JP2005533285A - 反射屈折投影対物レンズ - Google Patents

反射屈折投影対物レンズ Download PDF

Info

Publication number
JP2005533285A
JP2005533285A JP2004522476A JP2004522476A JP2005533285A JP 2005533285 A JP2005533285 A JP 2005533285A JP 2004522476 A JP2004522476 A JP 2004522476A JP 2004522476 A JP2004522476 A JP 2004522476A JP 2005533285 A JP2005533285 A JP 2005533285A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diaphragm
projection objective
concave mirror
aperture
mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004522476A
Other languages
English (en)
Inventor
エップル アレキサンダー
アウレリアン ドドック
Original Assignee
カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー filed Critical カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー
Publication of JP2005533285A publication Critical patent/JP2005533285A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B17/00Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
    • G02B17/08Catadioptric systems
    • G02B17/0892Catadioptric systems specially adapted for the UV
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B17/00Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
    • G02B17/08Catadioptric systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/005Diaphragms
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70225Optical aspects of catadioptric systems, i.e. comprising reflective and refractive elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/7025Size or form of projection system aperture, e.g. aperture stops, diaphragms or pupil obscuration; Control thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70275Multiple projection paths, e.g. array of projection systems, microlens projection systems or tandem projection systems
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70341Details of immersion lithography aspects, e.g. exposure media or control of immersion liquid supply
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/22Telecentric objectives or lens systems

Abstract

【課題】 好都合な構造を有する反射屈折投影対物レンズを提供する。
【解決手段】 投影対物レンズの物体面上に配置されたパターンを該投影対物レンズ像面に結像する一方、少なくとも1つの実中間像を生成する反射屈折投影対物レンズであって、少なくとも1つの凹面鏡及びビーム偏向装置を有する反射屈折対物レンズ部分と、屈折対物レンズ部分と、該投影対物レンズを通過する光の断面積を制限するための、可変絞り直径を有する系絞りを備え、該系絞りは前記反射屈折対物レンズ部分内に配置されている。

