JP2006060550A - 白キズ検出回路 - Google Patents

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久 川井
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Abstract

【課題】白キズは、工場出荷時に補正画素を選定しても使用中に新たに発生したり、素子温度が上昇することにより白キズが増える。又、電源投入に補正しても、未だ素子の温度が上昇していないので、その時点で補正素子を選定しても使用中に新たに白キズが発生するという不具合があった
【解決手段】AGC回路の制御レベルが所定値以上の時に、フォーカス位置を合焦位置からずらし、撮像された信号と撮像された信号を帯域制限して且つDCオフセットを加えた信号とを比較することにより撮像素子の欠陥画素を検出する手段を備えたことを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、固体撮像素子を備えたカメラの欠陥画素を検出する白キズ検出回路に関するものである。
ビデオカメラに用いられている固体撮像素子は、その製造段階で、ごみや結晶欠陥が原因とされる画素欠陥が発生することがある。この画素欠陥は、通常の画像を撮影しているにも関らず、白信号として出力される。つまり、暗い所を撮影していても画素欠陥部の映像信号は白い信号になってしまい、非常に見苦しい映像となる。
よって、従来この種の装置では、画素欠陥補正回路を備え、工場で生産時に検出を行い、その位置を記憶してカメラ使用時は常にその画素部分を補正するようにしたり、電源投入時に検出を行っていた。
特開2002−152601号公報 特開2002−185861号公報
しかしながら、白キズは、使用中に宇宙線等の高エネルギー粒子により損キズを受け新たに発生する。又、素子温度が上昇することにより白キズが増えるので、工場出荷時に補正画素を選定しても新たに発生したものは、補正できない。又、電源投入時は、未だ素子の温度が上昇していないので、その時点で補正素子を選定しても使用中に新たに白キズが発生するという不具合があった。
そこで、本発明は、使用中に白キズを検出して補正する白キズ補正システムの検出回路を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明は、複数の撮像素子を配列して成る固体撮像素子と、撮像素子の画素欠陥位置を示す欠陥位置情報を記憶する記憶手段を備え、該記憶手段から読み出された位置情報に基づいて固体撮像素子の欠陥画素からの信号を他の信号に置換える白キズ検出回路において、撮像信号を所定の明るさレベルに制御するAGC回路の制御レベルが、所定値以上の時にフォーカス位置を合焦位置からずらし、撮像された信号と撮像された信号を帯域制限して且つDCオフセットを加えた信号とを比較することにより撮像素子の欠陥画素を検出する手段を備えたことを特徴とする。
本発明によれば、検出は、通常の使用中に行うものであり、白キズは、CCDの動作温度が上昇するに従って増加する傾向にあるので、電源投入時に行った場合に比べ、CCDの温度上昇に伴って増加した白キズの検出もれを防ぎ、且つ、製造工場で白キズ検出を行った場合に比べ、使用中に宇宙線等によって新たに発生した白キズの補正漏れを防ぐことができる。
本発明の白キズ補正機能付き雲台付きカメラ装置及び白キズ検出方法の実施の形態について説明する。
<実施の形態1>
図1は実施の形態1の構成を示すブロック図、図2は図1のキズ検出部の詳細構成を示す図、図3はキズ補正回路の例を示す図、図4はキズ検出回路の信号を示す図である。
図中、100はレンズユニット、101はズームレンズ、102はフォーカスレンズ、103はアイリス、110はCCD(固体撮像素子)、120はCCD等を駆動するタイミング信号ジェネレーター回路、130はCCDからの出力信号から撮像信号を抜き取り増幅して出力するAGC回路、140はキズ補正回路、150はキズ検出回路、160は座標カウンタ、170はメモリ、180はキズ補正を行ったCCDからの出力信号を所謂ビデオ信号に処理して出離する信号処理回路、190はコントローラ、201はレンズユニットのズームモーター駆動回路、202はフォーカスモーター駆動回路、203はパンモーター駆動回路、204はチルトモーター駆動回路、303はパンモーター、304はチルトモーター、151は遅延回路、152は低域濾波回路、153はオフセット作成回路、154は加算回路、155はコンパレータ―回路である。
501はTGから出力されるCCD駆動信号、502はCCDから出力されるCCD出力撮像信号、503はTGから出力される同期信号とCCD読出しクロック信号、504はCDS/AGC/ADから出力されるディジタル撮像信号、505は座標カウンタから出力される撮像信号の画素位置を示すカウントデータ信号、506はキズ位置を示すパルス信号、507はキズ補正されたディジタル撮像信号、508は出力映像信号、509はCCDから入力された撮像信号の増幅率を制御する制御信号、510はキズ検出を起動させる制御信号、511はメモリの書き込み読出しモード制御を行う制御信号、512はズームモーターを制御する制御信号、513はフォーカスモーターを制御する制御信号、514はズームモーター駆動信号である。
