JP2006153552A - 通電検査用プローブ - Google Patents
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Abstract
【課題】コンタクトピンを可能な限り極小ピッチで配列することができ、コンタクトピンの配列ピッチの極小化に対応する。また、狭ピッチ幅のコンタクトピン取付ホルダの組み立て・一体化作業と不良のコンタクトピンのみの交換によるメンテナンスを容易にする。
【解決手段】コンタクトピン取付ホルダ4を次のように構成する。鉛直方向へ2分割した2つのホルダ部材41、42を設ける。この2つのホルダ部材41、42の相対する両側面に、複数組のコンタクトピン31、32とスプリング33を並列に配置するための収容室45を構成する凹部451と、コンタクトピン31、32を摺動可能に支持する溝部454と長孔窓部43,44を形成する。この凹部451へ複数組のコンタクトピン31、32とスプリング33を並列に装着し、各コンタクトピン31、32の間に絶縁体のスペーサ7を配置した後、2つのホルダ部材41、42を互いに接合し一体に構成する。
【選択図】図1
【解決手段】コンタクトピン取付ホルダ4を次のように構成する。鉛直方向へ2分割した2つのホルダ部材41、42を設ける。この2つのホルダ部材41、42の相対する両側面に、複数組のコンタクトピン31、32とスプリング33を並列に配置するための収容室45を構成する凹部451と、コンタクトピン31、32を摺動可能に支持する溝部454と長孔窓部43,44を形成する。この凹部451へ複数組のコンタクトピン31、32とスプリング33を並列に装着し、各コンタクトピン31、32の間に絶縁体のスペーサ7を配置した後、2つのホルダ部材41、42を互いに接合し一体に構成する。
【選択図】図1
Description
本発明は、高密度配線回路を有するプリント配線基板等の電子基盤の電気的検査に用いられる通電検査用プローブに関する。
高密度配線回路を有するプリント配線基板等の電子基盤の導通試験などに用いる検査治具には、コンタクトプローブが使用され、狭いピッチで集積された電子基盤の検査に対応するため、コンタクトプローブ自体の極小化やコンタクトピンの微細化といった改良が図られてきた。
ところが、近年に至り、検査対象である電子基盤の高集積化、微細化が飛躍的に進んだことから、かかる改良のみでは、検査対象への対応が困難となったため、コンタクトプローブのコンタクトピン間のピッチをより狭ピッチに設定でき、かつコンタクトプローブに伝送される信号へのノイズの混入を少なくすることができるコンタクトプローブ取付ホルダが提案されるに至っている(例えば、特許文献1参照。)。
さらに、コンタクトピン間のピッチをより狭いピッチに設定し得るコンタクトプローブ取付ホルダとしては、例えば、図4および図5に示すように、複数本のコンタクトプローブを装着することができる絶縁体の樹脂等からなるコンタクトプローブ取付ホルダが使用されている。
この図4および図5に示すコンタクトプローブ取付ホルダ1に装着された複数本のコンタクトプローブ2は、両端に抜け止め絞り加工を施したスリーブ21と、このスリーブ21の両端においてピン先端を外方向に突出させて摺動可能に収容された一対のコンタクトピン22と、この一対のコンタクトピン22間に配置されて挟み込まれ、コンタクトピン22のピン先端方向に弾性付勢する導電性のスプリング23とを一体に組み立てたものである。
また、コンタクトピン22には、抜け止め用のストッパ部24が形成され、このストッパ部24をスリーブ21の抜け止め絞り加工を施した部分へ当接させることによって、スプリング23のピン先端方向への弾性付勢により、コンタクトピン22がスリーブ21から抜け出るのを防止するように構成している。
上記のように構成したコンタクトプローブ2は、コンタクトプローブ取付ホルダ1に所定の間隔を置いて設けた貫通孔11内にそれぞれ挿通固定され保持されている。このコンタクトプローブ2は、被検査体としての電子基盤(図示しない)の検査点に対応して配置されている。また、上記コンタクトプローブ2の上端は、例えば、電気的導通を検査するための給電基板(図示しない)の各接点に電気的に接続され、また、下端は、被検査体としての例えば、高密度配線回路を有するプリント配線基板(図示しない)の各接点に接触するように構成している。
