JP2005513459A - 容器内の環境を監視するための装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
輸送又は長期保管の間に容器(50)内の環境状態を記録するための装置及び方法である。容器(50)は半導体ウェーハ又は他の損傷を受けやすい構成部品を受容するためのものである。
Description
発明の分野
本発明は、一般に、半導体ウェーハ及び他の損傷を受けやすい構成部品の輸送に関する。詳細には、本発明は、輸送及び/又は長期保管の間に容器内の環境状態を検知し記録するための装置及び方法に関する。
本発明は、一般に、半導体ウェーハ及び他の損傷を受けやすい構成部品の輸送に関する。詳細には、本発明は、輸送及び/又は長期保管の間に容器内の環境状態を検知し記録するための装置及び方法に関する。
発明の背景
集積回路装置は、一般に、比較的大きい半導体ウェーハ上に製造され、そして、単一のウェーハは、しばしば、そこに形成された数百ものそうした装置を含む。集積回路が半導体ウェーハ上に形成され、いずれかの必要な試験を受けると、ウェーハは複数のダイ(一つのダイは一つ又は複数の集積回路を含む)に切断され、各ダイはその後パッケージされてパッケージ集積回路装置、すなわち、「チップ」が形成される。パッケージングは、ダイへのリードの取付(例えば、リードフレーム又はボールグリッドアレイ)及び注封材料(potting material)によるダイのインケースメントのほか、電気的試験及びキャラクタリゼーションを含む。「未加工(raw)」半導体ウェーハ(すなわち、そこにいかなる回路又は他の構造も形成されていないウェーハ)の製造だけでなく、集積回路装置の製造は、それぞれ、高度に制御及び監視された環境において実行され、これらの環境は製造施設の外部に複製することは難しい。
集積回路装置は、一般に、比較的大きい半導体ウェーハ上に製造され、そして、単一のウェーハは、しばしば、そこに形成された数百ものそうした装置を含む。集積回路が半導体ウェーハ上に形成され、いずれかの必要な試験を受けると、ウェーハは複数のダイ(一つのダイは一つ又は複数の集積回路を含む)に切断され、各ダイはその後パッケージされてパッケージ集積回路装置、すなわち、「チップ」が形成される。パッケージングは、ダイへのリードの取付(例えば、リードフレーム又はボールグリッドアレイ)及び注封材料(potting material)によるダイのインケースメントのほか、電気的試験及びキャラクタリゼーションを含む。「未加工(raw)」半導体ウェーハ(すなわち、そこにいかなる回路又は他の構造も形成されていないウェーハ)の製造だけでなく、集積回路装置の製造は、それぞれ、高度に制御及び監視された環境において実行され、これらの環境は製造施設の外部に複製することは難しい。
多くの集積回路(IC)製造者は未加工半導体ウェーハは製造せず、外部の供給元から未加工ウェーハを受け入れることがIC製造者にとって通例である。従って、未加工ウェーハは製造施設からIC製造者まで輸送されなければならないが、上述の通り、製造施設の外部に制御された製造環境を複製することは難しい。さらに、「加工済み(processed)」半導体ウェーハ、(すなわち、そこに複数の集積回路が形成されているウェーハ)を、切断、パッケージング及び電気的キャラクタリゼーションのために、IC製造施設から別の場所に輸送することがしばしば必要である。半導体ウェーハの輸送に加え、制御された製造施設の外部の場所で未加工及び加工済みのウェーハを長期時限にわたり保管することも時には必要である。未加工及び加工済み双方の半導体ウェーハは輸送容器において輸送及び/又は保管され、そのような輸送容器は当業において周知である。
未加工又は加工済みの状態にかかわらず、半導体ウェーハはそれぞれの環境に極めて敏感である。例えば、半導体ウェーハ及びそこに形成されたいずれかの回路は、温度、湿度及び圧力といった他の環境特性に対してと同様、化学的汚染及び微粒子汚染に極めて影響されやすい。激しい振動及び衝撃はウェーハだけでなく、ウェーハ上に形成されたあらゆる回路において過度の応力を生じ、破壊や回路の損傷をもたらす。また、半導体ウェーハ及び/又はその輸送容器での電荷の蓄積(及びその電荷の以降の放電)は、ウェーハ、特に、そこに形成された集積回路に損傷を与える。さらに、電磁放射(可視及び非可視の両方)もウェーハ及びその回路に損傷を与える。場合によっては、これらの不利な環境状態のうちの二つ以上が組合わさって存在するかもしれず、それらの作用は累積される。例えば、熱誘起応力は、過度の振動及び/又は衝撃による応力との組合せで存在する。
半導体ウェーハ又は他の損傷を受けやすい構成部品を輸送するために使用される輸送容器はそれ自体、不利な環境状態に影響されやすいかもしれない。例えば、輸送容器内の不利な環境状態(例えば、温度、湿度及び/又は圧力)は、輸送容器(輸送容器は、一般に、プラスチック材料で形成される)からのガス放出につながるかもしれず、そのようなガス放出は輸送容器内に保管された内容物(例えば、半導体ウェーハ)の汚染を生じる。さらに、輸送容器に与えられる衝撃及び振動は、容器とその内容物との間での相対的な動きを生じる。輸送容器と、例えば、半導体ウェーハとの間の相対的な動き又は摩擦は、微粒子の発生をつながり(微粒子は輸送容器材料からだけでなくウェーハ材料からも発する)、これらの微粒子は輸送容器内に保管されたウェーハを汚染する可能性がある。
半導体ウェーハが輸送の間に上記の環境状態のいずれかに曝された場合、結果として生じる損傷(例えば、ミクロ破壊、化学的汚染、微粒子汚染)は、容易に観察できないことが多く、検出するのが困難である。さらに、そうした損傷(又は、そうした損傷の作用)は、IC装置製造がほとんど完了するまで(すなわち、最終的な電気的試験の時点で)、気づかれないかもしれず、結果的に、損傷したIC装置の損失をもたらすだけでなく、資源が売り物になる製品とはならない損傷した装置の処理に充てられることになる。従って、著しい環境的損傷は、低い製造歩留り及び高い生産コストにつながる。
他の環境的に損傷を受けやすい構成部品は、半導体ウェーハに利用されるものに類似の輸送容器において輸送及び/又は保管される。例えば、磁気的又は光学的にアクセス可能なディスクは、しばしば、類似の輸送容器において輸送される。そのような磁気的及び光学的にアクセス可能なディスクは、例えば、ディスクドライブの製造において使用される。また、(完成しているか又は部分的に組立てられた状態にあるかに関わらず)、フラットパネルディスプレイは、幾つかのタイプの密閉容器において輸送することが望ましい。
