JP2006106159A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006106159A
JP2006106159A JP2004289767A JP2004289767A JP2006106159A JP 2006106159 A JP2006106159 A JP 2006106159A JP 2004289767 A JP2004289767 A JP 2004289767A JP 2004289767 A JP2004289767 A JP 2004289767A JP 2006106159 A JP2006106159 A JP 2006106159A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
lens
mirror
polygon mirror
adjacent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004289767A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirosuke Hayashi
宏丞 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2004289767A priority Critical patent/JP2006106159A/ja
Publication of JP2006106159A publication Critical patent/JP2006106159A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

【課題】回転多面鏡の隣接面からの再反射ノイズ光を除去し、高精度・低ノイズの光走査装置を提供する。
【解決手段】光源部1と、光源部1から発する光ビーム11を反射偏向させる回転多面鏡2と、光ビーム11を集光しながら照射対象6に対し垂直に照射するfθレンズ3とを有し、回転多面鏡2の隣接鏡面からの再反射ノイズ光成分13を、走査幅半値X[mm]より2倍以上離れた位置に投光させるとともに、回転多面鏡2の隣接鏡面からの再反射ノイズ光成分13を除去する遮蔽部材4をfθレンズ3の下流側にある投光窓であるカバーガラス5上に設置する。
【選択図】図1