Description

本発明は、反射屈折投影対物レンズであって、投影対物レンズの物体面上に配置されたパターンを投影対物レンズの像面に結像する一方、少なくとも1つの実中間像を生成する反射屈折投影対物レンズに関する。
このタイプの投影対物レンズは、半導体部品及び他の微細構造デバイスの製造用のマイクロリソグラフィ投影露光装置に使用される。それらは、以下に一般的にマスクまたはレチクルと呼ぶフォトマスクまたは線引き板のパターンを感光層被覆物体上に、非常に高い解像度で縮小して投影するのに供される。
この場合、より微細な構造体の製造には、一方で投影対物レンズの像側の開口数(NA)を拡大し、他方で、より短い波長を、好ましくは波長が約260nm未満、たとえば248nm、193nmまたは157nmの紫外線を使用することが必要である。
これらの短い波長の場合、適当な透明材料のアッベ定数が互いに比較的近いので、色収差を十分に補正した純粋屈折系を提供することがますます困難になる。したがって、非常に高い解像度の投影対物レンズ用には反射屈折系が主に利用され、それでは、屈折及び反射部品、すなわち、特にレンズ及び鏡が組み合わされている。
結像鏡面を使用するとき、曇りや口径食のない結像を達成しようとする場合、ビーム偏向装置を使用する必要がある。ビーム偏向装置が少なくとも1つの全反射型偏向鏡を有する幾何学的ビーム偏向を用いた系がある。物理的ビーム偏向を用いた系、たとえば、ビームスプリッタキューブ(BSC)の形の物理的ビームスプリッタを備えた系も既知である。中間像を有さない系も利用可能であるが、中間像を有する投影対物レンズがますます利用されており、この場合、レンズ及び他の光学部品のタイプ及び配置に関する構造自由度が高くなる。
投影対物レンズは通常、投影対物レンズを通過する光の断面積を制限する系絞りを備える。ある用例について一方の開口数または解像度、及び他方の焦点深度(DOF)間の最善の折衷を設定できるように、系絞りの絞り直径を好ましくは可変に設定することができる。
そのような系絞りは、開口絞りまたは口径絞りとも呼ばれ、光軸の適当な絞り位置の付近に設置される。適当な絞り位置は、光学結像の主光線が光軸と交差する軸方向位置か、またはその付近にある。中間像を有する結像系は、2つのそのような絞り位置を、すなわち、物体面及び中間像間に1つ、中間像及び像面間に1つ有する。
中間像を有する既知の反射屈折投影対物レンズにおいて、系絞りは、屈折対物レンズ部分内の、像面の付近にある絞り位置に設置される。そのような系の例が、特に欧州特許第0869383号(米国特許第5,969,882号に対応)、米国特許第6,175,498号、または米国特許第5,808,805号、または関連の米国継続出願第5,999,333号に示されている。
米国特許第5,052,764号は、凹面鏡の縁部が、使用可能な開口数を制限するための系絞りとして機能する反射屈折対物レンズを示している。絞り直径は、鏡の直径によって定められる。
欧州特許第0869383号 米国特許第5,969,882号 米国特許第6,175,498号 米国特許第5,808,805号 米国特許第5,052,764号
本発明は、冒頭に述べた形式の、好都合な構造を有する反射屈折投影対物レンズを提供するという目的に基づく。
この目的は、反射屈折投影対物レンズにおいて、この投影対物レンズの物体面上に配置されたパターンを投影対物レンズ像面に結像する一方、少なくとも1つの実中間像を生成する反射屈折投影対物レンズであって、少なくとも1つの凹面鏡及びビーム偏向装置を有する反射屈折対物レンズ部分と、屈折対物レンズ部分と、投影対物レンズを通過する光の断面積を制限するための、可変絞り直径を有する系絞りとを備え、系絞りが反射屈折対物レンズ部分内に配置されている、反射屈折投影対物レンズによって達成される。
発明の実施の形態
好都合な実施形態が、従属請求項に詳述されている。すべての請求項の表現は、本記載の内容を参考にしたものである。
本発明に従った反射屈折投影対物レンズは、反射屈折対物レンズ部分及び屈折対物レンズ部分を有する。反射屈折対物レンズ部分は、少なくとも1つの凹面鏡及びビーム偏向装置を備える。屈折対物レンズ部分は、純粋な屈折構造であり、結像鏡をまったく有していない。結像系は、投影対物レンズを通過する光の断面積を制限するための、可変絞り直径を有する系絞りを備える。この系絞りは、反射屈折対物レンズ部分内に配置されている。
中間像を有する多くの種類の反射屈折投影対物レンズにおいて、反射屈折対物レンズ部分は、多くの場合に互いに比較的大きく離して配置されるレンズ及び他の光学部品の数が比較的少ない。これにより、可変絞り直径を有する系絞りを好都合に設置することができるようになる。系絞りが反射屈折対物レンズ部分内に収容される場合、可変系絞りを設置するための十分な距離が適当なレンズ間に残るように屈折対物レンズ部分を構成する必要がない。したがって、本発明は、屈折対物レンズ部分に構造自由を与える。したがって、この対物レンズ部分のレンズは、意図する光学効果に関して最適な配置及び構成にすることができる。
反射屈折対物レンズ部分が、像面の直前の対物レンズ部分であることが可能である。一部の実施形態では、反射屈折対物レンズ部分が、物体面から出る光から中間像を生成する働きをし、屈折対物レンズ部分が、中間像を像面に結像する働きをする。そのような系では特に、系絞りを物体面及び中間像間に配置してもよい。
特定の実施形態は、系絞りが凹面鏡の付近に配置されていることを特徴とする。この場合、系絞りを凹面鏡に近接させて、凹面鏡の頂点(鏡部分と光軸との交点に対応)と系絞りの位置との間の距離が最大絞り直径の50%未満になるように取り付けてもよい。一実施形態では、凹面鏡に近接する配置は、系絞りが凹面鏡のすぐ近くの隙間に配置されていることによって促進される。したがって、この場合にはどんなレンズ及び他の光学部品も、系絞り及び凹面鏡間に位置しない。凹面鏡にできる限り近接して設置することは、系絞りによって考えられる口径食の減少または排除を助ける。
系絞りは、設定された絞り直径に関係なく、絞り縁部が一平面上にある平面的な系絞りでもよい。系絞りが絞り縁部を有し、この絞り縁部が絞り直径を決定し、また、投影対物レンズの光軸に関するそれの軸方向位置を絞り直径の関数として変化させることができる場合、特に好ましい。これにより、絞り直径に依存するようにして、有効絞り位置をビーム経路に最適に適応させることができる。