上述の問題に対する一つの一般的な解決策は、試験のために一群のウェーハ(すなわち、一つの輸送容器に保管されたウェーハ)から「試験ウェーハ(test wafer)」を抜き取ることであった。試験ウェーハは、輸送又は長期保管の後、いずれかの望ましくない環境状態にさらされていたウェーハから結果的に生じる損傷について分析される。しかし、ウェーハの分析はたいてい、ウェーハ又は少なくともその一部の破壊を必要とし、それが、IC製造者が若干の製品を犠牲にすることを必要とした。さらに、上述の通り、半導体ウェーハが被った損傷を検出することはしばしば困難である。しばしば用いられた別の解決策は、特定の環境状態の作用が定量化できるように、シミュレートされた輸送及び/又は保管環境においてウェーハを試験することであった。しかし、シミュレートされた環境は、実際の輸送及び/又は保管状態を正確に表現しないかもしれない。
半導体ウェーハが輸送の間に曝された環境状態をIC製造者が知っていれば、IC製造者はウェーハの実行可能性を評価することができよう。未加工ウェーハの場合、製造者は、低い製造歩留りを示す潜在的に損傷を受けたウェーハに生産資源を割り当てることを回避することができよう。また、輸送及び/又は長期保管の間に、加工済みの半導体ウェーハの環境状態を監視することは、品質保証のために、また、有用な製品を犠牲にすることなく高い歩留まりを保証するために使用される。さらに、輸送容器内の環境状態を監視することは、輸送容器自体の設計を評価するためだけでなく、輸送モードを評価するためにも有益である。しかし、現在、IC製造者は、半導体ウェーハ又は他の環境的に損傷を受けやすい構成部品の輸送及び/又は長期保管の間の輸送容器内の環境状態を追跡できる能力を有していない。
米国特許第5,481,245号明細書
米国特許第4,972,099号明細書
米国特許第5,936,523号明細書
米国特許第6,281,797号明細書
米国特許出願公開第2002/0120475号明細書
米国特許出願公開第2002/0187025号明細書
一実施形態は、容器との使用のための計装基板を有し、容器は複数の構成部品を受容するための内部空洞を有する。計装基板は、容器の内部空洞に挿入され得る基板を含む。計装基板は、基板上に配置された監視システムをさらに含む。監視システムは、少なくとも一つの環境特性を検知することができる。
別の実施形態は容器を有する。容器は、内部空洞を限定するハウジング壁を有するハウジングを含む。ハウジング壁は、また、内部空洞への開口を含む。複数の棚が内部空洞内でハウジング壁に配置されており、棚の各々は構成部品を受容することができる。扉が開口の近傍でハウジングに可動式に固定されている。容器は、ハウジング壁及び扉のうちの一方に配置された監視システムをさらに含む。監視システムは、内部空洞内の少なくとも一つの環境特性を検知することができる。
発明の詳細な説明
半導体ウェーハ5を輸送及び/又は保管するための従来の輸送容器50が図1に示されている。従来の輸送容器50は、ハウジング壁53を有するハウジング52を含む。ハウジング52は一つ又は複数の半導体ウェーハ5(明瞭のために一つだけ図示されている)を受容するための内部空洞54を有する。ウェーハ5は、その開口55を通して内部空洞54へ挿入される。内部空洞54内には、複数の棚56がハウジング52の壁53に配置されており、各棚56はウェーハ5を受け入れて支持するように適合されている。輸送容器50は、また、開口55を被って内部空洞54を閉鎖するための可動扉すなわちカバー58を含む。可動扉58は、図1に示されるように、取り外し可能であってっもよいし、又は一つ又は複数の丁番によってハウジング52と結合されていてもよい。複数のウェーハ5を輸送及び/又は保管するためには、ウェーハ5は内部空洞54に入れられ(各ウェーハは棚56のうちの一つに受容される)、そして、可動扉58がハウジング52に固定される。
半導体ウェーハ5を輸送及び/又は保管するための従来の輸送容器50が図1に示されている。従来の輸送容器50は、ハウジング壁53を有するハウジング52を含む。ハウジング52は一つ又は複数の半導体ウェーハ5(明瞭のために一つだけ図示されている)を受容するための内部空洞54を有する。ウェーハ5は、その開口55を通して内部空洞54へ挿入される。内部空洞54内には、複数の棚56がハウジング52の壁53に配置されており、各棚56はウェーハ5を受け入れて支持するように適合されている。輸送容器50は、また、開口55を被って内部空洞54を閉鎖するための可動扉すなわちカバー58を含む。可動扉58は、図1に示されるように、取り外し可能であってっもよいし、又は一つ又は複数の丁番によってハウジング52と結合されていてもよい。複数のウェーハ5を輸送及び/又は保管するためには、ウェーハ5は内部空洞54に入れられ(各ウェーハは棚56のうちの一つに受容される)、そして、可動扉58がハウジング52に固定される。
図1に示された輸送容器50は、広範な一連の従来の輸送容器を代表するものであり、本発明が図1に示された特定の容器50に限定されないことが理解されなければならない。さらに、本発明が半導体ウェーハを輸送するための容器に限定されないことも理解されなければならない。例えば、本発明は、ディスクドライブ及び他の装置の製造において使用される磁気的又は光学的にアクセス可能なディスクのほか、フラットパネルディスプレイといった、他の損傷を受けやすい構成部品を輸送及び/又は保管するための輸送容器にも適用可能である。
可動扉58がハウジング52に固定されて、複数のウェーハ5が内部空洞54内に封入されると、内部空洞54及びその内容物は、周囲環境3からほぼ密封及び/又は保護されている環境内に収容される。しかし、特定の種類の化学物質及び/又は微粒子は、湿分と同様に、ハウジング52と可動扉58との間に設けられたシールを通り抜けたり、そうでなければ、輸送容器50に入り込むことが可能である。また、周囲環境3の状態が内部空洞54内の環境に影響を与えるかもしれない。例えば、周囲環境3の高温は、通常、輸送容器50内の高温をもたらすはずである。同様に、輸送容器50の外側に与えられた振動や衝撃は、一般に、輸送容器50の内部空洞54内に置かれている内容物に伝わる。さらに、汚染物質が、(例えば、容器50とその内容物との間の相対的な動きによるガス放出又は微粒子の発生によって)輸送容器50それ自体の内部で発生することもあり得る。上述のように、これらの不利な環境状態は半導体ウェーハ5(又は他の損傷を受けやすい構成部品)に損傷を与えていても、IC製造者が、輸送及び/又は保管の間に、ウェーハがそのような状態にさらされたということを知らないことがあり得る。
