JP2005531842A - 不揮発性メモリへの書き込み方法およびこの方法を実現するシステム - Google Patents

不揮発性メモリへの書き込み方法およびこの方法を実現するシステム Download PDF

Info

Publication number
JP2005531842A
JP2005531842A JP2004517061A JP2004517061A JP2005531842A JP 2005531842 A JP2005531842 A JP 2005531842A JP 2004517061 A JP2004517061 A JP 2004517061A JP 2004517061 A JP2004517061 A JP 2004517061A JP 2005531842 A JP2005531842 A JP 2005531842A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area
mirror
physical
memory
active
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004517061A
Other languages
English (en)
Inventor
ジーゲリン,クリストフ
カステイーヨ,ロラン
Original Assignee
アクサルト・エス・アー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アクサルト・エス・アー filed Critical アクサルト・エス・アー
Publication of JP2005531842A publication Critical patent/JP2005531842A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/102External programming circuits, e.g. EPROM programmers; In-circuit programming or reprogramming; EPROM emulators
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/0223User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
    • G06F12/023Free address space management
    • G06F12/0238Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
    • G06F12/0246Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/14Circuits for erasing electrically, e.g. erase voltage switching circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/20Employing a main memory using a specific memory technology
    • G06F2212/202Non-volatile memory
    • G06F2212/2022Flash memory
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2216/00Indexing scheme relating to G11C16/00 and subgroups, for features not directly covered by these groups
    • G11C2216/12Reading and writing aspects of erasable programmable read-only memories
    • G11C2216/22Nonvolatile memory in which reading can be carried out from one memory bank or array whilst a word or sector in another bank or array is being erased or programmed simultaneously

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

本発明は、電子モジュールのフラッシュ型メモリへの書き込み方法に関する。この方法は、上記メモリのうちのミラー領域と呼ばれる少なくとも2つの物理領域を同一の論理領域と関連付けし、上記論理領域への書き込みの間、空の上記ミラー領域のうちの1つで上記論理領域の内容をプログラミングし、適切な時間に単一動作で使用中の全ミラー領域の内容を消去することを含む。本発明はまた、この方法が実現されるスマートカードに関する。