又、515はフォーカスモーター駆動信号、516はパンモータ制御信号、517はチルトモーター制御信号、518はパンモータ駆動信号、519はチルトモーター駆動信号、520はキズ画素からの出力信号を含む信号を指示するキズ補正パルス信号、521は信号処理回路制御信号、522は入力された映像信号から算出した明るさや信号内の高周波成分レベル等の信号演算データ信号、601は遅延された映像信号、602は低域濾波された映像信号、603はオフセット回路から出力された一定電圧信号、604はオフセット電圧が付加された低域濾波映像信号である。
次に、白キズ検出回路の動作について説明する。
先ず、電源が投入されると、コントローラ190は、初期動作を開始し撮像動作を開始する。初期動作(各レンズの位置確認、雲台の位置確認他)の詳細についての説明は省略する。
先ず、被写体からの光信号はズームレンズ101、フォーカスレンズ102、アイリス103を介して固体撮像素子110上に結像される。固体撮像素子110は、結像した光信号を電気信号に変換して、タイミングジェネレータ回路120からのドライブ信号501により、画素毎に順次AGC回路130に出力される。
又、タイミングジェネレータ回路120からCCD110の読出し開始に同期したクロック信号503は座標カウンタ160に出力される。座標カウンタ160は、入力されたクロック信号503からCCD110から読み出される画素信号502に同期してカウントを行って行く。
AGC回路130は、コントローラ190からの制御信号509に基づくレベルだけ信号を増幅して撮像信号504を出力する。AGC回路130からの撮像信号504は、キズ補正回路140とキズ検出回路150に送られる。通常動作では、キズ検出回路150は動作していない。
撮像信号504は、キズ補正回路140に送られ座標カウンタ160から出力されるパルス信号520に応じてキズ補正を行い、信号処理回路180に出力される。キズ補正された撮像信号507は、信号処理回路180に送られビデオ信号508に変換され出力される。
ここで、図3に示したキズ補正回路140の動作について説明する。
キズ補正回路140には、約4ライン分のメモリを備え、2ライン目の信号が出力されるように構成されている。座標カウンタ回路から白キズパルス信号が入力されると出力される信号は、2ライン目の信号ではなくその画素の2ライン分だけ前後した画素と2画素分前後した画素の加算平均した信号を出力するように構成されている。この例では、座標カウンタ160から出力されるキズ補正パルス520は、2ライン分だけ送れて出力される。
次に、キズ検出回路150の動作について説明する
CCD110のキズ部の信号は、光が入らなくても或る高いレベルの信号が出力されてしまうので、一般に白キズとして現れる。つまり、暗い部分を取っていてもそこにキズが在ると白い点が見えることになる(図2の信号参照)。
先ず、通常コントローラ190は、信号処理回路508からの信号レベル情報522を基にAGC回路130に、(例えば出力信号が小さい(暗い)のでもっと明るくなるようにゲインをもっと上げる等の)信号レベル制御信号509を出力しているが、この値が予め定められた値以上になったことを検出すると、撮像エリアが非常に暗い常態であると判断して、白キズ検出モードに移行し、Focus Lens102を駆動するFocusLens
Driver202にFocus Lens102を例えば至近に焦点が合うように移動させる。
つまり、被写体に合焦しない所にレンズを移動し全てがぼやけた状態にする。これにより結像信号に急峻な信号は無くなり、なだらかな信号にある。加えて信号処理回路からの信号522から暗い部分を撮像している状態なので、信号は一般に低い信号となる。但し、キズ部分は、被写体の明るさに関係無く高い(明るい)信号を出力するので、なだらかな信号中にキズ部分は飛ぶ抜けたパルス状の信号として出力される。キズによる信号はFocus 状態の合焦の程度に関係なく画素単位で出力されるので、非常に急峻な信号として出力される。又、これと同じにCCDを加算読出しではなく、フレーム読出し(非加算読み出し)を行うように、タイミングジェネレータIC120にCCDドライブモードを切換えるように制御信号523を出力する。
Focus Lens102の移動が完了すると、撮像されてAGC回路130から出力された撮像信号504はキズ検出回路150に送られる。
キズ検出回路150では、入力された撮像信号504は遅延回路151とLPF回路152に入力される。
LPF回路152は、入力された撮像信号504の低域帯域成分のみ出力する。よって、LPF回路152から出力された信号では、キズ部で発生したパルス状の信号もLPFの特性により低く抑えられる。又、遅延回路151は、入力された信号をLPF152と同じ時間だけ遅延させて信号601を出力する。よって、遅延回路151からの出力信号には、白キズのパルス状の信号はそのまま出力される。
