JP2006090941A - コンタクトプローブ - Google Patents
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Abstract
【課題】 コンタクトプローブの接触抵抗を低減させ、また、安定化させることを目的とする。
【解決手段】 導電性の筒状体からなるバレル3と、バレル3内に移動自在に配設され、バレル3から突出させたコンタクト端2C及びバレル3の断面に対し傾斜させたバイアス端2Bを有する導電性のプランジャー2と、バレル3内に配設され、プランジャー3を軸方向に付勢するスプリング4と、プランジャー2及びスプリング4に挟まれ、バレル3の内面に接触可能に配設され、バレル3の内径よりも長く、プランジャー2側の端部がテーパー状に小径化された導電性のバイアスピン5とを備える。
【選択図】 図2
【解決手段】 導電性の筒状体からなるバレル3と、バレル3内に移動自在に配設され、バレル3から突出させたコンタクト端2C及びバレル3の断面に対し傾斜させたバイアス端2Bを有する導電性のプランジャー2と、バレル3内に配設され、プランジャー3を軸方向に付勢するスプリング4と、プランジャー2及びスプリング4に挟まれ、バレル3の内面に接触可能に配設され、バレル3の内径よりも長く、プランジャー2側の端部がテーパー状に小径化された導電性のバイアスピン5とを備える。
【選択図】 図2
Description
本発明は、コンタクトプローブに係り、更に詳しくは、バイアス構造を有するコンタクトプローブの改良に関する。
コンタクトプローブは、種々の電子部品や回路基板上の電極端子に接触させ、当該電極端子を外部装置と一時的に導通させるためのプローブ装置である。例えば、回路基板の検査を行う際、当該回路基板上に狭ピッチで設けられた電極端子に対し、細い針状のプランジャーを弾性的に押圧接触させることにより、当該電極端子の電気的測定や、当該電極端子へ電源供給などを行うことができる。
図3は、一般的なコンタクトプローブの一例を示した外観図である。このコンタクトプローブは、棒状体からなるプランジャー2を、コンタクト端2Cを突出させた状態で、筒状体からなるバレル3内に挿入して構成される。このプランジャー2は、脱落することなく、かつ、挿抜方向に移動自在となるようにバレル3により保持されている。
また、プランジャー2は、バレル3内において軸方向に付勢されているため、コンタクト端2Cを図示しない電極端子に当接させれば、当該電極端子からの反力に応じて、プランジャー2の上記突出部の一部がバレル3内に弾性的に収容される。従って、適度な押圧力を保ちながら、コンタクト端2Cを電極端子に接触させることができる。
図4は、従来のコンタクトプローブの一構成例を示した断面図である。この図は、従来のコンタクトプローブ11をバレル3の中心軸を含む切断面により切断した断面図であり、プランジャー2及びバレル3の接続部(図3の領域A)が示されている。このコンタクトプローブ11は、バレル3内にスプリング4が収容され、当該スプリング4の一端をプランジャー2のバイアス端2Bに当接させることによって、プランジャー2を付勢している。
上記コンタクトプローブ11を構成するプランジャー2、バレル3及びスプリング4は、いずれも導電性部材からなり、電極端子に当接させるプランジャー2を外部装置に導通させる2つの導通経路を有している。すなわち、プランジャー2及びスプリング4の接点を経由させる第1の導通経路と、プランジャー2及びバレル3の接点を経由させる第2の導通経路とがある。
プランジャー2とバレル3内面との間には所定のクリアランス(隙間)が設けられているが、プランジャー2は、このクリアランス方向にも移動可能である。このため、バイアス端2Bがバレル3に対し偏心し、プランジャー2の側面がバレル3の内面に接触すれば、上記第2の導通経路が形成される。
従って、上記第1の導通経路が常時形成されているのに対し、上記第2の導通経路は、プランジャー2がバレル3内面に接触している場合にのみ形成される。つまり、第2の導通経路は常に形成されているとは限らず、コンタクトプローブの抵抗値(以下、接触抵抗と呼ぶ)が不安定になるという問題があった。このような問題点を考慮したコンタクトプローブが、従来から知られている(例えば、特許文献1及び2)。
図5は、特許文献1に開示された従来のコンタクトプローブの構成を示した断面図である。このコンタクトプローブ12は、プランジャー2のバイアス端2Bが、バレル3の断面に対して角度を有して形成されている。このため、スプリング4の付勢力により、プランジャー2には、バレル3の中心軸に直交する押圧力が加えられ、プランジャー2をバレル3の内面に確実に接触させることができ、コンタクトプローブの接触抵抗を低下させるとともに、安定化させている。