Description

本発明は、例えばオンボードシステムなどの電子アセンブリの不揮発性メモリへの書き込み方法に関する。より正確には、本発明の目的は、この種のメモリへの書き込み時間を最適化する方法を提案することである。
本発明はまた、この方法を実行するためのオンボードシステムに関する。
本発明は、より具体的には、スマートカードに適用する。
本発明に関しては、用語「オンボードシステム」は最も広い意味で用いるものとする。詳細には、この用語は電子チップを搭載したすべての種類の小型端末装置、より具体的にはスマートカード等に関する。電子チップ自体は情報処理手段(例えばマイクロプロセッサ)や情報記憶手段に搭載される。
オンボードシステムの不揮発性メモリへの永久データの書き込みは、一般に、上記メモリの消去/プログラミングのステップの連続からなる。消去は、(「ブロック」または「ページ」と呼ばれる)特定領域の全メモリセルを「low」状態(以下、「0」と称す)に切り換えることである。プログラミングは、上記特定領域の一部だけを「high」状態(「1」と書かれる)に切り換えることである。書き込みは、ある領域の消去とこの領域内の適切なビットをプログラミングすることである。
現在のカードでは、不揮発性メモリはEEPROM技術を利用している。EEPROMメモリへの書き込み動作は極めて遅く、約4msである。消去およびプログラミングの時間も同様で、書き込み時間の約半分、すなわち約2msである。この結果、メモリの書き込みにより生じる待ち時間によって、プロセッサの本来の性能が発揮されないことになる。
現在、新しい不揮発性メモリ技術、すなわちフラッシュ技術がスマートカードにおいて出現してきている。特にフラッシュ技術がEEPROM技術と異なるのは、プログラミングおよび消去の特性が大幅に異なる点である。したがって、フラッシュメモリでは、プログラミングに要求される高速な時間と、先にプログラムされたセルを消去するのに要求される時間(EPROMメモリの消去に必要な時間と同等)との間に大きな差がある。例えば、プログラミングに要求される時間は、(少量のメモリに対して)10μsに達することもある。
本発明の1つの目的は、フラッシュ型メモリを搭載した電子アセンブリの不揮発性メモリの書き込み時間を最適化することである。
本発明の別の目的は、オンボードシステムで実現できる解決法を提案することである。
本発明は電子モジュールのフラッシュ型メモリへの書き込み方法に関し、この方法は、上記メモリのうちのミラー領域と呼ばれる少なくとも2つの物理領域を同一の論理領域と関連付けし、この論理領域への書き込みの間、空のミラー領域のうちの1つで上記論理領域の内容をプログラミングすることを特徴とする。
本発明はまた、情報処理手段およびフラッシュ型不揮発性メモリを備える電子モジュールに関し、この電子モジュールは、少なくとも2つの物理領域から形成された、同一論理領域に関連付けられたミラーメモリを備え、上記論理領域の新しいプログラミング動作のそれぞれが空のミラーメモリの領域で行なわれ、カード内に上記モジュールが組み込まれていることを特徴とする。
本発明の他の目的、特徴および利点は、本発明による方法の実施およびこの実施のために構成された電子システムの実施形態に関する以下の説明を読解し、さらに例示であり、これに限定されるものではない添付の図面を参照することによって明らかとなろう。
本発明による方法は、電子アセンブリのメモリ、例えばスマートカードなどのオンボードシステム、電子モジュールを搭載した任意の携帯物のメモリへの書き込み時間を最適化することを目的とする。電子アセンブリは少なくともプロセッサおよびフラッシュ型不揮発性メモリを含む。以下の説明においては、フラッシュ型メモリとは、プログラミングならびに消去に必要な時間の間に差がある任意の不揮発性メモリを意味する。
これはどのような方法であれ範囲を限定することなく、本発明の好ましい用途、すなわち集積回路カードを基本とする用途が以下に説明される。
スマートカードとも呼ばれる集積回路を備えたカードは、小型のプラスチックデバイスであり、1つ以上の埋込み型集積回路を含む。集積回路を備えたカードは、例えばメモリカード、またはマイクロプロセッサチップカードとも呼ばれるマイクロプロセッサカードであってもよい。
図1に示される本発明の特定の実施形態において、スマートカード1は集積化電子ユニット2を含み、電子ユニット2は、内部バス5を介して少なくとも実行プログラムを記憶するフラッシュ型不揮発性メモリ7に双方向接続されたマイクロプロセッサCPU3と、RAM型揮発性メモリ11と、外部と通信する入力/出力手段13とを少なくとも備える。電子ユニット2は、図示されていないが、内部バスと接続されるさらなる構成部品を備えることができる。この種のユニットは一般に、モノリシック集積電子回路またはチップとして製造され、任意の知られている手段によって一旦物理的に保護された後、集積回路カードに組み込むか、あるいは銀行および/または電子支払いカード、携帯無線電話、有料テレビジョン、医療および輸送などのさまざまな分野で用いられる同様の物に組み込むことができる。
本発明は、不揮発性メモリ、特にフラッシュ型メモリのプログラミング/消去の時間の差から恩恵を得るためのソフトウェア方法を含み、スマートカードの不揮発性メモリへの書き込み時間を最適化する。したがって、「ミラー」メモリが定義され、プログラムの同一論理領域を含むよう構成されたn個の物理領域に分割される。
図1はミラーメモリ構成の一例を示す。
システムの初期状態においては、全てのミラーメモリ領域は空白、すなわち空であり、データ受信および格納に備えている。プログラムが論理領域ZLにE1を書き込もうとする場合、第1物理領域ZP1をプログラミングすること(高速)によって書き込まれる。ZP1はいわゆるアクティブまたは現在の物理領域であって、この領域には論理領域の内容を読込む必要がある。次にこの論理領域ZLにE2を書き込む間、第2物理領域ZP2(まだ空である)をプログラミングすることによって、第1物理領域ZP1が消去される(低速)のを防ぐ。領域ZP2はアクティブ領域となる。この方法は、ミラーメモリが飽和状態になるまで(または、以下に見られるように、システムが使用物理領域を消去するのに適切な時間を見出すまで)繰り返される。
全物理領域を再利用するために、ミラーメモリを定期的に消去しなければならない。消去はシステムにとって適切な時間に実行され、この消去はフラッシュメモリの「ブロックモード」から恩恵を受けることができる。これらの物理領域の消去は、実際には、最初に単一動作で全領域を消去し、次にシステム動作を妨害しない方法で消去を行うことによって最適化される。
「時分割多重化」として知られている第1方法は、純粋なソフトウェア実施形態である。システムが特に端末装置からの命令などの外部イベントを待っているときに、カードシステムによって消去が行われる。「空間多重化」として知られている第2方法は、現在のタスクを実行するのにハードウェアのサポートを必要とする。消去タスクは、実際には、カードシステムによって開始され、通常のプログラム実行と並行して行われる。この第2方法の実現は2ポートフラッシュメモリを用いるかまたは2バンクフラッシュメモリを用いて実行されるのが好ましい。