凹面鏡の付近に配置された、可変絞り直径を有する系絞りの場合、この系絞りは、絞り直径の調節の際に系絞りの絞り縁部を、凹面鏡の鏡部分の形状に合わせた湾曲部分に沿って移動させることができるように構成してもよい。湾曲部分は、たとえば、光軸に関して回転対称である部分でよい。各絞り位置について鏡部分及び絞り縁部間の、光軸に平行に測定した距離は好ましくは、口径食を排除するためにできる限り小さくなければならない。たとえば、系絞りは、絞り直径の調節の際に絞り縁部を球面部分または楕円部分に沿って移動させることができる球面絞りとして構成してもよい。その曲率は、凹面鏡の曲率に十分に適応させなければならない。また、系絞りを円錐絞りとして構成して、絞り直径の調節の際に絞り縁部が円錐包絡部分に沿って移動するようにすることも可能である。この場合、絞り縁部の軸方向位置が絞り直径に線形依存する結果が生じる。
系絞りの好都合な実施形態は、各絞り直径について絞り縁部と凹面鏡の鏡部分との間の軸方向距離が、鏡部分と凹面鏡の縁部によって定められる平面との間の対応の軸方向距離の50%未満、特に30%未満または20%未満であるものである。鏡部分及び絞り縁部間の距離が短いほど、視野全体での対物レンズ側の開口の変動が小さい。視野全体にわたって対物レンズ側に一定の開口を理想的に得るためには、この変動が最小でなければならない。
一部の実施形態では、系絞りは、楕円形の絞り縁部を有する楕円形の絞りである。この場合、絞り直径は、光軸に垂直に延びる直径方向によって決まる。絞り込み時の口径食効果の低減または排除を行うために、絞りの楕円性を利用することができる。上記方法の代わりとしてか、またはそれに追加して、口径食を減少させるために、絞りの楕円性を使用することができる(たとえば、球面絞り)。絞り直径の関数として変化させることができる楕円率を有する楕円形の絞り縁部を備えた系絞りの実施形態が特に好都合である。この場合の楕円率という用語は、絞りの最大直径及び最小直径の比を表す。これらの絞りでは、最大直径及び最小直径の比が一定ではなく、絞りの位置によって決まる。そのような絞りにより、各絞り設定について最適のひとみ形状を設定することができる。一般的に、上記タイプの系では、設定された絞り直径に応じて、系のテレセントリーが変化するであろう。絞りの開閉時のテレセントリーの変化をできる限り小さくするために、系絞りに対応した絞り位置であって、結像の主光線が光軸と交差する絞り位置が、凹面鏡の鏡部分にできる限り近接していることが好ましい。この絞り位置が、凹面鏡の縁部よって定められる平面及び凹面鏡の頂点間に位置することが好ましい。頂点及び絞り位置間の軸方向距離が、最大限に開放した絞りの場合の鏡半径の最大でも約20%である場合、テレセントリーに及ぼす絞り調節の影響を特に小さく維持することできる。鏡部分及び絞り位置間の距離は、主光線ずれとも呼ばれる。
反射屈折対物レンズ部分に割り当てられた系絞りが、結像系の唯一のビーム制限絞りであることが可能である。また、反射屈折対物レンズ部分に割り当てられた系絞りに加えて、さらなる系絞りが、屈折対物レンズ部分内の共役絞り位置の領域内に配置されている実施形態もある。この系絞りは、固定的に予め定められた不変の系直径か、または調節可能な絞り直径を有してもよい。そのような追加の絞りは、この可変絞りの構造の自由度を増加させることができる。
本発明は、幾何学的ビームスプリッティングを用いる反射屈折投影対物レンズの場合、及び物理的ビームスプリッティングを用いる反射屈折投影対物レンズの場合の両方に用いることができる。
上記及びさらなる特徴は、特許請求の範囲からだけでなく、説明及び図面からも明らかになり、その場合、個々の特徴は、本発明の実施形態及び他の分野においてそれぞれ単独で、または複数を部分組み合わせの形で実現すること、及び本質的に保護可能である好都合な実施形態を表すことができる。
好適な実施例の以下の記載において、「光軸」という用語は、光学部品の曲率中心を通る直線または一連のまっすぐな線分を表す。光軸は、偏向鏡または他の反射面で折れる。方向及び距離は、像面か、その位置にあって露光されるべき基板の方向に向く場合には「像側」として、また、光軸に関して物体面またはその位置にあるレチクルの方に向く場合に「物体側」として記載される。例として、物体は、集積回路のパターンを有するマスク(レチクル)であり、異なったパターン、たとえば、格子のパターンも含むことができる。例として、フォトレジスト層を備えて、基板として機能するウェハ上に像が投影される。他の基板、たとえば、液晶ディスプレイ用の構成部品か、または光学格子用の基板も可能である。
折れた光軸が通り、光軸及びビームの主光線を含む平面をメリジオナル平面またはメリジオナルセクションと呼ぶ。サジタル平面またはサジタルセクションは、ビームの主光線を含み、メリジオナル平面に垂直である。
図1は、物理的ビームスプリッティングを用いた本発明による反射屈折縮小対物レンズ1の一実施形態を示す。それは、物体面2上に配置されたレチクルなどのパターンを、物体面2に平行に位置する像面4に結像する一方、単一の実中間像3を、たとえば、4:1の比率で縮小して生成する機能を有する。対物レンズ1は、物体面2及び像面4間に、凹面鏡6及びビーム偏向装置7を有する反射屈折対物レンズ部分5と、この反射屈折対物レンズ部分に続く屈折対物レンズ部分8とを含み、屈折対物レンズ部分8は屈折光学部品だけを含む。
縮小対物レンズは実中間像3を生成するので、2つの実ひとみ面10、11が、すなわち、反射屈折対物レンズ部分5内の凹面鏡6の直前の第1ひとみ面10と、屈折対物レンズ部分8内の像面4付近の最大ビーム直径の領域内の第2ひとみ面11とが存在する。ひとみ面10、11の領域内において、結像の主光線が系の光軸12を横切る。ひとみ面10、11は、互いに対して光学的に共役の絞り位置である、すなわち、ビーム断面積を制限するための物理的絞りを設置することができる範囲を有する好適な位置である。
図示の実施形態では、系絞り15が反射屈折対物レンズ部分5内の凹面鏡6の直前に設置されている。系絞り15は、投影対物レンズを通る放射光の断面積を可変的に制限するために可変設定することができる絞り直径を有し、それにより、絞り直径を設定することによって、投影対物レンズの実際に使用される開口数を設定することができる。共役絞り位置11に別の絞りまたはビーム断面積制限部が設けられていない。他の実施形態においてそのような絞りを設けてもよい。