しかしながら、上述した図4および図5に示すようなコンタクトプローブ取付ホルダ1に複数本のコンタクトプローブ2を並列設置して使用する場合において、コンタクトプローブ2間のピッチの極小化を図るとき、あるいは、間隔の精度を上げるときに、次のような制約があった。
上述したコンタクトプローブ2は、筒状のスリーブ21を使用するため、スリーブ21の肉厚とスリーブ21内をコンタクトピン22が摺動移動するために必要とする間隙(クリアランス)分、コンタクトプローブ2の径が大きくなり、設定ピッチ幅に限界が生じ、コンタクトピン22間の設定ピッチ幅をより狭ピッチに設定することが困難であるという問題があった。
例えば、コンタクトピン22の径が50μmの場合、ストッパ部24の径が90μm、筒状のスリーブ21の径が130μm、コンタクトプローブ取付ホルダ1に設けた貫通孔11と隣接する貫通孔11との間に形成される絶縁層の厚さが20μmとなり、コンタクトピン22の間隔は、150μm必要であった。
また、コンタクトピン取付ホルダ1にスリーブ21を挿通固定するための貫通孔11を設ける場合、細く深い正確な径の穴加工を近接して行う必要があり、加工が非常に困難であった。また、スリーブ21自体の加工精度にも誤差が生じ、コンタクトプローブ2の間隔の精度を確保することが困難であった。
さらに、コンタクトプローブ取付ホルダ1へ装着したコンタクトプローブ2の装着間隔が極めて狭いため、装着されている複数本のコンタクトプローブ2の内、その一部のコンタクトピン22を破損した場合、これらの交換作業には厳格で微細な寸法合わせを要求されるため、コンタクトプローブ取付ホルダ1を一旦分解して破損したコンタクトプローブ2のみを交換することは事実上不可能であり、結局、1本のコンタクトプローブ2の破損であっても全体を廃棄処分せざるを得ず、コストがかかるという問題があった。
本発明は、このような従来の構成が有していた問題を解決しようとするものであり、複数本のコンタクトピンを装着する狭ピッチ幅のコンタクトピン取付ホルダの組み立て・一体化作業が極めて簡単かつ迅速に行えるとともに、個々のコンタクトピンに不良が生じた場合に、簡易かつ迅速に該当するコンタクトピンのみの交換によるメンテナンスを可能とし、また、配線回路の高密度化に伴うコンタクトピンの配列ピッチの極小化に対応することができる通電検査用プローブを提供することを目的としている。
そして、本発明は、上記の目的を達成するために、複数本のコンタクトピンを摺動可能に並列させて装着する溝部と、コンタクトピンおよびコンタクトピンのピン先端方向へ弾性付勢するスプリングを複数組並列させて配置する凹部とを一対のホルダ部材の相対する位置に設けるとともに、この一対のホルダ部材の相対する両側面を互いに接合させて一体に構成したとき、凹部により構成される収容室を内部に形成したコンタクトピン取付ホルダを備え、このコンタクトピン取付ホルダの収容室へコンタクトピンとスプリングとを複数組並列させて装着するとともに、各コンタクトピン間に絶縁体のスペーサを挟み込み収容するように構成したものである。
また、第2の課題解決手段は、摺動可能な一対のコンタクトピンとこの一対のコンタクトピンの間に配置され両コンタクトピンのピン先端方向へ弾性付勢するスプリングとを複数組並列させて収容するように構成したコンタクトピン取付ホルダを備えた両端可動型の通電検査用プローブであって、
上記コンタクトピン取付ホルダは、収容した複数本のコンタクトピンのピン先端部分を外方向へ摺動可能に突出させる長孔窓部を上下両側面に形成するとともに、この長孔窓部を長手方向に2分する線に沿って鉛直方向へ2分割した形状の2つのホルダ部材と、この2つのホルダ部材の相対する位置に設け、複数本のコンタクトピンを摺動可能に並列させて装着する溝部と、上記2つのホルダ部材の相対する位置に設け、複数組のコンタクトピンとスプリングとを並列させて配置する凹部と、上記2つのホルダ部材の相対する両側面を互いに接合させて一体に構成することにより形成され、コンタクトピンとスプリングとを複数組並列させて装着し収容する収容室と、この収容室へ装着した各コンタクトピン間に配置され、コンタクトピン間の間隔を保持する絶縁体のスペーサとを設けたものである。