要するに、本発明で述べるプログラミング/消去サイクルを分離することによって、フラッシュメモリに高速プログラミングの利点を提供し、メモリ消去動作を最適化する。したがって、本発明はメモリ使用と性能の妥協点を得ることである。
本発明のいくつかの実施形態を以下の3つのセクションで説明する。
セクション1:論理領域/物理領域間の関連付けの実現
セクション2:領域書き込みアルゴリズム
セクション3:物理領域の消去および再生
論理領域/物理領域間の関連付けの実施形態(セクション1)を以下に説明する。論理領域/物理領域間を関連付けるために、アクティブ物理領域(論理領域の内容を読込む必要がある現在の「ミラー」領域)を知る必要がある。物理領域を変更する際に、このデータを迅速に修正することにより、プログラミング動作に支障を与えないようにできる必要がある。したがって、データはRAMまたは先に消去されたフラッシュ領域に格納しなければならない。
第1の実施形態は、アクティブ領域の数を含む、論理領域に関連付けられた簡単なRAMカウンタを含む。この領域はカウンタをインクリメントすることによって変更される。カードを初期化するか、または分割する場合、物理領域を走査して、「使用」領域Zpuの数、すなわち所定の時間で関連論理領域の内容がプログラムされているがまだ消去されていない領域の数が決定される。カウンタはこの値で初期化される。
図3はこの第1の実施形態についての、アクティブ物理領域の変更を必要とする書き込み動作を表している。
第2の実施形態は、論理領域に関連付けられたフラッシュメモリ内のビット領域を含む。各ビットは物理領域の使用状態を表す(「1」→使用済み、「0」→空白)。物理領域の変更は、新たなアクティブ空白領域に対応するビットをプログラミングすることによって実行される。全物理領域が再生されると全体のビット領域が消去される。例えば、アクティブ領域は、ビット領域で使用される重要度が最下位領域として決定されてもよい。
図4はこの第2の実施形態についての、アクティブ物理領域の変更を必要とする書き込み動作を表している。
ある領域への書き込みアルゴリズムの実施形態(セクション2)を、各種の比較動作を示す図5aから5cを参照して、以下に説明する。左側のアクティブ物理領域は修正すべきビットを太字体で含んでいる。新しいアクティブ物理領域(図5aの古い領域と同じ)と実際にプログラムされたビットが明瞭に右側に示されている。
最も簡単な方法では、論理領域全体の書き込みは新しい物理領域の使用を伴い、一方論理領域の部分的な書き込みは現在の物理領域への読込み、該当部分の置換、その後、新しい物理領域への再書き込みを伴う。この動作は現在の物理領域が再利用できるかどうかを決定することによって最適化できる。
この方法ではまず、現在の領域を読取り、これを書き込まれる部分と比較する。
・2つの内容が同じ場合、何も書き込まれず、アクティブ物理領域は同一状態に留まる(図5a)。
・ビットプログラミング動作のみが必要とされる場合(すなわち、「0」から「1」への切り換え)、アクティブ領域は変更されず、対応するビットが現在の領域にプログラムされる(図5b)。
・その他の場合は、現在の領域が読取られ、書き込まれる部分によってマスクされ、その後、全てが新しいアクティブ領域でプログラムされる(図5c)。
不揮発性メモリの読込みは高速で、わずか数プロセッササイクルであるために、あらかじめ現在の領域を読取ることは、この方法の性能に大きな影響を与えないことに留意されたい。さらに、現在の領域の内容はRAMに一時的に格納できる(その後キャッシュメモリとして機能する)。
前述の方法(図5c)の変形例においては、領域は全体をプログラムされず、実際に異なる部分(図の灰色部分)のみがプログラムされる。この方法はより複雑な管理を伴うが、不揮発性メモリをプログラミングする際に重要な利得があるか、またはビットのプログラミング時間が極めて高速であるかのどちらかの理由で、より優れているとされる。
物理領域の再生の実施形態(セクション3)を、図6を参照して以下に説明する。
「時分割多重化」はプログラミング/消去動作を時間で分割する。通常動作においては、システムはプログラミングを実行するのみである。システムがアクティブでなくなると(または全領域が一杯になると)、システムは領域を消去し、この期間の間は休止状態にされる。例えば、スマートカードのI/Oラインで命令の受取りが長くなり(数百ms)、システムはこの時間を利用して、消去を行なう。
領域を消去するための純粋なソフトウェア構成(図6)は、バッファ領域のアクティブ物理領域(「ミラー」)をコピーし、その後全ミラー物理領域を消去し、最後にバッファを利用可能な第1物理領域にコピーすることを含む。この構成が以下の図に示されている。
「空間多重化」は、消去動作と論理領域のプログラミング/読取り動作とを並行して行う。2バンクフラッシュがこの多重化を実行するのに用いられる。読取り/プログラミング/消去動作はフラッシュに対してだけなされるのが一般的であり、詳細には、別のメモリをプログラミングするまたは読取る間に、1つのメモリ領域を消去することは不可能である。2バンクフラッシュは2つのバンクを有し、この2つのバンク上で、(各バンクが従来のフラッシュと同じ制約を有するとしても)動作を並行して実行できる。
このメモリでの実施形態は、論理領域が各バンクに少なくとも1つの「ミラー」領域を有することを前提とする。アクティブ領域を含むバンクはプログラミングおよび読取りに用いられ、一方、同時に別のバンクのミラー領域は(可能ならば)全体を消去される。バンクの全ミラー領域が使用されてしまうと、システムはアクティブバンクを変更する。図7aから7cはこれの実施形態を示す。
図7aでは、プログラミング/読取り動作がバンクAで行われ、一方バンクBは消去される。
図7bでは、Bが消去され、システムは物理領域が飽和になるまでAで作動し続ける。
図7cでは、Aは飽和に達し、Bはアクティブバンクとなり、並行してシステムはAを消去する。
スマートカードなどの携帯物に組み込まれた電子モジュールの実施形態の例の概略図である。 本発明による方法のステップの概略図である。 本発明による方法の論理領域と物理領域との間の関連付けの第1実施形態の概略図である。 本発明による方法の論理領域と物理領域との間の関連付けの第2実施形態の概略図である。 フラッシュ型メモリへの各種の書き込みの概略図である。 フラッシュ型メモリへの各種の書き込みの概略図である。 フラッシュ型メモリへの各種の書き込みの概略図である。 本発明による方法における物理領域の消去と再生の第1実施形態の概略図である。 本発明による方法における物理領域の消去および再生の第2実施形態の概略図である。 本発明による方法における物理領域の消去および再生の第2実施形態の概略図である。 本発明による方法における物理領域の消去および再生の第2実施形態の概略図である。