ビーム偏向装置7は、ビームスプリッタキューブ20を有する物理的ビームスプリッタを備え、その内部に偏光選択型ビームスプリッタ面21が斜めに配置されている。光軸12に対して斜めの向きにある平面的なビームスプリッタ面21は、対応の直線偏光された物体光を凹面鏡6の方に偏向する機能を有し、凹面鏡6から出た光を90°にわたって回転した偏光方向で偏向鏡22に送るように構成されており、この偏向鏡の平面的な鏡面はビームスプリッタ面21に垂直な向きになっている。ビームスプリッタ面21は物体光を凹面鏡6の方向に偏向させるのに必要であるが、偏向鏡22は省略することもできる。その場合、さらなる偏向鏡がなければ、物体面及び像面が互いにほぼ垂直になるであろう。偏向鏡22によって達成される物体面2及び像面4の平行配置は、たとえば、投影対物レンズを有する投影露光装置のスキャナ動作に好都合である。
照明系(図示せず)からの光は、投影対物レンズにその物体面2の像遠位側から入射して、最初に、物体面上に配置されたマスクを通過する。通過した光は次に、平行平面板25及び正レンズ26を通過し、正レンズ26は、放射光を集束し、それによってビームスプリッタキューブ20の直径を比較的小さくすることができる。入射光の直線偏光は、ビームスプリッタ面21が光を反射する作用を有するような向きであり、そのため、入射光が凹面鏡6の方向に偏向される。投影対物レンズの斜め水平アーム内に凹面鏡を設ける配置によれば、偏向角は90°を超え、たとえば、103〜105°である。水平アーム内において、光は最初に負メニスカスレンズ27に当たる。それの後方に、四分の一波長板28の形をした偏光回転装置を配置してもよく、これは、入射する直線偏光を円偏光に変える。この円偏光は、系絞り15を通過した後に凹面鏡6に当たる前に、凹面鏡6の直前に位置する2つの負メニスカスレンズ29、30を通過する。凹面鏡6から反射されて、2回横切るレンズ27〜30を通ってビーム偏向装置7の方向に戻される光は、四分の一波長板によって、直線偏光を有する光に変えられ、それはビームスプリッタ面21によって偏向鏡22の方向に送られる。偏向鏡22から反射した光は、正メニスカスレンズ31を通過した後に中間像3を形成する。この中間像は、屈折対物レンズ部分8の後続レンズ32〜45によって像面4に結像され、これらの後続レンズは全体として縮小作用を有する。
この対物レンズ部分の特殊な特徴として明らかであることは、正レンズ40が系絞り15の位置に対して共役の絞り位置11に取り付けられ、そのため、この位置は、調節可能な系絞りの設置に適さないであろうということである。しかしながら、反射屈折対物レンズ部分5内に系絞り15が配置されることにより、屈折対物レンズ部分8の構造内での絞りの位置を考慮する必要がなく、そのため、この領域において光学的観点から最適である構造の厳密性を低くすることが可能である。
構造の仕様が表1に表形式でまとめられている。ここで、第1欄は屈折面、反射面または何らかの他の方法で識別される表面の番号を示し、第2欄は表面の半径r(mm単位)を示し、第3欄は表面及び後続表面間の、幅として表される距離d(mm単位)を示し、第4欄は部品の材料を示し、第5欄は特定された入射面に続く部品の材料の屈折率を示す。第6欄は、光学部品の光学的に有効な自由半径(mm単位)を示す。反射面が第7欄に示されている。対物レンズの物体及び像面間の構造長さLはほぼ1120mmである。
この実施形態では、表面のうちの8個、すなわち、第2欄に「AS」で表示された表面は非球面である。表2は、対応の非球面データを示し、非球面の矢は以下の規定に従って計算される。
Figure 2005533285
この場合、半径の逆数(1/r)は表面の頂点での表面曲率を示し、hは表面点及び光軸間の距離を示す。したがって、p(h)はこの矢を、すなわち、z方向、すなわち光軸の方向における表面点及び表面の頂点間の距離を表す。定数K、C1、C2・・・は、表2に記載されている。
これらの仕様によって再現することができる光学系1は、約157nmの動作波長用に構成され、この場合、すべてのレンズに使用されるレンズ材料のフッ化カルシウムは、屈折率n=1.55841を有する。像側の開口数NAは0.85であり、結像縮尺は4:1である。この系は、26×5.5mmの大きさの像視野用に構成されている。この系は、二重テレセントリックである。
図2及び図3を参照しながら、系絞り15の特殊な特徴をさらに詳細に説明する。凹面鏡6にすぐ近接した隙間に設置された系絞り15は、「球面絞り」(図2(c)及び図2(d))として構成されている。それは、内側絞り縁部35を有し、これは、絞り直径36を定め、光軸12に関するそれの軸方向位置は、絞り直径の関数として変更可能である。この場合、絞り込み時、すなわち、絞り直径を縮小させるとき、絞り縁部35によって定められる有効絞り位置が凹面鏡の方向に移動する。絞り直径のこの調節中に、絞り縁部は、鏡部分の形状に合わせた回転部分上を、すなわち、球面部分上を移動する。絞りが完全に開いている(図2(c))状態での絞り縁部35はまだ凹面鏡の外側に、すなわち、鏡の縁部によって定められる前鏡平面37の前方に位置するが、絞り直径の縮小(図2(d))の際には、絞り縁部が、光軸12に垂直に鏡の頂点39を通る後鏡平面38の方向に移動する。
比較のために、図2(a)及び図2(b)は、平面的な系絞りを示し、この場合、絞り縁部は、絞りの開閉時に、凹面鏡の外側に、すなわち、凹面鏡の前鏡平面の前方に位置する絞り平面40上に留まる。
図3を参照しながら、系の照明されたひとみの形状に対するさまざまな絞り形状の作用を説明する。この場合、図3(a)〜図3(c)はそれぞれ左側に、投影対物レンズの凹面鏡の領域内の展開したメリジオナルセクションを示し、また、それぞれ右側に、視野縁部における物体点に対する系ひとみの対応形状を示す。
図3(a)は、平面的な系絞りを有し、絞りが全開状態にある系を示す。この場合、光学系の全開口数が使用され、照明されたひとみは最大直径を備えた円形を有する。
