
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JP2004342452A Pending JP2006155718A (ja) | 2004-11-26 | 2004-11-26 | 磁気ディスク装置の製造方法及び製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006155718A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008047194A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Fujitsu Ltd | バランス修正装置 |
WO2008072307A1 (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Fujitsu Limited | バランス修正装置及び方法 |
KR101091051B1 (ko) | 2010-09-02 | 2011-12-08 | (주)에스엠인스트루먼트 | 하드디스크 자동 밸런싱 장치 |
-
2004
- 2004-11-26 JP JP2004342452A patent/JP2006155718A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008047194A (ja) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Fujitsu Ltd | バランス修正装置 |
WO2008072307A1 (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Fujitsu Limited | バランス修正装置及び方法 |
KR101091051B1 (ko) | 2010-09-02 | 2011-12-08 | (주)에스엠인스트루먼트 | 하드디스크 자동 밸런싱 장치 |
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