計装基板(instrumented substrate)100の実施形態が図2〜4に示されている。計装基板100は、輸送及び/又は長期保管の間にあらゆる形式の輸送容器内の環境状態を記録するため、及び/又は環境的に損傷を受けやすい構成部品を受容するためのあらゆる他の形式の容器内の環境状態を記録するために使用される。また、計装基板100は、(磁気的アクセス可能ディスク、光学的アクセス可能ディスク及びフラットパネルディスプレイと同様に、未加工及び加工済みの両方の半導体ウェーハを含む)あらゆる種類の損傷を受けやすい構成部品について環境状態を監視するために使用される。そうした状態についての知識は、製造歩留りを増大させ、コストを低減し、製品品質を改善する。さらに、計装基板は、輸送容器の設計を評価するためだけでなく、輸送の態様及び方法を評価するためにも使用される。
図2〜4を参照すると、計装基板100は、基板200及び監視システム300を含む。基板200は、上面210及び反対側の下面220を有し、基板200は周縁部230も有する。基板200は、基板200が輸送容器50の内部空洞54内に受容させることができるものである限り、いかなる適切な形状及び形態であってもよい。例えば、図2〜4に示されるように、基板200は、ほぼ平面のディスクである。そのような平面ディスクは、半導体ウェーハ5と類似のサイズ及び形状、又は磁気的又は光学的にアクセス可能なディスクに類似したサイズ及び形状を示す。しかし、基板200は、正方形又は他の多角形の形状といった、他のあらゆる適切な形状及び形態であってもよ。例えば、基板200は、完全又は部分的に組立てられたフラットパネルディスプレイに類似の形態及び形状を有することができる。さらに、基板200はその厚さ方向に延びる一つ又は複数の開口を含むこともできる。例えば、基板200は(例えば、重量を低減するために)複数の「切り欠き(cutouts)」を含むことができ、又は基板200は格子又はハニカム構造を有していてもよい。
基板200は、あらゆる適切な材料又は材料の組合せから構成できる。例えば、基板200は、半導体材料から構成されて、基板200が、ある種の測定(例えば、加速度)にとって望ましい半導体ウェーハ5と類似の挙動(例えば、構造的、電気的、化学的に)を示すようにすることもできる。しかし、(回路基板材料、プラスチック、含鉄及び非鉄金属及び複合材料を含む)他の材料も、基板200に適切であると考えられる。別の実施形態においては、基板200は、望ましくない物質(例えば、水湿分)を吸収する吸収材料(例えば、乾燥材料)から構成され、それによって、輸送容器50の内部空洞54からそうした物質を除去し、容器の内容物の汚染を最小限にしている。
監視システム300は基板200上に配置される。監視システム300は、基板表面210、220のうちの一方(例えば、図示されたような上面210)の上に配置されるか、又は監視システム300は基板200の両面210、220に配置される。別の実施形態においては、監視システム300の全部又は一部は、基板200の内部に配置される。例えば、基板200は多層基板(例えば、回路基板材料)より構成されている。その場合、監視システム300の全部又は一部が、多層基板の内層に配置されるか、又は内部に形成される。さらなる実施形態においては、監視システム300の全部又は一部は、基板200上に直接形成される。例えば、基板200は半導体材料から構成され、監視システムの回路の少なくとも一部が半導体材料に直接形成される。
計装基板100が閉じられた輸送容器50内に配置されているときに、監視システム300は、輸送容器50の内部空洞54内の少なくとも一つの環境特性を測定する。監視され得る環境特性は、単なる例にすぎないが、温度、湿度、圧力、化学物質の存在、微粒子の存在、電磁放射、基板200及び/又は輸送容器50の電荷、及び基板200及び/又は輸送容器50の加速度を含む。さらに、監視システム300は、いずれかの測定された環境特性を示すデータを記憶し、測定された特性が使用者に指示されるか、又は分析のために監視システム300からダウンロードされるようにしている。
監視システム300の一実施形態の概略図を示している図5に関連して、図2〜4を参照すると、監視システム300は処理装置310を含む。処理装置310は、いずれかの適切なプロセッサ、特定用途向けIC(ASIC)、プログラム可能論理素子(PLD)又は他の回路を有する。後述するように、処理装置310は、監視システム300の動作を制御し、データ収集、後処理及び他の機能を実行する。
監視システム300は、また、処理装置310と結合された一つ又は複数のセンサ320を含む。センサ320は、温度センサ、湿度センサ、圧力センサ、一つ又は複数の化学物質の存在を検出するセンサ、微粒子の存在を検出するセンサ、電磁放射センサ又は(振動及び/又は衝撃を測定するための)加速度センサのほか、必要に応じて、他のあらゆる適切なセンサより構成される。動作の間、センサ320の各々は、検出されている環境パラメータを表す電気信号(例えば、電圧)を出力し、各センサ320はその電気信号を処理装置310に供給する。
監視システム300は、処理装置310に結合されたデータ記憶装置330をさらに含む。データ記憶装置330は、センサ320によって測定された特性を表すデータを記憶する。データ記憶装置330は、RAM(ランダムアクセスメモリ)、フラッシュメモリ、ミニチュアディスクドライブ又は他の記憶装置を含むあらゆる適切なメモリから構成される。別の実施形態においては、データ記憶装置330は、取り外し可能なメモリデバイス(例えば、取り外し可能なフラッシュメモリカード)を含む。動作の間、処理装置310は、上述の通り、センサ320から電気信号を受け取り、それらの電気信号を表すデータをデータ記憶装置330に記憶する。選択的ではあるが、後述の通り、処理装置310は未処理の電気信号をデータ記憶装置330に記憶することもできる。
