JP2006090718A - 全反射減衰を利用した測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 SPR測定装置は、センサユニットにリガンドを固定する固定処理を行う固定機10と固定済みのセンサユニットを用いてリガンドとアナライトとの反応状況を測定する測定処理を行う測定機11とからなる。センサユニットは、ホルダ52に収納された状態で各処理が行われる。固定機10と測定機11との間には、保管機101が配置される。固定が完了したセンサユニットは固定機10から保管機101に送り出される。空になった固定機10には、未固定のセンサユニットがセットされて、固定処理が開始される。保管機101に固定済みセンサユニットが溜まった時点で、センサユニットは測定機11へ送り出されて、測定処理が実行される。
【選択図】 図6
Description
11 測定機
12 センサユニット
101 保管機
102 ラック
Claims (8)
- 透明な誘導体上に形成され一方の面がリガンドとアナライトとの反応を検知するためのセンサ面となる薄膜を持つセンサを備えるセンサユニットを用い、前記センサ面にリガンドを固定するとともに、前記センサ面の裏側の光入射面に全反射条件を満たすように光源から光を入射させ、前記センサ面にアナライトを接触させたときの前記光の反射光の減衰状況を検出することにより、前記リガンドと前記アナライトの反応状況を測定する全反射減衰を利用した測定装置において、
前記センサ面にリガンドを固定化する固定処理を行なう固定ステージと、
前記センサ面にアナライトを接触させて、前記光の減衰状況を検出して測定処理を行なう測定ステージと、
測定処理が行なわれるまで、前記リガンドが注入されたセンサユニットを保管する保管ステージとからなることを特徴とする全反射減衰を利用した測定装置。 - 前記保管ステージは、前記固定ステージおよび前記検出ステージの各ステージを構成する筐体とは別の筐体で構成されることを特徴とする請求項1記載の全反射減衰を利用した測定装置。
- 前記固定ステージと前記測定ステージとは、それぞれ別々の筐体に設けられており、前記保管ステージは、前記各筐体のいずれかに設けられていることを特徴とする請求項1または2記載の全反射減衰を利用した測定装置。
- 前記センサユニットは、ホルダに複数個まとめて収納されており、前記ホルダ単位で、前記各ステージ間の引き渡しが行なわれることを特徴とする請求項1〜3いずれか記載の全反射減衰を利用した測定装置。
- 前記保管ステージには、複数の前記ユニットホルダを縦方向に並べて収容するラックが設けられていることを特徴とする請求項1〜4いずれか記載の全反射減衰を利用した測定装置。
- 前記保管ステージには、前記固定ステージから送り出された前記センサユニットを受け取る受け取り手段と、前記測定ステージへ送り出す送り出し手段とが設けられていることを特徴とする請求項1〜5いずれか記載の全反射減衰を利用した測定装置。
- 前記測定ステージにおける処理量に応じて、前記固定ステージの処理量および前記保管ステージに保管する保管量を決定する制御部が設けられていることを特徴とする請求項1〜6いずれか記載の全反射減衰を利用した測定装置。
- 前記保管ステージには、温度を含む環境条件を調整する環境条件調整手段が設けられていることを特徴とする請求項1〜7いずれか記載の全反射減衰を利用した測定装置。
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