Claims (13)

  1. 電子モジュールのフラッシュ型メモリに書き込む方法であって、前記メモリのうち、ミラー領域と呼ばれる少なくとも2つの物理領域を、同一論理領域に関連付けることと、前記論理領域への書き込みの間、前記論理領域の内容を、アクティブ領域と呼ばれる空の前記ミラー領域の1つでプログラミングすることを特徴とする、方法。
  2. 使用されている全ミラー領域の内容を適切な時間に単一動作で消去することを特徴とする、請求項1に記載の方法。
  3. アクティブでない期間またはミラーの全物理領域が使用されている場合に、消去を行うことを特徴とする、請求項2に記載の方法。
  4. アクティブ物理領域をバッファ領域にコピーすることと、ミラーの全物理領域を消去することと、バッファを利用可能な第1領域にコピーすることを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
  5. システムを妨害することなく、消去およびプログラミング/読取り動作を並行して行うことを特徴とする、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
  6. 消去およびプログラミング/読取り動作が2バンクメモリで並行して行われ、各バンクはミラー領域を有し、一方のバンクは他方のバンクが消去されている間にプログラミング/読取りに用いられ、プログラミング/読取りに用いられるバンクの全ミラー領域が使用されている場合にはアクティブバンクを変更することを特徴とする、請求項5に記載の方法。
  7. アクティブ領域の変更ごとにインクリメントするカウンタを用いて前記アクティブ物理領域を指定することを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。
  8. 少なくとも1つのビットを、前記論理領域の少なくとも1つのミラー物理領域の使用状態を表す論理領域に関連付けることを特徴とする、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
  9. 論理領域の内容がアクティブ物理領域の内容と一致する場合、または前記書き込みが消去を伴わない場合にはアクティブ物理領域に、その他の場合には空物理領域に書き込みが実行されることを特徴とする、請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。
  10. 空物理領域に論理領域の一部だけをプログラミングすることを特徴とする、請求項9に記載の方法。
  11. 情報処理手段とフラッシュ型不揮発性メモリとを備える電子モジュールであって、少なくとも2つの物理領域から形成され、かつ同一論理領域に関連付けられたミラーメモリを備え、前記論理領域内のそれぞれ新しいプログラミング動作が空ミラー領域の一領域で行なわれていることを特徴とする、電子モジュール。
  12. 請求項11に記載の電子モジュールを含むことを特徴とする、カード。
  13. データ処理システムで前記プログラムが実行されるとき、請求項1から10のいずれか一項に記載の方法を実行するプログラムコード命令を含む、コンピュータプログラム。
JP2004517061A 2002-06-28 2003-06-27 不揮発性メモリへの書き込み方法およびこの方法を実現するシステム Pending JP2005531842A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP02291626A EP1376608A1 (fr) 2002-06-28 2002-06-28 Procédé d'écriture dans une mémoire non volatile et système pour la mise en oeuvre d'un tel procédé
PCT/IB2003/002509 WO2004003927A1 (en) 2002-06-28 2003-06-27 Method to write in a non volatile memory and system to implement such method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005531842A true JP2005531842A (ja) 2005-10-20