また、図6は、特許文献2に開示された従来のコンタクトプローブの構成を示した断面図である。このコンタクトプローブ13は、バレル3内にバイアスボール6が収容されている。このバイアスボール6は、導電性の球体からなり、プランジャー2とスプリング4との間に挟まれた状態でバレル3内に保持されている。
バイアス端2Bは、図5の場合と同様、バレル3の断面に対して角度を有して形成されている。このため、スプリング4の付勢力により、バイアスボール6に対し、プランジャー2の中心軸に直交する方向に押圧力が加えられ、バイアスボール6がバレル3の内面に押し当てられる。その結果、プランジャー2及びバレル3は、バイアスボール6を介して常時導通された状態となり、第2の導通経路が常時確保される。つまり、コンタクトプローブ13は、バイアスボール6を利用して、プランジャー2をバレル3に確実に導通させるバイアス構造を有している。
特開2004−69508号公報(図6)
実開平5−43076号公報(図5)
図5及び図6のコンタクトプローブは、図4のコンタクトプローブに比べれば、接触抵抗を低減させるとともに、安定化させることができる。しかしながら、コンタクトプローブの接触抵抗は、より一層低減され、また、安定化されることが望ましい。また、図6のコンタクトプローブでは、バイアスボール6が用いられており、当該バイアスボール6を精度よく製造するのが容易ではないという問題があった。
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、コンタクトプローブの接触抵抗を更に低減させ、あるいは、安定化させることを目的とする。また、このようなコンタクトプローブを安価に提供することを目的とする。
本発明によるコンタクトプローブは、導電性の筒状体からなるバレルと、上記バレル内に移動自在に配設され、上記バレルから突出させたコンタクト端及び上記バレルの断面に対し傾斜させたバイアス端を有する導電性のプランジャーと、上記バレル内に配設され、上記プランジャーを軸方向に付勢するスプリングと、上記スプリング及びプランジャーに挟まれ、上記バレルの内面に接触可能に上記バレル内に配設され、上記バレルの内径よりも長く、プランジャー側の端部がテーパー状に小径化された導電性のバイアスピンとを備えて構成される。
この様な構成により、バイアスピンの尖鋭部とプランジャーのバイアス端に対し、スプリングの付勢力をバレルの中心軸に直交する力として作用させることができる。このため、プランジャーのバイアス端側をバレルに対し偏心させ、プランジャーをバレル内面に確実に接触させることができる。また、バイアスピンが、バレルの中心軸に対して傾くことにより、バイアスピンとバレル内面とを2カ所において接触させることが可能になる。従って、これらの3つの導電経路を介して、プランジャーをバレルに導通させることができる。
また、本発明によるコンタクトプローブは、上記スプリングがコイルバネからなり、上記バイアスピンは、スプリング側の端部がテーパー状に小径化され、その先端が上記コイルバネ内に挿入されるように構成される。この様な構成により、バイアスピンを傾き易くし、バイアスピンとバレルとを2カ所においてより確実に接触させることができる。
本発明によるコンタクトプローブは、プランジャーのバイアス端をバレルの断面に対し傾斜させ、当該バイアス端及びスプリングに挟まれたバレルの内径よりも長いバイアスピンをバレル内に配設し、このバイアスピンのプランジャー側の端部をテーパー状に小径化している。このため、スプリングの付勢力を利用して、バイアスピンをバレルの中心軸に対して傾かせ、プランジャー及びバレル間の導通経路を増大させることができる。
従って、コンタクトプローブの接触抵抗を低減させることができ、安定化させることができる。また、バイアスピンは、プランジャーと同様にして製造することができ、バイアスボールに比べて製作が容易であるため、バイアス構造を有するコンタクトプローブを安価に提供することができる。
図1は、本発明の実施の形態によるコンタクトプローブ10の要部について一構成例を示した断面図である。このコンタクトプローブ10は、プランジャー2、バレル3、スプリング4及びバイアスピン5により構成され、いずれも導電性材料からなる。