処理装置310は、上述の通り、監視システム300の動作を制御する。処理装置310によって実行される例示的機能は、データ収集及び後処理を含む。処理装置310は、各自の状態(例えば、電圧又は電流レベル)を判定するためにセンサ320をポーリング(poll)する。処理装置310はセンサ320を定期的にポーリングするかもしれないし、又は処理装置310はセンサ320を非定期的な形でポーリングするかもしれない。また、処理装置310によってポーリングされるのではなく、センサ320が一定間隔で処理装置に電気信号を出力することもできる。
一般的に、センサ320は測定されている特定の環境現象を示す電気信号を供給し、処理装置310は、電気信号を測定された特性(例えば、温度)を示す値に変換するために、後処理を実行する。処理装置310は、その後、変換された値、(又は、選択的であるが、未処理の電気信号、例えば、電圧又は電流)を、データ記憶装置330に記憶する。処理装置310は、ROM(読出し専用メモリ)340に記憶された一組の命令の制御下に機能する。ROMメモリ340は処理装置310と結合されている。
監視システム300は、また、図2〜4に示されるように、オンボード電源350も含む。オンボード電源350は、例えば、蓄電池である。あるいは、後述のように、監視システム300は外部電源を利用することもできる。オンボード電源350は、処理装置310、センサ320、データ記憶装置330及びROMメモリ340だけでなく、監視システム300その他の構成部品の各々に電力を供給する(及び結合されている)。
監視システム300は通信機構360をさらに含む。一実施形態においては、図2〜4に示されるように、通信機構は、単に、処理装置310と結合されているコネクタ360aを有する。コネクタ360aは、監視システム300が外部装置(例えば、コンピュータシステム)と配線接続によって結合されることを可能にしており、その結果、データ記憶装置330に記憶されたいずれかのデータが以降の分析及び/又は処理のために外部装置にダウンロードされることを可能にしている。後述する別の実施形態においては、通信機構360は無線通信装置を有している。
監視システム300が、図2〜5に関して図示及び説明されたものに加え、(理解を明瞭化及び容易にするために省略された)他の要素を含み得ることが理解されなければならない。例えば、監視システム300は、(例えば、センサ320のための)信号コンディショニングを実行するため、フィルタリングを実行するため、及び/又はアドレッシング(例えば、メモリコントローラ)を実行するための付加的な回路を含む。しかし、これらの機能のいずれも処理装置310において実行できることも理解されなければならない。監視システム300は、また、(明瞭化のために、図2〜4だけでなく図7〜9からも省略されている)監視システム300の種々の要素を接続する複数の信号線及びバスも含む。
計装基板100は、図6に示されるように、輸送及び/又は保管の間に容器内の環境状態を監視するために、輸送容器50に配置される。計装基板100は、輸送容器50の内部空洞54に設けられた棚56のうちの一つに挿入され、基板200の下面220は基板200の周縁部230の少なくとも一部の付近に延びる棚(又は複数の棚)56によってその周縁部230の近傍で支持される。(下側のスロットよりも大きな隙間を計装基板100に付与する)輸送容器50の最上棚56において図示されているけれども、計装基板100が輸送容器50の棚56のいずれの一つにも配置されることが理解されなければならない。一つ又は複数のウェーハ5は、また、輸送容器50内に配置され、各ウェーハ5は棚56のうちの一つに受け入れられる。可動扉すなわちカバー58は、内部空洞54及びそこに置かれた内容物を閉じ込めるために、ハウジング52に固定される。計装基板100は、その後、輸送及び/又は保管の間に輸送容器50内の環境特性を測定する。
計装基板100の別の実施形態が図7に示されている。一実施形態においては、監視システム300はクロック回路362を含む。クロック回路362は処理装置310と結合されている。動作の間、種々の環境状態を時間の関数として記録することが望ましい。その場合、測定された特性及び対応する時間値の両方がデータ記憶装置330に記憶される。クロック回路362は、処理装置310に時間の指標を与える。
別の実施形態では、図7に示されるように、計装基板100の監視システム300は一つ又は複数の閾値インジケータ364を含む。以降のダウンロード及び分析のために、種々の環境状態を記録(logging)することに加えて、(又はその代わりに)、指定された特性が予め設定された閾値を超えた場合、単に指示を付与することが望ましい。例えば、輸送又は保管の期間を通じて温度測定値を記録するのではなく、閾値インジケータ364は、輸送容器50内の温度が指定の閾値温度を超えたかどうかを指示することができる。温度が指定の閾値を超え、それによって、閾値インジケータ364を作動させた場合、輸送容器50の内容物は、閾値を上回って、さらには、輸送容器50の内容物への損傷をもたらすようなピーク温度に曝された。閾値インジケータ364が作動していなければ、いかなる不利な温度状態は輸送及び/又は保管の間に存在しなかった。
閾値インジケータ364は、環境パラメータがそのパラメータについて指定の閾値を超えたという指示を使用者に付与することができる、いずれかの適切な装置より構成され得る。例えば、閾値インジケータ364は、その予め定められた閾値を超える環境パラメータのために、閾値インジケータ364が作動させられたという視覚的指示を付与するLED(発光ダイオード)又は他の装置(例えば、後述のような表示装置)を有する。また、環境状態が予め定められた閾値を超えた場合、処理装置310は、環境状態が閾値を超えたことを指示するデータをデータ記憶装置330に記憶させる。
図7に示されたさらなる実施形態においては、計装基板100の監視システム300はクーポンホルダ366を含む。試験クーポン(図8、参照数字367を参照)がクーポンホルダ366に挿入され保持される。そのような試験クーポンは、輸送容器50内で輸送及び/又は保管されている材料と類似又は同一である材料試料より構成される。例えば、輸送容器50の内容物が複数の半導体ウェーハ5を含む場合、試験クーポンは類似の半導体材料より構成される。輸送及び/又は保管後、試験クーポンはクーポンホルダ366から取り外され、破壊試験を含むさらなる試験を受ける。クーポンホルダ366及び試験クーポンの使用は、製品を犠牲にする必要なく、実際の材料試料の試験及び分析を可能にする。