図3(b)は、平面的な系絞りを有し、絞り直径が小さい同一系を示す。絞り直径が小さくなる結果、照明されたひとみの直径も同様に縮小する。直径の縮小に加えて、図3(b)の右側に黒色で表されたメリジオナル口径食41が顕在化し、この口径食は、メリジオナル平面の絞り縁部付近を通るビームの周縁光線42が絞りによって部分的にけられ、そのため、ひとみ照明に寄与することができないことに起因する。絞り縁部に位置するビームの最外側光線42は外周光とも呼ばれる。それらは、視野縁部光束の周縁光線を形成する。系絞りが凹面鏡6の直前に配置されるとき、光が絞り平面を2回横切ることを考慮すれば、口径食の効果を理解することができる。この場合、光軸に対して斜めにメリジオナル平面を通り、さらに凹面鏡に進む途中に系絞りの絞り縁部付近を横切る光線は、凹面鏡で反射した後に戻る途中に鏡側から系絞りの絞り素子に部分的に当たり、それによって遮蔽される。したがって、メリジオナル平面上の周縁光線の一部がひとみの照明に寄与しなくなり、その結果としてメリジオナル口径食42が生じる。
結像の主光線43は鏡頂点(鏡部分及び光軸間の交点)の非常に近くで光軸12と交差し、そのため、わずかな主光線のふれが存在するだけであることは、明らかである。小さい主光線のふれは、好ましくは最大絞り半径の20%以下でなければならず、絞り込み時のテレセントリック誤差を回避するのに好都合である。
口径食には、像側の開口数がメリジオナル方向44において、それに垂直に延びるサジタル方向45より小さいという効果がある。これは、H−V差とも呼ばれる、いわゆる限界寸法の変動(CD変動)を助長する。投影対物レンズの分解力が方向依存性を有する場合、結像特性のそのような方向依存性が発生しうる。第2例(図3(b))において、メリジオナル平面にほぼ垂直に延びる線(メリジオナル構造)における分解力は、開口数が少ないために、メリジオナル平面に平行に延びるサジタル構造における分解力より低いであろう。そのようなCD変動は、排除するか、許容限界内に保持すべきである。特に、異なった構造方向における有効開口数は、すべての構造方向においてほぼ同一であるべきであって、すべての構造方向について絞りの直径を調節するとき、ほぼ同一量だけ変化しなければならない。
上記問題は、球面絞り15(図3(c))を使用することによって軽減されるか、または回避される。球面絞りの場合、絞りの位置または絞りの直径に関係なく、絞り縁部35を常に鏡部分の前方の非常に短距離の位置に配置することができ、そのため、凹面鏡で反射した光線は、メリジオナル縁部領域内においても、凹面鏡に当たる光線とほぼ同一の絞りの開きを「見る」。
それによって達成されることは、設定された絞り直径に関係なく、照明ひとみが常にほぼ円形に保たれることであり、これは、特に部分的または完全に絞り込んだ絞りの場合(図3(c))でも当てはまる。したがって、この場合、すべての絞り設定について、メリジオナル方向の開口数(NAmerid)は、サジタル方向の開口数(NAsag)とほぼ正確に同一の大きさを有する。楕円率k=NAmerid/NAsagも同様に、ひとみ照明の形状の均一性または不均一性の程度を表す。1か、それに近いkの値が一般的に要求される。
系絞りの絞り形状の輪郭によって楕円率kに影響を及ぼす別の可能性を、図4を参照しながら説明する。一実施形態において、系絞りは、楕円形の絞り縁部を有する絞り(「楕円形絞り」)として構成され、その場合、特に絞り直径がサジタル方向及びメリジオナル方向で異なってもよい。そのような絞りの動作モードを説明するために、図4は、視野中心(左欄FC)、視野中心及び視野縁部間の視野帯(中央欄FZ)及び視野縁部(右欄FE)内の異なった視野点について最小開口数の絞り設定の場合のひとみの口径食の変化を示し、図面の上列(a)は、環状の絞り開口を有する平面的な系絞りにおけるひとみ形状を示し、下列(b)は、楕円形の絞り開口を有する平面的な系絞りにおけるひとみ形状を示す。上列(a)は、ひとみが視野中心(FC)の視点から円形に見える(k=1)ことを示す。考慮する視野点が視野の中心から離れるほど、より顕著なメリジオナル口径食41が発現し、これは図3(b)でも明らかである。この場合、理想的な楕円率k=1からのふれが、たとえば、任意値Δkで表され、本例ではこれは、k=1からのふれが、視野縁部では視野帯内で考えられる視野点での2倍の大きさであるように選択される。
下列(b)は、楕円絞りの使用がメリジオナル方向及びサジタル方向の開口数の比に及ぼす影響を説明する。本例の場合、サジタル方向の絞り直径がメリジオナル方向の絞り直径より小さいように、絞りの開きの異なった直径が選択される。したがって、視野中心から考えると、ひとみはわずかなサジタル口径食45を有して現れ、その場合、NAsagがNAmeridより小さい。それに対応して、楕円率がk>1である。そこで視野帯内の視野点(下列の中央の図面)を考える場合、達成することができることは、実質的に絞り縁部及び鏡面間の軸方向距離から生じるメリジオナル口径食、及び絞りの開きの楕円性によって生じるサジタル口径食が、大部分か、または完全に互いに補償されることである。その結果、ほぼ円形のひとみ照明(k=1)を達成することができる。さらに視野縁部に進むと、メリジオナル口径食の影響が顕著であり、そのため、この場合にはメリジオナル方向の開口数がサジタル方向の開口数より小さい。右欄の図を比較すれば、すべての視野点にわたって考えた場合、両垂直方向の開口数の違いが、楕円形の絞りの場合には円形の平面的な絞りの場合より相当に小さいことが明らかになる。
値Δk(図4を参照)は、たとえば、次式の概算値に選択してもよい。
Figure 2005533285
但し、y’は像視野の半径を表し、NAは(像での)開口数を表し、DB1は絞りの直径を表し、dは最小NAである絞り縁部及び光軸に平行に測定された鏡部分間の距離を表す。
この例示的な説明から、各用例における絞りの開きの楕円率の目標設定により、すべての視野点について比較的均一なひとみ照明を可能にする最適妥協を見いだすことが可能である(仲裁)ことが明らかである。ここで説明する実施形態において、絞り縁部及び鏡部分間の軸方向距離から生じるメリジオナル口径食の程度は、絞りの直径によって決まり、絞り直径の減少に伴って増加するので、絞りの楕円率は一定ではなく、むしろ絞り直径の関数として変化させることができる。
例として説明したタイプの楕円形系絞りは、球面絞りまたは円錐絞りの代替として、口径食の文脈のなかで説明した問題を許容範囲まで減少させるであろう。