Family

ID=29716960

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004517061A Pending JP2005531842A (ja) 2002-06-28 2003-06-27 不揮発性メモリへの書き込み方法およびこの方法を実現するシステム

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20050262291A1 (ja)
EP (2) EP1376608A1 (ja)
JP (1) JP2005531842A (ja)
KR (1) KR20050040120A (ja)
CN (1) CN100538904C (ja)
AU (1) AU2003279978A1 (ja)
WO (1) WO2004003927A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100631765B1 (ko) 2004-10-18 2006-10-09 삼성전자주식회사 플래시 메모리의 데이터 처리 장치 및 방법
KR100643288B1 (ko) 2004-11-16 2006-11-10 삼성전자주식회사 플래시 메모리의 데이터 처리 장치 및 방법
KR100759700B1 (ko) * 2005-08-03 2007-09-17 조창국 플래시메모리카드의 미러인터페이스 방법
US8156299B2 (en) * 2007-10-19 2012-04-10 Virident Systems Inc. Managing memory systems containing components with asymmetric characteristics
US8291181B2 (en) 2008-10-28 2012-10-16 Micron Technology, Inc. Temporary mirroring, logical segregation, and redundant programming or addressing for solid state drive operation
TWI410795B (zh) * 2009-06-23 2013-10-01 Phison Electronics Corp 用於快閃記憶體的資料寫入方法及其控制電路與儲存系統

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09259046A (ja) * 1996-03-22 1997-10-03 Kokusai Electric Co Ltd フラッシュメモリへのデータ格納方法及びフラッシュメモリからのデータ読み込み方法
JPH11144478A (ja) * 1997-11-10 1999-05-28 Hitachi Device Eng Co Ltd 不揮発性半導体メモリの情報記憶方法および電子機器
JPH11328982A (ja) * 1998-03-19 1999-11-30 Fuji Electric Co Ltd フラッシュメモリのデ―タ管理方式
JP2000035916A (ja) * 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp メモリ動作管理方法
JP2000215098A (ja) * 1999-01-22 2000-08-04 Mitsubishi Electric Corp メモリ書き込み方法
JP2000339212A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Sony Corp 不揮発性メモリのデータ変更方法
JP2001229073A (ja) * 2000-02-16 2001-08-24 Hitachi Ltd フラッシュメモリ