さらに別の実施形態では、図7に示されるように、計装基板100の監視システム300はエアサンプラ368を含む。エアサンプラ368は、輸送及び/又は保管の間に、輸送容器50の内部空洞54内の空気(すなわち、より一般的には、大気)の試料を採集する。輸送及び/又は保管後、エアサンプラ368によって採集された空気試料は、いずれかの不利な環境特性(例えば、化学物質、湿分、微粒子)について分析され得る。エアサンプラ368は、空気試料を採集し保持することができる何らかの適切な装置を有する。例えば、エアサンプラ368は、後の分析のために、ある量の空気を吸収する吸収材料369を含む。しかし、監視システム300は、輸送容器50の内部空洞54内の空気の多様な特性を測定する多くのセンサ320を含み得ることが理解されなければならない。
計装基板100の別の実施形態が図8に示されている。図8を参照すると、(図2〜4において図示及び説明された)オンボード電源350の代わりに、計装基板100の監視システム300は、監視システム300を外部電源10に結合するための電力コネクタ355を含む。別の実施形態においては、監視システム300は、外部電源10との結合のための電力コネクタ355と組合せて、オンボード電源350を含む。この実施形態では、オンボード電源350は、外部電源10が故障したり、又は誤って電力コネクタ355から断続された場合に、バックアップとして機能する。また別の実施形態においては、電力コネクタ355及びコネクタ360aは、単一の一体化コネクタより構成されている。
図8に示されたさらなる実施形態においては、通信機構360は、通信のためのコネクタ360aではなく、無線通信装置360bを有する。無線通信装置360bは、任意の適切な無線通信技術及び/又は方法を含む。例えば、無線通信装置360bは、RF(無線周波)又はマイクロ波通信システム、IR(赤外線)通信システム、衛星通信システム又はセル方式電話通信システムを含む。外部受信機365は、無線通信装置360bと結合されている。外部受信機365は、赤外信号を受信するためのIR受信機又は、RF、マイクロ波、衛星又はセルラー方式通信信号を受信するためのアンテナを有する。無線通信装置360bの使用は、輸送及び/又は保管の間に、監視システム300からデータがダウンロードされることを可能にする。データは、リアルタイムで、周期間隔で、又は単に使用者の要求時にダウンロードできる。無線通信装置360bは、また、輸送又は保管後に、データをダウンロードするために使用される。
さらに別の実施形態では、図8に示されるように、計装基板100の監視システム300は全地球測位システム(GPS)受信機370を含む。全地球測位システムは、地球上空を周回する衛星の集合であり、適切に構成された受信機(すなわち、GPS受信機)を用いて検出できる信号を送信するものである。適切な数の衛星からの信号が検出された場合、これらのGPS信号はGPS受信機の位置を決定するために使用される。GPS受信機370は、この分野で周知のあらゆる適切なGPS受信機より構成され、さらに、GPS受信機370はディファレンシャルGPS(DGPS)補正情報を受信するように適合されている。広域オーグメンテーションシステム(WAAS)及び狭域オーグメンテーションシステム(LAAS)といったディファレンシャルGPSシステムは、誤差補償を提供し、既知の場所に固定された一つ又は複数のGPS受信機を用いてGPS位置決定を改善する。
GPS受信機370は、GPS信号、及び、選択的に、DGPS補正データを受信するためのアンテナと結合されている。例えば、GPS受信機370は、オンボードアンテナ375aに結合されている。オンボードアンテナ375aは、基板200上に配置され、基板200に直接形成されるか、又はその内部に形成される。また、GPS受信機370は外部アンテナ375bと結合されている。無線通信装置360b及びGPS受信機370が単一の一体化アンテナを共用することができ、そうした共用アンテナはオンボードアンテナ又は外部アンテナのどちらかから構成されることが理解されるであろう。
複数のGPS信号に基づいて正確な地理的基準点を得るためには、正確な時間基準を有する必要がある。この必要性を満たすために、各GPS衛星は高度に正確かつ精密なタイムベースを提供するように適合されており、このタイムベースはGPS衛星から発するGPS信号とともに送信される。それゆえ、GPS受信機370によって受信される一つ又は複数のGPS信号は、極めて正確な時間基準を付与することができる。従って、GPS受信機370は、処理装置310に正確な時間源を提供し、それによって、環境特性が時間の関数として記録されることを可能にし、付加的なクロック回路362(図7参照)が不要となる。
GPS受信機370の使用により、輸送容器50内の環境状態は、輸送及び/又は保管の間に、輸送容器50の地理的位置の関数として記録される。半導体ウェーハ及び/又は他の環境的に損傷を受けやすい構成部品が(陸、海、空又はそれらの組合せによるとにかかわらず)一般的なルートで輸送される場合、地理的位置の関数としての環境状態の変化についての知識は、不利な環境状態が絶えず見受けられるルートに沿った場所の識別を可能にする。従って、識別された地理的位置を回避するため、及び/又は不利な環境状態の影響を軽減するために、輸送の新しいルート及び/又は改善されたモードが選定される。また、GPS受信機370は、在庫管理及び追跡を容易にするためにも使用される。さらに、GPS受信機370が正確な時間基準を付与できるので、環境状態は、時間及び地理的位置の両方の関数として監視される。
計装基板100のさらに別の実施形態では、図9に示されるように、監視システム300は表示装置380を含む。表示装置380は、例えば、LCD(液晶ディスプレイ)又は類似の装置を含む、あらゆる適切な視覚的表示システムより構成される。測定された環境パラメータは、表示装置380でオペレータに直接表示される。一つ又は複数のコマンド入力装置(例えば、スイッチ、押しボタン)とともに、表示装置380は、コマンド入力及び/又はプログラミングのために、オペレータによって使用される。しかし、コマンド入力及びプログラミングは、例えば、無線通信装置360bによるなどの、他の方法又は装置を用いて実現されることも理解されなければならない。表示装置380は、また、上述の通り、閾値インジケータとしても機能する。表示装置380は、通信機構360に代わって設けられるか、又は表示装置380は、コネクタ360a(図9に示されるように)又は無線通信装置360bのどちらかと組合せて設けられる。