上記コンタクトピン取付ホルダは、収容した複数本のコンタクトピンのピン先端部分を外方向へ摺動可能に突出させる長孔窓部を上下両側面に形成するとともに、この長孔窓部を長手方向に2分する線に沿って鉛直方向へ2分割した形状の2つのホルダ部材と、この2つのホルダ部材の相対する位置に設け、複数本のコンタクトピンを摺動可能に並列させて装着する溝部と、上記2つのホルダ部材の相対する位置に設け、複数組のコンタクトピンとスプリングとを並列させて配置する凹部と、上記2つのホルダ部材の相対する両側面を互いに接合させて一体に構成することにより形成され、コンタクトピンとスプリングとを複数組並列させて装着し収容する収容室と、この収容室へ装着した各コンタクトピン間に配置され、コンタクトピン間の間隔を保持する絶縁体のスペーサとを設けたものである。
上述したように本発明の通電検査用プローブは、コンタクトピンを可能な限り極小ピッチで配列、装着することができ、配線回路の高密度化に伴うコンタクトピンの配列ピッチの極小化に対応することができる。また、複数本のコンタクトピンを装着する狭ピッチ幅のコンタクトピン取付ホルダの組み立て・一体化作業が極めて簡単かつ迅速に行えるとともに、個々のコンタクトピンに不良が生じた場合に、簡易かつ迅速に該当するコンタクトピンのみの交換によるメンテナンスを可能とした通電検査用プローブを提供できる。
以下、本発明に係る通電検査用プローブの実施の形態を図1〜図3に基づいて説明する。図1は本発明の実施の形態を示す両端可動型の通電検査用プローブの部分断面図で、摺動可能な一対のコンタクトピン31、32と、この一対のコンタクトピン31,32の間に配置されたスプリング33とをコンタクトピン取付ホルダ4内へ組み付けた状態を示すとともに、この組み付けたコンタクトピン31のピン先端部が電気的導通を検査するための給電基板5の各接点に接触し、また、コンタクトピン32ピン先端部が被検査体である高密度な配線回路を有するプリント配線基板6の各接点に接触した状態を示している。
また、図2の(a)は、一組のコンタクトプローブを構成するコンタクトピン31、32とスプリング33をコンタクトピン取付ホルダ4内に複数組並列に組み付けた状態を示す平面図である。また、図2の(b)は、コンタクトピン取付ホルダ4を2分割して構成した一方のホルダ部材41にコンタクトピン31、32とスプリング33を複数組並列に装着した状態を示す正面図である。また、図3は2分割したコンタクトピン取付ホルダ4の一方のホルダ部材41を示す斜視図である。
まず、コンタクトプローブを構成する一対のコンタクトピン31、32とスプリング33について説明する。一対のコンタクトピン31、32は、後述するコンタクトピン取付ホルダ4内において、ピン先端部分を互いに外側に向け、軸線方向に摺動可能に装着されている。このコンタクトピン31、32の付け根部分には、ピン先端方向へ弾性付勢する導電性のスプリング33を取り付ける係止部311、321を設けて、スプリング33を両コンタクトピン31、32間に挟み込むようにして取り付けている。
また、この係止部311、321の上部には、ストッパ部312、322が設けられ、スプリング33によるピン先端方向への弾性付勢により、コンタクトピン31、32がコンタクトピン取付ホルダ4から抜け出るのを防止している。
次に、コンタクトピン取付ホルダ4の構成について説明する。コンタクトピン取付ホルダ4は、収容した複数本のコンタクトピン31、32のピン先端部分を外方向へ摺動可能に突出させる長孔窓部43、44を上下両側面の対称位置にそれぞれ形成している。この長孔窓部43、44の内周壁面と、コンタクトピン31、32先端部分の外周との間には、コンタクトピン31、32がその軸線方向へ摺動移動できるようにするための僅かな間隙(クリアランス)が設けられている。また、このコンタクトピン取付ホルダ4は、長孔窓部43を長手方向に2分する線に沿って鉛直方向へ2分割した形状の2つのホルダ部材41、42によって構成されている。