LPF152回路で低域成分のみ濾波された信号602は、オフセット回路153から出力される電圧分603だけシフトされて加算回路154から出力される。次段のコンパレータ回路155は、遅延回路151からの信号601と加算回路154からの信号604を比較して遅延回路151からの信号が大きい場合にのみHighの信号を出力する。つまり、白キズ部分のみがHigh信号として出力される。キズ検出回路150から出力されたパルス信号506は、メモリ回路170に出力される。又、座標カウンタ160からCCD110の画素位置を示すアドレス信号505がメモリ回路170に送られる。メモリ回路170では、キズ検出回路150から送られてきたパルス信号506がHighのときの座標カウンタ回路160からのアドレスデータ505を記憶する。これを1フレーム分行い、キズ検出は終了する。
ここで、CCD110からの読み出しをフィールド読み出し(加算読出し)に換え、フォーカス動作を再開させて通常の撮像モードに戻る。
ここで、コントローラからAGC回路に出力する制御データが、最大値になった時に行うことにより被写体からの香料が非常に少ないときに白キズを検出することになりより精度の良い検出が可能となる。
又、ここで、白キズを検出するときに、雲台を予め定めた位置(例えば、常時暗い所)に向けて行うことにより、被写体の影響を極力抑えて白キズを検出することが可能となる。
更に、ここで、キズ補正のためのメモリ170の容量に制限があり検出したキズ全てを補正するためのアドレスを全て記憶できない場合には、コントローラからの制御信号でオフセット回路から供給する電圧レベルを変えることにより白キズが多い場合には、オフセットレベルを大きくすることにより軽度の白キズ部分はそのまま出力することにし、程度の重いものを選択して補正することも可能である。
又、更に、監視システムで、動きベクトルを検出し侵入者がいないかどうか判別している構成のものでは、動きベクトル検出結果から動いて入るものが検出されない時に白キズ検出を行うようにすることも可能である。
実施の形態1の構成を示すブロック図である。 図1のキズ検出部の詳細構成を示す図である。 キズ補正回路の例を示す図である。 キズ検出回路の信号を示す図である。
符号の説明
100 レンズユニット
101 ズームレンズ
102 フォーカスレンズ
103 アイリス
110 CCD(固体撮像素子)
120 タイミング信号ジェネレーター回路
130 AGC回路
140 キズ補正回路
150 キズ検出回路
151 遅延回路
152 低域濾波回路
153 オフセット作成回路
154 加算回路
155 コンパレータ―回路
160 座標カウンタ
170 メモリ
180 信号処理回路
190 コントローラ
201 ズームモーター駆動回路
202 フォーカスモーター駆動回路
203 パンモーター駆動回路
204 チルトモーター駆動回路
303 パンモーター
304 チルトモーター
501 CCD駆動信号
502 CCD出力撮像信号
503 CCD読出しクロック信号
504 ディジタル撮像信号
505 カウントデータ信号
506 パルス信号
507 ディジタル撮像信号
508 出力映像信号
509 制御信号
510 制御信号
511 制御信号
512 制御信号
513 制御信号
514 ズームモーター駆動信号
515 フォーカスモーター駆動信号
516 パンモータ制御信号
517 チルトモーター制御信号
518 パンモータ駆動信号
519 チルトモーター駆動信号
520 キズ補正パルス信号
521 信号処理回路制御信号
522 信号演算データ信号
601 遅延された映像信号
602 低域濾波された映像信号
603 一定電圧信号
604 低域濾波映像信号

Claims (3)

  1. 複数の撮像素子を配列して成る固体撮像素子と、撮像素子の画素欠陥位置を示す欠陥位置情報を記憶する記憶手段を備え、該記憶手段から読み出された位置情報に基づいて固体撮像素子の欠陥画素からの信号を他の信号に置換える白キズ検出回路において、
    撮像信号を所定の明るさレベルに制御するAGC回路の制御レベルが、所定値以上の時にフォーカス位置を合焦位置からずらし、撮像された信号と撮像された信号を帯域制限して且つDCオフセットを加えた信号とを比較することにより撮像素子の欠陥画素を検出する手段を備えたことを特徴とする白キズ検出回路。
  2. AGCのゲインレベルが最大で、合焦位置が検出できないときに、FOCUS位置を予め定めた位置に移動させて欠陥画素検出を行うことを特徴とする請求項1記載の白キズ検出回路。
  3. パンチルト機構を有する撮像装置において予め定められたパンチルト位置(範囲)で撮像しているときに欠陥画素検出を行うことを特徴とする請求項1記載の白キズ検出回路。
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