プランジャー2は、断面が円形の概ね棒状体からなる。バレル3は、プランジャー2の直径よりも大きな内径を有する円筒体からなり、その中空部に挿入されたプランジャー2との間に所定のクリアランスを確保している。このプランジャー2は、コンタクト端2C側がバレル3から突出し、バイアス端2B側がバレル3内に挿入された状態で、回転自在、かつ、軸方向に移動自在に保持されている。また、バレル3の内面には周方向に延びる凸部からなるリブ3Rが設けられており、当該リブ3Rによって、プランジャー2の移動範囲が制限され、プランジャー2がバレル3から脱落するのを防止している。
バイアスピン5は、棒状体の両端を尖鋭化させた形状からなり、バレル3内においてプランジャー2及びスプリング4に挟まれ、回転自在に保持されている。また、バレル3内面との間に所定のクリアランスが設けられ、当該クリアランス方向にも移動することができる。
尖鋭部5B,5Sは、テーパー状に小径化させたバイアスピン5の両端部であり、先端に近づくほど外径が小さくなっている。これらの尖鋭部5B,5Sは、テーパー状の側面が滑らかな面であればよく、その先端部が鋭利である必要は必ずしもない。
ここでは、バイアスピン5が、プランジャー2と概ね同じ外径を有する円柱体であって、その両端が円錐体となるように加工され、各円錐体は、その頂点が概ね円柱体の中心軸上に位置しているものとする。バイアスピン5の本体部分は、プランジャー2と同様の加工精度を満たしていれば足り、また、両端の尖鋭部5B,5Sに高い加工精度は要求されない。このため、バイアスピン5は、プランジャー2と同様の製造プロセス、例えば旋盤加工によって製造することができ、バイアスボールを採用する従来のバイアス構造を採用する場合に比べ、コスト上昇を抑制することができる。
バイアスピン5の一方の尖鋭部5Bは、プランジャー2のバイアス端2Bに当接させている。このバイアス端2Bは、バレル3の断面(バレル3の中心軸に垂直な面)に対し、所定の角度を有する滑らかな面、例えば、段差を有しない平面や曲面からなる。つまり、
バイアスピン5の尖鋭部5Bがバイアス端2Bの端面上を滑りやすくし、また、プランジャー2及びバイアスピン5に対し、スプリング4の付勢力をクリアランス方向(バレル3の中心軸に垂直な方向)の力として作用させている。この結果、プランジャー2のバイアス端2B側の一部をバレル3の内面に安定的に接触させるとともに、バイアスピン5の尖鋭部5B側の一部をバレル3の反対側の内面に安定的に接触させることができる。
バイアスピン5の尖鋭部5Bがバイアス端2Bの端面上を滑りやすくし、また、プランジャー2及びバイアスピン5に対し、スプリング4の付勢力をクリアランス方向(バレル3の中心軸に垂直な方向)の力として作用させている。この結果、プランジャー2のバイアス端2B側の一部をバレル3の内面に安定的に接触させるとともに、バイアスピン5の尖鋭部5B側の一部をバレル3の反対側の内面に安定的に接触させることができる。
バイアスピン5の他方の尖鋭部5Sは、クリアランス方向に移動可能な状態で、スプリング4の端部と係合されている。ここでは、スプリング4が、金属線を螺旋状に巻回させたコイルバネからなり、尖鋭部5Sの先端を当該スプリング4の端部から上記コイル内へ挿入し、バネの付勢力を利用して、バイアスピン5及びスプリング4を係合している。
バイアスピン5のプランジャー2側の尖鋭部5Bが、バレル3内でクリアランス方向に偏位し、バレル3内面に接触した状態で、スプリング4の付勢力が加えられると、スプリング4側の尖鋭部5Sは、尖鋭部5Bとは反対向きのクリアランス方向に偏位し、バレル3内面に接触する。つまり、バイアスピン5がバレル3内で傾き、バイアスピン5の両端部付近がいずれもバレル3内面に当接し、少なくとも2点でバレル3と安定的に導通させることができる。
なお、バレル3の内面に対しバイアスピン5を2点で接触させるためには、バイアスピン5の軸方向の長さがバレル3の内径よりも長くなっている必要がある。また、プランジャー2を滑らかに移動可能にするには、バイアスピン5が、バレル3の内径よりも十分に長くなっていることが望ましい。
図2は、図1のバイアスピン5が傾いている様子を示した拡大図である。バレル3内で傾いたバイアスピン5は、接点71においてプランジャー2と接触し、接点72及び73においてバレル内面と接触している。また、プランジャー2のバイアス端2B側は、比較的広い領域にわたって、バレル3の内面に接触している。これらの接触は、いずれもスプリング4の付勢力を利用しており、常時、安定的に確保される。
従って、プランジャー2は、3つの導通経路81〜83を介して外部装置と電気的に接続される。導通経路81は、プランジャー2からバレル3へ直接導通する経路である。導通経路82は、接点71及び72を経由する経路、導通経路83は、接点71及び73を経由する経路であり、ともにバイアスピン5を介してバレル3に導通させている。