図5を参照しながら、幾何学的ビームスプリッティングを用いた反射屈折投影対物レンズ110の例示的な実施形態を説明する。この実施形態に対して、表3及び表4の仕様が用いられる。この場合、ビーム偏向装置107は、全反射型平面偏向鏡121を有し、これは、物体面102から出る光を凹面鏡106の方向に、100°より幾分大きい偏向角で偏向させる。光学的には必要でなく、また、鏡121の鏡面に垂直な鏡面を有する第2偏向鏡122が、凹面鏡106から反射された光を像面104の方向に送り、像面は物体面に平行である。本実施形態において、反射屈折対物レンズ部分105及び屈折対物レンズ部分108間に位置する中間像103が、第2偏向鏡122の前方に距離をおいて生成され、中間像とこの偏向鏡との間に弱い負屈折力が用意される。この中間像系において、絞り位置として適当なひとみ面も同様に、凹面鏡106の前方のすぐ近傍に位置する一方、それに対して光学的共役のひとみ平面111が、屈折対物レンズ部分108内に設けられる。系絞り115はやはり球面絞りとして構成され、これは、その構造及び機能の点で図1に示された実施形態の球面系絞り15と同一か、または同様でもよい。それの説明を特に参照されたい。
本実施形態において、物体面から出た光は、対物レンズの平行平面入射板125を通過した後、直接的に偏向鏡121に当たる。このため、物体面及び第1鏡面間の空間に屈折力が存在しない。偏向鏡121から反射した光は両凸正レンズ126を通過し、次にその背後に距離をおいて配置された、弱い負屈折力を有するメニスカスレンズ127を通過する。これらのレンズによって比較的小さいビーム直径にされた光は、2つの大きい負メニスカスレンズ128、129を通過した後、凹面鏡106に当たる。鏡106から中間像に戻る経路で、光がレンズ129、128、127、126を再び横切る。これらのレンズは、中間像3が第1偏向鏡121の側方のすぐ近傍に位置するように構成される。中間像103に続く負メニスカスレンズ130から始まり、第2偏向鏡122を有する屈折対物レンズ部分108は、中間像を像面104上に縮小して結像する。
上記実施形態において、すべての透明光学部品は同一の材料、すなわち、フッ化カルシウムで構成されている。動作波長で透明である他の材料、特にフッ化バリウム、フッ化リチウム、フッ化マグネシウム、フッ化リチウム−カルシウム−アルミニウム、フッ化リチウム−ストロンチウム−アルミニウムなどのフッ化物結晶材料を使用することも可能である。適当であれば、たとえば、色補正を助けるために、少なくとも1つの第2材料を使用することも可能である。本発明の利点は、紫外線範囲の他の動作波長、たとえば、248nmまたは193nm用の系にも使用することができる。特に、157nmより長い波長用の系において、光学部品のすべてか、または一部に他のレンズ材料を、たとえば、合成石英ガラスを使用することも可能である。
ビーム偏向装置や、適当であれば、さらなる鏡面を利用してどのような折り形状が設定されるかに関係なく、本発明の利点を使用することができる。特に、物体面から出た光が最初に凹面鏡に当たり、それにより、凹面鏡からビーム偏向装置の第1鏡面の方向に反射される系も可能である。
本発明による投影対物レンズは、すべての適当なマイクロリソグラフィ投影露光装置に、たとえば、ウェハステッパまたはウェハスキャナに使用することができる。例として、図6にウェハスキャナ150が概略的に示されている。それは、レーザの帯域幅を狭めるための割り当て装置152を備えたレーザ光源151を有する。照明系153が、下流側の投影対物レンズ1のテレセントリック要件に合致した、大きく鮮明な境界を定めると共に非常に均一に照明された像視野を生じる。照明系153は、照明モードを選択するための装置を有し、たとえば、干渉性の度合いが可変である従来型照明、環状野照明、及び双極または四重極照明間で切り換えることができる。照明系の背後には、マスク155の保持及び操作を行う装置154が配置されており、これにより、マスク155が投影対物レンズ1の物体面2上に位置して、スキャナ操作のためにこの面上を移動することができる。図示のウェハスキャナの場合、装置154はそれに対応してスキャニング駆動部を有する。
マスク面2に縮小対物レンズ1が続き、これは、マスクの像を縮小して、縮小対物レンズ1の像面4上に配置されているフォトレジスト層被覆ウェハ156上に結像する。ウェハ156は、ウェハをレチクルと同期させて移動させるためにスキャナ駆動部を有する装置157によって保持される。システムはすべて、制御ユニット158によって制御される。制御ユニットはまた、投影対物レンズの反射屈折部分内の凹面鏡6の直前に配置されている調節可能な系絞り15も制御する。
上記の開示は、参照によって本出願に援用される、2002年7月18日に出願された米国特許仮出願第60/396,552号に基づく。
Figure 2005533285
Figure 2005533285
Figure 2005533285
Figure 2005533285
凹面鏡の付近に物理的ビームスプリッタ及び系絞りを有する反射屈折投影対物レンズの一実施形態のレンズ断面を示す図である。 完全開放及び絞り込み状態における平面的な絞り(図2(a)及び図2(b))と球面絞り(図2(c)及び図2(d))との比較を示す図である。 投影対物レンズのひとみの領域での照明に及ぼす絞り形状の影響を示す概略図である。 異なった視野点でのひとみの口径食に及ぼす系絞りの楕円性の影響を説明する概略図である。 凹面鏡の付近に幾何学的ビームスプリッタ及び系絞りを有する反射屈折投影対物レンズの一実施形態のレンズ断面を示す図である。 本発明による投影対物レンズの一実施形態を備えたマイクロリソグラフィ投影露光装置の概略図である。
符号の説明
1 反射屈折縮小対物レンズ
2、102 物体面
3、103 中間像
4、104 像面
5、105 反射屈折対物レンズ部分
6、106 凹面鏡
7、107 ビーム偏向装置
8、108 屈折対物レンズ部分
10、11 実ひとみ面
12 光軸
15、115 系絞り
20 ビームスプリッタキューブ
21 ビームスプリッタ面
22、122 偏向鏡
25 平行平面板
26 正レンズ
35 絞り縁部
36 絞り直径
37 前鏡平面
38 後鏡平面
39 頂点
40 絞り平面
43 主光線
110 反射屈折投影対物レンズ
121 全反射型平面偏向鏡
150 ウェハスキャナ
151 レーザ光源
153 照明系
155 マスク
158 制御ユニット

