JP2006003133A - ジルコニア式酸素濃度計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 加熱した安定ジルコニアの固体電解質セラミックによって隔壁を作り、この隔壁の両側にガス透過性の多孔室白金電極を構成し、隔壁の両側に酸素分圧の異なるガスを導入して酸素濃度を検出するジルコニア式酸素濃度計において、設定温度になるまでは予め定めた温度上昇率に従って温度勾配を制御する。
【選択図】 図1
Description
一定制御とは、700℃までは一定のデューティー比でヒーター出力することであり、ソフトウェアとしては、現在温度の取得と一定デューティー比の指定だけでよいので温度制御に要するソフトウェアの負荷が少ないという点で優れている。しかし、温度の低い時には温度上昇が大きく、温度が高くなるにつれて温度上昇も緩やかになってくるため、環境によっては700℃まで温度上昇できない場合があることや計測可能状態(750℃)に到達するまでの時間が予想できないことが問題となっていた。
加熱した安定ジルコニアの固体電解質セラミックによって隔壁を作り、この隔壁の両側にガス透過性の多孔室白金電極を構成し、隔壁の両側に酸素分圧の異なるガスを導入して酸素濃度を検出するジルコニア式酸素濃度計において、設定温度になるまでは予め定めた温度上昇率に従って温度勾配を制御するようにしたことを特徴とする。
前記設定温度になるまでは、前記予め定めた温度上昇率に加熱開始時からの経過時間を乗じて算出した温度と実際に測定した温度との差、及び同様に演算した前回の温度差の変化量に応じて加熱制御量を変更するようにしたことを特徴とする。
前記設定温度になるまでは、一定周期で下記の式により今回制御量を求めることを特徴とする。
今回制御量=前回制御量+K1×(s×t−T(t))+K2×Δ(s×t−T(t))
t:加熱開始からの経過時間
s:一定時間あたりの温度上昇率
T(t):実際に測定した温度(加熱開始からの経過時間によって変化する)
Δ(s×t−T(t)):s×t−T(t)についての今回と前回との差分
K1,K2;機器の個体差を補正する係数
設定温度になるまでは一定時間あたりの温度上昇率により温度勾配を制御するとともに、一定時間あたりの温度上昇率に加熱開始時からの経過時間を乗じて算出した温度と実際に測定した温度との差、及び同様に演算した前回の温度差の変化量に応じて加熱制御量を変更するようにしたので、必ず設定温度(ここでは700℃)まで温度上昇させることができるようになり、計測可能状態に到達するまでに時間も予測することができるようになる。
また、ソフトウェアの面から見ても、PID制御よりも簡素なソフトウェアとなるため、温度制御に要するソフトウェアの負荷が少ない優れたものとなる。
電源投入等により制御が開始されると(スタート)、ステップ1において温度信号線5を介して現在温度を取得する(図3参照)。
次にステップ2において、酸素濃度計本体1に設けられた演算手段(図示省略)により測定温度と設定温度(700℃)を比較する。
今回制御量=前回制御量+K1×(s×t−T(t))+K2×Δ(s×t−T(t))
t:加熱開始からの経過時間
s:予め定めた一定時間あたりの温度上昇率
T(t):実際に測定した温度(加熱開始からの経過時間によって変化する)
Δ(s×t−T(t)):s×t−T(t)についての今回と前回との差分
K1,K2;実験により求めた機器の個体差を補正する係数
なお、K1,K2は温度上昇率を考慮して求める係数で、検出器の種類や個体差を補正するもので実験により求めるものである。
従って本発明によれば寒冷地においても確実に所定の温度まで上昇させることができ、計測可能になるまでの時間を予測することができる。
2 ジルコニア式センサ
3 ヒータ
4 センサ起電力信号線
5 温度信号線
6 電力供給線
7 酸素濃度出力信号線
8 接点入力
Claims (3)
- 加熱した安定ジルコニアの固体電解質セラミックによって隔壁を作り、この隔壁の両側にガス透過性の多孔室白金電極を構成し、隔壁の両側に酸素分圧の異なるガスを導入して酸素濃度を検出するジルコニア式酸素濃度計において、設定温度になるまでは予め定めた温度上昇率に従って温度勾配を制御するようにしたことを特徴とするジルコニア式酸素濃度計。
- 前記設定温度になるまでは、前記予め定めた温度上昇率に加熱開始時からの経過時間を乗じて算出した温度と実際に測定した温度との差、及び同様に演算した前回の温度差の変化量に応じて加熱制御量を変更するようにしたことを特徴とする請求項1記載のジルコニア式酸素濃度計。
- 前記設定温度になるまでは、一定周期で下記の式により今回制御量を求めることを特徴とする請求項1記載のジルコニア式酸素濃度計。
記
今回制御量=前回制御量+K1×(s×t−T(t))+K2×Δ(s×t−T(t))
t:加熱開始からの経過時間
s:一定時間あたりの温度上昇率
T(t):実際に測定した温度(加熱開始からの経過時間によって変化する)
Δ(s×t−T(t)):s×t−T(t)についての今回と前回との差分
K1,K2;機器の個体差を補正する係数
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004177691A JP4457769B2 (ja) | 2004-06-16 | 2004-06-16 | ジルコニア式センサの温度制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004177691A JP4457769B2 (ja) | 2004-06-16 | 2004-06-16 | ジルコニア式センサの温度制御方法 |
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JP4457769B2 JP4457769B2 (ja) | 2010-04-28 |
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2004
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