監視システム300を構成する種々の構成部品(例えば、処理装置310、センサ320、データ記憶装置330、ROMメモリ340、電源350、通信機構360a−b、クロック回路362、閾値インジケータ364、エアサンプラ368、GPS受信機370及び表示装置380)は、基板200に固定されるとともに相互接続された別個の部品より構成される。また、これらの監視システム構成部品のうちの一つ又は複数は、上述の通り、基板200上に直接形成されるか、又はその内部に形成される。
別個の構成部品として示されているけれども、監視システムの構成部品のうちの二つ以上は、回路を共用するか、又は単一の一体構成部品より構成されている。例えば、無線通信装置360b及びGPS受信機370は処理回路を共用するか、又は処理装置310は無線通信装置360b及びGPS受信機370の各々に処理機能を提供する。クロック回路362及び処理装置310は単一の一体化構成部品より構成され、同様に、データ記憶装置330及びROMメモリ340は一体化記憶装置より構成される。
図2〜9に関して図示及び説明された種々の構成部品(例えば、処理装置310、センサ320、データ記憶装置330、ROMメモリ340、電源350、通信機構360a−b、クロック回路362、閾値インジケータ364、クーポンホルダ366、エアサンプラ368、GPS受信機370及び表示装置380)は、それぞれ、広範な一連のそれぞれのそのような装置を代表することが意図されている。しかし、示された構成部品が必ずしもいずれかの実際の装置の実際のサイズ、形状又は機器構成を代表しているわけではないことが理解されなければならない。むしろ、図2〜9に図示された構成部品は、例示的な構成部品を代表するように意図されており、単に例示のために提示されている。
図2〜9において、計装基板100は、基板200上に配置された監視システム300を含む。計装基板100は輸送容器50の内部空洞54への挿入に適したサイズ及び形態を有する。ここで、図10を参照すると、監視システムは、計装容器150を形成するために輸送容器に直接配置される。図10に示された計装容器150の機器の形態は例示的なものにすぎず、本発明による監視システムはあらゆるタイプ又は形態の輸送容器又は他の容器に配置され得ることが理解されなければならない。
計装容器150は、ハウジング壁153を有するハウジング152を含む。ハウジング152は一つ又は複数の半導体ウェーハ5(明瞭化のために一つだけ図示)又は他の環境的に損傷を受けやすい構成部品を受容するための内部空洞154を有する。ウェーハ5は、内部空洞154にその開口155を通して挿入される。内部空洞154内には、複数の棚156がハウジング152の壁153に配置されており、各棚156はウェーハ5を受け入れて支持するように適合されている。計装容器150は、また、開口155を被って内部空洞154を閉鎖するための可動扉すなわちカバー158を含む。可動扉158は、図10に示されるように、取り外し可能であってもよいし、又は一つ又は複数の丁番によってハウジング152と結合されていてもよい。複数のウェーハ5を輸送及び/又は保管するためには、ウェーハ5は内部空洞154に入れられ(各ウェーハは棚156のうちの一つに受容される)、そして、可動扉158がハウジング152に固定される。
計装容器150は、また、その内部空洞154内の少なくとも一つの環境特性を記録するための監視システムを含む。監視システム300’が可動扉すなわちカバー158上に配置されるか、及び/又はその内部に配置され、また、監視システム300”がハウジング152の壁153上に配置されるか、及び/又はその内部に配置される。監視システム300’、300”は、計装容器150に永久的に取付けられてもよいし、又は監視システム300’、300”又はその一部は取り外し可能とされてもよい。計装容器150の監視システム300’、300”は、図2〜9に関して前に図示及び説明された計装基板100の監視システム300と同様に機能する。
計装基板100及び計装容器150の実施形態は、損傷を受けやすい構成部品を施設間で輸送したり、又はそのような構成部品を長期時限にわたって製造環境の外部で保管するという状況において上述されたが、本発明は製造施設内での構成部品の輸送にも適用可能であることが理解されなければならない。例えば、計装基板100は、同じ製造施設内の処理ステーション間で構成部品を輸送するための処理容器において使用できるし、又は計装処理容器を形成するために、監視システム300がそのような処理容器に配置されることも可能である。構成部品が製造施設内で受ける環境状態を検知し記録することが望ましいのは、制御された環境が製造施設内の種々の場所(例えば、処理ステーション)では維持されるが、中間場所では維持されないような場合である。
計装基板100だけでなく計装容器150の実施形態もここで説明されたが、当業者はそれらの利益を理解するであろう。計装基板100は、輸送及び/又は長期保管の間における容器内の一つ又は複数の環境状態を記録するために、あらゆる形式の容器(例えば、輸送、処理等)内に入れることができる。測定された環境特性を表すデータは、無線通信装置によってリアルタイムでダウンロードされるか、又は輸送後に、ダウンロードされて分析される。環境状態は、時間及び/又は地理的位置の関数として監視される。記録された環境データは、低い製造歩留りを示す半導体ウェーハを識別するために使用することができ、それによって、品質を保証し、製造歩留りを増大させ、コストを低減することができる。記録された環境データは、また、容器の設計を評価するためだけでなく、輸送のモード及び方法を評価するためにも使用される。
上述の詳細な説明及び添付図面は、例示的なものにすぎず制限的なものではない。それらは主に、本発明の明瞭かつ包括的な理解のために提示されており、いかなる不要な限定もそれらからくみ取られるべきではない。ここに記載された実施形態及び別の構成に対する多数の追加、削除及び修正は、本発明の精神及び添付特許請求の範囲から逸脱することなく、当業者によって考えられるであろう。
Claims (91)
- 複数の構成部品を受容するための内部空洞を有する半導体ウェーハ容器とともに使用するための計装基板であって、計装基板は、
半導体ウェーハ容器の内部空洞に挿入する基板と、
基板上に配置された監視システムと、