Claims (22)

  1. 反射屈折投影対物レンズにおいて、該投影対物レンズの物体面上に配置されたパターンを該投影対物レンズ像面に結像する一方、少なくとも1つの実中間像を生成する反射屈折投影対物レンズであって、
    少なくとも1つの凹面鏡(6、106)及びビーム偏向装置を有する反射屈折対物レンズ部分(5、105)と、
    屈折対物レンズ部分(8、108)と、
    該投影対物レンズを通過する光の断面積を制限するための、可変絞り直径を有する系絞り(15、115)と、
    を備え、該系絞りは前記反射屈折対物レンズ部分内に配置されている、反射屈折投影対物レンズ。
  2. 前記反射屈折対物レンズ部分は、前記中間像(3、103)を生成するように構成されており、また、前記屈折対物レンズ部分は、前記中間像を前記像面上に結像するように構成されている、請求項1に記載の投影対物レンズ。
  3. 前記系絞りは、前記物体面(2、102)及び前記中間像(3、103)間に配置されている、請求項1または2に記載の投影対物レンズ。
  4. 前記系絞りは、前記凹面鏡(6、106)の付近に配置されている、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  5. 前記凹面鏡の頂点(39)と前記系絞り(15、115)の位置との間の距離が、最大絞り直径の50%未満である、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  6. 前記系絞り(15、115)は、前記凹面鏡(6、106)にすぐ隣接した隙間内に配置されている、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  7. 前記系絞りは、絞り縁部(35)を有し、該絞り縁部は、前記絞り直径を決定し、また、該投影対物レンズの光軸(12)に関するそれの軸方向位置は、前記絞り直径の関数として変更させることができる、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  8. 前記凹面鏡(6、106)の付近に配置された、可変絞り直径を有する系絞り(15、115)が、絞り直径の調節の際に該系絞りの絞り縁部を、前記凹面鏡の鏡面の形状に合わせた湾曲面に沿って移動させることができるように構成される、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  9. 前記湾曲面は、前記光軸に関して回転対称である表面である、請求項8に記載の投影対物レンズ。
  10. 前記系絞り(15、115)は、前記絞り直径の調節の際に前記絞り縁部を球面または楕円面に沿って移動させることができる球面絞りとして構成される、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  11. 前記系絞りは、前記絞り直径の調節の際に前記絞り縁部を円錐包絡面上で移動させることができる円錐絞りとして構成される、請求項1〜9のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  12. 前記系絞りは、絞り縁部(35)を有し、各絞り直径について該絞り縁部と前記凹面鏡の鏡面との間の軸方向距離が、鏡部分と前記凹面鏡の縁部によって定められる平面(37)との間の対応の軸方向距離の50%未満である、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  13. 少なくとも1つの絞り位置の場合、前記絞り縁部(35)によって定められる有効絞り平面が、前記凹面鏡(6、106)の縁部によって定められる平面及び前記凹面鏡の頂点間に配置される、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  14. 前記系絞りは、楕円形の絞り縁部を有する絞りである、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  15. 前記系絞りは、前記絞り直径の関数として変化させることができる楕円率を有する、請求項14に記載の投影対物レンズ。
  16. 結像の主光線(43)は、前記凹面鏡の縁部によって定められる平面(37)及び前記凹面鏡の頂点(39)間で前記光軸と交差する、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  17. 前記凹面鏡の前記頂点(39)及び前記絞り位置間の軸方向距離が、最大限に開放した絞りの場合の前記凹面鏡の鏡半径の最大で約20%である、請求項16に記載の投影対物レンズ。
  18. 前記反射屈折対物レンズ部分に割り当てられた系絞りに加えて、さらなる系絞りが、前記屈折対物レンズ部分内で前記系絞りの位置に関して共役の絞り位置(11、111)の領域内に配置されている、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  19. 前記ビーム偏向装置(7)は、少なくとも1つの偏光選択型有効ビームスプリッタ面(21)を有する物理的ビームスプリッタ(20)を有する、前記請求項のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  20. 前記ビーム偏向装置(107)は、前記物体面から出る光を前記凹面鏡の方向に反射するか、または、前記凹面鏡から出る光を前記像面の方向に反射する少なくとも1つの全反射型偏向鏡121を有する、請求項1〜18のいずれか1項に記載の投影対物レンズ。
  21. 照明系及び反射屈折投影対物レンズを有するマイクロリソグラフィ用の投影露光装置であって、前記投影対物レンズは、請求項1〜20のいずれか1項に従って構成される、投影露光装置。
  22. 半導体部品及び他の微細構造部品を製造する方法であって、
    所定パターンを有するマスクを設けるステップと、
    前記マスクを所定波長の紫外線で照明するステップと、
    請求項1〜20のいずれか1項に記載の反射屈折投影対物レンズを用いて、前記パターンの像を前記投影対物レンズの像面の領域内に配置された感光基板上に投影するステップと、
    を含む方法。