この2分割して形成した2つのホルダ部材41、42は、その相対する両側面の対称位置に収容室45を構成する凹部451をそれぞれ設けている。したがって、収容室451は、2つのホルダ部材41、42の相対する両側面を互いに接合させて一体に構成したとき、両側面の対称位置に設けた両凹部451によって形成される。この両凹部451によって構成された収容室45内には、図2の(b)で示すように、コンタクトプローブを構成するコンタクトピン31、32とスプリング33を複数組並列に配置し収容できるように構成している。
また、収容室45を構成する凹部451には、収容した各コンタクトピン31、32に形成したストッパ部312、322がそれぞれ当接する帯状の突起部452、453を上下に所定の間隔を置いて平行に設けている。この突起部452、453へストッパ部312、322がそれぞれ当接することにより、コンタクトピン31、32が抜け出るのを防止している。
また、帯状の突起部452、453には、図3で示すように、複数個の溝部454が設けられている。この溝部454は、コンタクトピン31、32をそれぞれ摺動可能に支持するように形成されている。したがって、この溝部454の内周壁面とコンタクトピン31、32の外周との間には、コンタクトピン31、32がその軸線方向へ摺動移動できるようにするための僅かな間隙(クリアランス)が設けられている。
上記のように構成したコンタクトピン取付ホルダ4によれば、その一方の例えば、ホルダ部材41の凹部451に対して、図2の(b)で示すように、複数組のコンタクトピン31、32とスプリング33を並列に載置することができる。また、この載置の際に、隣り合うコンタクトピン31の間、および隣り合うコンタクトピン32の間へ絶縁体のスペーサ7をそれぞれ挟み込むことによって、各コンタクトピン31、32の所定の間隔を保持した状態で、並列に装着することができる。このスペーサ7は、スペーサ7の製作加工時に、外形寸法の精度を出せば良いので、容易に、高精度の加工を行うことができる。
図2の(b)で示すように、複数組のコンタクトピン31、31およびスプリング33を凹部451へ並列に配置した後、もう一方のホルダ部材42をかぶせるようにして一体の接合することにより、図1に示すように構成した両端可動型の通電検査用プローブを設けることができる。
上記のように構成した本発明に係る通電検査用プローブによれば、コンタクトピンを可能な限り極小ピッチで配列、装着することができ、配線回路の高密度化に伴うコンタクトピンの配列ピッチの極小化に対応することができる。例えば、コンタクトピン31、32の径が50μmの場合、ストッパ部312、322の径が90μmで、スペーサ7の厚さが50μmとすれば、隣接するストッパ部の間隔が10μmとなり、コンタクトピンの間隔は、100μmとなり、上述した従来のものに比較して、コンタクトピンの配列ピッチを狭くでき、狭い間隔の配線回路の検査に対応することができる。
また、コンタクトピン取付ホルダ4に、従来のようにコンタクトプローブを装着するための穴加工を施す必要が無く、凹部451と溝部455の精度出せば良いため、容易に高精度の加工を行うことができる。また、コンタクトピン31、32を直接コンタクトピン取付ホルダ4で支持する構造であるため、支持剛性が高く、コンタクトピンのブレや曲がりの発生を少なくすることができる。
さらに、コンタクトピン取付ホルダ4を2分割して構成したことにより、複数本のコンタクトピンを装着する狭ピッチ幅のコンタクトピン取付ホルダ4の組み立て・一体化作業が極めて簡単かつ迅速に行えるとともに、個々のコンタクトピンに不良が生じた場合に、簡易かつ迅速に該当するコンタクトピンのみの交換によるメンテナンスを可能とした通電検査用プローブを提供することができる。
31 コンタクトピン
32 コンタクトピン
33 スプリング
311 係止部
312 ストッパ部
321 係止部
322 ストッパ部
4 コンタクトピン取付ホルダ
41 ホルダ部材
42 ホルダ部材
43 長孔窓部
44 長孔窓部
45 収容室
451 凹部
452 突起部
453 突起部
454 溝部
5 給電基板
6 プリント配線基板
32 コンタクトピン
33 スプリング
311 係止部
312 ストッパ部
321 係止部
322 ストッパ部
4 コンタクトピン取付ホルダ
41 ホルダ部材
42 ホルダ部材
43 長孔窓部