を有し、監視システムは少なくとも一つの環境特性を検知する計装基板。 - 監視システムは少なくとも一つの環境特性に対応するデータを記憶する請求項1に記載の計装基板。
- 監視システムは少なくとも一つの環境特性に対応するデータを出力する請求項1に記載の計装基板。
- 基板は複数の構成部品の各々にほぼ類似のサイズ及び形状を有する請求項1に記載の計装基板。
- 基板は半導体ウェーハにほぼ類似のサイズ及び形状を有する請求項4に記載の計装基板。
- 装置であって、
半導体ウェーハ容器の内部空洞に挿入する基板と、
基板上に配置された処理装置と、
基板上に配置されるとともに処理装置と結合されたセンサと、
基板上に配置されるとともに処理装置と結合されたデータ記憶装置と、
を有し、センサは環境特性を検知する装置。 - 半導体ウェーハ容器の内部空洞は複数の棚を備えており、基板は複数の棚のうちの一つへの挿入に適したサイズ及び形状を有している請求項6に記載の装置。
- 基板のサイズ及び形状は複数の棚の一番上の一つへの挿入に適している請求項7に記載の装置。
- 内部空洞は特定の直径のほぼ円筒形のウェーハを受け入れ、基板は特定の直径にほぼ等しい直径のほぼ円筒形状を有していう請求項6に記載の装置。
- 基板は半導体材料を有している請求項6に記載の装置。
- 基板は吸収材料を有している請求項6に記載の装置。
- 基板は乾燥材料を有している請求項4に記載の装置。
- センサは、温度センサ、湿度センサ、圧力センサ、加速度センサ、電磁放射センサ、電荷センサ、化学センサ及び粒子センサのうちの一つを有する請求項6に記載の装置。
- データ記憶装置は、RAMメモリ、フラッシュメモリ及びディスクドライブのうちの一つを有する請求項4に記載の装置。
- 処理装置と結合されたROMメモリをさらに有する請求項6に記載の装置。
- 基板上に配置されるとともに処理装置、センサ及びデータ記憶装置と結合された電源をさらに有する請求項6に記載の装置。
- 基板上に配置されるとともに処理装置、センサ及びデータ記憶装置と結合された電力コネクタをさらに有し、その電力コネクタは外部電源と接続可能である請求項6に記載の装置。
- 基板上に配置されるとともに処理装置と結合された通信機構をさらに有する請求項6に記載の装置。
- 通信機構はコネクタを有している請求項18に記載の装置。
- 通信機構は無線通信装置を有している請求項18に記載の装置。
- 無線通信装置は、RF通信装置、マイクロ波通信装置、衛星通信装置、IR通信装置及びセルラー方式通信装置のうちの一つを有する請求項20に記載の装置。
- 基板上に配置されたクーポンホルダをさらに有する請求項6に記載の装置。
- 基板上に配置されるとともに処理装置と結合されたクロック回路をさらに有する請求項6に記載の装置。
- 基板上に配置されたエアサンプラをさらに有する請求項6に記載の装置。
- エアサンプラは吸収材料を含んでいる請求項24に記載の装置。
- 処理装置と結合された閾値インジケータをさらに有する請求項6に記載の装置。
- 閾値インジケータは視覚的インジケータを有する請求項26に記載の装置。
- 基板上に配置されるとともに処理装置と結合されたGPS受信機をさらに有する請求項6に記載の装置。
- GPS受信機と結合されたオンボードアンテナをさらに有する請求項28に記載の装置。
- 基板上に配置されるとともに処理装置と結合され、さらに、オンボードアンテナと結合された無線通信装置をさらに有する請求項29に記載の装置。
- GPS受信機と結合された外部アンテナをさらに有する請求項28に記載の装置。
- 基板上に配置されるとともに処理装置に結合され、さらに、外部アンテナと結合された無線通信装置をさらに有する請求項31に記載の装置。
- GPS受信機は時間の指標を付与する請求項28に記載の装置。
- 半導体ウェーハ容器とその中に保管される複数の半導体ウェーハとの組合せであって、 その半導体ウェーハ容器は、
内部空洞を限定するハウジング壁を含むハウジングと、
内部空洞内でハウジング壁に配置された複数の棚と、
扉と、
基板上に配置された監視システムと、
を有し、ハウジング壁は開口を有しており、複数の棚のそれぞれは半導体ウェーハの一つを受容するように寸法設定されており、扉は開口の近傍でハウジングに動作可能に固定され、監視システムは内部空洞内の少なくとも一つの環境特性を検知するために内部空洞に露出されたセンサを有している組合せ。 - 監視システムは少なくとも一つの環境特性に対応するデータを記憶する請求項34に記載の組合せ。
- 監視システムは少なくとも一つの環境特性に対応するデータを出力する請求項34に記載の組合せ。
- 基板は半導体ウェーハではない請求項34に記載の組合せ。
- 基板は半導体ウェーハを有する請求項34に記載の組合せ。
- 半導体ウェーハ容器とその中に収容される複数の半導体ウェーハとの組合せであって、
半導体ウェーハ容器は、
内部空洞を限定するハウジング壁を含むハウジングと、
扉と、
半導体ウェーハの一つに配置された監視システムと、
を有し、ハウジング壁は開口を有しており、扉は開口の近傍でハウジングに動作可能に固定され、監視システムは、
処理装置と、
処理装置と結合されたセンサと、
処理装置と結合されたデータ記憶装置と、
を有し、センサは環境特性を検知するために内部空洞に露出されている組合せ。 - 内部空洞は複数の棚を含み、そられ複数の棚の各々は構成部品を受容する請求項39に記載の組合せ。
- 複数の棚のうちの一つは監視システムを有する半導体ウェーハを受容する請求項40に記載の組合せ。
- センサは、温度センサ、湿度センサ、圧力センサ、加速度センサ、電磁放射センサ、電荷センサ、化学センサ及び粒子センサのうちの一つを有する請求項39に記載の組合せ。
- データ記憶装置は、RAMメモリ、フラッシュメモリ及びディスクドライブのうちの一つを有する請求項39に記載の組合せ。
- 監視システムは処理装置と結合されたROMメモリをさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- 監視システムは、処理装置、センサ及びデータ記憶装置と結合された電源をさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- 監視システムは、処理装置、センサ及びデータ記憶装置と結合された電力コネクタをさらに有し、電力コネクタは外部電源と接続可能である請求項39に記載の組合せ。