Description

本発明は、光源部と回転多面鏡とfθレンズとを有する光走査装置に関するもので、より詳細には、照射対象からの反射光の中のノイズ光成分除去手段に関するものである。
従来、実装基板検査装置のセンサなどにおいて、光ビーム照射対象から拡散する反射光を、再度走査光学系を経由させて受光素子まで導く技術がある(例えば、特許文献1参照)。
また、図4に示すように、光ビーム走査において光走査装置各構成要素からの微弱な散乱反射光がノイズ光となり検査精度に悪影響を及ぼすことから、fθレンズを透過しないノイズとなるレンズ表面反射散乱光を除去するため反射散乱光成分除去用部材を受光素子前方に配設しているものがある(特許文献2)。
特開2002−48734号公報 特開平3−261850号公報
近年、光走査装置の主要構成要素である回転多面鏡は、数万rpm高速回転のモータを有し小型で安価な汎用性の高いユニットとして市販されている。
しかしながら、このユニットの小型化により回転多面鏡の面間隔が狭くなったことで、光ビーム照射対象からの拡散反射光が隣接鏡面にも当たり再反射されて再度fθレンズを経て光ビーム照射対象上へ結像し、それがノイズ光となる課題を有していた。
本発明は、この課題を解決するもので、回転多面鏡の隣接鏡面からの再反射ノイズ光を除去し、高精度・低ノイズの光走査装置を提供することを目的とする。
前記従来の課題を解決するために、本発明の光走査装置は、光源部と、該光源部から発する光ビームを反射偏向させる回転多面鏡と、前記光ビームを集光しながら照射対象に対し垂直に照射するfθレンズとを有し、前記回転多面鏡の隣接鏡面からの再反射ノイズ光成分を除去する遮蔽部材を前記fθレンズ下流側の所定の位置に設置したことを特徴としたものである。
また、本発明の光走査装置は、光源部と、該光源部から発する光ビームを反射偏向させる回転多面鏡と、前記光ビームを集光して照射対象に対し垂直に照射するfθレンズと、前記fθレンズから前記照射対象への照射光及び前記照射対象からの反射光を透過さすカバーガラスと、前記照射対象からの反射光を再度前記回転多面鏡にて反射偏向させ該反射光を受光する受光素子とを有し、前記回転多面鏡の隣接鏡面再反射ノイズ光成分を除去する遮蔽部材を前記fθレンズの下流側に配置される前記カバーガラス上に設置することを特徴としたものである。
本発明の光走査装置によれば、回転多面鏡の隣接鏡面からの再反射ノイズ光の影響の無い高精度・低ノイズの高速光走査手段を実現する事ができる。
以下に、本発明における光走査装置の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
図1は、本発明の実施例1における光走査装置全体の概略構成図、図2は本発明の実施例1における光走査装置を説明するための原理図、図3は本発明の実施例1における光走査装置の光学配置図を示すものである。図1、図2、及び図3を用いて、実施例の光走査装置について説明する。
図1において、光源部1から発せられる正規投光ビーム11は、回転多面鏡2により偏向されて、光ビームを集光しながら照射対象6に対し垂直に照射するfθレンズ3を透過した後、照射対象6上へ照射される。照射対象6表面から垂直方向へ拡散反射された反射光12は、再びfθレンズ3を透過した後、回転多面鏡2に反射される。この反射光12を信号光として検出する受光光学系を含む検査装置のセンサ等の場合には、穴あきミラー7、偏向ミラー8、及び集光レンズ9等の光学素子を用いて受光素子10へと導く。
ここで、回転多面鏡2が小型で面数の多いものである場合、fθレンズ3を透過した後の照射対象6からの反射光12は、回転多面鏡2の投光の際に反射偏向に用いた鏡面のみでなく、その隣接鏡面にも入射する。隣接鏡面に入射した反射光12は再反射されfθレンズ3を通過して照射対象6上へ再び照射され、これが光走査装置のノイズ光となる。
この隣接鏡面からの再反射ノイズ光成分13の除去のため、本実施例においては、遮蔽部材4を、fθレンズ3と照射対象6との間に配置される光走査装置の投光窓に相当するカバーガラス5上に設置する。このカバーガラス5は、走査光11及び反射光12を透過する通常のガラス材料を用いる。
次に、本実施例における光走査装置の構成要素1〜4の光学的配置について図2、図3を用いて説明する。
図2(a)に示すように、一般に、媒質境界面での光の屈折・反射に関するスネルの法則から、入射角と反射角は常に等しく、光は入射光の光軸に対し入射角の2倍の角度をもって反射される。従って、例えば入射光軸を固定した状態で鏡面がα傾いた場合、入射角、反射角は共にα変化し、反射光の光軸は2α変化する。つまり、各鏡面間角度βの回転多面鏡の2面にまたがるビーム径をもつ光が回転多面鏡に入射したとすると、その各鏡面から分離反射される2つの光がなす角度は2βとなる。
また、図2(b)において、通常のレンズの理想像高さyは、焦点距離をf、画角をθとすると、y=f×tanθと表されるが、光ビームを回転多面鏡で走査する場合に通常使用されるfθレンズにおいては、理想像高さyは、y=f×θと表され、走査光速度が像高によらず一定となるように設計されている。そして、θが微小な範囲では、両者の特性は同じだが、θが大きくなると差が大きくなる。
上述の原理から、図3(a)に示すように回転多面鏡2の各鏡面間角度をφ[rad]とすると、正規投光ビーム11と隣接鏡面再反射ノイズ光13の光軸のなす角は必ず2φ[rad]である。また、照射対象6へ垂直に下ろしたfθレンズ3の走査中央光軸と正規投光ビーム11の光軸のなす角をr[rad]とすると、隣接鏡面再反射ノイズ光13はfθレンズ3の中央光軸に対し(r−2φ)[rad]の角度をもって入射する。従って、fθレンズ3の焦点距離をf[mm]とすると、fθレンズの特性から隣接鏡面再反射ノイズ光13は走査中央よりf×(r−2φ)[mm]の距離に集光照射される。
本実施例においては、光走査装置の走査幅を走査中央より±X[mm]とした場合に、光源部1、回転多面鏡2、及びfθレンズ3の光学配置関係の条件として、走査中央からのノイズ光照射距離であるf×(r−2φ)が走査幅半値Xより十分に大きくなるように設定し、隣接鏡面再反射ノイズ光成分13を走査光11とが分離したfθレンズ下流側のカバーガラス5上にノイズ光遮蔽部材4を配置する。
以上のように構成することにより、光走査装置の投光窓であるカバーガラス6の所定の位置に遮蔽部材4を配置すると、光走査機能に影響無く走査光11と分離した隣接鏡面再反射ノイズ光13のみを、遮蔽部材4により吸収、或いは散乱させることができる。遮蔽部材4は、隣接鏡面再反射ノイズ光13を吸収させる場合には黒色の表面処理を施した金属板や黒色のプラスチック板を用い、隣接鏡面再反射ノイズ光13を散乱させる場合には黒色のフェルト紙等を用いる。
即ち、走査装置が所定の走査幅を走査するとき、その走査幅よりも十分離れた位置にノイズ光となる隣接鏡面からの再反射光13を投光させるとともに、その隣接鏡面再反射ノイズ光成分13を吸収或いは散乱させるため、走査光11と分離したノイズ光投光光軸を遮るように遮蔽部材4をカバーガラス5上に配置して隣接鏡面再反射ノイズ光成分13を影響のないレベルに除去できる。
具体的には、図3(b)に示すように、回転多面鏡2が12面のものであるとすると各鏡面間角度φ=π/6[rad]であり、走査幅半値がX=15[mm]、fθレンズ3の焦点距離がf=57[mm]の光走査装置であるとすると、X=f×(r−2φ)とおいて、走査中央光軸と正規投光ビーム11の光軸のなす角rを求めると約0.42π[rad]と計算される。r=0.42π[rad]の時、隣接鏡面再反射ノイズ光13の投光位置はちょうど走査端となり、走査光11との分離が始まる境界である。従って、走査幅半値Xより外側に隣接鏡面再反射ノイズ光13の投光位置を設定するように、このrの値を設定すればよい。但し、走査光11と隣接鏡面再反射ノイズ光13は収束光、照射対象からの反射光12は拡散光であるから、其々のビーム径を考慮に入れると、隣接鏡面再反射ノイズ光13のみを分離遮蔽するには、望ましくは、走査端よりさらにその2倍以上離れた位置へ照射させるようにrの値を設定するのがよい。
そこで、(2X)=f×(r−2φ)とおいてrの値を求めるとr≒π/2[rad]となり、走査光11及び反射信号光12と隣接鏡面再反射ノイズ光13とを十分な間隔で分離でき、再反射ノイズ光成分13のみを遮蔽部材4により除去或いは減少することが可能となる。
また、一般に、走査幅半値Xはfθレンズの焦点距離fに比例して決められる値であるから、この隣接鏡面再反射ノイズ光13の投光位置を決める条件は概してfの値によらず、φとrに依存する。
以上、説明したように、所定の走査幅より2倍以上離れた位置に隣接鏡面再反射ノイズ光13を投光するようにするとともに、その再反射ノイズ光投光光軸上に遮蔽部材4を配置することにより、回転多面鏡の隣接鏡面からの再反射ノイズ光の影響のほとんど無い高精度・低ノイズの光走査装置を実現する事ができる。
本発明にかかる光走査装置は、光源部と回転多面鏡とfθレンズとを有する光走査手段全般に適用できる。
本発明の実施例1における光走査装置全体の概略構成図 本発明の実施例1における光走査装置を説明するための原理図 本発明の実施例1における光走査装置の光学配置図 従来の光走査装置の概略構成図
符号の説明
1 光源部
2 回転多面鏡
3 fθレンズ
4 遮蔽部材
5 カバーガラス
6 照射対象
7 穴あきミラー
8 偏向ミラー
9 集光レンズ
10 受光素子
11 投光ビーム
12 照射対象反射光
13 隣接鏡面再反射ノイズ光