本実施の形態によれば、両端部を尖鋭化させたバイアスピン5をプランジャー2及びスプリング4間に配置することにより、スプリング4の付勢力により、バレル3内でバイアスピン5を傾かせ、バレル3内面に対し、バイアスピン5を少なくとも2点で接触させている。このため、簡単な構成により、プランジャー2の導通経路を安定的に増大させ、コンタクトプローブ10の接触抵抗を低減させるとともに、安定化させることができる。また、バイアスピン5は、プランジャー2と同様の製造プロセスにより製造することができるので、安価に製造することができる。
2 プランジャー
2C コンタクト端
2B バイアス端
3 バレル
4 スプリング
5 バイアスピン
5B,5S 尖鋭部
10〜12 コンタクトプローブ
71〜73 接点
81〜83 導通経路
2C コンタクト端
2B バイアス端
3 バレル
4 スプリング
5 バイアスピン
5B,5S 尖鋭部
10〜12 コンタクトプローブ
71〜73 接点
81〜83 導通経路
Claims (2)
- 導電性の筒状体からなるバレルと、
上記バレル内に移動自在に配設され、上記バレルから突出させたコンタクト端及び上記バレルの断面に対し傾斜させたバイアス端を有する導電性のプランジャーと、
上記バレル内に配設され、上記プランジャーを軸方向に付勢するスプリングと、
上記スプリング及びプランジャーに挟まれ、上記バレルの内面に接触可能に上記バレル内に配設され、上記バレルの内径よりも長く、プランジャー側の端部がテーパー状に小径化された導電性のバイアスピンとを備えたことを特徴とするコンタクトプローブ。 - 上記スプリングは、コイルバネからなり、
上記バイアスピンは、スプリング側の端部がテーパー状に小径化され、その先端が上記コイルバネ内に挿入されることを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004279245A JP2006090941A (ja) | 2004-09-27 | 2004-09-27 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004279245A JP2006090941A (ja) | 2004-09-27 | 2004-09-27 | コンタクトプローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006090941A true JP2006090941A (ja) | 2006-04-06 |
Family
ID=36232067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004279245A Pending JP2006090941A (ja) | 2004-09-27 | 2004-09-27 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006090941A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7538568B2 (en) | 2007-04-10 | 2009-05-26 | Sanyu Switch Co., Ltd | Spring loaded probe pin |
US8310255B2 (en) | 2009-07-24 | 2012-11-13 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Sensing probe for measuring device performance |
-
2004
- 2004-09-27 JP JP2004279245A patent/JP2006090941A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7538568B2 (en) | 2007-04-10 | 2009-05-26 | Sanyu Switch Co., Ltd | Spring loaded probe pin |
US8310255B2 (en) | 2009-07-24 | 2012-11-13 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Sensing probe for measuring device performance |
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