44 長孔窓部
45 収容室
451 凹部
452 突起部
453 突起部
454 溝部
5 給電基板
6 プリント配線基板
Claims (2)
- 複数本のコンタクトピンを摺動可能に並列させて装着する溝部と、コンタクトピンおよびコンタクトピンのピン先端方向へ弾性付勢するスプリングを複数組並列させて配置する凹部とを一対のホルダ部材の相対する位置に設けるとともに、この一対のホルダ部材の相対する両側面を互いに接合させて一体に構成したとき、凹部により構成される収容室を内部に形成したコンタクトピン取付ホルダを備え、
このコンタクトピン取付ホルダの収容室へコンタクトピンとスプリングとを複数組並列させて装着するとともに、各コンタクトピン間に絶縁体のスペーサを配置したことを特徴とする通電検査用プローブ。 - 摺動可能な一対のコンタクトピンとこの一対のコンタクトピンの間に配置され両コンタクトピンのピン先端方向へ弾性付勢するスプリングとを複数組並列させて収容するように構成したコンタクトピン取付ホルダを備えた両端可動型の通電検査用プローブであって、
上記コンタクトピン取付ホルダは、
収容した複数本のコンタクトピンのピン先端部分を外方向へ摺動可能に突出させる長孔窓部を上下両側面に形成するとともに、この長孔窓部を長手方向に2分する線に沿って鉛直方向へ2分割した形状の2つのホルダ部材と、
この2つのホルダ部材の相対する位置に設け、複数本のコンタクトピンを摺動可能に並列させて装着する溝部と、
2つのホルダ部材の相対する位置に設け、複数組のコンタクトピンとスプリングとを並列させて配置する凹部と、
2つのホルダ部材の相対する両側面を互いに接合させて一体に構成することにより形成され、コンタクトピンとスプリングとを複数組並列させて装着し収容する収容室と、
この収容室へ装着した各コンタクトピン間に配置され、コンタクトピン間の間隔を保持する絶縁体のスペーサと
を設けたことを特徴とする通電検査用プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004341873A JP2006153552A (ja) | 2004-11-26 | 2004-11-26 | 通電検査用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004341873A JP2006153552A (ja) | 2004-11-26 | 2004-11-26 | 通電検査用プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006153552A true JP2006153552A (ja) | 2006-06-15 |
Family
ID=36632052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004341873A Pending JP2006153552A (ja) | 2004-11-26 | 2004-11-26 | 通電検査用プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006153552A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112285524A (zh) * | 2019-07-24 | 2021-01-29 | 北京振兴计量测试研究所 | 一种混合集成电路老炼试验工装及方法 |
-
2004
- 2004-11-26 JP JP2004341873A patent/JP2006153552A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112285524A (zh) * | 2019-07-24 | 2021-01-29 | 北京振兴计量测试研究所 | 一种混合集成电路老炼试验工装及方法 |
CN112285524B (zh) * | 2019-07-24 | 2024-06-07 | 北京振兴计量测试研究所 | 一种混合集成电路老炼试验工装及方法 |
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