Claims (6)

  1. 光源部と、該光源部から発する光ビームを反射偏向させる回転多面鏡と、前記光ビームを集光しながら照射対象に対し垂直に照射するfθレンズとを有し、前記回転多面鏡の隣接鏡面からの再反射ノイズ光成分を除去する遮蔽部材を前記fθレンズ下流側の所定の位置に設置したことを特徴とする光走査装置。
  2. 前記遮蔽部材は、前記回転多面鏡の隣接鏡面からの再反射ノイズ光成分を吸収、或いは散乱さすことを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
  3. 前記隣接鏡面再反射ノイズ光成分を、走査幅半値X[mm]より外側に投光させるとともに、その再反射ノイズ光投光光軸上に前記遮蔽部材を配置することを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
  4. 前記隣接鏡面再反射ノイズ光成分を、走査幅半値X[mm]より2倍以上離れた位置に投光させるとともに、その再反射ノイズ光投光光軸上に前記遮蔽部材を配置することを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。
  5. 光源部と、該光源部から発する光ビームを反射偏向させる回転多面鏡と、前記光ビームを集光して照射対象に対し垂直に照射するfθレンズと、前記fθレンズから前記照射対象への照射光及び前記照射対象からの反射光を透過さすカバーガラスと、前記照射対象からの反射光を再度前記回転多面鏡にて反射偏向させ該反射光を受光する受光素子とを有し、前記回転多面鏡の隣接鏡面再反射ノイズ光成分を除去する遮蔽部材を前記fθレンズの下流側に配置される前記カバーガラス上に設置することを特徴とする光走査装置。
  6. 前記回転多面鏡の各鏡面間角度φ[rad]、前記fθレンズの焦点距離をf[mm]、前記照射対象物を走査する前記走査幅半値をX[mm]、前記光源部から前記回転多面鏡への入射光軸と前記fθレンズの走査中央光軸とのなす角度をr[rad]としたときに、f×(r−2φ)により計算される隣接鏡面再反射ノイズ光照射位置が前記走査幅半値X[mm]の値より十分大きくなるように、前記光源部、前記回転多面鏡、及び前記fθレンズの夫々を配置し、その再反射ノイズ光投光光軸上に前記遮蔽部材を配置することを特徴とする請求項1或いは請求項5に記載の光走査装置。
JP2004289767A 2004-10-01 2004-10-01 光走査装置 Pending JP2006106159A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004289767A JP2006106159A (ja) 2004-10-01 2004-10-01 光走査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004289767A JP2006106159A (ja) 2004-10-01 2004-10-01 光走査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006106159A true JP2006106159A (ja) 2006-04-20