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4763305A (en) * 1985-11-27 1988-08-09 Motorola, Inc. Intelligent write in an EEPROM with data and erase check
US5758148A (en) * 1989-03-10 1998-05-26 Board Of Regents, The University Of Texas System System and method for searching a data base using a content-searchable memory
FR2665791B1 (fr) * 1990-08-13 1994-11-10 Didier Mazingue Procede de mise a jour d'une memoire eeprom.
IT1252261B (it) * 1991-11-15 1995-06-08 Alcatel Italia Metodo di aggiornamento di dati memorizzanti in locazioni di memoria di una unita' di memoria, in particolare di una memoria flash eprom
US5375222A (en) * 1992-03-31 1994-12-20 Intel Corporation Flash memory card with a ready/busy mask register
US5404485A (en) * 1993-03-08 1995-04-04 M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. Flash file system
US5485595A (en) * 1993-03-26 1996-01-16 Cirrus Logic, Inc. Flash memory mass storage architecture incorporating wear leveling technique without using cam cells
JP2971302B2 (ja) * 1993-06-30 1999-11-02 シャープ株式会社 Eepromを使用した記録装置
GB2291990A (en) * 1995-09-27 1996-02-07 Memory Corp Plc Flash-memory management system
CN1109300C (zh) * 1997-07-31 2003-05-21 周恽 计算机硬盘存储内容透明保护的方法及其装置
US6088264A (en) * 1998-01-05 2000-07-11 Intel Corporation Flash memory partitioning for read-while-write operation
GB2349242A (en) * 1999-04-20 2000-10-25 Inventec Corp Flash memory architecture and rewrite method
FR2809223A1 (fr) * 2000-05-17 2001-11-23 Schlumberger Systems & Service Effacement d'eeprom en temps masque
EP1220229B1 (en) * 2000-12-29 2009-03-18 STMicroelectronics S.r.l. An electrically modifiable, non-volatile, semiconductor memory which can keep a datum stored until an operation to modify the datum is completed

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09259046A (ja) * 1996-03-22 1997-10-03 Kokusai Electric Co Ltd フラッシュメモリへのデータ格納方法及びフラッシュメモリからのデータ読み込み方法
JPH11144478A (ja) * 1997-11-10 1999-05-28 Hitachi Device Eng Co Ltd 不揮発性半導体メモリの情報記憶方法および電子機器
JPH11328982A (ja) * 1998-03-19 1999-11-30 Fuji Electric Co Ltd フラッシュメモリのデ―タ管理方式
JP2000035916A (ja) * 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp メモリ動作管理方法
JP2000215098A (ja) * 1999-01-22 2000-08-04 Mitsubishi Electric Corp メモリ書き込み方法
JP2000339212A (ja) * 1999-05-31 2000-12-08 Sony Corp 不揮発性メモリのデータ変更方法
JP2001229073A (ja) * 2000-02-16 2001-08-24 Hitachi Ltd フラッシュメモリ

Also Published As

Publication number Publication date
AU2003279978A1 (en) 2004-01-19
KR20050040120A (ko) 2005-05-03
US20050262291A1 (en) 2005-11-24
CN1666296A (zh) 2005-09-07
CN100538904C (zh) 2009-09-09
EP1376608A1 (fr) 2004-01-02
EP1520278A1 (en) 2005-04-06
WO2004003927A1 (en) 2004-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060129750A1 (en) Method and apparatus for storing multimedia data in nonvolatile storage device in units of blocks
KR101391270B1 (ko) Mram을 이용하는 비휘발성 메모리 시스템
US7116578B2 (en) Non-volatile memory device and data storing method
US6154808A (en) Method and apparatus for controlling data erase operations of a non-volatile memory device
US8041879B2 (en) Flash memory backup system and method
US8230166B2 (en) Apparatus and method for processing data of flash memory
US8015370B2 (en) Memory control method and memory system
US20070214309A1 (en) Nonvolatile storage device and data writing method thereof
JP2003015929A (ja) 不揮発性メモリの制御方法
EP1228510A1 (en) Space management for managing high capacity nonvolatile memory
US20080002469A1 (en) Non-volatile memory
CN111475425A (zh) 管理闪存模块的方法及相关的闪存控制器与电子装置
JP3875139B2 (ja) 不揮発性半導体記憶装置、そのデータ書き込み制御方法およびプログラム
US20070106835A1 (en) Display controller and method of updating parameters of the same
US6498750B2 (en) Boot block flash memory control circuit; IC memory card and semiconductor memory device incorporating the same; and erasure method for boot block flash memory
JP2005531842A (ja) 不揮発性メモリへの書き込み方法およびこの方法を実現するシステム
KR20050076156A (ko) 플래시 메모리의 데이터 복구 장치 및 방법
US6535442B2 (en) Semiconductor memory capable of debugging an incorrect write to or an incorrect erase from the same
JPH07153284A (ja) 不揮発性半導体記憶装置及びその制御方法
US6898680B2 (en) Minimization of overhead of non-volatile memory operation
JP2004030849A (ja) データの一部書き換え機能を有する半導体不揮発性メモリ
JP2000276461A (ja) マイクロコンピュータ
JPH06162786A (ja) フラッシュメモリを用いた情報処理装置
KR100650839B1 (ko) 플래시 메모리 시스템 및 그 소거방법
JP2003308247A (ja) メモリーカード

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060614

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091001

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091006

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091224

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100106

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100405

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101012