JP2004522476A 2002-07-18 2003-07-17 反射屈折投影対物レンズ Pending JP2005533285A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US39655202P 2002-07-18 2002-07-18
PCT/EP2003/007758 WO2004010164A2 (en) 2002-07-18 2003-07-17 Catadioptric projection objective

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005533285A true JP2005533285A (ja) 2005-11-04

Family

ID=30770919

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004522476A Pending JP2005533285A (ja) 2002-07-18 2003-07-17 反射屈折投影対物レンズ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7203010B2 (ja)
EP (1) EP1523692A2 (ja)
JP (1) JP2005533285A (ja)
AU (1) AU2003258519A1 (ja)
WO (1) WO2004010164A2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012186508A (ja) * 2005-06-02 2012-09-27 Carl Zeiss Smt Gmbh マイクロリソグラフィ投影対物レンズ

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10316428A1 (de) * 2003-04-08 2004-10-21 Carl Zeiss Smt Ag Katadioptrisches Reduktionsobjektiv
US8208198B2 (en) 2004-01-14 2012-06-26 Carl Zeiss Smt Gmbh Catadioptric projection objective
US20080151364A1 (en) 2004-01-14 2008-06-26 Carl Zeiss Smt Ag Catadioptric projection objective
US8107162B2 (en) 2004-05-17 2012-01-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Catadioptric projection objective with intermediate images
DE602005008591D1 (de) 2004-06-10 2008-09-11 Zeiss Carl Smt Ag Projektionsobjektiv für eine mikrolithographische projektionsbelichtungsvorrichtung
EP1746463A2 (de) 2005-07-01 2007-01-24 Carl Zeiss SMT AG Verfahren zum Korrigieren eines lithographischen Projektionsobjektivs und derartiges Projektionsobjektiv
EP1837695A1 (en) * 2006-03-22 2007-09-26 Carl Zeiss SMT AG Catadioptric imaging system with beam splitter
DE102008001216A1 (de) 2007-04-18 2008-10-23 Carl Zeiss Smt Ag Projektionsobjektiv für die Mikrolithographie
DE102011003145A1 (de) 2010-02-09 2011-08-11 Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 Optisches System mit Blendeneinrichtung

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5052764A (en) * 1989-08-31 1991-10-01 Hughes Aircraft Company System and method for forming a holographic exposure with a simulated source
JP3395801B2 (ja) * 1994-04-28 2003-04-14 株式会社ニコン 反射屈折投影光学系、走査型投影露光装置、及び走査投影露光方法
DE4417489A1 (de) * 1994-05-19 1995-11-23 Zeiss Carl Fa Höchstaperturiges katadioptrisches Reduktionsobjektiv für die Miktrolithographie
US5969882A (en) * 1997-04-01 1999-10-19 Nikon Corporation Catadioptric optical system
WO1999052004A1 (fr) * 1998-04-07 1999-10-14 Nikon Corporation Appareil et procede d'exposition a projection, et systeme optique reflechissant a refraction
EP0964307A3 (en) * 1998-06-08 2001-09-05 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
DE19939088A1 (de) * 1998-08-18 2000-02-24 Nikon Corp Belichtungsvorrichtung und -verfahren
EP1115019A3 (en) * 1999-12-29 2004-07-28 Carl Zeiss Projection exposure lens with aspheric elements
KR100854052B1 (ko) * 1999-12-29 2008-08-26 칼 짜이스 에스엠테 아게 인접한 비구면 렌즈 표면을 구비한 투사 대물 렌즈
US6995833B2 (en) * 2003-05-23 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012186508A (ja) * 2005-06-02 2012-09-27 Carl Zeiss Smt Gmbh マイクロリソグラフィ投影対物レンズ
JP2014143445A (ja) * 2005-06-02 2014-08-07 Carl Zeiss Smt Gmbh マイクロリソグラフィ投影対物レンズ
US9097984B2 (en) 2005-06-02 2015-08-04 Carl Zeiss Smt Gmbh Microlithography projection objective
US10281824B2 (en) 2005-06-02 2019-05-07 Carl Zeiss Smt Gmbh Microlithography projection objective

Also Published As

Publication number Publication date
WO2004010164A2 (en) 2004-01-29
AU2003258519A1 (en) 2004-02-09
US7203010B2 (en) 2007-04-10
AU2003258519A8 (en) 2004-02-09
US20050207029A1 (en) 2005-09-22
EP1523692A2 (en) 2005-04-20
WO2004010164A3 (en) 2004-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101306438B1 (ko) 차폐된 동공을 가진 렌즈
US7006304B2 (en) Catadioptric reduction lens
JP5106099B2 (ja) 投影対物レンズ、マイクロリソグラフィのための投影露光装置及び反射レチクル
KR101148589B1 (ko) 마이크로리소그래피 투사 대물렌즈
KR100451339B1 (ko) 높은개구수의링필드광학축소시스템
JP3747958B2 (ja) 反射屈折光学系
TWI420249B (zh) 投影曝光裝置、投影曝光方法及投影物
USRE39296E1 (en) Catadioptric projection systems
JP5059049B2 (ja) 分割器及び光束の変形方法及び照明装置
US7203010B2 (en) Catadioptric projection objective
JP2000031041A (ja) 縮小オブジェクティブ
JP5404931B2 (ja) 偏向ミラーを含む反射屈折投影対物系及び投影露光方法
US9046787B2 (en) Microlithographic projection exposure apparatus
JPH08179204A (ja) 投影光学系及び投影露光装置
JP2005503011A (ja) ズーム系、特にマイクロリソグラフィ投影露光システムの照明装置用のズーム系
TW202232245A (zh) 包含加熱裝置與極化器的投影曝光設備
WO2005015316A2 (en) Projection objective for microlithography
TWI301564B (en) Relay lens used in an illumination system of a lithography system
KR101699639B1 (ko) 마이크로리소그래피 투영 노광 장치용 광학 시스템 및 마이크로리소그래피 노광 방법
JP4640688B2 (ja) 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置
US7046459B1 (en) Catadioptric reductions lens
JP2008172272A (ja) マイクロリソグラフィ投影露光装置
JP2001085315A (ja) 照明光学装置および該照明光学装置を備えた露光装置