Family

ID=36375999

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004289767A Pending JP2006106159A (ja) 2004-10-01 2004-10-01 光走査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006106159A (ja)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5868014A (ja) * 1981-10-20 1983-04-22 Canon Inc ゴ−スト像を除去する走査光学系
JPH03261850A (ja) * 1990-03-12 1991-11-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回路基板検査装置
JPH05127119A (ja) * 1992-03-16 1993-05-25 Canon Inc ゴースト像を除去する走査光学系
JPH0799097A (ja) * 1993-09-29 1995-04-11 Nippon Uerudeingurotsuto Kk 粉体プラズマアーク肉盛溶接方法及びプラズマトーチ
JPH08179236A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Seiko Epson Corp ビーム走査装置
JPH0980342A (ja) * 1995-07-10 1997-03-28 Ricoh Co Ltd 光走査装置
JPH10115792A (ja) * 1996-10-14 1998-05-06 Brother Ind Ltd 光学走査装置
JP2000193903A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Fuji Photo Film Co Ltd 光走査装置
JP2002048734A (ja) * 2001-04-25 2002-02-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装済みプリント基板の検査装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5868014A (ja) * 1981-10-20 1983-04-22 Canon Inc ゴ−スト像を除去する走査光学系
JPH03261850A (ja) * 1990-03-12 1991-11-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 回路基板検査装置
JPH05127119A (ja) * 1992-03-16 1993-05-25 Canon Inc ゴースト像を除去する走査光学系
JPH0799097A (ja) * 1993-09-29 1995-04-11 Nippon Uerudeingurotsuto Kk 粉体プラズマアーク肉盛溶接方法及びプラズマトーチ
JPH08179236A (ja) * 1994-12-27 1996-07-12 Seiko Epson Corp ビーム走査装置
JPH0980342A (ja) * 1995-07-10 1997-03-28 Ricoh Co Ltd 光走査装置
JPH10115792A (ja) * 1996-10-14 1998-05-06 Brother Ind Ltd 光学走査装置
JP2000193903A (ja) * 1998-12-25 2000-07-14 Fuji Photo Film Co Ltd 光走査装置
JP2002048734A (ja) * 2001-04-25 2002-02-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装済みプリント基板の検査装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6862097B2 (en) Three-dimensional shape measuring method, and three-dimensional shape measuring apparatus
US5818062A (en) Original edge detecting system and optical sensor using distance detecting light-receiving means
JPH0915163A (ja) 異物検査方法及び装置
JPH11257917A (ja) 反射型光式センサ
JP3287033B2 (ja) 光ビーム走査光学系
US20100097598A1 (en) Distance measuing apparatus
JP2004170965A (ja) 集光光学系
JP3139050U (ja) レーザースキャン光学エンジン装置
JP3747830B2 (ja) 浮遊微粒子検知装置
JPH09257720A (ja) 欠陥検査方法とその装置
JP2008003650A (ja) ポインティングデバイス
JP4127579B2 (ja) 光波距離計
JP2006106159A (ja) 光走査装置
JP3633713B2 (ja) 距離計測方法及び距離センサ
JP4595618B2 (ja) 光走査装置及び光走査方法
US7545360B2 (en) Optical pointing device
JP2019211295A (ja) 距離測定装置
JP4588339B2 (ja) 送受光装置および該送受光装置を備えた自動監視装置
JP2002055061A (ja) 欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置
JP3696228B2 (ja) 距離計測方法及び距離センサ
JP3106521B2 (ja) 透明基板の光学的検査装置
JP4906626B2 (ja) 光電センサ
KR102645857B1 (ko) 레이저 스캐너
JP3040131B2 (ja) 球体表面の傷検査装置
JP4782950B2 (ja) 液体検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070910

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20071012

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20091120

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100727

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100727

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100906

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110111

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110628