- 監視システムは処理装置と結合された通信機構をさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- 通信機構はコネクタを有している請求項47に記載の組合せ。
- 通信機構は無線通信装置を有している請求項47に記載の組合せ。
- 無線通信装置は、RF通信装置、マイクロ波通信装置、衛星通信装置、IR通信装置及びセルラー方式通信装置のうちの一つを有する請求項49に記載の組合せ。
- 監視システムはクーポンホルダをさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- 監視システムは処理装置と結合されたクロック回路をさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- 監視システムはエアサンプラをさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- エアサンプラは吸収材料を含んでいる請求項53に記載の組合せ。
- 監視システムは処理装置と結合された閾値インジケータをさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- 閾値インジケータは視覚的インジケータを有する請求項55に記載の組合せ。
- 監視システムは処理装置と結合されたGPS受信機をさらに有する請求項39に記載の組合せ。
- 監視システムはGPS受信機と結合されたオンボードアンテナをさらに有する請求項57に記載の組合せ。
- 監視システムは、処理装置と結合され、さらに、オンボードアンテナと結合された無線通信装置をさらに有する請求項58に記載の組合せ。
- 監視システムはGPS受信機と結合された外部アンテナをさらに有する請求項57に記載の組合せ。
- 監視システムは、処理装置と結合され、さらに、外部アンテナと結合された無線通信装置をさらに有する請求項60に記載の組合せ。
- GPS受信機は時間の指標を付与する請求項57に記載の組合せ。
- 方法であって、
計装基板を半導体ウェーハ容器の内部空洞内に配置する段階と、
計装基板により環境特性を検知する段階と、
計装基板にデータを記憶する段階と、
を有し、データは環境特性に対応している方法。 - 環境特性を時間の関数として検知する段階をさらに有する請求項63に記載の方法。
- 環境特性を半導体ウェーハ容器の地理的位置の関数として検知する段階をさらに有する請求項63に記載の方法。
- 環境特性を時間及び半導体ウェーハ容器の地理的位置の関数として検知する段階をさらに有する請求項63に記載の方法。
- 環境特性を検知する行為は、温度を検知すること、湿度を検知すること、圧力を検知すること、加速度を検知すること、電磁放射を検知すること、電荷を検知すること、化学物質を検知すること、及び粒子を検知することのうちの一つを有する請求項63に記載の方法。
- 計装基板から外部システムにデータをダウンロードする段階をさらに有する請求項63に記載の方法。
- 無線接続を通じて外部システムにデータをダウンロードする段階をさらに有する請求項68に記載の方法。
- リアルタイムで外部システムにデータをダウンロードする段階をさらに有する請求項68に記載の方法。
- 計装基板に試験クーポンを設置する段階をさらに有する請求項63に記載の方法。
- 内部空洞内の空気試料を採集する段階をさらに有する請求項63に記載の方法。
- 環境特性が予め設定された閾値を超えたことを指示する段階をさらに有する請求項63に記載の方法。
- 環境特性が予め設定された閾値を超えたことを視覚的に指示する段階をさらに有する請求項73に記載の方法。
- 計装基板上の取り外し可能なメモリデバイスにデータを記憶する段階と、計装基板から取り外し可能なメモリデバイスを取り外す段階とをさらに有する請求項63に記載の方法。
- データを取り外し可能なメモリデバイスに記憶する行為は、データをフラッシュメモリデバイスに記憶することを有する請求項68に記載の方法。
- 方法であって、
開口を有する内部空洞を限定するハウジング壁と、複数の棚と、開口の近傍でハウジングに動作可能に固定された扉とを有する半導体ウェーハ容器を設ける段階と、
ハウジング壁及び扉のうちの一方に配置された監視システムを設ける段階と、
複数の半導体ウェーハを複数の棚に挿入する段階と、
監視システムにより内部空洞内の環境特性を検知する段階と、
データを監視システムに記憶する工程と、
を有し、データは環境特性に対応している方法。 - ハウジング壁に配置された複数の棚のうちの一つに受容されるように寸法設定された基板に監視システムを取り付ける段階をさらに有する請求項77に記載の方法。
- 基板は半導体ウェーハを有する請求項78に記載の方法。
- 環境特性を時間の関数として検知する段階をさらに有する請求項77に記載の方法。
- 環境特性を半導体ウェーハ容器の地理的位置の関数として検知する段階をさらに有する請求項77に記載の方法。
- 環境特性を時間及び半導体ウェーハ容器の地理的位置の関数として検知する段階をさらに有する請求項77に記載の方法。
- 環境特性を検知する行為は、温度を検知すること、湿度を検知すること、圧力を検知すること、加速度を検知すること、電磁放射を検知すること、電荷を検知すること、化学物質を検知すること、及び粒子を検知することのうちの一つを有する請求項77に記載の方法。
- 監視システムから外部システムにデータをダウンロードする段階をさらに有する請求項77に記載の方法。
- 無線接続を通じて外部システムにデータをダウンロードする段階をさらに有する請求項84に記載の方法。
- リアルタイムで外部システムにデータをダウンロードする段階をさらに有する請求項84に記載の方法。
- 内部空洞内の空気試料を採集する段階をさらに有する請求項77に記載の方法。
- 環境特性が予め設定された閾値を超えたことを指示する段階をさらに有する請求項77に記載の方法。
- 環境特性が予め設定された閾値を超えたことを視覚的に指示する段階をさらに有する請求項88に記載の方法。
- 取り外し可能なメモリデバイスにデータを記憶する段階と、監視システムから取り外し可能なメモリデバイスを取り外す段階とをさらに有する請求項77に記載の方法。
- データを取り外し可能なメモリデバイスに記憶する行為は、データをフラッシュメモリデバイスに記憶することを有する請求項90に記載の方法。
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